KR100784907B1 - Dll 회로 및 그 제어 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (17)
- CKE 신호로부터 버퍼 인에이블 신호를 생성하는 입력 제어 수단;DLL 전원의 기준 레벨 초과 여부를 감지하여 상기 버퍼 인에이블 신호로부터 버퍼 제어 신호를 생성하는 버퍼 제어 수단; 및상기 버퍼 제어 신호를 입력 받아 상기 버퍼 제어 신호가 인에이블 되면 외부 클럭을 버퍼링하여 내부 클럭을 생성하는 클럭 버퍼;를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 1 항에 있어서,상기 버퍼 인에이블 신호는 파워 다운 모드 진입시 디스에이블 되고 파워 다운 모드 탈출시 인에이블 되는 신호인 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 1 항에 있어서,상기 DLL 전원의 기준 레벨은 파워 다운 탈출시 각 지연 소자들이 기 고정되었던 지연값을 복원하기 위한 레벨로 설정되는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 버퍼 제어 수단은,외부 공급전원의 전압을 분배하여 분배 전압을 생성하는 전압 분배부;상기 분배 전압과 상기 DLL 전원의 전위 레벨을 비교하는 비교부; 및상기 비교부의 비교 결과에 따라 상기 버퍼 인에이블 신호의 상기 버퍼 제어 신호로서의 출력을 제어하는 스위칭부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 4 항에 있어서,상기 전압 분배부는 저항비에 따라 상기 외부 공급전원의 전위를 분배하기 위한 제 1 및 제 2 저항을 포함하며, 이 때 생성되는 상기 분배 전압이 상기 DLL 전원의 기준 레벨로서 활용되는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 4 항에 있어서,상기 비교부는 제어 신호에 의해 동작하며 상기 분배 전압과 상기 DLL 전원의 전위 레벨을 비교하기 위해 차동 증폭기를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 4 항에 있어서,상기 스위칭부는 상기 비교부의 출력 신호의 제어에 따라 상기 버퍼 인에이블 신호를 통과시키는 패스게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- CKE 신호로부터 버퍼 인에이블 신호를 생성하는 입력 제어 수단;상기 버퍼 인에이블 신호를 입력 받고 DLL 전원의 기준 레벨 초과 여부에 따라 상기 버퍼 인에이블 신호의 출력 여부를 제어하는 버퍼 제어 수단; 및상기 버퍼 인에이블 신호를 입력 받아 상기 버퍼 인에이블 신호가 인에이블 되면 외부 클럭을 버퍼링하여 내부 클럭을 생성하는 클럭 버퍼;를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 8 항에 있어서,상기 버퍼 인에이블 신호는 파워 다운 모드 진입시 디스에이블 되고 파워 다운 모드 탈출시 인에이블 되는 신호인 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 8 항에 있어서,상기 DLL 전원의 기준 레벨은 파워 다운 탈출시 각 지연 소자들이 기 고정되었던 지연값을 복원하기 위한 레벨로 설정되는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,상기 버퍼 제어 수단은,외부 공급전원의 전압을 분배하여 분배 전압을 생성하는 전압 분배부;상기 분배 전압과 상기 DLL 전원의 전위 레벨을 비교하는 비교부; 및상기 비교부의 비교 결과에 따라 상기 버퍼 인에이블 신호의 출력을 제어하는 스위칭부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 11 항에 있어서,상기 전압 분배부는 저항비에 따라 상기 외부 공급전원의 전위를 분배하기 위한 제 1 및 제 2 저항을 포함하며, 이 때 생성되는 상기 분배 전압이 상기 DLL 전원의 기준 레벨로서 활용되는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 11 항에 있어서,상기 비교부는 제어 신호에 의해 동작하며 상기 분배 전압과 상기 DLL 전원의 전위 레벨을 비교하기 위해 차동 증폭기를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- 제 11 항에 있어서,상기 스위칭부는 상기 비교부의 출력 신호의 제어에 따라 상기 버퍼 인에이블 신호를 통과시키는 패스게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로.
- a) CKE 신호로부터 버퍼 인에이블 신호를 생성하는 단계;b) 외부 공급전원을 분배하여 분배 전압을 생성하는 단계;c) 상기 버퍼 인에이블 신호를 입력 받고 DLL 전원과 상기 분배 전압의 전위 레벨을 비교하여 그 비교 결과에 따라 상기 버퍼 인에이블 신호의 출력을 제어하는 단계; 및d) 상기 버퍼 인에이블 신호를 입력 받아 상기 버퍼 인에이블 신호가 인에이블 되면 외부 클럭을 버퍼링하여 내부 클럭을 생성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL 회로의 제어 방법.
- 제 15 항에 있어서,상기 버퍼 인에이블 신호는 파워 다운 모드 진입시 디스에이블 되고 파워 다운 모드 탈출시 인에이블 되는 신호인 것을 특징으로 하는 DLL 회로의 제어 방법.
- 제 15 항에 있어서,상기 분배 전압의 전위 레벨은 파워 다운 탈출시 각 지연 소자들이 기 고정되었던 지연값을 복원하기 위한 상기 DLL 전원의 기준 레벨로서 설정되는 것을 특징으로 하는 DLL 회로의 제어 방법.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101062741B1 (ko) | 2009-01-06 | 2011-09-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로 및 그 제어 방법 |
KR101092999B1 (ko) * | 2010-07-30 | 2011-12-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법 |
KR101156028B1 (ko) | 2009-10-30 | 2012-06-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 그 구동 방법 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100896182B1 (ko) * | 2007-02-22 | 2009-05-12 | 삼성전자주식회사 | 지연 동기 회로의 파워 다운 모드를 제어하는 장치 및 그제어 방법 |
KR100857855B1 (ko) * | 2007-02-28 | 2008-09-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법 |
KR100857447B1 (ko) * | 2007-05-11 | 2008-09-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로 |
KR100915817B1 (ko) * | 2007-10-09 | 2009-09-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로 |
KR100881401B1 (ko) * | 2007-11-02 | 2009-02-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭 동기화 회로 및 클럭 동기화 방법 |
US20090128213A1 (en) * | 2007-11-19 | 2009-05-21 | Broadcom Corporation | Integrated circuit clock structure |
KR100940849B1 (ko) * | 2008-08-08 | 2010-02-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로 및 그 제어 방법 |
KR101050406B1 (ko) * | 2008-09-22 | 2011-07-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀티 보정 회로 및 이를 포함하는 클럭 생성 회로 |
US8603323B2 (en) * | 2010-09-20 | 2013-12-10 | Lifescan, Inc. | Apparatus and process for improved measurements of a monitoring device |
KR101115475B1 (ko) | 2011-03-10 | 2012-02-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀티 보정 회로 및 이를 포함하는 클럭 생성 회로 |
TWI456906B (zh) * | 2012-03-27 | 2014-10-11 | Novatek Microelectronics Corp | 頻率合成器 |
US9729131B2 (en) * | 2015-09-25 | 2017-08-08 | Micron Technology, Inc. | System and method for duty cycle correction |
CN107437937B (zh) * | 2016-05-25 | 2020-08-21 | 创意电子股份有限公司 | 工作周期产生装置与工作周期产生方法 |
US10110240B1 (en) * | 2017-10-17 | 2018-10-23 | Micron Technology, Inc. | DLL circuit having variable clock divider |
KR102549549B1 (ko) * | 2018-03-12 | 2023-07-03 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 듀티 싸이클 보정 회로 |
TWI719928B (zh) | 2020-08-27 | 2021-02-21 | 華邦電子股份有限公司 | 延遲鎖定迴路的控制電路及其控制方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020055910A (ko) * | 2000-12-29 | 2002-07-10 | 윤종용 | 반도체 메모리소자의 지연동기회로 |
KR20040095965A (ko) * | 2003-04-29 | 2004-11-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4144913B2 (ja) * | 1997-01-20 | 2008-09-03 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
US6337589B1 (en) * | 1997-09-11 | 2002-01-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Phase-lock loop with independent phase and frequency adjustments |
US6433607B2 (en) * | 1998-01-21 | 2002-08-13 | Fujitsu Limited | Input circuit and semiconductor integrated circuit having the input circuit |
JP3769940B2 (ja) * | 1998-08-06 | 2006-04-26 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
JP3807593B2 (ja) * | 2000-07-24 | 2006-08-09 | 株式会社ルネサステクノロジ | クロック生成回路および制御方法並びに半導体記憶装置 |
US6438060B1 (en) | 2001-02-12 | 2002-08-20 | Micron Technology, Inc. | Method of reducing standby current during power down mode |
US6650594B1 (en) | 2002-07-12 | 2003-11-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Device and method for selecting power down exit |
JP2004046686A (ja) * | 2002-07-15 | 2004-02-12 | Renesas Technology Corp | クロック発生回路 |
KR100510490B1 (ko) * | 2002-08-29 | 2005-08-26 | 삼성전자주식회사 | 부분적으로 제어되는 지연 동기 루프를 구비하는 반도체메모리 장치 |
KR100493054B1 (ko) | 2003-03-04 | 2005-06-02 | 삼성전자주식회사 | 지연동기 루프를 구비하는 반도체 장치 및 지연동기 루프제어방법 |
KR100564566B1 (ko) * | 2003-04-14 | 2006-03-29 | 삼성전자주식회사 | 외부 클럭 신호가 직접 입력되는 지연 동기 루프 |
KR100528788B1 (ko) | 2003-06-27 | 2005-11-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 및 그 구동 방법 |
KR100616194B1 (ko) | 2004-04-20 | 2006-08-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 회로용 내부 전원 전압 발생기 |
KR100613059B1 (ko) * | 2004-04-20 | 2006-08-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 동기 루프 |
KR100670700B1 (ko) | 2004-10-30 | 2007-01-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프의 전원공급회로 |
KR100808052B1 (ko) * | 2005-09-28 | 2008-03-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
JP5153094B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2013-02-27 | エスケーハイニックス株式会社 | Dll装置及びdllクロック生成方法 |
JP4764270B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2011-08-31 | 株式会社ハイニックスセミコンダクター | ロックフェイル防止のための遅延固定ループクロックの生成方法及びその装置 |
JP4775141B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2011-09-21 | 株式会社ハイニックスセミコンダクター | 遅延固定ループ回路 |
-
2006
- 2006-06-30 KR KR1020060060484A patent/KR100784907B1/ko active IP Right Grant
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- 2008-02-28 US US12/071,985 patent/US7528639B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020055910A (ko) * | 2000-12-29 | 2002-07-10 | 윤종용 | 반도체 메모리소자의 지연동기회로 |
KR20040095965A (ko) * | 2003-04-29 | 2004-11-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101062741B1 (ko) | 2009-01-06 | 2011-09-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로 및 그 제어 방법 |
KR101156028B1 (ko) | 2009-10-30 | 2012-06-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 그 구동 방법 |
US8653866B2 (en) | 2009-10-30 | 2014-02-18 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor device and operating method thereof |
KR101092999B1 (ko) * | 2010-07-30 | 2011-12-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법 |
US8499175B2 (en) | 2010-07-30 | 2013-07-30 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor device and method for operating the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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