JPS62205277A - 高硬度窒化ホウ素の合成方法 - Google Patents
高硬度窒化ホウ素の合成方法Info
- Publication number
- JPS62205277A JPS62205277A JP4546286A JP4546286A JPS62205277A JP S62205277 A JPS62205277 A JP S62205277A JP 4546286 A JP4546286 A JP 4546286A JP 4546286 A JP4546286 A JP 4546286A JP S62205277 A JPS62205277 A JP S62205277A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- boron nitride
- atom
- containing gas
- hydrogen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 44
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 44
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 title claims abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 27
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 69
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical group [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 29
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 29
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims abstract description 27
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 22
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims abstract description 22
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 15
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 37
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 21
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 9
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 230000035939 shock Effects 0.000 abstract description 3
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 abstract description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 2
- 239000008246 gaseous mixture Substances 0.000 abstract 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 4
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- -1 B5N3& Inorganic materials 0.000 description 2
- ILAHWRKJUDSMFH-UHFFFAOYSA-N boron tribromide Chemical compound BrB(Br)Br ILAHWRKJUDSMFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 2
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910015845 BBr3 Inorganic materials 0.000 description 1
- YZCKVEUIGOORGS-UHFFFAOYSA-N Hydrogen atom Chemical compound [H] YZCKVEUIGOORGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- AOPJVJYWEDDOBI-UHFFFAOYSA-N azanylidynephosphane Chemical compound P#N AOPJVJYWEDDOBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N borane Chemical compound B UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010277 boron hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N trichloroborane Chemical compound ClB(Cl)Cl FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、非常に高硬度を有するのみならず、熱伝導率
にとみ、化学的に安定で、加えてダイヤモンドとは異な
り、鉄族金し4に対する耐性((も優れることから、切
削工具、耐摩工具などの工具材料、さらにはヒートシン
クなどの11y子材料とし、で用いられている立方晶窒
化ホウ素ケ、気相より基材表面に析出させる方法に関す
るイ、のである。
にとみ、化学的に安定で、加えてダイヤモンドとは異な
り、鉄族金し4に対する耐性((も優れることから、切
削工具、耐摩工具などの工具材料、さらにはヒートシン
クなどの11y子材料とし、で用いられている立方晶窒
化ホウ素ケ、気相より基材表面に析出させる方法に関す
るイ、のである。
立方晶窒化ホウ素の製造方法として、従来、例えば下記
の■〜■の方法等が知られていた。
の■〜■の方法等が知られていた。
■ 特公昭AO−181262号公報に示されるように
、ホウ素を含有する蒸発林からw体上にホウ素分を蒸着
させると共に、少なくとも窒素を含むイオン種を発生せ
しめるイオン発生源から基体上に該イオン種を照射して
、該基体上に窒化ホウ素を生成させる窒化ホウ素膜の製
造方法。
、ホウ素を含有する蒸発林からw体上にホウ素分を蒸着
させると共に、少なくとも窒素を含むイオン種を発生せ
しめるイオン発生源から基体上に該イオン種を照射して
、該基体上に窒化ホウ素を生成させる窒化ホウ素膜の製
造方法。
■ ジャーナル オプ マテリアルス サイエンス レ
ターズ(、Tournal of materiala
aciance xetters )、J(1985)
51〜54頁、に示されるように、Hz十Nzプラズマ
によるボロンの化学輸送を行うことにより、立方晶窒化
ホウ素を生成する方法。
ターズ(、Tournal of materiala
aciance xetters )、J(1985)
51〜54頁、に示されるように、Hz十Nzプラズマ
によるボロンの化学輸送を行うことにより、立方晶窒化
ホウ素を生成する方法。
■ 8g9回イオン工学シンポジウム(1985年、東
京)議事録、「イオ/源とイオンを基礎とした応用技術
」、に示されるように、HODガンでボロンを蒸発させ
ながら、ホローアノードからNakイオン化して基板に
放射し、基板には高周波を印加して、セルフバイアス効
果を持たせて立方晶窒化ホウ素を生成する方法。
京)議事録、「イオ/源とイオンを基礎とした応用技術
」、に示されるように、HODガンでボロンを蒸発させ
ながら、ホローアノードからNakイオン化して基板に
放射し、基板には高周波を印加して、セルフバイアス効
果を持たせて立方晶窒化ホウ素を生成する方法。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、前記■の方法は、イオンビームを発生す
る装置及びその集束装置が高価であることが欠截である
。
る装置及びその集束装置が高価であることが欠截である
。
前記(力の方法は、プラズマエネルギー密度が大きい為
、Sp’結号がうまく働かず、欠陥準位を多く有する欠
点を有している。
、Sp’結号がうまく働かず、欠陥準位を多く有する欠
点を有している。
前記■の方法は、■の方法と同じく、イオンビームを発
生する装置及びその集束装置が高価でちることと、不活
性ガスの原子が析出した立方晶窒化ホウ素に取り込まれ
る、という欠点を有する。
生する装置及びその集束装置が高価でちることと、不活
性ガスの原子が析出した立方晶窒化ホウ素に取り込まれ
る、という欠点を有する。
本発明の目的は、化学気相析出法において、反応ガスの
濃度及びその比率、加熱温度、反応系の圧力、などの合
成条件を独立して可変することが容易であり、それらの
合成条件を可変することにより、前記した従来法■〜■
の問題点を解決し、基板表面に立方晶窒化ホウ素を析出
する新規な方法を提案するところにδる。
濃度及びその比率、加熱温度、反応系の圧力、などの合
成条件を独立して可変することが容易であり、それらの
合成条件を可変することにより、前記した従来法■〜■
の問題点を解決し、基板表面に立方晶窒化ホウ素を析出
する新規な方法を提案するところにδる。
本発明はホウ素原子含有ガス、窒素原子含有ガスおよび
水素からなる混合ガスを、マイクロ波無極放電中を通過
させた後、300〜1300℃に加熱した基板表面に導
入することにより、該混合ガスを熱分解、反応させ、上
記基板表面に窒化ホウ素を析出させることを特徴とする
高硬度窒化ホウ素の合成方法である。
水素からなる混合ガスを、マイクロ波無極放電中を通過
させた後、300〜1300℃に加熱した基板表面に導
入することにより、該混合ガスを熱分解、反応させ、上
記基板表面に窒化ホウ素を析出させることを特徴とする
高硬度窒化ホウ素の合成方法である。
また本発明のW、2の発明は、水素ガスをマイクロ波無
極放電中を通過させた後に、ホウ素原子含有ガスおよび
窒素原子含有ガスと混合し、該混合ガスを300〜13
00℃に加熱した基板表面に導入することにより、該混
合ガスを熱分解、反応させ、上記基板表面に窒化ホウ素
を析出させることを特徴とする高硬度窒化ホウ素の合成
方法に関する。
極放電中を通過させた後に、ホウ素原子含有ガスおよび
窒素原子含有ガスと混合し、該混合ガスを300〜13
00℃に加熱した基板表面に導入することにより、該混
合ガスを熱分解、反応させ、上記基板表面に窒化ホウ素
を析出させることを特徴とする高硬度窒化ホウ素の合成
方法に関する。
上記#41および第2の発明における特に好ましい実施
態様としては、ホウ素原子含有ガス、窒素原子含有ガス
および水素の混合ガスの混合比率を、 ホウ素原子含有ガス/水索回100〜11001、窒素
原子含有ガス/ 水素−100〜(1001、の範囲と
することが挙げられる。
態様としては、ホウ素原子含有ガス、窒素原子含有ガス
および水素の混合ガスの混合比率を、 ホウ素原子含有ガス/水索回100〜11001、窒素
原子含有ガス/ 水素−100〜(1001、の範囲と
することが挙げられる。
本発明は、励起状態のホウ素原子含有ガスと励起状態の
窒素ガスとを、励起もしくは原子状態の水素の存在下、
加熱された基板表面で熱分解・反応させて、これにより
生成した立方晶窒化ホウ素を該基板上に析出せしめる方
法であり、原料ガス及び水素を励起もしくは原子状態と
するには、これらのガスをマイクロ波無極放電中を通過
させることによる。これにはまず水素ガスをマイクロ波
無極放電中に通過せしめた後、ホウ素原子含有ガス及び
窒素原子含有ガスと混合してもよいし、またはホウ素原
子含有ガス及び窒素原子含有ガスと水素ガスを混合した
後、マイクロ波無極放電中を通過せしめてもよい。
窒素ガスとを、励起もしくは原子状態の水素の存在下、
加熱された基板表面で熱分解・反応させて、これにより
生成した立方晶窒化ホウ素を該基板上に析出せしめる方
法であり、原料ガス及び水素を励起もしくは原子状態と
するには、これらのガスをマイクロ波無極放電中を通過
させることによる。これにはまず水素ガスをマイクロ波
無極放電中に通過せしめた後、ホウ素原子含有ガス及び
窒素原子含有ガスと混合してもよいし、またはホウ素原
子含有ガス及び窒素原子含有ガスと水素ガスを混合した
後、マイクロ波無極放電中を通過せしめてもよい。
いずれの方法によっても、励起状態のホウ素原子含有ガ
ス及び窒素原子含有ガス、励起状態又は原子状態の水素
を生成することができる。前者の場合には、励起された
水素の作用でホウ素原子、窒素原子も励起される。
ス及び窒素原子含有ガス、励起状態又は原子状態の水素
を生成することができる。前者の場合には、励起された
水素の作用でホウ素原子、窒素原子も励起される。
本発明においては、安定に放電を持続させるため、マイ
クロ波無極放電を採用することが好ましい。直流放電の
場合は、電極を利用するため長時間連続しての放電の発
生は困難である。
クロ波無極放電を採用することが好ましい。直流放電の
場合は、電極を利用するため長時間連続しての放電の発
生は困難である。
また、数千MHz以下の周波数による無極放電の発生は
系の圧力に強く依存する。従ってマイクロ波無極放電は
系の圧力への依存度を軽減することができる。
系の圧力に強く依存する。従ってマイクロ波無極放電は
系の圧力への依存度を軽減することができる。
無極放電を発生する管内の圧力は、放電安定を維持する
ために、0.05 Torr〜400Torrの範囲が
好ましい。
ために、0.05 Torr〜400Torrの範囲が
好ましい。
次にこれらの気体を加熱された基板表面に導入すると、
この励起状態のホウ素原子含有ガス及び窒素原子含有ガ
スが加熱された基板表面で熱分解した時に、遊離ホウ素
原子及び遊離窒素原子に互いにS?結合を起すのに充分
な反応エネルギーを供給する。
この励起状態のホウ素原子含有ガス及び窒素原子含有ガ
スが加熱された基板表面で熱分解した時に、遊離ホウ素
原子及び遊離窒素原子に互いにS?結合を起すのに充分
な反応エネルギーを供給する。
また、励起状態または原子状態の水素は、非立方晶窒化
ホウ素を成長させる原因となるsl混成軌道を持った核
と反応し、これをsp結合に変換あるいは、水素化ホウ
素、窒化水素を生成し、高硬度窒化ホウ素の成長する面
の清浄化の作用をする。
ホウ素を成長させる原因となるsl混成軌道を持った核
と反応し、これをsp結合に変換あるいは、水素化ホウ
素、窒化水素を生成し、高硬度窒化ホウ素の成長する面
の清浄化の作用をする。
ホウ素原子含有ガスとして、例えば迅へ。
Be/3 、 BBr3 、 B5N3&等が挙げられ
、又、窒素原子含有ガスとして、例えばNz 、Nut
、等が挙げられる。
、又、窒素原子含有ガスとして、例えばNz 、Nut
、等が挙げられる。
使用する混合ガスのホウ素原子含有ガス及び慴素原子含
有ガスと水素ガスと混合比率は広い範囲に変更し得るも
ので、ホウ素原子含有ガス/水素ガス=m100〜0.
001、窒素原子含有ガス/水素ガス−100〜(10
01の範囲が好ましい。上記夫々の比率が1001以下
の時は、ホウ素原子含有ガス及び窒素原子含有ガスが希
釈されすぎているため、基板上lC窒化ホウ素膜が成膜
しにくくなる。また上記夫々の比率が100以上の時は
、水素ガスがほとんど含まれないため、高硬度窒化ホウ
素の清浄面の作用がされにくく、高硬度窒化ホウ素が得
にくい。
有ガスと水素ガスと混合比率は広い範囲に変更し得るも
ので、ホウ素原子含有ガス/水素ガス=m100〜0.
001、窒素原子含有ガス/水素ガス−100〜(10
01の範囲が好ましい。上記夫々の比率が1001以下
の時は、ホウ素原子含有ガス及び窒素原子含有ガスが希
釈されすぎているため、基板上lC窒化ホウ素膜が成膜
しにくくなる。また上記夫々の比率が100以上の時は
、水素ガスがほとんど含まれないため、高硬度窒化ホウ
素の清浄面の作用がされにくく、高硬度窒化ホウ素が得
にくい。
基板温度は、析出した立方晶窒化ホウ素から窒素が抜け
、非立方晶窒化ホウ素に転移する現象を防止し、また励
起状態のホウ素原子含有ガス及び窒素原子含有ガスを熱
分解を起すのに必要な温度であることを必要とするので
、300〜1300℃であることが好ましい。
、非立方晶窒化ホウ素に転移する現象を防止し、また励
起状態のホウ素原子含有ガス及び窒素原子含有ガスを熱
分解を起すのに必要な温度であることを必要とするので
、300〜1300℃であることが好ましい。
次に本発明の方法を図を参照して具体的に説明する。第
1図及び第2図は本発明により高硬度窒化ホウ素を合成
する実施態様を示す図であって、第1図及び第2図にお
いて1は、ホウ素原子含有ガス及び窒素原子含有ガス供
給装置、2は水素ガス供給装置、3はウェーブガイド、
4はマイクロ波発振器、5は反応室、6は排気装置、7
は基板、8は基板支持台、9は抵抗加熱炉、10,11
.12はコック、15は排気口を示す。
1図及び第2図は本発明により高硬度窒化ホウ素を合成
する実施態様を示す図であって、第1図及び第2図にお
いて1は、ホウ素原子含有ガス及び窒素原子含有ガス供
給装置、2は水素ガス供給装置、3はウェーブガイド、
4はマイクロ波発振器、5は反応室、6は排気装置、7
は基板、8は基板支持台、9は抵抗加熱炉、10,11
.12はコック、15は排気口を示す。
第1図は、ガス供給装置1及び2からの全反応ガスと混
合して反応室5に導入し、マイクロ波無極放電中に通過
させた後、基板7の天面に導入し反応させる方法の例で
あり、第2図は水素ガスのみをマイクロ波無極放電中に
通過させ、その後にガス供給装置f 1からホウ素原子
含有ガス及び窒素原子含有ガスと混合して反応室5へ導
入する方法の例でおる。
合して反応室5に導入し、マイクロ波無極放電中に通過
させた後、基板7の天面に導入し反応させる方法の例で
あり、第2図は水素ガスのみをマイクロ波無極放電中に
通過させ、その後にガス供給装置f 1からホウ素原子
含有ガス及び窒素原子含有ガスと混合して反応室5へ導
入する方法の例でおる。
第1図の方法では、マイクロ波放電中に基板7が存在し
ているので、マイクロ波プラズマの強度により基板温度
を変えうるが、第2図の方法では、基板7はマイクロ波
プラズマ外に存在しているので、抵抗加熱炉9により基
板?加熱する。
ているので、マイクロ波プラズマの強度により基板温度
を変えうるが、第2図の方法では、基板7はマイクロ波
プラズマ外に存在しているので、抵抗加熱炉9により基
板?加熱する。
実施例1゜
Fi1図の構成に従い、本発明による窒化ホウ素の合成
を行った。基板としてはモリブデン?用い、反応ガスと
しては、ジボランガス、窒素ガス及び水素ガスを用いた
。
を行った。基板としてはモリブデン?用い、反応ガスと
しては、ジボランガス、窒素ガス及び水素ガスを用いた
。
排気装置を作動し反応系を減圧にした。次にジボランガ
ス、窒素ガス、水素ガスをそれぞれ、I CC/ mi
n 、 4 CC/ min 、 100 CC/ m
in流した。その時の反応系圧力は50 Torr
とした。
ス、窒素ガス、水素ガスをそれぞれ、I CC/ mi
n 、 4 CC/ min 、 100 CC/ m
in流した。その時の反応系圧力は50 Torr
とした。
次に基板温度を700℃に上昇すると共に、2、45
GHzのマイクロ波発振器によって無極放電を発生し、
5時間反応を続けたところ、基板表面に2μ?ルの厚さ
の窒化ホウ素膜?付出させることができた。これをX線
回折しfcところ(1゜1.1)パターンが現f1.た
ので、立方晶窒化ホウ素と同定できだ。
GHzのマイクロ波発振器によって無極放電を発生し、
5時間反応を続けたところ、基板表面に2μ?ルの厚さ
の窒化ホウ素膜?付出させることができた。これをX線
回折しfcところ(1゜1.1)パターンが現f1.た
ので、立方晶窒化ホウ素と同定できだ。
実施例Z
′″JY、1図の杯!成に従い、シリコンウェハーを基
板として、本発明(てよる窒化ホウ九の合成を行った。
板として、本発明(てよる窒化ホウ九の合成を行った。
操作子jIは実施例1と同様で、反応ガス条件はジボラ
ンガス2 CC/ min 、アンモニア10 cC/
min 、水嵩ガス50CC/min、反応系圧力2
0 Tr>rr とした。基板温度700℃とし、7
、、.45 GHzのマイクロ波発振器で無極放電?発
生し、4時間析出を行ったところ、基板表面に約1.5
μ慣の厚さの立方晶窒化ホウ素膜を得た。
ンガス2 CC/ min 、アンモニア10 cC/
min 、水嵩ガス50CC/min、反応系圧力2
0 Tr>rr とした。基板温度700℃とし、7
、、.45 GHzのマイクロ波発振器で無極放電?発
生し、4時間析出を行ったところ、基板表面に約1.5
μ慣の厚さの立方晶窒化ホウ素膜を得た。
実施例乙
第1図の構成に従い、シリコーンウェハーを基板として
、本発明による窒化ホウ素の合成を行った。操作手順は
実施例1と同様とし、反応ガス条件は、塩化ホウ素ガス
1oc/min、窒素ガス2ec/min、水素ガス1
00c/min、反応系圧力41’l Torr と
I7た。基板FnllJf 70’ ℃、2、、、 A
5 tlHzマイクロ波発振器によるマイクI]波無
極放屯、析出時間5時間で、基叛表面各・□こ厚さ2μ
青の立方晶窒化ホウ素1漠金得た、3実施例4゜ 第2図の構成に従い、シリコーンウェーバー・全基板と
し2、本発明によZ)窒化ホウ素の合成を行った。4ず
、排気装置を作動し、反応系を減圧にする。続いて、水
素ガスケ100仁/ minのitで供給すると共に、
反応系圧力’;< 20 TorrK調整した。2.
A 5 GHzのマイクロ波発振器Vこより無極放電を
発生し、この中?通過した水素ガスを反応室へと導入し
た。次に基板温度全700℃に上昇させると共(1c1
ジボランガス2Cr、 / min及びアンモニア1
0 E / minを供給し、前記の無極放電中を通過
してきた水素と混合して加熱基板表面に導入した。5時
間反応を続けたところ、基板表面IC厚さ1μmの高硬
度窒化ホウ素膜が析出した。これをXH回折したところ
、立方晶窒化ホウ素と同定できた。
、本発明による窒化ホウ素の合成を行った。操作手順は
実施例1と同様とし、反応ガス条件は、塩化ホウ素ガス
1oc/min、窒素ガス2ec/min、水素ガス1
00c/min、反応系圧力41’l Torr と
I7た。基板FnllJf 70’ ℃、2、、、 A
5 tlHzマイクロ波発振器によるマイクI]波無
極放屯、析出時間5時間で、基叛表面各・□こ厚さ2μ
青の立方晶窒化ホウ素1漠金得た、3実施例4゜ 第2図の構成に従い、シリコーンウェーバー・全基板と
し2、本発明によZ)窒化ホウ素の合成を行った。4ず
、排気装置を作動し、反応系を減圧にする。続いて、水
素ガスケ100仁/ minのitで供給すると共に、
反応系圧力’;< 20 TorrK調整した。2.
A 5 GHzのマイクロ波発振器Vこより無極放電を
発生し、この中?通過した水素ガスを反応室へと導入し
た。次に基板温度全700℃に上昇させると共(1c1
ジボランガス2Cr、 / min及びアンモニア1
0 E / minを供給し、前記の無極放電中を通過
してきた水素と混合して加熱基板表面に導入した。5時
間反応を続けたところ、基板表面IC厚さ1μmの高硬
度窒化ホウ素膜が析出した。これをXH回折したところ
、立方晶窒化ホウ素と同定できた。
以上の実施例1〜4において、立方晶窒化ホウ素(OB
N )が作製できたので、これらの条件を用いて、チッ
プにコーティングを行い、切削テストを行った。尚、比
較として、コーティングと行っていないチップ及びCV
D法を用いてA t203 のコーティングを行った
チップの切削テストも行った(比較例2及び1)。
N )が作製できたので、これらの条件を用いて、チッ
プにコーティングを行い、切削テストを行った。尚、比
較として、コーティングと行っていないチップ及びCV
D法を用いてA t203 のコーティングを行った
チップの切削テストも行った(比較例2及び1)。
使用するチップは、材質がwCC超超硬合金型溝基準で
9.5%C0112%Tie、6%TaCおよび残余W
C)である’rNMG 552の切削チップを用いた。
9.5%C0112%Tie、6%TaCおよび残余W
C)である’rNMG 552の切削チップを用いた。
実施例1〜4の条件で作製する立方晶窒化ホウ素コーテ
ィング層、及び比較例1で作製するA e2o3 コ
ーティング層の厚みは4μ悔と統一し九チップの切削テ
ストの条件を表1に示す。
ィング層、及び比較例1で作製するA e2o3 コ
ーティング層の厚みは4μ悔と統一し九チップの切削テ
ストの条件を表1に示す。
表1
[
表2に切削テストの結果と示す。
表 2
以上のように本発明による立方晶窒化ホウ素を被覆層と
してチップに使用した場合、従来品のA l、O,破り
、及び破覆なしのものに比し耐摩耗性に優れており、こ
の結果からも本発明の効果は明らかである。
してチップに使用した場合、従来品のA l、O,破り
、及び破覆なしのものに比し耐摩耗性に優れており、こ
の結果からも本発明の効果は明らかである。
本発明は耐熱衝撃性、熱伝導性、硬度、耐摩耗性及び高
温での鉄襄金鵠に対する耐性にも優?2る、立方晶窒化
ホウ素を、可変な合成条件((より気相から析出できる
新規な方法である。このように合成条件が可変であるの
で、本発明の方法は切削部材、耐摩耗部材、耐熱部材等
の立方晶窒化ホウ素被株形成に用いて、非常に有利で、
bる。
温での鉄襄金鵠に対する耐性にも優?2る、立方晶窒化
ホウ素を、可変な合成条件((より気相から析出できる
新規な方法である。このように合成条件が可変であるの
で、本発明の方法は切削部材、耐摩耗部材、耐熱部材等
の立方晶窒化ホウ素被株形成に用いて、非常に有利で、
bる。
本発明方法により得られる立方晶窒化ホウ素は、耐熱衝
撃性、熱伝導性、硬度及びM#耗性並びに高温での鉄族
金−に対する耐性rこも優れているため、切削部材、耐
摩耗部材及び耐熱部材の被覆膜として利用して、多大の
効果を有する。
撃性、熱伝導性、硬度及びM#耗性並びに高温での鉄族
金−に対する耐性rこも優れているため、切削部材、耐
摩耗部材及び耐熱部材の被覆膜として利用して、多大の
効果を有する。
第1図及び第2図は本発明の実1包、態様を概B各訣、
明する断面図である。
明する断面図である。
Claims (3)
- (1)ホウ素原子含有ガス、窒素原子含有ガスおよび水
素からなる混合ガスを、マイクロ波無極放電中を通過さ
せた後、300〜1300℃に加熱した基板表面に導入
することにより、該混合ガスを熱分解、反応させ、上記
基板表面に窒化ホウ素を析出させることを特徴とする高
硬度窒化ホウ素の合成方法。 - (2)水素ガスをマイクロ波無極放電中を通過させた後
に、ホウ素原子含有ガスおよび窒素原子含有ガスと混合
し、該混合ガスを300〜1300℃に加熱した基板表
面に導入することにより、該混合ガスを熱分解、反応さ
せ、上記基板表面に窒化ホウ素を析出させることを特徴
とする高硬度窒化ホウ素の合成方法。 - (3)ホウ素原子含有ガス、窒素原子含有ガスおよび水
素の混合ガスの混合比率が、 ホウ素原子含有ガス/水素=100〜0.001窒素原
子含有ガス/水素=100〜0.001の範囲である特
許請求の範囲第(1)項又は第(2)項に記載される高
