KR20090020349A - A solid state disk test handler - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 컴퓨터나 이동 단말기 등에서 데이터를 저장하기 위해 사용되는 SSD를 베어(bare) 상태에서 자동으로 테스트할 수 있는 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것이다. The present invention relates to an SSD test handler, and more particularly, to test an SSD used for storing data in a computer or a mobile terminal in a bare state. It's about a handler.
에스에스디(Solid State Disk: 이하, SSD로 약칭함)는 컴퓨터에 사용되는 하드디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드디스크를 대체하기 위해 사용된다. SSD는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자를 사용하여 데이터를 저장함으로써 프로그램의 실행속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용 시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다. A solid state disk (SSD) is used to replace a hard disk used in a computer or a mini hard disk used in a mobile terminal. SSD has the advantage of fast program execution speed by using data such as flash memory and faster booting time compared to hard disk when used as a boot disk.
SSD의 구성 및 작용을 첨부된 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The configuration and operation of the SSD will be described with reference to FIG. 1.
도 1에 도시된 SSD는 케이스(case)(도시 않음)가 조립되지 않은 베어(bare) 상태의 SSD를 나타내며, 베어 상태의 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)로 구성된다. 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(5)는 각각 인쇄회 로기판(1)에 실장되며, 각각을 실장 시 SSD의 데이터의 저장 용량에 따라 인쇄회로기판(1)의 일면에 제어기(3)와 입출력제어기(4)를 실장하고, 타면에 데이터를 저장하는 플래쉬 메모리(2)를 실장하여 구성할 수 있다. The SSD shown in FIG. 1 represents a bare SSD in which a case (not shown) is not assembled, and the bare SSD represents a
SSD를 구성하는 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 커넥터(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 입력되거나 출력되는 데이터를 커넥터(5)로 전송하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(5)는 다수개의 핀(5a)이 구비되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자(도시 않음)에 연결된다. The
케이스(도시 않음)가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD는 커넥터(5)에 구비되는 다수개의 핀(5a)으로 인해 종래의 테스트 핸들러를 이용하여 자동으로 테스트를 실시할 수 없어 SSD의 번인(burn in) 테스트나 전기적인 특성 테스트 시 작업자가 수작업이나 반자동으로 테스터에 SSD를 장착하여 테스트를 실시하였다. In the bare state where the case (not shown) is not assembled, the SSD may not be automatically tested using a conventional test handler due to the plurality of
종래와 같이 베어 상태의 SSD를 수작업을 이용하여 테스트하는 경우 작업자의 숙련도에 따라 테스트 작업의 생산성이 결정되며, 숙련도가 낮은 경우에 테스트 작업의 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.When the SSD in the bare state is tested using a manual process as in the related art, the productivity of the test task is determined according to the skill of the operator, and there is a problem in that the productivity of the test task is deteriorated when the skill is low.
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the problems of the prior art, and an object thereof is to provide an SSD test handler capable of automatically testing a bare SSD in which a case is not assembled.
