KR0172380B1 - 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼 - Google Patents

반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼 Download PDF

Info

Publication number
KR0172380B1
KR0172380B1 KR1019950016175A KR19950016175A KR0172380B1 KR 0172380 B1 KR0172380 B1 KR 0172380B1 KR 1019950016175 A KR1019950016175 A KR 1019950016175A KR 19950016175 A KR19950016175 A KR 19950016175A KR 0172380 B1 KR0172380 B1 KR 0172380B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
transistor
pull
output buffer
data output
Prior art date
Application number
KR1019950016175A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970003400A (ko
Inventor
최훈
Original Assignee
김광호
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950016175A priority Critical patent/KR0172380B1/ko
Priority to US08/668,094 priority patent/US5786711A/en
Priority to JP8155538A priority patent/JPH097374A/ja
Publication of KR970003400A publication Critical patent/KR970003400A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0172380B1 publication Critical patent/KR0172380B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0008Arrangements for reducing power consumption
    • H03K19/0016Arrangements for reducing power consumption by using a control or a clock signal, e.g. in order to apply power supply

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

[청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술분야]
반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼.
[발명이 해결하려고 하는 기술적 과제]
승압하는 데 걸리는 시간이 늦어 고속의 출력동작에 장애가 되는 문제 및 펌핑전압단자에서 부담하는 전력소모가 큰 문제를 해결하고자 함.
[발명의 해결방법의 요지]
데이터 비트를 입력하여 풀업 트랜지스터의 게이트단자를 미리 프리차아지하고 레벨시프터에서 최종적인 승압전압레벨을 만들어줌으로써 상기 펌핑전압발생기에서 부담하는 전력이 적어지고 이에 따라 승압전압레벨이 신속하게 얻어짐.
[발명의 중요한 용도]
고속으로 데이터 출력을 하는 반도체 메모리장치.

