JPS62276403A - Shape measuring apparatus - Google Patents
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- JPS62276403A JPS62276403A JP61119814A JP11981486A JPS62276403A JP S62276403 A JPS62276403 A JP S62276403A JP 61119814 A JP61119814 A JP 61119814A JP 11981486 A JP11981486 A JP 11981486A JP S62276403 A JPS62276403 A JP S62276403A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
本発明は形状測定装置に関し、例えば眼鏡フレームやレ
ール等の線状体の形状を測定する場合に適用して好適な
ものである。[Detailed Description of the Invention] 3. Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a shape measuring device, and is suitable for application to, for example, measuring the shape of a linear object such as an eyeglass frame or a rail. It is something.
従来例えば眼鏡フレームなどの線状体の立体的形状を測
定する形状測定装置は、眼鏡フレームの内面に機械的な
接触子を押し当てながら眼鏡フレームの内面に沿う方向
に移動させて行き、その結果接触子が眼鏡フレームの内
面形状に倣うように変位することを利用して、当該変位
量を検出することによって［ｉフレームの形状を測定す
るいわゆる倣い加工の手法を利用した構成のものが用い
られている。Conventionally, a shape measuring device that measures the three-dimensional shape of a linear object such as an eyeglass frame presses a mechanical contact against the inner surface of the eyeglass frame while moving it in a direction along the inner surface of the eyeglass frame. By taking advantage of the fact that the contact is displaced to follow the inner surface shape of the eyeglass frame and detecting the amount of displacement, a device configured using a so-called copying method to measure the shape of the i-frame is used. ing.
そして形状測定装置によって測定された形状は、例えば
プラスチック材料でなる杉板状に型取りされ、かくして
眼鏡フレームの内面の形状と同じ外周形状を有するレン
ズの正型を製作するようになされている。The shape measured by the shape measuring device is then molded into, for example, a cedar plate made of plastic material, thereby producing a regular mold of the lens having the same outer peripheral shape as the inner surface of the eyeglass frame.
ところがこのようにして線状体の形状を測定する場合、
機械的接触子を眼鏡フレームに押し当てることを原理と
しているため、眼鏡フレームが当該接触圧によって変形
を受けるおそれがあり、特に弾力性が大きい材質のＩＮ
鏡フレームを測定する場合には、測定結果の誤差を無視
し得なくなるおそれがある。However, when measuring the shape of a linear object in this way,
Since the principle is to press a mechanical contact against the eyeglass frame, there is a risk that the eyeglass frame may be deformed by the contact pressure.
When measuring a mirror frame, there is a risk that errors in the measurement results cannot be ignored.
また従来の方法によって高い精度で眼鏡フレームの形状
を測定しようとする場合、眼鏡フレームの形状が立体的
に湾曲しているのに対して、これを平板状の杉板に型取
りするようになされているために、眼鏡フレームの湾曲
形状を忠実に写し取ることができない原理的な問題があ
る。In addition, when trying to measure the shape of eyeglass frames with high precision using conventional methods, the shape of eyeglass frames is three-dimensionally curved, whereas the shape of eyeglass frames is molded onto a flat cedar board. Therefore, there is a fundamental problem in that the curved shape of the eyeglass frame cannot be faithfully copied.
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、線状体の
形状を非接触的な手法によって測定することができるよ
うにした形状測定装置を提案しようとするものである。The present invention has been made in consideration of the above points, and aims to propose a shape measuring device that can measure the shape of a linear object using a non-contact method.
かかる問題点を解決するため本発明においては、被観測
対象を構成する線状体２に対して走査光を照明する照明
手段（１１，１２，１４）と、その走査光１３を線状体
２において反射して得られる反射光束１５から一対のス
ポット光を形成するマスク手段１６と、一対のスポット
光を受けてその入射位置ｄ、、ｄ、を表す検出出力を得
る検出手段１７とを具え、スポット光１７Ａ、１７Ｂの
入射位置ｄ、、ｄ！に基づいて線状体２の形状を測定す
るようにする。In order to solve this problem, the present invention includes illumination means (11, 12, 14) that illuminates the linear body 2 constituting the object to be observed with scanning light; A masking means 16 for forming a pair of spot lights from a reflected light beam 15 obtained by reflection at the spot light beam 15, and a detecting means 17 for receiving the pair of spot lights and obtaining a detection output representing the incident position d, d, Incident positions d,,d! of the spot lights 17A and 17B! The shape of the linear body 2 is measured based on the following.
検出手段１７上に入射する一対のスポット光１７Ａ、１
７Ｂは、マスク手段１６に対する線状体２の位置が縦方
向及び又は横方向に相対的に変化すれば、これに応じて
変化する。A pair of spot lights 17A, 1 incident on the detection means 17
7B changes accordingly if the position of the linear body 2 with respect to the mask means 16 changes relative to the vertical and/or horizontal directions.
か（して走査光の走査に応じて検出手段１７から得られ
る検出出力の変化は線状体２の立体的な形状を表すこと
になり、その結果非接触的な手段を用いて線状体２の立
体的形状を測定することができる。(Thus, the change in the detection output obtained from the detection means 17 in response to the scanning of the scanning light represents the three-dimensional shape of the linear body 2. As a result, the linear body 2 can be detected using non-contact means. 2 three-dimensional shapes can be measured.
以下図面について、本発明の一実施例を、線状体を閉ル
ープを有する枠形状に成形した眼鏡のフレームの形状を
測定する形状測定装置に適用した実施例として、詳述す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings as an embodiment applied to a shape measuring device for measuring the shape of an eyeglass frame in which a linear body is formed into a frame shape having a closed loop.
（１）第１の実施例
第１図において、１は形状測定装置を示し、被測定対象
としての線状体を構成する眼鏡フレーム２の枠部が構成
する枠空間内に配設されている。(1) First Embodiment In FIG. 1, numeral 1 indicates a shape measuring device, which is disposed in a frame space constituted by the frame portion of an eyeglass frame 2 constituting a linear body as the object to be measured. .
形状測定装置１は光源１１から出射した光を、第２図に
示すように、横長の窓１２Ａを有するスリット１２を通
すことによって線状光束１３を得、この線状光束１３を
ハーフミラ−１４によって眼鏡フレーム２の内面側に折
り曲げ、かくして線状光束１３を眼鏡フレーム２の延長
方向と交差させるように走査光として眼鏡フレーム２を
照射する。As shown in FIG. 2, the shape measuring device 1 passes the light emitted from the light source 11 through a slit 12 having a horizontally long window 12A to obtain a linear light beam 13, and this linear light beam 13 is passed through a half mirror 14. It is bent toward the inner surface of the eyeglass frame 2, and the eyeglass frame 2 is thus irradiated with the linear light beam 13 as scanning light so as to intersect the extension direction of the eyeglass frame 2.
線状光束１３は、実質上眼鏡フレーム２の内面の１点に
おいてこれを交差するように照射し、その反射光束１５
が反射点Ｐ、を新たな光源としてここからの光がハーフ
ミラ−１４を透過してマスク１６に達する。The linear light beam 13 is irradiated so as to intersect substantially at one point on the inner surface of the eyeglass frame 2, and the reflected light beam 15
The reflection point P is used as a new light source, and the light from this point passes through the half mirror 14 and reaches the mask 16.
マスク１６は、第３図に示すように、縦方向に所定の距
離だけ離間した位置に形成された一対の窓１６Ａ及び１
６Ｂを有し、反射点Ｐ＋における散乱によって得られた
反射光束１５のうち、縦方向の窓１６Ａ及び１６Ｂを通
して検出素子１７上に入射させる。かくして検出素子１
７上には窓１６Ａ及び１６Ｂに対応する光スポット１７
Ａ及び１７Ｂが形成される。As shown in FIG. 3, the mask 16 has a pair of windows 16A and 1 formed at positions separated by a predetermined distance in the vertical direction.
6B, and the reflected light beam 15 obtained by scattering at the reflection point P+ is made incident on the detection element 17 through the vertical windows 16A and 16B. Thus, the detection element 1
7, there is a light spot 17 corresponding to the windows 16A and 16B.
A and 17B are formed.
以上の構成に加えて形状測定装置１は、マスク１６上の
２つの窓１６Ａ、１６Ｂを通る縦方向の中心線１８を中
心として回転するように構成され、かくして反射光束１
５が走査光として眼鏡フレーム２の内側面を走査したと
きこれに応じて移動する反射点Ｐ、に対応する光スポッ
ト１７Ａ及び１７Ｂを、検出素子１７上に形成し得るよ
うになされている。In addition to the above configuration, the shape measuring device 1 is configured to rotate around a vertical center line 18 passing through the two windows 16A and 16B on the mask 16, and thus the reflected light beam 1
5 scans the inner surface of the eyeglass frame 2 as a scanning light, light spots 17A and 17B corresponding to a reflection point P that moves accordingly can be formed on the detection element 17.
以上の構成において、形状測定装置１が中心線１８を軸
として回転することによって反射光束１５を発生する反
射点Ｐ１が眼鏡フレーム２の内面に沿って移動して行く
が、その移動に基づいて検出素子１７上に形成される光
スポット１７Ａ及び１７Ｂの間隔Ｄ（第４図）は、マス
ク１６の位置従って中心線１８の位置から反射点Ｐ、ま
での横方向の距離Ｒに対応する値になり、距離Ｒが小さ
くなればこれに応じて間隔りが大きくなる。従って検出
素子１７からの検出出力に基づいて、光スポラ１−１７
Ａ及び１７Ｂの位置ｄ、及びｄ！を検出しく第４図）、
その差によって表される間隔りを求めれば、これに基づ
いて中心線１８から反射点Ｐｌ （従って眼鏡フレーム
２の内側面）までの横方向の距離Ｒを測定することがで
きる。In the above configuration, as the shape measuring device 1 rotates about the center line 18, the reflection point P1 that generates the reflected light beam 15 moves along the inner surface of the eyeglass frame 2, and is detected based on the movement. The distance D (FIG. 4) between the light spots 17A and 17B formed on the element 17 has a value corresponding to the lateral distance R from the position of the mask 16 and hence the center line 18 to the reflection point P. , as the distance R becomes smaller, the interval increases accordingly. Therefore, based on the detection output from the detection element 17, the optical spoiler 1-17
A and 17B positions d and d! (Figure 4)
By determining the distance represented by the difference, it is possible to measure the lateral distance R from the center line 18 to the reflection point Pl (therefore, the inner surface of the eyeglass frame 2).
また光スポラ）１７Ａ及び１７Ｂの縦方向（すなわちＺ
方向）の位置がマスク１６に対して相対的に変化すると
、それに応じて光スポット１７Ａ及び１７Ｂの位置ｄ１
及びｄ２が変化する。この変化は、 光スポット１７Ａ
及び１７Ｂの中間点Ｐ２の位置ｄ、の変化として検出す
ることができる。この中間位置ｄ、は、第１図において
マスク１６上における窓１６Ａ及び１６Ｂの中間点Ｐ０
を通って反射点Ｐ＋から延長する仮想線１９が、検出素
子１７上に到達する位置を表している。Also, the vertical direction (i.e. Z
direction) changes relative to the mask 16, the positions d1 of the light spots 17A and 17B change accordingly.
and d2 change. This change is caused by light spot 17A
and the position d of the intermediate point P2 of 17B. This intermediate position d is the intermediate point P0 between the windows 16A and 16B on the mask 16 in FIG.
An imaginary line 19 extending from the reflection point P+ through the reflection point P+ represents the position on the detection element 17.
ところでマスク１６の中間点Ｐ０を通って横方向（すな
わちＸ方向）に延長する基準軸を考えたとき、この基準
軸から反射点Ｐ＋までの縦方向（すなわち２方向）の距
離Ｚ４が変化すれば、これに対応するように検出素子１
７上の点Ｐ２も変化することになる。かくして中間点Ｐ
２の位置ｄ３を検出することによって、反射点Ｐ、のＺ
方向の位置の変化を測定することができる。By the way, when considering a reference axis that passes through the midpoint P0 of the mask 16 and extends in the horizontal direction (i.e., the X direction), if the distance Z4 in the vertical direction (i.e., two directions) from this reference axis to the reflection point P+ changes, then , the detection element 1 corresponds to this.
Point P2 on 7 will also change. Thus the midpoint P
By detecting the position d3 of 2, the Z of the reflection point P,
Changes in directional position can be measured.
以上の構成によれば、検出素子１７から光スポラ）１７
Ａ及び１７Ｂの間隔りを検出することによって、反射点
Ｐ、のＸ方向の距離Ｒを測定できると共に、 光スポッ
ト１７Ａ及び１７Ｂの中間点Ｐ２の位置ｄ、を検出する
ことによって反射点Ｐ＋の２方向の位置を測定すること
ができる。According to the above configuration, from the detection element 17 to the optical spora) 17
By detecting the distance between A and 17B, it is possible to measure the distance R of the reflection point P in the The position of the direction can be measured.
かくして走査光としての線状光束１３を中心線１８を中
心として回転走査させることにより、線状体でなる眼鏡
フレーム２の内面の立体的な枠形状を非接触の手法で測
定することができる。In this way, by rotating and scanning the linear light beam 13 as the scanning light about the center line 18, the three-dimensional frame shape of the inner surface of the eyeglass frame 2 made of a linear body can be measured by a non-contact method.
（２） 第２の実施例
第５図は本発明の第２の実施例を示すもので、形状測定
装置１は中心線１８を中心として回転するミラー２１を
有し、ハーフミラ−１４から射出される線状光束１３及
び反射点Ｐ、から反射される反射光束１５を９０＠だけ
折り曲げるようになされている。(2) Second Embodiment FIG. 5 shows a second embodiment of the present invention, in which the shape measuring device 1 has a mirror 21 that rotates around a center line 18. The linear light flux 13 and the reflected light flux 15 reflected from the reflection point P are bent by 90@.
かくしてこの実施例の場合光源１１ないし検出素子１７
までの光学系によって構成される形状測定装置本体は、
Ｒ鏡フレーム２に対して縦方向に外側位置に配置され、
眼鏡フレーム２の枠空間の内部には、回転するミラー２
１を配設するだけの使い易い構成にし得る。Thus, in this embodiment the light source 11 or the detection element 17
The main body of the shape measuring device consists of the optical system up to
It is arranged at an outer position in the vertical direction with respect to the R mirror frame 2,
Inside the frame space of the eyeglass frame 2, there is a rotating mirror 2.
1 can be easily used.
（３）第３の実施例
第６図は本発明の第３の実施例を示すもので、第１図と
の対応部分に同一符号を付して示すように、形状測定装
置１は、光源１１及びスリット１２間に集光レンズ３１
を有し、かくしてスリット１２によって形成された線状
光束１３を発散させずに平行光線として効率良く眼鏡フ
レーム２に照射させるようになされている。(3) Third Embodiment FIG. 6 shows a third embodiment of the present invention. As shown by assigning the same reference numerals to corresponding parts as in FIG. 1, the shape measuring device 1 includes a light source. Condenser lens 31 between 11 and slit 12
In this way, the linear light beam 13 formed by the slit 12 is efficiently irradiated onto the eyeglass frame 2 as a parallel light beam without being diverged.
また第６図の場合、マスク１６及び検出素子１７間に投
影レンズ３２が設けられ、かくしてマスク１６の窓１６
Ａ及び１６Ｂを通った光を検出素子１７の中央部分に折
り曲げるようにする。かくして光スポラ）１７Ａ及び１
７Ｂの位置の測定を、検出素子１７の中央部分の比較的
狭い領域で測定することができることにより、検出素子
１７の構成を一段と小型化し得る。In addition, in the case of FIG. 6, a projection lens 32 is provided between the mask 16 and the detection element 17, so that the window 16 of the mask
The light passing through A and 16B is bent to the central portion of the detection element 17. Thus Photospora) 17A and 1
By being able to measure the position of 7B in a relatively narrow area at the center of the detection element 17, the configuration of the detection element 17 can be further miniaturized.
（４）第４の実施例
第７図は本発明の第４の実施例を示すもので、この場合
形状測定装置１は、第６図との対応部分に同一符号を付
して示すように、光源１１から射出された光を、第８図
に示す透明板３５に照射させる。(4) Fourth Embodiment FIG. 7 shows a fourth embodiment of the present invention. In this case, the shape measuring device 1 has the same reference numerals as those shown in FIG. , the light emitted from the light source 11 is irradiated onto a transparent plate 35 shown in FIG.
透明板３５には、そのほぼ中央位置に縦方向に細長の反
射部３５Ａが形成され、この反射部３５Ａによって反射
された光が集光レンズ３６を過つてマスク３７の中央部
分に照射される。A longitudinally elongated reflecting section 35A is formed at approximately the center of the transparent plate 35, and the light reflected by the reflecting section 35A passes through the condensing lens 36 and is irradiated onto the central portion of the mask 37.
マスク３７は第９図に示すように、縦方向に延長するス
リット開口３７Ａと、その長手方向の外側位置に設けら
れた一対の窓３７Ｂ１及び３７Ｂ２を有し、集光レンズ
３６を通して反射部３５Ａから照射された光をスリット
開口３７Ａによって制限して線状光束１３を形成する。As shown in FIG. 9, the mask 37 has a slit opening 37A extending in the vertical direction and a pair of windows 37B1 and 37B2 provided on the outside of the slit opening 37A in the longitudinal direction. The irradiated light is restricted by the slit opening 37A to form a linear light beam 13.
これと共に、線状光束１３を反射点Ｐ１において反射し
て得られる反射光束１５を外側の一対の窓３７Ｂ１及び
３７Ｂ２を通して集光レンズ３６によって集光しながら
透明板３５の外側部分を透過させた後、検出素子１７上
に投影させる。At the same time, the reflected light flux 15 obtained by reflecting the linear light flux 13 at the reflection point P1 is transmitted through the outer part of the transparent plate 35 while being focused by the condenser lens 36 through a pair of outer windows 37B1 and 37B2. , and projected onto the detection element 17.
第７図の構成によれば、第６図の構成の場合と比較して
、レンズとして集光レンズ３６を１枚用意するだけで済
むと共に、１枚のマスク３７によって眼鏡フレーム２に
対する線状光束１３と、検出素子１７への一対の光スポ
ラ）１７Ａ及び１７Ｂとを形成する。According to the configuration shown in FIG. 7, compared to the configuration shown in FIG. 13, and a pair of optical spora (17A and 17B) to the detection element 17 are formed.
かくして全体としての構成をさらに一段と筒易化するこ
とができる。In this way, the overall configuration can be further simplified.
（５）他の実施例
（５Ａ）第１図の実施例の場合には、ハーフミラ−１４
、マスク１６、検出素子１７を、被観測対象としての線
状体を構成する眼鏡フレーム２の枠空間の内部に設ける
ように、ハーフミラ−１４を基準軸Ｘに対して４５″に
近い角度に選定したが、これに代え、ハーフミラ−１４
の角度を変えることによって、形状測定装置１を全体と
して眼鏡フレーム２０枠空間の外側に引き出した位置に
設けるように構成しても、上述の場合と同様の効果を得
ることができる。(5) Other embodiments (5A) In the case of the embodiment shown in Fig. 1, the half mirror 14
, the half mirror 14 is selected at an angle close to 45'' with respect to the reference axis However, instead of this, half mirror 14
By changing the angle of the shape measuring device 1, the same effect as described above can be obtained even if the shape measuring device 1 is disposed as a whole at a position pulled out outside the frame space of the eyeglass frame 20.
（５Ｂ）第５図の実施例においては、ミラー２１を回転
させることによって走査光として機能する線状光束１３
及び反射光束１５を走査させるように構成したが、これ
に代え、ハーフミラ−１４及びミラー２１間に像回転プ
リズムを設け、この像回転プリズムをミラー２１と共に
中心線１８の周りを回転させるようにしても同様の効果
を得ることができる。なおこの場合には、ミラー２１の
回転数を像回転プリズムの回転数の２倍に選定すれば良
い。(5B) In the embodiment shown in FIG. 5, the linear light beam 13 functions as a scanning light by rotating the mirror 21.
, and the reflected light beam 15 is scanned, but instead of this, an image rotation prism is provided between the half mirror 14 and the mirror 21, and this image rotation prism is rotated together with the mirror 21 around the center line 18. You can also get the same effect. In this case, the number of rotations of the mirror 21 may be selected to be twice the number of rotations of the image rotating prism.
（５Ｃ）第６図の実施例の場合、集光レンズ３１をスリ
ット１２の光源１１側に設けた場合について述べたが、
これに代え、スリット１２の光源１１とは反対側に設け
るようにしても良い。(5C) In the case of the embodiment shown in FIG. 6, the case has been described in which the condenser lens 31 is provided on the light source 11 side of the slit 12.
Alternatively, the slit 12 may be provided on the opposite side of the light source 11.
また投影レンズ３２についても、マスク１６の検出素子
１７とは反対側に設けるようにしても良い。Further, the projection lens 32 may also be provided on the opposite side of the mask 16 from the detection element 17.
（５Ｄ）上述の実施例においては、被観測対象として枠
形状を有する眼鏡フレーム２の３次元的な形状を測定す
る場合に本発明を適用した場合について述べたが、被観
測対象としてはこれに限らず、要するに走査光によって
表面をたどって行ったとき、３次元的な立体曲線を描く
ような閉ループをもった枠形状、又は閉ループをもたな
い例えばレールの線形状の線状体の立体的又は平面的形
状を検出する場合に、広く適用することができる。(5D) In the above embodiment, the present invention is applied to the case where the three-dimensional shape of the eyeglass frame 2 having a frame shape is measured as the object to be observed. In other words, when the surface is traced by scanning light, it is possible to detect the shape of a frame with a closed loop that draws a three-dimensional three-dimensional curve, or the three-dimensional shape of a linear body that does not have a closed loop, such as the linear shape of a rail. Alternatively, it can be widely applied when detecting a planar shape.
上述のように本発明によれば、被観測対象を構成する枠
体に対して機械的な接触子を接触させることな（、非接
触的に線状体の形状を容易に測定し得る形状測定装置を
実現し得る。As described above, according to the present invention, the shape measurement method can easily measure the shape of a linear object in a non-contact manner without bringing a mechanical contactor into contact with the frame that constitutes the object to be observed. The device can be realized.
第１図は本発明による形状測定装置の第１の実施例を示
す路線図、第２図、第３図、第４図は第１図のスリット
１２、マスク１６、検出素子１７の構成を示す路線図、
第５図、第６図、第７図は本発明の第２、第３、第４の
実施例を示す路線図、第８図及び第９図は第７図の透明
板３５、マスク３７の構成を示す路線図である。
１・・・・・・形状測定装置、２・・・・・・眼鏡フレ
ーム、１１・・・・・・光Ｓ、１２・・・・・・スリッ
ト、１４・・・・・・ハーフミラ−１１６，３７・・・
・・・マスク、１６Ａ、１６Ｂ・・・・・・窓、１７・
・・・・・検出素子、１７ＡＳ１７Ｂ・・・・・・光ス
ポット、２１・・・・・・ミラー、３１．３６・・・・
・・集光レンズ、３２・・・・・・投影レンズ、３５・
・・・・・透明板。
第１図
第２図 第５図
ヒＩど
第５図
第６図
第７図
第９図FIG. 1 is a route map showing a first embodiment of the shape measuring device according to the present invention, and FIGS. 2, 3, and 4 show the configurations of the slit 12, mask 16, and detection element 17 in FIG. 1. route map,
5, 6, and 7 are route maps showing second, third, and fourth embodiments of the present invention, and FIGS. 8 and 9 are route maps showing the transparent plate 35 and mask 37 in FIG. It is a route map showing the configuration. 1... Shape measuring device, 2... Glasses frame, 11... Light S, 12... Slit, 14... Half mirror 116 ,37...
...Mask, 16A, 16B...Window, 17.
...Detection element, 17AS17B...Light spot, 21...Mirror, 31.36...
...Condensing lens, 32... Projection lens, 35.
...Transparent plate. Figure 1 Figure 2 Figure 5 Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 9
Claims (1)
照明手段と、 上記走査光を上記線状体において反射して得られる反射
光束から一対のスポット光を形成するマスク手段と、 上記一対のスポット光を受けてその入射位置を表す検出
出力を得る検出手段と、 を具え、上記スポット光の入射位置に基づいて上記線状
体の形状を測定することを特徴とする形状測定装置。[Claims] Illumination means for illuminating a linear body constituting an object to be observed with scanning light; and forming a pair of spot lights from a reflected light beam obtained by reflecting the scanning light on the linear body. and a detection means for receiving the pair of spot lights and obtaining a detection output representing the incident position thereof, and measuring the shape of the linear body based on the incident position of the spot light. Shape measuring device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61119814A JPH0769149B2 (en) | 1986-05-24 | 1986-05-24 | Shape measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61119814A JPH0769149B2 (en) | 1986-05-24 | 1986-05-24 | Shape measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62276403A true JPS62276403A (en) | 1987-12-01 |
| JPH0769149B2 JPH0769149B2 (en) | 1995-07-26 |
Family
ID=14770894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61119814A Expired - Fee Related JPH0769149B2 (en) | 1986-05-24 | 1986-05-24 | Shape measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0769149B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022508396A (en) * | 2018-12-19 | 2022-01-19 | カール ツァイス ヴィジョン インターナショナル ゲーエムベーハー | Devices and methods for optically measuring the inner contour of a spectacle frame |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5438157A (en) * | 1977-09-01 | 1979-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | Length measuring apparatus |
| JPS6027347U (en) * | 1983-07-29 | 1985-02-23 | タツタ電線株式会社 | Appearance test device for striatum |
-
1986
- 1986-05-24 JP JP61119814A patent/JPH0769149B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5438157A (en) * | 1977-09-01 | 1979-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | Length measuring apparatus |
| JPS6027347U (en) * | 1983-07-29 | 1985-02-23 | タツタ電線株式会社 | Appearance test device for striatum |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022508396A (en) * | 2018-12-19 | 2022-01-19 | カール ツァイス ヴィジョン インターナショナル ゲーエムベーハー | Devices and methods for optically measuring the inner contour of a spectacle frame |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0769149B2 (en) | 1995-07-26 |
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