JPS6331497A - ステツピング・モ−タのテスト方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、ステッピング・モータ（同期モータとも称さ
れる）の過度な摩擦な巻線の短絡を比較的短時間で自動
的にテストする方法に関し、具体的には、回転子の軸に
動力を供給するために回転子の軸への機械的連結を行な
わずに、ステッピング・モータの過度な摩擦や巻線の短
絡を自動的にテストする方法に関する。

Ｂ、従来の技術 米国特許第４４２２０４０号には、ステッピング・モー
タを迅速にテストする方法が開示されている。前記の米
国特許第４４２２０４０号は、満足のいくテスト方法を
提供するが、回転子の軸に機械的連結を行なう必要があ
り、また、比較的強い電流を使用する。

前記米国特許第４４２２０４０号の方法は、スチッピン
グ・モータの回転子と固定子の接触や大きなころ軸受の
摩擦など内部抗力の発生源を自動的に検出することはで
きない。ころ軸受は、固定子内で回転子の軸の両端部を
回転可能に支持している。

ステッピング・モータの過度の摩擦をテストする一つの
手段は、回転子の軸を手で回し、手ざわりから摩擦が過
度であるかどうか人間が決定するものであった。この手
段が満足のいくものでないのは、人間が欠陥のあるモー
タを合格にしたり、許容できるモータを余り多く拒絶し
すぎたりするからである。というのも、その決定が、人
間の手による主観的な感覚に依存しているためである。

Ｃ０発明が解決しようとする問題点 この手動テストは、また比較的長い時間が必要である。

この手動テストは、また、たとえば、前記の米国特許第
４４２２０４０号の方法でモータの短絡をテストすると
きとは違う時に実施しなければならない、すなわち、過
度の摩擦の手動テストは均一性を欠くだけでなく、テス
トの時間とコストを増加させる。

前記の米国特許第４４２２０４０号の方法は、ステッピ
ング・モータの重要な性能パラメータの大半のテストを
申し分なく実行するが、相間および相アース間の短絡を
確実に検出することはできない。したがって、前記の特
許の方法は、ステッピング・モータの過度の摩擦を自動
的にテストすることができない上、ある種の短絡を検出
することもできない。

本発明の目的は、ステッピング・モータをテストして、
過度の摩擦な巻線の短絡が発生しているかどうか自動的
に決定する方法を提供することにある。

Ｄ１問題点を解決するための手段 本発明の方法は、たとえば４秒未満はどの極めて短かい
時間で、ステッピング・モータの過度の摩擦と巻線の短
絡を自動的にテストする。すなわち、本発明のテスト方
法は、過度の摩擦が発生しているかどうかのテストを人
間が行なう主観的なテストを不要にし１回転子の軸への
機械的連結を行なわずに、このテストを実行する。動力
源への機械的連結および連結解除を行なう必要がないの
で、テスト時間が減少できる。

本発明の方法は、また固定子の巻線に短絡があるかどう
かを同様に短時間で自動的に決定する。

過度の摩擦があるかどうかを決定すると共に、モータの
相間および相アー入間の短絡を確実に検出する能力があ
るため、許容できるステッピング・モータが、主観的テ
ストで検査される必要はない。

更に、本発明のテスト方法と前記米国特許第４４２２０
４０号の技術を組み合わせると、障害の発生する可能性
がより小さなモータができる。米国特許第４４２２０４
０号のテスト方法では、モータの回転子の軸を電源で把
持して回転させる必要があるので、本発明のテスト方法
と米国特許第４４２２０４０号のテスト方法は別々に実
行されるが、モータと電源を、生産ラインに沿って隣接
して配置することができる。本発明のテスト方法は１回
転子に過度の摩擦が発生することがなくなり、全体のテ
スト時間が減少するが、前記米国特許第４４２２０４０
号のテスト方法は、回転子の軸に電流を接続したり切断
したりする時間が必要なので、本発明の方法を先に実施
することが好ましい。