본 발명의 다른 목적은 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 함으로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an SSD test handler that can improve the productivity of the SSD test by allowing the SSD to be automatically tested.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 SSD를 테스트(test)하는 테스트부와; 테스트부의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이를 테스트부로 이송시키고, 테스트된 SSD를 배출하거나 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이를 컬럼(column) 간격으로 스텝(step) 이송시키는 수평 순환이송부와; 수평 순환이송부의 일측에 설치되어 테스트 트레이가 컬럼 간격으로 스텝 이송되면 각 스텝 이송마다 테스트 트레이에서 테스트된 SSD를 수납하여 회전 이송시키거나 테스트된 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD가 수납되도록 회전 이송시키는 셔틀(shuttle) 회전이송부와; 셔틀 회전이송부의 일측에 설치되어 수평 순환이송부에 의해 이송된 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이에서 테스트된 SSD를 가압하여 셔틀 회전이송부로 수납되도록 하거나 셔틀 회전이송부에서 수납된 테스트될 SSD를 테스트 트레이에 수납되도록 가압하는 푸셔(pusher)와; 셔틀 회전이송부에 설치되어 셔틀 회전이송부로 테스트될 SSD를 이송시켜 로딩(loading)시키는 제1SSD 로딩부와; 셔틀 회전이송부의 일측에 상기 제1SSD 로딩부와 대향되도록 설치되어 셔틀 회전이송부에 수납된 테스트된 SSD를 테스트 결과에 양품과 불량품으로 분류하여 언로딩(unloading)시키는 제1SSD 언로딩부로 구비됨을 특징으로 한다. SSD test handler of the present invention includes a test unit for testing the SSD (test); The test tray, which is installed at one side of the test unit and transfers the test tray containing the SSD to be tested, to the test unit and ejects the tested SSD or stores the SSD to be tested at the discharged position, the column A horizontal circular transfer unit for transferring step by step; Installed on one side of the horizontal circulation transfer unit, when the test tray is stepped at the column interval, the test tray is accommodated in the test tray for each step transfer and rotated or the SSD to be tested is stored in the discharged position. A shuttle rotating transfer unit for transferring; The SSD to be installed on one side of the shuttle rotation transfer unit is pressed by the test SSD in the test tray in which the test SSD transferred by the horizontal circulation transfer unit is accommodated in the shuttle rotation transfer unit or the SSD to be tested stored in the shuttle rotation transfer unit. Pusher to press the to be stored in the test tray (pusher); A first SSD loading unit installed in the shuttle rotation transfer unit to transfer and load the SSD to be tested by the shuttle rotation transfer unit; The first SSD unloading unit is installed on one side of the shuttle rotation transfer unit so as to face the first SSD loading unit, and the test SSD stored in the shuttle rotation transfer unit is classified as good or defective in the test result and unloaded. It features.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 함으로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다. The SSD test handler of the present invention provides an advantage of improving the productivity of the SSD test operation by automatically testing the SSD in a bare state where the case is not assembled.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Embodiments of the SSD test handler of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
(실시예1)Example 1
