KR101249999B1 - 화학기상증착 장치 - Google Patents

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Abstract

화학기상증착 장치가 개시된다. 상기 화학기상증착 장치는, 반응 공간을 구획하는 공정챔버; 상기 반응 공간의 상측에 위치하며, 중앙에 가스 도입부가 구비되는 백 플레이트(back plate); 상기 가스 도입부의 하측에 이격되어 배치되며, 상기 가스 도입부를 통해 공급되는 공정가스를 확산시키는 가스확산부재; 상기 백 플레이트 및 상기 가스확산부재의 하측에 이격되어 배치되며, 복수 개의 분사홀이 천공된 샤워헤드; 상기 샤워헤드의 하측에 이격되어 배치되며, 기판을 지지하는 서셉터(susceptor)를 포함한다. 이 때, 상기 가스확산부재는 제1 결합부재에 의해 상기 백 플레이트에 결합되고, 상기 샤워헤드의 중앙부는 제2 결합부재에 의해 상기 가스확산부재에 결합된다.

Description

화학기상증착 장치{Apparatus for chemical vapor deposition}
본 발명은 화학기상증착 장치에 관한 것이다.
일반적으로 물질에 박막을 형성하는 방법은 스퍼터링(Sputtering)법과 같이 물리적인 충돌을 이용하여 박막을 형성하는 PVD(Physical Vapor Deposition)법과 화학반응을 이용하여 박막을 형성하는 CVD(Chemical Vapor Deposition)법으로 구분할 수 있다. 그러나 PVD법은 CVD법에 비하여 조성이나 두께의 균일도 및 계단도포성(step coverage)이 좋지 못하므로 일반적으로 CVD법이 흔히 사용된다. CVD법에는 APCVD(Atmospheric Pressure CVD)법, LPCVD(Low Pressure CVD)법, PECVD(Plasma Enhanced CVD)법 등이 있다.
CVD법 중에서도, 저온증착이 가능하고 박막형성속도가 빠른 장점 때문에 최근에는 PECVD법이 많이 이용되고 있다. PECVD법은 반응챔버 내로 주입된 반응가스에 고주파전력(RF Power)을 인가하여 반응가스를 플라즈마 상태로 만들고, 플라즈마 내에 존재하는 레디칼(radical)들을 웨이퍼나 유리 기판 상에 증착되도록 하는 방법을 말한다.
박막증착공정은 그것이 어떠한 방법을 채택하든지 간에 균일한 박막증착이 최대의 관건이라 할 수 있으므로, 이를 위해 수많은 개선방안들이 제안되고 있으며, 균일한 박막증착을 위해서는 반응가스나 플라즈마의 균일한 분포가 아주 중요한 역할을 하게 된다.
PECVD 장치는 박막화 공정에서 빼놓을 수 없는 매우 중요한 장비이며, 대규모 요구 산출량과 더불어 장치 규모도 점차 초대형화로 커지고 있다. 최근에 평판형 디스플레이 제조공정에 작용되는 PECVD 장치는 기판 한 변의 크기가 2 미터를 훌쩍 넘는 초 대형 크기이기 때문에 원하는 품질의 박막을 얻기 위해서는 장비의 세부 기능도 보다 정밀하게 구성되어 있어야 한다. 본 발명은 대면적 박막 제조용 PECVD 장치 내부에서 박막 두께 균일도를 확보하기 위한 방안으로 가스 분사기능을 향상시킬 수 있는 아이디어와 가스 분사면의 열팽창으로 인한 뒤틀림 현상을 최소화할 수 있는 방안을 제시하고 있다.
도 1은 일반적인 PECVD장치의 개략적인 구성도이며, 도면을 참조하여 공정순서대로 간략히 설명하면 다음과 같다.
먼저 로봇암(미도시)에 의해 기판(3)이 반응챔버(1)의 내부에 설치된 서셉터(2)의 상면에 안착되면, 박막공정을 위한 가스가 가스유입관(7)을 통해 샤워헤드(4)의 상부에 위치한 버퍼공간(5)으로 들어와서 넓게 확산된다. 버퍼공간(5)에서 확산된 가스는 샤워헤드(4)의 분사구(4a)를 통해 기판(3) 위로 균일하게 분사되며, 상기 분사된 가스는 플라즈마 전극(6)을 통해 공급된 RF(Radio Frequency)파워에 의해 플라즈마(8)상태로 변화된다. 상기 플라즈마(8)상태의 반응가스는 상기 기판(3)에 증착되며, 박막증착공정이 완료된 후 남은 반응가스는 진공펌프(미도시)에 의해 배기관(9)으로 배출된다.
그런데, 이러한 PECVD장치에 있어서, 샤워헤드(4)는 도 2에 도시된 바와 같이 자체 하중과 열적 변형으로 인해 중심부분에서 아래방향으로 처짐 현상이 나타나는 문제점이 있다. 열적 변형은 고온 플라즈마와 서셉터(2)에 내장된 히터(미도시)로부터의 열전달로 인한 열팽창 때문에 발생하는데, 열팽창은 두께방향(상하방향)보다 수평방향의 열팽창이 더 크게 된다.
샤워헤드(4)의 중심부가 하부로 처지는 굽힘현상이 발생하는 경우에는 샤워헤드(4)와 서셉터(2) 간의 간격이 중심부에서 가깝고 주변부에서는 멀어지게 되므로, 분사된 공정가스의 분포밀도가 불균일해지며 결과적으로 공정 균일도가 저하되는 요인이 되고 있다.
본 발명은 공정 가스의 원활한 흐름을 가능케 하고, 샤워헤드의 열팽창 왜곡 현상을 최소화 시킬 수 있는 화학기상증착 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 반응 공간을 구획하는 공정챔버; 상기 반응 공간의 상측에 위치하며, 중앙에 가스 도입부가 구비되는 백 플레이트(back plate); 상기 가스 도입부의 하측에 이격되어 배치되며, 상기 가스 도입부를 통해 공급되는 공정가스를 확산시키는 가스확산부재; - 이 때, 상기 가스확산부재는 제1 결합부재에 의해 상기 백 플레이트에 결합됨 - 상기 백 플레이트 및 상기 가스확산부재의 하측에 이격되어 배치되며, 복수 개의 분사홀이 천공된 샤워헤드; - 이 때, 상기 샤워헤드의 중앙부는 제2 결합부재에 의해 상기 가스확산부재에 결합됨 - 상기 샤워헤드의 하측에 이격되어 배치되며, 기판을 지지하는 서셉터(susceptor)를 포함하는 화학기상증착 장치가 제공된다.
이 때, 상기 제1 결합부재와 상기 제2 결합부재 중 적어도 어느 하나는 나사일 수 있다.
한편, 상기 백 플레이트의 하측 단부에는 상기 가스 도입부 보다 큰 단면적을 갖는 확장홈이 형성되고, 상기 가스확산부재의 적어도 일부는 상기 확장홈 내에 위치할 수 있다.
