JPS6320733A - 2レ−ザ光ヘツド - Google Patents
2レ−ザ光ヘツドInfo
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- JPS6320733A JPS6320733A JP61164001A JP16400186A JPS6320733A JP S6320733 A JPS6320733 A JP S6320733A JP 61164001 A JP61164001 A JP 61164001A JP 16400186 A JP16400186 A JP 16400186A JP S6320733 A JPS6320733 A JP S6320733A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 22
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 7
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
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- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光デイスク装置における光ヘッドに関し、特に
2光源からの光ビームを合成して情報謀体シて照射し、
その反射光は分離して取り出す2レーザ光ヘッドに関す
る。
2光源からの光ビームを合成して情報謀体シて照射し、
その反射光は分離して取り出す2レーザ光ヘッドに関す
る。
従来の技術
近年光源として半導体レーザを用い、前記半導体レーザ
光をφ1μm以下の微小スポット光に絞り、感光材料を
蒸着したディスク状の情報媒体:て照射し、ビデオ信号
やデジタル信号を同心円状あるいはスパイラル状に記録
再生する光デイスク装置が提案されている。
光をφ1μm以下の微小スポット光に絞り、感光材料を
蒸着したディスク状の情報媒体:て照射し、ビデオ信号
やデジタル信号を同心円状あるいはスパイラル状に記録
再生する光デイスク装置が提案されている。
この装置の応用例として、ふたつのレーザ光源を持ち、
両レーザビームを同時に絞り、ディスク上に互いを近接
させて照射する装置が考えられる。
両レーザビームを同時に絞り、ディスク上に互いを近接
させて照射する装置が考えられる。
かかる装置の例として、一方の光をトラック方向に長い
長円形に絞り、この絞られた微小スポット光で情報を消
去し、他方の光はディスク上で略円形に絞り、この略円
形の微小スポット光で情報の記録再生を行なうようにし
た装置や、あるいは一方の光で熱的バイアスを与え、他
方の光で記録再生を行なう装置や、あるいは再光ビーム
をディスク上で略円形に絞り、一方の光で記録し、同時
に他方の光で前記記録された信号を読み出して記録信号
を瞬時に再生し、正しい記録が行なわれたかどうかをチ
ェックできる装置等が考えられる。
長円形に絞り、この絞られた微小スポット光で情報を消
去し、他方の光はディスク上で略円形に絞り、この略円
形の微小スポット光で情報の記録再生を行なうようにし
た装置や、あるいは一方の光で熱的バイアスを与え、他
方の光で記録再生を行なう装置や、あるいは再光ビーム
をディスク上で略円形に絞り、一方の光で記録し、同時
に他方の光で前記記録された信号を読み出して記録信号
を瞬時に再生し、正しい記録が行なわれたかどうかをチ
ェックできる装置等が考えられる。
従来の2レーザ光ヘッドを添付図面第2図、第3図に示
す。まず波長λ1の光ビームに関する光学系について説
明する。第1の半導体レーザ40から発した波長λ1の
レーザ光は、集光レンズ41で平行な光ビームに変換さ
れ、拡大プリズム42で一方向のみ拡大され略円形の第
1の光ビーム43となる。第1の波長選択フィルタ44
は第4図に示すような特性を持っていて、波長λ1のP
偏光を透過し、後述の波長λ2のP偏光を反射する。
す。まず波長λ1の光ビームに関する光学系について説
明する。第1の半導体レーザ40から発した波長λ1の
レーザ光は、集光レンズ41で平行な光ビームに変換さ
れ、拡大プリズム42で一方向のみ拡大され略円形の第
1の光ビーム43となる。第1の波長選択フィルタ44
は第4図に示すような特性を持っていて、波長λ1のP
偏光を透過し、後述の波長λ2のP偏光を反射する。