도 2는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이며, 도 3은 도 2에 도시된 정렬부 및 챔버부의 측면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 제1실시예의 SSD 테스트 핸들러(100)는 테스트부(110), 수평 순환이송부(120), 셔틀 회전이송부(130), 푸셔(140), 제1SSD 로딩부(150) 및 제1SSD 언로딩부(160)로 구성되며, 각각의 구성을 순차적으로 설명하면 다음과 같다.2 is a plan view illustrating a configuration of an SSD test handler according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a side view of the alignment unit and the chamber unit shown in FIG. 2. As shown, the
테스트부(110)는 SSD와 전기적으로 도통되도록 접촉되기 위해 테스트부(110)에 테스트 트레이(C)를 이송기구(도시 않음)를 이송시켜 테스트 트레이(C)에 수납된 테스트될 SSD와 접촉시킨다. 다른 실시예로는 테스트 트레이(C)가 테스트부(110)에 위치되면 푸싱(pushing)장치(도시 않음) 등을 이용하여 테스트 트레이(C)를 테스트부(110)에 접촉시켜 테스트 트레이(C)에 수납된 SSD의 전기적인 특성을 테스트할 수 있도록 구성할 수 있다. The
수평 순환이송부(120)는 테스트부(110)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 테스트부(110)로 도 2 및 도3에 도시된 화살표 방향으로 이송시키고, 테스트된 SSD를 배출하거나 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 컬럼 간격(A1)으로 스텝 이송시키게 된다. 테스트 트레이(C)를 컬럼 간격(A1)으로 스텝 이송시키기 위한 수평 순환이송부(120)는 제1트레이 직선이송기구(121), 제2트레이 직선이송기구(122), 제3트레이 직선이송기구(123) 및 제4트레이 직선이송기구(124)로 구비되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.The horizontal
제1트레이 직선이송기구(121)는 테스트부(110)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 테스트부(110)로 이송하거나 테스트된 테스트 트레이(C)를 수평방향으로 이송시킨다. 제2트레이 직선이송기구(122)는 제1트레이 직선이송기구(121)의 일측에 설치되어 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 이송받아 테스트 트레이(C)에 수납된 테스트된 SSD를 배출하거나 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이를 컬럼(column) 간격(A1,A2,A3,A4)으로 스텝 이송시킨다. 컬럼 간격(A1,A2,A3,A4)은 각각 모두 동일한 간격이며, 각 컬럼 간격(A1,A2,A3,A4)으로 테스트 트레이(C)를 이송시키거나 각 컬럼 간격(A1,A2,A3,A4)에서 두개를 합한 컬럼 간격(A1+A2,A3+A4)으로 테스트 트레이(C)를 스텝 이송시킬 수 있다. 테스트 트레이(C)의 컬럼(A1,A2,A3,A4)은 도 2 및 도 3에 도시된 것과 같이 테스트 트레이(C)의 X축 방향 즉, 수평방향으로 배열되며, 각 컬럼에는 각각 다수개의 SSD가 수납될 수 있다. 제3트레이 직선이송기 구(123)는 제1 및 제2트레이 직선이송기구(121,122) 사이에 설치되어 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 제1트레이 직선이송기구(121)에서 제2트레이 직선이송기구(122)로 수평방향으로 이송시킨다. 제4트레이 직선이송기구(124)는 제1 및 제2트레이 직선이송기구(121,122) 사이에 제3트레이 직선이송기구(123)와 대향되도록 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이를 제2트레이 직선이송기구(122)에서 제1트레이 직선이송기구(121)로 수평방향으로 이송시킨다. The first tray
셔틀 회전이송부(130)는 수평 순환이송부(120)의 일측에 설치되어 테스트 트레이(C)가 컬럼 간격으로 스텝 이송되면 각 스텝 이송마다 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD를 수납하여 회전 이송시키거나 테스트된 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD가 수납되도록 회전 이송시킨다. SSD를 회전 이송 시 셔틀 회전이송부(130)는 도 3에 도시된 것과 같이 SSD의 커넥터 핀(5a: 도 1에 도시됨)이 테스트 트레이(C)를 향하거나 하측을 향하도록 90도 양방향 회전시키기 위해 다수개의 로딩 셔틀(131), 다수개의 언로딩 셔틀(132), 다수개의 셔틀 회전부(133), 다수개의 가동자(134) 및 셔틀 직선이송기구(135)로 구비되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The shuttle
다수개의 로딩 셔틀(131)은 각각 테스트될 SSD가 수납되며, 다수개의 언로딩 셔틀(132)은 각각 테스트된 SSD가 수납된다. 다수개의 셔틀 회전부(133)는 다수개의 로딩 및 언로딩 셔틀(131,132)에 각각 설치되어 수납된 테스트될 SSD의 커넥터 핀(5a: 도 1에 도시됨)이 테스트 트레이(C)를 향하도록 다수개의 로딩 셔틀(131)을 회전시키거나 테스트된 SSD의 커넥터 핀(5a)이 하측을 향하도록 다수개의 언로딩 셔틀(132)을 회전시킨다. 다수개의 가동자(134)는 다수개의 셔틀 회전부(133)가 각각 설치되며, 셔틀 직선이송기구(135)는 다수개의 가동자(134)가 각각 설치되어 다수개의 가동자(134)를 각각 선택적으로 직선 이송시킨다. 다수개의 가동자(134)를 각각 선택적으로 직선 이송시키기 위해 셔틀 직선이송기구(135)는 리니어 모터가 적용되며, 수평 순환이송부(120)에 의해 테스트 트레이(C)가 컬럼 간격으로 스텝 이송되면 각 스텝 이송마다 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD를 수납하여 제1SSD 언로딩부(160)측으로 이송시키기 위해 다수개의 언로딩 셔틀(132)이 설치된 가동자(134)를 이송시킨다. 또한 셔틀 직선이송기구(135)는 제1SSD 로딩부(150)에서 테스트될 SSD를 수납하여 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트 트레이(C)측으로 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 로딩 셔틀(131)이 설치된 가동자(134)를 이송시킨다. 본 발명에서 SSD의 회전 상태는 도 2, 도 4 및 도 6에 도시된 것과 같이 SSD의 길이(L1,L2)로 나타내고 있다. 즉, SSD의 길이(L1)에서 길이(L2)로 나타낸 경우나 그 역방향으로 나타낸 경우에 SSD가 회전된 상태를 나타내며, 길이(L1)는 도 1에 도시된 SSD에서 세로방향의 길이를 나타내고, 길이(L2)는 가로방향의 길이를 나타낸다. Each of the plurality of