Description

반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼
제1도는 종래 기술에 따른 데이터 출력버퍼의 회로도.
제2도는 종래 기술에 따른 또 다른 데이터 출력버퍼의 회로도.
제3도는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 출력버퍼의 회로도.
제4도는 제3도를 구성하는 데이터 출력용 펌핑전압발생기의 회로도.
제5도는 제3도에 있는 DOK노드의 전압변화파형도.
본 발명은 반도체 메모리장치에 관한 것으로, 특히 메모리셀에서 독출된 데이터정보를 칩외부로 전송하기 위한 데이터 출력버퍼에 관한 것이다.
현재의 메모리의 발전방향은 고집적화, 저전력화, 고속화되어 가고 있으며 시스템의 성능향상을 위해서 저전력화와 고속화의 중요성이 더욱 부각되고 있다. 엔모오스타입의 데이터 출력드라이버를 사용하는 메모리에서는 만족할만한 시간 내에 적정수준의 전압레벨을 확보한 출력데이터를 얻기 위하여 상기 엔모오스타입의 풀업 트랜지스터의 게이트노드(이하 DOK라고 함)의 전압을 상승시키는 부스팅회로가 도입되었다. 따라서 종래 회로에서 상기 DOK노드를 부스팅하는 시간만큼의 스피드손실이 발생하게 되고 저전원전압으로 갈수록 부스팅전압이 낮아지게 되어 만족할 만한 전압레벨을 확보한 출력데이터를 얻기도 힘들어지게 된다. 또한 데이터 천이가 고속으로 이루어지는 현재의 고속동작용 반도체 메모리에서 적정 부스팅전압을 얻기 위하여 요구되는 프리차아지시간 및 부스팅시간이 짧아지게 되어 부스팅효울이 떨어지게 되는 단점이 발생하게 된다. 또 상기 메모리장치가 고속화될수록 모오스 캐패시터의 물리적인 한계에 접근하게 되면 상기 모오스 캐패시터의 크기가 줄어든것처럼 보이게 되어 부스팅효과를 충분히 살리지 못하게 된다. 그리고 부스팅에 의하여 상기 DOK노드를 0볼트에서 전원전압 VCC레벨이상의 전압으로 승압시키는 방법을 사용함으로써 전력소모가 커지는 문제점을 갖게 된다.
제1도는 종래에 사용된 데이터 출력버퍼의 회로구성을 보여주는 회로도이다.
제1도를 참조하면, 데이터 비트 DB는 인버터(12)의 입력단 및 인버터(22)의 입력단에 공통으로 접속된다. 상기 인버터(12)의 출력단은 인버터(14)의 입력단과 피모오스 트랜지스터(20)의 게이트에 공통으로 접속된다. 상기 인버터(14)의 출력단은 캐패시터(16)의 입력단에 접속된다. 엔모오스 트랜지스터(18)는 게이트와 드레인이 전원전압단자 VCC에 다이오드 접속되고 소오스가 상기 피모오스 트랜지스터(20)의 소오스와 접속된다. 상기 엔모오스 트랜지스터(18)와 피모오스 트랜지스터(20)사이의 노드 N4에는 상기 캐패시터(16)의 출력단이 접속된다. 상기 인버터(22)의 출력단은 엔모오스 트랜지스터(24)의 게이트와 접속된다. 상기 피모오스 트랜지스터(20)의 드레인은 상기 엔모오스 트랜지스터(24)의 드레인과 접속되고 상기 엔모오스 트랜지스터(24)의 소오스는 접지전압단자 VSS에 접속된다. 상기 피모오스 트랜지스터(20)와 엔모오스 트랜지스터(24)사이의 노드 N5는 풀업 트랜지스터, 예컨대 엔모오스 트랜지스터(26)의 게이트에 접속되고 상기 엔모오스 트랜지스터(26)는 드레인이 전원전압단자 VCC에 접속되고 소오스가 풀다운 트랜지스터, 예컨대 엔모오스 트랜지스터(32)의 드레인과 접속된다. 반전데이터비트 DB는 인버터(28)의 입력단과 접속되고 상기 인버터(28)의 출력단은 인버터(30)의 입력단과 접속된다. 상기 인버터(30)의 출력단은 엔모오스 트랜지스터(32)의 게이트와 접속된다. 상기 엔모오스 트랜지스터들(26, 32)사이의 노드 N6은 출력라인 OUT와 접속된다.
이어서 종래 기술에 의한 데이터 출력버퍼의 동작이 설명된다.
상기 데이터 출력버퍼의 초기상태에서 노드 N4의 전압레벨은 다이오드접속된 엔모오스 트랜지스터(18)의 채널을 통과하는 전원전압 VCC에 의하여 VCC-Vtn(여기서 Vtn은 엔모오스 트랜지스터의 드레시홀드 전압이다.)레벨로 프리차아지된다. 이 상태에서 데이터 비트 DB가 '하이'상태로 입력되면, 상기 노드 N3은 캐패시터(16)의 커플링작동에 의하여 소정의 전압레벨로 부스팅(boosting)된다. 또 상기 데이터 비트 DB는 인버터(22)를 통하여 반전된 신호가 출력되므로 엔모오스 트랜지스터(24)는 비도통된다. 한편 반전데이터비트 DB는 인버터들(28, 30)을 경유하여 '로우'상태가 되므로 풀다운 트랜지스터(32)는 비도통된다. 이에 따라 상기 풀업 트랜지스터(26)는 도통되고 상기 풀다운 트랜지스터(32)는 비도통된다. 동시에 상기 풀업 트랜지스터(26)의 게이트에는 승압된 전압레벨이 전달되므로 충분히 도통된다. 이러한 과정을 거쳐 상기 출력라인 OUT으로는 상기 풀업 트랜지스터(26)의 드레인과 접속된 전원전압 VCC가 충분히 출력된다.
