KR100711505B1 - 도전막 형성을 위한 은 페이스트 - Google Patents
도전막 형성을 위한 은 페이스트 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100711505B1 KR100711505B1 KR1020070009179A KR20070009179A KR100711505B1 KR 100711505 B1 KR100711505 B1 KR 100711505B1 KR 1020070009179 A KR1020070009179 A KR 1020070009179A KR 20070009179 A KR20070009179 A KR 20070009179A KR 100711505 B1 KR100711505 B1 KR 100711505B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- silver
- paste
- conductive film
- carbon atoms
- weight
- Prior art date
Links
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 67
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 36
- 239000004332 silver Substances 0.000 title claims abstract description 36
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 17
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims abstract description 15
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims abstract description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 8
- -1 metallization Substances 0.000 claims abstract description 7
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 claims abstract description 7
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims abstract description 5
- 150000004671 saturated fatty acids Chemical class 0.000 claims abstract description 5
- 150000004670 unsaturated fatty acids Chemical class 0.000 claims abstract description 5
- 235000021122 unsaturated fatty acids Nutrition 0.000 claims abstract description 5
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 claims abstract description 4
- 239000012454 non-polar solvent Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000002798 polar solvent Substances 0.000 claims abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 9
- 235000014113 dietary fatty acids Nutrition 0.000 claims description 7
- 229930195729 fatty acid Natural products 0.000 claims description 7
- 239000000194 fatty acid Substances 0.000 claims description 7
- 150000004665 fatty acids Chemical class 0.000 claims description 7
- UDFWUWKGBBKQAF-UHFFFAOYSA-N oxalic acid;silver Chemical compound [Ag].OC(=O)C(O)=O UDFWUWKGBBKQAF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N Ethylamine Chemical compound CCN QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 6
- 229940071575 silver citrate Drugs 0.000 claims description 6
- QUTYHQJYVDNJJA-UHFFFAOYSA-K trisilver;2-hydroxypropane-1,2,3-tricarboxylate Chemical group [Ag+].[Ag+].[Ag+].[O-]C(=O)CC(O)(CC([O-])=O)C([O-])=O QUTYHQJYVDNJJA-UHFFFAOYSA-K 0.000 claims description 6
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 claims description 5
- VXQBJTKSVGFQOL-UHFFFAOYSA-N 2-(2-butoxyethoxy)ethyl acetate Chemical group CCCCOCCOCCOC(C)=O VXQBJTKSVGFQOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- XXJWXESWEXIICW-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol monoethyl ether Chemical compound CCOCCOCCO XXJWXESWEXIICW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- MLFHJEHSLIIPHL-UHFFFAOYSA-N isoamyl acetate Chemical compound CC(C)CCOC(C)=O MLFHJEHSLIIPHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 claims description 4
- BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-N Methylamine Chemical compound NC BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000001412 amines Chemical group 0.000 claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 3
- FTNNQMMAOFBTNJ-UHFFFAOYSA-M silver;formate Chemical compound [Ag+].[O-]C=O FTNNQMMAOFBTNJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 3
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 claims description 3
- DAFHKNAQFPVRKR-UHFFFAOYSA-N (3-hydroxy-2,2,4-trimethylpentyl) 2-methylpropanoate Chemical compound CC(C)C(O)C(C)(C)COC(=O)C(C)C DAFHKNAQFPVRKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- DNIAPMSPPWPWGF-GSVOUGTGSA-N (R)-(-)-Propylene glycol Chemical compound C[C@@H](O)CO DNIAPMSPPWPWGF-GSVOUGTGSA-N 0.000 claims description 2
- WXZOVYBKECUWBQ-ODZAUARKSA-N (z)-but-2-enedioic acid;silver Chemical compound [Ag].OC(=O)\C=C/C(O)=O WXZOVYBKECUWBQ-ODZAUARKSA-N 0.000 claims description 2
- OAYXUHPQHDHDDZ-UHFFFAOYSA-N 2-(2-butoxyethoxy)ethanol Chemical compound CCCCOCCOCCO OAYXUHPQHDHDDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 2-Aminoethan-1-ol Chemical compound NCCO HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000005907 alkyl ester group Chemical group 0.000 claims description 2
- 150000005215 alkyl ethers Chemical class 0.000 claims description 2
- ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N diethanolamine Chemical compound OCCNCCO ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229940117955 isoamyl acetate Drugs 0.000 claims description 2
- JJWLVOIRVHMVIS-UHFFFAOYSA-N isopropylamine Chemical compound CC(C)N JJWLVOIRVHMVIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 17
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 16
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 16
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 13
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000000976 ink Substances 0.000 description 10
- AHXWMWNKZUGJRU-UHFFFAOYSA-N formic acid;silver Chemical compound [Ag].OC=O AHXWMWNKZUGJRU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 description 6
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 4
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 4
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RRXWRHLYVPTSIF-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxypropane-1,2,3-tricarboxylic acid;silver Chemical compound [Ag].OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O RRXWRHLYVPTSIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000004280 Sodium formate Substances 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 238000002508 contact lithography Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 125000000449 nitro group Chemical group [O-][N+](*)=O 0.000 description 2
- 150000003071 polychlorinated biphenyls Chemical class 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N silver(1+) nitrate Chemical compound [Ag+].[O-]N(=O)=O SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HLBBKKJFGFRGMU-UHFFFAOYSA-M sodium formate Chemical compound [Na+].[O-]C=O HLBBKKJFGFRGMU-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 235000019254 sodium formate Nutrition 0.000 description 2
- PPYXHSIUKWPTDW-KVVVOXFISA-N (z)-octadec-9-enoic acid;silver Chemical compound [Ag].CCCCCCCC\C=C/CCCCCCCC(O)=O PPYXHSIUKWPTDW-KVVVOXFISA-N 0.000 description 1
- PQAMFDRRWURCFQ-UHFFFAOYSA-N 2-ethyl-1h-imidazole Chemical compound CCC1=NC=CN1 PQAMFDRRWURCFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NXOWKEPKGIKQAF-UHFFFAOYSA-N 2-methylprop-2-enoic acid;silver Chemical compound [Ag].CC(=C)C(O)=O NXOWKEPKGIKQAF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YPIFGDQKSSMYHQ-UHFFFAOYSA-N 7,7-dimethyloctanoic acid Chemical compound CC(C)(C)CCCCCC(O)=O YPIFGDQKSSMYHQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000002597 Solanum melongena Nutrition 0.000 description 1
- 244000061458 Solanum melongena Species 0.000 description 1
- KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N Succinic acid Natural products OC(=O)CCC(O)=O KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-N Sulfurous acid Chemical group OS(O)=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002490 anilino group Chemical group [H]N(*)C1=C([H])C([H])=C([H])C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- SHLCGTACJPPATG-UHFFFAOYSA-N butanedioic acid;silver Chemical compound [Ag].OC(=O)CCC(O)=O SHLCGTACJPPATG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013522 chelant Substances 0.000 description 1
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- BEFDCLMNVWHSGT-UHFFFAOYSA-N ethenylcyclopentane Chemical compound C=CC1CCCC1 BEFDCLMNVWHSGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001033 ether group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002485 formyl group Chemical class [H]C(*)=O 0.000 description 1
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 1
- 125000000468 ketone group Chemical group 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000000250 methylamino group Chemical group [H]N(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- KHQLKFYEKVWKRW-UHFFFAOYSA-N propanedioic acid;silver Chemical compound [Ag].OC(=O)CC(O)=O KHQLKFYEKVWKRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PVRLVPAHFKKRNI-UHFFFAOYSA-N propanoic acid;silver Chemical compound [Ag].CCC(O)=O PVRLVPAHFKKRNI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 1
- CQLFBEKRDQMJLZ-UHFFFAOYSA-M silver acetate Chemical compound [Ag+].CC([O-])=O CQLFBEKRDQMJLZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229940071536 silver acetate Drugs 0.000 description 1
- 229910001961 silver nitrate Inorganic materials 0.000 description 1
- XNGYKPINNDWGGF-UHFFFAOYSA-L silver oxalate Chemical compound [Ag+].[Ag+].[O-]C(=O)C([O-])=O XNGYKPINNDWGGF-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- NEMJXQHXQWLYDM-JJKGCWMISA-M silver;(2r,3s,4r,5r)-2,3,4,5,6-pentahydroxyhexanoate Chemical compound [Ag+].OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O NEMJXQHXQWLYDM-JJKGCWMISA-M 0.000 description 1
- JBUPLFPUKASYAL-UHFFFAOYSA-N silver;undec-10-enoic acid Chemical compound [Ag].OC(=O)CCCCCCCCC=C JBUPLFPUKASYAL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 235000010199 sorbic acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000004334 sorbic acid Substances 0.000 description 1
- 229940075582 sorbic acid Drugs 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/20—Conductive material dispersed in non-conductive organic material
- H01B1/22—Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
- H05K1/092—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
- H05K1/095—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks for polymer thick films, i.e. having a permanent organic polymeric binder
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/12—Using specific substances
- H05K2203/121—Metallo-organic compounds
Abstract
본 발명은 도전막 형성을 위한 은 페이스트에 관한 것으로 1∼3의 카르복실 기를 가지는 탄소수 0∼12의 직쇄 또는 분지상의 포화 또는 불포화 지방산 은 0.1∼60중량%; 은 분말 1∼80중량%; 바인더 0.1∼15중량%; 및 극성 또는 비극성 용매 잔량으로 이루어지는 도전막 형성용 페이스트를 제공한다.
본 발명의 은 페이스트 조성물을 사용하면 종래의 페이스트에서 형성된 전도성 패턴과 비교하여 상대적으로 낮은 두께 또는 좁은 선 폭에서도 훨씬 낮은 전기저항의 특성을 보이며, 값비싼 나노크기의 은 입자를 사용하지 않고도 아주 낮은 온도에서 열처리가 가능하고 낮은 전기저항의 양호한 미세구조를 갖는 도전막을 얻을 수 있다.
은, 금속화, 페이스트, MOD
Description
도1은 종래의 은 분말+비이클로 된 은 페이스트의 유리기판 상 도전막 SEM사진이고
도2는 본 발명의 은 페이스트 조성물의 유리기판 상 도전막 SEM사진이다.
본 발명은 도전막 형성을 위한 은 페이스트에 관한 것이다. LCD(액정디스플레이)와 PDP(플라스마디스플레이패널)와 같은 평판 디스플레이의 도전선 패턴 형성 및 터치스크린의 전극부, 면발광 백라이트의 PAD부 전극, 플렉서블PCB, RFID의 안테나 등에 도전막이 사용된다.
반도체나 디스플레이에 적용되는 패턴 형성 기술은 크게 박막형성기술에 주로 적용되는 감법(減法; subtractive; 성막을 한 후 리소그라피로 패턴을 현상한 후 에칭하여 제조), 스크린 인쇄방식과 같은 후막형성기술에 주로 적용되는 가법(加法; additive; 스크린 프린팅과 같은 접촉 인쇄 방식에 의한 패턴 형성)과 이들을 병용하는 가감법으로 나눌 수 있다. 그러나 반도체나 디스플레이에 적용되는 도전성 패턴의 형성은 주로 가법으로 접촉 또는 비접촉 인쇄 방식에 의하여 기판의 종류와 사용 목적에 따라 적절한 잉크 또는 페이스트를 일정한 패턴으로 형성하고 후처리하여 기판 상에 고정하는 과정을 거친다. 경우에 따라서, 에칭을 부가하는 가감법이 채용되기도 한다.
베스트(Vest, R.W.)가 MOD물질을 사용하여 잉크의 제조 가능성을 시험한(IEEE Transactions on Components, Hybrids and Mamufacturing Technology, 12(4), 545-549, 1987)이래로 MOD물질을 사용하는 패턴 형성용 잉크에 대해 많은 연구가 이루어졌다.
여기서 MOD(metallo-organic decompositon)물질이란 유기금속 화합물로서 금속 용융온도보다 낮은 온도에서 분해되어 금속화되는 화합물을 말한다.
코비오(Kovio, Inc)의 미국특허 6878184호에 MOD와 환원제(예를 들면 알데히드)를 사용하여 나노파티클 상의 잉크를 형성하는 기술을 개시하고 있다. 반응조건이 까다롭고 고가의 MOD물질을 대량 사용해야 한다. 또한 나노파티클 상의 입자가 형성되기 때문에 충분한 전기전도성을 얻을 수 없다.
상기 MOD 잉크와 나노파티클을 현탁하여 사용하는 잉크는 비교적 낮은 금속화 온도를 달성할 수는 있지만 고가이고 벌크 금속에 비하여 전기전도성이 현저히 떨어지는 문제점이 있다.
벌크 금속이 가지는 높은 전기전도성과 저온금속화가 가능한 MOD의 장점을 조합하여 키드 일행의 국제공개 WO98-37133는 MOD물질과 입자성 금속의 복합 조성물을 스크린 인쇄용 잉크로 사용하는 것을 개시하고 있다. 그러나 상기 특허에서 는 플라스틱 기판에 사용되는 것과 같은 충분한 저온 소성환경을 필요로 하는 인쇄용 잉크를 제시하지는 못하고 있다. 또한, MOD물질과 입자성 금속은 비이클과 상용성이 부족하고 입자 상태이기 때문에 잉크로 제조하기 위해서는 이들과 함께 비이클을 볼밀에 의하여 미세하게 분쇄하고 혼합하여야 하는 별도의 제조 공정이 필요하다. 또한 이러한 잉크의 제조는 현장적응성이 매우 낮아 제조사에서 미리 제조된 대로 사용해야 하는 등의 문제점이 있다.
본 발명의 목적은 전기전도성이 우수한 도전막 형성을 위한 은 페이스트를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명의 목적은 경제성이 높고 현장 적응성이 높은 은 페이스트를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명의 목적은 아주 낮은 저온소성 조건 즉 금속화 조건을 가져 아주 낮은 온도에서 도전막을 형성하는 은 페이스트를 제공하기 위한 것이다.
본 발명에 의하여, 1∼3의 카르복실 기를 가지는 탄소수 0∼12의 직쇄 또는 분지상의 포화 또는 불포화 지방산 은 0.1∼60중량%; 은 분말 1∼80중량%; 바인더 0.1∼15중량%; 및 극성 또는 비극성 용매 잔량으로 이루어지는 도전막 형성용 페이스트가 제공된다. 상기 지방산 은은 치환되지 않거나 아미노기, 니트로기 또는 히드록시기로 치환될 수 있고 상기 반응성 유기용매 아민의 치환기인 탄소수 1∼6의 지방족은 치환되지 않거나 니트로기 또는 히드록시기로 치환될 수 있다. 상기 지방 산 은은 바람직하게는 0.1∼10중량%, 가장 바람직하게는 0.1∼4중량%이다. 상기 지방산 은의 양이 너무 많으면 비용이 많이 들고 전체 페이스트의 용융흐름지수가 낮아서 도포성에 문제가 발생할 수 있고 지방산 은의 양이 너무 작으면 퍼짐성이 증가되어 정밀패턴의 형성에 어려움을 줄 수 있다. 상기 은 분말의 양은 바람직하게는 1∼65중량%이다. 본 발명의 은 페이스트는 아주 낮은 온도인 280℃이하, 예를 들면 80∼ 250℃의 온도에서 경우에 따라서 100∼200℃의 온도에서 도전선 패턴이 형성되어 플라스틱 기판을 사용하거나 낮은 열처리를 요구하는 공정에 사용되기에 적합하다. 본 발명에서 열처리 온도는 유기 은이 분해되어 금속화되는 온도가 된다.
상기 바인더 성분은 우레탄계, 아크릴계와 에폭시 계열 등이 사용될 수 있는 데 바람직하게는 열 경화성으로 1∼13중량% 사용된다. 너무 많이 사용되면 전도성이 불량하게 되고 너무 적게 쓰면 결합력이 떨어진다. 에폭시계와 우레탄계는 일액형 또는 이액형이 사용된다.
상기 용매는 점도 조절용 비이클, 반응성 유기용매와 이들의 혼합물로 이루어지는 군에서 선택된다. 여기서 반응성 유기용매란 단순한 불활성 비이클이 아니고 은 또는 지방산 은과 착제 또는 킬레이트를 형성하는 헤테로 원자 P, S, O와 N을 갖는 용매로서 케톤기, 머캅토기, 카르복실기, 아닐린기, 에테르기 또는 아황산기를 가지는 유기용매이다.
상기 점도 조절용 비이클은 1 내지 3가의 히드록시기를 갖는 탄소수 1 내지 4의 지방족 알코홀, 상기 알코홀과의 탄소수 1 내지 4의 알킬 에테르 또는 상기 알 코홀과의 탄소수 1 내지 4의 알킬 에스테르로서, 예를 들면, 부틸카비톨아세테이트, 부틸카비톨, 에틸카비톨, 에틸카비톨아세테이트, 터피네올, 텍사놀, 멘사놀, 이소아밀 아세테이트, 메탄올, 에탄올과 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택된다. 상기 반응성 유기용매는 탄소수 1∼6의 지방족 또는 히드록시기를 갖는 지방족으로 하나 이상 치환된 아민과 탄소수 1∼16의 직쇄 또는 분지상의 지방족 티올로 이루어지는 군에서 선택된다. 상기 반응성 유기용매는 바람직하게는 메틸아민, 에틸아민, 이소프로필아민, 모노에탄올아민, 디에탄올아민, 트리에탄올아민 또는 탄소수 5 내지 14의 직쇄 상의 포화 지방족 티올이고 가장 바람직하게는 에틸아민이다.
본 발명의 은 페이스트는 은이 용액에 현탁되어 있는 것을 의미하며 다양한 점도를 사용 목적에 따라 선정할 수 있다. 이러한 은 페이스트는 점도를 조절하고 적절한 바인더를 첨가하여 다양한 인쇄방법, 예를 들면, 그라비아, 프렉소, 스크린, 로터리, 디스펜서, 옵셋에 적용되어 질 수 있다. 코팅 가능한 점도는 1~70,000cPs 이다. 실크 스크린의 경우 10,000~35000cPs이고 바람직하게는 10,000~20,000cPs이다.
상기 은 분말의 평균입경은 바람직하게는 마이크로미터 단위로, 예를 들면, 0.1내지 10 마이크로미터의 범위로, 가장 바람직하게는 1 내지 5 마이크로미터 범위이다. 상기 은 분말의 형태는 바람직하게는 판상이다.
상기 포화 또는 불포화 지방산 은은, 바람직하게는 포화되었거나 이중결합을 하나 또는 두개를 가지는 지방산 은이다. 예를 들면, 말레산 은, 말론산 은, 숙신 산 은, 아세트산 은, 말린산 은, 메타크릴산 은, 프로피온 산 은, 소르브산 은, 시트르산 은, 운데실렌산 은, 네오-데칸산 은, 올레산 은, 옥살산 은, 포름산 은 또는 글루콘산 은 또는 이들의 혼합물이고 바람직하게는 시트르산 은, 옥살산 은, 포름산 은 또는 말레산 은 또는 이들의 혼합물이다.
이하 본 발명을 실시예에 의하여 상세히 설명한다. 이러한 실시예는 본 발명을 예시하기 위한 것으로 본 발명의 보호범위를 제한하는 것으로 해석되어서는 아니 된다. 판형 은 파우더는 직경이 두께의 50배이고 평균입경이 3마이크로미터인 판형 은 파우더를 사용한다. 열경화성 바인더로는 이액형 에폭시계열로서 레진 성분으로 금호 P&B화학의 KER3001(상품명)와 경화제로서 알드리치사의 2-에틸이미다졸을 95:5 용량배합비로 사용하였다. 실시예에서 포름산 은과 옥살산 은의 경우를 가준하여 대충 순수 은량이 은총량(60g)의 각각 0.5, 1, 2와 4 중량%가 되도록 각각 0.4g, 0.9g, 1.7g과 3.4g을 첨가하였다.
비교예1
판형 은 파우더(직경이 두께의 50배이고 평균입경이 3마이크로미터) 60g과 노르말 터피네올 14.38g과 부틸카비톨 아세테이트 2.5g와 에탄올 잔량으로 이루어진 100g 페이스트 조성물을 완전히 혼합하여 페이스트 조성물을 만들었다. 상기 페이스트 조성물을 유리기판 위에 코팅하여 130℃, 200℃, 250℃에서 열처리하여 2-프로브 장치로 선저항을 측정하여 표1에 표시하였다. 200℃에서 유리기판 위에 코팅된 은 막은 기존의 페이스트와 비교하기 위하여 절단하여 단면 및 표면을 SEM으로 관찰하고 그 이미지를 도1에 표시하였다.
실시예1
50mmol의 포름산을 50mL의 메탄올에 해리시킨다. 교반되어 지고 있는 이 용액에 50mmol의 NaOH가 해리되어 있는 50mL의 물을 천천히 첨가하여 포름산나트륨을 형성시킨다. 이 용액에 50mmol의 질산은이 해리되어 있는 50mL의 물을 첨가시키면 흰색 침전이 빠르게 형성되는데, 이 때 생성되는 침전물은 용액에 존재하고 있던 포름산나트륨의 Na+와 첨가된 Ag+의 이온화 경향에 의하여 포름산 은이 형성된다. 이 침전물은 물로 충분히 세척한 다음 여과하고, 다시 메탄올로 충분히 세척하여 상온에서 건조하여 포름산 은을 제조한다.
상기 제조된 포름산 은 파우더 0.4g을 평균입자크기 가 3㎛인 판형(직경이 두께의 50배) 은 파우더 59.7g과 노르말 터피네올 14.4g과 부틸카비톨 아세테이트 2.5g, 에폭시 바인더 4g과 에탄올 잔량으로 이루어진 100g 페이스트 조성물에 넣어 완전히 혼합하여 페이스트 조성물을 만들어 유리기판, PET 기판, 또는 폴리이미드 기판 위에 스크린 프린팅 하여 각각 130℃, 200 ℃, 250 ℃ 에서 열처리 하여 2-probe 장치로 선저항을 측정하여 특성화 하였다. 별도로 유리기판 위에 코팅된 은 막은 기존의 페이스트와 비교하기 위하여 절단하여 단면 및 표면을 SEM으로 관찰하였다. 도막의 점도, 열처리된 도막의 접착력과 전기저항은 표1에 정리하였다.
실시예2
실시예 1에서 제조된 포름산 은을 사용하였다. 포름산 은 파우더 0.8g과 판형 은 파우더 59.4g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 같이 실시하였다. 도막의 점도, 열처리된 도막의 접착력과 전기저항은 표1에 정리하였다.
실시예3
실시예 1에서 제조된 포름산 은을 사용하였다. 포름산 은 파우더 1.7g과 판형 은 파우더 58.8g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 같이 실시하였다. 도막의 점도, 열처리된 도막의 접착력과 전기저항은 표1에 정리하였다.
실시예4
실시예 1에서 제조된 포름산 은을 사용하였다. 포름산 은 파우더 3.4g과 판형 은 파우더 57.6g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 같이 실시하였다. 도막의 점도, 열처리된 도막의 접착력과 전기저항은 표1에 정리하였다.
실시예5
포름산 대신에 옥살산을 사용하는 것을 제외하고 실시예1과 동일한 방법으로 옥살산 은을 제조한다.
상기 제조된 옥살산 은 파우더 0.4g과 판형 은 파우더 59.7g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 같이 실시하였다. 도막의 점도, 열처리된 도막의 접착력과 전기저항은 표1에 정리하였다.
실시예6
옥살산 은 파우더 0.8g과 판형 은 파우더 59.4g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예5와 같이 실시하였다.
실시예7
옥살산 은 파우더 1.7g과 판형 은 파우더 58.8g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예5와 같이 실시하였다. 특히 200℃에서 열처리된 유리기판 상 도막의 단면 및 표면의 SEM이미지를 도2에 예시하였다. 도1보다 훨씬 치밀한 구조를 가지고 있음을 보여준다.
실시예8
옥살산 은 파우더 3.4g과 판형 은 파우더 57.6g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예5와 같이 실시하였다.
실시예9
포름산 대신에 시트르산을 사용하는 것을 제외하고 실시예1과 동일한 방법으로 시트르산 은을 제조한다.
상기 제조된 시트르산 은 파우더 0.4g과 판형 은 파우더 59.7g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 같이 실시하였다. 도막의 점도, 열처리된 도막의 접착력과 전기저항은 표2에 정리하였다.
실시예10
시트르산 은 파우더 0.8g과 판형 은 파우더 59.4g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예9와 같이 실시하였다.
실시예11
시트르산 은 파우더 1.7g과 판형 은 파우더 58.8g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예9과 같이 실시하였다.
실시예12
시트르산 은 파우더 3.4g과 판형 은 파우더 57.6g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예9과 같이 실시하였다.
실시예13
포름산 대신에 말린산을 사용하는 것을 제외하고 실시예1과 동일한 방법으로 말린산 은을 제조한다.
상기 제조된 말린산 은 파우더 0.4g과 판형 은 파우더 59.7g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 같이 실시하였다. 도막의 점도, 열처리된 도막의 접착력과 전기저항은 표2에 정리하였다.
실시예14
말린산 은 파우더 0.8g과 판형 은 파우더 59.4g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예13과 같이 실시하였다.
실시예15
말린산 은 파우더 1.7g과 판형 은 파우더 58.8g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예13과 같이 실시하였다.
실시예16
말린산 은 파우더 3.4g과 판형 은 파우더 57.6g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예13과 같이 실시하였다.
표1
표2
본 발명에 의한 은 페이스트 조성물은 기존의 은 페이스트와 비교하여 훨씬 치밀한 미세 구조를 갖고 있어 기존의 페이스트에서 형성된 전도성 패턴과 비교하여 상대적으로 낮은 두께 또는 좁은 선 폭에서도 훨씬 낮은 전기저항의 특성을 보이며, 값비싼 나노크기의 은 입자를 사용하지 않고도 아주 낮은 온도에서 열처리가 가능하다는 장점을 제공한다. 또한 본 발명의 은 페이스트는 유리기판, PET와 같은 플라스틱기판, 특히 플렉스블 PCB의 기판으로 사용되는 폴리이미드 기판에 적용가능하여 차세대 플렉서블 디스플레이, 터치패널, 플렉서블PCB, RFID등에 응용되어 이들의 생산 공정과 비용을 줄일 수 있다.
Claims (8)
1∼3의 카르복실 기를 가지는 탄소수 0∼12의 직쇄 또는 분지상의 포화 또는 불포화 지방산 은 0.1∼60중량%; 은 분말 1∼80중량%; 바인더 0.1∼15중량%; 및 극성 또는 비극성 용매 잔량으로 이루어지는 도전막 형성용 페이스트.
제1항에 있어서, 상기 은 분말의 평균입경이 0.1 내지 10 마이크로미터 범위이고 상기 포화 또는 불포화 지방산 은이 시트르산 은, 옥살산 은, 포름산 은과 말레산 은으로 이루어지는 군에서 선택되는 도전막 형성용 페이스트.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 용매는 점도 조절용 비이클, 반응성 유기용매와 이들의 혼합물로 이루어지는 군에서 선택되는 도전막 형성용 페이스트.
제3항에 있어서, 상기 점도 조절용 비이클은 1 내지 3가의 히드록시기를 갖는 탄소수 1 내지 4의 지방족 알코홀, 상기 알코홀과의 탄소수 1 내지 4의 알킬 에테르 또는 상기 알코홀과의 탄소수 1 내지 4의 알킬 에스테르인 도전막 형성용 페이스트.