第1の半導体レーザ4oば、第1の波長選択フィルタ4
4に対しP偏光となるよう配置されているため、第1の
光ビーム43は第1の波長選択フィルタ44を通過し、
偏光ビームスプリッタ45に入る。偏光ビームスプリッ
タ46は第5図に示すような特性、つまり波長λ1およ
びλ2のP偏光を透過し、S偏光を反射する特性をもっ
ている。
4に対しP偏光となるよう配置されているため、第1の
光ビーム43は第1の波長選択フィルタ44を通過し、
偏光ビームスプリッタ45に入る。偏光ビームスプリッ
タ46は第5図に示すような特性、つまり波長λ1およ
びλ2のP偏光を透過し、S偏光を反射する特性をもっ
ている。
従って第1の光ビーム43は偏光ビームスプリッタ45
を通過し、反射プリズム46で光路を直角に曲げられ、
A波長板47、絞りレンズ48を通り、ディスク記録面
49に微小な第1の光スポツ)50を形成する。ディス
ク記録面4つで反射後、絞りレンズ48、A波長板47
、反射プリズム46の順に進む反射光はS偏光となるた
め、偏光ビームスプリッタ45によって光路を直角に曲
げられ第2の波長選択フィルタ51に至る。
を通過し、反射プリズム46で光路を直角に曲げられ、
A波長板47、絞りレンズ48を通り、ディスク記録面
49に微小な第1の光スポツ)50を形成する。ディス
ク記録面4つで反射後、絞りレンズ48、A波長板47
、反射プリズム46の順に進む反射光はS偏光となるた
め、偏光ビームスプリッタ45によって光路を直角に曲
げられ第2の波長選択フィルタ51に至る。
この第2の波長選択フィルタ51は第6図に示すように
、波長λ1の光のS偏光を反射し、後述の波長λ2の光
のS偏光、P偏光をともに透過するという特性を有する
。即ち、第1の光ビーム43の反射光は第2の波長選択
フィルタ51で反射し、検出レンズ53に至る。絞りレ
ンズ53を通った第1の光ビーム43はシリンドリカル
レンズ54により非点収差を与えられ、信号検出器55
に受光される。信号検出器55は複数の受光素子から成
り、再生信号を検出すると共に、公知の非点収差法によ
りフォーカス制御信号、プッシュプル法によりトラッキ
ング制御信号が検出できるよう構成されている。これら
の制御信号は、前記第1の光スポツ)60がディスク記
録面49のトランクに合焦するための制御に用いられる
。
、波長λ1の光のS偏光を反射し、後述の波長λ2の光
のS偏光、P偏光をともに透過するという特性を有する
。即ち、第1の光ビーム43の反射光は第2の波長選択
フィルタ51で反射し、検出レンズ53に至る。絞りレ
ンズ53を通った第1の光ビーム43はシリンドリカル
レンズ54により非点収差を与えられ、信号検出器55
に受光される。信号検出器55は複数の受光素子から成
り、再生信号を検出すると共に、公知の非点収差法によ
りフォーカス制御信号、プッシュプル法によりトラッキ
ング制御信号が検出できるよう構成されている。これら
の制御信号は、前記第1の光スポツ)60がディスク記
録面49のトランクに合焦するための制御に用いられる
。
次に、波長λ2の光学系の構成について説明する。第2
の半導体レーザ52は第2の波長選択フィルタ51に対
しS偏光となるよう配置されており、これを発した波長
λ2のレーザ光は、集光レンズ56によって平行な第2
の光ビーム67(Cなる。この第2の光ビーム57は、
例えば特願昭60、−40407に示すような消去用光
スポットを形成するための光学素子61を通9反射プリ
ズム58によってその光路を曲げられ、第2の波長選択
フィルタ51に入射する。この第2の波長選択フィルタ
51は上記の如く波長λ2のS偏光に対しては偏光分割
特性をもたないため、第2の光ビーム57ばこれを通過
する。この第2の光ビーム57は次シて偏光ビームスプ
リッタ45、反射プリズム46.174波長板47、絞
りレンズ48を経てディスク記録面49に至り、第2の
光スポ7)59を形成する。この反射光は第1の光ビー
ム43と同様:て偏光ビームスプリッタ45に戻る。1
4波長板の作用(てよってこのときP偏光となっている
ため、偏光ビームスプリッタ45を通過し、第1の波長
選択フィルタ44に入射する。第1の波長選択フィルタ
は上記の如く波長λ2のP偏光を反射するため、この第
2の光ビーム57は反射して検出器6oに至る。検出器
6oは2つの受光素子からなり、公知のブツシュグル法
により第2の光スポット59のトラッキング誤差信号を
