JPS63313080A - 論理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、論理装置に関するもので、特に入力バッフ
ァ回路の試験回路に関するものである。

［従来の技術］ 第２図は、たとえば三菱半導体信頼性ハンドブック（第
３版）１１９頁に掲載されている、従来の論理集積回路
の保護回路を含んだ入力バッファ回路を示している。図
において１ａないし１ｎは入力バッファ回路の信号入力
線、２は＠履用抵抗、３および４は保護用のクランプダ
イオード、５は入カバソファを構成するトランジスタ、
６は入力バッファ回路の信号出力線、１０は論理回路を
示している。

次に動作について説明する。従来の論理集積回路の試験
において、入力バッファ回路の構成要素が正しく機能す
るか否かを試験する手段の１つとして、ＬＳＩテスタを
用いて各々の信号入力線゛１ａないし１ｎから見た、定
常的な漏れ電流の有無を検出する方法が用いられている
。たとえば、信号入力線１ａにＶ、レベル以上かつＶＣ
レベル以下の電圧を与えた場合には、信号入力線１ａか
ら流れ込むＩＲ流あるいは流れ出す電流は、入力バッフ
ァ回路の構成要素が正常であれば存在しない。

ところが、入力バッファ回路の構成要素に何らかの故障
、異常が存在する場合には、それが信号入力線１ａから
見た漏れ電流となって検出できる。

一般に論理集積装置は、複数の信号入力線１ａないし１
ｎを持つから、漏れ電流の検出は、上記の試験を各信号
入力１ｉ１１ａないし１ｏについて、順番に繰返し実施
することになるが、少なくとも１以上の信号入力線につ
いて漏れ電流が検出されれば、その論理集積回路は不良
とみなせるから、最初に漏れ電流を検出した時点で試験
を終了するのが普通の手順である。したがって、試験さ
れる論理集積回路が漏れ電流の試験に関して良品である
ことを知るには、ｎ本の信号入力線のすべてについて漏
れｉＩ流の検出を行なう必要がある。

［発明が解決しようとする問題点］ 従来の論理装置の回路およびその試験方法は、以上のよ
うになされているため、漏れ電流を測定するための電流
計を１台あるいは数台しか備えていない普及型のしＳＩ
テスタを使用して試験を行なうには、ＬＳＩテスタの？
！！流計の接続を切換えて各信号入力線１ａないし１ｎ
の測定を繰返さねばならないため、作業量が多く、した
がって労力と時間を多く必要とするという問題点があっ
た。

この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、複数の入力バッファ回路を備えた論理集積回
路において、１回の測定のみですべての入力バッファ回
路の瀾れＩｆ流の有無を検出することが可能な論理装置
を得ることを目的とする。

［問題点を解決するための手段］ この丸明に係る論理装置は、論理動作をする論理回路手
段の複数個の入力に接続された複数個の入力バッファ回
路手段のそれぞれの入力間を、入力バッファ回路手段の
試験モード信号手段からの信号に応答して導通するスイ
ッチング手段を備えたものである。

［作用〕 この発明における論理装置は、論理動作をする論理回路
手段の複数個の入力に接続された複数個の入力バッファ
回路手段のそれぞれの入力間を、入力バッファ回路手段
の試験モード信号手段からの信号に応答して導通するス
イッチング手段を備えているので、入力バッファ回路手
段の試験時に、試験モード信号に応答して、入力バッフ
ァ回路手段のそれぞれの入力間がスイッチング手段によ
り導通するので、入力バッファ回路手段の任意の一人力
について漏れ電流の有無の測定を行なうことにより、す
べての入力バッファ回路手段の濡れ電流の試験について
異常の有無を知ることができ、作業者の労力を軽減する
ことが可能となる。

［発明の実施例］ 第１図は、この発明の一実施例を示す論理集積回路の保
護回路を含んだ入力バッファ回路図である。図において
１ａないし１ｎおよび２ないし６は、第２図に示す従来
のものと同一であり、説明は省略する。第１図において
、７は試験モード信号発生器、８はインバータ、９はＮ
チャネルトランジスタとＰチャネルトランジスタとで構
成されるトランスミッションゲートである。

次に動作について説明する。まず試験モード信号発生器
７の信号をＨレベルとし、試験モードを設定する。この
とき、トランスミッションゲート９を構成するＮチャネ
ルトランジスタとＰチャネルトランジスタは共に導通状
態となるので、入力バッファ回路の入力信号１ａないし
１ｎは互いに並列に接続された状態となる。次に、１ａ
ないし１ｎの中で任意の１つの入力線たとえば１ａをＶ
、レベルに設定し、ＬＳＩテスタを接続し、定常的に流
れる漏れ’ａｍの有無を調べる。次にＶｃレベルに設定
して、同様に漏れ電流の有無を調べる。

少なくとも１箇所の入力バッファ回路に個れ電流があれ
ば、以上の測定で検出されるはずであり、検出されなけ
れば、測定デバイスは濡れ電流の試験に関して良品であ
ると判断する′ことができる。

［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば、論理回路手段の複数
個の入力に接続された複数個の入力バッファ回路手段の
それぞれの入力間を、入力バッファ回路手段の試験モー
ド信号手段からの信号に応答して導通するスイッチング
手段を備えているので、入力バッファ回路手段の漏れ電
流の試験の作業量が減少し、したがって作業者の労力お
よび作業時間を軽減できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す回路図、第２図は従
来の論理装置の入力部を示す回路図である。 図において、１ａないし１ｎは入力バッファ回路の信号
入力線、２は保護用抵抗、３および４はクランプ用ダイ
オード、５は入カバソファを構成するトランジスタ、６
は入力バッファ回路の信号出力線、７は試験モード信号
発生器、８はインバータ、９はトランスミッションゲー
ト、１０は論理回路である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）論理動作をするための、かつ複数個の入力を有す
   る論理回路手段と、前記論理回路手段の前記複数個の入
   力に接続されかつそれぞれ入力を有する複数個の入力バ
   ッファ回路手段と、前記入力バッファ回路手段の試験時
   に試験モード信号を与える手段と、前記入力バッファ回
   路手段の前記入力間に接続され、かつ前記試験モード信
   号に応答して前記試験モードの間導通するスイッチング
   手段を備える論理装置。
2. （２）前記スイッチング手段は、相互に逆相の入力に応
   答して動作する第１のスイッチング素子と第２のスイッ
   チング素子の並列回路を含み、前記試験モード信号を与
   える手段は、前記試験モード信号のときに前記第１およ
   び第２のスイッチング素子の双方を導通するための手段
   を含む特許請求の範囲第１項記載の論理装置。