한편, 상기 공정챔버는 직육면체 형상이고, 상기 가스확산부재는 원판 형태의 지지 플레이트; 및 상기 지지 플레이트의 상면에 형성되는 사각뿔을 포함하며, 상기 사각뿔의 각 측면은 상기 공정챔버의 모서리를 향하여 배치될 수도 있다. 이 때, 상기 제1 결합부재는, 상기 사각뿔의 중심과 상기 사각뿔의 모서리를 통과하는 직선 경로 상에 위치할 수 있다.
다른 한편, 상기 가스확산부재는 사각판 형태의 지지 플레이트; 및 상기 지지 플레이트의 상면에 형성되는 원뿔을 포함하며, 상기 지지 플레이트의 각 측면은 상기 공정챔버의 모서리를 향하여 배치될 수도 있다. 이 때, 상기 제1 결합부재는, 상기 원뿔의 중심과 상기 지지 플레이트의 모서리를 통과하는 직선 경로 상에 위치할 수 있다.상기 서셉터의 내부에는 열선이 내장될 수도 있으며, 상기 샤워헤드는 알루미늄 재질로 이루어질 수 있다.
한편, 상기 샤워헤드의 가장자리를 지지하도록 제3 결합부재를 통해 상기 백 플레이트와 결합될 수 있으며, 이 때, 상기 샤워헤드의 측면에 소정의 갭을 두고 위치하는 클램프 부재를 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 클램프 부재는, 상기 샤워헤드의 하면을 지지하기 위한 수평부분과, 상기 샤워헤드의 측면을 지지하기 위한 수직부분을 포함할 수 있으며, 상기 샤워헤드의 가장자리 하부에는, 상기 클램프 부재의 수평부분과 맞물리도록 홈이 형성될 수도 있다.
한편, 상기 클램프 부재와 상기 백 플레이트 사이에 개재되며, 일측은 상기 백 플레이트의 하면과 접촉하고, 타측은 상기 샤워헤드의 상면과 접촉하는 열저항 부재를 더 포함할 수 있다. 이 때, 상기 열저항 부재는 금속박판일 수 있다.
상기 샤워헤드의 가장자리에는 타원형 장공홀이 형성될 수 있으며, 제4 결합부재가 상기 클램프 부재의 수평부분을 관통하여 상기 장공홀에 삽입될 수 있다.
여기서, 상기 샤워헤드는 사각형의 판재 형상인 경우, 상기 클램프 부재, 상기 타원형 장공홀 및 상기 제4 결합부재는 상기 샤워헤드의 각 측면마다 마련될 수 있다. 또한, 상기 장공홀 및 상기 제4 결합부재는, 상기 샤워헤드의 각 측면마다 각각 한 쌍씩 마련될 수도 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 샤워헤드의 열팽창 왜곡 현상을 최소화 시켜, 양질의 균일한 대면적 박막을 얻을 수 있다.
도 1은 종래기술에 따른 PECVD 장치를 나타내는 단면도.
도 2는 종래기술에 따른 샤워헤드의 휨 현상을 나타내는 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 화학기상증착 장치를 나타내는 단면도.
도 4는 도 3의 'A' 부분을 확대하여 나타내는 도면.
도 5는 도 3의 'B' 부분을 확대하여 나타내는 도면.
도 6은 장공홀이 형성된 샤워헤드를 나타내는 평면도.
도 7은 종래기술에 따른 PECVD 장치에서 가스 도입부를 통해 진공용기 내로 유입된 공정가스가 확산되는 모습을 나타내는 도면.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 가스 확산부재를 나타내는 사시도.
도 9는 도 8의 가스 확산부재가 적용된 PECVD 장치에서 가스 도입부를 통해 진공용기 내로 유입된 공정가스가 확산되는 모습을 나타내는 도면.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 가스 확산부재를 나타내는 사시도.
도 11은 도 10의 가스 확산부재가 적용된 PECVD 장치에서 가스 도입부를 통해 진공용기 내로 유입된 공정가스가 확산되는 모습을 나타내는 도면.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하, 본 발명에 따른 화학기상증착 장치의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 PECVD 장치를 나타내는 단면도이고, 도 4는 도 3의 'A' 부분을 확대하여 나타내는 도면이며, 도 5는 도 3의 'B' 부분을 확대하여 나타내는 도면이다. 도 3 내지 도 5를 참조하면, 공정챔버(100), 반응공간(150), 백 플레이트(200), 가스 도입부(210), 제1 결합부재(250), 가스확산부재(300), 샤워헤드(400), 분사홀(410), 제2 결합부재(450), 장공홀(460), 서셉터(500), 클램프 부재(600), 제3 결합부재(650), 제4 결합부재(670), 열저항 부재(700), 기판(800) 등이 도시되어 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 CVD 장치는, 반응공간(150)을 구획하는 공정챔버(100); 상기 반응공간(150)의 상측에 위치하며, 중앙에 가스 도입부(210)가 구비되는 백 플레이트(200, back plate); 상기 가스 도입부(210)의 하측에 이격되어 배치되며, 상기 가스 도입부(210)를 통해 공급되는 공정가스를 확산시키는 가스확산부재(300); 상기 백 플레이트(200) 및 상기 가스확산부재(300)의 하측에 이격되어 배치되며, 복수 개의 분사홀(410)이 천공된 샤워헤드(400); 상기 샤워헤드(400)의 하측에 이격되어 배치되며, 기판(800)을 지지하는 서셉터(500, susceptor)를 포함한다.
이 때, 상기 가스확산부재(300)는 제1 결합부재(250)에 의해 상기 백 플레이트(200)에 결합되고, 상기 샤워헤드(400)의 중앙부는 제2 결합부재(450)에 의해 상기 가스확산부재(300)에 결합된다. 즉, 가스확산부재(300)를 매개로 하여 샤워헤드(400)의 중앙부가 백 플레이트(200)에 체결되는 것이다. 이러한 본 실시예에 따르면, 열팽창에 의해 샤워헤드(400)의 중앙부가 하부로 처지는 문제를 해결할 수 있게 된다.
보다 구체적으로, 도 4에 도시된 바와 같이, 가스확산부재(300)는 자신의 가장자리를 관통하는 나사와 같은 제1 결합부재(250)에 의해 백 플레이트(200)로부터 소정 거리만큼 이격된 상태에서 백 플레이트(200)에 체결된다. 또한, 가스확산부재(300)는 나사와 같은 제2 결합부재(450)에 의해 샤워헤드(400)로부터도 소정 거리만큼 이격된 상태에서 샤워헤드(400)와 체결된다. 이 때, 제2 결합부재(450)는 샤워헤드(400)를 관통하여 단부가 가스확산부재(300)의 중앙에 삽입될 수 있다.
한편, 본 실시예에서는 제1 결합부재(250) 및 제2 결합부재(450)로 나사를 제시하였으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 가스확산부재(300)가 백 플레이트(200)와 샤워헤드(400)로부터 이격된 상태에서 고정될 수만 있다면 어느 부재(예를 들면, 핀)를 이용하더라도 무방하다.