푸셔(140)는 셔틀 회전이송부(130)의 일측에 설치되어 수평 순환이송부(120)에 의해 이송된 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD를 가압하여 셔틀 회전이송부(130)로 수납되도록 하거나 셔틀 회전이송부(130)에서 수납된 테스트될 SSD를 테스트 트레이(C)에 수납되도록 가압한다. SSD를 가압하기 위해 푸셔(140)는 도 3에 도시된 바와 같이 승강기구(141)나 직선이송기구(142)가 구비되 어 화살표 방향으로 이동되도록 설치된다. The
제1SSD 로딩부(150)는 셔틀 회전이송부(130)의 일측에 설치되어 셔틀 회전이송부(130)로 테스트될 SSD를 이송시켜 로딩시키기 위해 다수개의 로딩적재부(151), 다수개의 카세트 로딩이송기구(152) 및 제1SSD 로딩헤드부(153)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The first
다수개의 로딩적재부(151)는 셔틀 회전이송부(130)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 카세트(T)를 각각 적재하며, 다수개의 카세트 로딩이송기구(152)는 다수개의 로딩적재부(151)의 타측에 각각 설치되어 다수개의 로딩적재부(151)에 적재된 테스트될 SSD가 수납된 카세트(T)를 셔틀 회전이송부(130)측으로 이송시킨다. 제1SSD 로딩헤드부(153)는 다수개의 카세트 로딩이송기구 (152)중 어느 하나의 일측에 설치되어 다수개의 카세트 로딩이송기구(152)에 의해 셔틀 회전이송부(130)측으로 이송된 테스트될 SSD가 수납된 카세트(T)에서 테스트될 SSD를 셔틀 회전이송부(130)로 이송한다. 여기서, 다수개의 로딩적재부(151)들은 스택커(stacker)가 적용되고, 다수개의 카세트 로딩이송기구(152)는 리니어모터나 볼 스크류와 같은 직선이송기구(도시 않음)가 적용되며, 제1SSD 로딩헤드부(153)는 X-Y축 이송로봇(153a)과 헤드(153b)로 이루어진다. A plurality of
제1SSD 언로딩부(160)는 셔틀 회전이송부(130)의 일측에 제1SSD 로딩부(150)와 대향되도록 설치되어 셔틀 회전이송부(130)에 수납된 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 언로딩시키기 위해 다수개의 언로딩적재부(161), 다수개의 카세트 언로딩이송기구(162), 제1SSD 언로딩헤드부(163), 다수 개의 불량품 언로딩적재부(164) 및 SSD 불량품 언로딩헤드부(165)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The first SSD unloading unit 160 is installed on one side of the shuttle
다수개의 언로딩적재부(161)는 셔틀 회전이송부(130)의 일측에 제1SSD 로딩부(150)와 대향되도록 설치되어 테스트된 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(T)를 적재한다. 다수개의 카세트 언로딩이송기구(162)는 다수개의 언로딩적재부(161)의 타측에 각각 설치되어 다수개의 언로딩적재부(161)에 적재된 카세트(T)를 테스트된 SSD를 수납하기 위해 셔틀 회전이송부(130)측으로 이송시킨다. 제1SSD 언로딩헤드부(163)는 다수개의 카세트 언로딩이송기구(162) 중 어느 하나의 타측에 설치되어 다수개의 카세트 언로딩이송기구(162)에 의해 셔틀 회전이송부(130)측으로 이송된 카세트(T)에 셔틀 회전이송부(130)측에 수납된 테스트된 SSD를 이송한다. 다수개의 불량품 언로딩적재부(164)는 다수개의 언로딩 적재부(161) 중 어느 하나의 타측에 설치되어 테스트된 SSD 중 불량품 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(T)를 적재하며, SSD 불량품 언로딩헤드부(165)는 다수개의 불량품 언로딩적재부(164) 중 어느 하나의 일측에 설치되어 다수개의 언로딩적재부(161)에 적재된 테스트된 SSD가 수납된 카세트(T)에서 불량품 SSD를 다수개의 불량품 언로딩적재부(165)에 적재된 카세트(T)로 이송한다. 여기서, 다수개의 언로딩적재부(161)와 다수개의 불량품 언로딩적재부(164)는 각각 스택커가 적용되고, 다수개의 카세트 언로딩이송기구(162)는 리니어모터나 볼 스크류와 같은 직선이송기구(도시 않음)가 적용되며, 제1SSD 언로딩헤드부(163)와 SSD 불량품 언로딩헤드부(165)는 각각 X-Y축 이송로봇(163a,165a)과 헤드(163b,165b)로 이루어진다. The plurality of unloading
본 발명의 제1실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(100)의 작용을 첨부된 도 2 및 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다. The operation of the