그런데 상기와 같은 종래의 데이터 출력버퍼는 하기의 문제점을 갖는다. 즉, 상기 데이터 출력버퍼를 구성하는 캐패시터의 작동으로 인한 승압동작에 따라 시간지연이 발생된다. 이는 데이터 출력버퍼의 고속동작을 저해하게 된다. 또 저전원전압레벨에서 희망하는 전압레벨로 부스팅이 되지 않으므로 상기 데이터 출력버퍼는 저전원전압레벨에서 오동작의 개연성이 발생된다. 이와 함께 상기 데이터 출력버퍼에서는 데이터의 출력동작시 구동전압을 승압하여 사용하므로 전력소비가 심하다.
제2도는 종래의 다른 실시예를 나타내는 데이터 출력버퍼의 회로도이다.
제2도를 참조하면, 데이터 비트 DB는 레벨시프터(50)의 입력단과 접속된다. 상기 레벨시프터(50)는 공지의 구성이므로 더 이상의 설명은 생략한다. 상기 레벨시프터(50)의 출력단은 풀업 트랜지스터의 게이트와 접속된다. 반전데이터비트 DB는 인버터(52)의 입력단과 접속되고 상기 인버터(52)의 출력단은 인버터(54)의 입력단과 접속된다. 풀업 트랜지스터(56)는 드레인이 전원전압단자 VCC에 접속되고 소오스가 풀다운 트랜지스터(58)의 드레인과 접속된다. 상기 풀다운 트랜지스터(58)의 소오스는 접지전압단자 VSS와 접속된다. 상기 풀다운 트랜지스터(58)의 게이트는 상기 인버터(54)의 출력단과 접속된다. 상기 풀업 트랜지스터(56)와 풀다운 트랜지스터(58)사이의 노드 N7에는 출력라인 OUT이 접속된다.
이어서 상기 제2도로 도시한 데이터 출력버퍼의 동작이 설명된다.
데이터 비트 DB가 '하이'인 경우 상기 레벨시프터(50)에서는 동위상의 승압된 전압이 출력되고 이러한 레벨시프터(50)의 출력은 풀업 트랜지스터(56)의 게이트로 전달된다. 또 반전데이터비트 DB는 '로우'이므로 인버터들(52, 54)을 경유하여 소정시간 지연된 후 풀다운 트랜지스터(58)의 게이트로 출력된다. 이에 따라 풀업 트랜지스터(56)는 충분히 도통되고 상기 풀다운 트랜지스터(58)는 비도통된다. 이러한 과정을 통하여 출력라인 OUT로 전원전압 VCC가 충분히 출력된다. 상기에서 레벨시프터(50)의 동작은 공지의 사항이고 입력신호와 동위상의 승압된 전압레벨이 출력된다.
상기 제2도와 같은 데이터 출력버퍼에서는 프리부스팅하므로 데이터 출력버퍼의 데이터 비트의 출력동작은 고속으로 수행된다. 그러나 풀업 트랜지스터(56)의 게이트로 전달되는 전압레벨이 0볼트에서 VPP전압레벨로 전압변환이 일어나고 데이터천이시 상기 VPP레벨은 방전되므로 전력소비가 심하다. 또 고속동작화될수록 데이터의 천이가 빠라져 펌핑전압의 공급이 고속으로 수행되어야 하는데 상기 풀업 트랜지스터(56)의 게이트단자를 프리차아지하는 시간 및 부스팅시간등이 부족하게 된다.
따라서 본 발명의 목적은 펌핑효율이 높은 데이터 출력버퍼를 제공하는데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 전력소비를 줄인 데이터 출력버퍼를 제공하는데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 반도체 메모리장치의 고속동작에 유리한 데이터 출력버퍼를 제공하는데 있다.
상기 본 발명의 목적들을 달성하기 위하여 본 발명에 따라, 풀업 트랜지스터와 풀다운 트랜지스터로 구성되는 출력드라이버를 구비하는 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼는, 데이터 비트와 상기 풀업 트랜지스터의 게이트단자사이에 접속되고 펌핑전압을 수신하여 상기 게이트단자에 상기 전원전압레벨보다 높은 승압된 전압레벨을 공급하기 위한 레벨시프터와, 내부클럭신호에 응답하여 펌핑동작을 위한 구동신호를 발생하는 클럭분주기와, 상기 클럭분주기의 상기 구동신호에 응답하여 상기 펌핑전압을 발생하고 그 전압을 상기 레벨시프터에 인가하는 펌핑전압발생기와, 상기 풀업 트랜지스터의 게이트단자를 고속으로 프리차아지하여 상기 펌핑전압의 펌핑부담을 줄이기 위해, 상기 데이터 비트의 레벨천이에 응답하여 전원전압레벨을 상기 게이트단자에 제공하는 프리차아지부를 구비함을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 이용하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다.
제3도는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 출력버퍼의 회로도이다.
제3도를 참조하면, 데이터 비트 DB는 레벨시프터(100)의 입력단과 접속된다. 상기 레벨시프터(100)의 출력단 DOK는 풀업 트랜지스터 예컨대, 엔모오스 트랜지스터(118)의 게이트와 접속된다. 상기 레벨시프터(100)의 출력단과 엔모오스 트랜지스터(118)의 게이트 사이의 일단에는 드레인이 전원전압단자 VCC와 접속되고 데이터 비트 DB가 게이트와 접속된 엔모오스 트랜지스터(112)의 소오스가 접속된다. 반전데이터 비트 DB는 인버터(114)의 입력단과 접속되고 상기 인버터(114)의 출력단은 인버터(116)의 입력단과 접속된다. 상기 인버터(116)의 출력단은 풀다운 트랜지스터 예컨대 엔모오스 트랜지스터(120)의 게이트와 접속되고 상기 풀다운 트랜지스터(120)의 드레인은 상기 풀업 트랜지스터(118)의 소오스와 접속된다. 상기 풀업 트랜지스터(118)의 드레인은 전원전압단자 VCC와 접속되고 상기 풀다운 트랜지스터(120)의 소오스는 접지전압단자 VSS와 접속된다. 상기 풀업 트랜지스터(118)의 소오스와 상기 풀다운 트랜지스터(120)의 드레인사이의 노드에는 출력라인 OUT가 접속된다. 상기 레벨시프터(100)의 구동전압단자로 공급되는 펌핑전압 VPP는 펌핑전압발생기(70)의 출력단에서 출력되고 상기 펌핑전압발생기(70)의 입력단에는 내부클럭신호 CLK를 입력하는 클럭분주기(80)의 출력단이 접속된다.
상기 클럭분주기(80)와 펌핑전압발생기(70)의 회로도는 당분야에 널리 알려져 있는데, 여기서 상기 펌핑전압발생기(70)의 회로도는 제4도에 나타내었다.
제4도를 참조하면, 클럭분주기의 출력단은 인버터(92)와 인버터(98)의 입력단과 공통으로 접속된다. 상기 인버터(98)의 출력단은 인버터(96)의 입력단과 접속되고 상기 인버터들(92, 96)의 출력단은 캐패시터(90, 94)의 입력단들과 각각 접속된다. 엔모오스 트랜지스터(82)는 전원전압단자 VCC에 다이오드접속되고 상기 엔모오스 트랜지스터(82)의 소오스는 상기 캐패시터(90)의 출력단과 접속되는 동시에 엔모오스 트랜지스터(86)의 드레인 및 게이트와 공통으로 접속된다. 엔모오스 트랜지스터(84는) 전원전압단자 VCC와 다이오드접속되고 상기 엔모오스 트랜지스터(84)의 소오스는 상기 캐패시터(94)의 출력단과 접속되는 동시에 엔모오스 트랜지스터(88)의 드레인 및 게이트와 공통으로 접속된다. 상기 엔모오스 트랜지스터(86)의 소오스와 엔모오스 트랜지스터(88)의 드레인은 접속되고 상기 엔모오스 트랜지스터(88)의 소오스에서는 상기 제3도에 나타난 레벨시프터의 구동전압인 펌핑전압 VPP가 출력된다.
이어서 제4도로 도시한 회로의 동작이 설명된다. 초기상태에서 노드 N10과 노드 N11은 각각 VCC-Vtn레벨로 프리차아지된다. 이 상태에서 클럭분주기가 '하이'출력을 하는 경우 인버터(92)의 출력단과 인버터(96)의 출력단은 각각 '로우'와 '하이'레벨로 변환한다. 이에 따라 노드 N10은 전압강하를 일으키고 노드 N11의 전압은 상기 캐패시터(94)의 커플링작동에 의하여 소정의 전압레벨로 부스팅된다. 이는 곧 펌핑전압 VPP가 되고 제3도에 도시한 레벨시프터의 구동전압이 된다.
이상에서 서술한 바와 같이 상기 제3도의 회로에서 상기 제2도로 도시한 회로와 다른 점은 노드 DOK의 전압을 승압전압레벨로 부스팅하는데 이용하는 전압을 펌핑전압 VPP를 전적으로 사용하지 않고 소정의 전압레벨로 프리차아지함으로써 펌핑전압단자에서 공급되는 펌핑전압의 부담을 줄였다는데 그 특징이 있다. 나머지 회로동작은 제2도와 동일하다. 즉, 상기 제3도에서 풀업 트랜지스터(118)의 게이트단자 DOK는 드레인이 전원전압단자 VCC와 접속된 엔모오스 트랜지스터(112)의 채널을 통과하여 전달되는 전원전압에 의하여 소정의 전압레벨로 프리차아지 된다. 따라서 노드 DOK의 전압레벨은 0볼트에서 VPP전압레벨로 스윙하지 않고 소정의 프리차아지전압레벨(VCC-Vtn레벨이다)에서 VPP레벨로 변하게 되어 펌핑전압발생기에서 전달되는 전하의 양이 적어지므로 고속으로 노드 DOK를 원하는 전압레벨로 승압할 수 있게 된다. 이에 대한 사항이 제5도에 나타나 있다. 제5도의 구간 A가 프리차아지수단에서 노드 DOK의 전압레벨을 프리차아지하며 구간 B는 레벨시프터에서 노드 DOK의 전압레벨을 결정짓는 사항이 잘나타나 있다.
반도체 메모리장치가 고속동작화될수록 데이터 천이가 빨라지는데 이에 따라 부스팅회로의 주기가 빨라지게 되어 부스팅회로의 주기가 빨라지게 되어 부스팅회로에서 적정한 부스팅전압을 얻기 위해서 요구되는 프리차아지시간이 부족한 문제가 상기 프리차아지수단인 엔모오스 트랜지스터(112)를 통하여 전달되는 전원전압 VCC에 의해 해결된다. 상기 클럭분주기는 로우어드레스 스트로브신호나 컬럼어드레스 스트로브신호와 같은 외부제어신호에 동기되는 내부클럭 CLK를 입력으로 하여 최소한 이와 같거나 작은 주파수의 신호를 생성하게 된다. 본 발명에서는 상기 내부발생신호 CLK의 주파수를 2분주시키는 것으로 설정하는 경우에 대하여 설명한다. 이에 따라 상기 제3도의 노드 DOK가 2번 구동되면 펌핑전압발생기가 1번 구동된다. 예컨대 데이터의 출력이 10나노초 주기로 발생하면 종전에는 10나노초주기로 발생하면 종전에는 10나노초 주기로 VPP발생기가 동작하였으나 본 발명은 10나노초 주기로 데이터의 출력이 수행되더라도 데이터 출력버퍼용 VPP발생기는 20나노초 주기로 구동되는 방법을 적용하여 부스팅회로에서 적정한 부스팅전압을 얻기 위하여 요구되어지는 프리차아지시간, 부스팅시간등을 보장할 수 있게 된다. 이러한 회로는 전원전압레벨이 낮은 저전원전압레벨에서도 안정된 출력동작이 보장된다.

Claims (2)

  1. 풀업 트랜지스터와 풀다운 트랜지스터로 구성되는 출력드라이버를 구비하는 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼에 있어서, 데이터 비트와 상기 풀업 트랜지스터의 게이트단자사이에 접속되고 펌핑전압을 수신하여 상기 게이트단자에 상기 전원전압레벨보다 높은 승압된 전압레벨을 공급하기 위한 레벨시프터와, 내부클럭신호에 응답하여 펌핑동작을 위한 구동신호를 발생하는 클럭분주기와, 상기 클럭분주기의 상기 구동신호에 응답하여 상기 펌핑전압을 발생하고 그 전압을 상기 레벨시프터에 인가하는 펌핑전압발생기와, 상기 풀업 트랜지스터의 게이트단자를 고속으로 프리차아지하여 상기 펌핑전압의 펌핑부담을 줄이기 위해, 상기 데이터 비트의 레벨천이에 응답하여 전원전압레벨을 상기 게이트단자에 제공하는 프리차아지부를 구비함을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼.
  2. 제1항에 있어서, 상기 클럭분주기가 상기 내부클럭신호의 주파수의 반에 해당되는 주파수를 갖는 클럭신호를 발생함을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼.
KR1019950016175A 1995-06-17 1995-06-17 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼 KR0172380B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950016175A KR0172380B1 (ko) 1995-06-17 1995-06-17 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼
US08/668,094 US5786711A (en) 1995-06-17 1996-06-17 Data output buffer for use in a semiconductor memory device
JP8155538A JPH097374A (ja) 1995-06-17 1996-06-17 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950016175A KR0172380B1 (ko) 1995-06-17 1995-06-17 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970003400A KR970003400A (ko) 1997-01-28
KR0172380B1 true KR0172380B1 (ko) 1999-03-30

Family

ID=19417425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950016175A KR0172380B1 (ko) 1995-06-17 1995-06-17 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5786711A (ko)
JP (1) JPH097374A (ko)
KR (1) KR0172380B1 (ko)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100474755B1 (ko) * 2000-05-18 2005-03-08 엔이씨 일렉트로닉스 가부시키가이샤 출력 회로
US7391644B2 (en) 2005-11-30 2008-06-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Phase-changeable memory device and read method thereof
US7408817B2 (en) 2005-07-28 2008-08-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Voltage generating circuit, semiconductor memory device comprising the same, and voltage generating method
US7668007B2 (en) 2005-11-30 2010-02-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system including a resistance variable memory device
US7817479B2 (en) 2007-06-28 2010-10-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device using a variable resistive element and associated operating method
US8243542B2 (en) 2005-11-30 2012-08-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Resistance variable memory devices and read methods thereof

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09147598A (ja) * 1995-11-28 1997-06-06 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置およびアドレス変化検出回路
KR100425439B1 (ko) * 1997-06-02 2004-05-24 삼성전자주식회사 출력 버퍼의 내부 전원 제어방법
KR100298182B1 (ko) * 1997-06-24 2001-08-07 박종섭 반도체메모리소자의출력버퍼
KR100266650B1 (ko) * 1997-12-27 2000-09-15 김영환 반도체 소자의 내부전압 발생회로
JPH11214978A (ja) * 1998-01-26 1999-08-06 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US6181165B1 (en) * 1998-03-09 2001-01-30 Siemens Aktiengesellschaft Reduced voltage input/reduced voltage output tri-state buffers
US6020762A (en) * 1998-06-26 2000-02-01 Micron Technology, Inc. Digital voltage translator and its method of operation
US6141263A (en) * 1999-03-01 2000-10-31 Micron Technology, Inc. Circuit and method for a high data transfer rate output driver
US5986945A (en) * 1999-04-20 1999-11-16 Winbond Electronics Corporation Memory device output circuit having multiple operating modes
KR100352767B1 (ko) * 2000-07-19 2002-09-16 삼성전자 주식회사 고속 반도체 디바이스에 적합한 인터페이스 회로 및인터페이싱 방법
WO2002023717A2 (en) * 2000-09-11 2002-03-21 Broadcom Corporation Linear buffer
US6366124B1 (en) * 2001-05-16 2002-04-02 Pericom Semiconductor Corp. BiDirectional active voltage translator with bootstrap switches for mixed-supply VLSI
KR100833400B1 (ko) * 2001-12-15 2008-05-28 주식회사 하이닉스반도체 출력 버퍼
US7282981B2 (en) * 2002-11-06 2007-10-16 Nec Corporation Level conversion circuit with improved margin of level shift operation and level shifting delays
US7112995B2 (en) * 2003-08-22 2006-09-26 Idaho Research Foundation, Inc. Low voltage to high voltage level shifter and related methods
US7030654B2 (en) * 2003-08-22 2006-04-18 Idaho Research Foundation, Inc. Low voltage to extra high voltage level shifter and related methods
JP4457810B2 (ja) 2004-03-04 2010-04-28 富士電機システムズ株式会社 表示装置駆動回路
TWI306251B (en) * 2004-06-18 2009-02-11 Tian Holdings Llc System of sampleing interface for pick-up head
TWI303821B (en) * 2004-06-30 2008-12-01 Tian Holdings Llc System and circuit for the sampling interface of pick-up head
US7109755B2 (en) * 2004-10-27 2006-09-19 Intel Corporation Power delivery noise cancellation mechanism
TWI395404B (zh) * 2007-02-26 2013-05-01 Via Tech Inc 電壓位準轉換電路
US7859320B2 (en) * 2008-03-14 2010-12-28 Via Technologies, Inc. Level shifter and level shifting method
US9515660B1 (en) * 2015-09-02 2016-12-06 Qualcomm Incorporated Single-ended contention-free wide operating range level voltage shifter with built-in voltage boosting and down-stepping assisting circuitry
US10115450B1 (en) * 2017-06-08 2018-10-30 International Business Machines Corporation Cascode complimentary dual level shifter
US10784776B2 (en) * 2018-09-10 2020-09-22 Texas Instruments Incorporated Self-boost isolation device
JP6781301B1 (ja) * 2019-06-17 2020-11-04 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体記憶装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03207097A (ja) * 1990-01-08 1991-09-10 Nec Corp マイクロコンピュータ
US5144165A (en) * 1990-12-14 1992-09-01 International Business Machines Corporation CMOS off-chip driver circuits
US5128560A (en) * 1991-03-22 1992-07-07 Micron Technology, Inc. Boosted supply output driver circuit for driving an all N-channel output stage
KR950000496B1 (ko) * 1992-01-30 1995-01-24 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치의 데이타 출력회로
JPH05266665A (ja) * 1992-03-18 1993-10-15 Hitachi Ltd 出力バッファ回路及びレベル変換回路並びにプリチャージ回路それに半導体記憶装置
FR2691307A1 (fr) * 1992-05-18 1993-11-19 Lausanne Ecole Polytechnique F Circuit intermédiaire entre un circuit logique à basse tension et un étage de sortie à haute tension réalisés dans une technologie CMOS standard.
JP3173247B2 (ja) * 1993-09-29 2001-06-04 ソニー株式会社 レベルシフタ
KR100307514B1 (ko) * 1994-07-30 2001-12-01 김영환 차지펌프회로
US5666070A (en) * 1995-05-10 1997-09-09 Micron Technology, Inc. Low power, high speed level shifter

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100474755B1 (ko) * 2000-05-18 2005-03-08 엔이씨 일렉트로닉스 가부시키가이샤 출력 회로
US7408817B2 (en) 2005-07-28 2008-08-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Voltage generating circuit, semiconductor memory device comprising the same, and voltage generating method
US7391644B2 (en) 2005-11-30 2008-06-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Phase-changeable memory device and read method thereof
US7668007B2 (en) 2005-11-30 2010-02-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system including a resistance variable memory device
US8243542B2 (en) 2005-11-30 2012-08-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Resistance variable memory devices and read methods thereof
US7817479B2 (en) 2007-06-28 2010-10-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device using a variable resistive element and associated operating method

Also Published As

Publication number Publication date
JPH097374A (ja) 1997-01-10
KR970003400A (ko) 1997-01-28
US5786711A (en) 1998-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0172380B1 (ko) 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼
KR960006373B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 워드라인 구동회로
US4862348A (en) Microcomputer having high-speed and low-speed operation modes for reading a memory
KR0172337B1 (ko) 반도체 메모리장치의 내부승압전원 발생회로
US5555526A (en) Synchronous semiconductor memory device having an auto-precharge function
JP3803144B2 (ja) 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ
US4692638A (en) CMOS/NMOS decoder and high-level driver circuit
US5673225A (en) Word line voltage boosting circuit and method thereof
US5677643A (en) Potential detecting circuit which suppresses the adverse effects and eliminates dependency of detected potential on power supply potential
KR0167295B1 (ko) 저전력용 센스앰프회로
JP2862744B2 (ja) 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ
US9735780B2 (en) Tri-state driver circuits having automatic high-impedance enabling
US6225854B1 (en) Voltage boosting circuit having cross-coupled precharge circuits
US4063118A (en) MIS decoder providing non-floating outputs with short access time
US5502684A (en) Semiconductor memory having high speed and low power data read/write circuit
US5608677A (en) Boosting voltage circuit used in active cycle of a semiconductor memory device
USRE36532E (en) Synchronous semiconductor memory device having an auto-precharge function
JPH10188560A (ja) 半導体集積回路
KR100301602B1 (ko) 출력파형의링잉을억제하는것이가능한반도체장치
KR0135323B1 (ko) 클램프기능을 가지는 데이타 출력버퍼
KR940004516B1 (ko) 반도체 메모리의 고속 센싱장치
KR100380778B1 (ko) 논리 회로
KR100296322B1 (ko) 워드라인 부트스트랩 회로
KR100335269B1 (ko) 워드라인구동장치
KR200211232Y1 (ko) 데이타 출력 버퍼의 풀다운 트랜지스터 구동장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20081001

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee