JPWO2009147720A1 - 半導体ウエハ、半導体回路、試験用基板、および、試験システム - Google Patents

Abstract

半導体ウエハに形成された複数の半導体回路を試験する試験システムであって、半導体ウエハと信号を受け渡し可能に設けられる試験用基板と、試験用基板を制御する制御装置とを備え、半導体ウエハには、外部の測定回路に接続される外部端子と、半導体ウエハにおける複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した選択配線を介して、対応する測定点と外部端子との間で信号を伝送させる選択部とが形成され、試験用基板は、半導体ウエハの外部端子に接続され、選択部により選択された選択配線が伝送する信号の特性を測定する測定回路と、半導体ウエハの選択部に、いずれの選択配線を選択させるかを制御する制御部とを有する試験システムを提供する。

Description

本発明は、半導体ウエハ、試験用基板、および、試験システムに関する。特に本発明は、複数の半導体回路が形成される半導体ウエハ、ならびに、半導体ウエハに形成された複数の半導体回路を試験する試験用基板および試験システムに関する。

半導体回路等の被測定回路の試験において、被測定回路が出力する信号を測定することで、被測定回路の良否を判定する場合がある。例えば試験装置は、被測定回路の出力信号が、所定の論理パターンを有するか、所定の電気的な特性を有するか等の基準に基づいて、被測定回路の良否を判定する。

一般に、試験用の回路が形成されるテストモジュールは、ケーブル、コネクタ、基板等を介して被測定回路に接続される（例えば、特許文献１参照）。このため試験装置は、当該ケーブル、コネクタ、基板等の寄生容量等に応じたドライブ能力を有する素子を介さなければ、被測定信号を精度よく測定することが困難であった。例えば試験装置は、被測定回路の出力端に設けられたドライバが出力する信号は、比較的に精度よく測定することができるが、被測定回路中の各ノードにおける信号を精度よく測定することは困難であった。
国際公開第２００４／０９０５６１号パンフレット

このような課題に対して、被測定回路の直近に試験用の回路を設けることで、被測定回路と試験用回路との間の信号伝送距離を短くすることが考えられる。そして、被測定回路中における内部ノードを、測定用の端子に接続することで、被測定回路中の内部ノードにおける信号を、精度よく測定することができる。このような測定用端子を、測定すべき内部ノード毎に設けることで、被測定回路中の様々な内部ノードにおける信号を測定することができる。

しかし、測定用端子は、外部の測定機器と電気的に接続されるので、電気的な接続を容易にすべく一定以上の面積を有する。このような測定用端子を被測定回路に多数設けることは、実使用回路を形成できるスペースを圧迫してしまい、好ましくない。

そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる半導体ウエハ、試験用基板、および、試験システムを提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、複数の半導体回路が形成される半導体ウエハであって、外部の測定回路に接続される外部端子と、半導体ウエハにおける複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した選択配線を介して、対応する測定点と外部端子との間で信号を伝送させる選択部とを備える半導体ウエハを提供する。

本発明の第２の形態においては、動作回路を有する半導体回路であって、外部の測定回路に接続される外部端子と、動作回路における複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した選択配線を介して、対応する測定点と外部端子との間で信号を伝送させる選択部とを備える半導体回路を提供する。

本発明の第３の形態においては、半導体ウエハに形成された複数の半導体回路を試験する試験用基板であって、半導体ウエハには、外部の測定回路に接続される外部端子と、半導体ウエハにおける複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した選択配線を介して、対応する測定点と外部端子との間で信号を伝送させる選択部とが形成され、試験用基板は、半導体ウエハの外部端子に接続され、選択部により選択された選択配線が伝送する信号の電気特性を測定する測定回路と、半導体ウエハの選択部に、いずれの選択配線を選択させるかを制御する制御部とを備える試験用基板を提供する。