제1SSD 로딩부(150)에 테스트될 SSD가 수납된 카세트(T)를 적재하고, 제1SSD 언로딩부(160)에 테스트된 SSD를 수납하기 위한 빈 카세트(T)를 적재한다. 제1SSD 로딩부(150)에 테스트될 SSD가 수납된 카세트(T)가 적재되면 이를 셔틀 회전이송부(130)측으로 이송한다. 셔틀 회전이송부(130)측으로 카세트(T)가 이송되면 제1SSD 로딩헤드부(153)가 카세트(T)에 수납된 테스트될 SSD를 다수개의 로딩 셔틀(131)에 수납한다. 다수개의 로딩 셔틀(131)에 테스트될 SSD가 수납되면 셔틀 회전이송부(130)는 다수개의 로딩 셔틀(131)을 테스트 트레이(C)측으로 이송한다. 셔틀 회전이송부(130)가 테스트 트레이(C)측으로 이송되면 셔틀 회전이송부(130)는 테스트될 SSD를 90도 회전시켜 커넥터핀(5a: 도 1에 도시됨)이 테스트 트레이(C)를 향하도록 한다. 이 상태에서 푸셔(140)가 SSD를 가압하여 테스트될 SSD를 테스트 트레이(C)에 수납한다. 이러한 과정을 통해 테스트 트레이(C)에서 컬럼 간격(A1,A2)에 위치한 컬럼에 테스트될 SSD가 수납되면 테스트 트레이(C)를 다시 컬럼 간격(A3,A4)만큼 즉, 수평방향으로 스텝 이송시켜, 테스트될 SSD를 수납한다. The cassette T containing the SSD to be tested is loaded in the first
테스트된 SSD를 테스트 트레이(C)에서 언로딩시키는 과정은 먼저 셔틀 회전이송부(130)의 다수개의 언로딩 셔틀(132)이 테스트 트레이(C)에 90도 회전되어 대기하면 푸셔(140)가 테스트 트레이(C)에 수납된 각 컬럼에 테스트된 SSD를 가압하여 다수개의 언로딩 셔틀(132)로 수납되도록 한다. 푸셔(140)가 테스트된 SSD를 가압하여 테스트 트레이(C)에서 다수개의 언로딩 셔틀(132)로 수납 시 컬럼 간 격(A1,A2)만큼 각 컬럼에 수납된 테스트된 SSD를 가압하여 다수개의 언로딩 셔틀(132)에 수납하게 된다. 언로딩 셔틀(132)에 테스트된 SSD가 수납되면 언로딩 셔틀(132)은 반대 방향으로 90도 회전하여 제1SSD 언로딩부(160)측으로 이송한다. 제1SSD 언로딩부(160)측으로 다수개의 언로딩 셔틀(132)이 이송되면 제1SSD 언로딩부(160)는 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 적재하게 된다. The process of unloading the tested SSD from the test tray C may include a plurality of unloading
(실시예2)Example 2
본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(200)의 구성을 첨부된 도 4 및 도 5를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The configuration of the
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이고, 도 5는 도 4에 도시된 회전이송 챔버부 및 소켓 정렬부의 측면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(200)는 테스트부(210), 수직 순환이송부(220), 셔틀 회전이송부(230), 푸셔(240), 제2SSD 로딩부(250) 및 제2SSD 언로딩부(260)로 구성되며, 각각의 구성을 순차적으로 설명하면 다음과 같다.4 is a plan view illustrating a configuration of an SSD test handler according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a side view of the rotation transfer chamber part and the socket alignment part shown in FIG. 4. As shown, the
테스트부(210)는 SSD를 테스트하기 위해 구비되며, 수직 순환이송부(220)는 테스트부(210)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 테스트부(210)로 도 4 및 도 5에 도시된 화살표 방향으로 이송시키고, 테스트된 SSD를 배출하거나 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 열 간격(B1,B2,B3,B4) 즉, 수직방향(Z축방향)으로 스텝 이송시 킨다. The
테스트 트레이(C)를 열 간격(B1,B2,B3,B4)으로 스텝 이송시키기 위해 수직 순환이송부(220)는 제1트레이 승강기구(221), 제2트레이 승강기구(222), 제5트레이 직선이송기구(223) 및 제6트레이 직선이송기구(224)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.In order to step-feed the test tray C at the column intervals B1, B2, B3, and B4, the vertical
제1트레이 승강기구(221)는 테스트부(210)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 테스트부(210)로 이송하거나 SSD 테스트가 완료된 테스트 트레이(C)를 하강시킨다. 제2트레이 승강기구(222)는 제1트레이 승강기구(221)의 일측에 설치되어 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 이송받아 테스트 트레이(C)에 수납된 테스트된 SSD를 배출하거나 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 열 간격(B1,B2,B3,B4) 즉, 수직방향으로 열 간격(B1,B2,B3,B4)만큼 스텝 이송시킨다. 제5트레이 직선이송기구(223)는 제1 및 제2트레이 승강기구(221,222) 사이에 설치되어 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 제1트레이 승강기구(221)에서 제2트레이 승강기구(222)로 이송시킨다. 제6트레이 직선이송기구(224)는 제1 및 제2트레이 승강기구(221,222) 사이에 제5트레이 직선이송기구(223)와 대향되도록 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 제2트레이 승강기구(222)에서 제1트레이 승강기구(221)로 이송시킨다. The first