공정챔버(100)는 진공상태의 반응공간(150)을 구획한다. 이러한 공정챔버(100)는 크게 상부커버(120)와 챔버몸체(110)로 구분되며, 그 사이에는 오-링과 같은 실링부재(미도시)가 개재되어 공정챔버(100) 내의 반응공간(150)을 외부로부터 밀폐시킨다.
상기 반응공간(150)의 상측, 보다 구체적으로 상부커버(120)가 구획하는 공간에는 백 플레이트(200)가 위치한다. 백 플레이트(200)는 알루미늄과 같은 금속 재질로 이루어질 수 있으며, 그 중앙에는 공정가스의 주입을 위한 가스 도입부(210)가 구비된다. 가스 도입부(210)는 백 플레이트(200)를 관통하는 홀일 수 있으며, 또는 홀에 삽입되는 관일 수도 있다. 외부의 가스공급원(미도시)으로부터 공급되는 공정가스는 이러한 가스 도입부(210)를 거쳐 백 플레이트(200)의 하부로 주입될 수 있게 된다.
백 플레이트(200)의 하측, 보다 구체적으로 백 플레이트(200)에 구비된 가스 도입부(210)의 하측에는, 도 4에 도시된 바와 같이, 공급된 공정가스를 확산시키기 위한 가스확산부재(300)가 위치한다. 전술한 바와 같이, 가스확산부재(300)는 제1 결합부재(250)에 의해 백 플레이트(200)로부터 이격된 상태에서 고정된다.
이러한 가스확산부재(300)는 공정챔버(100) 내부, 보다 구체적으로는 백 플레이트(200)와 샤워헤드(400) 사이의 공간(220, 이하 버퍼공간이라 칭함)에서 유입된 공정가스가 효과적으로 확산되도록 하기 위한 것으로서, 이를 위해서는 유입되는 공정가스들의 라미나 흐름(Laminar flow)을 만들어 주는 것이 중요하다. 가스확산부재(300)의 구체적인 형상 및 기능 등에 대해서는 후술하도록 한다.
한편, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 백 플레이트(200)의 하측 단부에는 상기 가스 도입부(210) 보다 큰 단면적을 갖는 확장홈(230)이 형성될 수 있으며, 상기 가스확산부재(300)의 일부 또는 전부는 상기 확장홈(230) 내에 위치할 수 있다. 이 때, 확장홈(230)은 가스확산부재(300)와 닮은꼴일 수 있다.
백 플레이트(200) 및 가스확산부재(300)의 하측에는 샤워헤드(400)가 이격되어 배치된다. 샤워헤드(400)는 주입된 공정가스를 확산시켜, 공정가스가 서셉터(500) 상에 위치할 기판(800)의 전면에 고르게 분사되도록 하는 수단으로서, 공정챔버(100)의 단면 형상과 닮은 꼴인 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 공정챔버(100)가 직육면체 형상으로 이루어져 그 단면이 직사각형을 갖는 경우, 샤워헤드(400)는 직사각형의 판재 형상일 수 있는 것이다. 또한, 샤워헤드(400)는 알루미늄 등과 같은 금속 재질의 판재 형상인 몸체에 고른 간격으로 천공되는 분사홀(410)을 포함할 수 있다. 이 때, 분사홀(410)은 아래로 갈수록 단면적이 점차 커지는 콘 형상일 수 있다.
이상과 같은 구조로 인하여, 본 실시예에 따르면, 주입된 공정가스가 백 플레이트(200)의 하부에 형성된 가스확산부재(300)에 의해 1차로 확산된 뒤, 샤워헤드(400)에 의해 2차로 확산되어 서셉터(500) 상면에 안착된 기판(800)의 상면으로 균일하게 분사될 수 있게 된다.
이 때, RF 전원(900)이 백 플레이트(200) 및 샤워헤드(400)와 연결되어, 분사된 공정가스를 여기시키는데 필요한 에너지를 공급함으로써, 샤워헤드(400)를 통해 분사된 공정가스를 플라즈마화시키게 된다. 즉, 백 플레이트(200) 및 샤워헤드(400)는 상부 전극으로서의 기능을 수행할 수 있게 된다.
한편, 공정챔버(100), 보다 구체적으로는 상부커버(120)는 접지로서의 기능을 수행하게 되므로, 도 5에 도시된 바와 같이, 상부 전극으로서 기능하는 백 플레이트(200) 및 샤워헤드(400)과 상부커버(120) 사이에는 절연체들(160, 170, 180)이 개재되어 이들 사이의 전기적인 절연이 유지되게 한다. 이 때, 절연체(160)의 소정의 위치에는 오링(190)이 배치되어 반응공간(도 3의 150)의 진공상태가 유지되도록 할 수 있다.
결정질 실리콘 태양전지 제조공정에서는 반사 방지막으로 질화 실리콘(SiNx) 막을 주로 사용하며, 이러한 반사 방지막을 형성하기 위해서는 공정가스로 SiH4와 NH3를 주입하여 공정을 시행할 수 있다.
한편, 도 5에 도시된 바와 같이 샤워헤드(400)의 가장자리는 샤워헤드(400)의 하면을 지지하기 위한 수평부분(610)과, 샤워헤드(400)의 측면을 지지하기 위한 수직부분(620)으로 구분되는 클램프 부재(600)에 의해 지지될 수 있다. 이 때, 샤워헤드(400)의 가장자리 하부에는, 클램프 부재(600)의 하부, 즉 수평부분(610)과 맞물리도록 홈(430)이 형성될 수 있다.
클램프 부재(600), 예를 들어 클램프 부재의 수직부분(620)은 나사 등과 같은 제3 결합부재(650)를 통해 백 플레이트(200)에 결합될 수 있으며, 클램프 부재의 수평부분(610)은 샤워헤드(400)의 하면과 맞물려 이를 지지할 수 있다.
한편, 샤워헤드(400)의 측면과 클램프 부재(600) 사이에는 소정의 갭(420)이 형성될 수 있다. 이러한 갭(420)은 샤워헤드(400)의 열팽창을 고려한 여유공간이다.
다른 한편, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 샤워헤드(400)의 가장자리에는 타원형 장공홀(460)이 형성되고, 제4 결합부재(670)가 상기 클램프 부재(600)의 수평부분(610)을 관통하여 상기 장공홀(460)에 삽입될 수도 있다. 제4 결합부재(670)는 클램프 부재(600)와 샤워헤드(400)를 결합시켜, 샤워헤드(400)의 가장자리 부분이 지지될 수 있도록 하는 수단이다. 이러한 제4 결합부재(670)로는 나사, 핀 등 다양한 체결수단을 이용할 수 있음은 물론이다.
이 때, 샤워헤드(400)에는 도 6에 도시된 바와 같이 장공홀(460)이 형성된다. 이러한 장공홀(460)을 형성함으로써, 샤워헤드(400)의 열팽창에도 불구하고, 샤워헤드(400)에 제4 결합부재(670)의 존재로 의한 스트레스가 과도하게 부가되는 것을 방지할 수 있게 된다. 장공홀(460) 내의 잔여공간이 샤워헤드(400)의 열팽창을 고려한 여유공간으로서의 기능을 수행할 수 있게 되기 때문이다.