제3항에 있어서, 상기 반응성 유기용매는 탄소수 1∼6의 지방족 또는 히드록시기를 갖는 지방족으로 하나 이상 치환된 아민과 탄소수 1∼16의 직쇄 또는 분 지상의 지방족 티올로 이루어지는 군에서 선택되는 도전막 형성용 페이스트.
제3항에 있어서, 상기 반응성 유기용매는 메틸아민, 에틸아민, 이소프로필아민, 모노에탄올아민, 디에탄올아민, 트리에탄올아민과 이들의 혼합물로 이루어지는 군에서 선택되고 상기 점도 조절용 비이클은 부틸카비톨아세테이트, 부틸카비톨, 에틸카비톨, 에틸카비톨아세테이트, 터피네올, 텍사놀, 멘사놀, 이소아밀 아세테이트, 메탄올, 에탄올과 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 도전막 형성용 페이스트.
제6항에 있어서, 상기 바인더 성분은 열 경화성으로 1∼13중량%이고 상기 지방산 은은 0.1∼10중량%인 도전막 형성용 페이스트.
제7항에 있어서, 금속화 온도가 80℃ 이상 280℃ 이하인 도전막 형성용 페이스트.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070009179A KR100711505B1 (ko) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | 도전막 형성을 위한 은 페이스트 |
EP07746681A EP2126932A4 (en) | 2007-01-30 | 2007-05-25 | SILVER PULP FOR FORMING CONDUCTIVE LAYERS |
PCT/KR2007/002533 WO2008093913A1 (en) | 2007-01-30 | 2007-05-25 | A silver paste for forming conductive layers |
CN200780040101XA CN101529532B (zh) | 2007-01-30 | 2007-05-25 | 导电层形成用银浆料 |
JP2009529096A JP5838541B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-05-25 | 導電膜形成のための銀ペースト |
US11/916,954 US8070986B2 (en) | 2007-01-30 | 2007-05-25 | Silver paste for forming conductive layers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070009179A KR100711505B1 (ko) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | 도전막 형성을 위한 은 페이스트 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100711505B1 true KR100711505B1 (ko) | 2007-04-27 |
Family
ID=38182347
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070009179A KR100711505B1 (ko) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | 도전막 형성을 위한 은 페이스트 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8070986B2 (ko) |
EP (1) | EP2126932A4 (ko) |
JP (1) | JP5838541B2 (ko) |
KR (1) | KR100711505B1 (ko) |
CN (1) | CN101529532B (ko) |
WO (1) | WO2008093913A1 (ko) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101156966B1 (ko) * | 2009-05-25 | 2012-06-20 | 주식회사 이그잭스 | 저온 소성형 도전성 금속 페이스트 |
KR101184729B1 (ko) | 2008-11-14 | 2012-09-20 | 주식회사 엘지화학 | 도전성 유기 은 화합물 및 이를 포함하는 도전막 형성용 페이스트 |
WO2013094812A1 (ko) | 2011-12-22 | 2013-06-27 | 주식회사 이그잭스 | 별도의 루프부 시트와 다이폴부 시트로 이루어진 유에이치에프 알에프아이디 태그 |
CN111665659A (zh) * | 2020-06-11 | 2020-09-15 | 上海创功通讯技术有限公司 | Lcm模组及显示屏 |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1922590B1 (en) * | 2005-09-07 | 2010-11-24 | Exax Inc. | Silver organo-sol ink for forming electrically conductive patterns |
KR100709724B1 (ko) * | 2007-01-30 | 2007-04-24 | (주)이그잭스 | 도전막 형성을 위한 금속 페이스트 |
JP5320962B2 (ja) * | 2008-10-07 | 2013-10-23 | 横浜ゴム株式会社 | 導電性組成物、導電性被膜の形成方法および導電性被膜 |
JP5388150B2 (ja) * | 2009-08-26 | 2014-01-15 | エルジー・ケム・リミテッド | 導電性金属インク組成物および導電性パターンの形成方法 |
CN102024649A (zh) * | 2009-12-31 | 2011-04-20 | 四川虹欧显示器件有限公司 | 一种等离子显示屏及其制备方法 |
JP5525335B2 (ja) * | 2010-05-31 | 2014-06-18 | 株式会社日立製作所 | 焼結銀ペースト材料及び半導体チップ接合方法 |
JP5707755B2 (ja) * | 2010-07-12 | 2015-04-30 | 横浜ゴム株式会社 | 導電性組成物および太陽電池セル |
JP5707754B2 (ja) * | 2010-07-12 | 2015-04-30 | 横浜ゴム株式会社 | 導電性組成物および太陽電池セル |
JP2012023084A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | 太陽電池電極用ペーストおよび太陽電池セル |
JP5707756B2 (ja) * | 2010-07-12 | 2015-04-30 | 横浜ゴム株式会社 | 導電性組成物および太陽電池セル |
CN101986391A (zh) * | 2010-12-10 | 2011-03-16 | 长沙族兴金属颜料有限公司 | 一种用于晶体硅太阳能电池片的正面银浆及其制备方法 |
JP6138133B2 (ja) * | 2011-09-06 | 2017-05-31 | ヘンケル アイピー アンド ホールディング ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 導電性材料およびプロセス |
KR101288106B1 (ko) * | 2012-12-20 | 2013-07-26 | (주)피이솔브 | 금속 전구체 및 이를 이용한 금속 전구체 잉크 |
US9480166B2 (en) * | 2013-04-16 | 2016-10-25 | E I Du Pont De Nemours And Company | Method of manufacturing non-firing type electrode |
US20140326917A1 (en) * | 2013-05-01 | 2014-11-06 | Indian Institute Of Technology, Jodhpur | Ink composition |
JP6273805B2 (ja) * | 2013-12-02 | 2018-02-07 | 日油株式会社 | 銀含有組成物及び銀膜形成基材 |
JP6049606B2 (ja) * | 2013-12-25 | 2016-12-21 | 株式会社ノリタケカンパニーリミテド | 加熱硬化型導電性ペースト |
CN103824612B (zh) * | 2014-03-07 | 2016-10-05 | 广州北峻工业材料有限公司 | 黄光制程银浆及制备方法和触摸屏 |
CN104143376A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-11-12 | 永利电子铜陵有限公司 | 一种含镍微粉pcb电路板导电银浆及其制备方法 |
CN104143373B (zh) * | 2014-07-30 | 2016-07-20 | 安徽状元郎电子科技有限公司 | 一种牡蛎壳/氟磷灰石复合的导电银浆及其制作方法 |
WO2016021748A1 (ko) * | 2014-08-05 | 2016-02-11 | (주)피이솔브 | 은 잉크 |
JP6428339B2 (ja) * | 2015-02-13 | 2018-11-28 | 三菱マテリアル株式会社 | 銀粉及びペースト状組成物並びに銀粉の製造方法 |
US20180355191A1 (en) * | 2015-12-03 | 2018-12-13 | Harima Chemicals, Inc. | Method for producing electro-conductive paste |
US11081253B2 (en) * | 2016-11-08 | 2021-08-03 | Dowa Electronics Materials Co., Ltd. | Silver particle dispersing solution, method for producing same, and method for producing conductive film using silver particle dispersing solution |
CN107240435B (zh) * | 2017-04-18 | 2018-03-16 | 江苏东昇光伏科技有限公司 | 一种光伏电池用银浆及其制备方法 |
CN108735339B (zh) * | 2018-05-25 | 2019-08-06 | 重庆邦锐特新材料有限公司 | 一种高性能烧结导电银浆及其制备方法和烧结方法 |
WO2021125336A1 (ja) * | 2019-12-20 | 2021-06-24 | 三菱マテリアル株式会社 | 銀ペースト及びその製造方法並びに接合体の製造方法 |
CN114220587A (zh) * | 2021-11-23 | 2022-03-22 | 苏州思尔维纳米科技有限公司 | 一种用于低温银浆的助剂及其制备方法和应用 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR970076901A (ko) * | 1996-05-07 | 1997-12-12 | 조희재 | 도전성 페이스트 조성물 |
KR19990056608A (ko) * | 1997-12-29 | 1999-07-15 | 조희재 | 후막 도체 페이스트 조성물 |
KR20060030638A (ko) * | 2004-10-06 | 2006-04-11 | 삼성에스디아이 주식회사 | Pdp 전극 형성용 포지티브형 감광성 페이스트 조성물,이를 이용하여 제조된 pdp 전극 및 이를 포함하는 pdp |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4462827A (en) * | 1982-11-19 | 1984-07-31 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Thick film silver metallization composition |
JPS6162558A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-03-31 | Muromachi Kagaku Kogyo Kk | 導電性を有する樹脂組成物 |
JPH05311103A (ja) * | 1992-05-12 | 1993-11-22 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | 銀導体回路用印刷インキおよび銀導体回路の形成方法 |
JP3449123B2 (ja) * | 1996-07-22 | 2003-09-22 | 旭硝子株式会社 | 低抵抗膜又は低屈折率膜形成用塗布液、及び、低抵抗膜又は低反射低屈折率膜の製造方法 |
JP3585244B2 (ja) | 1997-02-20 | 2004-11-04 | パレレック,インコーポレイテッド | 導電体製造のための低温方法および組成物 |
US20040245507A1 (en) * | 2001-09-06 | 2004-12-09 | Atsushi Nagai | Conductor composition and method for production thereof |
US7601406B2 (en) * | 2002-06-13 | 2009-10-13 | Cima Nanotech Israel Ltd. | Nano-powder-based coating and ink compositions |
JP2004111366A (ja) * | 2002-07-24 | 2004-04-08 | Toyobo Co Ltd | ポリマー型導電性ペースト |
US6878184B1 (en) | 2002-08-09 | 2005-04-12 | Kovio, Inc. | Nanoparticle synthesis and the formation of inks therefrom |
JP3979967B2 (ja) * | 2003-05-16 | 2007-09-19 | 旭硝子株式会社 | 低反射低抵抗膜の製造方法 |
TWI243004B (en) * | 2003-12-31 | 2005-11-01 | Ind Tech Res Inst | Method for manufacturing low-temperature highly conductive layer and its structure |
JP2005293851A (ja) * | 2004-03-10 | 2005-10-20 | Toyobo Co Ltd | 導電性ペースト |
TWI310570B (en) * | 2004-07-30 | 2009-06-01 | Jfe Mineral Co Ltd | Ultrafine metal powder slurry |
JP4482930B2 (ja) * | 2004-08-05 | 2010-06-16 | 昭栄化学工業株式会社 | 導電性ペースト |
JP4487143B2 (ja) * | 2004-12-27 | 2010-06-23 | ナミックス株式会社 | 銀微粒子及びその製造方法並びに導電ペースト及びその製造方法 |
JP4964152B2 (ja) * | 2005-03-04 | 2012-06-27 | インクテック カンパニー リミテッド | 導電性インク組成物及びこの製造方法 |
US20060289837A1 (en) * | 2005-06-23 | 2006-12-28 | Mcneilly Kirk | Silver salts of dicarboxcylic acids for precious metal powder and flakes |
JP4650794B2 (ja) * | 2005-07-01 | 2011-03-16 | 昭栄化学工業株式会社 | 積層電子部品用導体ペーストおよびそれを用いた積層電子部品 |
JP4556886B2 (ja) * | 2006-03-09 | 2010-10-06 | 昭栄化学工業株式会社 | 導電性ペースト及び太陽電池素子 |
US7491646B2 (en) * | 2006-07-20 | 2009-02-17 | Xerox Corporation | Electrically conductive feature fabrication process |
US20100021704A1 (en) * | 2006-09-29 | 2010-01-28 | Sung-Ho Yoon | Organic silver complex compound used in paste for conductive pattern forming |
-
2007
- 2007-01-30 KR KR1020070009179A patent/KR100711505B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-05-25 US US11/916,954 patent/US8070986B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-25 CN CN200780040101XA patent/CN101529532B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-25 EP EP07746681A patent/EP2126932A4/en not_active Withdrawn
- 2007-05-25 WO PCT/KR2007/002533 patent/WO2008093913A1/en active Application Filing
- 2007-05-25 JP JP2009529096A patent/JP5838541B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR970076901A (ko) * | 1996-05-07 | 1997-12-12 | 조희재 | 도전성 페이스트 조성물 |
KR19990056608A (ko) * | 1997-12-29 | 1999-07-15 | 조희재 | 후막 도체 페이스트 조성물 |
KR20060030638A (ko) * | 2004-10-06 | 2006-04-11 | 삼성에스디아이 주식회사 | Pdp 전극 형성용 포지티브형 감광성 페이스트 조성물,이를 이용하여 제조된 pdp 전극 및 이를 포함하는 pdp |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101184729B1 (ko) | 2008-11-14 | 2012-09-20 | 주식회사 엘지화학 | 도전성 유기 은 화합물 및 이를 포함하는 도전막 형성용 페이스트 |
KR101156966B1 (ko) * | 2009-05-25 | 2012-06-20 | 주식회사 이그잭스 | 저온 소성형 도전성 금속 페이스트 |
WO2013094812A1 (ko) | 2011-12-22 | 2013-06-27 | 주식회사 이그잭스 | 별도의 루프부 시트와 다이폴부 시트로 이루어진 유에이치에프 알에프아이디 태그 |
CN111665659A (zh) * | 2020-06-11 | 2020-09-15 | 上海创功通讯技术有限公司 | Lcm模组及显示屏 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8070986B2 (en) | 2011-12-06 |
CN101529532A (zh) | 2009-09-09 |
CN101529532B (zh) | 2010-12-15 |
US20100193751A1 (en) | 2010-08-05 |
WO2008093913A1 (en) | 2008-08-07 |
JP2010504612A (ja) | 2010-02-12 |
JP5838541B2 (ja) | 2016-01-06 |
EP2126932A4 (en) | 2010-12-15 |
EP2126932A1 (en) | 2009-12-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100711505B1 (ko) | 도전막 형성을 위한 은 페이스트 | |
KR100709724B1 (ko) | 도전막 형성을 위한 금속 페이스트 | |
KR101263003B1 (ko) | 도전선 패턴 형성을 위한 은 오르가노 졸 잉크 | |
KR100532734B1 (ko) | 도전체 제조용 조성물 및 이를 이용하여 기판 상에 도체를 제조하는 방법 | |
KR100864268B1 (ko) | 전자 부착 보조에 의한 전기 도체의 형성 방법 | |
US10113079B2 (en) | Conductive composition | |
KR20080029826A (ko) | 도전배선 형성용 페이스트에 사용되는 유기 은 착화합물 | |
JP2006196278A (ja) | 複合粒子分散体および複合粒子分散体の製造方法 | |
JP2012131894A (ja) | 導電性インク組成物、及びそれを用いて製造された電気的導通部位 | |
WO2019022230A1 (ja) | 酸化銅インク及びこれを用いた導電性基板の製造方法、塗膜を含む製品及びこれを用いた製品の製造方法、導電性パターン付製品の製造方法、並びに、導電性パターン付製品 | |
Gu et al. | Comparison of thermal decomposition and chemical reduction of particle-free silver ink for inkjet printing | |
EP3246115A1 (en) | Silver powder | |
KR101156966B1 (ko) | 저온 소성형 도전성 금속 페이스트 | |
JP2012126814A (ja) | 導電性インク組成物、及び電気的導通部位の製造方法 | |
EP3335223B1 (en) | Photonic sintering of a polymer thick film copper conductor composition | |
KR100587402B1 (ko) | 도전선 패턴 형성을 위한 은 오르가노 졸 잉크 | |
JP7143685B2 (ja) | 導電性積層体の製造方法、導電性積層体及び2剤型導電膜形成剤 | |
TW201120162A (en) | Polymer thick film silver electrode composition for use as a plating link | |
WO2019009146A1 (ja) | 導電性ペースト | |
KR101199969B1 (ko) | 도전선 패턴 형성을 위한 은 오르가노 졸 잉크 | |
CN105440801A (zh) | 一种导电墨水及基于该导电墨水的印制电路的制备方法 | |
CN108109719A (zh) | 一种导电浆料及其制备方法 | |
KR102560073B1 (ko) | 도전성 페이스트 | |
KR100616361B1 (ko) | 잉크제트 프린트용 은 오르가노 졸 잉크 | |
JP2004186630A (ja) | 導電性塗布組成物、電子回路用導電体、その形成方法及び電子回路用品 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
A302 | Request for accelerated examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130419 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140421 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150518 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170119 Year of fee payment: 10 |
|
R401 | Registration of restoration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170719 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |