JPWO2012090961A1 - 発光装置、発光装置の製造方法、及び、塗布液 - Google Patents

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Abstract

封止部の形成時にクラックが発生するのを防止することができる発光装置を提供する。発光素子と、この発光素子上に形成された透光性薄膜と、を備える発光装置において、透光性薄膜は、蛍光体を含有するセラミック材料により構成され、セラミック材料は、組成式が(R−SiO3/2)nで表されるシルセスキオキサンを焼成することにより得られ、透光性薄膜の厚みを、5〜200μmとする。

Description

この発明は、発光素子と蛍光体とを用いた発光装置、発光装置の製造方法、及び、塗布液に関する。
近年、窒化ガリウム(GaN)系の青色LED(Light Emitting Diode:発光ダイオード)チップの近傍にYAG蛍光体などの蛍光体を配置し、青色LEDチップから出射される青色光と、蛍光体がこの青色光を受けて出射する黄色光とを混色することにより白色光を発する技術が広く用いられている。このような白色光を出射する白色LEDの用途は、様々な分野へと利用が拡大しつつあり、その中で、自動車のヘッドライトのような非常に高い輝度が求められる照明装置への適用が検討されている。
白色LEDでは、蛍光体粒子を内部に含有した透明樹脂を封止部材として用いて、LEDチップや実装部を封止する方法が一般的に用いられている。従来、透明樹脂の材料としては、高い色均一性を得ることができて、且つ、耐光性に優れるケイ素ポリマー、特に、ポリジメチルシロキサンといった2官能(D単位)のケイ素化合物を原料としたシリコーン樹脂が着目されてきた。しかしながら、LEDチップから出射される光の輝度が高くなると光エネルギーも増大し、この光エネルギーによって励起された蛍光体が発する熱量も増加する。この結果、蛍光体や高輝度LED素子から発生する熱量にシリコーン樹脂が耐え切れなくなり、シリコーン樹脂の劣化が進行して発光効率の低下や色度のバラつきが生じるという問題がある。
そこで、特許文献1には、透明樹脂として4官能(Q単位)のケイ素化合物を用いることで耐光性を高める技術が開示されている。
特開2000−349347号公報
しかしながら、4官能ケイ素化合物には、構造の柔軟性、加工性が乏しいので、縮合反応を用いて透明セラミック薄膜を形成する際に発生する応力に耐え切れず、蛍光体粒子を保持するのに十分な厚みを持った封止部を形成すると、クラックが発生しやすくなるという課題がある。
この発明の目的は、封止部の形成時にクラックが発生するのを防止することができる発光装置、発光装置の製造方法、及び、塗布液を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明によれば、
発光素子と、当該発光素子上に形成された透光性薄膜と、を備える発光装置において、
前記透光性薄膜は、蛍光体を含有するセラミック材料により構成され、
前記セラミック材料は、組成式が(R−SiO3/2で表されるシルセスキオキサンを焼成することにより得られたものであり、
前記透光性薄膜の厚みは、5〜200μmであることを特徴とする発光装置が提供される。ここで、Rは有機基であり、具体的には、アルキル基またはアリール基である。
なお、本明細書において「シルセスキオキサン」という用語は、シルセスキオキサンが80%以上含まれているものを指し、シルセスキオキサンの合成処理において従来混入する程度の他成分が含まれているものを含む。
本発明によれば、高い耐光性を有し、形成時にクラックの生じない封止部により発光素子を封止可能な発光装置を得ることができる。
本発明の実施形態の発光装置の断面図である。 透明セラミック層を形成するスプレー装置を備えた発光装置の製造装置を説明する図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1は、発光装置の断面図である。
発光装置100は、断面凹状のLED基板1を有している。LED基板1の凹部(底部)にはメタル部2が設けられ、メタル部2上には直方体状のLED素子3が配置されている。このLED素子3は、所定波長の光を出射する発光素子の一例である。LED素子3のメタル部2に対向する面には、突起電極4が設けられており、メタル部2とLED素子3とが突起電極4を介して接続されている(フリップチップ型)。なお、ここでは、一つのLED基板1に対して一つのLED素子3が設けられる構成を図示しているが、一つのLED基板1の凹部に複数のLED素子3を設けることとしてもよい。
本実施形態の発光装置100では、LED素子3として青色LED素子が用いられている。青色LED素子は、例えば、サファイア基板上にn−GaN系クラッド層、InGaN発光層、p−GaN系クラッド層、及び透明電極を積層してなる。
LED基板1の凹部には、LED素子3の周囲を封止するように波長変換部6が形成されている。波長変換部6は、透光性を有する透明セラミック材料の層(以降、透明セラミック層と記す)中に蛍光体が添加されて構成された透光性薄膜である。この透明セラミック層中に添加された蛍光体は、LED素子3の出射光中の所定の波長の光(励起光)により励起されて、励起光の波長とは異なる波長の蛍光を出射する。この波長変換部6の厚みは、好ましくは、5〜200μmであり、より好ましくは、10〜200μmであり、更に好ましくは、10〜100μmである。ここで、波長変換部6は、LED素子3の上面及び側面のみに設けられる構成としてもよい。LED素子3の周囲のみに波長変換部6を設ける方法としては、波長変換部6を形成する際にマスクを設置する方法等が用いられる。
波長変換部6の上面及び側面には、更に、薄膜層7が形成されている。この薄膜層7は、従来LED素子3の周囲を封止するのに用いられている透明樹脂材料と同様の2官能(D単位)シロキサン化合物を用いて形成される。特に、ポリジメチルシロキサンなどの有機ケイ素ポリマーが好ましく用いられる。
次に、波長変換部6の構成について詳述する。
波長変換部6は、後述するシルセスキオキサンと有機溶媒とを混合したゾル状の混合液(以降、セラミック前駆体液と記す)を加熱によりゲル状態とし、さらに焼成する、いわゆるゾル・ゲル法により形成された透明セラミック層(ガラス体)であって、その透明セラミック層中に蛍光体、層状ケイ酸塩鉱物(層状粘土鉱物)、及び、無機微粒子を含有するものである。
(シルセスキオキサン)
シルセスキオキサンは、蛍光体、層状ケイ酸塩鉱物、無機微粒子を封止するバインダとしての役割を果たして透明セラミック層となるものである。シルセスキオキサンは、3官能(T単位)のシロキサンであり、組成式(R−SiO3/2で表される。ここで、Rは、有機基であり、具体的には、アルキル基またはアリール基である。アルキル基としては、メチル基やエチル基が好ましく、アリール基としては、フェニル基が好ましい。
シルセスキオキサンには、カゴ型、はしご型、及び、ランダム型の立体構造をとるものがある。本実施形態のシルセスキオキサンは、堅牢性を有するカゴ型構造のシルセスキオキサンを含有することを特徴とする。カゴ型構造のシルセスキオキサンは、カゴ型形状の骨格をなすケイ素原子の数(偶数)によって更に分類され、例えば、n=8のケイ素原子によって骨格が形成される立方体状のカゴ型構造シルセスキオキサンは、T8構造と表現される。また、T6、T10、T12、T14のカゴ型構造シルセスキオキサンは、それぞれ、ケイ素原子が三角柱、五角柱、六角柱、七角柱の骨格をなす。
(蛍光体)
蛍光体は、LED素子3からの出射光により励起されて、この出射光の波長とは異なる波長の蛍光を出射するものである。本実施形態では、青色LED素子から出射される青色光(波長420nm〜485nm)により励起され、黄色光(波長550nm〜650nm)を出射するYAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット)蛍光体を使用している。
このような、YAG蛍光体を生成するには、先ず、Y、Gd、Ce、Sm、Al、La、Gaの酸化物、または高温で容易に酸化物となる化合物を使用し、これらを化学量論比で十分に混合して混合原料を得る。或いは、Y、Gd、Ce、Smの希土類元素を化学量論比で酸に溶解した溶液からシュウ酸により共沈したものを焼成して得られる共沈酸化物と、酸化アルミニウム、酸化ガリウムとを混合して混合原料を得る。そして、得られた混合原料にフラックスとしてフッ化アンモニウム等のフッ化物を適量混合して加圧し、成形体を得る。得られた成形体を坩堝に詰め、空気中1350〜1450℃の温度範囲で2〜5時間焼成して、蛍光体の発光特性を持つ焼成体を得る。
ここで、蛍光体の粒径が大きいほど発光効率(波長変換効率)が高くなる反面、透明セラミック材料との界面に生じる隙間が大きくなって、形成された透明セラミック層の膜強度が低下する。従って、発光効率と、界面に生じる隙間の大きさとを考慮し、平均粒径が1μm以上50μm以下のものを用いることが好ましい。蛍光体の平均粒径は、例えばコールターカウンター法によって測定される。なお、本実施形態ではYAG蛍光体を使用しているが、蛍光体の種類は、これに限定されるものではなく、例えばCeを含まない非ガーネット系蛍光体等の他の蛍光体を使用することもできる。
(層状ケイ酸塩鉱物)
層状ケイ酸塩鉱物は、セラミック前駆体と蛍光体との混合液に添加されることで混合液の粘性を増加させ、蛍光体の沈降を抑制する働きをする。本発明に用いられる層状ケイ酸塩鉱物としては、雲母構造、カオリナイト構造、スメクタイト構造等の構造を有する膨潤性粘土鉱物が好ましく、膨潤性に富むスメクタイト構造を有するものが特に好ましい。スメクタイト構造は、後述するように、混合液中に水を添加することで層間に水が進入して膨潤したカードハウス構造をとるため、少量で混合液の粘性を大幅に増加させる効果を生じる。
ここで、透明セラミック層中における層状ケイ酸塩鉱物の含有量が0.5重量%未満になると、混合液の粘性を増加させる効果が十分に得られない。一方、層状ケイ酸塩鉱物の含有量が20重量%を超えると、加熱により形成されるこの透明セラミック層の強度が低下する。従って、層状ケイ酸塩鉱物の含有量を0.5重量%以上20重量%以下とすることが好ましく、0.5重量%以上10重量%以下がより好ましい。
なお、有機溶媒との相溶性を考慮して、層状ケイ酸塩鉱物の表面をアンモニウム塩等で修飾(表面処理)したものを適宜用いることもできる。
(無機微粒子)
無機微粒子は、透明セラミック材料と、蛍光体及び層状ケイ酸塩鉱物との界面に生じる隙間を埋める充填効果、加熱前の混合液の粘性を増加させる増粘効果、及び加熱後の透明セラミック層の膜強度を向上させる膜強化効果を有する。本発明に用いられる無機微粒子としては、酸化ケイ素、酸化チタン、酸化亜鉛等の酸化物微粒子、フッ化マグネシウム等のフッ化物微粒子等が挙げられる。特に、形成される透明セラミック層に対する安定性の観点から酸化ケイ素の微粒子を用いることが好ましい。
ここで、透明セラミック層中における無機微粒子の含有量が0.5重量%未満の場合では、上述したそれぞれの効果が十分に得られない。一方、無機微粒子の含有量が50重量%を超えると、加熱により形成されるこの透明セラミック層の強度が低下する。従って、透明セラミック層中における無機微粒子の含有量が0.5重量%以上50重量%以下であることが好ましく、1重量%以上40重量%以下がより好ましい。また、上述したそれぞれの効果を考慮して、無機微粒子の平均粒径が0.001μm以上50μm以下のものを用いることが好ましい。無機微粒子の平均粒径は、例えばコールターカウンター法によって測定される。
なお、シルセスキオキサンや有機溶媒との相溶性を考慮して、無機微粒子の表面をシランカップリング剤やチタンカップリング剤で処理したものを適宜用いることもできる。
(蛍光体塗布液)
上記のように、シルセスキオキサンを有機溶媒と混合した(希釈した)セラミック前駆体液に蛍光体、層状ケイ酸塩鉱物、及び、無機微粒子を混合することで作製した蛍光体塗布液を、波長変換部6を形成する場所に塗布して加熱することで、透光性と蛍光性とを有する波長変換部6が形成される。また、この蛍光体塗布液中に水が存在すると、層状ケイ酸塩鉱物の層間に水が入り込んで蛍光体塗布液の粘性が増加するので、蛍光体の沈降を抑制する意味で好ましい。
有機溶媒としては、脂肪族炭化水素、芳香族炭化水素、ハロゲン炭化水素、エーテル類、エステル類、アルコール類、ケトン類等を使用することができる。好ましくはメチルエチルケトン、テトラヒドロフラン、ベンゼン、クロロホルム、エチルエーテル、イソプロピルエーテル、ジブチルエーテル、エチルブチルエーテル、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、エチレングリコール、プロピレングリコール、ブタンジオール、グリセロール、アセトンが用いられる。有機溶媒に対するシルセスキオキサンの混合量が5重量%未満になると、蛍光体塗布液の粘性を増加させることが困難となり、シルセスキオキサンの混合量が50重量%を超えると、重合反応が必要以上に速く進んでしまう。そのため、有機溶媒に対するシルセスキオキサンの混合量が5重量%以上50重量%以下であることが好ましく、8重量%以上40重量%以下がより好ましい。
また、有機溶媒に水を加えることも蛍光体塗布液を増粘させる観点で好ましい。このとき、総溶媒量に対する水の割合が60重量%を超えると増粘効果よりも水の混合過多による粘度低下効果の方が大きくなるので60重量%以下とすることが好ましい。
蛍光体塗布液の調製手順としては、シルセスキオキサンと溶媒と蛍光体と層状ケイ酸塩鉱物と無機微粒子とを混合する順序に制限はない。また、これらに水を添加する場合にも順序に制限はないが、表面処理されていない親水性の層状ケイ酸塩鉱物を用いる場合には、先ず、層状ケイ酸塩鉱物と水とを予備混合し、その後に蛍光体、無機微粒子、及びセラミック前駆体液を混合した方が増粘効果を得る観点で好ましい。混合液の好ましい粘度は25〜800cPであり、最も好ましい粘度は30〜500cPである。
蛍光体塗布液の最も好ましい組成範囲は、シルセスキオキサンが2〜10重量%、蛍光体が10〜50重量%、層状ケイ酸塩鉱物が1〜20重量%、無機微粒子が1〜40重量%、溶媒または溶媒と水との混合液が20〜80重量%である。
上記組成により作製された蛍光体塗布液により、波長変換部6となる透明セラミック層の薄膜が形成される。透明セラミック層の形成は、特に限られないが、例えば、蛍光体塗布液を発光装置100にスプレー塗布することにより行われる。
図2は、透明セラミック層を形成する製造装置について説明する図である。
製造装置10は、主に、上下、左右、前後に移動可能な移動台20と、上記で説明した蛍光体塗布液40を噴射可能なスプレー装置30と、波長変換部6の色度や輝度などを検査可能な検査装置50と、を有している。
スプレー装置30は、移動台20の上方に配置されている。スプレー装置30は、エアーが送り込まれるノズル32を有している。或いは、スプレー装置30が移動台20の下方に設置され、上方に向かって蛍光体塗布液40を噴射する構成であってもよい。ノズル32の先端部の孔径は20μm〜2mmであり、好ましくは0.1〜0.3mmである。ノズル32は、移動台20と同様に上下、左右、前後に移動可能となっている。また、ノズル32の角度を調整することも可能であり、移動台20(または、これに設置されるLED基板1)に対し傾斜させることができるようになっている。ノズル32には温度調整機構が内蔵されており、噴射物の温度を調整することができる。
ノズル32には、連結管34を介してタンク36が接続されている。タンク36には蛍光体塗布液40が貯留されている。タンク36には撹拌子が入っており、この攪拌子で蛍光体塗布液40を常に撹拌することで比重の大きい蛍光体の沈降を抑止して、蛍光体が蛍光体塗布液40中で分散した状態を保持する。
なお、スプレー装置30では、ノズル32にエアーを送り込むのに代えてモータなどを駆動源として利用し、タンク36の蛍光体塗布液40に直接圧力を加えてノズル32から蛍光体塗布液40を噴射するか、または押し出すような機構を用いることとしてもよい。
検査装置50は、LED素子52と色彩輝度計54とを有している。LED素子52は、LED素子3と同様の光を発光する素子である。色彩輝度計54は、受光した光の色度や輝度を計測する計測器である。
実際に波長変換部6を形成する場合には、LED素子3をあらかじめ実装した複数のLED基板1を移動台20に設置し、LED基板1とノズル32の先端部とを対向配置する。LED基板1とノズル32の先端部との距離は、50〜300mmとする。その後、LED基板1とノズル32とを互いに相対移動させながら、ノズル32から蛍光体塗布液40を噴射してLED基板1に蛍光体塗布液40をスプレー塗布する。このとき、蛍光体塗布液40の噴射量を一定とし、単位面積当たりの蛍光体量を一定とする。そして、単位面積当たりの噴射時間を調整することによって波長変換部6の膜厚を決定する。ここで、波長変換部6が5μmより薄い場合には、蛍光体を適切に保持することができず、200μmより厚い場合には、成膜時にクラックを生じやすくなる。なお、LED基板1に蛍光体塗布液40を噴射する前に、移動台20を移動させてガラスプレート60に蛍光体塗布液40を噴射し、検査装置50を用いて色度や輝度の検査を行うことで、噴射量の調整を行うことができる。
蛍光体塗布液40が塗布されたLED基板1は、焼成炉に移送されて蛍光体塗布液40が焼成される。このときの焼成温度は、LED素子3が破損しない程度に設定される。本発明で設定される焼成温度は、100〜300℃、好ましくは130〜170℃、より好ましくは140〜160℃、もっとも好ましくは150℃前後である。そして、蛍光体塗布液40が焼成されることで、波長変換部6が形成される。
なお、上記の製造方法の他に、層状ケイ酸塩鉱物、無機微粒子、及び、蛍光体を溶媒と混合した蛍光体液と、セラミック前駆体液とを別個に用意し、蛍光体液を先に塗布して乾燥させることで蛍光体膜を形成した後に、セラミック前駆体液を塗布して焼成し、透明セラミック膜を形成する2液系の製造方法を用いることとしてもよい。蛍光体液を乾燥させて蛍光体膜を形成した後、セラミック前駆体液を塗布することで、蛍光体膜にセラミック前駆体液を含侵させることができ、その後にセラミック前駆体液を焼成することで、十分な強度を有する波長変換部6とすることができる。なお、2液系の製造方法は、上記に限らず、蛍光体液を塗布した後乾燥させずにセラミック前駆体液を塗布しても良いし、セラミック前駆体液と蛍光体液とを同時に噴射することとしてもよい。
蛍光体塗布液40を焼成させた後に、ディスペンサを用いて波長変換部6をシリコーン樹脂で封止するための薄膜層7を形成する。この封止により、波長変換部6の経時的な劣化を抑制することができ、また、波長変換部6のLED基板1やLED素子3への接着性を向上させることができる。
以上のように、本発明の実施形態の発光装置100によれば、蛍光体を含有する透明セラミック材料によりLED素子3上に波長変換部6を形成し、LED素子3からの出射光と、当該出射光の波長とは異なる波長の前記蛍光体からの蛍光とを混色して出力する発光装置100において、透明セラミック材料は、組成式が(R−SiO3/2で表されるシルセスキオキサンを焼成することにより得られ、波長変換部6の厚みは、5〜200μmに設定されるので、クラックが生じにくく高い耐熱性、耐光性及び透光性を有し、蛍光体を確実に保持可能な薄膜を備えた発光装置を得ることができる。従って、このような発光装置を用いて高輝度の発光装置を製造することが出来る。
また、シルセスキオキサンには、カゴ型構造シルセスキオキサンが含まれるようにすることで、蛍光体を含む波長変換部6の剥離性を抑えた発光装置を得ることができる。
また、透明セラミック材料には、更に、層状粘土鉱物と無機微粒子とを含有させることで、蛍光体を含む波長変換部6の剥離容易性を更に抑えると共に、蛍光体をより適切に波長変換部6中に分散させた発光装置を得ることができる。
また、シルセスキオキサンを所定の溶媒で希釈した溶液をスプレー塗布することにより波長変換部6を形成するので、容易にむらなく耐熱性に優れ、クラックを生じない波長変換部6を備えた発光装置を得ることができる。
また、波長変換部6の薄膜上に、更にシリコーン樹脂膜を設けることにより、蛍光体を封止したシルセスキオキサンによる透明セラミック薄膜(透明セラミック層)を保護することが出来るので、透明セラミック薄膜の劣化を更に抑えることができる。
なお、本発明は、上記実施の形態に限られるものではなく、様々な変更が可能である。
例えば、上記実施の形態では、青色LEDチップに対して黄色光の蛍光を出射する蛍光体を塗布することで白色光を放射させたが、これに限られない。例えば、紫外線を出射するLEDチップに対して、赤、青、緑の各蛍光を出射する蛍光体を混合して塗布することで白色光を放射することとしてもよい。
また、上記実施の形態では、スプレー装置を用いて蛍光体塗布液の塗布を行ったが、種々のコーターなど他の装置を用いて塗布することとしてもよい。
その他、上記実施の形態で示した具体的な発光装置の形状や配置、数値などは、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。
次に、本発明の発光装置の例を以下の実施例に基づいて具体的に説明する。
(1)サンプルの作製
(1.1)実施例1〜4、比較例1、2
実施例1〜4、及び、比較例1、2の発光装置では、先ず、メチルトリエトキシシランを出発原料として用い、溶媒、モノマー濃度、塩基触媒、PH値、及び、反応温度をコントロールしながらシルセスキオキサンを合成した。この合成されたシルセスキオキサンを29Si−NMR(Si29の核磁気共鳴)やGPC(Gel Permeation Chromatography)等により分析することで、カゴ型構造シルセスキオキサンが含まれることが確認された。次に、合成されたシルセスキオキサンに対して、重量比で5倍量のYAG蛍光体、及び、重量比で10倍量のイソプロピルアルコールを混合することで、蛍光体塗布液を作製した。そして、この蛍光体塗布液をスプレーガンにより青色LEDチップが設けられたLED基板上に塗布した。最後に、蛍光体塗布液が塗布されたLED基板を焼成炉に移送し、130℃で30分間焼成することで、蛍光体を含有する透明セラミック層を形成した。このとき、スプレーガンによる単位面積当たりのスプレー時間(噴射時間)及び噴射速度を調整することで、塗布された蛍光体塗布液の膜厚を変更した。具体的には、比較例1、実施例1〜4、比較例2について、それぞれ膜厚を3μm、5μm、10μm、100μm、200μm、及び、250μmとした。
(1.2)実施例5、6
上記の実施例2及び実施例3における透明セラミック層の形成工程において、シルセスキオキサンに対し、更に、層状ケイ酸塩鉱物として重量比で0.3倍量のスメクタイト及び無機微粒子として重量比で0.3倍量の酸化ケイ素を加えた後に、それぞれ厚さ10μm及び100μmの透明セラミック層を形成した。
(1.3)比較例3、4及び実施例7〜10
上記実施例における透明セラミック層の形成工程において、溶媒、モノマー濃度、塩基触媒、PH値、及び、反応温度を調整してカゴ型構造の存在しないシルセスキオキサンのみが含まれるシルセスキオキサンを得た。このシルセスキオキサンに対して重量比で5倍量のYAG蛍光体、重量比で10倍量のイソプロピルアルコール、重量比で0.3倍量のスメクタイト、及び、重量比で0.3倍量の酸化ケイ素を加えて蛍光体塗布液を作製した。この蛍光体塗布液をスプレーガンにより青色LEDが設けられたLED基板上に塗布した。最後に、蛍光体塗布液が塗布されたLED基板を焼成炉に移送し、130℃で30分間焼成することで、蛍光体を含有する透明セラミック層を形成した。このとき、スプレーガンによる単位面積当たりのスプレー時間(噴射時間)及び噴射速度を調整することで、塗布された蛍光体塗布液の膜厚を変更した。具体的には、比較例3、実施例7〜10、比較例4について、それぞれ、膜厚を3μm、5μm、10μm、100μm、200μm、及び、250μmとした。
(1.4)実施例11
上記実施例9における透明セラミック層の形成工程において、蛍光体塗布液の調製時にスメクタイト及び酸化ケイ素を加えずに膜厚が100μmの透明セラミック層を形成した。
(1.5)比較例5
上記実施例3における透明セラミック層の形成工程において、蛍光体塗布液の調製時にYAG蛍光体を加えずに膜厚が100μmの透明セラミック層を形成した。
(1.6)比較例6
上記実施例6における透明セラミック層の形成工程において、蛍光体塗布液の調製時にYAG蛍光体を加えずに膜厚が100μmの透明セラミック層を形成した。
(1.7)実施例12
YAG蛍光体5重量部に対し、0.3重量部のスメクタイト、及び、0.3重量部の酸化ケイ素、及び、10重量部のイソプロピルアルコールを混合し、蛍光体塗布液を作製した。そして、この蛍光体塗布液をスプレーガンにより青色LEDチップが設けられたLED基板上に塗布した。このLED基板を焼成炉に移送し、130℃で30分間焼成することで、厚さ100μmの蛍光体層を形成した。続いて、上記実施例1と同様の工程を経て合成されたシルセスキオキサンを、スプレーガンにより蛍光体層の上から塗布した。このLED基板を再び焼成炉に移送し、130℃で30分間焼成することで、蛍光体層の上部に、厚さ5μmの透明セラミック層を形成した。
(2)膜物性の検査方法
これらの実施例1〜12及び比較例1〜6の透明セラミック層が形成された発光装置のサンプルにおいて、以下のようにして透明セラミック層の膜物性を調べた。
(2.1)成膜時のクラック発生の観察
実施例1〜12及び比較例1〜6において形成された各サンプルにおいて、透明セラミック層を顕微鏡で観察して、クラックの発生有無を確認し、以下のように分類した。
○:クラックが観察されなかった。
×:クラックが観察された。
(2.2)蛍光体保持性の測定
形成された各発光装置100を高さ50cmから繰り返し5回落下させた。その後に、蛍光体の欠落状態を顕微鏡により観察し、以下のように分類した。
○:蛍光体の欠落が見られなかった。
△:ごく僅かに蛍光体の欠落が見られるが、実使用上問題のないレベルであった。
×:蛍光体の欠落が多く見られ、実使用上問題の発生するレベルであった。
−:評価未実施
(2.3)テープ剥離試験
形成された透明セラミック層にニチバン製セロテープ(登録商標)(24mm)を貼り付け、直ちに剥がす作業を20回繰り返して行った。そして、各回の作業毎に透明セラミック層の塗膜状態を顕微鏡により観察し、以下のように分類した。
◎:透明セラミック層の剥離が全く見られなかった。
○:15回繰り返した時点では全く剥離が見られなかったが、20回繰り返された後には僅かな剥離が見られた。
△:10回繰り返した時点では全く剥離が見られなかったが、15回繰り返された後には僅かな剥離が見られた。
−:評価未実施
(3)まとめ
上記実施例1〜12及び比較例1〜6の透明セラミック層形成工程により形成された透明セラミック層の膜構成と上記膜物性の評価とを表1に示す。
Figure 2012090961
表1に示すように、先ず、成膜時のクラックに関しては、形成された透明セラミック層の厚みが250μmまで増すと(比較例2、4)発生する。また、シルセスキオキサンに蛍光体が含まれていない場合(比較例5、6)には、100μmの厚さで透明セラミック層を形成した場合であっても、蛍光体が含まれる場合(実施例3、6)とは異なり、クラックが発生することが示された。
次に、蛍光体の保持性に関しては、形成された透明セラミック層の厚みが薄くなると悪化することが示された。具体的には、透明セラミック層の厚みを3μm(比較例1、3)にまで薄くすると、実使用上必要な蛍光体の保持性が得られないということが示された。
また、テープ剥離試験に関しては、カゴ型構造シルセスキオキサンが含まれているケース(実施例3)と比較して、カゴ型シルセスキオキサンが含まれていない場合(実施例11)では、透明セラミック層が剥離しやすいということが示された。
これらの結果をまとめると、シルセスキオキサンを用いて、蛍光体を含んだ透明セラミック層を5μm以上200μm以下の範囲で形成することにより、好適な膜物性の透明セラミック層を備えた発光装置が作製される。
産業上の利用の可能性
この発明は、発光素子と蛍光体とを用いた発光装置、及び、発光装置の製造に利用することが出来る。
1 LED基板
2 メタル部
3、52 LED素子
4 突起電極
6 波長変換部
7 薄膜層
10 製造装置
20 移動台
30 スプレー装置
32 ノズル
34 連結管
36 タンク
40 蛍光体塗布液
50 検査装置
54 色彩輝度計
60 ガラスプレート
100 発光装置

Claims (12)

  1. 発光素子と、当該発光素子上に形成された透光性薄膜と、を備える発光装置において、
    前記透光性薄膜は、蛍光体を含有するセラミック材料により構成され、
    前記セラミック材料は、組成式が(R−SiO3/2で表されるシルセスキオキサンを焼成することにより得られたものであり、
    前記透光性薄膜の厚みは、5〜200μmであることを特徴とする発光装置。
    ここで、Rは有機基である。
  2. 前記シルセスキオキサンにはカゴ型構造シルセスキオキサンが含まれることを特徴とする請求項1記載の発光装置。
  3. 前記透光性薄膜には、更に、層状粘土鉱物及び無機微粒子が含有されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の発光装置。
  4. 前記透光性薄膜は、前記シルセスキオキサンと、前記蛍光体と、層状粘土鉱物と、無機微粒子とを所定の溶媒で希釈した溶液を塗布することにより形成されたものであることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の発光装置。
  5. 前記透光性薄膜は、前記蛍光体と層状粘土鉱物及び無機微粒子とを所定の溶媒で希釈した溶液を塗布した以後に、前記シルセスキオキサンを塗布することにより形成されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の発光装置。
  6. 前記塗布がスプレー塗布であることを特徴とする請求項4又は5に記載の発光装置。
  7. 前記透光性薄膜上には、シリコーン樹脂膜が設けられていることを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載の発光装置。
  8. 発光素子と、当該発光素子上に形成された透光性薄膜とを備える発光装置の製造方法であって、
    前記発光素子上に前記透光性薄膜を形成するステップは、
    組成式が(R−SiO3/2で表されるシルセスキオキサン(Rは有機基)と、蛍光体とを所定の溶媒で希釈した塗布液を厚さ5〜200μmで前記発光素子上に塗布するステップと、
    塗布された前記塗布液を焼成するステップと、
    を含むことを特徴とする発光装置の製造方法。
  9. 前記塗布液は、層状粘土鉱物及び無機微粒子を含んで作製されることを特徴とする請求項8に記載の発光装置の製造方法。
  10. 発光素子と、当該発光素子上に形成された透光性薄膜とを備える発光装置の製造方法であって、
    前記発光素子上に前記透光性薄膜を形成するステップは、
    前記蛍光体と、層状粘土鉱物及び無機微粒子と、を所定の溶媒で希釈した第1塗布液を塗布するステップと、
    前記第1塗布液の塗布以後に、組成式が(R−SiO3/2で表されるシルセスキオキサン(Rは有機基)を、前記透光性薄膜の厚さの合計が5〜200μmとなるように塗布するステップと、
    塗布された前記第1塗布液及び前記シルセスキオキサンを焼成するステップと、
    を含むことを特徴とする発光装置の製造方法。
  11. 発光素子と、当該発光素子上に形成された透光性薄膜と、を備える発光装置の前記透光性薄膜を形成する際に塗布される塗布液であって、
    組成式が(R−SiO3/2で表されるシルセスキオキサンと、蛍光体とを所定の溶媒で希釈した溶液であることを特徴とする塗布液。
    ここで、Rは有機基である。
  12. 層状粘土鉱物と、無機微粒子とが更に含まれることを特徴とする請求項11に記載の塗布液。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6233872B2 (ja) * 2013-03-13 2017-11-22 エムテックスマート株式会社 Ledの製造方法
DE102013103983B4 (de) * 2013-04-19 2021-09-23 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl strahlungsemittierender Halbleiterchips
CN108139520A (zh) * 2015-09-29 2018-06-08 松下知识产权经营株式会社 波长转换元件以及发光装置
TWI599078B (zh) * 2016-08-05 2017-09-11 行家光電股份有限公司 具濕氣阻隔結構之晶片級封裝發光裝置

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61183843A (ja) * 1985-02-08 1986-08-16 Hitachi Ltd 光学的接着性を向上させた粉体塗布層の形成方法
JPH10209505A (ja) * 1997-01-17 1998-08-07 Stanley Electric Co Ltd 発光ダイオードおよびその製造方法
JP2001181614A (ja) * 1999-12-24 2001-07-03 Teikoku Tsushin Kogyo Co Ltd El素子用蛍光体ペースト及びその製造方法
WO2002059208A1 (fr) * 2001-01-24 2002-08-01 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Compositions de résines à base d'éther de polyphénylène contenant des composés de silicium
JP2002374006A (ja) * 2001-06-15 2002-12-26 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置
JP2004153109A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Matsushita Electric Works Ltd 発光装置及びその製造方法
JP2004238589A (ja) * 2003-02-10 2004-08-26 Stanley Electric Co Ltd 発光ダイオード用封止樹脂及びそれを用いた表面実装型発光ダイオード
JP2005019662A (ja) * 2003-06-26 2005-01-20 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
JP2005089601A (ja) * 2003-09-17 2005-04-07 Stanley Electric Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物、該熱硬化性樹脂組成物で発光素子を封止した発光ダイオードおよび色変換型発光ダイオード
JP2007031619A (ja) * 2005-07-28 2007-02-08 Nagase Chemtex Corp 光素子封止用樹脂組成物
JP2007070600A (ja) * 2005-08-11 2007-03-22 Asahi Kasei Corp 封止材用組成物及び光学デバイス
WO2009025017A1 (ja) * 2007-08-17 2009-02-26 Panasonic Electric Works Co., Ltd. 半導体光装置及び透明光学部材
JP2009239242A (ja) * 2007-06-22 2009-10-15 Mitsubishi Chemicals Corp 半導体発光デバイス用部材形成液、半導体発光デバイス用部材、航空宇宙産業用部材、半導体発光デバイス、及び蛍光体組成物

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61183843A (ja) * 1985-02-08 1986-08-16 Hitachi Ltd 光学的接着性を向上させた粉体塗布層の形成方法
JPH10209505A (ja) * 1997-01-17 1998-08-07 Stanley Electric Co Ltd 発光ダイオードおよびその製造方法
JP2001181614A (ja) * 1999-12-24 2001-07-03 Teikoku Tsushin Kogyo Co Ltd El素子用蛍光体ペースト及びその製造方法
WO2002059208A1 (fr) * 2001-01-24 2002-08-01 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Compositions de résines à base d'éther de polyphénylène contenant des composés de silicium
JP2002374006A (ja) * 2001-06-15 2002-12-26 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置
JP2004153109A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Matsushita Electric Works Ltd 発光装置及びその製造方法
JP2004238589A (ja) * 2003-02-10 2004-08-26 Stanley Electric Co Ltd 発光ダイオード用封止樹脂及びそれを用いた表面実装型発光ダイオード
JP2005019662A (ja) * 2003-06-26 2005-01-20 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
JP2005089601A (ja) * 2003-09-17 2005-04-07 Stanley Electric Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物、該熱硬化性樹脂組成物で発光素子を封止した発光ダイオードおよび色変換型発光ダイオード
JP2007031619A (ja) * 2005-07-28 2007-02-08 Nagase Chemtex Corp 光素子封止用樹脂組成物
JP2007070600A (ja) * 2005-08-11 2007-03-22 Asahi Kasei Corp 封止材用組成物及び光学デバイス
JP2009239242A (ja) * 2007-06-22 2009-10-15 Mitsubishi Chemicals Corp 半導体発光デバイス用部材形成液、半導体発光デバイス用部材、航空宇宙産業用部材、半導体発光デバイス、及び蛍光体組成物
WO2009025017A1 (ja) * 2007-08-17 2009-02-26 Panasonic Electric Works Co., Ltd. 半導体光装置及び透明光学部材

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