KR100262805B1 - 광 디스크의 교체 처리 방법 및 광 디스크 장치 - Google Patents

광 디스크의 교체 처리 방법 및 광 디스크 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100262805B1
KR100262805B1 KR1019970708325A KR19970708325A KR100262805B1 KR 100262805 B1 KR100262805 B1 KR 100262805B1 KR 1019970708325 A KR1019970708325 A KR 1019970708325A KR 19970708325 A KR19970708325 A KR 19970708325A KR 100262805 B1 KR100262805 B1 KR 100262805B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
area
recorded
sector
recording
Prior art date
Application number
KR1019970708325A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19990021851A (ko
Inventor
미키오 야마무로
Original Assignee
니시무로 타이죠
가부시끼가이샤 도시바
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 니시무로 타이죠, 가부시끼가이샤 도시바 filed Critical 니시무로 타이죠
Publication of KR19990021851A publication Critical patent/KR19990021851A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100262805B1 publication Critical patent/KR100262805B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/12Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1883Methods for assignment of alternate areas for defective areas
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/12Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers
    • G11B20/1217Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers on discs
    • G11B20/1258Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers on discs where blocks are arranged within multiple radial zones, e.g. Zone Bit Recording or Constant Density Recording discs, MCAV discs, MCLV discs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1833Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs by adding special lists or symbols to the coded information
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00Record carriers by type
    • G11B2220/20Disc-shaped record carriers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Auxiliary Devices For Machine Tools (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)
  • Surgical Instruments (AREA)
  • Photographic Processing Devices Using Wet Methods (AREA)
  • Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)
  • Radiation-Therapy Devices (AREA)
  • Branch Pipes, Bends, And The Like (AREA)
  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
  • Automatic Disk Changers (AREA)

Abstract

본 발명은 16섹터로 이루어지는 ECC 블록 단위로 데이타가 기록되는 광 디스크에 있어서, 제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에, 더미 데이타를 기록하고, 그 더미 데이타를 재생하여 초기 결함의 섹터를 판단하며, 이 판단한 초기 결함의 섹터 어드레스를 광 디스크에 기록해 두고, 데이타의 기록시에, 상기 초기 결함의 섹터를 스킵하여 ECC 블록 단위의 데이타를 기록하도록 한 것이다.
또한, ECC 블록 단위로 데이타가 기록되는 광 디스크에 있어서, 초기시 이외의 데이타 기록시에, 데이타를 기록하고, 그 데이타를 재생하여 2차 결함의 섹터를 갖는 ECC 블록을 판단하며, 이 판단한 2차 결함의 섹터를 갖는 ECC 블록의 데이타를 별도로 준비한 ECC 블록에 기록하도록 한 것이다.
또한, 16섹터로 이루어지는 ECC 블록 단위로 데이타가 기록되는 광 디스크에 있어서, 제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에, 더미 데이타를 기록하고, 그 더미 데이타를 재생하여 초기 결함의 섹터를 판단하며, 이 판단한 초기 결함의 섹터 어드레스를 광 디스크에 기록해 두고, 데이타의 기록시에, 상기 초기 결함의 섹터를 스킵하여 ECC 블록 단위의 데이타를 기록하며, 초기시 이외의 데이타 기록시에, 데이타를 기록하고, 그 데이타를 재생하여 2차 결함의 섹터를 갖는 ECC 블록을 판단하며, 이 판단한 2차 결함의 섹터를 갖는 ECC 블록의 데이타를 별도로 준비한 ECC 블록에 기록하도록 한 것이다.

Description

광 디스크의 교체 처리 방법 및 광 디스크 장치
종래, 광학 헤드에 탑재된 반도체 레이저 발진기로부터 출력되는 레이저 광으로 기록 트랙을 갖는 광 디스크에 데이타를 기록하거나, 혹은 광 디스크에 기록되어 있는 데이타를 재생하는 광 디스크 장치가 실용화되어 있다.
이러한 광 디스크 장치에서는 복수의 섹터로 이루어지는 ECC 블록 단위로 광 디스크에 데이타가 기록되도록 되어 있다.
이 경우, 제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에, 섹터 단위로 데이타가 정확히 기록되었는가 아닌가를 확인하고, 이 확인에서, 불량이 발생한 섹터가 있는 경우에, 그 섹터를 포함하는 ECC 블록을 결함 블록이라 하여 사용 불가로 하는 것이 제안되고 있다.
이 때문에, 동화상이나 음성 등의 연속하는 데이타를 기록할 때에, 상기 사용 불가의 ECC 블록(결함 블록)이 있으면, 그 ECC 블록을 건너 뛰어 다음 ECC 블록에 데이타를 기록하는 슬립 교체 처리가 행하여지도록 되고 있다. 즉, 1개의 ECC 블록동안 데이타의 기록이 중단된다.
따라서, 상기 동화상이나 음성 등의 연속하는 데이타를 재생할 때에, 도중에 예컨대 결함으로 되어 있는 1개의 ECC 블록만큼 재생이 중단되어 버린다고 하는 결점이 있다.
또한, 상기 초기시 이후의 기록시에, 섹터 단위로 데이타가 정확히 기록되었는가 아닌가를 확인하고, 이 확인에서 불량이 발생한 섹터가 있는 경우에, 그 섹터를 사용 불가로 하여, 별도의 대체용 영역의 섹터를 이용하여 데이타가 기록되는 처리가 제안되고 있다.
이 경우, 1개의 ECC 블록을 재생할 때에, 별도 영역의 섹터에 기록되어 있는 데이타도 동시에 재생하지 않으면, 상기 ECC 블록 전체를 재생을 할 수 없게 되어 있다. 즉, 원래라면 1개의 ECC 블록의 각 섹터의 재생을 연속적으로 행할 수 있는 것을, 상기 ECC 블록의 재생 도중에 교체용 섹터를 재생한 뒤, 다시 원래의 ECC 블록으로 되돌아가 재생을 계속 행하여야 된다. 이 때문에, 재생 속도가 저하한다고 하는 결점이 있다.
본 발명은, 제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에 광 디스크에 대한 교체 처리를 행한 경우이더라도, 동화상이나 음성 등의 연속하는 데이타를 재생할 때에 연속적으로 재생할 수 있도록 데이타를 기록 가능하게 하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, 초기시 이후의 기록시에 광 디스크에 대한 교체 처리를 행한 경우이더라도, 재생 속도의 저하를 억제할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, 제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에 광 디스크에 대한 교체 처리를 행한 경우이더라도, 동화상이나 음성 등의 연속하는 데이타를 재생할 때에 연속적으로 재생할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, 초기시 이후의 기록시에 광 디스크에 대한 교체 처리를 행한 경우이더라도, 재생 속도의 저하를 억제할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 데이타가 기록되거나 기록되어 있는 데이타가 재생되는 광 디스크에 있어서 결함 영역에 대한 교체 처리를 행하는 교체 처리 방법과, 이 교체 처리 방법을 이용하여, 상기 광 디스크에 데이타를 기록하거나, 광 디스크에 기록되어 있는 데이타를 재생하는 광 디스크 장치에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 관계하는 광 디스크 장치의 개략을 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1에 나타낸 광 디스크의 개략 구성을 나타내는 평면도이다.
도 3은 도 1에 나타낸 광 디스크의 개략 구성을 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1에 나타낸 광 디스크의 각 존마다의 회전수와 1트랙의 섹터수를 설명하기 위한 도면이다.
도 5, 도 6은 도 1에 나타낸 광 디스크의 ECC 블록의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 도 6에 나타내는 ECC 블록의 각 섹터 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 도 2에 나타내는 광 디스크의 헤더부의 프리포맷 데이타를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 도 6에 나타내는 ECC 블록의 섹터 포맷을 나타내는 도면이다.
도 10은 도 2에 나타내는 광 디스크의 재기록 가능한 존내에 기록되는 결함 관리 영역의 기록예를 나타내는 도면이다.
도 11은 도 1에 나타내는 광 디스크의 카트리지의 유무나 카트리지의 개폐를 검지하는 검지기를 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 초기 결함 리스트 작성 처리를 설명하기 위한 흐름도이다.
도 13, 도 14는 섹터 단위의 슬립 교체 처리를 설명하기 위한, 물리 섹터 번호와 논리 섹터 번호의 관계를 나타내는 도면이다.
도 15는 복수의 ECC 블록에 동화상 등의 연속하고 있는 데이타가 기록될 때의, 섹터 단위의 슬립 교체 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 16은 ECC 블록 단위의 리니어 교체 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 17은 ECC 블록 단위의 리니어 교체 처리에 대한, ECC 블록의 재생 순서를 설명하기 위한 도면이다.
도 18은 ECC 블록 단위의 리니어 교체 처리를 하였을 때의, 교체용 ECC 블록에서의 물리 섹터 번호와 논리 섹터 번호의 관계를 나타내는 도면이다.
도 19, 도 20은 소정의 ECC 블록에 데이타를 기록할 때의 처리를 설명하기 위한 흐름도이다.
본 발명의 광 디스크의 교체 처리 방법은, 데이타가 기록되는 동심원형 혹은 스파이럴형의 트랙을 가지며, 소정의 긴 트랙으로 이루어지고, 또한 트랙상의 위치를 나타내는 어드레스 데이타가 기록되는 어드레스 영역과 데이타가 기록되는 데이타 영역을 포함하는 복수의 연속한 섹터 영역을 복수개 갖는 포맷으로 정의되며, 복수개의 섹터 영역 가운데 소정수의 섹터 영역 군(群)으로 이루어지고, 이들 소정수의 섹터 영역에 기록되는 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 데이타가 소정수의 섹터 영역 군에 대하여 일괄적으로 기록되는 에러 정정 데이타 기록 영역을 포함하는 블록 영역 단위로 기록이 이루어지는 광 디스크에 있어서, 상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 데이타를 기록하고, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 순차로 데이타를 기록할 때에, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 별도의 다음 섹터 영역에 데이타를 기록하는 것이다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 관해서 도면을 참조하여 설명한다.
도 1은 광 디스크 장치를 나타내는 것이다. 이 광 디스크 장치는 기록 매체로서의 광 디스크(DVD-RAM)(1)에 대하여 집속광을 사용하여 데이타(정보)의 기록, 혹은 기록되어 있는 데이타의 재생을 행하는 것이다.
상기 광 디스크(1)는 예컨대 유리 혹은 플라스틱 등으로 원형으로 형성된 기판의 표면에 텔루르 혹은 비스무트 등의 금속 피막층이 도우넛형으로 코팅되어 구성되며, 동심원형 혹은 스파이럴형의 그룹 및 랜드의 양쪽을 이용하여 데이타의 기록 혹은 기록되어 있는 데이타의 재생이 행하여지고, 마스터링 공정에서 기록 마크에 의해 소정 간격마다 어드레스 데이타가 기록되어 있는 위상 변화형으로 재기록된 형태의 디스크이다.
상기 광 디스크(1)는, 도 2, 도 3에 나타내는 바와 같이, 리드 인(read in) 영역(2), 데이타 영역(3), 리드 아웃(read out) 영역(4)로 구성되어 있다.
리드 인 영역(2)는 복수의 트랙으로 이루어지는 엠보스 데이타 존(5)과 복수의 트랙으로 이루어지는 재기록 가능한 데이타 존(6)으로 이루어진다. 엠보스 데이타 존(5)에는 래퍼런스 시그널이나 콘트롤 데이타가 제조시에 기록되어 있다. 재기록 가능한 데이타 존(6)은 가이드 트랙용 존, 디스크 테스트용 존, 드라이브 테스트용 존, 디스크 식별 데이타용 존, 및 교체 관리 영역으로서의 교체 관리 존(6a)으로 구성되어 있다.
데이타 영역(3)는 반경 방향으로 복수의 트랙으로 이루어지는 복수 예컨대 24개의 존(3a, …3x)으로 구성되어 있다.
리드 아웃 영역(4)는 복수의 트랙으로 이루어지며, 상기 재기록 가능한 데이타 존(6)과 마찬가지로, 재기록 가능한 데이타 존이며, 데이타 존(6)의 기록 내용과 동일한 내용을 기록할 수 있도록 되어 있다.
상기 광 디스크(1)는 도 3에 나타내는 바와 같이, 내측에서 차례로, 리드 인 영역(2)의 엠보스 데이타 존(5)과 재기록 가능한 데이타 존(6), 데이타 영역(3) 존(3a, …3x), 및 리드 아웃 영역(4)의 데이타 존으로 이루어지며, 각각의 존에 대한 클록 신호는 동일하고, 각 존에 대한 광 디스크(1)의 회전수(속도)와 1트랙씩의 섹터수는 각각 다르게 되어 있다.
데이타 영역(3) 존(3a, …3x)에서는 광 디스크(1)의 내주측에서 외주측으로 향함에 따라서, 회전수(속도)가 느리게 되어, 1트랙씩 섹터수가 증가하도록 되어 있다.
상기 각 존(3a, …3x, 4, 5, 6)에 대한, 회전수로서의 속도 데이타와 1트랙씩의 섹터수와의 관계는, 도 4에 나타내는 바와 같이 메모리(10)의 테이블(10a)에 기록되어 있다.
상기 데이타 영역(3) 존(3a, …3x)의 트랙에는 도 2, 도 3에 나타내는 바와 같이, 데이타의 기록 단위로서의 ECC(error correction code) 블록 데이타 단위(예컨대 38688바이트)마다 미리 데이타가 기록되어 있다.
ECC 블록은 2K바이트의 데이타가 기록되는 16개의 섹터로 이루어지며, 도 5에 나타내는 바와 같이, 각 섹터마다 어드레스 데이타로서의 4바이트(32비트) 구성의 섹터 ID(식별 데이타)1∼ID16이 2바이트 구성의 에러 검출 코드(IED: ID 에러 디텍션 코드)와 동시에 메인 데이타(섹터 데이타)에 부여되어, ECC 블록에 기록되는 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 코드로서의 횡방향의 ECC(error correction code)1과 종방향의 ECC2가 기록되게 되어 있다. 이 ECC1, 2는 광 디스크(1)의 결함으로 인하여 데이타를 재생할 수 없게 되는 것을 방지하기 위해서 중복어(redundant words)로서 데이타에 부여되는 에러 정정 코드이다.
상기 데이타 영역(3) 존(3a, …3x)의 복수의 ECC 블록 중의 소정수의 ECC 블록이 교체용으로 쓰이도록 되어 있다.
각 섹터는 172바이트로 12행의 데이타로 구성되며, 각 행마다 10바이트 구성인 횡방향의 ECC1이 부여되어 있음과 동시에, 182바이트 구성인 1행분의 종방향의 ECC2가 부여되어 있다.
상기 ECC 블록이 광 디스크(1)에 기록될 때는, 도 6에 나타내는 바와 같이, 각 섹터의 소정 데이타량마다(소정 데이타 길이 간격마다 예컨대 91바이트: 1456채널 비트마다)데이타를 재생할 때에 바이트 동기를 취하기 위한 동기 코드(2바이트: 32채널 비트)가 부여되어 있다.
각 섹터는 도 7에 나타내는 바와 같이, 제0 프레임에서부터 제25 프레임까지의 26개의 프레임으로 구성되고, 각 프레임마다 부여되어 있는 동기 코드(프레임 동기 신호)는 프레임 번호를 특정하기 위한 특정 코드(1바이트: 16채널 비트)와, 각 프레임 공통의 공통 코드(1바이트: 16채널 비트)로 구성되어 있다.
즉, 도 7에 나타내는 바와 같이, 제0 프레임은 SY0, 제2, 제10, 제18 프레임은 SY1, 제4, 제12, 제20 프레임은 SY2, 제6, 제14, 제22 프레임은 SY3, 제8, 제16, 제24 프레임은 SY4, 제1, 제3, 제5, 제7, 제9 프레임은 SY5, 제11, 제13, 제15, 제17 프레임은 SY6, 제19, 제21, 제23, 제25 프레임은 SY7로 되어 있다.
상기 데이타 영역(3) 존(3a, …3x)의 트랙에는 도 2에 나타내는 바와 같이, 각 섹터마다 각각 어드레스 등이 기록되어 있는 헤더부(11), …가 미리 프리포맷팅되어 있다.
상기 헤더부(11)는 그룹의 형성시에 형성되도록 되어 있다. 이 헤더부(11)는 도 8에 나타내는 바와 같이, 복수의 핏(12)으로 구성되어 있으며, 그룹(13)에 대하여 도면과 같이 프리포맷되어 있어, 핏(12)의 중심은 그룹(13)과 랜드(14)의 경계선과 동일 선상인 위치에 존재한다.
도 8에 나타내는 바와 같이, 핏열 ID1이 그룹1의 헤더부, 핏열 ID2가 랜드1의 헤더부, 핏열 ID3이 그룹2의 헤더부, 핏열 ID4가 랜드2의 헤더부, 핏열 ID5가 그룹3의 헤더부, 핏열 ID6이 랜드3의 헤더부로 되어 있다.
따라서, 그룹용 헤더부와 랜드용 헤더부가 교대(지그재그형)로 형성되어 있다.
상기 1섹터마다의 포맷이 도 9에 나타나 있다.
도 9에 있어서, 1섹터는 2697바이트(bytes)로 구성되고, 128바이트의 헤더 영역(헤더부(11)에 대응)(11), 2바이트의 미러 영역(17), 2567바이트의 기록 영역(18)으로 구성되어 있다.
상기 섹터에 기록되는 채널 비트는 8비트의 데이타를 16비트의 채널 비트로 8-16 코드 변조된 형식으로 되어 있다.
헤더 영역(11)은 광 디스크(1)를 제조할 때에 소정의 데이타가 기록되어 있는 영역이다. 이 헤더 영역(11)은 4개의 헤더1 영역, 헤더2 영역, 헤더3 영역, 헤더4 영역으로 구성되어 있다.
헤더1 영역∼헤더4 영역은 46바이트 혹은 18바이트로 구성되고, 36바이트 혹은 8바이트의 동기 코드부 VFO(Variable Frequency Oscillator), 3바이트의 어드레스 마크 AM(Address Mark), 4바이트의 어드레스부 PID(Position Identifier), 2바이트의 오류 검출 코드 IED(ID Error Detection Code), 1바이트의 포스트앰블 PA(Postambles)로 구성되어 있다.
헤더1 영역, 헤더3 영역은 36바이트의 동기 코드부 VFO1를 가지며, 헤더2, 헤더4 영역은 8바이트의 동기 코드부 VFO2를 가지고 있다.
동기 코드부 VFO1, 2는 PLL을 풀링하기 위한 영역으로서, 동기 코드부 VFO1은 채널 비트로 "010…"의 연속을 "36"바이트(채널 비트로 576비트)만큼 기록(일정 간격의 패턴을 기록)한 것이며, 동기 코드부 VFO2는 채널 비트로 "010…"의 연속을 "8"바이트(채널 비트로 128비트)만큼 기록한 것이다.
어드레스 마크 AM은 어디에서부터 섹터 어드레스가 시작되는지를 나타내는 "3" 바이트의 동기 코드이다. 이 어드레스 마크 AM의 각 바이트의 패턴은 "0100100000000100" 이라는 데이타 부분에는 나타나지 않는 특수한 패턴이 쓰인다.
어드레스부 PID1∼4는 4바이트의 어드레스 정보로서의 섹터 어드레스(ID 번호를 포함한다)가 기록되어 있는 영역이다. 섹터 어드레스는 트랙상의 물리적인 위치를 나타내는 물리 어드레스로서의 물리 섹터 번호로서, 이 물리 섹터 번호는 마스타링 공정에서 기록되기 때문에, 재기록은 할 수 없도록 되어 있다.
ID 번호는 예컨대 PID1의 경우는 "1"이며, 하나의 헤드부(11)에서 4회 중복 기록되어 있는 중 몇번째인가를 나타내는 번호이다.
오류 검출 코드 IED는 섹터 어드레스(ID 번호를 포함한다)에 대한 에러(오류)검출 부호로서, 판독된 PID 내의 에러의 유무를 검출할 수 있다.
포스트앰블 PA는 복조에 필요한 스테이트 정보를 포함하고 있으며, 헤더부(11)가 스페이스에서 종료하도록 극성 조정의 역할도 한다.
미러 영역(17)은 트랙킹 에러 신호의 오프셋 보정, 랜드/그루브 전환 신호의 타이밍 발생 등에 이용된다.
기록 영역(18)은 10∼26바이트의 갭 영역, 20∼26의 가이드1 영역, 35바이트의 VFO3 영역, 3바이트의 프리싱크로너스 코드(PS)영역, 2418바이트의 데이타 영역, 1바이트의 포스트앰블3(PA3) 영역, 48∼55바이트의 가이드2 영역, 및 9∼25바이드의 버퍼 영역으로 구성되어 있다.
갭 영역은, 아무것도 기록하지 않은 영역이다.
가이드1 영역은 위상 변화 기록 매체 특유의 반복 기록시의 종단 열화가 VFO3 영역까지 미치지 못하도록 하기 위해서 설치된 영역이다.
VFO3 영역도 PLL 로크용 영역이기는 하지만, 동일 패턴 속에 동기 코드를 삽입하여, 바이트 경계의 동기를 취하는 것도 목적으로 하는 영역이다.
PS(pre-synchronous code)영역은 데이타 영역에 연결하기 위한 동조용 영역이다.
데이타 영역은 데이타 ID, 데이타 ID 에러 정정 코드 IED(Data ID Error Detection Code), 동기 코드, ECC(Error Correction Code), EDC(Error Detection Code), 이용자 데이타 등으로 구성되는 영역이다. 데이타 ID는 각 섹터의 4바이트(32채널 비트)구성의 섹터 ID1∼ID16이다. 데이타 ID 에러 정정 코드 IED는 데이타 ID용의 2바이트(16비트)구성인 에러 정정 코드이다.
상기 섹터 ID(1∼16)는 1바이트(8비트)의 섹터 정보와, 3바이트의 섹터 번호(트랙상의 논리적인 위치를 나타내는 논리 어드레스로서의 논리 섹터 번호)로 구성되어 있다. 섹터 정보는 1비트의 섹터 포맷 타입 영역, 1비트의 트랙킹 방법 영역, 1비트의 반사율 영역, 1비트의 예약 영역, 2비트의 영역 타입 영역, 1비트의 데이타 타입 영역, 1비트의 레이어 번호 영역으로 구성되어 있다.
논리 섹터 번호는 후술하는 슬립 교체 처리에 의해, 물리 섹터 번호와 다르게 된다.
섹터 포맷 타입 영역에 "1" 이 기록되어 있는 경우, 존 포맷 타입을 나타내고 있다. 트랙킹 방법 영역에 "1" 이 기록되어 있는 경우, 그룹 트랙킹을 나타내고 있다. 반사율 영역에 "1" 이 기록되어 있는 경우, 반사율이 40% 이상을 나타내고 있다. 영역 타입 영역에 "0" 이 기록되어 있는 경우, 데이타 영역을 나타내며, "1" 이 기록되어 있는 경우, 리드 인 영역을 나타내며, "10" 이 기록되어 있는 경우, 리드 아웃 영역을 나타내며, "11" 이 기록되어 있는 경우, 예약을 나타내고 있다. 데이타 타입 영역에 "0" 이 기록되어 있는 경우, 리드 온리 데이타의 기록을 나타내며, "1" 이 기록되어 있는 경우, 재기록 가능한 데이타의 기록을 나타내고 있다. 레이어 번호 영역에 "0" 이 기록되어 있는 경우, 레이어0를 나타내고 있다.
PA(postamble)3 영역은 복조에 필요한 스테이트 정보를 포함하고 있으며, 전의 데이타 영역의 최종 바이트의 종결을 나타내는 영역이다.
가이드2 영역은 위상 변화 기록 매체 특유의 반복 기록시의 종단 열화가 데이타 영역에까지 미치지 못하도록 하기 위하여 설치된 영역이다.
버퍼 영역은 데이타 영역이 다음 헤더부(11)에 걸리지 않도록 광 디스크(1)를 회전하는 모터의 회전 변동 등을 흡수하기 위하여 설치된 영역이다.
갭 영역이 10∼26바이트라고 표현되어 있는 것은 랜덤 시프트를 하기 때문이다. 랜덤 시프트란 위상 변화 기록 매체의 반복 기록 열화를 완화하기 위해서, 데이타의 기록 시작 위치를 어긋나게 하는 것이다. 랜덤 시프트의 길이는 데이타 영역의 최후미에 위치하는 버퍼 영역의 길이로 조정되며, 1개의 섹터 전체의 길이는 2697바이트로 일정하다.
상기 데이타 영역(3) 존(3a, …3x)에는 각각 스페어 섹터가 준비되어 있으며, 동일 존내에서, 후술하는 섹터 단위의 슬립 교체 처리(슬립핑 리플레이스먼트 알고리즘)를 하였을 때의, 최종 스페어로서 이용된다.
상기 재기록 가능한 데이타 존6내의 교체 관리 영역(6a)에는 도 10에 나타낸 바와 같이, 초기 결함 리스트(PDL)(15)와 2차 결함 리스트(SDL)(16)가 기록되도록 되어 있다.
초기 결함 리스트(PDL: primary defect list)(15)는 제조시 혹은 사용 개시 시 등의 초기시에, 결함으로 판정된 섹터의 물리 섹터 번호(물리 어드레스)의 리스트이다. 이 섹터 번호는 섹터 단위의 슬립에 의한 교체 처리(슬립핑 리플레이스먼트 알고리즘)를 해야 할 섹터를 나타내고 있다.
초기 결함 리스트(15)에는 초기 결함 리스트 식별 데이타, 결함수로서의 어드레스수, 각 결함 섹터를 나타내는 물리 섹터 번호가 기술된다.
2차 결함 리스트(SDL: secondary defect list)(16)는 상기 초기시 이외의 기록시에, 결함으로 판정된 섹터를 갖는 ECC 블록(결함 블록)에 대한 리스트이다. 즉, 소정의 ECC 블록에 데이타를 기록하였을 때에, 결함으로 판정된 섹터를 갖는 ECC 블록(결함 블록)의 선두 섹터의 물리 섹터 번호(물리 어드레스)와, 이 블록에 대체되는 ECC 블록(대체 블록: 스페어 블록)의 선두 섹터의 물리 섹터 번호(물리 어드레스)의 리스트이다.
2차 결함 리스트에는 2차 결함 리스트 식별 데이타, 결함수로서의 엔트리수, 각 결함 블록의 어드레스로서의 선두 섹터를 나타내는 물리 섹터 번호, 이들 결함 블록에 대체되는 대체 블록의 어드레스로서의 선두 섹터를 나타내는 물리 섹터 번호가 기술된다. 각 결함 블록의 어드레스와 그것들에 대응하는 대체 블록의 어드레스는 대응하여 기술되어 있다.
또한, 도 1에 있어서, 상기 광 디스크(1)는 모터(23)에 의해 예컨대, 존마다 다른 회전수로 회전된다. 이 모터(23)는 모터 제어 회로(24)에 의해 제어되고 있다.
상기 광 디스크(1)에 대한 데이타의 기록, 혹은 광 디스크(1)에 기록되어 있는 데이타의 재생은 광학 헤드(25)에 의해 행하여지도록 되어 있다. 이 광학 헤드(25)는 리니어(linear) 모터(26)의 가동부를 구성하는 구동 코일(27)에 고정되어 있으며, 이 구동 코일(27)은 리니어 모터 제어 회로(28)에 접속되어 있다.
이 리니어 모터 제어 회로(28)에는 속도 검출기(29)가 접속되어 있어, 광학 헤드(25)의 속도 신호를 리니어 모터 제어 회로(28)에 보내도록 되어 있다.
또한, 리니어 모터(26)의 고정부에는 도시하지 않은 영구 자석이 설치되어 있으며, 상기 구동 코일(27)이 리니어 모터 제어 회로(28)에 의해 여자됨으로써, 광학 헤드(25)는 광 디스크(1)의 반경 방향으로 이동되도록 되어 있다.
상기 광학 헤드(25)에는 대물 렌즈(30)가 도시하지 않은 와이어 혹은 판 스프링에 의해 지지되어 있으며, 이 대물 렌즈(30)는 구동 코일(31)에 의해 집속 방향(렌즈의 광축 방향)으로 이동되어, 구동 코일(32)에 의해서 트랙킹 방향(렌즈의 광축과 직교하는 방향)으로 이동 가능하게 되어 있다.
또한, 레이저 제어 회로(33)에 의해 반도체 레이저 발진기(39)가 구동되어, 레이저 광을 발생하도록 되어 있다. 레이저 제어 회로(33)는 반도체 레이저 발진기(39)의 모니터용 포토 다이오드 PD로부터의 모니터 전류에 따라서 반도체 레이저 발진기(39)에 의한 레이저 광의 광량을 보정하도록 되어 있다.
레이저 제어 회로(33)는 도시하지 않은 PLL회로로부터의 기록용 클록 신호에 동기하여 동작하도록 되어 있다. 이 PLL회로는 발진기(도시하지 않음)로부터의 기본 클록 신호를 분주하여, 기록용 클록 신호를 발생하는 것이다.
그리고, 레이저 제어 회로(33)에 의해 구동되는 반도체 레이저 발진기(39)로부터 발생된 레이저 광은 콜리메이터 렌즈(40), 하프 프리즘(41), 대물 렌즈(30)를 통해 광 디스크(1)상에 조사되며, 이 광 디스크(1)로부터의 반사광은 대물 렌즈(30), 하프 프리즘(41), 집광 렌즈(42), 및 실린드리칼 렌즈(43)를 통해 광 검출기(44)로 유도된다.
상기 광 검출기(44)는 4분할의 광 검출 셀(44a, 44b, 44c, 44d)로 구성되어 있다.
상기 광 검출기(44)의 광 검출 셀(44a)의 출력 신호는 증폭기(45a)를 통해 가산기(46a)의 일단에 공급되고, 광 검출 셀(44b)의 출력 신호는 증폭기(45b)를 통해 가산기(46b)의 일단에 공급되며, 광 검출 셀(44c)의 출력 신호는 증폭기(45c)를 통해 가산기(46a)의 타단에 공급되고, 광 검출 셀(44d)의 출력 신호는 증폭기(45d)를 통해 가산기(46b)의 타단에 공급되도록 되어 있다.
상기 광 검출기(44)의 광 검출 셀(44a)의 출력 신호는 증폭기(45a)를 통해 가산기(46c)의 일단에 공급되고, 광 검출 셀(44b)의 출력 신호는 증폭기(45b)를 통해 가산기(46d)의 일단에 공급되며, 광 검출 셀(44c)의 출력 신호는 증폭기(45c)를 통해 가산기(46d)의 타단에 공급되고, 광 검출 셀(44d)의 출력 신호는 증폭기(45d)를 통해 가산기(46c)의 타단에 공급되도록 되어 있다.
상기 가산기(46a)의 출력 신호는 차동 증폭기(OP2)의 반전 입력단에 공급되고, 이 차동 증폭기(OP2)의 비 반전 입력단에는 상기 가산기(46b)의 출력 신호가 공급된다. 이로써, 차동 증폭기(OP2)는 상기 가산기(46a, 46b)의 차에 따라서 초점에 관한 신호(초점 오차 신호)를 집속 제어 회로(47)에 공급하도록 되어 있다. 이 집속 제어 회로(47)의 출력 신호는 집속 구동 코일(31)에 공급되어, 레이저 광이 광 디스크(1)상에서 상시 져스트(just) 초점이 되도록 제어된다.
상기 가산기(46c)의 출력 신호는 차동 증폭기(OP1)의 반전 입력단에 공급되며, 이 차동 증폭기(OP1)의 비 반전 입력단에는 상기 가산기(46d)의 출력 신호가 공급된다. 이로써, 차동 증폭기(OP1)는 상기 가산기(46c, 46d)의 차에 따라서 트랙킹 오차 신호를 트랙킹 제어 회로(48)에 공급하도록 되어 있다. 이 트랙킹 제어 회로(48)는 차동 증폭기(OP1)로부터 공급되는 트랙킹 오차 신호에 따라서 트랙 구동 신호를 작성하는 것이다.
상기 트랙킹 제어 회로(48)로부터 출력되는 트랙 구동 신호는 상기 트랙킹 방향의 구동 코일(32)에 공급된다. 또한, 상기 트랙킹 제어 회로(48)로 사용된 트랙킹 오차 신호는 리니어 모터 제어 회로(28)에 공급되도록 되어 있다.
상기한 바와 같이 집속, 트랙킹을 행한 상태에서의 광 검출기(44)의 각 광 검출 셀(44a, ∼44d)의 출력을 합한 신호, 즉 가산기(46c, 46d)로부터의 출력 신호를 가산기(46e)로 가산한 신호는 트랙상에 형성된 핏(기록 데이타)으로부터의 반사율의 변화가 반영되어 있다. 이 신호는 데이타 재생 회로(38)에 공급되어, 이 데이타 재생 회로(38)에서 기록되어 있는 데이타가 재생된다.
이 데이타 재생 회로(38)에서 재생된 재생 데이타는 부여되어 있는 에러 정정 코드 ECC를 사용하여 에러 정정 회로(52)로 에러 정정을 한 뒤, 인터페이스 회로(55)를 통해 외부 장치인 광 디스크 제어 장치(56)로 출력된다.
또한, 상기 트랙킹 제어 회로(48)에서 대물 렌즈(30)가 이동되고 있을 때, 리니어 모터 제어 회로(28)는 대물 렌즈(30)가 광학 헤드(25)내의 중심 위치 근방에 위치하도록 리니어 모터(26) 즉 광학 헤드(25)를 이동시키도록 되어 있다.
또한, 레이저 제어 회로(33)의 전단에는 데이타 생성 회로(34)가 설치되어 있다. 이 데이타 생성 회로(34)에는 에러 정정 회로(52)로부터 공급되는 도 5에 나타내는 바와 같은, 기록 데이타로서의 ECC 블록의 포맷 데이타를 도 6에 나타내는 바와 같이, ECC 블록용 동기 코드를 부여한 기록용 ECC 블록의 포맷 데이타로 변환하는 ECC 블록 데이타 생성 회로(34a)와, 이 ECC 블록 데이타 생성 회로(34a)로부터의 기록 데이타를 8-16 코드 변환 방식으로 변조하는 변조 회로(34b)를 구비하고 있다.
데이타 생성 회로(34)에는 에러 정정 회로(52)에 의해 에러 정정 부호가 부여된 기록 데이타나 메모리(10)에서 판독된 에러 첵크용 더미 데이타가 공급되도록 되어 있다. 에러 정정 회로(52)에는 외부 장치인 광 디스크 제어 장치(56)로부터의 기록 데이타가 인터페이스 회로(55) 및 버스(49)를 통해 공급되도록 되어 있다.
에러 정정 회로(52)는 광 디스크 제어 장치(56)로부터 공급되는 32K바이트의 기록 데이타를 2K바이트마다의 섹터 단위로 한 기록 데이타에 대하여 횡방향과 종방향 각각의 에러 정정 부호(ECC1, ECC2)를 부여함과 동시에, 섹터 ID(논리 어드레스 번호)를 부여하여, 도 5에 나타내는 바와 같은, ECC 블록의 포맷 데이타를 생성하도록 되어 있다.
또한, 이 광 디스크 장치에는 각각 집속 제어 회로(47), 트랙킹 제어 회로(48), 리니어 모터 제어 회로(28)와 광 디스크 장치의 전체를 제어하는 CPU(50)사이에 정보의 수수를 행하는데 이용되는 D/A 변환기(51)가 설치되어 있다.
상기 모터 제어 회로(24), 리니어 모터 제어 회로(28), 레이저 제어 회로(33), 데이타 재생 회로(38), 집속 제어 회로(47), 트랙킹 제어 회로(48), 에러 정정 회로(53) 등은 버스(49)를 통해 CPU(50)에 의해 제어되도록 되어 있으며, 이 CPU(50)는 메모리(10)에 기록된 제어 프로그램에 따라서 소정의 동작을 하도록 되어 있다.
상기 메모리(10)는 제어 프로그램이 기록되어 있거나, 데이타 기록용으로 이용된다. 이 메모리(10)에는 상기 각 존(3a, …3x, 4, 5, 6)에 대한, 회전수로서의 속도 데이타와 1트랙씩의 섹터수가 기록되어 있는 테이블(10a)과, 광 디스크(1)의 교체 관리 영역(6a)로부터 판독된 초기 결함 리스트(PDL)(15)와 2차 결함 리스트 (SDL)(16)가 기록되는 테이블(10b)을 구비하고 있다.
또한, 도 1, 도 11에 있어서, 상기 광 디스크(1)의 하부에는 광 디스크(1)가 수납되는 카트리지(20)의 유무를 검지하는 검지기(21)와, 상기 카트리지(20)의 관통공(20a)의 유무를 검지하는 검지기(22)가 설치되어 있다. 상기 검지기(21, 22)는 예컨대 마이크로 스위치 등으로 구성되어 있다.
상기 카트리지(20)는 상술한 광 디스크(1)를 수납하는 것으로, 그 카트리지(20)가 1번이라도 열리면(광 디스크(1)가 인출되면), 상기 관통공(20a)이 열리는 구조로 되어 있다. 상기 검지기(21, 22)의 검지 신호는 버스(49)를 통해 CPU(50)로 공급되도록 되어 있다.
이로써, CPU(50)는 검지기(21)로부터의 검지 신호에 의해, 카트리지(20)의 유무를 판단한다. 또한, CPU(50)는 카트리지(20) 있음으로 판단되었을 때에, 검지기(22)로부터의 검지 신호에 의해, 카트리지(20)가 1번이라도 열렸는가 아닌가를 판단한다.
이어서, 제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에 행하는, 초기 결함 리스트 작성 처리에 관해서, 도 12에 나타내는 흐름도를 참조하면서 설명한다.
예컨대 현재, 사용 개시시의 광 디스크(1)가 상기 광 디스크 장치에 장전되었을 때, CPU(50)는 슬립 교체 처리를 판단하여, 메모리(10)로부터 더미 데이타를 판독하고, 이 더미 데이타에 의한 광 디스크(1)의 데이타 영역(3) 각 섹터에 대한 기록을 제어한다(ST1).
이로써, 데이타 영역(3)의 각 존마다 다른 회전수로 광 디스크(1)가 회전되고 있는 상태에서, 데이타 생성 회로(34)로부터 더미 데이타를 변조한 신호에 의해 레이저 제어 회로(33)가 제어되어, 반도체 레이저 발진기(39)가 구동됨으로써, 더미 데이타의 변조 신호에 대응한 레이저 광이 광 디스크(1)에 조사된다. 이 결과, 광 디스크(1)의 데이타 영역(3) 각 섹터마다의 데이타 영역에 더미 데이타의 변조 신호에 대응한 데이타가 기록된다.
그리고, 광 디스크(1)의 데이타 영역(3) 각 섹터에 대한 기록이 종료하였을 때, CPU(50)는 각 섹터마다의 더미 데이타의 판독을 제어한다(ST2).
이로써, 데이타 영역(3)의 각 존마다 다른 회전수로 광 디스크(1)가 회전되고 있는 상태에서, 반도체 레이저 발진기(39)로부터의 재생용 레이저 광에 기초를 둔 반사광이 광 검출기(44)에 도입됨으로써, 데이타 재생 회로(38)에 의해 각 섹터의 헤더부(11)에 기록되어 있는 물리 섹터 번호를 재생함과 동시에, 그 섹터의 데이타 영역에 기록되어 있는 데이타를 복조하여 재생한다.
이 재생에 근거하여, CPU(50)는 헤더부(11)의 물리 섹터 번호를 정확하게 재생할 수 있으며, 기록한 더미 데이타와 재생한 데이타를 비교하여, 섹터내의 에러수가 제1 규정치를 초과하고 있지 않는 경우에, 정확하게 데이타가 기록되었다라고 판단하며, 헤더부(11)의 물리 섹터 번호를 정확하게 재생할 수 없거나, 혹은 섹터내의 에러수가 제1 규정수를 초과하고 있는 경우에, 정확하게 데이타가 기록되지 않음으로 인한 1차 결함(초기 결함)이라고 판단하여 슬립 교체 처리의 대상이라고 판단한다(ST3).
상기 제1 규정치는 182바이트로 13행 구성인 1개의 섹터속에서 예컨대, 에러 바이트수가 4개 이상인 행이 5행 이상으로 되어 있다.
상기 판단의 결과, 슬립 교체 처리의 대상이라고 판단한 경우, CPU(50)는 그 섹터를 결함 섹터로 판단하여, 그 물리 섹터 번호를 결함 섹터로서 메모리(10)에 기록한다(ST4).
그리고, CPU(50)는 데이타 영역(3)의 모든 섹터에 대한 체크가 종료하였을 때(ST5), 메모리(10)에 기록되어 있는 결함 섹터의 물리 섹터 번호에 그 수와 초기 결함 리스트 식별 정보를 부여한 초기 결함 리스트로서의 데이타에 의해 광 디스크(1)의 교체 관리 영역(6a)에 대한 기록을 제어한다(ST6).
이로써, 데이타 존(6)에 대응하는 회전수로 광 디스크(1)가 회전되고 있는 상태에서, 데이타 생성 회로(34)로부터 상기 초기 결함 리스트로서의 데이타를 변조한 신호에 의해 레이저 제어 회로(33)가 제어되어, 반도체 레이저 발진기(39)가 구동됨으로써, 초기 결함 리스트로서의 데이타의 변조 신호에 대응한 레이저 광이 광 디스크(1)에 조사된다. 이 결과, 광 디스크(1)의 데이타 영역(3)의 교체 관리 존(6a)에 초기 결함 리스트로서의 데이타의 변조 신호에 대응한 데이타가 기록된다.
이어서, 초기 결함 리스트에 기초를 둔, 섹터 단위의 슬립 교체 처리(슬립핑 리플레이스먼트 알고리즘)에 관해서 도 13, 도 14, 도 15를 참조하면서 설명한다.
즉, 광 디스크(1)에 ECC 블록 단위로 데이타를 기록할 때에, 초기 결함 리스트에 근거하여, 결함 섹터를 건너 뜀으로써 섹터 단위의 슬립 교체를 행한다.
예컨대 현재, 광 디스크(1)의 물리 섹터 번호 m-1에서부터 물리 섹터 번호 m+14까지의 16개의 섹터를 이용하여, 1개의 ECC 블록의 데이타를 기록하고자 하였을 때에, 상기 섹터내의 물리 섹터 번호 m의 섹터가 초기 결함 리스트에 등록되어 있었을 때, 물리 섹터 번호 m의 섹터를 제외한, 물리 섹터 번호 m-1에서부터 물리 섹터 번호 m+15까지의 16개의 섹터를 이용하여 1개의 ECC 블록의 데이타를 기록한다.
이 경우, 도 13, 도 14에 나타내는 바와 같이, 물리 섹터 번호 m-1에 대한 논리 섹터 번호로서 「m-1」이 부여되어 있는 경우, 물리 섹터 번호 m+1에 대하여 논리 섹터 번호 m, 물리 섹터 번호 m+2에 대하여 논리 섹터 번호 m+1, 물리 섹터 번호 m+3에 대하여 논리 섹터 번호 m+2, 물리 섹터 번호 m+4에 대하여 논리 섹터 번호 m+3, 물리 섹터 번호 m+5에 대하여 논리 섹터 번호 m+4, 물리 섹터 번호 m+6에 대하여 논리 섹터 번호 m+5, 물리 섹터 번호 m+7에 대하여 논리 섹터 번호 m+6, 물리 섹터 번호 m+8에 대하여 논리 섹터 번호 m+7, 물리 섹터 번호 m+9에 대하여 논리 섹터 번호 m+8, 물리 섹터 번호 m+10에 대하여 논리 섹터 번호 m+9, 물리 섹터 번호 m+11에 대하여 논리 섹터 번호 m+10, 물리 섹터 번호 m+12에 대하여 논리 섹터 번호 m+11, 물리 섹터 번호 m+13에 대하여 논리 섹터 번호 m+12, 물리 섹터 번호 m+14에 대하여 논리 섹터 번호 m+13, 물리 섹터 번호 m+15에 대하여 논리 섹터 번호 m+14가 기록된다.
따라서, 도 15에 나타내는 바와 같이, 동화상 등의 연속하고 있는 데이타가 기록되는 ECC 블록 n-1, n, n+1, n+2, …에 있어서, ECC 블록 n내에서 상기 섹터 단위의 슬립 교체를 한 경우, ECC 블록 n의 도중에 결함 섹터에 대한 기록만이 중단됨으로써, 데이타가 기록되는 ECC 블록(논리 섹터)과 물리 섹터와의 관계가 1섹터분 어긋나게 된다.
이 결과, 동화상이나 음성 등의 연속하는 데이타가, 상기 ECC 블록에 기록된 경우, 결함 섹터에 의한 재생 중단이 발생하지만, 1섹터분에 대한 재생 중단 시간이 짧기 때문에, 재생되는 화상이나 음성에 대한 영향이 없어지게 된다.
이것은, 종래와 같이 ECC 블록 단위로 슬립 교체 처리를 한 경우의 1ECC 블록동안 기록이 중단되는 것에 비하면 상당히 짧은 시간의 중단이라는 것을 알 수 있다. 따라서, 도중에서 끊기는 일이 거의 없이 연속 데이타를 기록할 수 있다.
상기 섹터 단위의 슬립 교체 처리는 초기 결함 리스트에 근거하여 행하여지기 때문에, 광 디스크(1)가 광 디스크 장치에 장전되어, 광 디스크(1)의 교체 관리 영역(6a)에서 판독된 초기 결함 리스트가 메모리(10)의 테이블(10b)에 기록되었을 때에, 각 ECC 블록에 대하여 물리 섹터가 할당되고, 각 ECC 블록마다의 논리 섹터에 대한 물리 섹터의 관계도 판정되어, 메모리(10)에 기억된다.
이어서, ECC 블록 단위의 리니어 교체 처리(리니어 리플레이스먼트 알고리즘)에 관해서, 도 16, 도 17, 도 18을 참조하면서 설명한다.
예컨대 현재, 도 16에 나타내는 바와 같이, ECC 블록(n-1), ECC 블록(n), ECC 블록(n+1), ECC 블록(n+2), …의, 광 디스크(1)상에서 연속하는 ECC 블록에, 동화상, 음성 등의 연속하는 데이타를 기록하는 경우를 상정한다.
실제의 데이타 기록시에 있어서, ECC 블록(n)이 있는 섹터에 2차 결함이 있다는 것이 판명되면 , 이 2차 결함 섹터를 포함하는 ECC 블록(n)이 블록 단위로 리니어 교체 처리에 의해 교체용 ECC 블록(1)으로 교체 기록된다. 이 때, 리니어 교체 처리가 행하여진 것을 나타내는 데이타가 메모리(10)에 기록된다. 이와 같이 기록된 데이타의 재생 순서는, 도 17에 나타내는 바와 같이, ECC 블록(n-1)을 재생하고, 이어서 교체용 ECC 블록(l)을 재생하고, 계속하여 ECC 블록(n+1)을 재생하고, 이어서 ECC 블록(n+2)을 재생한다.
이 경우에는, 종래와 같이, 섹터 단위의 교체 처리를 할 필요가 없어, 즉 1ECC 블록의 재생 도중에, 교체용 ECC 블록을 액세스하여, 다시 원래의 ECC 블록으로 되돌아가 재생을 계속할 필요가 없으므로, 실질적인 피해를 주지 않을 정도의 재생 속도를 확보할 수 있다.
또한, 상기한 바와 같은 ECC 블록 단위의 교체 처리를 한 경우, 도 18에 나타내는 바와 같이, 리니어 교체 처리전의 2차 결함 섹터를 포함하는 ECC 블록(n)에 있어서 각 섹터의 물리 섹터 번호 m∼m+15와 논리 섹터 번호 m∼m+15로 되어 있는 경우에, 리니어 교체 처리후, 교체용 ECC 블록(1)의 각 섹터의 물리 섹터 번호 y∼y+15에 대하여 논리 섹터 번호 m∼m+15가 부여되게 된다.
즉, 교체되는 곳의 데이타 영역에 기록되는 어드레스 데이타는, 교체되는 곳의 헤더 영역에 기록되어 있는 어드레스 데이타(물리 섹터 번호)와는 관계없이, 교체전 상태의 논리 섹터 번호가 기록된다.
이어서, 소정의 ECC 블록에 데이타를 기록할 때의 처리를, 도 19, 도 20에 나타내는 흐름도를 참조하면서 설명한다.
예컨대 현재, 광 디스크(1)의 데이타 영역(3)내의 소정의 ECC 블록으로의 데이타 기록 지시와 기록 데이타가 광 디스크 제어 장치(56)로부터 인터페이스 회로(55)를 통해 광 디스크 장치내에 공급된다. 이로써, 소정의 ECC 블록으로의 데이타 기록 지시는 CPU(50)에 공급되고, 기록 데이타는 에러 정정 회로(52)에 의해 에러 정정 부호가 부여된 섹터 단위의 기록 데이타가 데이타 생성 회로(34)에 공급된다(ST10).
또한, 광 디스크(1)의 장전시에, CPU(50)는 광 디스크(1)의 교체 관리 영역(6a)에 기록되어 있는 초기 결함 리스트와 2차 결함 리스트를 판독하여, 메모리(10)의 테이블(10b)에 기록하며, 초기 결함 리스트에 근거하는 ECC 블록에 대한 각 섹터의 물리 섹터 번호(초기 결함 섹터를 슬립완료함)가 판정되어 기록된다(STl1).
또한, CPU(50)는 기록하는 ECC 블록이 포함되는 존에 대응하는 회전수로 광 디스크(1)를 회전시킨다(ST12).
이 상태에 있어서, 상기 ECC 블록의 선두 섹터의 물리 섹터 번호가 헤더부(11)의 재생에 의해 이루어졌을 때에, 데이타 생성 회로(34)에 의해, 기록 데이타로서의 ECC 블록의 포맷 데이타(선두의 1섹터분)를 ECC 블록용 동기 코드를 부여한 기록용 ECC 블록의 포맷 데이타로 변환시켜, 8-16의 코드 변조를 행하여 레이저 제어 회로(33)에 출력한다. 이 레이저 제어 회로(33)에 의해 반도체 레이저 발진기(39)가 구동됨으로써, ECC 블록의 포맷 데이타의 변조 신호에 대응한 레이저 광이 광 디스크(1)에 조사된다. 이 결과, 광 디스크(1)의 데이타 영역(3)에 존재하는 소정의 ECC 블록의 선두 섹터에 데이타가 기록된다(ST13).
이후, CPU(50)에 의해 지정되는 물리 섹터 번호와 일치하는 물리 섹터 번호를 재생할 때마다, 상기와 같이 섹터 단위의 데이타가 기록된다(ST13).
이 때, 결과적으로 메모리(10)에 기록되어 있는 초기 결함 리스트에 기초를 둔 ECC 블록에 대한 각 섹터의 물리 섹터 번호에 근거하여 데이타가 기록되어 있다. 즉, 상술한 슬립 교체 처리를 하여, 결함 섹터는 건너 뛰어 데이타를 기록하고 있다.
그리고, 그 소정의 ECC 블록에 데이타의 기록이 종료하였을 때에, CPU(50)는 상기 검지기(21)로부터의 검지 신호에 의해, 카트리지(20)의 유무(장전인가 아닌가)를 판단하여(ST14), 카트리지(20) 있음으로 판단되었을 때에, 검지기(22)로부터의 검지 신호에 의해, 카트리지(20)가 1번이라도 열렸는가 아닌가를 판단한다(ST15).
이 판단 결과에 따라, CPU(50)는 1번도 열리지 않은 카트리지(20)의 장전으로 판단되었을 때에, 기록의 체크를 불필요로 판단하여, 데이타의 기록 처리를 종료한다(ST16).
상기 단계14에 있어서, 카트리지(20)의 장전으로 판단되지 않거나, 카트리지(20)의 장전으로 판단되었지만, 카트리지(20)가 열린 적이 있다라고 판단되었을 때에, CPU(50)는 상기 ECC 블록의 각 섹터마다의 데이타 판독을 제어한다(ST17).
이로써, 반도체 레이저 발진기(39)로부터의 재생용 레이저 광에 기초를 둔 반사광이 광 검출기(44)에 도입됨으로써, 데이타 재생 회로(38)로 상기 기록을 행한 각 섹터의 헤더부(11)에 기록되어 있는 물리 섹터 번호를 재생함과 동시에, 각 섹터의 데이타 영역에 기록되어 있는 데이타를 복조하여 재생한다(ST18).
이 재생에 근거하여, CPU(50)는 헤더부(11)의 물리 섹터 번호가 정확하게 재생되었는가, 혹은 기록한 각 섹터마다의 데이타와 재생한 각 섹터마다의 데이타를 비교하여, 각 섹터내의 에러수가 소정의 규정치를 초과하고 있지 않는 경우에, 정확하게 데이타가 기록되었다라고 판단하며, 헤더부(11)의 물리 섹터 번호가 정확하게 재생되지 않았다거나, 섹터내의 에러수가 소정의 규정수를 초과하고 있는 경우에, 정확하게 데이타가 기록되지 않음으로 인한 2차 결함이라고 판단하여 리니어 교체 처리의 대상이라고 판단한다(ST19).
상기 각 섹터내의 에러의 상태로서는 다음 4개의 조건 가운데 어느 하나를 이용하도록 되어 있다.
제1 조건은 헤더부(11)의 물리 섹터 번호가 정확하게 재생되지 않은 경우이다.
제2 조건은 적어도 1개의 섹터내의 에러수가 제1 규정치를 초과하고 있는 경우이다.
제3 조건은 적어도 1개의 섹터내의 에러수가 제1 규정치를 초과하지 않지만 제2 규정치를 초과하고 있으며 또한 ECC 블록 전체적으로 제3 규정치를 초과하고 있는 경우이다.
제4 조건은 적어도 1개의 섹터내의 에러수가 제1 규정치를 초과하지 않지만 제2 규정치를 초과하고 있으며 또한 ECC 블록 전체적으로 그 섹터가 제4 규정치를 초과하고 있는 경우이다.
상기 제3 조건과 제4 조건을 리니어 교체 처리의 대상으로 하는 이유는, ECC 블록내의 1개의 섹터만이라면 에러가 많더라도, ECC 블록 전체에서 데이타를 수정할 수 있기 때문이다. ECC 블록은 전체 208행 있으며, 그 중에서 5개 이상의 에러를 포함하는 행을 최대 16행까지 정정할 수 있다. 이로써, 상기 각 규정치가 결정되고 있다.
즉, 상기 제1 규정치는 182바이트로 13행 구성인 1개의 섹터속에서, 예컨대, 에러 바이트수가 4개 이상인 행이 5행 이상으로 되어 있다.
상기 제2 규정치는 에러 바이트수가 4개 이상인 행이 3행 이상으로 되어 있 다.
상기 제3 규정치는 에러 바이트수가 4개 이상인 행이 10행 이상으로 되어 있다.
상기 제4 규정치는 2섹터로 되어 있다.
상기 단계19의 결과, 리니어 교체 처리의 대상이라고 판단한 경우, 대상으로 되는 ECC 블록을 결함 블록이라 하여, 이 결함 블록에 기록되어야 되는 ECC 블록 단위의 데이타를 교체용 ECC 부록에 기록하는 상술한 리니어 교체 처리를 행하며(ST20), 리니어 교체 처리의 대상이라고 판단하지 않은 경우, 그 데이타의 기록 처리를 종료한다.
또한, 상기 리니어 교체 처리를 행한 경우, CPU(50)는 그 결함 블록의 선두 섹터의 물리 섹터 번호(결함 블록의 어드레스)와, 교체용 ECC 블록의 선두 섹터의 물리 섹터 번호(교체 블록의 어드레스)를 메모리(10)의 2차 결함 리스트에 갱신 기록하고, 그 데이타의 기록 처리를 종료한다(ST21).
또한, 상기 리니어 교체 처리가 행하여진 광 디스크(1)가 상기 광 디스크 장치로부터 인출되어질 때, 혹은 테이블(10b)에 기록되어 있는 2차 결함 리스트가 갱신되었을 때, CPU(50)는 메모리(10)의 2차 결함 리스트의 기록 내용을 광 디스크(1)의 교체 관리 영역(6a)에 갱신 기록한다.
상기한 바와 같이, 16섹터로 이루어지는 ECC 블록 단위로 데이타가 기록되는 광 디스크에 있어서, 제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에, 더미 데이타를 기록하고, 그 더미 데이타를 재생하여 초기 결함의 섹터를 판단하며, 이 판단한 초기 결함의 섹터 어드레스를 광 디스크에 기록해 두고, 데이타의 기록시에, 상기 초기 결함의 섹터를 스킵하여 ECC 블록 단위의 데이타를 기록하도록 한 것이다.
이로써, 동화상이나 음성 등의 연속하는 데이타가 상기 ECC 블록에 기록된 경우, 결함 섹터에 의한 재생 중단이 발생하지만, 1섹터분에 대한 재생 중단 시간이 짧기 때문에, 재생되는 화상이나 음성에 대한 영향이 없도록 되어 있다.
이것은, 종래와 같이 ECC 블록 단위로 슬립 교체 처리를 행한 경우의 1ECC 블록동안 기록이 중단되는 것에 비하면 상당히 짧은 시간의 중단인 것임을 알 수 있다. 따라서, 도중에서 끊기는 일이 거의 없이 연속 데이타를 기록할 수 있다.
또한, ECC 블록 단위로 데이타가 기록되는 광 디스크에 있어서, 초기시 이 외의 데이타 기록시에, 데이타를 기록하고, 그 데이타를 재생하여 2차 결함의 섹터를 갖는 ECC 블록을 판단하며, 이 판단한 2차 결함의 섹터를 갖는 ECC 블록의 데이타를 별도의 준비되어 있는 ECC 블록에 기록하도록 한 것이다.
이로써, 초기시 이후의 기록시에 광 디스크에 대한 결함 대체 처리(교체 처리)를 행한 경우이더라도, 재생 속도의 저하를 억제할 수 있다.
즉, 종래와 같이, 섹터 단위의 교체 처리를 할 필요가 없어, 즉 1 ECC 블록의 재생 도중에 교체용 ECC 블록을 액세스하여, 다시 원래의 ECC 블록으로 되돌아가 재생을 계속할 필요가 없으므로, 실질적인 피해를 주지 않을 정도의 재생 속도를 확보할 수 있다.

Claims (54)

  1. 데이타가 기록되는 동심원형 혹은 스파이럴형의 트랙을 가지며, 소정의 긴 트랙으로 이루어지고, 또한 트랙상의 위치를 나타내는 어드레스 데이타가 기록되는 어드레스 영역과 기록 데이타가 기록되는 기록 영역을 포함하는 복수의 연속 섹터 영역을 복수개 갖는 포맷으로 정의되며,
    복수개의 섹터 영역 중의 소정수의 섹터 영역 군(群)으로 이루어지며, 이들 소정수의 섹터 영역에 기록되는 기록 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 데이타가 소정수의 섹터 영역 군에 대하여 일괄적으로 기록되는 에러 정정 데이타 기록 영역을 포함하는 블록 영역 단위로 기록이 이루어지는 광 디스크에 있어서,
    상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하며, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록할 때에, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 별도의 다음 섹터 영역에 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 어드레스 영역의 어드레스 데이타는 미리 기록되어 있으며, 재기록 할 수 없는 엠보스형의 핏으로 구성되고, 물리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 데이타 영역에 재기록 가능한 어드레스 데이타가 기록되며, 이 어드레스 데이타는 논리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 어드레스 영역에 기록되어 있는 어드레스 데이타는 재기록 할 수 없는 물리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 차례로 할당되어 있으며, 상기 데이타영역에 기록되는 어드레스 데이타는 재기록 가능한 논리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 할당되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 블록 영역은 각각 16개의 섹터 영역으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 광 디스크는 회전되어, 상기 광 디스크의 데이타 영역의 반경 방향을 따라 복수의 존으로 분할되며, 각 존마다 광 디스크의 회전수가 다른 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 각 존마다, 공(空) 섹터 영역이 준비되어, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰더라도, 상기 블록 영역을 소정수의 섹터 영역으로 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  8. 데이타가 기록되는 동심원형 혹은 스파이럴형의 트랙을 가지며, 소정의 긴 트랙으로 이루어고, 또한 트랙상의 위치를 나타내는 어드레스 데이타가 기록되는 어드레스 영역과 기록 데이타가 기록되는 기록 영역을 포함하는 복수의 연속 섹터 영역을 복수개 갖는 포맷으로 정의되며,
    복수개의 섹터 영역 중의 소정수의 섹터 영역 군으로 이루어지며, 이들 소정수의 섹터 영역에 기록되는 기록 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 데이타가 소정수의 섹터 영역 군에 대하여 일괄적으로 기록되는 에러 정정 데이타 기록 영역을 포함하는 블록 영역 단위로 기록이 이루어지는 광 디스크에 있어서,
    제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에 상기 광 디스크 전면의 각 섹터 영역의 데이타 영역에 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하며,
    상기 기록한 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 각 섹터 영역 단위로 재생하며,
    상기 재생한 기록 데이타와 에러 정정 데이타와 상기 기록한 기록 데이타와 에러 정정 데이타와의 비교에 의해, 결함이 있는 섹터 영역을 판단하며,
    상기 결함이 있다고 판단된 섹터 영역의 어드레스 데이타를 기록하며,
    상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하고, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록할 때에, 상기 기록되어 있는 어드레스 데이타에 근거하여 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 별도의 다음 섹터 영역에 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 어드레스 영역의 어드레스 데이타는 미리 기록되어 있고, 재기록 할 수 없는 엠보스형의 핏으로 구성되며, 물리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 데이타 영역에 재기록 가능한 어드레스 데이타가 기록되며, 이 어드레스 데이타는 논리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 어드레스 영역에 기록되어 있는 어드레스 데이타는 재기록 할 수 없는 물리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 차례로 할당되고 있고, 상기 데이타 영역에 기록되는 어드레스 데이타는 재기록 가능한 논리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 할당되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 블록 영역은 각각 16개의 섹터 영역으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  13. 제8항에 있어서,
    상기 광 디스크가 회전되어, 상기 광 디스크의 데이타 영역의 반경 방향을 따라 복수의 존으로 분할되며, 각 존마다 광 디스크의 회전수가 다른 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 각 존마다 공(空) 섹터 영역이 준비되어, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰더라도, 상기 블록 영역을 소정수의 섹터 영역으로 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  15. 제8항에 있어서,
    상기 결함이 있는 섹터 영역의 어드레스 데이타의 리스트가 기록되는 결함 리스트 기록 영역이 상기 광 디스크에 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  16. 데이타가 기록되는 동심원형 혹은 스파이럴형의 트랙을 가지며, 소정의 긴 트랙으로 이루어지고, 또한 트랙상의 위치를 나타내는 어드레스 데이타가 기록되는 어드레스 영역과 기록 데이타가 기록되는 기록 영역을 포함하는 복수의 연속 섹터 영역을 복수개 갖는 포맷으로 정의되며,
    복수개의 섹터 영역 중의 소정수의 섹터 영역 군으로 이루어지며, 이들 소정수의 섹터 영역에 기록되는 기록 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 데이타가 소정수의 섹터 영역 군에 대하여 일괄적으로 기록되는 에러 정정 데이타 기록 영역을 포함하는 블록 영역 단위로 기록이 이루어지는 광 디스크에 데이타를 기록하는 광 디스크 장치에 있어서,
    상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하며, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록할 때에, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 별도의 다음 섹터 영역에 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하는 기록 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 어드레스 영역의 어드레스 데이타는 미리 기록되어 있고, 재기록 할 수 없는 엠보스형의 핏으로 구성되며, 물리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  18. 제16항에 있어서,
    상기 데이타 영역에 재기록 가능한 어드레스 데이타가 기록되며, 이 어드레스 데이타는 논리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  19. 제16항에 있어서,
    상기 어드레스 영역에 기록되어 있는 어드레스 데이타는 재기록 할 수 없는 물리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 차례로 할당되어 있고, 상기 데이타 영역에 기록되는 어드레스 데이타는 재기록 가능한 논리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 할당되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  20. 제16항에 있어서,
    상기 블록 영역은 각각 16개의 섹터 영역으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  21. 제16항에 있어서,
    상기 광 디스크가 회전되어, 상기 광 디스크의 데이타 영역의 반경 방향을 따라 복수의 존으로 분할되며, 각 존마다 광 디스크의 회전수가 다른 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  22. 제21항에 있어서,
    상기 각 존마다 공 섹터 영역이 준비되어, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰더라도, 상기 볼록 영역을 소정수의 섹터 영역으로 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  23. 데이타가 기록되는 동심원형 혹은 스파이럴형의 트랙을 가지며, 소정의 긴 트랙으로 이루지고, 또한 트랙상의 위치를 나타내는 어드레스 데이타가 기록되는 어드레스 영역과 기록 데이타가 기록되는 기록 영역을 포함하는 복수의 연속 섹터 영역을 복수개 갖는 포맷으로 정의되며,
    복수개의 섹터 영역 중의 소정수의 섹터 영역 군으로 이루어지며, 이들 소정수의 섹터 영역에 기록되는 기록 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 데이타가 소정수의 섹터 영역 군에 대하여 일괄적으로 기록되는 에러 정정 데이타 기록 영역을 포함하는 블록 영역 단위로 기록이 이루어지는 광 디스크에 데이타를 기록하는 광 디스크 장치에 있어서,
    제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시에, 상기 광 디스크 전면의 각 섹터 영역의 데이타 영역에 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하는 제1 기록 수단과,
    상기 제1 기록 수단에 의해 기록된 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 각 섹터 영역 단위로 재생하는 재생 수단과,
    상기 재생 수단에 의해 재생된 기록 데이타와 에러 정정 데이타와 상기 제1 기록 수단에 의해 기록된 기록 데이타와 에러 정정 데이타와의 비교에 의해, 결함이 있는 섹터 영역을 판단하는 판단 수단과,
    상기 판단 수단에 의해 판단된 결함이 있는 섹터 영역의 어드레스 데이타를 기록하는 제2 기록 수단과,
    상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하며, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록할 때에, 상기 제2 기록 수단에 의해 기록되어 있는 어드레스 데이타에 근거하여 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 별도의 다음 섹터 영역에 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하는 제3 기록 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  24. 제23항에 있어서,
    상기 어드레스 영역의 어드레스 데이타는 미리 기록되어 있고, 재기록 할 수 없는 엠보스형의 핏으로 구성되며, 물리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  25. 제23항에 있어서,
    상기 데이타 영역에 재기록 가능한 어드레스 데이타가 기록되며, 이 어드레스 데이타는 논리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  26. 제23항에 있어서,
    상기 어드레스 영역에 기록되어 있는 어드레스 데이타는 재기록 할 수 없는 물리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 차례로 할당되어 있고, 상기 데이타 영역에 기록되는 어드레스 데이타는 재기록 가능한 논리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 할당되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  27. 제23항에 있어서,
    상기 블록 영역은 각각 16개의 섹터 영역으로 구성되어 있는 것을 특징으로하는 광 디스크 장치.
  28. 제23항에 있어서,
    상기 광 디스크가 회전되어, 상기 광 디스크의 데이타 영역의 반경 방향을 따라 복수의 존으로 분할되며, 각 존마다 광 디스크의 회전수가 다른 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  29. 제28항에 있어서,
    상기 각 존마다 공 섹터 영역이 준비되어, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰더라도, 상기 블록 영역을 소정수의 섹터 영역으로 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  30. 제23항에 있어서,
    상기 결함이 있는 섹터 영역의 어드레스 데이타의 리스트가 기록되는 결함 리스트 기록 영역이 상기 광 디스크에 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  31. 데이타가 기록되는 동심원형 혹은 스파이럴형의 트랙을 가지며, 소정의 긴 트랙으로 이루어지고, 또한 트랙상의 위치를 나타내는 어드레스 데이타가 기록되는 어드레스 영역과 기록 데이타가 기록되는 기록 영역을 포함하는 복수의 연속 섹터 영역을 복수개 갖는 포맷으로 정의되며,
    복수개의 섹터 영역 중의 소정수의 섹터 영역 군으로 이루어지며, 이들 소정수의 섹터 영역에 기록되는 기록 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 데이타가 소정수의 섹터 영역 군에 대하여 일괄적으로 기록되는 에러 정정 데이타 기록 영역을 포함하는 블록 영역 단위로 기록이 이루어지는 광 디스크에 기록되어 있는 데이타를 재생하는 광 디스크 장치에 있어서,
    결함이 있는 섹터 영역의 어드레스 데이타를 기록하고 있는 기록 수단과,
    상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에서 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 재생하고, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 재생할 때에, 상기 기록 수단에 의해 기록되어 있는 어드레스 데이타에 근거하여 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 별도의 다음 섹터 영역의 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 재생하는 재생 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  32. 제31항에 있어서,
    상기 어드레스 영역의 어드레스 데이타는 미리 기록되어 있으며, 재기록 할 수 없는 엠보스형의 핏으로 구성되고, 물리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  33. 제31항에 있어서,
    상기 데이타 영역에 재기록 가능한 어드레스 데이타가 기록되며, 이 어드레스 데이타는 논리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  34. 제31항에 있어서,
    상기 어드레스 영역에 기록되어 있는 어드레스 데이타는 재기록 할 수 없는 물리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 차례로 할당되어 있고, 상기 데이타 영역에 기록되는 어드레스 데이타는 재기록 가능한 논리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 할당되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  35. 제31항에 있어서,
    상기 블록 영역은 각각 16개의 섹터 영역으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  36. 제31항에 있어서,
    상기 광 디스크가 회전되어, 상기 광 디스크의 데이타 영역의 반경 방향을 따라 복수의 존으로 분할되며, 각 존마다 광 디스크의 회전수가 다른 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  37. 제36항에 있어서,
    상기 각 존마다 공 섹터 영역이 준비되어, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰더라도, 상기 블록 영역을 소정수의 섹터 영역으로 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  38. 제31항에 있어서,
    상기 결함이 있는 섹터 영역의 어드레스 데이타의 리스트가 기록되는 결함 리스트 기록 영역이 상기 광 디스크에 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  39. 데이타가 기록되는 동심원형 혹은 스파이럴형의 트랙을 가지며, 소정의 긴 트랙으로 이루어지고, 또한 트랙상의 위치를 나타내는 어드레스 데이타가 기록되는 어드레스 영역과 기록 데이타가 기록되는 기록 영역을 포함하는 복수의 연속 섹터 영역을 복수개 갖는 포맷으로 정의되며,
    복수개의 섹터 영역 중의 소정수의 섹터 영역 군으로 이루어지며, 이들 소정수의 섹터 영역에 기록되는 기록 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 데이타가 소정수의 섹터 영역 군에 대하여 일괄적으로 기록되는 에러 정정 데이타 기록 영역을 포함하는 블록 영역 단위로 기록이 이루어지는 광 디스크에 있어서,
    제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시, 상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하고, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록할 때에, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 별도의 다음 섹터 영역에 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하며,
    상기 초기시 이 외에, 상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하고, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하며,
    상기 블록 영역마다의 각 섹터 영역에 기록한 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 재생하며,
    상기 재생한 기록 데이타와 에러 정정 데이타와 상기 기록한 기록 데이타와 에러 정정 데이타와의 비교에 의해, 결함이 있는 섹터 영역을 갖는 블록 영역을 판단하며,
    상기 판단에 의해 결함이 있는 섹터 영역을 갖는 1블록 영역내에 기록해야 할 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 별도의 블록 영역에 기록하는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  40. 제39항에 있어서,
    상기 어드레스 영역의 어드레스 데이타는 미리 기록되어 있으며, 재기록 할 수 없는 엠보스형의 핏으로 구성되고, 물리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  41. 제39항에 있어서,
    상기 데이타 영역에 재기록 가능한 어드레스 데이타가 기록되며, 이 어드레스 데이타는 논리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  42. 제39항에 있어서,
    상기 어드레스 영역에 기록되어 있는 어드레스 데이타는 재기록 할 수 없는 물리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 차례로 할당되어 있으며, 상기 데이타 영역에 기록되는 어드레스 데이타는 재기록 가능한 논리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 할당되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  43. 제39항에 있어서,
    상기 블록 영역은 각각 16개의 섹터 영역으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  44. 제39항에 있어서,
    상기 광 디스크가 회전되어, 상기 광 디스크의 데이타 영역의 반경 방향을 따라 복수의 존으로 분할되며, 각 존마다 광 디스크의 회전수가 다른 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  45. 제44항에 있어서,
    상기 각 존마다 공 섹터 영역이 준비되어, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰더라도, 상기 블록 영역을 소정수의 섹터 영역으로 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  46. 제39항에 있어서,
    상기 초기 결함이 있는 섹터 영역의 어드레스 데이타의 리스트가 기록되는 초기 결함 리스트 기록 영역과, 상기 2차 결함이 있는 섹터 영역을 갖는 블록 영역의 선두 섹터 영역의 어드레스 데이타와 상기 별도의 블록 영역의 선두 섹터 영역의 어드레스 데이타가 기록되는 2차 결함 리스트 기록 영역이 상기 광 디스크에 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 교체 처리 방법.
  47. 데이타가 기록되는 동심원형 혹은 스파이럴형의 트랙을 가지며, 소정의 긴 트랙으로 이루어지고, 또한 트랙상의 위치를 나타내는 어드레스 데이타가 기록되는 어드레스 영역과 기록 데이타가 기록되는 기록 영역을 포함하는 복수의 연속 섹터 영역을 복수개 갖는 포맷으로 정의되며,
    복수개의 섹터 영역 중의 소정수의 섹터 영역 군으로 이루어지며, 이들 소정수의 섹터 영역에 기록되는 기록 데이타를 재생하기 위한 에러 정정 데이타가 소정수의 섹터 영역 군에 대하여 일괄적으로 기록되는 에러 정정 데이타 기록 영역을 포함하는 블록 영역 단위로 기록이 이루어지는 광 디스크에 데이타를 기록하는 광 디스크 장치에 있어서,
    제조시 혹은 사용 개시시 등의 초기시, 상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하고, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록할 때에, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 별도의 다음 섹터 영역에 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하는 제1 기록 수단과,
    상기 초기시 이외에, 상기 광 디스크상의 복수의 연속하는 블록 영역에 연속적으로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하며, 또 각 블록 영역내의 복수의 섹터 영역에 차례로 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 기록하는 제2 기록 수단과,
    상기 블록 영역마다의 각 섹터 영역에 기록한 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 재생하는 재생 수단과,
    상기 재생 수단에 의해 재생된 기록 데이타와 에러 정정 데이타와 상기 기록한 기록 데이타와 에러 정정 데이타와의 비교에 의해, 결함이 있는 섹터 영역을 갖는 블록 영역을 판단하는 판단 수단과,
    상기 판단 수단에 의해 판단되는 결함이 있는 섹터 영역을 갖는 1블록 영역내에 기록해야 할 기록 데이타와 에러 정정 데이타를 별도의 블록 영역에 기록하는 제3 기록 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  48. 제47항에 있어서,
    상기 어드레스 영역의 어드레스 데이타는 미리 기록되어 있고, 재기록 할 수 없는 엠보스형의 핏으로 구성되며, 물리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  49. 제47항에 있어서,
    상기 데이타 영역에 재기록 가능한 어드레스 데이타가 기록되며, 이 어드레스 데이타는 논리적인 어드레스인 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  50. 제47항에 있어서,
    상기 어드레스 영역에 기록되어 있는 어드레스 데이타는 재기록 할 수 없는 물리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 차례로 할당되어 있으며, 상기 데이타 영역에 기록되는 어드레스 데이타는 재기록 가능한 논리적인 어드레스로서, 상기 광 디스크상에 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰어 할당되어 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  51. 제47항에 있어서,
    상기 블록 영역은 각각 16개의 섹터 영역으로 구성되어 있는 것을 특징으로하는 광 디스크 장치.
  52. 제47항에 있어서,
    상기 광 디스크가 회전되어, 상기 광 디스크의 데이타 영역의 반경 방향을 따라 복수의 존으로 분할되며, 각 존마다 광 디스크의 회전수가 다른 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  53. 제52항에 있어서,
    상기 각 존마다 공 섹터 영역이 준비되어, 결함이 있는 섹터 영역을 섹터 영역 단위로 건너 뛰더라도, 상기 블록 영역을 소정수의 섹터 영역으로 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
  54. 제47항에 있어서,
    상기 초기 결함이 있는 섹터 영역의 어드레스 데이타의 리스트가 기록되는 초기 결함 리스트 기록 영역과, 상기 2차 결함이 있는 섹터 영역을 갖는 블록 영역의 선두 섹터 영역의 어드레스 데이타와 상기 별도의 블록 영역의 선두 섹터 영역의 어드레스 데이타가 기록되는 2차 결함 리스트 기록 영역이 상기 광 디스크에 있는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
KR1019970708325A 1996-03-25 1997-03-11 광 디스크의 교체 처리 방법 및 광 디스크 장치 KR100262805B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP96-68528 1996-03-25
JP8068528A JP2848809B2 (ja) 1996-03-25 1996-03-25 交替処理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990021851A KR19990021851A (ko) 1999-03-25
KR100262805B1 true KR100262805B1 (ko) 2000-08-01

Family

ID=13376330

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970708325A KR100262805B1 (ko) 1996-03-25 1997-03-11 광 디스크의 교체 처리 방법 및 광 디스크 장치

Country Status (20)

Country Link
US (3) US5805547A (ko)
EP (1) EP0798712B1 (ko)
JP (1) JP2848809B2 (ko)
KR (1) KR100262805B1 (ko)
CN (2) CN100533575C (ko)
AT (1) ATE194248T1 (ko)
AU (1) AU695695B2 (ko)
BR (1) BR9702185A (ko)
CA (1) CA2222007C (ko)
DE (1) DE69702361T2 (ko)
DK (1) DK0798712T3 (ko)
ES (1) ES2150160T3 (ko)
GR (1) GR3033812T3 (ko)
HK (1) HK1003521A1 (ko)
MX (1) MX9708786A (ko)
MY (1) MY119167A (ko)
NO (1) NO318718B1 (ko)
RU (1) RU2174716C2 (ko)
TW (1) TW392151B (ko)
WO (1) WO1997036296A1 (ko)

Families Citing this family (82)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1098524C (zh) 1996-03-18 2003-01-08 松下电器产业株式会社 圆盘状记录媒体的记录缺损替代方法及记录再生装置
USRE38706E1 (en) 1996-03-18 2005-02-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Recording defect substitution method of a disc-shaped recording medium, and a recording and reproducing apparatus for a disc-shaped recording medium
JP3113200B2 (ja) * 1996-03-25 2000-11-27 株式会社東芝 交替処理方法
JP3113201B2 (ja) * 1996-03-25 2000-11-27 株式会社東芝 交替処理方法
JPH09259537A (ja) * 1996-03-25 1997-10-03 Toshiba Corp 交替領域を持つ情報記録ディスク
CN1106641C (zh) * 1996-09-30 2003-04-23 松下电器产业株式会社 一种在盘上记录av数据的记录方法和信息处理***
DE69705073T2 (de) * 1996-10-07 2001-09-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optische Platte, Gerät dafür, und Verfahren zur Aufzeichnung auf eine optische Platte
DE69718211T2 (de) * 1996-10-23 2003-11-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optische Platte
US6119201A (en) 1997-02-19 2000-09-12 International Business Machines Corporation Disk under-run protection using formatted padding sectors
KR100239118B1 (ko) * 1997-05-21 2000-01-15 구자홍 가변 여유영역비율을 가지는 광디스크 및 광디스크상에 여유영역의 비율을 가변적으로 설정하는 방법
JP3707222B2 (ja) * 1997-12-18 2005-10-19 三菱電機株式会社 光ディスク、光ディスク処理装置および光ディスク処理方法
KR100267367B1 (ko) * 1997-12-31 2000-10-16 윤종용 디지털 비디오 디스크-램 시스템에서 디펙트 섹터 데이터의처리방법
JP4088998B2 (ja) 1998-02-16 2008-05-21 ソニー株式会社 光ディスクの記録/再生方法、光ディスク及び光ディスク装置
KR100292093B1 (ko) * 1998-03-02 2001-06-01 구자홍 기록매체의 결함영역 관리자료 생성방법 및 생성장치 그리고 이에 의한 광기록매체
SG103868A1 (en) * 1998-04-20 2004-05-26 Samsung Electronics Co Ltd Defect management method and method of recording data
JP3839959B2 (ja) * 1998-06-05 2006-11-01 パイオニア株式会社 情報再生装置、情報記録装置、情報再生方法及び情報記録方法
KR100429179B1 (ko) 1998-07-01 2004-06-16 엘지전자 주식회사 광기록매체의결함영역관리장치및그방법
KR100447157B1 (ko) * 1998-07-28 2004-10-14 엘지전자 주식회사 광기록매체및결함영역관리방법
ATE305166T1 (de) 1998-07-28 2005-10-15 Lg Electronics Inc Datenaufzeichnungsverfahren und gerät auf optischem aufzeichnungsmedium
KR100407931B1 (ko) * 1998-07-29 2004-03-30 엘지전자 주식회사 실시간기록/재생시의파일관리방법및실시간데이터기록방법및그광기록/재생매체
KR100539509B1 (ko) * 1998-08-17 2006-02-28 엘지전자 주식회사 데이터기록/재생시의결함영역관리방법
KR100459161B1 (ko) * 1998-11-20 2005-01-15 엘지전자 주식회사 광기록매체및광기록매체의스페어영역할당과결함영역관리방법
JP3243220B2 (ja) * 1998-09-14 2002-01-07 株式会社東芝 交替処理方法
US6697307B1 (en) 1998-10-10 2004-02-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for assigning spare areas for defect management and apparatus for handling fragmented ECC blocks
KR100677066B1 (ko) 1998-10-10 2007-02-01 삼성전자주식회사 결함 관리를 위한 여유 공간을 갖는 디스크와 여유 공간 할당 방법
US6408408B1 (en) 1998-11-10 2002-06-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Recording medium having spare area for defect management and information on defect management, and method of allocating spare area and method of managing defects
KR100667729B1 (ko) * 1998-11-10 2007-01-11 삼성전자주식회사 결함 관리를 위한 여유 공간과 그 관리 정보를 갖는 디스크, 여유 공간 할당 방법과 결함 관리 방법
US6658588B1 (en) * 1998-12-30 2003-12-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Recording medium for storing start position information for each zone and method and apparatus of managing data using the information
US6160778A (en) 1999-03-08 2000-12-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Information recording medium, information recording method, information recording apparatus and information reproducing apparatus
KR100544175B1 (ko) 1999-05-08 2006-01-23 삼성전자주식회사 링킹 타입 정보를 저장하는 기록 매체와 결함 영역 처리 방법
KR100611953B1 (ko) 1999-07-07 2006-08-11 삼성전자주식회사 기본 단위 속성 정보를 저장하는 기록 매체와 이 속성 정보를 이용한 데이터 판별 방법
DE60118105T2 (de) * 2000-01-14 2006-08-31 Pioneer Corp. Beschreibbare optische Platte und Aufzeichnungsverfahren
KR100647368B1 (ko) * 2000-01-26 2006-11-17 엘지전자 주식회사 광기록매체의 포맷팅 방법
JP2003536194A (ja) * 2000-06-06 2003-12-02 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 記録媒体のようなディスクに対するファイルの即時書き込み又は読み取り方法
US6973014B1 (en) * 2000-07-11 2005-12-06 Sonic Solutions Methods for optical disc sector verification
JP2002150699A (ja) * 2000-11-06 2002-05-24 Sony Corp 情報処理装置、情報処理方法及び情報処理方法を記録した記録媒体
KR100374606B1 (ko) * 2000-11-20 2003-03-04 삼성전자주식회사 링크 정보를 저장하는 기록매체, 데이터 링크 장치 및 방법
KR100746399B1 (ko) * 2001-03-08 2007-08-03 엘지전자 주식회사 결함 디스크에서의 데이터 기록방법
WO2003014732A1 (en) * 2001-08-10 2003-02-20 Symyx Technologies, Inc. Apparatuses and methods for creating and testing pre-formulations and systems for same
HUP0500600A2 (hu) * 2001-12-20 2005-09-28 Koninklijke Philips Electronics N.V. Rögzítési közeg, valamint eljárás és berendezés valós idejű fájlok allokációjának kezelésére a rögzítési közegen
KR100761235B1 (ko) 2002-01-22 2007-10-04 노드슨 코포레이션 액체 스프레이 패턴 검출을 위한 방법 및 장치
AU2003201837A1 (en) * 2002-04-01 2003-10-23 Sony Corporation Storage medium and storage medium recording method
AU2003210026A1 (en) * 2002-05-20 2003-12-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of recording drive information on optical disc and optical disc having drive information recorded using the method
TW591615B (en) * 2002-06-25 2004-06-11 Mediatek Inc Method for accessing data of defect optical disk
EP1543414A2 (en) * 2002-08-29 2005-06-22 BAE SYSTEMS Information and Electronic Systems Integration, Inc. Mechanism for integrating programmable devices into software based frameworks for distributed computing
KR20040027259A (ko) * 2002-09-26 2004-04-01 엘지전자 주식회사 1 회 기록 가능한 광디스크의 디펙트 영역 관리방법
KR20040028469A (ko) 2002-09-30 2004-04-03 엘지전자 주식회사 1 회 기록 가능한 광디스크의 디펙트 영역 관리방법
US7233550B2 (en) 2002-09-30 2007-06-19 Lg Electronics Inc. Write-once optical disc, and method and apparatus for recording management information on write-once optical disc
JP3916546B2 (ja) * 2002-10-24 2007-05-16 パイオニア株式会社 再生専用の記録媒体
KR100464440B1 (ko) * 2002-11-25 2004-12-31 삼성전자주식회사 디스크 드라이브의 디펙트 처리 방법, 이에 적합한 기록매체 및 디스크 드라이브
AU2003282447B2 (en) 2002-12-11 2010-03-11 Lg Electronics Inc. Method of managing overwrite and method of recording management information on an optical disc write once
JP2004227685A (ja) * 2003-01-23 2004-08-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 記録媒体の管理情報訂正装置
TWI334595B (en) 2003-01-27 2010-12-11 Lg Electronics Inc Optical disc, method and apparatus for managing a defective area on an optical disc
TWI314315B (en) 2003-01-27 2009-09-01 Lg Electronics Inc Optical disc of write once type, method, and apparatus for managing defect information on the optical disc
US7499383B2 (en) * 2003-02-21 2009-03-03 Lg Electronics Inc. Write-once optical disc and method for managing spare area thereof
US7463562B2 (en) 2003-04-30 2008-12-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of recording temporary defect list on write-once recording medium, method of reproducing the temporary defect list, recording and/or reproducing apparatus, and the write-once recording medium
KR100677113B1 (ko) * 2003-04-30 2007-02-01 삼성전자주식회사 한번 기록 정보 저장 매체에 임시결함리스트 기록 방법,그 재생 방법, 그 기록 및/또는 재생 장치 및 그 한번기록 정보 저장 매체
KR100739674B1 (ko) * 2003-05-01 2007-07-13 삼성전자주식회사 결함 관리 방법, 그 장치 및 그 디스크
MXPA05012044A (es) 2003-05-09 2006-02-03 Lg Electronics Inc Disco optico de una sola escritura, metodo y aparato par recuperacion de informacion de administracion de disco del disco optico de una sola escritura.
TWI405191B (zh) 2003-05-09 2013-08-11 Lg Electronics Inc 單寫型光碟及由單寫型光碟回復碟片管理資訊的方法與裝置
WO2004114306A1 (en) 2003-06-23 2004-12-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for recording information
WO2004114301A2 (en) * 2003-06-26 2004-12-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method and recorder for reducing rejection of record carriers due to write errors
US8223607B2 (en) 2003-07-04 2012-07-17 Lg Electronics Inc. Method and apparatus for managing a overwrite recording on optical disc write once
US20060230328A1 (en) * 2003-07-17 2006-10-12 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for recording information
EP1649463A1 (en) * 2003-07-17 2006-04-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for recording information with reorganization of defect management information
KR101083096B1 (ko) * 2003-07-17 2011-11-16 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 정보 기록 장치 및 방법
US7313065B2 (en) 2003-08-05 2007-12-25 Lg Electronics Inc. Write-once optical disc, and method and apparatus for recording/reproducing management information on/from optical disc
JP3913215B2 (ja) * 2003-12-26 2007-05-09 キヤノン株式会社 記録再生装置、情報記録再生システム、情報記録再生方法、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体
CN101312064B (zh) * 2004-01-05 2010-12-08 三星电子株式会社 在光学记录介质上记录数据和/或再现数据的设备
KR100739679B1 (ko) * 2004-01-05 2007-07-13 삼성전자주식회사 광 기록 정보 저장 매체 및 결함 관리 장치
WO2005088593A1 (en) * 2004-03-10 2005-09-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. An active matrix display with reduction of power onsumption
TWI262490B (en) * 2004-05-26 2006-09-21 Lite On It Corp Method for determining defect block and writing method capable of steering clear of defect block
KR101014727B1 (ko) 2004-06-23 2011-02-16 엘지전자 주식회사 1회 기록 가능한 광디스크의 중첩 기록 방법 및 장치
JP2006107622A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Toshiba Corp ライトワンスメディアへの記録方法、記録装置および再生装置
KR20060040525A (ko) * 2004-11-06 2006-05-10 삼성전자주식회사 정보 저장 매체, 기록/재생 장치 및 기록/재생 방법
CN1855274B (zh) * 2005-04-26 2010-05-05 瑞昱半导体股份有限公司 光盘片缺陷管理装置及方法
KR100925523B1 (ko) * 2007-11-02 2009-11-06 한양대학교 산학협력단 저장 장치의 오류 발생 방법 및 오류 발생 위치의 선택방법
KR102031191B1 (ko) 2013-04-17 2019-10-11 에스케이하이닉스 주식회사 비휘발성 메모리 및 이의 부트업 동작 방법
JP6693181B2 (ja) 2016-03-09 2020-05-13 富士通株式会社 ストレージ制御装置、ストレージ制御方法、およびストレージ制御プログラム
JP2019139828A (ja) * 2018-02-15 2019-08-22 株式会社東芝 欠陥登録方法
JP2019164853A (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 株式会社東芝 ディスク装置およびメディアスキャン方法
JP2019164869A (ja) * 2018-03-20 2019-09-26 株式会社東芝 磁気ディスク装置及びリード処理方法

Family Cites Families (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4949326A (en) * 1986-12-10 1990-08-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical information recording and reproducing system using optical disks having an error correction function
US4791622A (en) * 1983-09-19 1988-12-13 Storage Technology Partners 11 Optical data format employing resynchronizable data sectors
GB2146812A (en) * 1983-09-19 1985-04-24 Storage Technology Corp Optical storage system
JPS60202573A (ja) * 1984-03-28 1985-10-14 Mitsubishi Electric Corp 光デイスクの再記録制御方式
JPS61168131A (ja) * 1985-01-21 1986-07-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光情報記録再生装置
US4841498A (en) * 1985-03-11 1989-06-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Information recording/reproducing apparatus with means for substituting predetermined good sectors for defective ones
JPS61208673A (ja) * 1985-03-12 1986-09-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録再生装置
JPH0740363B2 (ja) * 1985-03-20 1995-05-01 株式会社日立製作所 光学的記録再生装置
JPH0756734B2 (ja) * 1985-05-27 1995-06-14 松下電器産業株式会社 情報記録再生装置
JPS6220141A (ja) * 1985-07-18 1987-01-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光情報記録媒体
JPS62102482A (ja) * 1985-10-28 1987-05-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録再生装置
JP2590071B2 (ja) * 1986-08-29 1997-03-12 株式会社東芝 情報処理装置
JPH01140476A (ja) * 1987-11-27 1989-06-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 検査語生成方法
JPH0223417A (ja) * 1988-07-13 1990-01-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録方式と情報記録媒体
JP2651612B2 (ja) * 1988-11-22 1997-09-10 キヤノン株式会社 情報記録再生装置の管理方法
US5343453A (en) * 1988-12-01 1994-08-30 Canon Kabushiki Kaisha Method for accessing desired track on disk with plurality of recording zones with head, and apparatus therefore
US4935825A (en) * 1988-12-16 1990-06-19 Emulex Corporation Cylinder defect management system for data storage system
US5130969A (en) * 1989-02-15 1992-07-14 Sony Corporation Apparatus having defective sector compensation coupled with analog information mode and digital information mode recording/reproducing capability
JP2848528B2 (ja) * 1989-02-16 1999-01-20 オリンパス光学工業株式会社 光ディスクドライブ装置
JPH03116583A (ja) * 1989-09-29 1991-05-17 Toshiba Corp 光ディスク装置
JPH03205661A (ja) * 1990-01-08 1991-09-09 Hitachi Ltd 交替処理方式およびデータ記録再生装置
JPH03219465A (ja) * 1990-01-23 1991-09-26 Sharp Corp データ記録方法
US5271018A (en) * 1990-04-27 1993-12-14 Next, Inc. Method and apparatus for media defect management and media addressing
JPH0423273A (ja) * 1990-05-17 1992-01-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ディスク記録再生装置
JPH0428061A (ja) * 1990-05-24 1992-01-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録媒体と情報記録再生装置
JP2776006B2 (ja) * 1990-07-06 1998-07-16 松下電器産業株式会社 情報記録再生装置
US5319626A (en) * 1990-08-27 1994-06-07 Mitsubishi Electric Corporation Method for rewriting defect management areas on optical disk according to ECMA standard
US5233584A (en) * 1990-09-04 1993-08-03 International Business Machines Corporation Optical disk device using high and low data-sensing criteria plus device recalibration for error control
JP2553751B2 (ja) * 1990-10-03 1996-11-13 北海道日本電気ソフトウェア株式会社 ディスクセクタ代替方式
JPH04172662A (ja) * 1990-11-05 1992-06-19 Matsushita Graphic Commun Syst Inc 記憶媒体欠陥管理方法
JP3137346B2 (ja) * 1991-01-18 2001-02-19 松下電器産業株式会社 フレキシブル磁気ディスク装置
JP2625609B2 (ja) * 1991-07-10 1997-07-02 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション ディスク記憶装置
JPH0536210A (ja) * 1991-07-31 1993-02-12 Teac Corp 光デイスクのアクセス方法
US5303219A (en) * 1991-09-09 1994-04-12 International Business Machines Corporation Reclamation of dust contaminated sectors in optical disk apparatus
US5235585A (en) * 1991-09-11 1993-08-10 International Business Machines Reassigning defective sectors on a disk
EP0532356B1 (en) * 1991-09-13 2000-03-08 Canon Kabushiki Kaisha Method of recording data and information regarding defects
JPH05114247A (ja) * 1991-10-19 1993-05-07 Ricoh Co Ltd 光磁気デイスク装置
JPH05128734A (ja) * 1991-10-30 1993-05-25 Tosoh Corp 光磁気デイスク装置のデータ記録/再生方法
US5319627A (en) * 1991-11-04 1994-06-07 Matsushita Graphic Communication System, Inc. Method for managing a defect in an optical disk by assigning logical addresses based upon cumulative number of defects in the disk
US5553045A (en) * 1992-07-31 1996-09-03 Sony Corporation Disk recording method and apparatus for indentifying and skipping defective clusters
JPH06111479A (ja) * 1992-10-01 1994-04-22 Nikon Corp 情報記録再生装置
JP3151985B2 (ja) * 1993-01-06 2001-04-03 日本電気株式会社 光磁気ディスク制御装置
JPH06243591A (ja) * 1993-02-16 1994-09-02 Ricoh Co Ltd 光磁気ディスク装置の制御方法
DE69424078T2 (de) * 1993-02-19 2000-10-05 Canon Kk Datenwiedergabeverfahren und Datenwiedergabegerät
JP3427410B2 (ja) * 1993-02-24 2003-07-14 ソニー株式会社 光ディスク記録装置および光ディスク再生装置
JPH06251371A (ja) * 1993-02-26 1994-09-09 Sony Corp ディスク状媒体の欠陥位置指示信号記録装置
JPH06259886A (ja) * 1993-03-09 1994-09-16 Sony Corp 光磁気ディスク及び光磁気ディスク記録再生装置
JPH06349206A (ja) * 1993-06-07 1994-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd ディスク記録再生方法およびディスク記録再生装置
JP3453843B2 (ja) * 1993-06-08 2003-10-06 ソニー株式会社 ディスク装置
JPH0773602A (ja) * 1993-09-02 1995-03-17 Fujitsu Ltd 光ディスク装置
US5541903A (en) * 1993-10-21 1996-07-30 Sony Corporation System for accessing a disc drive with defect information
US5418767A (en) * 1993-10-28 1995-05-23 International Business Machines Corporation Detection of overusage of spare sectors in an optical disk
JPH07319636A (ja) * 1994-05-27 1995-12-08 Fuji Xerox Co Ltd 磁気ディスクのデータ格納制御装置
JP3338196B2 (ja) * 1994-09-01 2002-10-28 株式会社東芝 光ディスク装置
MY112041A (en) * 1995-04-21 2001-03-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd A method for managing defects in an information recording medium, and a device and information recording medium using said method
JP3029400B2 (ja) * 1996-03-25 2000-04-04 株式会社東芝 交替処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0798712B1 (en) 2000-06-28
TW392151B (en) 2000-06-01
NO975381L (no) 1998-01-23
AU695695B2 (en) 1998-08-20
US5956309A (en) 1999-09-21
AU2233697A (en) 1997-10-17
CA2222007C (en) 2006-06-06
KR19990021851A (ko) 1999-03-25
HK1003521A1 (en) 1998-10-30
CN100533575C (zh) 2009-08-26
NO318718B1 (no) 2005-05-02
BR9702185A (pt) 1999-03-16
JPH09259538A (ja) 1997-10-03
DE69702361T2 (de) 2001-01-04
DE69702361D1 (de) 2000-08-03
RU2174716C2 (ru) 2001-10-10
US6031804A (en) 2000-02-29
MX9708786A (es) 1998-02-28
WO1997036296A1 (fr) 1997-10-02
CN1975904A (zh) 2007-06-06
CN1183161A (zh) 1998-05-27
EP0798712A3 (en) 1998-09-30
GR3033812T3 (en) 2000-10-31
US5805547A (en) 1998-09-08
EP0798712A2 (en) 1997-10-01
NO975381D0 (no) 1997-11-24
DK0798712T3 (da) 2000-09-11
ES2150160T3 (es) 2000-11-16
ATE194248T1 (de) 2000-07-15
MY119167A (en) 2005-04-30
CA2222007A1 (en) 1997-10-02
JP2848809B2 (ja) 1999-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100262805B1 (ko) 광 디스크의 교체 처리 방법 및 광 디스크 장치
KR100262470B1 (ko) 광디스크 장치 및 교체 처리 방법
KR100262469B1 (ko) 광디스크 장치 및 교체 처리 방법
KR100262473B1 (ko) 광디스크 장치 및 교체 처리 방법
KR100301191B1 (ko) 광디스크의결함영역의교체처리방법및광디스크장치
JP4917160B2 (ja) 光ディスクおよびその記録方法
KR100464999B1 (ko) 리라이터블디스크및이디스크에데이터를기록하기위한장치
MXPA97008786A (en) Optical disk device and processing method of reposition for an opt disk
JP2004030848A (ja) 光学式記録媒体及び情報処理装置
JPH07262566A (ja) 光ディスクと光ディスク装置
JP3092707B2 (ja) 光ディスク
JP3959149B2 (ja) 光ディスク、光ディスク再生装置、光ディスク再生方法、及び光ディスク記録方法
JP3908347B2 (ja) 光ディスク再生装置及び光ディスク再生方法
JP4271442B2 (ja) 光学的な型式の記録担体並びに斯かる記録担体に使用する記録及び/又は再生のための装置
JP3092708B2 (ja) 光ディスク
JP2002319246A (ja) 記録媒体、及びその製造装置、製造方法、記録再生装置並びに再生方法
JP3959148B2 (ja) 光ディスク、光ディスク再生装置、光ディスク再生方法、及び光ディスク記録方法
JPH1139802A (ja) 光ディスクと光ディスクの原盤製造装置と光ディスク装置
JPH1153738A (ja) 光ディスク装置
JPH1153737A (ja) 光ディスク装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment
FPAY Annual fee payment
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160404

Year of fee payment: 17

EXPY Expiration of term