JPS632126A - 2レ−ザ光ヘツド - Google Patents

2レ−ザ光ヘツド

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JPS632126A
JPS632126A JP61145151A JP14515186A JPS632126A JP S632126 A JPS632126 A JP S632126A JP 61145151 A JP61145151 A JP 61145151A JP 14515186 A JP14515186 A JP 14515186A JP S632126 A JPS632126 A JP S632126A
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JP
Japan
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light
wavelength
reflected
polarized
selection filter
Prior art date
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Pending
Application number
JP61145151A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinao Taketomi
義尚 武富
Sadao Mizuno
定夫 水野
Noboru Ito
昇 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP61145151A priority Critical patent/JPS632126A/ja
Publication of JPS632126A publication Critical patent/JPS632126A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光デイスク装置における光ヘッドに関し、特に
2光源からの光ビームを合成して情報媒体【照射し、そ
の反射光は分離して取り出す2レーザ光ヘッドに関する
従来の技術 近年光源として半導体レーザを用い、前記半導体レーザ
光をφ1μm以下の微小スポット光に絞り、感光材料を
蒸着したディスク状の情報媒体に照射し、ビデオ信号や
デジタル信号を同心円状あるいはスパイラル状に記録再
生する光デイスク装置が提案されている。
この装置の応用例として、ふたつのレーザ光源を持ち、
両レーザビームを同時に絞り、ディスク上に互いを近接
させて照射する装置が考えられる。
かかる装置の例として、−方の光をトラック方向に長い
長円形に絞り、この絞られた微小スポット光で情報を消
去し、他方の光はディスク上で略円形に絞り、この略円
形の微小スポット光で情報の記録再生を行なうようにし
た装置や、あるいは−方の光で熱的バイアスを与え、他
方の光で記録再生を行なう装置や、あるいは再光ビーム
をディスク上で略円形に絞り、−方の光で記録し、同時
に他方の光で前記記録された信号を読み出して記録信号
を瞬時に再生し、正しい記録が行なわれたかどうかをチ
エツクできる装置等が考えられる。
従来の2レーザ光ヘッドは添付図面第2図、第3図に示
すような構成になっていた。まず波長λ1の光ビームに
関する光学系について説明する。
4oは波長λ1のレーザ光を発する第1の半導体レーザ
で、41はレーザ光を平行な第1の光ビーム42に変換
する集光レンズである。43は第1の波長選択フィルタ
であり、第4図に示すような特性をもっていて、波長λ
1のP偏光を透過し、後述の波長λ2のP偏光を反射す
る。第1の半導体レーザ4oFi第1の波長選択フィル
タ43に対しP偏光となるよう配置されているため、第
1の光ビーム42は第1の波長選択フィルタを通過し、
偏光ビームスプリフタ44に入る。偏光ビームスプリッ
タ44は第5図に示すような特性、つまり波長λ1およ
びλ2のP偏光を透過し、S偏光を反射する特性をもっ
ている。従って第1の光ビーム42は偏光ビームスプリ
ッタ44を通過し、反射プリズム45で光路を直角に曲
げられ、A波長板46、絞りレンズ47を通り、ディス
ク記録面48に微小な第1の光スポット49を形成する
ディスク記録面48で反射後、絞りレンズ47、猛波長
板46、反射プリズム45の順に進む反射光はS偏光と
なるため、偏光ビームスプリッタ44によって光路を直
角に曲げられ、第2の波長選択フィルタ50に至る。こ
の第2の波長選択フィルタ6oは第6図に示すように、
波長λ1の光のS偏光を反射し、後述の波長λ2の光の
S偏光、P偏光をともに透過するという特性を有する。
即ち、第1の光ビーム42の反射光は第2の波長選択フ
ィルタ50で反射し、検出レンズ52に至る。絞シレン
ズ62を通った第1の光ビーム42はシリンドリカルレ
ンズ63により非点収差を与えられ、信号検出器ssK
受光される。信号検出器55は複数の受光素子から成り
、再生信号を検出すると共に、公知の非点収差法により
フォーカス制御信号、プッシュプル法によりトラッキン
グ制御信号が検出できるよう構成されている。これらの
制御信号は、前記第1の光スポット49がディスク記録
面48のトラックに合焦するための制御に用いられる。
次に、波長λ2の光学系の構成例ついて説明する。第2
の半導体レーザ51は第2の波長選択フィルタ6oに対
しS偏光となるよう配置されており、これを発した波長
λ2のレーザ光は第2の集光レンズ55によって平行な
第2の光ビーム56になる。この第2の光ビーム66は
反射プリズム57によってその光路を直角に曲げられ、
第2の波長選択フィルタ5oに入射する。この第2の波
長選択フィルタ50は上記の如く波長A2のS偏光に対
しては偏光分割特性をもたないため、第2の光ビーム5
6はこれを通過する。この第2の光ビーム66は次に偏
光ビームスプリッタ44、反射プリズム45、%波長板
46、絞りレンズ47を経てディスク記録面48に至シ
、第2の光スポット58を形成する。この反射光は第1
の光ビーム41と同様に偏光ビームスプリフタ44に戻
る。
具波長板の作用によってこのときP偏光となっているた
め、偏光ビームスプリッタ44を通過し、第1の波長選
択フィルタ43に入射する。第1の波長選択フィルタは
上記の如く波長λ2のP偏光を反射するため、この第2
の光ビーム56は反射して検出器59に至る。検出器6
9は2つの受光素子から成り、公知のプッシュプル法に
より第2の光スポット58のトラッキング制御信号を得
て、光路偏向用楔プリズムを回動制御する。
発明が解決しようとする問題点 従来例に示したような2レーザ光ヘッドには、以下のよ
うな問題点があった。光学フィルタは一般に誘電体膜を
基板の上に多く積層することによって形成されるが、特
に従来例で用いられるような波長選択フィルタは膜特性
の急峻な立ち上がりが要求され、その層数が多く、装造
誤差による特性のばらつきも大きい。即ち、安定した性
能を得るために厳しい製造条件の制御が必要である。ま
た、湿度、温度等の使用環境条件の変化の影響を受け、
膜特性曲線の立ち上がる波長が変動し易い。
また−方従来例で用いられるような偏光ビームスプリフ
タは、波長λ1.λ2のいずれにも偏光分割特性が要求
されるが、広い波長範囲にわたって性能を確保すること
は困難である。いずれのフィルタも要求される膜特性を
実現するのに困難を伴い、かつ製造コストの低減は容易
でない。
問題点を解決するための手段 上記の問題点を解決するため、波長λ1の光を透過し、
波長λ2の光を反射する特性を有する1つの波長選択フ
ィルタと、2つの偏光ビームスプリッタを用いて2レー
ザ光ヘッドを構成したものである。
作  用 上記手段は以下のような作用を有する。
層数が多く、製造コストのかかる波長選択フィルタが1
つですみ、2つの偏光ビームスプリフタをそれぞれ1つ
の波長に対してのみ偏光分割特性を有するよう構成でき
、光学多層膜製造にかかる負担を大幅に削減し、要求さ
れる厳しい特性を損うことなく、製造コストの低減を図
ることができる。
実施例 以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の一実施例を示した図で、aはディスク
側から見た平面図、bは正面図、Cは側面図である。第
1図において、1は第1の光源となる第1の半導体レー
ザで、λ1の波長をもつ第1の光ビーム2を出力する。
第1の光ビーム2は、たとえばディスク上で略円形に絞
られ、情報信号の記録、再生およびフォーカス、トラッ
キング制御等のサーボ信号検出のために用いられる。ま
ず第1の光ビーム2は集光レンズ3で平行光になりプリ
ズム4の拡大面5に入射する。この第1の光ビーム2は
半導体レーザ特有の楕円形光強度分布を有している。拡
大面5には、第7図に示すような波長λ1のP偏光を透
過し、S偏光を反射する第1の偏光ビームスプリフタロ
が形成されておシ、P偏光で入射する第1の光ビーム2
は透過すると同時に屈折し、楕円短軸方向の一方向にの
みビーム径が拡大され、略円形の光ビームとなるよう整
形される。略円形となった第1の光ビーム2は、プリズ
ム7に入射し、反射面8で全反射した後、波長選択フィ
ルタ9に入射する。波長選択フィルタ9は、第8図に示
すような波長λ1の光のP偏光、S偏光いずれてついて
も透過する特性を有するため、第1の光ビーム2はこれ
を透過し、光路変更用の三角プリズム10. λ/4板
11、波長λ1゜λ2について色収差補正された絞りレ
ンズ12を経てディスク13上に略円形の第1の光スポ
ット14を形成する。−方、ディスク13からの第1の
光スポット14の反射光15ば、絞りレンズ12、λ/
4板11、前記三角プリズム10、波長選択フィルタ9
、前記全反射面8を経て、λ/4板11の作用てよシS
偏光となって第1の偏光ビームスプリッタ6に入射し、
反射する。前記反射光16はプリズム16に入射後、プ
リズム面17で全反射し、プリズム面18に設けられた
ビームスプリッタ19に入射する。ビームスプリッタ1
9は波長λ、の光をある一定の割合、(たとえば80チ
)で透過する特性を有しておシ、前記反射光15は、前
記ビームスプリッタ19で反射しフォーカス検出用光学
系に向かう検出光15aと、前記ビームスプリッタ19
を透過しトラッキング検出用光学系に向かう検出光1s
bに振幅分割される。このとき検出光15aは前記プリ
ズム面18で光路が偏向されているため、再び前記プリ
ズム面1°7に入射した際、全反射の条件を満たさずこ
れを透過し、検出レンズ20.三角プリズム21を経て
、公知の方法でフォーカス信号を得るための光検出器2
2に至る。−方、検出光15bは前記ビームスプリッタ
19を透過後、三角プリズム23を経て、公知の方法で
トラッキング信号を得るための光検出器24に至る。上
記の2つの検出器で得られたフォーカシング、トラッキ
ングの2つの制御信号は、絞りレンズ12を保持し、か
つ、その光軸方向と、光軸に直交する方向の2方向に変
位制御可能な第1のアクチュエータ25にフィードバツ
クされ上記制御が行われる。
次に第2の光源となる第2の半導体レーザ26よシ出射
して、λ2の波長をもつ第2の光ビーム27の光路につ
いて述べる。この第2の光ビーム27は、たとえばディ
スク13上のトラック方向に細長い長円形に絞られ、情
報信号の消去等に用いられる。
まず第2の半導体レーザ26から出射した第2の光ビー
ム27は集光レンズ28にて集光され、平行ビームとな
り、楔形プリズム29、及び特願昭59−106305
号明細書あるいは特願昭60−40407号明細書に示
されるような消去用光スポット形成作用を有する光学素
子3oを経て、プリズム31の拡大面32に入射する。
このとき第2の光ビーム27は第1の光ビーム2と同様
の理由で楕円型光強度分布を有している。拡大面32に
は、第9図に示すような波長λ2のP偏光を透過し、S
偏光を反射する第2の偏光ビームスプリッタ33が形成
されており、P偏光で入射する第2の光ビーム27は、
この偏光ビームスプリフタ33を透過すると同時に屈折
し、楕円短軸方向の一方向にのみビームが拡大され、略
円形の光ビームとなるよう整形される。整形された第2
の光ビーム27は全反射面34で反射し、プリズム31
を出射後、前記波長選択フィルタ9に入射する。波長選
択フィルタ9は、波長λ2の光のP偏光、S偏光いずれ
についても反射する特性を有しており、前記第2の光ビ
ーム27は反射され、光路変更用の前記三角プリズム1
0、前記λ/4板11、前記絞りレンズ12を経て、前
記ディスク13上に第2の光スポット35を形成する。
この第2の光スポット36は前記第1の光スポット14
と同一トラック上の近接する位置に配置され、たとえば
記録された信号の消去等に用いられる。尚、前記の楔形
プリズム29は第2のアクチュエータ36に取付けられ
ており、との回動により第2の光ビーム27の出射方向
を微小に変化させる作用を有し、前記第2の光スポット
35は前記作用によって、トラック直交方向に微小変位
する。この機能は、熱変動、経時変化等、何らかの理由
で前記第2の光スポットが同一トラック上小らはずれた
場合、これをもとのトラック上へ戻すために設けられた
ものであり、そのための制御用信号は、以下の構成によ
って得られる。即ち、前記ディスク13で反射した前記
第2の光スポット36の反射光37は、前記絞シレンズ
12、前記λμ板11、前記三角プリズム1o、前記波
長選択フィルタ9、前記全反射面34を経て、前記λ/
4板11の作用によシS偏光となって前記第2の偏光ビ
ームスプリフタに入射し、反射する。その後、前記反射
光37は三角プリズム38を経て光検出器39に至り、
公知の方法によって前記第2の光スポット35のトラッ
キング信号を得る。
上記のようにこの実施例は、1つの波長選択フィルタと
2つの偏光ビームスプリフタによって、2つの波長の光
を効率良く分離・合成できるよう構成したものである。
これによって光学多層膜製造にかかる負担を大幅に軽減
し、製造コストの低減が図れる。さらに、温度、湿度等
の使用環境条件の変化によって膜特性に変動が生じた場
合にも、制御信号て対して外乱となシ得る迷光の漏れ込
みが少なく、安定した制御が可能となり、2レーザ光ヘ
ッドの特性の安定化が図れる。また、光学多層膜を2つ
の光学素子(たとえば2つのプリズム。
2つの硝子板等)ではさみ、接合状態で使用する場合、
接合に用いる接着剤の組成、あるいは接着条件によって
大きく特性が変動することがある。
しかるに、本実施例では、酸化物を基本とした誘電体膜
を、プリズム表面に形成して使用する構成をとっている
ため、接着剤の影響を受けることなく、安定した特性が
得られる。
次に、波長選択フィルタ9への波長λ2の光の入射角θ
は21°近傍に設定しである。−般に本発明が要求する
特性を示す波長選択フィルタは、第10図a、b、cK
模式的に示したように入射角を小さくとるほど、立ち上
がりが急峻で、小さな波長幅での分離が可能となる。入
射角が大きくなるにつれて、P偏光とS偏光の特性曲線
が波長に対してシフトし、所望の2つの波長に対する分
離が困難になってくる。特許請求の範囲第2項に示した
、前記入射角θに対する制約条件の上限値3o0は、上
記の理由よ基づき設定されるもので、現在半導体レーザ
として使用可能な78Qnmと830nmの2つの波長
に対して入射角θを300を越えて設定することは実用
上好ましくない。また、下限値10°は、小型で軽量な
光ヘッドを実現する上で必要な値である。この値を下ま
わると、λ2の入射光と反射光の光路の重なる部分が大
きくなり、光ヘッドの小型化が図れない。
尚、この実施例では、波長分割特性向上のためにバンド
パスフィルタで波長選択フィルタを構成した。
発明の効果 以上述べたように、本発明により、2つの波長の分離・
合成するための光学多層膜製造にかかるコストを低減で
き、かつ経時変化に対して安定な制御特性を有する小型
・軽量の2レーザ光ヘッドが実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図とは本発明の一実施例における2レーザ光ヘッド
の平面図、同すは正面図、同Cは側面図、第2図は従来
の光ヘッドの平面図、第3図は正面図、第4図、第5図
、第6図は従来の光ヘッドに用いられていた光学多層膜
の偏光特性図、第7図。 第8図、第9図は本発明の実施例で用いられている光学
多層膜の偏光特性図、第10図a、b、cは波長選択フ
ィルタの光線入射角変化に対する波長分離特性の変化を
模式的に示した図である。 1・・・・・・第1の半導体レーザ、3・・・・・・第
1のコリメータレンズ、6・・・・・・第1の偏光ビー
ムスプリフタ、9・・・・・・波長選択フィルタ、1o
・・・・・・光路変更用三角プリズム、11・・・・・
・λ/4板、12・・・・・・対物レンズ、13・・・
・・・ディスク、14・・・・・・第1の光スポット、
19・・・・・・ビームスプリフタ、22,24゜39
・・・・・・光検出器、25・・・・・・第1のアクチ
ュエータ、26・・・・・・第2の半導体レーザ、28
・・・・・・第2のコリメータレンズ、29・・・・・
・楔形プリズム、33・・・・・・第2の偏光ビームス
プリフタ、35・・川・第2の光スポット、36・・・
・・・第2のアクチュエータ。 第2図 43才lのJ次長ffi>大フィルタ 第3図 6り尤屑1i17−リスム 第4図 (nrn) 第7図 第8図 第9図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)波長λ_1、λ_2の光を発する2つのレーザと
    、波長λ_1の光ビームに対し偏光分割特性を有する第
    1の偏光ビームスプリッタと、波長λ_2の光ビームに
    対し偏光分割特性を有する第2の偏光ビームスプリッタ
    と、一定の角度で入射する上記波長λ_2の光ビームを
    反射し、上記波長λ_1の光ビームを透過する作用を有
    し、上記2つの光ビームを略同一方向に出射するよう配
    置した波長選択フィルタと、上記2つの光ビームをディ
    スク記録面上に結像させる光学系と、上記ディスク記録
    面で反射した2つの波長の光ビームを検出する検出器を
    備えた2レーザ光ヘッド。
  2. (2)波長λ_2の光ビームが波長選択フィルタに入射
    する角度θを10゜≦θ≦30゜の範囲に定めたことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の2レーザ光ヘッ
    ド。
JP61145151A 1986-06-20 1986-06-20 2レ−ザ光ヘツド Pending JPS632126A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61145151A JPS632126A (ja) 1986-06-20 1986-06-20 2レ−ザ光ヘツド

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JP61145151A JPS632126A (ja) 1986-06-20 1986-06-20 2レ−ザ光ヘツド

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JPS632126A true JPS632126A (ja) 1988-01-07

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JP61145151A Pending JPS632126A (ja) 1986-06-20 1986-06-20 2レ−ザ光ヘツド

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JP (1) JPS632126A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0482028A (ja) * 1990-07-24 1992-03-16 Canon Inc 情報記録再生装置
US5513164A (en) * 1992-09-11 1996-04-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical recording and reproducing apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0482028A (ja) * 1990-07-24 1992-03-16 Canon Inc 情報記録再生装置
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