한편, 샤워헤드(400)가 사각형의 판재 형상인 경우, 상기 클램프 부재(600), 상기 타원형 장공홀(460) 및 상기 제4 결합부재(670)는 상기 샤워헤드(400)의 각 측면마다 마련될 수 있다. 즉, 클램프 부재(600)와 제4 결합부재(670)가 샤워헤드(400)의 각 측면마다 모두 형성되어, 샤워헤드(400)의 가장자리를 보다 충실히 지지할 수 있도록 하는 것이다.
이 때, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 장공홀(460) 및 상기 제4 결합부재(670)는, 상기 샤워헤드(400)의 각 측면마다 각각 한 쌍씩 마련되어, 샤워헤드(400)를 보다 더 충실히 지지할 수도 있다.
또한, 상기 클램프 부재(600)와 상기 백 플레이트(200) 사이에는 열저항 부재(700)가 개재될 수도 있다. 이러한 열저항 부재(700)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 일측은 상기 백 플레이트(200)의 하면과 접촉하고, 타측은 상기 샤워헤드(400)의 상면과 접촉하게 되어, 샤워헤드(400)와 백 플레이트(200) 간의 열전달에 있어서 저항으로서의 기능을 수행하게 된다. 이러한 열저항 부재(700)의 저항 역할에 의해 샤워헤드(400)의 열이 백 플레이트(200)로 전달되는 현상을 줄일 수 있게 된다. 이러한 열저항 부재(700)로는 알루미늄과 같은 재질의 금속박판을 이용할 수 있다. 열저항 부재(700)의 두께는 대략 1.5 ~ 3.0 mm 정도일 수 있다.
샤워헤드(400)의 하측에는 기판(800)이 안착되는 서셉터(500)가 이격되어 배치된다. 서셉터(500)의 내부에는 히터(510)가 매설될 수 있으며, 이 경우 박막 증착 과정에서 서셉터(500)의 상부에 안착된 기판(800)을 증착에 적합한 온도(예를 들면 약 400℃)로 상승시킬 수 있다. 또한, 서셉터(500)는 전기적으로 접지되어 하부 전극으로서의 기능을 수행할 수 있게 되며, 기판(800)의 로딩 및 언로딩을 위해 별도의 승강수단(520)에 의해 상하로 승강할 수도 있다.
한편, 증착 반응이 완료된 후에 공정챔버(100) 내부에 잔류하는 공정가스가 외부로 배출될 수 있도록 공정챔버(100)의 하측, 보다 구체적으로 서셉터(500)의 하방에는 배기구(160)가 구비될 수 있다.
이하에서는 전술한 가스확산부재(300)의 형상 및 기능에 대해 보다 구체적으로 설명하도록 한다. 도 7은 종래기술에 따른 PECVD 장치에서 가스 도입부(210)를 통해 공정챔버(100) 내, 보다 구체적으로는 버퍼공간(220) 내로 유입된 공정가스가 확산되는 모습을 나타내는 도면이다. 여기서 화살표는 확산되는 공정가스를 나타낸다.
기판(800) 상에 균일한 박막을 형성하기 위해서는, 기판(800) 전면에 걸쳐 균일한 공정가스가 공급되는 것이 중요하다. 이를 위해서는 가스 도입부(210)를 통해 샤워헤드(400) 상측으로 공급되는 공정가스가 샤워헤드(400) 전면에 걸쳐 고르게 분포될 필요가 있는데, 도 7에 도시된 바와 같이, 종래기술에 따르면, 직육면체 형상을 갖는 공정챔버(100)에 있어서, 중앙부에 위치한 가스 도입부(210)부터 공정챔버(100)의 모서리 부분(102)까지의 거리가 멀기 때문에, 공정챔버(100) 전체에 걸쳐 고른 공정가스의 분포를 갖기에는 한계가 존재하였다.
이러한 점을 고려하여, 본 실시예에서는, 도 8에 도시된 바와 같이, 사각판 형태의 지지 플레이트(310A)와, 지지 플레이트(310A)의 중앙부 상면에 형성되는 원뿔(320A)을 포함하는 가스확산부재(300A)를 제시한다. 이 때, 지지 플레이트(310A)의 각 측면(312A)은 상기 공정챔버(100)의 모서리(102)를 향하여 배치된다.
이러한 가스확산부재(300A)를 이용하게 되면, 도 9에 도시된 바와 같이, 가스 도입부(210)를 통해 공급된 공정가스는 일단 원뿔(320A)의 측면을 따라 사방으로 고르게 하강하게 되고, 이 후 지지 플레이트(310A)의 상면을 따라 이동하게 된다. 이 때, 지지 플레이트(310A)의 상면은 공정가스의 이동에 있어서 저항으로 작용하게 되므로, 중앙으로부터 상대적으로 거리가 짧은(즉, 저항이 작은) 지지 플레이트의 측면(312A) 방향으로는 공정가스의 흐름이 원활하게 되고, 중앙으로부터 상대적으로 거리가 긴(즉, 저항이 큰) 지지 플레이트의 모서리(314A) 방향으로는 공정가스의 흐름이 원활하지 못하게 되는 결과가 나타날 수 있다.
이 때, 도 9에 도시된 바와 같이, 제1 결합부재(250)를 원뿔(320A)의 중심과 지지 플레이트(310A)의 모서리(314A)를 통과하는 직선 경로 상에 위치시키면, 제1 결합부재(250)가 공정가스의 이동에 대해 저항으로서 작용하게 되어, 지지 플레이트의 측면(312A) 방향으로의 공정가스의 흐름을 보다 더 원활하게 할 수도 있다.이와 같이, 가스확산부재의 형상을 변경하여 상대적으로 거리가 긴 공정챔버(100)의 모서리 방향(102)으로 공정가스의 흐름을 원활하게 하면, 공정챔버(100)의 모서리 부분(102)에 대한 공정가스의 보상이 이루어질 수 있게 되고, 그 결과 버퍼공간(220), 나아가 공정챔버(100) 내의 전체적인 공정가스의 균일도를 향상시킬 수 있게 된다.
다른 실시예로, 도 10에 도시된 바와 같이, 원판 형태의 지지 플레이트(310B)와, 지지 플레이트(310B)의 상면에 형성되는 사각뿔(320B)을 포함하는 가스확산부재(300B)를 이용할 수도 있다. 이 때, 사각뿔(320B)의 각 측면(322B)은 공정챔버(100)의 모서리(102)를 향하여 배치된다.
본 실시예에서는 사각뿔(320B)의 모서리 부분(324B)이 공정가스의 흐름을 저해하는 저항으로서의 기능을 할 수 있게 되어, 도 11에 도시된 바와 같이, 상대적으로 공정가스의 흐름이 원활한 사각뿔의 측면(322B)이 공정챔버(100)의 모서리(102)를 향하도록 함으로써, 공정챔버(100)의 모서리 부분(102)에 대한 공정가스의 보상이 이루어질 수 있게 되는 것이다.
이 때, 도 11에 도시된 바와 같이, 제1 결합부재(250)를 사각뿔(320B)의 중심과 사각뿔(320B)의 모서리(324B)를 통과하는 직선 경로 상에 위치시키면, 제1 결합부재(250)가 공정가스의 이동에 대해 저항으로서 작용하게 되어, 공정챔버(100)의 모서리 부분(102) 방향으로의 공정가스의 흐름을 보다 더 원활하게 할 수도 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
전술한 실시예 외의 많은 실시예들이 본 발명의 특허청구범위 내에 존재한다.
100: 공정챔버
110: 챔버몸체
120: 상부커버
150: 반응공간
200: 백 플레이트
210: 가스 도입부
220: 버퍼공간
230 : 확장홈
250: 제1 결합부재
300A, 300B: 가스확산부재
400: 샤워헤드
410: 분사홀
450: 제2 결합부재
460: 장공홀
500: 서셉터
600: 클램프 부재
610: 수평부분
620: 수직부분
650: 제3 결합부재
670: 제4 결합부재
700: 열저항 부재
800: 기판

Claims (17)

  1. 반응 공간을 구획하는 공정챔버;
    상기 반응 공간의 상측에 위치하며, 중앙에 가스 도입부가 구비되는 백 플레이트(back plate);
    상기 가스 도입부의 하측에 이격되어 배치되며, 상기 가스 도입부를 통해 공급되는 공정가스를 확산시키는 가스확산부재; - 이 때, 상기 가스확산부재는 제1 결합부재에 의해 상기 백 플레이트에 결합됨 -
    상기 백 플레이트 및 상기 가스확산부재의 하측에 이격되어 배치되며, 복수 개의 분사홀이 천공된 샤워헤드; - 이 때, 상기 샤워헤드의 중앙부는 제2 결합부재에 의해 상기 가스확산부재에 결합됨 -
    상기 샤워헤드의 하측에 이격되어 배치되며, 기판을 지지하는 서셉터(susceptor)를 포함하는 화학기상증착 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 결합부재와 상기 제2 결합부재 중 적어도 어느 하나는 나사인 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 백 플레이트의 하측 단부에는 상기 가스 도입부 보다 큰 단면적을 갖는 확장홈이 형성되고, 상기 가스확산부재의 적어도 일부는 상기 확장홈 내에 위치하는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 공정챔버는 직육면체 형상이고,
    상기 가스확산부재는 원판 형태의 지지 플레이트; 및 상기 지지 플레이트의 상면에 형성되는 사각뿔을 포함하며,
    상기 사각뿔의 각 측면은 상기 공정챔버의 모서리를 향하여 배치되는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 결합부재는, 상기 사각뿔의 중심과 상기 사각뿔의 모서리를 통과하는 직선 경로 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 공정챔버는 직육면체 형상이고,
    상기 가스확산부재는 사각판 형태의 지지 플레이트; 및 상기 지지 플레이트의 상면에 형성되는 원뿔을 포함하며,
    상기 지지 플레이트의 각 측면은 상기 공정챔버의 모서리를 향하여 배치되는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 결합부재는, 상기 원뿔의 중심과 상기 지지 플레이트의 모서리를 통과하는 직선 경로 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 서셉터의 내부에는 열선이 내장되는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 샤워헤드는 알루미늄 재질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 샤워헤드의 가장자리를 지지하도록 제3 결합부재를 통해 상기 백 플레이트와 결합되며, 상기 샤워헤드의 측면에 소정의 갭을 두고 위치하는 클램프 부재를 더 포함하는 화학기상증착 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 클램프 부재와 상기 백 플레이트 사이에 개재되며, 일측은 상기 백 플레이트의 하면과 접촉하고, 타측은 상기 샤워헤드의 상면과 접촉하는 열저항 부재를 더 포함하는 화학기상증착 장치.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 클램프 부재는, 상기 샤워헤드의 하면을 지지하기 위한 수평부분과, 상기 샤워헤드의 측면을 지지하기 위한 수직부분을 포함하며,
    상기 샤워헤드의 가장자리 하부에는, 상기 클램프 부재의 수평부분과 맞물리도록 홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 열저항 부재는 금속박판인 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 열저항 부재는 알루미늄 재질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 샤워헤드의 가장자리에는 타원형 장공홀이 형성되고,
    상기 클램프 부재의 수평부분을 관통하여 상기 장공홀에 삽입되는 제4 결합부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 샤워헤드는 사각형의 판재 형상이고,
    상기 클램프 부재, 상기 타원형 장공홀 및 상기 제4 결합부재는 상기 샤워헤드의 각 측면마다 마련되는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 장공홀 및 상기 제4 결합부재는, 상기 샤워헤드의 각 측면마다 각각 한 쌍씩 마련되는 것을 특징으로 하는 화학기상증착 장치.
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Families Citing this family (272)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9394608B2 (en) 2009-04-06 2016-07-19 Asm America, Inc. Semiconductor processing reactor and components thereof
US8802201B2 (en) 2009-08-14 2014-08-12 Asm America, Inc. Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species
US9312155B2 (en) 2011-06-06 2016-04-12 Asm Japan K.K. High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules
US10854498B2 (en) 2011-07-15 2020-12-01 Asm Ip Holding B.V. Wafer-supporting device and method for producing same
US20130023129A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Asm America, Inc. Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US9017481B1 (en) 2011-10-28 2015-04-28 Asm America, Inc. Process feed management for semiconductor substrate processing
US10714315B2 (en) 2012-10-12 2020-07-14 Asm Ip Holdings B.V. Semiconductor reaction chamber showerhead
US20160376700A1 (en) 2013-02-01 2016-12-29 Asm Ip Holding B.V. System for treatment of deposition reactor
KR101443792B1 (ko) * 2013-02-20 2014-09-26 국제엘렉트릭코리아 주식회사 건식 기상 식각 장치
CN104178747B (zh) * 2013-05-24 2016-08-24 理想晶延半导体设备(上海)有限公司 分体式气体喷淋组件及金属有机化学气相沉积装置
US9441792B2 (en) * 2013-09-30 2016-09-13 Applied Materials, Inc. Transfer chamber gas purge apparatus, electronic device processing systems, and purge methods
US10683571B2 (en) 2014-02-25 2020-06-16 Asm Ip Holding B.V. Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same
US10167557B2 (en) 2014-03-18 2019-01-01 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same
US11015245B2 (en) 2014-03-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
US10858737B2 (en) 2014-07-28 2020-12-08 Asm Ip Holding B.V. Showerhead assembly and components thereof
US9890456B2 (en) 2014-08-21 2018-02-13 Asm Ip Holding B.V. Method and system for in situ formation of gas-phase compounds
US9657845B2 (en) 2014-10-07 2017-05-23 Asm Ip Holding B.V. Variable conductance gas distribution apparatus and method
US10941490B2 (en) 2014-10-07 2021-03-09 Asm Ip Holding B.V. Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US10276355B2 (en) 2015-03-12 2019-04-30 Asm Ip Holding B.V. Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en) 2015-06-26 2019-10-29 Asm Ip Holding B.V. Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10600673B2 (en) 2015-07-07 2020-03-24 Asm Ip Holding B.V. Magnetic susceptor to baseplate seal
US10211308B2 (en) 2015-10-21 2019-02-19 Asm Ip Holding B.V. NbMC layers
US11139308B2 (en) 2015-12-29 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
KR102558925B1 (ko) * 2016-02-15 2023-07-24 삼성디스플레이 주식회사 플라즈마 증착 장치
US10529554B2 (en) 2016-02-19 2020-01-07 Asm Ip Holding B.V. Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10190213B2 (en) 2016-04-21 2019-01-29 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides
US10865475B2 (en) 2016-04-21 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides and silicides
US10367080B2 (en) 2016-05-02 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a germanium oxynitride film
US10032628B2 (en) 2016-05-02 2018-07-24 Asm Ip Holding B.V. Source/drain performance through conformal solid state doping
US11453943B2 (en) 2016-05-25 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
US10119191B2 (en) 2016-06-08 2018-11-06 Applied Materials, Inc. High flow gas diffuser assemblies, systems, and methods
US10612137B2 (en) 2016-07-08 2020-04-07 Asm Ip Holdings B.V. Organic reactants for atomic layer deposition
US9859151B1 (en) 2016-07-08 2018-01-02 Asm Ip Holding B.V. Selective film deposition method to form air gaps
US10714385B2 (en) 2016-07-19 2020-07-14 Asm Ip Holding B.V. Selective deposition of tungsten
US9812320B1 (en) 2016-07-28 2017-11-07 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
KR102532607B1 (ko) 2016-07-28 2023-05-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 가공 장치 및 그 동작 방법
US9887082B1 (en) 2016-07-28 2018-02-06 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US10643826B2 (en) 2016-10-26 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for thermally calibrating reaction chambers
US11532757B2 (en) 2016-10-27 2022-12-20 Asm Ip Holding B.V. Deposition of charge trapping layers
US10714350B2 (en) 2016-11-01 2020-07-14 ASM IP Holdings, B.V. Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10229833B2 (en) 2016-11-01 2019-03-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10643904B2 (en) 2016-11-01 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures
US10134757B2 (en) 2016-11-07 2018-11-20 Asm Ip Holding B.V. Method of processing a substrate and a device manufactured by using the method
KR102546317B1 (ko) * 2016-11-15 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR20180068582A (ko) 2016-12-14 2018-06-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11581186B2 (en) 2016-12-15 2023-02-14 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus
US11447861B2 (en) 2016-12-15 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
KR20180070971A (ko) 2016-12-19 2018-06-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10269558B2 (en) 2016-12-22 2019-04-23 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US10867788B2 (en) 2016-12-28 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en) 2017-01-10 2022-07-19 Asm Ip Holding B.V. Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
US10655221B2 (en) 2017-02-09 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD
US10468261B2 (en) 2017-02-15 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10529563B2 (en) 2017-03-29 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
USD876504S1 (en) 2017-04-03 2020-02-25 Asm Ip Holding B.V. Exhaust flow control ring for semiconductor deposition apparatus
KR102457289B1 (ko) 2017-04-25 2022-10-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10892156B2 (en) 2017-05-08 2021-01-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10770286B2 (en) 2017-05-08 2020-09-08 Asm Ip Holdings B.V. Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US11306395B2 (en) 2017-06-28 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
US10685834B2 (en) 2017-07-05 2020-06-16 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures
KR20190009245A (ko) 2017-07-18 2019-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US11018002B2 (en) 2017-07-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10541333B2 (en) 2017-07-19 2020-01-21 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11374112B2 (en) 2017-07-19 2022-06-28 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10590535B2 (en) 2017-07-26 2020-03-17 Asm Ip Holdings B.V. Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
US10770336B2 (en) 2017-08-08 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Substrate lift mechanism and reactor including same
US10692741B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Asm Ip Holdings B.V. Radiation shield
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US11139191B2 (en) 2017-08-09 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US10249524B2 (en) 2017-08-09 2019-04-02 Asm Ip Holding B.V. Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly
CN107477351A (zh) * 2017-08-10 2017-12-15 安徽亚格盛电子新材料有限公司 一种用于装填固态金属有机源的专用钢瓶
USD900036S1 (en) 2017-08-24 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Heater electrical connector and adapter
US11830730B2 (en) 2017-08-29 2023-11-28 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
KR102491945B1 (ko) 2017-08-30 2023-01-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11056344B2 (en) 2017-08-30 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method
US11295980B2 (en) 2017-08-30 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
KR102401446B1 (ko) 2017-08-31 2022-05-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR102630301B1 (ko) 2017-09-21 2024-01-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치
US10844484B2 (en) 2017-09-22 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US10658205B2 (en) 2017-09-28 2020-05-19 Asm Ip Holdings B.V. Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en) 2017-10-05 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US10319588B2 (en) 2017-10-10 2019-06-11 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition
US10923344B2 (en) 2017-10-30 2021-02-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures
US10910262B2 (en) 2017-11-16 2021-02-02 Asm Ip Holding B.V. Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure
KR102443047B1 (ko) 2017-11-16 2022-09-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11022879B2 (en) 2017-11-24 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
WO2019103610A1 (en) 2017-11-27 2019-05-31 Asm Ip Holding B.V. Apparatus including a clean mini environment
TWI779134B (zh) 2017-11-27 2022-10-01 荷蘭商Asm智慧財產控股私人有限公司 用於儲存晶圓匣的儲存裝置及批爐總成
US10872771B2 (en) 2018-01-16 2020-12-22 Asm Ip Holding B. V. Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
TW202325889A (zh) 2018-01-19 2023-07-01 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 沈積方法
KR20200108016A (ko) 2018-01-19 2020-09-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 플라즈마 보조 증착에 의해 갭 충진 층을 증착하는 방법
USD903477S1 (en) 2018-01-24 2020-12-01 Asm Ip Holdings B.V. Metal clamp
US11018047B2 (en) 2018-01-25 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Hybrid lift pin
USD880437S1 (en) 2018-02-01 2020-04-07 Asm Ip Holding B.V. Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus
US11081345B2 (en) 2018-02-06 2021-08-03 Asm Ip Holding B.V. Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
KR102657269B1 (ko) 2018-02-14 2024-04-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 주기적 증착 공정에 의해 기판 상에 루테늄-함유 막을 증착하는 방법
US10896820B2 (en) 2018-02-14 2021-01-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10731249B2 (en) 2018-02-15 2020-08-04 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus
US10658181B2 (en) 2018-02-20 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication
KR102636427B1 (ko) 2018-02-20 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 장치
US10975470B2 (en) 2018-02-23 2021-04-13 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en) 2018-03-01 2022-10-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en) 2018-03-09 2023-04-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en) 2018-03-16 2021-09-07 Asm Ip Holding B.V. Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
KR102646467B1 (ko) 2018-03-27 2024-03-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US11230766B2 (en) 2018-03-29 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
US11088002B2 (en) 2018-03-29 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate rack and a substrate processing system and method
KR102501472B1 (ko) 2018-03-30 2023-02-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
TWI811348B (zh) 2018-05-08 2023-08-11 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構
TW202349473A (zh) 2018-05-11 2023-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於基板上形成摻雜金屬碳化物薄膜之方法及相關半導體元件結構
KR102596988B1 (ko) 2018-05-28 2023-10-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11270899B2 (en) 2018-06-04 2022-03-08 Asm Ip Holding B.V. Wafer handling chamber with moisture reduction
US11718913B2 (en) 2018-06-04 2023-08-08 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system and reactor system including same
US11286562B2 (en) 2018-06-08 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase chemical reactor and method of using same
KR102568797B1 (ko) 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
US10797133B2 (en) 2018-06-21 2020-10-06 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
CN112292477A (zh) 2018-06-27 2021-01-29 Asm Ip私人控股有限公司 用于形成含金属的材料的循环沉积方法及包含含金属的材料的膜和结构
TW202409324A (zh) 2018-06-27 2024-03-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於形成含金屬材料之循環沉積製程
US10612136B2 (en) 2018-06-29 2020-04-07 ASM IP Holding, B.V. Temperature-controlled flange and reactor system including same
KR20200002519A (ko) 2018-06-29 2020-01-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10755922B2 (en) 2018-07-03 2020-08-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10388513B1 (en) 2018-07-03 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10767789B2 (en) 2018-07-16 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components
US11053591B2 (en) 2018-08-06 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Multi-port gas injection system and reactor system including same
US10883175B2 (en) 2018-08-09 2021-01-05 Asm Ip Holding B.V. Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein
US10829852B2 (en) 2018-08-16 2020-11-10 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution device for a wafer processing apparatus
US11430674B2 (en) 2018-08-22 2022-08-30 Asm Ip Holding B.V. Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US11024523B2 (en) 2018-09-11 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR20200030162A (ko) 2018-09-11 2020-03-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법
US11049751B2 (en) 2018-09-14 2021-06-29 Asm Ip Holding B.V. Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith
CN110970344A (zh) 2018-10-01 2020-04-07 Asm Ip控股有限公司 衬底保持设备、包含所述设备的***及其使用方法
US11232963B2 (en) 2018-10-03 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko) 2018-10-08 2023-10-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
US10847365B2 (en) 2018-10-11 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD
US10811256B2 (en) 2018-10-16 2020-10-20 Asm Ip Holding B.V. Method for etching a carbon-containing feature
KR102546322B1 (ko) 2018-10-19 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102605121B1 (ko) 2018-10-19 2023-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en) 2018-10-24 2022-04-12 Asm Ip Holding B.V. Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US11087997B2 (en) 2018-10-31 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
KR20200051105A (ko) 2018-11-02 2020-05-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en) 2018-11-06 2023-02-07 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US11031242B2 (en) 2018-11-07 2021-06-08 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a boron doped silicon germanium film
US10847366B2 (en) 2018-11-16 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US10818758B2 (en) 2018-11-16 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US10559458B1 (en) 2018-11-26 2020-02-11 Asm Ip Holding B.V. Method of forming oxynitride film
US10883174B2 (en) * 2018-11-27 2021-01-05 Applied Materials, Inc. Gas diffuser mounting plate for reduced particle generation
US11217444B2 (en) 2018-11-30 2022-01-04 Asm Ip Holding B.V. Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko) 2018-12-04 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en) 2018-12-13 2021-10-26 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
TW202037745A (zh) 2018-12-14 2020-10-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成裝置結構之方法、其所形成之結構及施行其之系統
TWI819180B (zh) 2019-01-17 2023-10-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR20200091543A (ko) 2019-01-22 2020-07-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
CN111524788B (zh) 2019-02-01 2023-11-24 Asm Ip私人控股有限公司 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
JP2020136678A (ja) 2019-02-20 2020-08-31 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材表面内に形成された凹部を充填するための方法および装置
KR102627584B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 내에 형성된 오목부를 충진하기 위한 주기적 증착 방법 및 장치
KR20200102357A (ko) 2019-02-20 2020-08-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 3-d nand 응용의 플러그 충진체 증착용 장치 및 방법
KR102626263B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
JP2020133004A (ja) 2019-02-22 2020-08-31 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材を処理するための基材処理装置および方法
KR20200108248A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108243A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108242A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
SG11202108196QA (en) * 2019-03-08 2021-09-29 Applied Materials Inc Porous showerhead for a processing chamber
KR20200116033A (ko) 2019-03-28 2020-10-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도어 개방기 및 이를 구비한 기판 처리 장치
KR20200116855A (ko) 2019-04-01 2020-10-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자를 제조하는 방법
KR20200123380A (ko) 2019-04-19 2020-10-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 층 형성 방법 및 장치
KR20200125453A (ko) 2019-04-24 2020-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20200130121A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
KR20200130118A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법
KR20200130652A (ko) 2019-05-10 2020-11-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP2020188254A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
JP2020188255A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD975665S1 (en) 2019-05-17 2023-01-17 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD947913S1 (en) 2019-05-17 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD935572S1 (en) 2019-05-24 2021-11-09 Asm Ip Holding B.V. Gas channel plate
USD922229S1 (en) 2019-06-05 2021-06-15 Asm Ip Holding B.V. Device for controlling a temperature of a gas supply unit
KR20200141003A (ko) 2019-06-06 2020-12-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 가스 감지기를 포함하는 기상 반응기 시스템
KR20200143254A (ko) 2019-06-11 2020-12-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en) 2019-06-14 2022-03-01 Asm Ip Holding B.V. Shower plate
USD931978S1 (en) 2019-06-27 2021-09-28 Asm Ip Holding B.V. Showerhead vacuum transport
KR20210005515A (ko) 2019-07-03 2021-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP7499079B2 (ja) 2019-07-09 2024-06-13 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646A (zh) 2019-07-10 2021-01-12 Asm Ip私人控股有限公司 基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR20210010307A (ko) 2019-07-16 2021-01-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210010820A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
KR20210010816A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법
US11643724B2 (en) 2019-07-18 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures using a neutral beam
JP2021019198A (ja) 2019-07-19 2021-02-15 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー トポロジー制御されたアモルファスカーボンポリマー膜の形成方法
TW202113936A (zh) 2019-07-29 2021-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法
CN112309899A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112309900A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
US11227782B2 (en) 2019-07-31 2022-01-18 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587815B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
KR20210018759A (ko) 2019-08-05 2021-02-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 화학물질 공급원 용기를 위한 액체 레벨 센서
USD965524S1 (en) 2019-08-19 2022-10-04 Asm Ip Holding B.V. Susceptor support
USD965044S1 (en) 2019-08-19 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
JP2021031769A (ja) 2019-08-21 2021-03-01 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
USD940837S1 (en) 2019-08-22 2022-01-11 Asm Ip Holding B.V. Electrode
USD949319S1 (en) 2019-08-22 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Exhaust duct
KR20210024423A (ko) 2019-08-22 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
USD930782S1 (en) 2019-08-22 2021-09-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor
USD979506S1 (en) 2019-08-22 2023-02-28 Asm Ip Holding B.V. Insulator
KR20210024420A (ko) 2019-08-23 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
US11286558B2 (en) 2019-08-23 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR20210029090A (ko) 2019-09-04 2021-03-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR20210029663A (ko) 2019-09-05 2021-03-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11562901B2 (en) 2019-09-25 2023-01-24 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing method
CN112593212B (zh) 2019-10-02 2023-12-22 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
CN112635282A (zh) 2019-10-08 2021-04-09 Asm Ip私人控股有限公司 具有连接板的基板处理装置、基板处理方法
KR20210042810A (ko) 2019-10-08 2021-04-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20210043460A (ko) 2019-10-10 2021-04-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토레지스트 하부층을 형성하기 위한 방법 및 이를 포함한 구조체
US12009241B2 (en) 2019-10-14 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette
TWI834919B (zh) 2019-10-16 2024-03-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法
US11637014B2 (en) 2019-10-17 2023-04-25 Asm Ip Holding B.V. Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR20210047808A (ko) 2019-10-21 2021-04-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
KR20210050453A (ko) 2019-10-25 2021-05-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
US11646205B2 (en) 2019-10-29 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR20210054983A (ko) 2019-11-05 2021-05-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en) 2019-11-15 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR20210062561A (ko) 2019-11-20 2021-05-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
KR20210065848A (ko) 2019-11-26 2021-06-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 제1 유전체 표면과 제2 금속성 표면을 포함한 기판 상에 타겟 막을 선택적으로 형성하기 위한 방법
CN112951697A (zh) 2019-11-26 2021-06-11 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885692A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885693A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
JP2021090042A (ja) 2019-12-02 2021-06-10 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko) 2019-12-04 2021-06-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
TW202125596A (zh) 2019-12-17 2021-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成氮化釩層之方法以及包括該氮化釩層之結構
KR20210080214A (ko) 2019-12-19 2021-06-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
TW202140135A (zh) 2020-01-06 2021-11-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氣體供應總成以及閥板總成
US11993847B2 (en) 2020-01-08 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Injector
TW202129068A (zh) 2020-01-20 2021-08-01 荷蘭商Asm Ip控股公司 形成薄膜之方法及修飾薄膜表面之方法
TW202130846A (zh) 2020-02-03 2021-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成包括釩或銦層的結構之方法
KR20210100010A (ko) 2020-02-04 2021-08-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 대형 물품의 투과율 측정을 위한 방법 및 장치
US11776846B2 (en) 2020-02-07 2023-10-03 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
US11781243B2 (en) 2020-02-17 2023-10-10 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon
TW202203344A (zh) 2020-02-28 2022-01-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 專用於零件清潔的系統
KR20210116240A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
KR20210116249A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 록아웃 태그아웃 어셈블리 및 시스템 그리고 이의 사용 방법
CN113394086A (zh) 2020-03-12 2021-09-14 Asm Ip私人控股有限公司 用于制造具有目标拓扑轮廓的层结构的方法
KR20210124042A (ko) 2020-04-02 2021-10-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법
TW202146689A (zh) 2020-04-03 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法
TW202145344A (zh) 2020-04-08 2021-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
US11821078B2 (en) 2020-04-15 2023-11-21 Asm Ip Holding B.V. Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
US11996289B2 (en) 2020-04-16 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods
US11898243B2 (en) 2020-04-24 2024-02-13 Asm Ip Holding B.V. Method of forming vanadium nitride-containing layer
KR20210132605A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리
KR20210132600A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
KR20210134226A (ko) 2020-04-29 2021-11-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko) 2020-05-01 2021-11-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
KR20210141379A (ko) 2020-05-13 2021-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
TW202147383A (zh) 2020-05-19 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備
KR20210145078A (ko) 2020-05-21 2021-12-01 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
TW202200837A (zh) 2020-05-22 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基材上形成薄膜之反應系統
TW202201602A (zh) 2020-05-29 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202218133A (zh) 2020-06-24 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含矽層之方法
TW202217953A (zh) 2020-06-30 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
KR20220010438A (ko) 2020-07-17 2022-01-25 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토리소그래피에 사용하기 위한 구조체 및 방법
TW202204662A (zh) 2020-07-20 2022-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於沉積鉬層之方法及系統
TW202212623A (zh) 2020-08-26 2022-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成金屬氧化矽層及金屬氮氧化矽層的方法、半導體結構、及系統
USD990534S1 (en) 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
USD1012873S1 (en) 2020-09-24 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Electrode for semiconductor processing apparatus
US12009224B2 (en) 2020-09-29 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and method for etching metal nitrides
TW202229613A (zh) 2020-10-14 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 於階梯式結構上沉積材料的方法
KR20220053482A (ko) 2020-10-22 2022-04-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리
TW202223136A (zh) 2020-10-28 2022-06-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202235675A (zh) 2020-11-30 2022-09-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 注入器、及基板處理設備
US11946137B2 (en) 2020-12-16 2024-04-02 Asm Ip Holding B.V. Runout and wobble measurement fixtures
TW202231903A (zh) 2020-12-22 2022-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成
USD981973S1 (en) 2021-05-11 2023-03-28 Asm Ip Holding B.V. Reactor wall for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor for substrate processing apparatus
USD980813S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en) 2021-09-07 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100653442B1 (ko) 2005-11-28 2006-12-04 주식회사 유진테크 샤워헤드 지지장치
KR20060129341A (ko) * 2004-01-16 2006-12-15 동경 엘렉트론 주식회사 처리장치
KR100866912B1 (ko) * 2007-05-31 2008-11-04 주식회사 마이크로텍 화학기상증착장비
KR20100004640A (ko) * 2008-07-04 2010-01-13 주식회사 테스 반도체 제조용 샤워헤드 및 이 샤워헤드를 구비한 반도체제조장치

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5882411A (en) * 1996-10-21 1999-03-16 Applied Materials, Inc. Faceplate thermal choke in a CVD plasma reactor
US6793733B2 (en) * 2002-01-25 2004-09-21 Applied Materials Inc. Gas distribution showerhead
KR100688838B1 (ko) * 2005-05-13 2007-03-02 삼성에스디아이 주식회사 촉매 화학기상증착장치 및 촉매 화학기상증착방법
US9714465B2 (en) * 2008-12-01 2017-07-25 Applied Materials, Inc. Gas distribution blocker apparatus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060129341A (ko) * 2004-01-16 2006-12-15 동경 엘렉트론 주식회사 처리장치
KR100653442B1 (ko) 2005-11-28 2006-12-04 주식회사 유진테크 샤워헤드 지지장치
KR100866912B1 (ko) * 2007-05-31 2008-11-04 주식회사 마이크로텍 화학기상증착장비
KR20100004640A (ko) * 2008-07-04 2010-01-13 주식회사 테스 반도체 제조용 샤워헤드 및 이 샤워헤드를 구비한 반도체제조장치

Also Published As

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CN102373440B (zh) 2014-07-16
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