検出し、第2の光スポット59が許容値以上にトラック
からずれた場合、動作を停止するよう構成されている。
の半導体レーザ52は第2の波長選択フィルタ51に対
しS偏光となるよう配置されており、これを発した波長
λ2のレーザ光は、集光レンズ56によって平行な第2
の光ビーム67(Cなる。この第2の光ビーム57は、
例えば特願昭60、−40407に示すような消去用光
スポットを形成するための光学素子61を通9反射プリ
ズム58によってその光路を曲げられ、第2の波長選択
フィルタ51に入射する。この第2の波長選択フィルタ
51は上記の如く波長λ2のS偏光に対しては偏光分割
特性をもたないため、第2の光ビーム57ばこれを通過
する。この第2の光ビーム57は次シて偏光ビームスプ
リッタ45、反射プリズム46.174波長板47、絞
りレンズ48を経てディスク記録面49に至り、第2の
光スポ7)59を形成する。この反射光は第1の光ビー
ム43と同様:て偏光ビームスプリッタ45に戻る。1
4波長板の作用(てよってこのときP偏光となっている
ため、偏光ビームスプリッタ45を通過し、第1の波長
選択フィルタ44に入射する。第1の波長選択フィルタ
は上記の如く波長λ2のP偏光を反射するため、この第
2の光ビーム57は反射して検出器6oに至る。検出器
6oは2つの受光素子からなり、公知のブツシュグル法
により第2の光スポット59のトラッキング誤差信号を
検出し、第2の光スポット59が許容値以上にトラック
からずれた場合、動作を停止するよう構成されている。
発明が解決しようとする問題点
従来511に示したような2レーザ光ヘッドには、以下
のような問題点があった。
のような問題点があった。
半導体レーザから発するレーザ光は光出力を増加してい
くとモードホッピングを起こし、波長がずれる。この波
長の光出力依存性は半導tドレープの掃込によっても異
るが屈折率導波型の半導体レーザでは光出力が10mw
変化すると2〜smm(y度波長が変化する。−股に相
変化を利用した光デイスク装置の半導体レーザはその出
力が記録と再生で20mW近く変化するため、波長は記
録と再生で4〜smmずれる。
くとモードホッピングを起こし、波長がずれる。この波
長の光出力依存性は半導tドレープの掃込によっても異
るが屈折率導波型の半導体レーザでは光出力が10mw
変化すると2〜smm(y度波長が変化する。−股に相
変化を利用した光デイスク装置の半導体レーザはその出
力が記録と再生で20mW近く変化するため、波長は記
録と再生で4〜smmずれる。
一方、半導体レーザから発光する楕円ビームを略円形〈
変換するため、拡大プリズム42で光ビームを拡大する
と、その出射光は波長変化に応じて光軸がわずか罠傾ぐ
、例えば、拡大プリズム42の硝材としてボロシリケー
トクラウンのBK−了を用い、拡大率を2.5とすると
、波長がsmmずれた場合、この光軸ずれは0.003
°になる、第1の光ビーム43の光軸が0.003°ず
れると、絞シレンズ48の焦点距離を4.5 +amと
して、第1のスポット50は約0.24μmずれること
になる。従来のような構成ではこのずれはトラック直交
方向になり、第1の光ビーム43でトラッキング制御を
かけるから、相対的に第2の光スポット59が、0.2
4μmトラックずれを起こすことになる。トラックピッ
チを1.6μmとすれば、相変化型の光ディスクにおい
ては、第1及び第2の光スポットのずれの許容値は0.
2〜0.3μm程度であり、上記0.24μmのずれは
大きな値であり、従来よシ問題となっていた。本発明は
、この問題を解決するものである。
変換するため、拡大プリズム42で光ビームを拡大する
と、その出射光は波長変化に応じて光軸がわずか罠傾ぐ
、例えば、拡大プリズム42の硝材としてボロシリケー
トクラウンのBK−了を用い、拡大率を2.5とすると
、波長がsmmずれた場合、この光軸ずれは0.003
°になる、第1の光ビーム43の光軸が0.003°ず
れると、絞シレンズ48の焦点距離を4.5 +amと
して、第1のスポット50は約0.24μmずれること
になる。従来のような構成ではこのずれはトラック直交
方向になり、第1の光ビーム43でトラッキング制御を
かけるから、相対的に第2の光スポット59が、0.2
4μmトラックずれを起こすことになる。トラックピッ
チを1.6μmとすれば、相変化型の光ディスクにおい
ては、第1及び第2の光スポットのずれの許容値は0.