本発明の第４の形態においては、半導体ウエハに形成された複数の半導体回路を試験する試験システムであって、半導体ウエハと信号を受け渡し可能に設けられる試験用基板と、試験用基板を制御する制御装置とを備え、半導体ウエハには、外部の測定回路に接続される外部端子と、半導体ウエハにおける複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した選択配線を介して、対応する測定点と外部端子との間で信号を伝送させる選択部とが形成され、試験用基板は、半導体ウエハの外部端子に接続され、選択部により選択された選択配線が伝送する信号の特性を測定する測定回路と、半導体ウエハの選択部に、いずれの選択配線を選択させるかを制御する制御部とを有する試験システムを提供する。

なお、上記の発明の概要は、発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

試験システム４００の一例を示す図である。 半導体ウエハ３００に形成される半導体回路３１０の構成例を示す図である。 半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。 半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。 半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。 半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。 半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。 試験用基板１００に設けられるそれぞれの試験回路１１０の構成例を示す図である。 半導体回路３１０における、測定用端子３１４の配置例を示す図である。

符号の説明

１０・・・制御装置、１００・・・試験用基板、１１０・・・試験回路、１２０・・・測定回路、１３０・・・制御部、２００・・・プローブカード、３００・・・半導体ウエハ、３１０・・・半導体回路、３１２・・・実動作用端子、３１４・・・測定用端子、３１６・・・制御用端子、３２０・・・送信側回路、３２２・・・ＤＡ変換器、３２４・・・ミキサ、３２６・・・ドライバ、３２８・・・選択部、３３２・・・測定配線、３３４・・・測定用ドライバ、３３６・・・スイッチ、３４０・・・受信側回路、３４２・・・ＡＤ変換器、３４４・・・ミキサ、３４６・・・低ノイズアンプ、３４８・・・選択部、３５２・・・測定配線、３６０・・・ローカル発振器、３７０・・・動作回路、３７２・・・測定配線、３７４・・・印加配線、３８０・・・回路領域、４００・・・試験システム

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、試験システム４００の一例を示す図である。試験システム４００は、半導体ウエハ３００に形成された複数の半導体回路３１０を試験する。半導体ウエハ３００は、例えばシリコンウエハであり、複数の半導体回路３１０は、例えば露光等の半導体プロセスにより、半導体ウエハ３００に形成される。

本例の試験システム４００は、複数の半導体回路３１０を平行して試験する。試験システム４００は、プローブカード２００、試験用基板１００、および、制御装置１０を備える。

プローブカード２００は、半導体ウエハ３００および試験用基板１００の間に設けられ、半導体ウエハ３００および試験用基板１００との間で信号を受け渡す。本例のプローブカード２００は、半導体ウエハ３００および試験用基板１００のそれぞれと電気的に接続されてよい。以下の例においては、回路等の間における信号の受け渡しを、電気的な信号伝送路を用いて行う例を説明するが、回路等の間における信号の受け渡しは、静電結合、誘導結合、光結合等により行ってもよい。

プローブカード２００は、半導体ウエハ３００における複数の半導体回路３１０を一括して、試験用基板１００に電気的に接続してよい。本例のプローブカード２００は、半導体ウエハ３００と略同一の直径を有するウエハであってよい。また、プローブカード２００は、半導体ウエハ３００と同一材料のウエハであってよい。

プローブカード２００の表面および裏面には、半導体ウエハ３００および試験用基板１００と電気的に接続するパッドが形成されてよい。また、プローブカード２００には、表面および裏面のパッドを電気的に接続するビアホールが形成されてよい。プローブカード２００は、表面のパッド間隔と、裏面のパッド間隔とが異なってよい。

試験用基板１００は、プローブカード２００を介して、半導体ウエハ３００における複数の半導体回路３１０と電気的に接続する。例えば、半導体ウエハ３００、プローブカード２００、および、試験用基板１００を重ね合わせることで、プローブカード２００を介して半導体ウエハ３００および試験用基板１００を電気的に接続してよい。より具体的には、半導体ウエハ３００のパッドと、プローブカード２００の表面のパッドとが電気的に接続され、試験用基板１００のパッドと、プローブカード２００の裏面のパッドとが電気的に接続されることで、試験用基板１００および半導体ウエハ３００が電気的に接続してよい。

また、プローブカード２００は、例えば異方性導電シート、バンプ付メンブレンシート等の、フレキシブルな基板であってよい。また上述したように、プローブカード２００は、半導体ウエハ３００のパッドと、試験用基板１００のパッドとの間で、非接触で信号を伝送する基板であってもよい。例えばプローブカード２００は、静電結合、誘導結合、光結合等により、半導体ウエハ３００のパッドと、試験用基板１００のパッドとの間で信号を伝送してよい。

また、試験用基板１００は、複数の試験回路１１０を有する。複数の試験回路１１０は、複数の半導体回路３１０と一対一に対応して設けられ、プローブカード２００を介して対応する半導体回路３１０と電気的に接続されてよい。それぞれの試験回路１１０は、対応する半導体回路３１０を試験してよい。

それぞれの試験回路１１０は、対応する半導体回路３１０から受け取った出力信号に基づいて、それぞれの半導体回路３１０の良否を判定してよい。例えば試験回路１１０は、半導体回路３１０の出力信号の論理パターンが、所定の期待値パターンと一致するか否かを判定してよい。また、試験回路１１０は、半導体回路３１０の出力信号の電気的特性が、所定の仕様を満たすか否かを判定してもよい。また、試験回路１１０は、半導体回路３１０の出力信号を、半導体回路３１０にループバックして供給することで、半導体回路３１０のループバック試験を行ってもよい。

制御装置１０は、試験用基板１００を制御する。制御装置１０は、複数の試験回路１１０を制御してよい。例えば制御装置１０は、複数の試験回路１１０を同期して動作させる動作開始信号、クロック信号等を、それぞれの試験回路１１０に供給してよい。

また、試験用基板１００は、半導体ウエハ３００と略同一の直径を有するウエハであってよい。また、試験用基板１００は、半導体ウエハ３００と同一材料のウエハであってよい。この場合、複数の試験回路１１０は、露光等の半導体プロセスによって、試験用基板１００に形成されてよい。また、試験用基板１００は、プリント基板であってもよい。この場合、それぞれの試験回路１１０を有する回路チップが、当該プリント基板に実装されてよい。

このように、半導体ウエハ３００の近傍に配置される試験用基板１００に、半導体回路３１０を試験する試験回路１１０を設けることで、半導体回路３１０および試験回路１１０の間の伝送線路長を短くすることができる。このため、半導体回路３１０および試験回路１１０は、比較的にドライブ能力の小さいドライバを用いて、または、ドライバを用いずに、信号を受け渡すことができる。

図２は、半導体ウエハ３００に形成される半導体回路３１０の構成例を示す図である。なお、半導体回路３１０の回路構成は、図２に示す回路構成に限定されない。半導体回路３１０は、多様な回路構成を有することができる。また、それぞれの半導体回路３１０は、同一の回路構成を有してよい。

本例の半導体回路３１０は、例えば通信機器に用いられる半導体チップであって、ローカル発振器３６０、送信側回路３２０、および、受信側回路３４０を有する。また、半導体回路３１０は、外部の機器と電気的に接続されるべき複数の外部端子が設けられる。例えば半導体回路３１０は、外部端子として、実動作用端子３１２および測定用端子３１４を有する。実動作用端子３１２は、半導体回路３１０が通信機器等に実装された場合に、通信機器内の他の回路と電気的に接続される端子であってよい。また、測定用端子３１４は、半導体回路３１０を試験する場合に、外部の試験回路１１０と電気的に接続される端子であってよい。また、測定用端子３１４は、半導体回路３１０が通信機器等に実装された場合に、通信機器内の他の回路と電気的に接続されない端子であってよい。

送信側回路３２０は、通信機器等から送信すべき送信信号を出力する。本例の送信側回路３２０は、ＤＡ変換器３２２、ミキサ３２４、ドライバ３２６、複数の測定配線３３２、および、選択部３２８を有する。なお、測定配線３３２は、選択配線の一例を示す。

ＤＡ変換器３２２は、与えられるデジタル信号を、アナログ信号に変換する。例えばＤＡ変換器３２２は、送信信号が有するべき論理パターンを示すデジタル信号を受け取ってよい。

ミキサ３２４は、ＤＡ変換器３２２が出力するアナログ信号と、ローカル発振器３６０が出力するローカル信号とを乗算する。つまり、ミキサ３２４は、アナログ信号の周波数を、ローカル信号の周波数に応じてシフトさせる。ドライバ３２６は、ミキサ３２４が出力する信号を、実動作用端子３１２に供給する。ドライバ３２６は、所定の範囲の電力を出力可能な電力増幅器であってよい。また、送信側回路３２０は、ミキサ３２４の後段にフィルタを有してもよい。このような構成により、送信側回路３２０は、送信信号を生成する。

複数の測定配線３３２は、半導体ウエハ３００に設けられたそれぞれの半導体回路３１０における複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する測定点と信号を受け渡し可能に設けられる。本例の測定配線３３２は、それぞれ対応する測定点に電気的に接続される。例えば送信側回路３２０において、それぞれの測定配線３３２の一端は、ＤＡ変換器３２２の入力端、ＤＡ変換器３２２の出力端、ミキサ３２４の出力端、ドライバ３２６の出力端に電気的に接続される。

選択部３２８は、複数の測定配線３３２のいずれかを選択して、選択した測定配線３３２を介して、対応する測定点と外部端子との間で信号を伝送させる。本例の選択部３２８は、選択した測定配線３３２を、測定用端子３１４に電気的に接続する。選択部３２８は、対応する試験回路１１０から与えられる制御信号に応じた測定配線３３２を選択してよい。半導体回路３１０は、外部端子として、試験回路１１０から制御信号を受け取る制御用端子を更に有してよい。

上述したように、試験回路１１０が、半導体回路３１０の近傍に設けられるので、送信側回路３２０の内部の測定点に対して測定配線３３２を接続することで、ドライバ等を介さずに、当該測定点における信号を測定することができる。また、送信側回路３２０の内部における複数の測定点に対して測定配線３３２を接続することで、送信側回路３２０における複数の測定点を伝送する信号を測定することができる。このため、送信側回路３２０に対する可観測性を向上させることができ、送信側回路３２０の特性を、詳細に測定することができる。

また、選択部３２８を設けることにより、複数の測定点より少ない個数の測定用端子３１４を用いて、複数の測定点における信号を測定することができる。このため、半導体回路３１０において、測定用端子３１４が占める面積を縮小することができる。

なお、選択部３２８は、入出力間の伝達特性が線形となる回路であってよい。例えば選択部３２８は、選択したアナログ信号を通過させるべく、入出力間に複数のゲートトランジスタ、または、複数のトランスファゲート等を設けた回路であってよい。

また、受信側回路３４０においても同様に、受信側回路３４０における複数の測定点にそれぞれの測定配線３５２が接続されてよい。本例の受信側回路３４０は、ＡＤ変換器３４２、ミキサ３４４、低ノイズアンプ３４６、複数の測定配線３５２、および、選択部３４８を有する。測定配線３５２は、選択配線の一例を示す。

低ノイズアンプ３４６は、実動作用端子３１２を介して外部の回路から信号を受け取る。低ノイズアンプ３４６は、受け取った信号に応じた信号を出力する。ミキサ３４４は、低ノイズアンプ３４６が出力する信号と、ローカル発振器３６０が出力する信号とを乗算した信号を出力する。また、ＡＤ変換器３４２は、ローカル発振器３６０から受け取ったアナログ信号をデジタル信号に変換する。また、受信側回路３４０は、ミキサ３４４の後段にフィルタを有してもよい。

複数の測定配線３５２は、半導体ウエハ３００に設けられたそれぞれの半導体回路３１０における複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する測定点に電気的に接続される。例えば受信側回路３４０において、それぞれの測定配線３５２の一端は、ＡＤ変換器３４２の入力端、ＡＤ変換器３４２の出力端、ミキサ３４４の出力端、低ノイズアンプ３４６の出力端に電気的に接続される。

選択部３４８は、複数の測定配線３５２のいずれかを選択して、測定用端子３１４に電気的に接続する。選択部３４８は、対応する試験回路１１０から与えられる制御信号に応じた測定配線３５２を選択してよい。半導体回路３１０は、試験回路１１０から制御信号を受け取る制御用端子を更に有してよい。このような構成により、受信側回路３４０においても、送信側回路３２０と同様に、複数の測定点における信号を測定することができる。

また、選択部３２８および選択部３４８は、測定用端子３１４を介して外部の回路から信号を受け取り、受け取った信号を、複数の測定点のいずれかに印加してよい。このような構成により、例えば送信側回路３２０のいずれかの測定点から信号を取り出して、受信側回路３４０のいずれかの測定点に印加するループバック試験を行うことができる。この場合、試験回路１１０は、送信側回路３２０から取り出した信号に対して所定の信号処理を行ってから、受信回路３５０にループバックしてもよい。

また、ループバック試験を行う場合、選択部３２８および選択部３４８は、半導体回路３１０で対となる回路において、対応する測定点を選択してよい。ここで、対応する測定点とは、伝送信号の特性が共通する測定点を指してよい。また、伝送信号の特性とは、アナログ／デジタルの信号種類、周波数、および、信号レベル等を含む概念であってよい。

例えば、選択部３２８が、ＤＡ変換器３２２の出力端の測定点を選択した場合、当該測定点を伝送する信号は、ベースバンドのアナログ信号となる。この場合、選択部３４８は、ベースバンドのアナログ信号が伝送されるＡＤ変換器３４２の入力端を、測定点として選択してよい。試験回路１１０は、このような測定点を選択させるべく、選択部３２８および選択部３４８に制御信号を供給してよい。このような制御により、半導体回路３１０において、多様なループバック試験を行うことができる。

また、複数の測定配線、外部端子、および、選択部を、複数の半導体回路３１０のそれぞれに設けることで、それぞれの半導体回路３１０について、詳細な測定および試験を行うことができる。また、試験回路１１０は、実動作用端子３１２を介して、半導体回路３１０と電気的に接続されてよい。この場合、半導体回路３１０は、測定用端子３１４を有さず、選択部３２８および選択部３４８は、複数の測定点のいずれを、実動作用端子３１２を介して試験回路１１０に接続するかを選択してよい。

図３は、半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。本例の半導体回路３１０は、複数の動作回路３７０、複数の測定配線３７２、複数の実動作用端子３１２、選択部３２８、および、測定用端子３１４を有する。なお、測定配線３７２は、選択配線の一例を示す。

複数の動作回路３７０は、半導体回路３１０の実装時に動作する回路であってよい。また、複数の動作回路３７０は、複数の実動作用端子３１２と一対一に対応して設けられる。それぞれの動作回路３７０は、対応する実動作用端子３１２を介して、外部の回路と電気的に接続される。

複数の測定配線３７２は、複数の動作回路３７０と一対一に対応して設けられる。それぞれの測定配線３７２は、対応する動作回路３７０の入出力端を測定点として、各測定点と選択部３２８とを電気的に接続する。

選択部３２８は、いずれかの測定配線３７２を選択する。また、選択部３２８は、選択した測定配線３７２を、測定用端子３１４に電気的に接続する。このような構成により、一つの測定用端子３１４を用いて、複数の動作回路３７０の入出力端を伝送する信号を測定することができる。

なお、それぞれの測定配線および選択部は、半導体回路３１０内の測定ノードから外部端子への方向、および、外部端子から測定ノードへの方向の、双方向において信号伝送が可能であってよい。例えば、図３に示した選択部３２８および測定配線３７２は、双方向に信号伝送が可能であってよい。

また、それぞれの測定配線および選択部は、上述した信号伝送の方向のうち、一方向に信号伝送が可能であってもよい。例えば、図２に示した測定配線３３２および選択部３２８は、測定ノードから外部端子に信号伝送が可能であってよい。また、図２に示した測定配線３５２および選択部３２８は、外部端子から測定ノードに信号伝送が可能であってよい。

このように、半導体回路３１０は、双方向に信号伝送が可能な測定配線および選択部を有してよい。また他の例では、半導体回路３１０は、上述した方向のうち、いずれか一方の方向に信号伝送が可能な測定配線および選択部を有してもよい。

図４は、半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。本例の半導体回路３１０は、図３に関連して説明した半導体回路３１０の構成に加え、複数の印加配線３７４、選択部３４８、および、測定用端子３１４を更に有する。印加配線３７４は、選択配線の一例を示す。

複数の印加配線３７４は、複数の動作回路３７０と一対一に対応して設けられる。それぞれの印加配線３７４は、対応する動作回路３７０の入出力端を測定点として、各測定点と選択部３４８とを電気的に接続する。

選択部３４８は、いずれかの測定配線３７２を選択する。また、選択部３４８は、選択した測定配線３７２を、選択部３２８とは異なる測定用端子３１４に電気的に接続する。また、選択部３４８は、測定用端子３１４を介して試験回路１１０から受け取った信号を、選択した測定配線３７２を介して動作回路３７０に印加する。このような構成により、所定の動作回路３７０が出力する信号を取り出して、試験回路１１０において所定の信号処理を行い、所定の動作回路３７０にループバックすることができる。

図５は、半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。なお、図５においては、送信側回路３２０の構成を示すが、受信側回路３４０も同様の構成を有してよい。本例の送信側回路３２０は、図２に関連して説明した構成に対して、選択部３２８を複数有する点で相違する。他の回路構成は、図２に関連して説明した送信側回路３２０と同一であってよい。また、半導体回路３１０は、複数の選択部３２８に対応して、複数の測定用端子３１４を有してよい。

それぞれの選択部３２８は、複数の測定配線３３２と電気的に接続される。それぞれの選択部３２８に接続される測定配線３３２は、選択部３２８ごとに異なってよい。また、それぞれの選択部３２８に接続される測定配線３３２は、選択部３２８ごとに一部が重複していてもよい。

それぞれの選択部３２８は、対応する複数の測定配線３３２のいずれかを選択して、対応する測定用端子３１４を介して試験回路１１０に電気的に接続する。このような構成により、半導体回路３１０内部の複数の測定点における信号を、同時に測定することができる。

図６は、半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。なお、図６においては、送信側回路３２０の構成を示すが、受信側回路３４０も同様の構成を有してよい。本例の送信側回路３２０は、図２に関連して説明した構成に対して、測定用ドライバ３３４を有する点で相違する。他の回路構成は、図２に関連して説明した送信側回路３２０と同一であってよい。

図１から図５に関連して説明した半導体回路３１０においては、それぞれの測定点は、ドライバ回路を介さずに、測定用端子３１４に電気的に接続された。これに対して、本例の半導体回路３１０においては、それぞれの測定点は、測定用ドライバ３３４を介して、測定用端子３１４に電気的に接続される。測定用ドライバ３３４は、選択部３２８と、測定用端子３１４との間に設けられてよい。測定用ドライバ３３４は、選択部３２８が選択した測定配線３３２から与えられる電圧に応じた電圧を出力する。

上述したように、試験回路１１０は、半導体回路３１０の近傍に設けられる。つまり、測定用ドライバ３３４が駆動すべき伝送線路の容量等は、比較的小さい。このため、測定用ドライバ３３４は、出力可能な電流が比較的小さいドライバであってよい。例えば、測定用ドライバ３３４が出力可能な電流は、半導体回路３１０において外部に信号を出力すべく設けられたドライバ３２６が出力可能な電流より小さくてよい。

また、測定用ドライバ３３４は、入出力間の伝達特性が線形であってよい。例えば、測定用ドライバ３３４は、線形増幅器であってよい。このようなドライバを用いることで、アナログ信号を外部で測定することができる。

図７は、半導体回路３１０の他の構成例を示す図である。なお、図７においては、送信側回路３２０の構成を示すが、受信側回路３４０も同様の構成を有してよい。本例の送信側回路３２０は、図２に関連して説明した構成に対して、スイッチ３３６を更に有する点で相違する。他の回路構成は、図２に関連して説明した送信側回路３２０と同一であってよい。また、半導体回路３１０は、外部端子として、制御用端子３１６を更に有する。

スイッチ３３６は、選択部３２８および測定用端子３１４の間に設けられ、選択部３２８および測定用端子３１４の間の信号伝送路において、信号を通過させるか否かを切り替える。本例のスイッチ３３６は、選択部３２８および測定用端子３１４を電気的に接続するか否かを切り替える。スイッチ３３６は、制御用端子３１６を介して試験回路から与えられる切替信号に応じて、選択部３２８および測定用端子３１４を電気的に接続するか否かを切り替える。

スイッチ３３６は、例えば半導体スイッチであってよい。またスイッチ３３６は、切替信号が与えられない場合にオフ状態となり、切替信号が与えられた場合にオン状態となるスイッチであってよい。つまり、スイッチ３３６は、半導体回路３１０の実装時には、オフ状態に固定される。このような構成により、半導体回路３１０の実装時等において、測定用端子３１４から送信側回路３２０にノイズが印加されることを防ぐことができる。

図８は、試験用基板１００に設けられるそれぞれの試験回路１１０の構成例を示す図である。なお、図８においては、一つの試験回路１１０の構成を示す。それぞれの試験回路１１０は同一の構成を有してよい。

それぞれの試験回路１１０は、制御部１３０および測定回路１２０を有する。制御部１３０は、半導体回路３１０の制御用端子３１６に電気的に接続される。また、測定回路１２０は、半導体回路３１０の測定用端子３１４に電気的に接続される。

制御部１３０は、制御用端子３１６を介して、選択部３２８に制御信号を供給することで、選択部３２８に、いずれの測定配線３３２を選択させるかを制御する。また、測定回路１２０は、選択部３２８が選択した測定配線３３２を伝送する信号を、測定用端子３１４を介して受け取る。測定回路１２０は、受け取った信号の電気的特性を測定することで、半導体回路３１０の良否を判定してよい。

このような構成により、試験用基板１００は、半導体回路３１０における多様な測定点を伝送する信号を測定することができる。このため、半導体回路３１０を精度よく試験することができる。

また、試験回路１１０は、半導体回路３１０における送信側回路３２０から受け取った信号に対して所定の信号処理を行って、受信側回路３４０にループバックする信号処理部有してもよい。信号処理部は、例えばフィルタ、遅延回路、ノイズ発生回路、ジッタ発生回路、変調回路等を通過させた信号を、受信側回路３４０にループバックしてよい。

図９は、半導体回路３１０における、測定用端子３１４の配置例を示す図である。一般に、半導体回路３１０は、動作回路が形成される回路領域３８０の外側に、複数の実動作用端子３１２が形成される。図９に示すように、測定用端子３１４および制御用端子３１６は、回路領域３８０に形成されてよい。

また、実動作用端子３１２は、四角形の各辺に沿って形成されてよい。これに対して、測定用端子３１４および制御用端子３１６は、当該四角形の内部に形成されてよい。また、測定用端子３１４および制御用端子３１６は、実動作用端子３１２と同様に、回路領域３８０の外側に形成されてもよい。また、測定用端子３１４および制御用端子３１６も、上述した四角形の各辺に沿って形成されてよい。

以上、発明を実施の形態を用いて説明したが、発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。

Claims (13)

1. 複数の半導体回路が形成される半導体ウエハであって、
   外部の測定回路に接続される外部端子と、
   前記半導体ウエハにおける複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する前記測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、
   前記複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した前記選択配線を介して、対応する前記測定点と前記外部端子との間で信号を伝送させる選択部と
   を備える半導体ウエハ。
2. 前記外部端子は、前記半導体回路の実装時に使用される実動作用端子とは独立して設けられる
   請求項１に記載の半導体ウエハ。
3. 前記選択部と、前記外部端子との間の信号伝送路において、信号を伝送させるか否かを切り替えるスイッチを更に備える
   請求項２に記載の半導体ウエハ。
4. 前記スイッチは、前記半導体回路の実装時にオフ状態に固定される
   請求項３に記載の半導体ウエハ。
5. 前記外部端子および前記選択部は、複数の前記半導体回路に対応して複数ずつ設けられ、
   それぞれの前記半導体回路における複数の測定点に、それぞれ前記選択配線が対応して設けられ、
   前記選択部は、対応する前記半導体回路における複数の測定点に対応する複数の前記選択配線から、いずれかを選択する
   請求項１に記載の半導体ウエハ。
6. 前記外部端子および前記選択部は、一つの前記半導体回路に対して複数ずつ設けられる
   請求項５に記載の半導体ウエハ。
7. 前記選択配線は、対応する前記測定点と前記外部端子とを電気的に接続すべく設けられ、
   それぞれの前記測定点は、ドライバ回路を介さずに、前記外部端子と電気的に接続される
   請求項１に記載の半導体ウエハ。
8. 前記選択配線は、対応する前記測定点と前記外部端子とを電気的に接続すべく設けられ、
   それぞれの前記測定点と、前記外部端子との間には、前記半導体回路において、前記半導体回路の外部に信号を出力するべく設けられたドライバ回路より出力可能な電流の小さい測定用ドライバが設けられる
   請求項１に記載の半導体ウエハ。
9. 前記測定用ドライバは、前記選択部と前記外部端子との間に設けられ、前記選択部が選択した前記選択配線から与えられる電圧に応じた電圧を出力する
   請求項８に記載の半導体ウエハ。
10. 前記選択部は、入出力間の伝達特性が線形である
    請求項１に記載の半導体ウエハ。
11. 動作回路を有する半導体回路であって、
    外部の測定回路に接続される外部端子と、
    前記動作回路における複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する前記測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、
    前記複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した前記選択配線を介して、対応する前記測定点と前記外部端子との間で信号を伝送させる選択部と
    を備える半導体回路。
12. 半導体ウエハに形成された複数の半導体回路を試験する試験用基板であって、
    前記半導体ウエハには、
    外部の測定回路に接続される外部端子と、
    前記半導体ウエハにおける複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する前記測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、
    前記複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した前記選択配線を介して、対応する前記測定点と前記外部端子との間で信号を伝送させる選択部と
    が形成され、
    前記試験用基板は、
    前記半導体ウエハの前記外部端子に接続され、前記選択部により選択された前記選択配線が伝送する信号の電気特性を測定する測定回路と、
    前記半導体ウエハの前記選択部に、いずれの前記選択配線を選択させるかを制御する制御部と
    を備える試験用基板。
13. 半導体ウエハに形成された複数の半導体回路を試験する試験システムであって、
    前記半導体ウエハと信号を受け渡し可能に設けられる試験用基板と、
    前記試験用基板を制御する制御装置と
    を備え、
    前記半導体ウエハには、
    外部の測定回路に接続される外部端子と、
    前記半導体ウエハにおける複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する前記測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、
    前記複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した前記選択配線を介して、対応する前記測定点と前記外部端子との間で信号を伝送させる選択部と
    が形成され、
    前記試験用基板は、
    前記半導体ウエハの前記外部端子に接続され、前記選択部により選択された前記選択配線が伝送する信号の特性を測定する測定回路と、
    前記半導体ウエハの前記選択部に、いずれの前記選択配線を選択させるかを制御する制御部と
    を有する試験システム。

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