JPS6242004A - 電縫管のシ−ム位置検出装置 - Google Patents
電縫管のシ−ム位置検出装置Info
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- JPS6242004A JPS6242004A JP18053185A JP18053185A JPS6242004A JP S6242004 A JPS6242004 A JP S6242004A JP 18053185 A JP18053185 A JP 18053185A JP 18053185 A JP18053185 A JP 18053185A JP S6242004 A JPS6242004 A JP S6242004A
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- Japan
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- pipe
- welded pipe
- electric welded
- scanning line
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、電縫管のシーム位置検出装置に関する。
［従来の技術］
電ｔｈｉ管の溶接部について、溶接ビード切削後のシー
ム部に対する超音波探傷が行なわれている。
ム部に対する超音波探傷が行なわれている。
この超音波作業において、シーム部に対する探傷器の追
従作業を自動化しようとする場合には、シーム部の自動
検出技術が不可欠である。
従作業を自動化しようとする場合には、シーム部の自動
検出技術が不可欠である。
他方、物体表面に傷、切削跡等の異常点がある時、これ
にレーザー光を投射すると異常点の形状、方向性に対応
する特徴的な反射パターンを生することが従来より広く
知られており、この原理を上記シーム部の自動検出のた
めに無条件に適用する提案がなされている。
にレーザー光を投射すると異常点の形状、方向性に対応
する特徴的な反射パターンを生することが従来より広く
知られており、この原理を上記シーム部の自動検出のた
めに無条件に適用する提案がなされている。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、上記レーザー光の反射パターンを用いる
方法にあっては、 ■アニール後のシーム部上にはスケールあるいはスケー
ル脱落跡が存在し、切削傷の方向性が極めて不鮮明であ
るため、レーザー光の反射パターンの異方性の差異が不
明確であり、 ■アニール後のシーム部上にはスケールあるいはスケー
ル脱落跡が存在し、レーザー光反射率が管表面の反射位
置により大幅に変化するため、反射強度に応じた反射パ
ターン判定ロジックを用いない場合、正しい反射パター
ンの検出が困難となり、シーム部の位置を誤検出する可
能性が高く、実用に適さないという不都合がある。
方法にあっては、 ■アニール後のシーム部上にはスケールあるいはスケー
ル脱落跡が存在し、切削傷の方向性が極めて不鮮明であ
るため、レーザー光の反射パターンの異方性の差異が不
明確であり、 ■アニール後のシーム部上にはスケールあるいはスケー
ル脱落跡が存在し、レーザー光反射率が管表面の反射位
置により大幅に変化するため、反射強度に応じた反射パ
ターン判定ロジックを用いない場合、正しい反射パター
ンの検出が困難となり、シーム部の位置を誤検出する可
能性が高く、実用に適さないという不都合がある。
本発明は、溶接ビード切削後のシーム部の位置を正確に
検出可能とすることを目的とする。
検出可能とすることを目的とする。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、溶接ビード切削後のシーム部の位置を検出す
る電縫管のシーム位置検出装置において、 （Ａ）入射光軸が管中心軸を含む面内に位置する入射光
を、シーム部を含む管表面の管周方向に走査する投光装
置と、 （Ｂ）管表面からの光反射強度分布を表わす反射パター
ンを撮像する受像装置と。
る電縫管のシーム位置検出装置において、 （Ａ）入射光軸が管中心軸を含む面内に位置する入射光
を、シーム部を含む管表面の管周方向に走査する投光装
置と、 （Ｂ）管表面からの光反射強度分布を表わす反射パター
ンを撮像する受像装置と。
（Ｃ）投光装置による一走査中に受像装置によって撮像
した各画像内の複数の走査線から、反射パターンの異方
性を認識するに適した適格走査線を選ぶ走査線選定回路
と、 （Ｄ）各画像内で走査線選定回路により選定された各適
格走査線の有効反射信号幅Ｖを検出する走査線信号幅検
出回路と、 （Ｅ）各画像内で走査線信号幅検出回路により検出され
た各有効反射信号幅Ｊの最大値Ｗを検出する反射パター
ン幅検出回路と、 （Ｆ）一走査中に反射パターン幅検出回路により検出さ
れた各画像の最大有効反射信号幅Ｗｎから、シーム部と
母材部を識別し、シーム部の位置を検出するシーム位置
検出回路とを有してなるようにしたものである。
した各画像内の複数の走査線から、反射パターンの異方
性を認識するに適した適格走査線を選ぶ走査線選定回路
と、 （Ｄ）各画像内で走査線選定回路により選定された各適
格走査線の有効反射信号幅Ｖを検出する走査線信号幅検
出回路と、 （Ｅ）各画像内で走査線信号幅検出回路により検出され
た各有効反射信号幅Ｊの最大値Ｗを検出する反射パター
ン幅検出回路と、 （Ｆ）一走査中に反射パターン幅検出回路により検出さ
れた各画像の最大有効反射信号幅Ｗｎから、シーム部と
母材部を識別し、シーム部の位置を検出するシーム位置
検出回路とを有してなるようにしたものである。
［作用］
本発明によれば、各画像内で、反射パターンの異方性を
認識するに適した適格走査線を選定し、各適格走査線の
有効反射信号幅Ｊを検出し、さらに各有効反射信号幅Ｖ
の最大値Ｗを検出するようにしたので、管表面の反射位
置によって大幅に異なる反射強度の変化に影響されるこ
となく、反射パターンの異方性を正しく検出することが
可能となる。したがって、はぼ等男前な反射パターンを
生ずる母材部と、異方的な反射パターンを示すシーム部
を高い精度で識別し、シーム部の位置を正確に検出する
ことが可能となる。
認識するに適した適格走査線を選定し、各適格走査線の
有効反射信号幅Ｊを検出し、さらに各有効反射信号幅Ｖ
の最大値Ｗを検出するようにしたので、管表面の反射位
置によって大幅に異なる反射強度の変化に影響されるこ
となく、反射パターンの異方性を正しく検出することが
可能となる。したがって、はぼ等男前な反射パターンを
生ずる母材部と、異方的な反射パターンを示すシーム部
を高い精度で識別し、シーム部の位置を正確に検出する
ことが可能となる。
［実施例］
第１図は本発明の一実施例に係るシーム検出装置のセン
サーヘッドｌを示す模式図である。Ｈｓ−Ｎｅ レーザ
ーＩＡより発せられた波長８３３ｎｍのレーザー光２は
、ミラー３ａを介してビームスキャナ４のミラー３ｂに
照射される。５は電縫管、５Ａは溶接ビードで切削後の
シーム部である。レーザー光２は、ミラー３ｂにより電
縫管５の中心軸６と平行な光軸となる。ビームスキャナ
４によりミラー３ｂを電縫管５の中心軸６と直角方向に
往復運動することにより、ミラー３ｂで反射したレーザ
ー光を±２５ｍｍの範囲内で平行に走査する。この電縫
管５の中心軸６と平行な光軸をもつレーザー光は、ミラ
ー３ｃ、３ｄにより、電縫管５の表面に対して一定の角
度θ（７０度≦θ≦９０度）で入射する。
サーヘッドｌを示す模式図である。Ｈｓ−Ｎｅ レーザ
ーＩＡより発せられた波長８３３ｎｍのレーザー光２は
、ミラー３ａを介してビームスキャナ４のミラー３ｂに
照射される。５は電縫管、５Ａは溶接ビードで切削後の
シーム部である。レーザー光２は、ミラー３ｂにより電
縫管５の中心軸６と平行な光軸となる。ビームスキャナ
４によりミラー３ｂを電縫管５の中心軸６と直角方向に
往復運動することにより、ミラー３ｂで反射したレーザ
ー光を±２５ｍｍの範囲内で平行に走査する。この電縫
管５の中心軸６と平行な光軸をもつレーザー光は、ミラ
ー３ｃ、３ｄにより、電縫管５の表面に対して一定の角
度θ（７０度≦θ≦９０度）で入射する。
上記投光装置において、レーザー光を電縫管５の中心軸
６と直角方向に平行に操作することで、入射光軸が電縫
管５の中心軸６を含む面内にある入射光を電ｌ管５の管
周方向に走査するのと近似的に同等の効果が得られる。
６と直角方向に平行に操作することで、入射光軸が電縫
管５の中心軸６を含む面内にある入射光を電ｌ管５の管
周方向に走査するのと近似的に同等の効果が得られる。
また、この走査方法によれば、ビームスキャナ４の動き
をポテンショメータ７でモニターすることにより、電縫
管５の表面におけるビーム照射位置を容易かつ正確に知
ることができる。上記投光装置により照射されたレーザ
ー光２は、電ｌ管５の表面で反射する０反射したレーザ
ー光８の反射パターン９は、スクリーン１０の上に投影
される。スクリーン１０の上に投影された反射パターン
は、スクリーン１０を視野内に含む固体素子カメラ１１
によって受像される。固体素子カメラ１１が受像した反
射パターン画像は、その時のレーザー光の位置を表すポ
テンショメーター７の出力とともに信号処理回路へ伝送
される。
をポテンショメータ７でモニターすることにより、電縫
管５の表面におけるビーム照射位置を容易かつ正確に知
ることができる。上記投光装置により照射されたレーザ
ー光２は、電ｌ管５の表面で反射する０反射したレーザ
ー光８の反射パターン９は、スクリーン１０の上に投影
される。スクリーン１０の上に投影された反射パターン
は、スクリーン１０を視野内に含む固体素子カメラ１１
によって受像される。固体素子カメラ１１が受像した反
射パターン画像は、その時のレーザー光の位置を表すポ
テンショメーター７の出力とともに信号処理回路へ伝送
される。
信号処理回路のブロック図を第２図に示す、固体素子カ
メラ１１から伝送されたビデオ出力は、走査線選定回路
において、各画像（ｌフレーム）内の複数の水平走査線
から、一定の輝度以上にある走査線を、反射パターンの
異方性を認識するのに適した適格な水平走査線として選
定され、走査線信号幅検出回路において、これらの走査
線信号の各有効反射信号幅−を検出された後、反射パタ
ーン幅検出回路において、各有効反射信号幅Ｕの値の最
大値Ｗを検出される。一走査中においてこうして得られ
た各画像ごとの反射パターンの最大有効反射信号幅Ｗｎ
（ｒ＋＝１〜５０・・・レーザービームの一走査あたり
５０フレームの画像を入力する場合）は、シーム位置検
出回路に入力され、シーム部の中心位置を算出するのに
用いられる。
メラ１１から伝送されたビデオ出力は、走査線選定回路
において、各画像（ｌフレーム）内の複数の水平走査線
から、一定の輝度以上にある走査線を、反射パターンの
異方性を認識するのに適した適格な水平走査線として選
定され、走査線信号幅検出回路において、これらの走査
線信号の各有効反射信号幅−を検出された後、反射パタ
ーン幅検出回路において、各有効反射信号幅Ｕの値の最
大値Ｗを検出される。一走査中においてこうして得られ
た各画像ごとの反射パターンの最大有効反射信号幅Ｗｎ
（ｒ＋＝１〜５０・・・レーザービームの一走査あたり
５０フレームの画像を入力する場合）は、シーム位置検
出回路に入力され、シーム部の中心位置を算出するのに
用いられる。
制御信号出力部は、算出されたシーム部中心位舒と探傷
器中心位置とのずれ量を算出し、さらに電縫管５の長手
方向において算出された各中心位置の平均化処理、異常
値排除が行なわれる。上記の処理により得られた制御信
号は、探傷器駆動部としてのセンサーヘッド駆動モータ
ー１２に入力され、扇型ギア１３を介してシーム倣い動
作が行なわれる。１４はセンサーヘッド位置検出用ポテ
ンショメータである。
器中心位置とのずれ量を算出し、さらに電縫管５の長手
方向において算出された各中心位置の平均化処理、異常
値排除が行なわれる。上記の処理により得られた制御信
号は、探傷器駆動部としてのセンサーヘッド駆動モータ
ー１２に入力され、扇型ギア１３を介してシーム倣い動
作が行なわれる。１４はセンサーヘッド位置検出用ポテ
ンショメータである。
第３図は上記実施例の全検出回路を示すブロック図、第
４図はシーム位置検出回路と制御信号出力部の処理内容
を示す流れ図である。
４図はシーム位置検出回路と制御信号出力部の処理内容
を示す流れ図である。
走査線選定回路では、先行する画像のピーク値Ｉｐから
Ｔｈ１＝ＩｐＸα＋Ｃ１・・・（１）
（α、Ｃ１は設定定数）を算出し、次の画像における各
走査線信号についてその各ピーク蒔Ｐｉ（１＝１〜１０
０）に対し、Ｐｉ＞Ｔｈｌを満たすもののみを選定する
。
走査線信号についてその各ピーク蒔Ｐｉ（１＝１〜１０
０）に対し、Ｐｉ＞Ｔｈｌを満たすもののみを選定する
。
他方走査線信号幅検出回路では、各走査線についてその
ピーク（＋ａ Ｐ １ を検出し、Ｔｈ２＝ＰｉＸβ＋
Ｃ２・・・（２） （β、Ｃ２は設定定数）を算出し、Ｔｈ２をスライスレ
ベルとして、各走査線信号の有効反射信号幅Ｌｌ／ｌを
検出する。
ピーク（＋ａ Ｐ １ を検出し、Ｔｈ２＝ＰｉＸβ＋
Ｃ２・・・（２） （β、Ｃ２は設定定数）を算出し、Ｔｈ２をスライスレ
ベルとして、各走査線信号の有効反射信号幅Ｌｌ／ｌを
検出する。
次に、反射パターン幅検出回路において、これらの有効
反射信号幅１．Ｌ／ｉの中からＰｉ＞Ｔｈｌなる走査線
のもののみを選び、さらにそれらの中から最大値Ｗｎ（
ｎ＝１〜５０）を求める。このようにしてビデオ信号の
ピーク強度、反射パターンの歪等に影響されず、各画像
の反射パターンの幅（管周方向の広がり）を求めること
ができる。
反射信号幅１．Ｌ／ｉの中からＰｉ＞Ｔｈｌなる走査線
のもののみを選び、さらにそれらの中から最大値Ｗｎ（
ｎ＝１〜５０）を求める。このようにしてビデオ信号の
ピーク強度、反射パターンの歪等に影響されず、各画像
の反射パターンの幅（管周方向の広がり）を求めること
ができる。
反射パターン幅検出回路により求めた各画像の最大有効
反射信号幅Ｗｎは、シーム位１ご検出回路に入力された
後、それらの最大値Ｗａ＋ａｘから定まＴｈ３＝Ｗｍａ
ｘ Ｘ ｙ＋Ｃ３−−・ （３）（γ、Ｃ３は設定定
数）により各最大有効反射信号幅Ｗｎを浮動ｚ値化する
。（Ｈｎ＝０または１）。この結果から、第４図に示し
た流れ図に従い、レーザービーム走査ごとのシーム中心
位置が算出される。さらに、この結果は第４図に示す制
御信号出力部によって平均化および異常値排除が行なわ
れる。
反射信号幅Ｗｎは、シーム位１ご検出回路に入力された
後、それらの最大値Ｗａ＋ａｘから定まＴｈ３＝Ｗｍａ
ｘ Ｘ ｙ＋Ｃ３−−・ （３）（γ、Ｃ３は設定定
数）により各最大有効反射信号幅Ｗｎを浮動ｚ値化する
。（Ｈｎ＝０または１）。この結果から、第４図に示し
た流れ図に従い、レーザービーム走査ごとのシーム中心
位置が算出される。さらに、この結果は第４図に示す制
御信号出力部によって平均化および異常値排除が行なわ
れる。
第５図は本装置によるシーム中心検出結果を示すＶｊ図
である。破線はシーム中心実測位置を示し、実線は本発
明による検出位置である０本発明によれば、シーム部を
±３ｍ−の精度で検出可能であることが認められた。
である。破線はシーム中心実測位置を示し、実線は本発
明による検出位置である０本発明によれば、シーム部を
±３ｍ−の精度で検出可能であることが認められた。
第６図は本装置を実際に探傷界に取り付け、シーム部の
自動倣いを行なった結果を示す状態図である。横軸は走
行時のパイプ位置を示し、縦軸はシーム中心と深傷翼中
心のずれ量を示す、この結果、本発明によれば±５履■
の精度で自動倣いを行なうことが可能であることが認め
られた。
自動倣いを行なった結果を示す状態図である。横軸は走
行時のパイプ位置を示し、縦軸はシーム中心と深傷翼中
心のずれ量を示す、この結果、本発明によれば±５履■
の精度で自動倣いを行なうことが可能であることが認め
られた。
［発明の効果］
以上のように、本発明は、溶接ビード切削後のシーム部
の位置を検出する電縫管のシーム位置検出装置において
、 （Ａ）入射光軸が管中心軸を含む面内に位置する入射光
を、シーム部を含む管表面の管周方向に走査する投光装
置と、 （Ｂ）管表面からの光反射強度分布を表わす反射パター
ンを撮像する受像装置と、 （Ｃ）投光装置による一走査中に受像装置によって撮像
した各画像内の複数の走査線から、反射パターンの異方
性を認識するに適した適格走査線を選ぶ走査線選定回路
と、 （Ｄ）各画像内で走査線選定回路により選定された各適
格走査線の有効反射信号幅Ｊを検出する走査線信号幅検
出回路と、 （Ｅ）各画像内で走査線信号幅検出回路により検出され
た各有効反射信号幅Ｖの最大値Ｗを検出する反射パター
ン幅検出回路と、 （Ｆ）一走査中に反射パターン幅検出回路により検出さ
れた各画像の最大有効反射信号幅Ｗｎから、シーム部と
母材部を識別し、シーム部の位置を検出するシーム位置
検出回路とを有してなるようにしたものである。
の位置を検出する電縫管のシーム位置検出装置において
、 （Ａ）入射光軸が管中心軸を含む面内に位置する入射光
を、シーム部を含む管表面の管周方向に走査する投光装
置と、 （Ｂ）管表面からの光反射強度分布を表わす反射パター
ンを撮像する受像装置と、 （Ｃ）投光装置による一走査中に受像装置によって撮像
した各画像内の複数の走査線から、反射パターンの異方
性を認識するに適した適格走査線を選ぶ走査線選定回路
と、 （Ｄ）各画像内で走査線選定回路により選定された各適
格走査線の有効反射信号幅Ｊを検出する走査線信号幅検
出回路と、 （Ｅ）各画像内で走査線信号幅検出回路により検出され
た各有効反射信号幅Ｖの最大値Ｗを検出する反射パター
ン幅検出回路と、 （Ｆ）一走査中に反射パターン幅検出回路により検出さ
れた各画像の最大有効反射信号幅Ｗｎから、シーム部と
母材部を識別し、シーム部の位置を検出するシーム位置
検出回路とを有してなるようにしたものである。
したがって、等方向な反射パターンを生ずる母材部と、
異方的な反射パターンを示すシーム部を高い精度で識別
し、溶接ビード切削後のシーム部の位置を正確に検出す
ることが可能となる。
異方的な反射パターンを示すシーム部を高い精度で識別
し、溶接ビード切削後のシーム部の位置を正確に検出す
ることが可能となる。
第１図は本発明に係るシーム位置検出装置のセンサーヘ
ッドの一例を示す模式図、第２図は本発明に用いられる
信号処理回路を示すブロック図、第３図は本発明に用い
られる信号処理回路のハード構成を示すブロック図、第
４図はシーム位置検出回路および制御信号出力部の処理
内容を示す流れ図、第５図はシーム中心位置の検出結果
を示す線図、第６図は自動倣い結果を示す状態図である
。 １・・・センサーヘッド、ｌＡ・・・レーザー、２．８
・・・レーザー光、４・・・ビームスキャナ、５・・・
電縫管、５Ａ・・・シーム部、６・・・中心軸、９・・
・反射パターン、１１・・・カメラ。 代理人 弁理士 塩 川 修 治 第５図 第 ６ ロ バイブａ１（ＴｒＬ）
ッドの一例を示す模式図、第２図は本発明に用いられる
信号処理回路を示すブロック図、第３図は本発明に用い
られる信号処理回路のハード構成を示すブロック図、第
４図はシーム位置検出回路および制御信号出力部の処理
内容を示す流れ図、第５図はシーム中心位置の検出結果
を示す線図、第６図は自動倣い結果を示す状態図である
。 １・・・センサーヘッド、ｌＡ・・・レーザー、２．８
・・・レーザー光、４・・・ビームスキャナ、５・・・
電縫管、５Ａ・・・シーム部、６・・・中心軸、９・・
・反射パターン、１１・・・カメラ。 代理人 弁理士 塩 川 修 治 第５図 第 ６ ロ バイブａ１（ＴｒＬ）
Claims (1)
- （１）溶接ビード切削後のシーム部の位置を検出する電
縫管のシーム位置検出装置において、（Ａ）入射光軸が
管中心軸を含む面内に位置する入射光を、シーム部を含
む管表面の管周方向に走査する投光装置と、 （Ｂ）管表面からの光反射強度分布を表わす反射パター
ンを撮像する受像装置と、 （Ｃ）投光装置による一走査中に受像装置によって撮像
した各画像内の複数の走査線から、 反射パターンの異方性を認識するに適した適格走査線を
選ぶ走査線選定回路と、 （Ｄ）各画像内で走査線選定回路により選定された各適
格走査線の有効反射信号幅ωを検出する走査線信号幅検
出回路と、 （Ｅ）各画像内で走査線信号幅検出回路により検出され
た各有効反射信号幅ωの最大値Ｗを検出する反射パター
ン幅検出回路と、 （Ｆ）一走査中に反射パターン幅検出回路により検出さ
れた各画像の最大有効反射信号幅Ｗｎから、シーム部と
母材部を識別し、 シーム部の位置を検出するシーム位置検出回路とを有し
てなることを特徴とする電縫管のシーム位置検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18053185A JPS6242004A (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 電縫管のシ−ム位置検出装置 |
| US06/897,525 US4734766A (en) | 1985-08-19 | 1986-08-18 | Method and system for locating and inspecting seam weld in metal seam-welded pipe |
| EP86401841A EP0214046B1 (en) | 1985-08-19 | 1986-08-19 | Method and system for locating and inspecting seam weld in metal seam-welded pipe |
| DE8686401841T DE3687612T2 (de) | 1985-08-19 | 1986-08-19 | Verfahren und system zum lokalisieren und pruefen einer laschennat in einem laengsgeschweissten metallrohr. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18053185A JPS6242004A (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 電縫管のシ−ム位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6242004A true JPS6242004A (ja) | 1987-02-24 |
Family
ID=16084890
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18053185A Pending JPS6242004A (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 電縫管のシ−ム位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6242004A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022118515A1 (ja) | 2020-12-03 | 2022-06-09 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 溶接鋼管のシーム部および加熱部の位置検出装置、溶接鋼管の製造設備、溶接鋼管のシーム部および加熱部の位置検出方法、溶接鋼管の製造方法および溶接鋼管の品質管理方法 |
| WO2022244383A1 (ja) | 2021-05-17 | 2022-11-24 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 溶接鋼管のシーム部および加熱部の位置検出装置、溶接鋼管の製造設備、溶接鋼管のシーム部および加熱部の位置検出方法、溶接鋼管の製造方法および溶接鋼管の品質管理方法 |
-
1985
- 1985-08-19 JP JP18053185A patent/JPS6242004A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022118515A1 (ja) | 2020-12-03 | 2022-06-09 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 溶接鋼管のシーム部および加熱部の位置検出装置、溶接鋼管の製造設備、溶接鋼管のシーム部および加熱部の位置検出方法、溶接鋼管の製造方法および溶接鋼管の品質管理方法 |
| KR20230096051A (ko) | 2020-12-03 | 2023-06-29 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 용접 강관의 심부 및 가열부의 위치 검출 장치, 용접 강관의 제조 설비, 용접 강관의 심부 및 가열부의 위치 검출 방법, 용접 강관의 제조 방법 및 용접 강관의 품질 관리 방법 |
| WO2022244383A1 (ja) | 2021-05-17 | 2022-11-24 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 溶接鋼管のシーム部および加熱部の位置検出装置、溶接鋼管の製造設備、溶接鋼管のシーム部および加熱部の位置検出方法、溶接鋼管の製造方法および溶接鋼管の品質管理方法 |
| KR20230161505A (ko) | 2021-05-17 | 2023-11-27 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 용접 강관의 심부 및 가열부의 위치 검출 장치, 용접 강관의 제조 설비, 용접 강관의 심부 및 가열부의 위치 검출 방법, 용접 강관의 제조 방법 및 용접 강관의 품질 관리 방법 |
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