2〜0.3μm程度であり、上記0.24μmのずれは
大きな値であり、従来よシ問題となっていた。本発明は
、この問題を解決するものである。
問題点を解決するための手段
上記の問題を解決するため、本発明は2つのレーザ光源
から発した光ビームの一方向を拡大し、略円形に整形す
る光学系にあって、その拡大方向を、ディスク記録面に
形成されたトラック方向と一致させるよう構成したもの
である。 −作用 本発明は上記のような構成により、半導体レーザの波長
が光出力により若干変化して、光ビームの光軸がずれて
も、ディスク記録面に結像する光ス、;<ツ)はトラン
ク方向にずれ、2つの光スポットの間にトラッキング方
向のずれは発生しない。
から発した光ビームの一方向を拡大し、略円形に整形す
る光学系にあって、その拡大方向を、ディスク記録面に
形成されたトラック方向と一致させるよう構成したもの
である。 −作用 本発明は上記のような構成により、半導体レーザの波長
が光出力により若干変化して、光ビームの光軸がずれて
も、ディスク記録面に結像する光ス、;<ツ)はトラン
ク方向にずれ、2つの光スポットの間にトラッキング方
向のずれは発生しない。
従って2レーザ光ヘッドとして安定した性能を維持でき
る。
る。
実施例
以下本発明の実施例を図面に基いて説明する。
第1図は本発明の一実施例を示した図で、&はディスク
側から見た平面図、bは正面図、Cは側面図である。第
1図において、1は第1の光源となる第1の半導体レー
ザで、λ1の波長をもつ第1の光ビーム2を出力する。
側から見た平面図、bは正面図、Cは側面図である。第
1図において、1は第1の光源となる第1の半導体レー
ザで、λ1の波長をもつ第1の光ビーム2を出力する。
第1の光ビーム2は、たとえばディスク上で略円形に絞
られ、情報信号の記録、再生およびフォーカス、トラッ
キング制御等のサーボ信号検出のために用いられる。ま
ず第1の光ビーム2は集光レンズ3で平行光になり、プ
リズム4の拡大面5に入射する。拡大面5には、第7図
に示すような波長λ1のP偏光を透過し、S偏光を反射
する第1の偏光ビームスプリッタ6が形成されており、
P偏光で入射する第1の光ビーム2は透過すると同時に
屈折し、一方向にのみビーム径が拡大され、略円形の光
ビームとなるよう整形される。略円形となった第1の光
ピーノ、2は、プリズム7に入射し、反射面8で全反射
した後、波長選択フィルタ9に入射する。波長選択フィ
ルタ9は、第8図に示すような波長λ1の光のP偏光、
S偏光いずれについても透過する特性を有するため、第
1の光ビーム2はこれを透過し、光路変更用の三角プリ
ズム10、A波長板11、波長λ1.λ2について色収
差補正された絞りレンズ12を経てディスク13上に略
円形の第1の光スポット14を形成する。一方、ディス
ク13からの第1の光スポツト140反射光15は、絞
りレンズ12、%波長板11、三角プリズム10.波長
選択フィルタ9、全反射面8を経て、%波長板11の作
用によりS偏光となって第1の偏光ビームスプリッタ6
に入射し、反射する。前記反射光15はプリズム16に
入射後、プリズム面17で全反射し、プリズム面18に
設けられたビームスプリッタ19に入射する。ビームス
プリ、り1っけ波長λ1の光をある一定の割合、(たと
えば8o%)で透過する特性を有しており、前記反射光
15は、ビームスプリッタ19で反射しフォーカス検出
用光学系に向かう検出光15aと、前記ビームスプリッ
タ19を透過しトラッキング検出用光学系に向かう検出
光15bに部幅分割される。
られ、情報信号の記録、再生およびフォーカス、トラッ
キング制御等のサーボ信号検出のために用いられる。ま
ず第1の光ビーム2は集光レンズ3で平行光になり、プ
リズム4の拡大面5に入射する。拡大面5には、第7図
に示すような波長λ1のP偏光を透過し、S偏光を反射
する第1の偏光ビームスプリッタ6が形成されており、
P偏光で入射する第1の光ビーム2は透過すると同時に
屈折し、一方向にのみビーム径が拡大され、略円形の光
ビームとなるよう整形される。略円形となった第1の光
ピーノ、2は、プリズム7に入射し、反射面8で全反射
した後、波長選択フィルタ9に入射する。波長選択フィ
ルタ9は、第8図に示すような波長λ1の光のP偏光、
S偏光いずれについても透過する特性を有するため、第
1の光ビーム2はこれを透過し、光路変更用の三角プリ
ズム10、A波長板11、波長λ1.λ2について色収
差補正された絞りレンズ12を経てディスク13上に略
円形の第1の光スポット14を形成する。一方、ディス
ク13からの第1の光スポツト140反射光15は、絞
りレンズ12、%波長板11、三角プリズム10.波長
選択フィルタ9、全反射面8を経て、%波長板11の作
用によりS偏光となって第1の偏光ビームスプリッタ6
に入射し、反射する。前記反射光15はプリズム16に
入射後、プリズム面17で全反射し、プリズム面18に
設けられたビームスプリッタ19に入射する。ビームス
プリ、り1っけ波長λ1の光をある一定の割合、(たと
えば8o%)で透過する特性を有しており、前記反射光
15は、ビームスプリッタ19で反射しフォーカス検出
用光学系に向かう検出光15aと、前記ビームスプリッ
タ19を透過しトラッキング検出用光学系に向かう検出
光15bに部幅分割される。
このとき検出光15&は前記プリズム面18で光路が偏
向されているため、再び前記プリズム面1了に入射した
際、全反射の条件を満たさず、これを透過して検出レン
ズ20.三角プリズム21を経て、公知の方法でフォー
カス信号を得るだめの光検出器22に至る。一方、検出
光16bは、前記ビームスプリッタ19i透過後、三角
プリズム23を経て、トラッキング信号を得るための光
検出器24に至る。上記の2つの光検出器で得られたフ
ォーカシング、トラッキングの制御信号は、絞りレンズ
12を保持し、かつ、その光軸方向と、光軸に直交する
方向の2方向に変位制御可能なアクチュエータ25にフ
ィードバックされ、上記制御が行われる。
向されているため、再び前記プリズム面1了に入射した
際、全反射の条件を満たさず、これを透過して検出レン
ズ20.三角プリズム21を経て、公知の方法でフォー
カス信号を得るだめの光検出器22に至る。一方、検出
光16bは、前記ビームスプリッタ19i透過後、三角
プリズム23を経て、トラッキング信号を得るための光
検出器24に至る。上記の2つの光検出器で得られたフ
ォーカシング、トラッキングの制御信号は、絞りレンズ
12を保持し、かつ、その光軸方向と、光軸に直交する
方向の2方向に変位制御可能なアクチュエータ25にフ
ィードバックされ、上記制御が行われる。
次に第2の光源となる第2の半導体レーザ26よシ出射
して、λ2の波長をもつ第2の光ビーム27の光路につ
いて述べる。この第2の光ビーム27ば、たとえばディ
スク13上のトラック方向に細長い長円形に絞られ、情
報信号の消去等に用いられる。
して、λ2の波長をもつ第2の光ビーム27の光路につ
いて述べる。この第2の光ビーム27ば、たとえばディ
スク13上のトラック方向に細長い長円形に絞られ、情
報信号の消去等に用いられる。
まず第2の半導体レーザ26から出射した第2の光ビー
ム27は集光レンズ28にて集光され、平行ビームとな
り、従来例同様に特願昭60−40、407号明細書に
示すような、消去用光スポットを形成するための光学素
子3oを経て、プリズム31の拡大面32に入射する。
ム27は集光レンズ28にて集光され、平行ビームとな
り、従来例同様に特願昭60−40、407号明細書に
示すような、消去用光スポットを形成するための光学素
子3oを経て、プリズム31の拡大面32に入射する。
拡大面32には第9図に示すような波長λ2のP偏光を
透過し、S偏光を反射する第2の偏光ビームスプリッタ
33が形成されており、P偏光で入射する第2の光ビー
ム27は、この偏光ビームスプリッタ33を透過すると
同時に屈折し、一方向にのみビームが拡大され、略円形
の光ビームとなるよう整形される。
透過し、S偏光を反射する第2の偏光ビームスプリッタ
33が形成されており、P偏光で入射する第2の光ビー
ム27は、この偏光ビームスプリッタ33を透過すると
同時に屈折し、一方向にのみビームが拡大され、略円形
の光ビームとなるよう整形される。
整形された第2の光ビーム27は全反射面34で反射し
、プリズム31を出射後、波長選択フィルタ9に入射す
る。波長選択フィルタ9は、波長λ2の光のP偏光、S
偏光いずれについても反射する特性を有しており、前記
第2の光ビーム27は反射され、光路変更用の三角プリ
ズム10、A波長板11、絞りレンズ12を経て、ディ
スク13上に第2の光スポット35を形成する。この第
2の光スポット35は第1の光スポット14と同一トラ
ック上の近接する位置に配置され、たとえば記録された
信号の消去等に用いられる。
、プリズム31を出射後、波長選択フィルタ9に入射す
る。波長選択フィルタ9は、波長λ2の光のP偏光、S
偏光いずれについても反射する特性を有しており、前記
第2の光ビーム27は反射され、光路変更用の三角プリ
ズム10、A波長板11、絞りレンズ12を経て、ディ
スク13上に第2の光スポット35を形成する。この第
2の光スポット35は第1の光スポット14と同一トラ
ック上の近接する位置に配置され、たとえば記録された
信号の消去等に用いられる。
ディスク13で反射した第2の光スポット35の反射光
37は、絞りレンズ12、偽波長板11、三角プリズム
1o、波長選択フィルタ9、全反射面34を経て、S偏
光となって第2の偏光ビームスプリッタ33に入射し、
反射する。その後、反射光37は三角プリズム38を経
て光検出器39に至り、第2の光スポット35のトラッ
キング誤差信号を得る。光検出器39で検出されるトラ
ッキング誤差信号が許容値を越えた場合、記録・消去等
の動作を停止し、誤記録・誤消去を防止するよう構成さ
れている。
37は、絞りレンズ12、偽波長板11、三角プリズム
1o、波長選択フィルタ9、全反射面34を経て、S偏
光となって第2の偏光ビームスプリッタ33に入射し、
反射する。その後、反射光37は三角プリズム38を経
て光検出器39に至り、第2の光スポット35のトラッ
キング誤差信号を得る。光検出器39で検出されるトラ
ッキング誤差信号が許容値を越えた場合、記録・消去等
の動作を停止し、誤記録・誤消去を防止するよう構成さ
れている。
この実施例の構成によれば、第1の半導体レーザ1の光
出力が再生から記録へと変化し、モードホッピングを起
こしても、第1の光ビーム2の光軸は、第10図に示す
:うにずれ第1の光スポット14はトラック方向にずれ
る。
出力が再生から記録へと変化し、モードホッピングを起
こしても、第1の光ビーム2の光軸は、第10図に示す
:うにずれ第1の光スポット14はトラック方向にずれ
る。
従って、第2の光スポット35との間にトラッキング誤
差は発生せず、第1または第2の光ビームを単独にトラ
ッキングi、!INする必要はない。よって、両光スポ
ットを通常行なわれるトラッキング制(財)で−諸に制
御するだけでよい。また、これは第2の光ビーム27を
略円形に整形して用いる場合も同様であり、本実施例の
ような構成にすることにより、第1の光スポット14と
の間にトラッキング誤差は発生しない。
差は発生せず、第1または第2の光ビームを単独にトラ
ッキングi、!INする必要はない。よって、両光スポ
ットを通常行なわれるトラッキング制(財)で−諸に制
御するだけでよい。また、これは第2の光ビーム27を
略円形に整形して用いる場合も同様であり、本実施例の
ような構成にすることにより、第1の光スポット14と
の間にトラッキング誤差は発生しない。
以上説明したように、半導体レーザから発する楕円光ビ
ームを略円形に整形する場合の拡大方向を、トラック方
向にすることによって従来問題となっていた2つの光ス
ポットのトラック直交方向の相対位置ずれを無くすこと
ができる。
ームを略円形に整形する場合の拡大方向を、トラック方
向にすることによって従来問題となっていた2つの光ス
ポットのトラック直交方向の相対位置ずれを無くすこと
ができる。
なお波長変化に伴い、トラック方向に前記両スポットは
若干ずれるが、一般に記録・消去用として使う場合には
、このずれはほとんど問題にならない。
若干ずれるが、一般に記録・消去用として使う場合には
、このずれはほとんど問題にならない。
発明の効果
以上述べたように、本発明により、記録・再生・消去に
伴う半導体レーザの光出力変化に対しても、2つの光ス
ポットを同一トラック上に安定して照射することができ
、記録特性の劣化を防ぎ信頼性の高い2レーザ光ヘッド
が実現できる。また、従来、安定性を向上させるため、
第2の光スポソトにトラッキング制御をかけるアクチュ
エータを用いていたが、これを省略することが可能であ
り、安価で小型軽量化を図ることができる。
伴う半導体レーザの光出力変化に対しても、2つの光ス
ポットを同一トラック上に安定して照射することができ
、記録特性の劣化を防ぎ信頼性の高い2レーザ光ヘッド
が実現できる。また、従来、安定性を向上させるため、
第2の光スポソトにトラッキング制御をかけるアクチュ
エータを用いていたが、これを省略することが可能であ
り、安価で小型軽量化を図ることができる。
第1図&は本発明の一実施例における光ヘッドの平面図
、同すは正面図、同Cは側面図、第2図は従来の光ヘッ
ドの平面図、第3図は同正面図、第4図、第5図、第6
図は、従来の光ヘッドに用いられていた光学多層膜の偏
光特性図、第7図。 第8図、第9図は本発明の実施例で用いられている光学
多層膜の偏光特性図、第10図は本発明の実施例におけ
る光軸ずれ方向の説明図である。 1・・・・・・第1の半導体レーザ、3・・・・・・集
光レンズ、5・・・・・・拡大面、6・・・・・・第1
の偏光ビームスプリッタ、9・・・・・・波長選択フィ
ルタ、1o・−・・・・光路変更用三角プリズム、12
・・・・・・絞りレンズ、13・・・・・・ディスク、
14・・・・・・第1の光スポット、19・・・・・・
ビームスプリッタ、22.24.39・・・・・・光検
出器、26・・・・−・第2の半導体レーザ、28・・
・・・・集光レンズ、33・・・・・・第2の偏光ビー
ムスプリッタ、35・・・・・・第2の光スポット。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名n−
−°ビームスプリフタ 31−・−光種$器 第2図 第3図 第4図 (np) 第7図 XAVkLヒNu1M
、同すは正面図、同Cは側面図、第2図は従来の光ヘッ
ドの平面図、第3図は同正面図、第4図、第5図、第6
図は、従来の光ヘッドに用いられていた光学多層膜の偏
光特性図、第7図。 第8図、第9図は本発明の実施例で用いられている光学
多層膜の偏光特性図、第10図は本発明の実施例におけ
る光軸ずれ方向の説明図である。 1・・・・・・第1の半導体レーザ、3・・・・・・集
光レンズ、5・・・・・・拡大面、6・・・・・・第1
の偏光ビームスプリッタ、9・・・・・・波長選択フィ
ルタ、1o・−・・・・光路変更用三角プリズム、12
・・・・・・絞りレンズ、13・・・・・・ディスク、
14・・・・・・第1の光スポット、19・・・・・・
ビームスプリッタ、22.24.39・・・・・・光検
出器、26・・・・−・第2の半導体レーザ、28・・
・・・・集光レンズ、33・・・・・・第2の偏光ビー
ムスプリッタ、35・・・・・・第2の光スポット。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名n−
−°ビームスプリフタ 31−・−光種$器 第2図 第3図 第4図 (np) 第7図 XAVkLヒNu1M
Claims (1)
- 波長の異る2つのレーザ光源と、前記2つのレーザ光源
を発した光ビームの一方向を拡大する光学系と、前記2
つの光ビームを合成するための光学系と、前記2つの光
ビームをディスク記録面上に結像させる光学系と、前記
ディスク記録面で反射した2つの波長の光ビームを検出
する検出器を備えた2レーザ光ヘッドであって、前記光
ビームを拡大する光学系の拡大方向が、前記ディスクの
トラック方向に一致するよう構成したことを特徴とする
2レーザ光ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61164001A JPS6320733A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 2レ−ザ光ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61164001A JPS6320733A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 2レ−ザ光ヘツド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6320733A true JPS6320733A (ja) | 1988-01-28 |
Family
ID=15784872
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61164001A Pending JPS6320733A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 2レ−ザ光ヘツド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6320733A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6393824A (ja) * | 1986-10-07 | 1988-04-25 | Nippon Steel Corp | 磁気特性、皮膜特性ともすぐれた方向性電磁鋼板の製造方法 |
-
1986
- 1986-07-11 JP JP61164001A patent/JPS6320733A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6393824A (ja) * | 1986-10-07 | 1988-04-25 | Nippon Steel Corp | 磁気特性、皮膜特性ともすぐれた方向性電磁鋼板の製造方法 |
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