硬度窒化ホウ素の合成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4546286A JPS62205277A (ja) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | 高硬度窒化ホウ素の合成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4546286A JPS62205277A (ja) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | 高硬度窒化ホウ素の合成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62205277A true JPS62205277A (ja) | 1987-09-09 |
Family
ID=12720030
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4546286A Pending JPS62205277A (ja) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | 高硬度窒化ホウ素の合成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62205277A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018074418A1 (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | 国立大学法人名古屋大学 | cBN形成体およびcBN膜の製造方法 |
-
1986
- 1986-03-04 JP JP4546286A patent/JPS62205277A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018074418A1 (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | 国立大学法人名古屋大学 | cBN形成体およびcBN膜の製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5891100A (ja) | ダイヤモンドの合成法 | |
JPS5930709A (ja) | 炭素膜及び/又は炭素粒子の製造方法 | |
JPH04958B2 (ja) | ||
JPS62205277A (ja) | 高硬度窒化ホウ素の合成方法 | |
JPS62158195A (ja) | ダイヤモンドの合成法 | |
JPS6054996A (ja) | ダイヤモンドの合成法 | |
JP2569423B2 (ja) | 窒化ホウ素の気相合成法 | |
JPS62243770A (ja) | 高硬度窒化ホウ素の合成方法 | |
JPS63277767A (ja) | 高圧相窒化ホウ素の気相合成法 | |
JPS63117993A (ja) | ダイヤモンドの気相合成法 | |
JPS63128179A (ja) | 硬質窒化硼素の合成方法および合成装置 | |
JPS63199871A (ja) | 高硬度窒化ホウ素の合成法 | |
JPH0667797B2 (ja) | ダイヤモンドの合成方法 | |
JPS6340800A (ja) | 高硬度窒化ホウ素の合成法 | |
JPS60137898A (ja) | ダイヤモンド薄膜の製造方法 | |
JPS63134661A (ja) | 高硬度窒化硼素の合成法 | |
JPS6369973A (ja) | 立方晶系窒化ホウ素膜の製造方法 | |
JPS60200896A (ja) | 繊維状ダイヤモンドの合成法 | |
JPH07133103A (ja) | プラズマアーク法によるc3n4の合成方法 | |
JPS62205276A (ja) | 高硬度窒化ホウ素の合成方法 | |
JPS62207869A (ja) | 酸素含有硬質窒化硼素被覆部品 | |
JPS63199872A (ja) | 高硬度窒化ホウ素の合成法 | |
JPS63134662A (ja) | 高硬度窒化硼素の合成法 | |
JP2762561B2 (ja) | ダイヤモンド膜の合成方法 | |
JPS62260062A (ja) | 高硬度窒化ホウ素の合成法 |