셔틀 회전이송부(230)는 수직 순환이송부(220)의 일측에 설치되어 테스트 트레이(C)가 열 간격으로 스텝 이송되면 각 스텝 이송마다 테스트 트레이(C)에서 테 스트된 SSD를 수납하여 회전 이송시키거나 테스트된 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD가 수납되도록 회전 이송시키기 위해 다수개의 로딩 셔틀(231), 다수개의 언로딩 셔틀(232), 다수개의 셔틀 회전부(233), 다수개의 가동자(234) 및 셔틀 직선이송기구(235)로 구성된다. 이러한 구성을 갖는 셔틀 회전이송부(230)는 본 발명의 제1실시예에 따른 셔틀 회전이송부(130)의 구성과 동일하여 상세한 설명은 생략하며, 다만 셔틀 직선이송기구(235)의 작용을 설명하면 다음과 같다. The shuttle
셔틀 직선이송기구(235)는 수직 순환이송부(220)에 의해 테스트 트레이(C)가 열 간격으로 스텝 이송되면 각 스텝 이송마다 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD를 수납하여 제1SSD 언로딩부(260)측으로 이송시키기 위해 다수개의 언로딩 셔틀(232)이 설치된 가동자(234)를 이송시킨다. 또한, 셔틀 직선이송기구(235)는 제1SSD 로딩부(250)에서 테스트될 SSD를 수납하여 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트 트레이(C)측으로 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 로딩 셔틀(221)이 설치된 가동자(234)를 이송시킨다.The shuttle
푸셔(240)는 셔틀 회전이송부(230)의 일측에 설치되어 수직 순환이송부(220)에 의해 이송된 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD를 가압하여 셔틀 회전이송부(230)로 수납되도록 하거나 셔틀 회전이송부(230)에서 수납된 테스트될 SSD를 테스트 트레이(C)에 수납되도록 하며, SSD를 가압하기 위해 푸셔(240)는 도 5에 도시된 바와 같이 승강기구(241)나 직선이송구기(242)가 구비되어 화살표 방향으로 이동되도록 설치된다. The
제2SSD 로딩부(250)는 셔틀 회전이송부(230)의 일측에 설치되어 셔틀 회전이 송부(230)로 테스트될 SSD를 이송시켜 로딩시키기 위해 다수개의 로딩적재부(251)와 제2SSD 로딩헤드부(252)로 구성된다. 다수개의 로딩적재부(251)는 셔틀 회전이송부(230)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 카세트(T)를 각각 적재하며, 제2SSD 로딩헤드부(252)는 다수개의 로딩적재부(251) 중 어느 하나의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 카세트(T)에서 테스트될 SSD를 셔틀 회전이송부(230)로 이송한다. 여기서, 다수개의 로딩적재부(251)는 스택커가 적용되며, 제2SSD 로딩헤드부(252)는 X-Y이송 로봇(252a)과 SSD를 파지하는 헤드(252b)로 이루어진다. The second
제2SSD 언로딩부(260)는 셔틀 회전이송부(230)의 일측에 제2SSD 로딩부(250)와 대향되도록 설치되어 셔틀 회전이송부(230)에 수납된 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 언로딩시키기 위해 다수개의 언로딩적재부(261), 다수개의 불량품 언로딩적재부(262) 및 제2SSD 언로딩헤드부(263)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.The second
다수개의 언로딩적재부(261)는 셔틀 회전이송부(230)의 일측에 제2SSD 로딩부(250)와 대향되도록 설치되어 테스트된 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(T)를 적재한다. 다수개의 불량품 언로딩적재부(262)는 다수개의 언로딩 적재부 (261)중 어느 하나의 타측에 설치되어 테스트된 SSD 중 불량품 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(T)를 적재한다. 제2SSD 언로딩헤드부(263)는 다수개의 언로딩적재부(261) 중 어느 하나의 타측에 설치되어 셔틀 회전이송부(230)에 수납된 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품 SSD는 다수개의 언로딩적재부(261)에 적재된 카세 트(T)로 이송하고, 불량품 SSD는 다수개의 불량품 언로딩적재부(262)에 적재된 카세트(T)로 이송한다. 여기서, 다수개의 언로딩적재부(261) 및 다수개의 불량품 언로딩 적재부(262)는 각각 스택커가 적용되며, 제2SSD 언로딩헤드부(263)는 X-Y이송 로봇(263a)과 SSD를 파지하는 헤드(263b)로 이루어진다. The plurality of unloading
상기 구성을 갖는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(200)의 작용을 설명하면 다음과 같다. Referring to the operation of the
제2SSD 로딩부(250)에서 테스트될 SSD가 셔틀 회전이송부(230)로 이송되면, 셔틀 회전이송부(230)는 테스트 트레이(C)측으로 이송된다. 셔틀 회전이송부(230)가 테스트 트레이(C)로 이송되면 푸셔(240)가 SSD를 가압하여 테스트 트레이(C)에 테스트될 SSD를 수납한다. 한 열(B1)에 테스트될 SSD가 수납되면 테스트 트레이(C)를 한 열만큼 다시 스텝 이송시켜 테스트될 SSD를 수납하고, 이러한 연속적인 동작을 통해 테스트 트레이(C)에 테스트될 SSD를 수납한다. 반대로, 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD를 배출하기 위해 테스트될 SSD를 수납하는 것과 동일한 과정을 셔틀 회전이송부(230)로 이송하여 테스트된 SSD를 배출한다. 테스트 트레이(C)에 테스트될 SSD를 수납하고 테스트된 SSD를 배출하는 동작을 테스트 트레이(C)를 열 간격(B1,B2,B3,B4)으로 스텝 이송시키면서 테스트된 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하게 된다. 셔틀 회전이송부(230)로 테스트된 SSD가 배출되면 제2SSD 언로딩부(260)는 셔틀 회전이송부(230)에 수납된 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 적재한다. When the SSD to be tested in the second
(실시예3)Example 3
본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(300)의 구성을 첨부된 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The configuration of the
도 6은 본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(300)는 테스트부(310), 다수개의 테스트 트레이 이송부(320), 셔틀 이송부(330), 제3SSD 로딩부(340), 제3SSD 언로딩부(350) 및 SSD 이송 로봇(360)으로 구성되며, 각각을 구성 및 작용을 순차적으로 설명하면 다음과 같다. 6 is a plan view illustrating a configuration of an SSD test handler according to a third embodiment of the present invention. As shown, the
본 발명의 제3실시예에 따른 테스트부(310)는 본 발명의 제1 및 제2실시예에 따른 테스트부(110,210)가 각각 SSD와 접하는 면이 수직한 방향이 되도록 설치되는 반면에 SSD가 접하는 면이 수평방향으로 설치되어 SSD를 테스트하도록 설치된다. In the
다수개의 테스트 트레이 이송부(320)는 테스트부(310)의 양측에 각각 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 테스트부(310)로 로딩시키거나 테스트부(310)에서 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)를 언로딩시킨다. 예를 들어, 도 6에 도시된 것과 같이 다수개의 테스트 트레이 이송부(320)중 어느 하나와 테스트부(310)에 각각 테스트 트레이(C)가 위치된 상태에서 다수개의 테스트 트레이 이송부(320) 중 나머지 하나의 테스트 트레이 이송부(320)는 현재 테스트부(310)에서 테스트된 테스트 트레이(C)가 이송시키므로써 테스트 트레이(C)를 테스트부(310)에 교대로 로딩 및 언로딩시킨다. The plurality of test
셔틀 이송부(330)는 다수개의 테스트 트레이 이송부(320)의 일측에 설치되어 테스트된 SSD를 수납하여 언로딩시키기 위해 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레 이(C)로 이동시키거나 테스트될 SSD를 수납하여 로딩시키기 위해 테스트될 SSD가 수납되는 테스트 트레이(C)로 이동시키기 위해 로딩 셔틀부(331)와 언로딩 셔틀이송부(332)로 구성된다. The
로딩 셔틀부(331)는 언로딩 셔틀이송부(332)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD를 테스트 트레이(C)에 수납할 수 있도록 제3SSD 로딩부(340)측과 테스트 트레이측(C)으로 각각 이송하며, 언로딩 셔틀이송부(332)는 다수개의 테스트 트레이 이송부(320)의 일측에 설치되어 테스트 트레이(C)에서 테스트된 SSD를 수납하여 제3SSD 언로딩부(350)로 이송될 수 있도록 테스트 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(C)측과 제3SSD 언로딩부(350)측으로 각각 이송한다. 로딩 셔틀부(331)와 언로딩 셔틀이송부(332)는 각각 셔틀(331a,332a)과 직선이송기구(331b,332b)로 구성된다. The loading
제3SSD 로딩부(340)는 셔틀 이송부(330)의 일측에 설치되어 셔틀 이송부(330)로 이송될 테스트될 SSD가 수납된 카세트(T)가 적재되는 다수개의 언로딩 카세트 적재부(341)로 이루어지고, 제3SSD 언로딩부(350)는 셔틀 이송부(330)의 일측에 제3SSD 로딩부(340)와 대향되도록 설치되어 셔틀 이송부(330)로부터 이송된 양품과 불량품 SSD를 각각 수납하는 다수개의 카세트(T)가 적재되는 다수개의 언로딩 적재부(351)와 다수개의 불량품 언로딩 적재부(352)로 이루어진다. 여기서, 다수개의 적재부(341,351,352)들은 각각 스택커(stacker)로 이루어진다.The third
SSD 이송 로봇(360)은 제3SSD 로딩부(340)의 일측과 제3SSD 언로딩부(350)의 타측에 설치되어 다수개의 테스트 트레이 이송부(320)에 위치한 테스트 트레이(C) 와 셔틀 이송부(330)로 테스트될 SSD나 테스트된 SSD를 이송하거나 셔틀 이송부(330)와 제3SSD 로딩부(340)와 제3SSD 언로딩부(350)로 각각 테스트될 SSD나 테스트된 SSD를 이송한다. SSD를 이송시키기 위해 SSD 이송 로봇(360)은 제3SSD 로딩헤드부(361), 제4SSD 로딩헤드부(362), 제3SSD 언로딩헤드부(363) 및 로딩헤드 이송기구(364)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The
제3SSD 로딩헤드부(361)는 다수개의 테스트 트레이 이송부(320) 중 어느 하나에 의해 테스트부(310)에서 언로딩된 테스트 트레이(C)와 셔틀 이송부(330)로 테스트될 SSD나 테스트된 SSD를 이송시키며, 제4SSD 로딩헤드부(362)는 제3SSD 로딩부(340)에서 셔틀 이송부(330)로 테스트될 SSD를 이송시킨다. 제3SSD 언로딩헤드부(363)는 셔틀 이송부(330)에서 제3SSD 언로딩부(350)로 테스트된 SSD를 이송시킨다. 여기서, 제3SSD 로딩헤드부(361), 제4SSD 로딩헤드부(362) 및 제3SSD 언로딩헤드부(363)는 각각 X축 이송로봇(361a,362a,363a)과 헤드(361b,362b,363b)로 구성되며, 로딩헤드 이송기구(364)는 제3SSD 로딩부(340)의 일측과 제3SSD 언로딩부(350)의 타측에 설치되어 제3SSD 로딩헤드부(361), 제4SSD 로딩헤드부(362), 제3SSD 언로딩헤드부(363)를 각각 선택적으로 이송시킬 수 있도록 리니어 모터가 적용된다. The third SSD