本発明のテスト方法は、比較的小さな電流を使用して１
回転で回転子を整流するので、たとえば回転子と固定子
の間に過度の結合力が生じていたり、大きなこる棟受の
摩擦が生じているモータは回転しない。低い電流レベル
で低速度で回転子が１回転した後１回転子に過度の摩擦
がない場合、モータは、整流によって極めて低い一定加
速度で加速される。したがって１回転子がその低速度よ
り大きい所定の最終速度に達すると、整流は止まるが、
ステッピング・モータの少なくとも１つの相には電流が
流れる。

整流が止まったとき、許容できるモータの回転子は、整
流が行なわれなくても回転を続けるのに十分な運動エネ
ルギをもっているはずである。ステッピング・モータの
少なくとも１つの相で電流が流れていいるので、この回
転によって付勢相で交流逆起電力（ＥＭＦ）信号が生成
されることになる。

過度の摩擦または相の短絡があるモータは回転しないの
で、付勢相には感知できるは途の交流逆起電力信号は生
じない。このことは、モータに欠陥があることを示して
いる。

更に、モータが許容できるものである場合、本発明の実
施例では、整流が止まってから許容できるモータが停止
するまでの経過時間がカウントされる。この経過時間を
、他の許容できるモータの経過時間と一緒に使って、各
ステッピング・モータの摩擦の程度を決定することがで
きる。

Ｅ、実施例 図面、特に第２図を参照すると、３相可変磁気抵抗（リ
ラクタンス）式の１回転９６ステツプのステッピング・
モータ１０が示されている。ステッピング・モータ１０
は、固定子組立体１１と回転子１２を備えている。固定
子組立体は、６つの磁極１４．１５．１６．１７．１８
．１ｇを有する。

磁極１４．１５．１６．１７．１８．１９はそれぞれ巻
線２ｏ、２１．２２．２３．２４．２５を有する。直径
方向に対向して配置された磁極の巻線が直列に接続され
、３相モータ１ｏを形成している。すなわち、磁極１４
の巻線２０は磁極１７の巻線２３と直列で相Ａを構成す
る。磁極１５の巻線２１は磁極１８の巻線２４と直列で
相Ｂを構成する。また、磁極１６の巻線２２は磁極１９
の巻ａ２５と直列で相Ｃを構成する６したがって。

１相につき磁極が２個ある。

モータ１ｏが１回転９６ステツプのステッピング・モー
タの場合、回転子１２には３２本の歯があり、そのうち
の５本の歯がそれぞれ磁極１４〜１９に接続される。回
転子１２の歯２６の数と相の数の積がモータ１０の１回
転当りの段数である。

３相で、回転子１２の歯２６が３２本の場合、回転子１
２は１回転当り９６ステツプとなる。

モータ１０は、任意の時間に順々に３相のうちの２相に
電流を流して回転子１２を整流することによって回転す
る。たとえば、まず巻線２０と２３および巻線２１と２
４に電流が供給され、次いでモータ１０が１段進んだ後
、巻線２０と２３から切れて巻線２２と２５に流れる。

ステッピング・モータ１ｏのテストは、制御プロセッサ
３０（第３図参照）の制御下で行なわれる。制御プロセ
ッサの１つの適当な例は、８０８５マイクロプロセツサ
である。他のマイクロプロセッサでも適当なものならど
れでも使用できる。

モータ１０のテストが始まると、制御プロセッサ３ｏは
低リセット信号を供給して、センス・ラッチ３１と３２
およびクロック表示器３３をリセットする。制御プロセ
ッサ３０は信号を加速ドライバ３４にも供給する。

加速ドライバ３４は、制御プロセッサ３０（第３図参照
）から線３６．３７．３８を介して信号を受は取る電流
制御モジュール３５（第４図参照）を含んでおり、この
モジュール３５は定電流を巻線２０〜２５に供給するこ
とができる（第５図参照）、電流制御モジュール３５（
第４図参照）の１つの適当な例は、ＩＢＭ集積回路、部
品番号８２４７５７１である。

線３６上の信号は、加速ドライバ３４から線３９と４０
を介して、相Ａを構成する巻線２０（第５図参照）と２
３へ流れる電流を制御する。線３７上の信号（第４図参
照）は、加速ドライバ３４から線４１と４２を介して相
Ｂを形成する巻線２１（第５図参照）と２４へ流れる電
流を制御する。

線３８上の信号（第４図参照）は、加速ドライバ３４か
ら線４３と４４を介して相Ｃを構成する巻線２２（第５
図参照）と２５へ流れる電流を制御する。

線３６（第４図参照）上に低レベル信号があるとき、電
流制御モジュール３５は、！４５と４６を介して信号を
供給する。線４５は、ＰＮＰ）−ランジスタ４７のベー
スに接続されている。このＰＮＰｈランジスタ４７はＰ
ＮＰ　　ＴＩＰ１１６である。線４６は、ＮＰＮトラン
ジスタ４８のベースに信号を供給する。このＮ　Ｐ　Ｎ
　トランジスタ４８は、ＮＰＮ　　ＴＩＰＩＩＩである
。

電流制御モジュール３５は、抵抗４９に現われ、線５０
を介して電流制御モジュール３５へ戻る電圧を電圧Ｖ　
　　と比較する。電圧■　　　は、ＲＥ　Ｆ　　　　　
　　　　　ＲＥ　Ｆポテンシオメータ５１を調整するこ
とにより、電流制御モジュール３５で事前設定される。

ポテンシオメータ５１は、ある特定レベルの電流が巻線
２０（第５図参照）と２３中をいつ流れるかを確認する
ため、最初に電流計を使って設定される。

電流制御モジュール３５（第４図参照）は、線５０上の
電圧を電圧Ｖ　　　と比較する回路を備ＥＦ えている。電流制御モジュール３５は、電流チョッピン
グ特性を改善するための能動および受動回路構成要素、
および巻線２０（第５図参照）と２３の制御電流値を維
持するための比較回路を備えている。

電流制御モジュール３５（第４図参照）は、クロック入
力として、チョッパ周波数が２０〜２５にＨｚの短形波
信号を必要とする。低電圧と受動構成要素を電流制御モ
ジュール３５に追加すると、加速ドライバ３４が完成す
る。

低レベル信号が！３７を介して供給されると、電流制御
モジュール３５は、線５２と５３を介して信号を供給し
、それによって巻線２０と２３について先に説明した場
合と同様に、巻線２１（第５図参照）と２４へ定電流が
送られる。線３８（第４図参照）上に低レベル信号があ
る場合、電流制御モジュール３５は、線５４と５５を介
して信号を供給し、それによって巻線２０と２３につい
て先に説明した場合と同様に巻線２２（第５図参照）と
２５へ定電流が送られる。

巻線２０〜２５に供給される電流のレベルは、制御プロ
セッサ３０（第３図参照）から線５６（第４図参照）を
介して電流制御モジュール３５へ送られる信号によって
制御される。電流制御モジュール３５内の論理が、線５
６（第４図参照）と５７を介して電流制御モジュール３
５へ送られる信号に応じて巻線２０〜２５（第５図参照
）に供給される電流のレベルを決定する。

線５６上に高論理信号があり、線５７上に低論理信号が
ある場合、巻線２０〜２５（第５図参照）中で高レベル
の電流が生成される。線５６（第４図参照）上の論理信
号が低レベルであり、線５７上の論理信号が高レベルの
場合、巻線２ｏ〜２５（第５図参照）中で低レベルの電
流が生成される。

線５６（第４図参照）と５７のどちらにも高論理信号が
ある場合には、巻線２０〜２５（第５図参照）中で電流
が生成されない。

加速ドライバ３４（第３図参照）は制御プロセッサ３０
によってオンにされ、約１２０ミリアンペア程度の高レ
ベル電流を生成する。この高レベル電流が、加速ドライ
バ３４から出て、固定子組立体１１の巻線２０〜２５（
第２図参照）を整流する。巻線２０〜２５の整流は、制
御プロセッサ３０（第３図参照）から線３６〜３８（第
４図参照）を介して加速ドライバ３４へ送られる信号に
よって制御される。

高レベル電流が、ステイクションを打ち破るために１０
０ミリ秒間流される。このステイクションとは、回転子
１２（第１図参照）の回転を始めるために打ち破らなけ
ればならない摩擦のことである。この時間周期は、第１
Ａ図に示されている。

高レベル電流が、加速ドライバ３４（第３図参照）から
、加速ドライバ３４に通じる外部接地接続線５８をもつ
モータ１ｏへ流れている間、高レベル電流は、常に１相
が付勢されるのかそれとも２相が付勢されるのかを応じ
て３相のうちの１相または２相に流れる。その後、次の
相を付勢させるため、制御プロセッサ３０の制御下で、
［３６〜３８（第４図参照）を介して整流が行なわれる
。

１００ミリ秒が経過すると、制御プロセッサ３０（第３
図参照）は、固定子組立体１１の巻線２０〜２５（第１
図参照）を整流して、高レベル電流を保持しながら１回
転子１２を１０００ステツプ／ｓｅｃ”の定加速度で休
止状態から毎秒約９５ステツプの定速度まで加速させる
。この加速が行なわれるのは、第１Ａ図に示すように約
１００ミリ秒間である。

回転子１２（第２図参照）が毎秒約９５ステツプの定速
度で回転しているとき、加速ドライバ３４（第３図参照
）は、制御プロセッサ３０によって、その電流が約８０
ミリアンペアという低レベルに下げられる。モータ１０
は定速度で９５段回転する。すなわち、制御プロセッサ
３ｏは、巻線２０〜２５（第２図参照）の整流を制御す
る。第１Ａ図に示すように、回転子１２が１回転するの
にほぼ１秒かかる（第２図参照）、。

低レベル電流は、８０ミリアンペアと十分に低いので、
回転子１２と固定子組立体１１が接触する場合、または
、回転子１２の軸の両端を支持するころ軸受が比較的高
い摩擦をもつ場合１回転子１２は回転しない。したがっ
て、抗力を生じる過度な摩擦のために低電流レベルでは
回転子１２を回転させられない場合、回転子１２は、テ
ストの残余期間回転しない。

回転子１２の１回転が完了すると、制御プロセッサ３０
（第３図参照）は、１０００ステツプｓｅｃ”という定
加速度で回転子１２（第２図参照）の加速を再開し、回
転子１２の速度を毎秒約９５ステツプから毎秒１２５０
ステツプに増加させる。この加速中に、制御プロセッサ
３０（第３図参照）は１回転子１２（第２図参照）の速
度が毎秒４゜Ｏステップに還したとき、加速ドライバ３
４からの高レベル電流を回復させる。したがって、この
時、加速ドライバ３４（第３図参照）の電流レベルは約
１２０ミリアンペアである。加速ドライバ３４からのこ
の電流レベルの増加は、同期の損失を防ぐために、回転
子１２（第２図参照）の速度がその「同期引込み」速度
を越えたときに起こる。

モータ１０が毎秒１２５０ステツプの速度に達したとき
、制御プロセッサ３０（第３図参照）は加速を停止する
。しかし、整流は、モータ１ｏの残り６３ステツプの間
も継続され、毎秒１２５０段という最終速度でモータ１
ｏが安定化する。

回転子１２（第２図参照）の速度が、加速に続く６３段
が終了して安定化すると、加速ドライバ３４（第３図参
照）は制御プロセッサ３０によってオフにされる。これ
は約２．４秒かけて行なわれる。加速ドライバ３４がオ
フになると、回転子１２（第２図参照）が回転している
場合、制御プロセッサ内の肯定応答（ＡＣＫＮＯＷＬＥ
ＤＧＥ）タイマであるクロック表示器３３が、始動する
。

クロック表示器３３（第２図参照）は経過時間を表示す
る。この時間は、第１Ｂ図では肯定応答（ＡＣＫＮＯＷ
ＬＥＤＧＥ）信号降下時間と記されている。

加速ドライバ３４（第３図参照）が制御プロセッサ３０
によってオフにされてから２ミリ秒後に、センス・ドラ
イバ５９が第１Ｂ図に示すように制御プロセッサからの
信号によってオンにされる。

センス・ドライバ５９（第５図参照）は、３相のそれぞ
れについて同じ回路を有する。

センス・ドライバ５９の、相Ａを構成する巻線２０と２
３用の部分は、制御プロセッサ３０（第２図参照）から
インバータ６１（第５図参照）に到る線６ｏを有する。

このインバータ６１は、７４０４インバータである。セ
ンス・ドライバの巻線２０と２３に接続されている部分
は、ＮＰＮトランジスタ６２（２Ｎ２２２２トランジス
タである）とＰＮＰトランジスタ６３　（ＴＩＰ１１６
トランジスタである）も有する。ＮＰＮトラ°ンジスタ
６４（ＴＩＰ１１１トランジスタである）もある。

加速ドライバ３４（第３図参照）がオフになると、セン
ス・ドライバ５９は制御プロセッサ３０から線６０（第
５図参照）を介して送られる細論′理コマンド信号によ
って付勢される。これにより。

インバータ６１の出力端に高信号が現われ、トランジス
タ６２が付勢される。その結果、トランジスタ６３が付
勢され、直流電流が抵抗６５とダイオード６６を経て巻
線２０と２３に流れる。電流経路は、巻線２０と２３か
らトランジスタ６４を介してアースに到って完了する。

第１Ｂ図に示すように、センス・ラッチ３１（第３図参
照）と３３が、センス・ドライバが付勢されてから９ミ
リ秒後に付勢される。これによって、１＃定応答（ＡＣ
ＫＮＯＷＬＥＤＧＥ）信号が各センス・ラッチ３１と３
２中でラッチされる。

応答信号は、センス・ラッチ３１と３２で次のテスト・
サイクルの開始の際にリセットされるまで、ラッチされ
る。

センス・ドライバ５９は、一定の直流電流を生成する。

この一定の直流電流は、モータ１０の各相に同時に流れ
る。モータ１０の相の１つに電流が流れさえすればよい
とはいうものの、モータ１０の３相のそれぞれに一定の
直流電流を供給する方が望ましい。というのもそうすれ
ば加速ドライバ３４が無効化された後に信頼性のより高
い信号が生成されるからである。

この電流が約８０ミリアンペアという低レベルで存在す
ると、磁束が生じて、加速ドライバ３４が無効化されて
から回転子１２（第２図参照）が停止するまでの慣性回
転中に逆起電力信号が生成させる。回転子１２（第２図
参照）がその運動エネルギを放散する前に逆起電力信号
が存在するか否かが、センス回路６７（第３図参照）に
よって感知または検出される。

第６図に示すように、センス回路６７は、交流結合増幅
器６８、ゼロ交差検出器６９および論理ｒＯＲＪ回路７
０を含んでいる。相Ａ用の交流結合増幅器６８は、コン
デンサ７２と７３を介して巻線２０（第５図参照）と２
３に交流結合されている演算増幅器７１を含む。この増
幅器７１は、ＬＭ７４７演算増幅器である。巻線２０（
第５図参照）と２３用の交流結合増幅器６８（第６図参
照）は、背向形の１対のツェナー・ダイオード７４（第
６図参照）と７５を含み、これらのダイオードは、演算
増幅器７１を保護するために負荷信号を除去する保護ク
ランプとして働く。

演算増幅器７６は、演算増幅器７１と同じであり、演算
増幅器７１　（第６図参照）が巻線２０（第５図参照）
と２３に交流結合されるのと同様に、巻線２１（第５図
参照）と２４に交流結合される。演算増幅器７７（第６
図参照）も演算増幅器７１が巻線２０（第５図参照）と
２３に交流結合されるのと同様に、巻線２２（第５図参
照）と２５に交流結合される。

ｅＬ算増幅器７１．７６．７７の出力端子から出る信号
が、第９図に示されている。これらの増幅器は、それぞ
れ他の２つの増幅器から電気的に１２０度隔置されてい
る。

交流結合増幅器６８（第６図参照）からの出力は、ゼロ
交差検出器６９に供給される。すなわち、演算増幅器７
１からの出力は、ゼロ交差検出器６９の電圧比較器７３
に供給され、演算増幅器７６の出力は、ゼロ交差検出器
６９の電圧比較器７９に供給され、演算増幅器７７から
の出力は、ゼロ交差検出器６９の電圧比較器８０に供給
される。

比較器７８〜８０（たとえばＬＭ３３９電圧比較器でよ
い）の出力を、第９図に示す。

比較器７８（第６図参照）の出力は、論理ＯＲ回路７０
のＯＲゲート８１に一人力として供給される。ＯＲゲー
ト８１のもう一方の入力端は接地されている。電圧比較
器７９と８０の出力は、論理ＯＲ回路７ｏのＯＲゲート
８２への２つの入力である。

ＯＲゲート８１と８２の出力は、ＯＲゲート８３への２
つの入力である。ＯＲゲート８３は、線８４上に肯定応
答（ＡＣＫＮＯＷＬＥＤＧＥ）信号を出力する。ＯＲゲ
ート８２〜８３は、たとえば、７４３２０Ｒゲートでよ
い。

第９図に示すように、演算増幅器７１．７６゜７７から
電圧がゼロ電圧線を越えると、それに応じて比較器７８
〜８ｏが出力パルスを供給する。

すなわち、電圧が降下すると、比較器７８．７９．８０
の各出力は低レベルになる。各演算増幅器７１．７６．
７７からの電圧がゼロを越えると、比較器７８．７９．
８０の出力は、それぞれ、高レベルになる。

各演算増幅器７１．７６．７７からの出力電圧が、それ
らが接続されている比較器７８．７９．８０内の比較電
圧より小さくなるまで、この３個の比較器７８〜８０の
うちの１つの出力が高レベルであるので、ＯＲゲート８
３からの肯定応答（ＡＣＫＮＯＷＬＥＤＧＥ）信号は、
比較器７８〜８０がどれも高パルスを生成しなくなるま
で高レベルにとどまる。

すなわち、回転子１２（第２図参照）が回転して逆起電
力が生成される場合、高レベルの肯定応答（ＡＣＫＮＯ
ＷＬＥＤＧＥ）信号がセンス回路６７（第６図参照）か
ら生成される。この信号は線８４と８５（第７図参照）
を介してセンス・うツチ引へ、また線８４（第６図参照
）と線８６（第８図参照）を介してセンス・ラッチ３２
へ供給される。線８４（第６図参照）は、制御プロセッ
サ３０（第３図参照）にも接続されている。

第１Ｂ図に示すように、センス・ラッチ３１（第３図参
照）と３２は、センス・ドライバ５９がオンになってか
ら９ミリ秒後に付勢される。制御プロセッサ３０からの
付勢（ＥＮＡＢＬＥ）　信号は、線８７（第７図参照）
を介してセンス・ラッチ３１のＮＡＮＤゲート８８へ、
また線８９（第８図参照）を介してセンス・ラッチ３２
のＮＡＮＤゲート９０へ供給される。

センス・ラッチ３２のＮＡＮＤゲート９０へのもう一方
の入力は、線８６上の肯定応答（ＡＣ：ＫＮＯＷＬＥＤ
ＧＥ）信号であり、したがってセンス回路６７（第６図
参照）からの高レベルの肯定応答（ＡＣＫＮＯＷＬＥＤ
ＧＥ）信号ハ、ＮＡＮＤゲート９１（第８図参照）の出
力端で高電圧を発生させ、それがＮＡＮＤゲート９２へ
一人力として供給される。ＮＡＮＤゲート９２は、もう
−方の入力が高電圧なので、肯定応答（ＡＣＫＮＯＷＬ
ＥＤＧＥ）信号が高レベルのとき、ゲート９２の出力は
低レベルとなる。その結果、バス指示回路９４の緑色の
発色ダイオード９３が付勢される。

付勢（Ｅ　Ｎ　Ａ　Ｂ　Ｌ　Ｅ　）信号は、はんの短時
間だけ高レベルである。ただし、ＮＡＮＤゲート９１と
ＮＡＮＤゲート９５の協働動作によって肯定応答（ＡＣ
ＫＮＯＷＬＥＤＧＥ）信号が高レベルである場合、発光
ダイオード９３は付勢されたままとなる。ＮＡＮＤゲー
ト９１と９５は、Ｒ−５型メモリ・ラッチ回路を構成す
る。発光ダイオード９３がオンになるのは、低リセット
（ＲＥＳＥＴ）信号が制御プロセッサ３０（第３図参照
）から線９６を介してバッファ９７（第８図参照）に供
給されるときだけである。

モータ１０の回転子１２（第２図参照）が回転していな
いために背定応答（ＡＣＫＮＯＷＬＥＤＧＥ）信号が低
レベルの場合、ｆｉ８５（第７図参照）上のこの低レベ
ル信号はセンス・ラッチ３１のインバータ９８（たとえ
ば７４０４インバータでよい）によって変換されるので
、インバータ９８（第７図参照）以外はセンス・ラッチ
３２（第８図参照）と同じものであるセンス・ラッチ３
１が、障害指示回路１００のＮＡＮＤゲート９９に高レ
ベル信号を供給する。その結果、赤色の発光ダイオード
１０１がオンになり、モータ１０（第２図参照）の不良
を示す。

センス・ラッチ３１（第７図参照）は、さらにそれぞれ
センス・ラッチ３２のＮＡＮＤゲート９１（第８図参照
）と９５に対応するＮＡＮＤゲート１０２と１０３、お
よびバッファ９７（第８図参照）に対応するバッファ１
０４（第７図参照）を含んでいる。ＮＡＮＤゲート１ｏ
２（第７図参照）と１０３およびバッファ１０４は、Ｎ
　Ａ　Ｎ　Ｄゲート９１（第８図参照）と９５およびバ
ッファ９７と同様に互いに協働する。すなわち、低リセ
ット（ＲＥＳＥＴ）信号が制御プロセッサ３゜（第３図
参照）から線１０５を介してバッファ１０４の供給され
るまで、赤色の発光ダイオード１０１（第７図参照）は
付勢され続ける。

ＮＡＮＤゲート８８（第７図参照）、９０（第８図参照
）、９１．９２．９５．９９（第７図参照）、１０２お
よび１０３の適切な例は、７４０ＯＮＡＮＤゲートであ
る。バッファ９７（第８図参照）と１０４（第７図参照
）の適切な例は、７４０７バツフアである。

センス回路６７（第３図参照）からの高レベルの肯定応
答（ＡＣＫＮＯＷＬＥＤＧＥ）信号がまず低レベルにな
ると、クロック表示器３３が停止する。良好なモータで
は、クロック表示器３３で表示される経過時間によって
、良好なモータ間の摩擦の程度が比較される。不良なモ
ータでは１回転子１２が回転して、逆起電力を生成しな
いため、（第２図参照）クロック表示器３３はカウント
を行なわない。

良好なモータでは、高レベルの肯定応答（ＡＣＫＮＯＷ
ＬＥＤＧＥ）信号がまず低レベルになった後、クロック
表示器３３（第３図参照）が停止する。第４図に示すよ
うに、センス・ドライバ５９（第１Ｂ図参照）は、高レ
ベルの肯定応答（ＡＣＫ　Ｎ　ＯＷ　Ｌ　Ｅ　Ｄ　Ｇ　
Ｅ　）信号が最初に低レベルになってから２ミリ秒後に
制御プロセッサ３０によって消勢される。

感知と加速の機能は、希望するなら、１つのドライバに
統合することもできる。しかし、そうする場合には、加
速ドライバ３４の諸機能を満足させ強化する必要がある
。

以上、加速ドライバ３４を、２つの異なるレベルの電流
を供給するものとして説明してきたが、当然のことなが
ら、本発明の方法は低レベルの電流だけでも十分満足に
機能する。すなわち、加速ドライバ３４によって２つの
レベルの電流が供給されることは、前提条件ではない。

当然のことながら、回転子１２の初期加速中。

巻線２０〜２５（第２図参照）の電流レベルの感度を制
御しなければならない。電流レベルが低過ぎる場合１通
常の軸受摩擦と履歴現像に打ちかっのに十分なトルクが
発生しないため、モータがすべて拒絶されることがある
。電流レベルが高過ぎる場合、比較的高い抗力トルクを
もっモータだけが拒絶され、望ましくないモータが受は
入れられることになる。

上記実施例は、モータ１０を可変磁気抵抗式ステッピン
グ・モータに関するものであるが、当然のことながら１
本発明のテスト方法は永久磁石ステッピング・モータや
ハイブリッド・ステッピング・モータにも利用できる。

永久磁石ステッピング・モータやハイブリッド・ステッ
ピング・モータをテストする場合、センス動作中に電流
は供給されない。これは、永久磁石モータやハイブリッ
ド・モータは電流なしで磁束を生成するので、モータが
回転すると電流ないし逆起電力が生成されるからである
。したがって、センス・ドライバ５９　（第３図参照）
は、永久磁石モータと同様に可変磁気抵抗式モータの機
能をもつように電流を供給する。

Ｆ３発明の効果 本発明の利点は、ステッピング・モータの過度な抗力や
巻線の短絡のテストが比較的迅速なことである。本発明
の別の利点は、ステッピング・モータの過度な抗力に対
する手動検査が不要となることである。本発明の更に別
の利点は、ステッピング・モータを自動的にテストする
ことである。

本発明のさらに別の利点は、ステッピング・モータの過
度な抗力な巻線の短絡をテストする低コストの方法だと
いう点である。本発明のさらに別の利点は、過度の抗力
の有無をテストするために機械的力を回転子の軸に加え
る必要がないという点である。本発明の実施例では、上
記本発明の利点のほかに、良好なステッピング・モータ
の摩擦の程度を他の良好なステッピング・モータと比較
して決定できる利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１Ａ図は、本発明によるテスト中の回転子の速度およ
び加速度と時間との関係の一例を示す説明図、 第１Ｂ図は、本発明によるテスト中のステッピング・モ
ータの回転子の加速が停止したと°きからテストが完了
するまでに生じる様々な事象の一例を示す説明図、 第２図は１本発明の方法によってテストできる可変磁気
抵抗式ステッピング・モータの一例を示す概略断面図、 第３図は、本発明のテスト方法を実施するための装置の
一例を示すブロック図、 第４図は、ステッピング・モータが許容できるものかど
うかを決定するのに使用される加速ドラ、ｌ’／＜の−
例を示すブロック図、 第５図は、ステッピング・モータが許容できるものかど
うかを決定するのに使用されるセンス・ドライバの一例
を示す回路図。 第６図は、ステッピング・モータが許容できるものかど
うかを決定するのに使用されるセンス回路の一例を示す
回路図、 第７図は、センス・ラッチと障害指示回路の一例を示す
ブロック図、 第８図は、センス・ラッチとパス指示回路の一例を示す
ブロック図。 第９図は、第６図のセンス回路の一部の出力のタイミン
グ図である。 １ｏ・・・・ステッピング・モータ、３０・・・・制御
プロセッサ、３１．３２・・・・センス・ラッチ、５９
・・・・センス・ドライバ、６７・・・・センス回路、
９４・・・・パス指示器、１００・・・・障害指示器。 出願人　　インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人　　弁理士　　岡　　１）　次　　生（外１名） 第２図 第８図 第９図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 少くとも１つの巻線および回転子を有するステッピング
   ・モータにおいて、過度の摩擦または巻線の短絡をテス
   トする方法であつて、 前記モータの巻線に所定電流を供給し、 所定電流によつて前記モータの回転子を所定の最終速度
   まで加速するように前記モータの巻線を整流し、 前記モータの回転子が前記所定の最終速度に到達するの
   に十分な所定時間経過後、前記所定電流を除去し、 前記所定電流を除去した後、逆起電力の有無を感知し、 前記逆起電力の存在を感知すれば、前記モータが許容で
   きるものであることを示し、 前記逆起電力の存在を感知しなければ、前記モータに過
   渡の摩擦があるかまたは巻線の短絡があることを示す、 ステッピング・モータのテスト方法。