KR100266633B1 - 레벨 쉬프터 회로 - Google Patents
레벨 쉬프터 회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100266633B1 KR100266633B1 KR1019970051954A KR19970051954A KR100266633B1 KR 100266633 B1 KR100266633 B1 KR 100266633B1 KR 1019970051954 A KR1019970051954 A KR 1019970051954A KR 19970051954 A KR19970051954 A KR 19970051954A KR 100266633 B1 KR100266633 B1 KR 100266633B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- node
- input signal
- level
- gate
- drain
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1057—Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356104—Bistable circuits using complementary field-effect transistors
- H03K3/356113—Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
본 발명은 전압레벨을 전환(translate)하는 레벨 쉬프터 회로로서, 공용 센스앰프 구조 및 양방향성 글로벌 비트 라인 구조를 갖는 디램(DRAM)과 같은 메모리 회로에서 셀 블록과 센스앰프를 연결하는 전송 게이트 드라이버로 사용할 수 있으며, 풀다운 트랜지스터의 사용으로 전력 소비를 줄이고, 빠른 속도를 구현할 수 있다. 또한, 한 회로에서 3 개의 다른 상태의 전압레벨(VCC,VPP,VSS)을 얻을 수 있기 때문에 전압레벨 병진기로도 사용할 수 있으며, 종래 회로에 비해 간단하여 레이아웃 면적을 줄일 수 있다.
Description
본 발명은 전압레벨을 전환하는 레벨 쉬프터 회로에 관한 것으로, 특히 별도의 회로를 추가하지 않고서도 하나의 회로에서 3 개의 다른 전압레벨을 출력하기에 적당하도록 한 레벨 쉬프터 회로에 관한 것이다.
종래 기술의 전압 레벨 병진기는 도 1 에 도시된 바와 같이 입력신호(IN)를 반전시키는 인버터(INV11)와, 게이트에 상기 인버터(INV11)의 출력이 인가되고, 소스가 접지전압(VSS)에, 드레인이 노드 B에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM11)와, 게이트에 외부전압(VCC)이 인가되고, 소스가 노드 B에, 드레인이 노드 C에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM12)와, 게이트에 외부전압(VCC)이, 소스에 상기 인버터(INV11)의 출력이 인가되고, 드레인이 노드 D에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM13)와, 게이트에 공급전압(VCCP)이 인가되고, 소스가 상기 노드 D에, 드레인이 노드 E에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM14)와, 게이트가 상기 노드 E에, 드레인이 상기 노드 C에 연결되고, 소스와 기판에 공급전압(VCCP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM11)와, 게이트가 상기 노드 C에, 드레인이 상기 노드 E에 연결되고, 소스와 기판에 공급전압(VCCP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM12)와, 게이트가 상기 노드 C에, 드레인이 노드 O에 연결되고, 소스와 기판에 공급전압(VCCP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM13)와, 게이트가 상기 노드 E에 연결되고, 소스가 상기 피모스 트랜지스터(PM13)의 드레인에, 드레인이 상기 노드 O에 연결되고, 기판에 공급전압(VCCP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM14)와, 게이트에 공급전압(VCCP)이, 소스에 외부전압(VCC)이 인가되고, 드레인이 상기 피모스 트랜지스터(PM14)의 드레인에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM15)로 구성되어 노드 O에서 출력신호(OUT)가 출력된다.
이와 같이 구성된 종래 기술의 전압 레벨 병진기의 동작을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도 2 에 도시된 바와 같이 입력신호(IN)가 "하이" 레벨에서 "로우" 레벨로 트리거될 때, 인버터(INV11)의 출력인 노드 A는 "로우" 레벨에서 "하이" 레벨로 천이하게 되고, 따라서, 앤모스 트랜지스터(NM11)는 턴온되어 노드 B를 "로우" 레벨로 만든다. 이때, 앤모스 트랜지스터(NM12)는 항상 턴온되어 있으므로 노드 C도 "로우" 레벨이 된다.
노드 D는 처음에는 앤모스 트랜지스터(NM13)에 의해 VCC - Vt에 있다가, 노드 C가 로우레벨이 되면 피모스 트랜지스터(PM12)가 활성화(Activate)되어 노드 E가 공급전압(VCCP)까지 올라가므로 VCCP - Vt로 천이하게 된다. 따라서, 피모스 트랜지스터들(PM11),(PM14)이 턴온 된다. 여기서, Vt는 쓰레솔드 전압으로 약 0.7V이다.
상기 노드 C가 "로우" 레벨이기 때문에 피모스 트랜지스터(PM13)가 턴온되어 노드 O는 공급전압(VCCP)레벨에 있게 된다. 즉, 출력신호(OUT) 레벨이 공급전압(VCCP)이 된다.
이어서, 입력신호(IN)가 "로우" 레벨에서 "하이" 레벨로 천이하면 노드 A는 "하이" 레벨에서 "로우" 레벨로 천이하고, 앤모스 트랜지스터(NM11)는 턴오프 되어 노드 D는 "로우" 레벨로 떨어진다. 따라서, 노드 E도 "로우" 레벨이 되어 피모스 트랜지스터(PM11)를 활성화시키고, 노드 C는 공급전압(VCCP)까지 올라가게 되어 피모스 트랜지스터들(PM12),(PM13)은 턴오프 된다.
또한, 노드 E가 "로우" 레벨이므로 피모스 트랜지스터(PM14)는 활성화되고, 앤모스 트랜지스터(NM15)는 처음부터(Originally) 턴온 되어 있으므로 노드 O에서의 출력신호(OUT)는 외부전압(VCC) 레벨이 된다.
따라서, 디램(DRAM)과 같은 메모리 회로에서 전압레벨 병진기를 전송 게이트 드라이버(Transfer gate driver)로 사용하기 위해서 출력신호(OUT)가 디스에이블 상태에서 외부전압(VCC)에 있다가, 선택된 블록일 경우 공급전압(VCCP)으로, 선택이 안된 경우 접지전압(VSS)으로 바뀌어야 하는데, 접지전압(VSS)을 출력하기 위해서는 외부전압(VCC)레벨에서 접지전압(VSS)레벨로 가는 별도의 회로를 구성해야 하는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 별도의 회로의 추가 없이도 3 상의 전압레벨을 출력할 수 있는 전압 레벨 병진기를 제공하는데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 공용 센스앰프 구조를 갖는 디램(DRAM)과 같은 메모리 회로에서 셀 블록과 센스앰프를 연결하는 전송 게이트 드라이버로 사용할 수 있도록 하는데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 적은 전력을 소비하고, 빠른 속도 및 적은 레이아웃 면적을 구현하는데 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 레벨 쉬프트 회로는 제 1 입력신호를 반전시키는 인버터와, 게이트에 상기 인버터에 의해 반전된 입력신호가 인가되고, 소스가 접지전압에, 드레인이 노드 B'에 연결된 앤모스 트랜지스터와, 게이트에 외부전압이 인가되고, 소스가 상기 노드 B'에, 드레인이 노드 C'에 연결된 앤모스 트랜지스터와, 게이트에 제 1 입력신호가 인가되고, 소스가 접지전압에, 드레인이 노드 A'에 연결된 앤모스 트랜지스터와, 게이트에 외부전압이 인가되고, 소스가 상기 노드 A'에, 드레인이 노드 D'에 연결된 앤모스 트랜지스터와, 게이트가 상기 노드 D'에, 드레인이 상기 노드 C'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압이 인가된 피모스 트랜지스터와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 상기 노드 D'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압이 인가된 피모스 트랜지스터와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 노드 O'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압이 인가된 피모스 트랜지스터와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 상기 노드 O'에 연결되고, 소스에 제 2 입력신호가 인가되는 앤모스 트랜지스터와, 게이트가 상기 노드 D'에, 소스가 상기 노드 O'에 연결되고, 드레인에 상기 제 2 입력신호가 인가되는 피모스 트랜지스터로 구성되어 노드 O'에서 출력신호가 출력되는 것을 특징으로 한다.
도 1 은 종래 기술의 전압 레벨 병진기(Translator).
도 2 는 도 1 에 있어서, 동작 타이밍도.
도 3 은 본 발명의 레벨 쉬프터 회로도.
도 4 는 도 3 에 있어서, 제 1 입력전압이 입력되었을 때의 동작 타이밍도.
도 5 는 도 3 에 있어서, 제 2 입력전압이 입력되었을 때의 동작 타이밍도.
*****도면의 주요부분에 대한 부호설명*****
INV31 : 인버터 PM31∼PM34 : 피모스 트랜지스터
NM31∼NM35 : 앤모스 트랜지스터
본 발명의 레벨 쉬프터 회로는 도 3 에 도시된 바와 같이 제 1 입력신호(IN1)를 반전시키는 인버터(INV31)와, 게이트에 상기 인버터에 의해 반전된 입력신호(INB)가 인가되고, 소스가 접지전압(VSS)에, 드레인이 노드 B'에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM31)와, 게이트에 외부전압(VCC)이 인가되고, 소스가 상기 노드 B'에, 드레인이 노드 C'에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM32)와, 게이트에 제 1 입력신호(IN1)가 인가되고, 소스가 접지전압(VSS)에, 드레인이 노드 A'에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM33)와, 게이트에 외부전압(VCC)이 인가되고, 소스가 상기 노드 A'에, 드레인이 노드 D'에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM34)와, 게이트가 상기 노드 D'에, 드레인이 상기 노드 C'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압(VIP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM31)와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 상기 노드 D'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압(VPP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM32)와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 노드 O'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압(VPP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM33)와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 상기 노드 O'에 연결되고, 소스에 제 2 입력신호(IN2)가 인가되는 앤모스 트랜지스터(NM35)와, 게이트가 상기 노드 D'에, 소스가 상기 노드 O'에 연결되고, 드레인에 상기 제 2 입력신호(IN2)가 인가되는 피모스 트랜지스터(PM34)로 구성되어 노드 O'에서 출력신호(OUT)가 출력된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 레벨 쉬프터 회로의 동작을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 제 1 입력신호(IN1)가 선택된 블록신호이고, 제 2 입력신호(IN2)가 센스앰프의 다른 쪽에 연결된 블록의 선택신호일 때, 메모리 회로가 디스에이블에서 인에이블로 되면 제 1 입력신호(IN1)는 "하이" 레벨에서 "로우" 레벨로 가고, 제 2 입력신호(IN2)는 계속 "하이" 레벨 상태를 유지하게 된다.
도 4 에 도시된 바와 같이 제 1 입력신호(IN1)가 "로우" 레벨로 가게 되면 그의 반전된 신호(INB)는 "하이" 레벨로 가게 되고, 이에 의해 앤모스 트랜지스터(NM33)는 턴오프, 앤모스 트랜지스터(NM31)는 턴온 된다. 따라서, 상기 앤모스 트랜지스터(NM31)의 드레인은 "로우" 레벨로 가고, 앤모스 트랜지스터(NM32)는 항상 턴온되어 있으므로 노드 C'도 "로우" 레벨로 간다. 상기 노드 C'는 피모스 트랜지스터(PM32)와 피모스 트랜지스터(PM33), 그리고 앤모스 트랜지스터(NM35)의 게이트에 연결되어 있으므로, 상기 피모스 트랜지스터(PM32)는 활성화되고, 노드 D'는 승압전압(VPP) 레벨이 된다.
따라서, 앤모스 트랜지스터(NM34)는 항상 턴온되어 있으므로 노드 A'의 전압레벨은 VCC - Vt가 된다.
상기 노드 C'가 "로우" 레벨이므로 피모스 트랜지스터(PM33)는 노드 O'의 전압레벨을 승압전압(VPP)까지 끌어올린다. 또한, 상기 앤모스 트랜지스터(NM35)는 턴오프된다.
상기 노드 D'가 승압전압(VPP)이므로 상기 피모스 트랜지스터(PM34)는 턴오프된다.
이어서, 제 1 입력신호(IN1)가 다시 디스에이블("하이" 레벨)되면 앤모스 트랜지스터(NM31)는 턴오프되고, 앤모스 트랜지스터(NM33)는 턴온된다. 앤모스 트랜지스터(NM34)는 내부적으로 턴온되어 있으므로 노드 D'는 "로우" 레벨로 떨어지고, 따라서, 피모스 트랜지스터(PM31)가 활성화되어 노드 C'를 승압전압(VPP) 레벨까지 올라가고, 앤모스 트랜지스터(NM35)를 턴온시켜 출력신호(OUT)는 외부전압(VCC) 레벨로 떨어진다.
여기서, 상기 피모스 트랜지스터들(PM32)(PM33)은 턴오프되고, 상기 피모스 트랜지스터(PM34)는 턴온되므로, 상기 피모스 트랜지스터(PM34)는 상기 앤모스 트랜지스터(NM35)와 함께 씨모스 풀다운 스위치로 동작한다.
한편, 도 5 에 도시된 바와 같이 제 1 입력신호(IN1)가 계속 "하이" 레벨을 유지하고, 제 2 입력신호(IN2)가 "하이" 레벨에서 "로우" 레벨로 떨어지게 되면, 앤모스 트랜지스터(NM33)가 턴온되고, 앤모스 트랜지스터(NM31)는 턴오프되어, 노드 D'가 "로우" 레벨로 떨어지게 되고, 따라서, 피모스 트랜지스터들(PM31),(PM34)을 활성화시키므로, 노드 O'는 제 2 입력신호(IN2)를 그대로 출력신호(OUT)로 출력하게 된다. 여기서, 피모스 트랜지스터들(PM32),(PM33)은 메모리 동작 동안 노드 C'가 "하이" 레벨에 있으므로 턴오프 상태로 있게 된다.
또한, 앤모스 트랜지스터들(NM34),(NM32)은 노드 C',D'가 승압전압(VPP)에 있다가 앤모스 트랜지스터(NM33) 또는 앤모스 트랜지스터(NM31)에 의해 접지전압(VSS)으로 연결될 때, 상기 피모스 트랜지스터들(PM31),(PM32)의 로딩을 줄여주기 위한 트랜지스터로 초기에는 턴온상태이다. 이때, 노드 A',B'는 VCC - Vt 또는 접지전압(VSS) 중 하나의 값을 갖는다.
여기서, 앤모스 트랜지스터(NM35)와 피모스 트랜지스터(PM34)는 씨모스 스위치로 제 2 입력신호(IN2)가 "로우" 레벨이든 "하이" 레벨이든 그대로 출력신호(OUT)로 출력되게 한다.
참고로, 본 발명이 공용 센스앰프 구조 및 양방향성 글로벌 비트 라인 구조를 갖는 디램(DRAM)에서 셀 어래이와 센스앰프를 연결하는 전송 게이트 드라이버로 사용될 때, 두 개의 센스앰프 사이에 복수 개의 어래이가 있고, 그 어래이 사이에 전송 트랜지스터가 연결되어 있는데, 그 전송 트랜지스터는 메모리 회로가 디스에이블일 때, 모두 외부전압(VCC) 레벨로 있다가, 구동 상태가 되면, 선택된 쪽의 전송 트랜지스터(Transfer TR)는 승압전압(VPP) 레벨로, 그렇지 않은 쪽의 전송 트랜지스터는 접지전압(VSS) 레벨이 된다.
따라서, 공용 센스앰프 구조를 갖는 디램(DRAM)과 같은 메모리 회로에서 셀 블록과 센스앰프를 연결하는 전송 게이트 드라이버로 사용할 수 있으며, 풀다운 트랜지스터를 사용하므로 전력의 소비를 줄이고, 빠른 속도로 동작할 수 있다. 또한 한 회로에서 3 개의 다른 상태의 전압레벨(VCC,VPP,VSS)을 얻을 수 있기 때문에 전압레벨 병진기로도 사용할 수 있으며, 종래 회로에 비해 간단하여 레이아웃 면적을 줄일 수 있는 효과가 있다.
Claims (6)
- 제 1 입력신호(IN1)를 반전시키는 인버터(INV31)와, 게이트에 상기 인버터에 의해 반전된 입력신호(INB)가 인가되고, 소스가 접지전압(VSS)에, 드레인이 노드 B'에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM31)와, 게이트에 외부전압(VCC)이 인가되고, 소스가 상기 노드 B'에, 드레인이 노드 C'에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM32)와, 게이트에 제 1 입력신호(IN1)가 인가되고, 소스가 접지전압(VSS)에, 드레인이 노드 A'에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM33)와, 게이트에 외부전압(VCC)이 인가되고, 소스가 상기 노드 A'에, 드레인이 노드 D'에 연결된 앤모스 트랜지스터(NM34)와, 게이트가 상기 노드 D'에, 드레인이 상기 노드 C'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압(VPP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM31)와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 상기 노드 D'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압(VPP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM32)와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 노드 O'에 연결되고, 소스와 기판에 승압전압(VPP)이 인가된 피모스 트랜지스터(PM33)와, 게이트가 상기 노드 C'에, 드레인이 상기 노드 O'에 연결되고, 소스에 제 2 입력신호(IN2)가 인가되는 앤모스 트랜지스터(NM35)와, 게이트가 상기 노드 D'에, 소스가 상기 노드 O'에 연결되고, 드레인에 상기 제 2 입력신호(IN2)가 인가되는 피모스 트랜지스터(PM34)로 구성되어 노드 O'에서 출력신호(OUT)가 출력되는 것을 특징으로 하는 레벨 쉬프터 회로.
- 제 1 항에 있어서, 제 1 입력신호(IN1)가 선택된 블록신호이고, 제 2 입력신호(IN2)가 센스앰프의 다른 쪽에 연결된 블록의 선택신호일 때, 메모리 회로가 디스에이블 되면, 제 1 입력신호(IN1)는 "하이" 레벨이 되고, 메모리 회로가 인에이블되면, 제 1 입력신호(IN1)는 "로우" 레벨이 되며, 이때, 제 2 입력신호(IN2)는 계속 "하이" 레벨 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 레벨 쉬프터 회로.
- 제 1 항에 있어서, 제 2 입력신호(IN2)가 선택된 블록신호이고, 제 1 입력신호(IN1)가 센스앰프의 다른 쪽에 연결된 블록의 선택신호일 때, 메모리 회로가 디스에이블 되면, 제 2 입력신호(IN2)는 "로우" 레벨이 되고, 메모리 회로가 인에이블되면, 제 2 입력신호(IN2)는 "하이" 레벨이 되며, 이때, 제 1 입력신호(IN1)는 계속 "하이" 레벨 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 레벨 쉬프터 회로.
- 제 3 항에 있어서, 씨모스 풀다운 스위치(NM35,PM34)를 사용하여 제 2 입력신호(IN2)가 "로우" 레벨이든 "하이" 레벨이든 제 2 입력신호(IN2)를 그대로 출력신호(OUT)로 출력하는 것을 특징으로 하는 레벨 쉬프터 회로.
- 제 1 항에 있어서, 풀다운 트랜지스터(NM32,NM34)를 사용하는 것을 특징으로 하는 레벨 쉬프터 회로.
- 제 1 항에 있어서, 3 개의 다른 상태의 전압레벨(VPP,VCC,VSS)을 출력할 수 있는 것을 특징으로 하는 레벨 쉬프터 회로.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970051954A KR100266633B1 (ko) | 1997-10-10 | 1997-10-10 | 레벨 쉬프터 회로 |
DE19825034A DE19825034B4 (de) | 1997-10-10 | 1998-06-04 | Pegelumsetzerschaltung |
US09/166,224 US6222384B1 (en) | 1997-10-10 | 1998-10-05 | Level shifter circuit |
JP10286507A JP2954211B2 (ja) | 1997-10-10 | 1998-10-08 | レベルシフタ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970051954A KR100266633B1 (ko) | 1997-10-10 | 1997-10-10 | 레벨 쉬프터 회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990031300A KR19990031300A (ko) | 1999-05-06 |
KR100266633B1 true KR100266633B1 (ko) | 2000-09-15 |
Family
ID=19522485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970051954A KR100266633B1 (ko) | 1997-10-10 | 1997-10-10 | 레벨 쉬프터 회로 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6222384B1 (ko) |
JP (1) | JP2954211B2 (ko) |
KR (1) | KR100266633B1 (ko) |
DE (1) | DE19825034B4 (ko) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6331797B1 (en) * | 1999-11-23 | 2001-12-18 | Philips Electronics North America Corporation | Voltage translator circuit |
JP3658280B2 (ja) * | 2000-06-09 | 2005-06-08 | シャープ株式会社 | 電圧レベルシフタ回路およびそれを用いた不揮発性半導体記憶装置 |
US6917239B2 (en) | 2000-10-24 | 2005-07-12 | Fujitsu Limited | Level shift circuit and semiconductor device |
DE10063686A1 (de) * | 2000-12-20 | 2002-07-18 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zur Pegelerhöhung, insbesondere zum Ansteuern einer programmierbaren Verbindung |
US6556061B1 (en) * | 2001-02-20 | 2003-04-29 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Level shifter with zero threshold device for ultra-deep submicron CMOS designs |
US6785107B1 (en) * | 2001-06-22 | 2004-08-31 | Lsi Logic Corporation | Power sequence protection for a level shifter |
US6882200B2 (en) * | 2001-07-23 | 2005-04-19 | Intel Corporation | Controlling signal states and leakage current during a sleep mode |
JP3855835B2 (ja) * | 2001-09-27 | 2006-12-13 | ヤマハ株式会社 | 信号レベルシフト回路 |
JP2003347926A (ja) * | 2002-05-30 | 2003-12-05 | Sony Corp | レベルシフト回路、表示装置および携帯端末 |
TWI305083B (ko) * | 2002-06-04 | 2009-01-01 | Au Optronics Corp | |
US6995598B2 (en) * | 2003-02-13 | 2006-02-07 | Texas Instruments Incorporated | Level shifter circuit including a set/reset circuit |
TWI223921B (en) * | 2003-07-23 | 2004-11-11 | Realtek Semiconductor Corp | Low-to-high level shift circuit |
KR100566395B1 (ko) * | 2003-12-17 | 2006-03-31 | 삼성전자주식회사 | 레벨 쉬프터 및 이를 이용한 레벨 쉬프팅 방법 |
US7397279B2 (en) * | 2006-01-27 | 2008-07-08 | Agere Systems Inc. | Voltage level translator circuit with wide supply voltage range |
US7746154B2 (en) * | 2006-09-27 | 2010-06-29 | Atmel Corporation | Multi-voltage multiplexer system |
US7782116B2 (en) | 2008-09-05 | 2010-08-24 | Fairchild Semiconductor Corporation | Power supply insensitive voltage level translator |
JP5468882B2 (ja) * | 2009-07-03 | 2014-04-09 | セイコーインスツル株式会社 | Cmos入力バッファ回路 |
CN103166625B (zh) | 2011-12-16 | 2017-11-21 | 恩智浦美国有限公司 | 电压电平移位器 |
US8836406B2 (en) | 2012-09-06 | 2014-09-16 | Freescale Semiconductor, Inc. | Voltage level shifter |