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 플래쉬 메모리나 제어기 등과 같이 부품을 인쇄회로기판에 실장한 후 케이스를 조립하지 않은 베어 상태의 SSD 케이스가 조립된 SSD를 테스트하여 양품과 불량품으로 분류하는 분야에 적용할 수 있다.The SSD test handler of the present invention can be applied to a field of testing a SSD assembled with a bare SSD case in which a case is not assembled after mounting a component on a printed circuit board such as a flash memory or a controller and classifying it as good or bad. have.
도 1은 SSD의 정면도,1 is a front view of an SSD,
도 2는 본 발명의 제1실시에에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,2 is a plan view showing the configuration of an SSD test handler according to a first embodiment of the present invention;
도 3은 도 2에 도시된 정렬부 및 챔버부의 측면도,3 is a side view of the alignment unit and the chamber unit shown in FIG. 2;
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,4 is a plan view showing the configuration of an SSD test handler according to a second embodiment of the present invention;
도 5는 도 4에 도시된 회전이송 챔버부 및 소켓 정렬부의 측면도,FIG. 5 is a side view of the rotational transfer chamber part and the socket alignment part shown in FIG. 4; FIG.
도 6은 본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도.Figure 6 is a plan view showing the configuration of an SSD test handler according to a third embodiment of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
110,210,310: 테스트부 120: 수평 순환이송부110, 210, 310: test unit 120: horizontal circular transfer unit
130,230: 셔틀 회전이송부 140,240: 푸셔130,230: shuttle rotation transfer unit 140,240: pusher
150: 제1SSD 로딩부 160: 제1SSD 언로딩부150: first SSD loading unit 160: first SSD unloading unit
220: 수직 순환이송부 230: 셔틀 회전이송부220: vertical circulation transfer unit 230: shuttle rotation transfer unit
250: 제2SSD 로딩부 260: 제2SSD 언로딩부250: second SSD loading unit 260: second SSD unloading unit
320:다수개의 테스트 트레이 이송부 330: 셔틀 이송부320: a plurality of test tray transfer unit 330: shuttle transfer unit
340: 제3SSD 로딩부 350: 제3SSD 언로딩부 340: third SSD loading unit 350: third SSD unloading unit
360: SSD 이송 로봇360: SSD transport robot
Claims (13)
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KR1020070085061A KR100904750B1 (en) | 2007-08-23 | 2007-08-23 | A Solid State Disk Test Handler |
Applications Claiming Priority (1)
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Family Applications (1)
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KR1020070085061A KR100904750B1 (en) | 2007-08-23 | 2007-08-23 | A Solid State Disk Test Handler |
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KR101308050B1 (en) * | 2008-04-01 | 2013-09-12 | (주)테크윙 | Loading method of apparatus in order to support testing an electric device |
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- 2007-08-23 KR KR1020070085061A patent/KR100904750B1/en not_active IP Right Cessation
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120619 Year of fee payment: 4 |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |