KR20100137065A - 고정밀의 전자기기용 표면 검사장치 - Google Patents

고정밀의 전자기기용 표면 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 고정밀의 전자기기용 표면 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 서로 다른 촬영각 또는 서로 다른 촬영거리를 갖는 복수의 카메라 모듈의 조사지점에 피사체인 전자기기를 위치시키고, 이 위치된 전자기기를 360°회전시켜 서로 다른 촬영각 또는 촬영거리로 촬영되며, 시차를 두어 회전되는 전자기기의 표면을 촬영하여 형성된 파노라마형태, 또는 회전되는 전자기기의 표면을 연속하여 촬영한 동영상 형태의 검사영상을 획득하고, 이 획득된 검사영상과 데이터 베이스에 사전 저장된 표본 영상을 상호 대조하여 전자기기의 표면의 결함여부를 정밀하게 판독하도록 구성한 전자기기용 표면 검사장치에 관한 것이다.
전자기기, 표면 검사장치, 파노라마, 동영상, 회전, 촬영각, 초점거리, 판독

Description

고정밀의 전자기기용 표면 검사장치{Surface inspection apparatus for electronic machine}
본 발명은 고정밀의 전자기기용 표면 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 서로 다른 촬영각 또는 서로 다른 촬영거리를 갖는 복수의 카메라 모듈의 조사지점에 피사체인 전자기기를 위치시키고, 이 위치된 전자기기를 360°회전시켜 서로 다른 촬영각 또는 촬영거리로 촬영되며, 시차를 두어 회전되는 전자기기의 표면을 촬영하여 형성된 파노라마형태, 또는 회전되는 전자기기의 표면을 연속하여 촬영한 동영상 형태의 검사영상을 획득하고, 이 획득된 검사영상과 데이터 베이스에 사전 저장된 표본 영상을 상호 대조하여 전자기기의 표면의 결함여부를 정밀하게 판독하도록 구성한 전자기기용 표면 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로 휴대폰, 디지털 카메라, 전화기 등 각종 전자제품에는, 다양한 문양이나 심볼이 각인 또는 인쇄를 통해 형성되며, 그 재질 또한 플라스틱재, 금속재, 세라믹 등 다양한 재질로 제작된다.
그런데, 상기 전자기기의 표면에는 코팅이나 생산 및 운반과정 중에 스크레치나 찍힘을 포함하는 결함이 발생될 수 있고, 이와 같이 결함이 발생된 전자기기 를 판매할 경우 제품의 신뢰도가 하락하는 문제점이 발생될 수 있다.
따라서, 상기 전자기기는 표면의 결함의 발생 여부를 검사하는 외관 검사과정이 요구되며, 작업자의 숙련도에 따라 다르나 일반적으로 육안을 통해 외관 검사하면 작업성이 떨어지고, 또 실수에 의해 결함을 찾지 못하는 문제점이 발생 될 수 있다.
이를 해소하기 위해, 당 분야에서도 이송밸트에 케이스를 안치시켜 일방향으로 이송시키면서, 이송밸트의 외측에 설치된 복수의 카메라가 상기 전자기기를 다각도로 촬영하여 전자기기의 각 면의 영상을 획득하고, 이 획득된 영상을 제어부가 판독하여 전자기기의 결함 발생 여부를 검사하도록 하고 있다.
그런데, 종래 이송밸트를 이용한 전자기기의 표면 검사장치는, 이송밸트를 통한 전자기기를 이송과정에 진동이 발생되고, 또 카메라 모듈이 위치된 지점에 정위치의 정지가 어려우며, 특히 이송밸트의 좌우측에 전자기기가 편중하여 위치되는 등 정위치되기 어려운 관계로, 카메라 모듈과 전자기기 사이의 초점이 흩트러져 정밀한 검사영상의 획득이 사실상 어려웠다.
또한 종래 전자기기의 표면 검사장치는, 카메라 모듈이 렌즈의 정면에 위치한 전자기기의 일면만을 촬영하도록 구성되어, 다양한 검사영상의 획득이 어려웠다.
따라서, 종래 전자기기의 표면 검사장치는, 정밀한 검사영상의 획득이 어려움으로 인해 전자기기의 표면 결함여부의 판독에 따른 정밀도가 크게 떨어지는 문제점이 지적되고 있다.
상기한 문제점을 해소하기 위해 안출된 본 발명의 목적은, 전자기기를 안치하여 일방향으로 회전시키는 회전 테이블의 외측에, 상기 회전 테이블에 안치되어 일방향으로 회전되는 전자기기를 다각으로 촬영하는 복수의 카메라 모듈을 설치하여, 전자기기가 회전 테이블에 안치되어 정회전되면 외측에 설치된 복수의 카메라 모듈은 서로 상이한 촬영각, 또는 촬영거리를 통해 360°회전되는 전자기기의 표면을 정지 또는 연속 촬영하여 복수의 검사 영상을 획득하고, 제어부는 이 획득된 검사 영상과 데이터 베이스에 사전 저장된 표면 영상을 상호 대조하여 촬영된 전자기기 표면의 결함 여부를 판독하도록 구성된 고정밀의 전자기기용 표면 검사장치를 제공함에 있다.
상기한 목적은, 본 발명에서 제공되는 하기 구성에 의해 달성된다.
본 발명에 따른 고정밀의 전자기기 표면 검사장치는,
전자기기를 안치시켜 회전시키는 회전 테이블과; 상기 회전 테이블의 외측에 배설되어, 회전 테이블에 안치되어 회전되는 전자기기를 촬영하는 복수의 카메라 모듈; 및 상기 카메라 모듈을 통해 획득되는 검사 영상과 데이터 베이스에 획득된 표본 영상을 상호 대조하여, 상기 카메라 모듈에 의해 촬영된 전자기기의 표면 결함여부를 판독하는 제어부를 포함하여 구성되며,
상기 전자기기가 안치된 회전 테이블의 외측에 설치된 카메라 모듈들은, 상 호 촬영각과 촬영거리를 갖도록 설정되어서, 제어부는 상기 카메라 모듈들을 통해 회전되는 전자기기를 정지, 또는 연속 촬영하여 복수의 검사 영상들을 획득하고, 이 검사 영상들과 데이터 베이스에 저장된 표본 영상을 상호 대조하여, 회전 테이블에 안치되어 촬영된 전자기기 표면의 결함 여부를 판독하도록 구성된 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 회전 테이블에는, 전자기기의 안착공간을 형성하며 하부에 흡기압을 통해 안착된 전자기기의 저면을 흡착하여 고정하는 흡착식 지그가 마련되어, 전자기기는 흡착식 지그에 안착되어 흡착에 의해 정위치에 고정상태에서, 회전 테이블의 회전에 의해 일방향으로 회전하도록 구성된다.
보다 바람직하게는, 상기 회전 테이블의 외측에는 외부에 위치된 전자기기를 흡기압을 통해 낱개씩 흡착하여 흡착식 지그에 안착시키는 공급모듈과; 상기 흡착식 지그에 의해 안착되어 표면의 결합여부가 판독이 완료되어진 전자기기를 흡기압을 통해 낱개씩 흡착하여 외부로 배출하는 배출모듈이 부가하여 마련되어, 전자기기의 공급과 배출이 자동으로 이루어지도록 구성되며, 상기 배출모듈은 상기 제어부의 판독된 전자기기의 표면의 결함여부에 따라 표면의 결함이 발생되지 아니한 정품과 표면의 결함이 발생된 불량품을 상호 다른 위치에 분리 배출하도록 구성된다.
전술한 바와 같이 본 발명에서는, 전자기기의 표면을 카메라 모듈을 통해 촬영하고, 이 촬영을 통해 획득된 검사영상과 제어부의 데이터 베이스에 사전 저장된 표본 영상을 상호 대조하여, 전자기기의 표면의 결함여부를 판독하도록 구성한 전자기기용 표면 검사장치를 제공함에 있어, 상기 전자기기의 안착수단으로 전자기기의 정위치 안착이 가능하며, 이송밸트에 대비하여 정밀한 회전각 및 회전속도의 조절이 가능한 회전 테이블을 채택하고 있다.
따라서, 본 발명에 따른 전자기기의 표면 검사장치는, 전자기기가 항시 정위치에 위치할 수 있어서 카메라 모듈과 전자기기 사이의 초점이 항시 일정하게 유지되므로, 정밀한 검사영상의 획득이 가능하고, 특히 상기 회전 테이블을 통해 전자기기를 360°회전시킴과 동시에, 이 회전되는 전자기기의 표면을 복수의 카메라 모듈이 다양한 촬영각과 다양한 촬영거리로 촬영하여 다양한 검사영상을 획득함으로써, 표면영상과 검사영상의 대조를 통한 전자기기의 표면 결함여부의 판독이 보다 정밀하게 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명에서는 회전 테이블에 전자기기를 안정되게 고정하는 흡착식 지그를 마련하고 있으며, 또 공급모듈과 분리 배출이 가능한 배출모듈을 마련하여, 전자기기의 표면검사에 따른 전자기기의 공급과 검사와 분리 배출이 자동으로 이루어지므로, 관리에 따른 편의와 인력의 절감되는 효과를 갖는다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치의 외형 구성을 보여주는 것이고, 도 2는 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안 하고 있는 전자기기의 표면 검사장치의 평면 구성을 보여주는 것이며, 도 3은 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치의 정면 구성을 보여주는 것이다.
본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치(1)는, 복수의 카메라 모듈(20)이 휴대폰, 디지털 카메라, 전화기 등 각종 전자기기(100)의 표면의 검사영상을 촬영하여 획득하고, 제어부(30)가 이 획득된 검사영상과 데이터 베이스에 사전 저장된 표본 영상을 대조하여 전자기기(100)의 표면의 불량 여부를 판독하도록 구성된 것이다.
이러한 카메라 모듈(20)을 통한 검사영상의 획득과, 이 획득된 검사영상과 표본 영상을 상호 대조하여 전자기기(100) 표면의 결함여부를 검사하는 것은 과정은 공지의 것과 대동소이하다.
다만, 본 실시예에서는 이송밸트를 통해 전자기기를 일방향으로 이송시키고, 카메라 모듈이 설치된 각 지점에 이송밸트를 임의 정지시켜 각 카메라 모듈을 통해 전자기기의 평면과 좌우측면과 정면 및 배면의 검사 영상을 순차적으로 획득하지 아니하고, 서로 다른 촬영각 또는 촬영거리를 갖는 복수의 카메라 모듈(20)의 공통된 촬영영역에 피사체인 전자기기(100)를 위치시키고, 이 위치된 전자기기(100)를 360°회전시켜 상기 카메라 모듈(20)들을 통해 다양한 촬영각 또는 다양한 촬영거리로 촬영되어진 복수의 검사영상을 획득하고, 이 획득된 검사영상들과 데이터 베이스에 사전 저장된 표본영상을 상호 분석 및 대조하여 전자기기의 표면의 결함여부를 정밀하게 판독하도록 구성하고 있으며, 이를 본원의 기술적 요지로 예정하고 있다.
이를 위해 본 실시예에서는 상기 전자기기의 표면 검사장치(1)를, 도 1 내지 도 3에서 보는 바와 같이 전자기기(100)를 안치시켜 회전시키는 회전 테이블(10)과; 상기 회전 테이블(10)의 외측에 배설되어, 회전 테이블(10)에 안치되어 회전되는 전자기기(100)를 촬영하는 복수의 카메라 모듈(20); 및 상기 카메라 모듈(20)을 통해 획득되는 검사 영상과 데이터 베이스에 사전 저장된 표본 영상을 상호 대조하여, 상기 카메라 모듈(20)에 의해 촬영된 전자기기(100)의 표면의 결함 여부를 판독하는 제어부(30)를 포함하여 구성하고 있다.
도면을 보면 상기 회전 테이블(10)은 하부에 배설된 전동모터(11)로부터 회전력을 제공받아 회전하도록 구성되며, 상기 회전 테이블(10)의 중앙에는 전자기기(100)의 안착공간을 형성하고 하부에 흡기압을 통해 안착된 전자기기(100)의 저면을 흡착하여 고정하는 흡착식 지그(12)가 마련되며, 상기 전자기기(100)는 흡착식 지그(12)에 안착되어 흡착에 의해 정위치에 고정상태에서 회전 테이블(10)의 회전에 의해 일방향으로 회전하도록 구성된다.
부연하자면 상기 흡착식 지그(10)에는, 전자기기(100)의 저면에 밀착되며 복수의 흡기공(12b)이 형성된 흡착포(12)가 마련되고 이 흡기공(12b)에는 공지의 진공펌프(미도시)가 연결되어서, 흡착식 지그(12)에 안착된 전자기기(100)는 흡착포에 밀착되어 흡기압에 의해 안정된 고정상태를 이룩한다.
이와 같이 흡착식 지그(12)에 의해 전자기기(100)가 회전 테이블(10)의 정위치에 고정되면 후술되는 카메라 모듈(20)과 전자기기(100)의 거리가 항시 일정하게 유지되므로, 종래 이송밸트를 통한 전자기기의 이송에 의해 카메라 모듈과 전자기기와의 거리가 가변되어 카메라 모듈의 초점이 흩트러져 정밀한 검사영상의 획득이 어려운 문제점이 해소될 수 있다.
그리고, 상기 전자기기(100)가 안착된 회전 테이블(10)의 외측에는 후술되는 바와 같이 서로 다른 촬영각 또는 촬영거리를 갖는 복수의 카메라 모듈(20)이 설치되며, 이 복수의 카메라 모듈(20)에 의해 회전 테이블(10)의 안착되어 회전되는 전자기기(100)는 다양한 촬영각과 촬영거리로 순차 또는 연속 촬영되어, 결과적으로 본 실시예에 따른 전자기기의 표면 검사장치(1)는 일방향으로 회전되는 전자기기(100)를 다양한 촬영각과 촬영거리로 촬영한 복수의 검사영상들을 획득하게 된다.
여기서, 회전하는 전자기기(100)를 연속으로 촬영하여 획득되는 검사영상은, 회전되는 전자기기(100)를 시차를 두어 촬영한 복수의 정지영상을 병합한 파노라마 형태로 구성될 수도 있고, 또는 연속하여 촬영한 동영상의 형태로 구성될 수도 있다.
본 발명에서는 일 예에서는 상기 전자기기(100)가 안착된 회전 테이블(10)의 외측에, 전자기기(100)의 평면을 촬영하는 평면 촬영용 카메라 모듈(20)과, 상기 회전 테이블의 측부에 전자기기의 측면 중상부와 측면 중하부를 원거리에서 촬영하는 2대의 원거리 카메라(20)와, 상기 회전 테이블(10)의 측부에 전자기기(100)의 측면 중상부와 측면 중하부를 근거리 촬영하는 2대의 접사 카메라모듈(20)을 각각 배설하고 있다.
도면을 보면 상기 카메라 모듈(20)은, 각도 조절과 좌우 회전이 가능한 공지의 로봇암(21)에 각각 설치되어서, 제어부에 의해 각도 조절이 가능하도록 구성된다.
물론, 필요에 따라서는 하나의 로봇암(21)에 복수의 카메라(22)를 설치하여도 무방하나, 본 실시예에서는 촬영각도나 촬영거리의 조절이 용이하도록 각각의 카메라(22)를 로봇암(21)에 개별적으로 설치하여 카메라 모듈을 구성하고 있다. 그리고, 상기 표면 검사를 요하는 전자기기(100)의 형상이나 높이 형태에 따라 상기 카메라 모듈(20)의 촬영각과, 촬영거리는 변경될 수 있다.
또한, 본 실시예에서는 상기 회전 테이블(10)의 외측에, 외부에 위치된 전자기기를 흡기압을 통해 낱개씩 흡착하여 흡착식 지그(12)에 안착시키는 공급모듈(40)과; 상기 흡착식 지그(12)에 의해 안착되어 표면의 결합여부가 판독이 완료된 전자기기(100)를 흡기압을 통해 낱개씩 흡착하여 외부로 배출하는 배출모듈(50)이 부가하여 마련하여, 전자기기의 표면 검사에 따른 전자기기(100)의 공급과, 검사, 및 검사가 완료된 전자기기(100)의 배출이 자동으로 이루어지도록 하고 있다.
본 실시예에 따르면, 상기 전자기기의 공급 또는 배출작용을 도모하는 공급모듈(40)과 배출모듈(50)은, 링크작용을 통해 전후 진퇴와 좌우 회전 및 상하 승강이 가능하도록 구성된 공지의 로봇암(42, 52)에, 전자기기(100)를 흡기압을 통해 흡착하는 공지의 공압 클램프(41, 51)가 마련된 형태로 구성된다.
그리고 본 실시예에서는 배출모듈(50)을, 상기 제어부(30)의 판독된 전자기기(100)의 표면의 결함여부에 따라, 표면의 결함이 발생되지 아니한 정품과, 표면 의 결함이 발생된 불량품을 상호 다른 위치에 분리 배출하도록 구성하여, 이러한 배출모듈(50)을 통한 불량품과 정품의 분리 배출에 의해 불량품의 발생시 장치가 정지하지 아니하고 연속하여 구동될 수 있어서, 작업의 연속성이 확보될 수 있다.
이때, 상기 배출모듈(50)을 통한 정품과 불량품의 분리 배출은 로봇암(52)의 이송 궤적의 변화에 의해 이루어진다.
도 4는 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치를 통한 전자기기의 표면검사 과정을 순차적으로 보여주는 흐름도이고, 도 5는 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치를 통한 전자기기의 표면 검사과정에 있어, 분석된 검사영상과 표본영상의 대조 및 결함여부의 판독과정을 보여주는 것이다.
한편, 이와 같이 구성된 본 실시예에 따른 전자기기의 표면 검사장치(1)는, 도 1 내지 도 4에서 보는 바와 같이 최초 공급모듈(40)이 외측에 위치된 전자기기(100)를 공압 클램프(41)를 통해 낱개씩 협지하여 회전 테이블(10)의 흡착식 지그(12)에 안착시키게 된다.(S 10) 이때, 상기 흡착식 지그(12)는 저면에 배설된 흡착포(12a)를 통해 안착된 전자기기(100)의 저면을 흡착하여 정위치에 고정시키게 된다.(S 20)
이러한 과정을 통해 전자기기(100)의 공급과 고정이 이루어지면, 상기 회전 테이블(10)은 일방향으로 회전하며,(S 30) 이때 제어부(30)는 회전 테이블(10)의 외측에 설치된 카메라 모듈(20)들을 통해 회전되는 전자기기(100)를 시차를 두어 정지 촬영하거나 연속 촬영하여 복수의 검사 영상들을 획득하게 된다.(S 40)
본 실시예에 따르면, 상기 카메라 모듈을 통해 제어부가 획득한 검사 영상들은 회전되는 전자기기의 평면을 촬영한 복수의 검사영상과, 회전되는 전자기기의 중상 측면을 촬영한 복수의 검사영상, 및 회전되는 전자기기의 중하 측면을 촬영한 복수의 검사영상을 포함한다.
이러한 검사영상의 획득이 이루어지면, 제어부(30)는 상기 획득된 검사 영상들과, 데이터 베이스(미도시)에 사전 저장된 표본 영상을 상호 대조하여, 회전 테이블(10)에 안치되어 회전하면서 촬영된 전자기기(100) 표면의 결함 여부를 판독하게 된다.(S 50)
본 발명에서는 일예로, 허프변환(Hough transform) 알고리즘을 통해 피팅(fitting) 함수 구하고, 이 피팅(fitting) 함수를 통해 검사영상의 모서리를 재현한 다음, 데이터 베이스에 저장된 표본 영상과 대조하여 회전 테이블에 안치되어 촬영된 전자기기 표면의 결함 여부를 판독하도록 하고 있다.
이때, 상기 데이터 베이스에 저장된 표본 영상도 검사 영상과 마찬가지로, 허프변환(Hough transform) 알고리즘을 통해 피팅(fitting) 함수 구하고, 이 피팅(fitting) 함수를 통해 표본 영상의 모서리를 재현한 것으로, 제어부는 도 5에서 보는 바와 같이 실질적으로 검사영상을 피팅함수를 통해 재현한 모서리와, 피팅함수를 통해 재현한 표본영상 모서리의 공차(Gap)의 차이를 통해 전자기기의 표면 결함여부를 판독하게 된다.
이와 같이 전자기기(100)의 표면 결함여부의 판독이 완료되면, 상기 배출모듈(50)은 상기 제어부(30)의 판독된 전자기기의 표면의 결함여부에 따라, 표면의 결함이 발생되지 아니한 정품과, 표면의 결함이 발생된 불량품을 상호 다른 위치에 분리 배출하게 된다.( S 60, S 60')
따라서, 본 실시예에 따른 전자기기의 표면 검사장치(1)는, 전자기기의 공급과 검사와 분리 배출이 자동으로 이루어지고, 또 회전 테이블에 의해 전자기기가 항시 정위치에 안치하여 회전되는 상태에서 복수의 카메라 모듈에 의해 다양한 촬영각과 다양한 촬영거리로 복수의 검사영상의 획득을 통해 표면의 결함 발생 여부가 판독되므로, 작업성과 정밀성이 크게 향상되는 이점을 가질 수 있다.
도 1은 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치의 외형 구성을 보여주는 것이고,
도 2는 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치의 평면 구성을 보여주는 것이며,
도 3은 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치의 정면 구성을 보여주는 것이고,
도 4는 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치를 통한 전자기기의 표면검사 과정을 순차적으로 보여주는 흐름도이며,
도 5는 본 발명에서 바람직한 실시예로 제안하고 있는 전자기기의 표면 검사장치를 통한 전자기기의 표면 검사과정에 있어, 분석된 검사영상과 표본영상의 대조 및 결함여부의 판독과정을 보여주는 것이다.
**** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ****
1. 전자기기의 표면 검사장치
10. 회전 테이블 11. 전동모터
12. 흡착식 지그 12a. 흡착포
13. 흡기공
20. 카메라 모듈 21. 로봇암
22. 카메라
30. 제어부 31. 데이터 베이스
40. 공급모듈 41. 공압 클램프
42. 로봇암
50. 배출모듈 51. 공압 클램프
52. 로봇암

Claims (2)

  1. 전자기기를 안치시켜 회전시키는 회전 테이블과; 상기 회전 테이블의 외측에 배설되어, 회전 테이블에 안치되어 회전되는 전자기기를 촬영하는 복수의 카메라 모듈; 및 상기 카메라 모듈을 통해 획득되는 검사 영상과 데이터 베이스에 획득된 표본 영상을 상호 대조하여, 상기 카메라 모듈에 의해 촬영된 전자기기의 표면 결함여부를 판독하는 제어부를 포함하여 구성되며,
    상기 전자기기가 안치된 회전 테이블의 외측에 설치된 카메라 모듈들은, 상호 촬영각과 촬영거리를 갖도록 설정되어서, 제어부는 상기 카메라 모듈들을 통해 회전되는 전자기기를 정지, 또는 연속 촬영하여 복수의 검사 영상들을 획득하고, 이 검사 영상들과 데이터 베이스에 저장된 표본 영상을 상호 대조하여, 회전 테이블에 안치되어 촬영된 전자기기 표면의 결함 여부를 판독하도록 구성된 것을 특징으로 하는 전자기기의 표면 검사장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 회전 테이블의 외측에는 외부에 위치된 전자기기를 흡기압을 통해 낱개씩 흡착하여 흡착식 지그에 안착시키는 공급모듈과; 상기 흡착식 지그에 의해 안착되어 표면의 결합여부가 판독이 완료되어진 전자기기를 흡기압을 통해 낱개씩 흡착하여 외부로 배출하는 배출모듈이 부가하여 마련되어, 전자기기의 공급과 배출이 자동으로 이루어지도록 구성되며, 상기 배출모듈은 상기 제어부의 판독된 전자기기의 표면의 결함여부에 따라 표면의 결함이 발생되지 아니한 정품과 표면의 결함이 발생된 불량품을 상호 다른 위치에 분리 배출하도록 구성된 것을 특징으로 하는 전자기기의 표면 검사장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101284528B1 (ko) * 2011-11-08 2013-07-16 대원강업주식회사 기어림 표면 흠 검사장치 및 검사방법
CN117092114A (zh) * 2023-10-16 2023-11-21 苏州德机自动化科技有限公司 一种基于ai的外观检测***

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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