KR102315333B1 (ko) | 2015-02-04 | 2021-10-19 | 삼성전자주식회사 | 회로 디자인 시스템 및 이를 이용한 반도체 회로 |
US11705891B1 (en) * | 2022-05-17 | 2023-07-18 | Globalfoundries U.S. Inc. | Level shifter with reduced static power consumption |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3183699B2 (ja) * | 1992-03-13 | 2001-07-09 | 沖電気工業株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP3364523B2 (ja) * | 1993-05-31 | 2003-01-08 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
US5444408A (en) * | 1993-12-13 | 1995-08-22 | Micron Technology, Inc. | Active pull-up voltage spike reducer |
TW265489B (en) * | 1994-07-20 | 1995-12-11 | Micron Technology Inc | Low-to-high voltage cmos driver circuit for driving capacitive loads |
US5528173A (en) * | 1995-05-10 | 1996-06-18 | Micron Technology, Inc. | Low power, high speed level shifter |
-
1997
- 1997-10-10 KR KR1019970051954A patent/KR100266633B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-06-04 DE DE19825034A patent/DE19825034B4/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-10-05 US US09/166,224 patent/US6222384B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-10-08 JP JP10286507A patent/JP2954211B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990031300A (ko) | 1999-05-06 |
DE19825034A1 (de) | 1999-04-15 |
JPH11195974A (ja) | 1999-07-21 |
DE19825034B4 (de) | 2004-04-08 |
US6222384B1 (en) | 2001-04-24 |
JP2954211B2 (ja) | 1999-09-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100266633B1 (ko) | 레벨 쉬프터 회로 | |
US5917365A (en) | Optimizing the operating characteristics of a CMOS integrated circuit | |
KR100363142B1 (ko) | 3상태논리게이트회로를갖는반도체집적회로 | |
KR100426443B1 (ko) | 딥 파워다운 제어 회로 | |
KR0146387B1 (ko) | 플립플롭형 증폭 회로 | |
KR100474755B1 (ko) | 출력 회로 | |
US20050207212A1 (en) | Semiconductor memory device | |
KR100464113B1 (ko) | 반도체 회로 | |
US5841702A (en) | Output circuit for memory device | |
KR100567497B1 (ko) | 버스 인터페이스 회로 및 리시버 회로 | |
US6590420B1 (en) | Level shifting circuit and method | |
US5986443A (en) | Low power required input buffer | |
KR950005171B1 (ko) | 전류 미러 증폭회로 및 그의 구동 방법 | |
JPH10199245A (ja) | サブロウデコーダ回路 | |
KR100311973B1 (ko) | 로직 인터페이스 회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치 | |
JPH1041807A (ja) | Cmos集積回路の動作特性の最適化 | |
KR20010058871A (ko) | 낮은 서브-스레숄드 누설전류를 갖는 로직게이트 회로 | |
US5751178A (en) | Apparatus and method for shifting signal levels | |
KR100336255B1 (ko) | 부 문턱 전류 컷-오프용 트랜지스터를 갖는 반도체 집적회로 | |
KR100210734B1 (ko) | 논리 및 레벨 변환 회로 및 반도체 장치 | |
KR100189742B1 (ko) | 레벨쉬프터 | |
KR20070076112A (ko) | 레벨 쉬프터 | |
US6414897B1 (en) | Local write driver circuit for an integrated circuit device incorporating embedded dynamic random access memory (DRAM) | |
KR100304968B1 (ko) | 워드라인 드라이버 | |
KR100369357B1 (ko) | 저 소비 전력 센스 앰프를 구비한 반도체 롬 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130523 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140523 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150521 Year of fee payment: 16 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160520 Year of fee payment: 17 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |