JPS62193204A - 電圧非直線性素子 - Google Patents

電圧非直線性素子

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JPS62193204A
JPS62193204A JP61035970A JP3597086A JPS62193204A JP S62193204 A JPS62193204 A JP S62193204A JP 61035970 A JP61035970 A JP 61035970A JP 3597086 A JP3597086 A JP 3597086A JP S62193204 A JPS62193204 A JP S62193204A
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JP
Japan
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voltage
zno
powder
low
present
Prior art date
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Pending
Application number
JP61035970A
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English (en)
Inventor
康男 若畑
真二 原田
浩明 水野
勇 増山
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は印加電圧によって抵抗値が変化する電圧非直線
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリックス駆動の液晶、KLなどの表示デバイ
スのスイッチング素子などに利用されるものである。
従来の技術 従来の電圧非直線性素子は、酸化亜鉛(ZnO)に酸化
ビスマスCB4.20s)、酸化コバルト(Co20s
)酸化? 7 i :y (MnO2)、酸化アンチモ
ン(Sb 20 s )などの酸化物を添加して、10
00〜1350°Cで焼結したZnOバリスタなど、種
々のものがある。
その中で、ZnOバリスタは電圧非直線指数α、サージ
耐量が大きいことから、最も一般的に使われている。(
特公昭46−19472号公報参照)発明が解決しよう
とする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mAを流した時の電圧V、T11Aで表される)を低く
することに限界があシ、低電圧用ICの保護素子や低い
電圧における電圧安定化素子として使えないものであっ
た。また、上述したように1000°C以上の高温プロ
セスを必要とするため、ガラス基板上あるいは回路基板
上に電圧非直線性素子を直接形成できないという問題が
あった。さらに、従来のものは並列静電容量が大きく、
例えば液晶などのスイッチング素子としては不適自なも
のであるなどの問題点を有していた。
問題点を解決するための手段 この問題点を解決するために本発明は、Bi 205を
主成分とする薄い絶縁被膜を有した微粉末状の半導体物
質が複数個集まった状態を一つの粉末とし、その粉末間
もしくは一部に上記微粉末を含む粉末間を低融点ガラス
で固め、電極を備えてなるものである。
作用 この構成によれば、低電流域においても電圧非直線指数
αの大きなものが得られ、かつ電極間距離を狭く(数十
μm以下)して素子を形成することができ、低電圧化に
適した素子がきわめて容易に得られることとなる。また
、低融点ガラスで固めて素子形成を行うために高温プロ
セスを必要とすることなく作ることができるため、回路
基板上に素子を直接形成することができ、ZnOバリス
タなどでは考えられない幅広い用途が期待できるもので
ある。さらに、粉末状の半導体物質を低融点ガラスで固
めたものであるため、それぞれの半導体物質の粉末間は
点接触となシ、接触面積が小さいことから並列静電容量
の小さなものが得られ、液晶などのデバイスのスイッチ
ング素子として最適な素子が提供できることとなる。
実施し1j 以下、本発明を実施列にもとづいて詳細に説明する。
まず、粒子径がO,OS〜1μmの微粒子状の酸化亜鉛
を700〜13oO°Cで焼成した後、その焼結された
ZnOを0.5〜60μmの粒子径(平均粒子径1〜1
0μm )に粉砕し、そのZnO微粉末に酸化ビスマス
io、05〜10mo1%添加し、600〜1360℃
で10〜60分間、熱処理し、そのZnO微粉末表面に
酸化ビスマスの絶縁被膜を形成した。ここで、微粉末状
のZnOの表面にはBi2O3絶縁被膜がほぼ数十〜数
百人の厚さで薄く形成されていることが認められた。次
いで、このようにして作成したBi 203絶縁被膜が
表面についたZnO微粉末群は弱い力で互いに接着して
いるので、これを乳鉢あるいはボットミルでほぐし、上
記ZnO微粉末がそれぞれ複数個集まった微粉末群の状
態とした(以下、この状態のものを粉末状という)。こ
の時、一部に上記ZnO微粉末が単独で存在しても差支
えないものであシ、このよりなZnO微粉末を一部に含
んでの状態のものも粉末状という。
次に、上記のようにして得られたBi 20 s絶縁被
膜が表面に形成された粉末状のZnOに、粉末間の結合
を図る絶縁性の結合剤として低融点ガラス粉末と有機バ
インダーを添加し、混合した。ここで、結合剤としては
低融点ガラス粉末分が粉末状のZnOに対して5〜20
wt%となるようにしたものとし、それを有機バインダ
ーと例えば等重量で混合し、ペイント状とした。ここで
、有機バインダーとしてはエチルセルロースを使用し、
その固形分が溶剤(たとえばターピネオール)に対して
10wt%になるように薄め念ものとした。
次いで、上記のようにして得られたベイン)t−第2図
に示すようにITO(インジウム・スズ酸化物)電極1
の設けられたガラス基板3上に例えばスクリーン印刷で
塗布し、その上に同じ(ITO電極2の設けられたガラ
ス基板4を載置し、300〜650℃で10〜30分間
、大気中で熱処理し、電極1.2間に電圧非直線性素子
6を設けた。第1図は、電圧非直線性素子5の拡大断面
図であ)、6はZnO粉末、7はZnO粉末6の表面に
施されたBi2O5絶縁被膜、8はそれらZnO粉末6
間を機械的に結合している絶縁性結合剤の低融点ガラス
であシ、この低融点ガラス8でもってZnO粉末6の間
は互いに固められている。第3図はITO電極1a、1
bが設けられたガラス基板3亀上に電圧非直線性素子6
を構成した場合を示している。
次に、上記のようにして作成された電圧非直線性素子の
電圧−電流特性について説明する。まず、第4図は第2
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。本発明の素子は、まず
酸化亜鉛を700°Cで焼成し、これにBi2O5を0
.5 mop%添加したものを900°C16o分間熱
処理した後、この平均粒子径5〜10μmのZnO粉末
と奥野製薬■製の低融点ガラス微粉末(ZnO粉末に対
して2゜wt%)に上記有機バインダーを等重量で混合
したものにおいて、素子面積を1M!t1電極間距離を
30μmとした場合における特性を示している。
さて、電圧非直線性素子の電圧−電流特性は、よく知ら
れているように近似的に次式で示されている。
I=KVα ここで、工は素子に流れる電流、Vは素子の電極間の電
圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述し
た電圧非直線特性の指数を示しておシ、この電圧非直線
指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることにな
る。
第4図の特性に示されるように、特性Bで示される従来
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、1o−4ム以下の電流では良好な電圧非直線
性素子としての機能を発揮し得ない。一方、特性ムで示
される本発明の素子では低電流域においても電圧非直線
指数αが大きく、10   A程度の電流域でも十分に
電圧非直線性素子としての機能を発揮することができる
ことを示しているnまた、通常、ZnOバリスタにおい
てはバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1mAの
電流を流した時の電極間に現れる電圧を7< IJスタ
電電圧71五ム呼び、このバリスタ電圧v1!+lムと
上記電圧非直線指数αとを使用している。
本発明の素子では、上述したように、低電流域において
も電圧非直線指数αが大きく、バリスタ電圧を第4図に
示すように例えばviltムで表わすことができる。
このように本発明において、バリスタ電圧を低いものと
することができるのは、電極間距離を狭くして素子を形
成することができるためである。
また、本発明素子において低電流域でも電圧非直線指数
αが大きい理由は、現在のところ理由は明確とはなって
いないが、粉末状の半導体物質(ZnO)を絶縁性結合
剤の低融点ガラスでもフて固めたものであるため、それ
ぞれの半導体物質の間は点接触となり、接触面積が小さ
いこと、また結合剤が絶縁性のため、漏れ電流が小さく
なっていることによるものと考えられる。
ここで、第4図の特性は上述したように電極間距離を3
0μmとした素子についてのものであるが、これはZn
O粉末の平均粒子径が6〜10μmという比較的大きな
粒子径のためにこれ以上狭くすることができないからで
ある。すなわち、ZnO粉末の平均粒子径が0.3〜3
μmのものを使えば、電極間距離が10μm程度もしく
はそれ以下の素子を作成することができるのであり、そ
の場合においても第4図に示すような良好な特性が得ら
れることを本発明者らは実験により確認した。
第6図は本発明において、酸化ビスマスの添加量を変え
た場合のバリスタ電圧v1μム、電圧非直線指数αおよ
び並列静電容量Cの変化する様子を示している。ここで
、酸化亜鉛の焼成温度など、その他の条件は第4図の場
合の条件と同一とした。
第6図に示されるように、本発明素子においては並列静
電容量が従来のZnOバリスタが1000〜20000
PFであるのに対して非常に小さいものとなっている。
この並列静電容量が本発明素子において小さい理由は、
上述したように半導体物質間の接触面積が小さいことに
よるものである。
なお、上記の実施例においては、半導体物質としては、
ZnOを例にとシ説明したが、それ以外゛の半導体物質
であっても差支えないことはもちろんである。また、同
様に絶縁被膜を構成する材料としては、Bi2O3単独
に限られることはなく、B12Jを主成分として、ムJ
、Ti、Sr、Mg、Ni。
Or、Siなどの金属酸化物またはこれらの金属の有機
金属化合物を単独または組合せて使用することができる
ものである。
発明の効果 以上の説明より明らかなように本発明の電圧非直線性素
子は、低電流域における電圧非直線指数αが大きく、ま
た並列静電容量の小さな素子が得られることから、消費
電流の小さい液晶、KLなどのデバイスのスイッチング
素子として最適な素子を提供できるものである。また電
極間距離を狭くして素子を形成することができるため、
バリス夕電圧の低いものが得られ、上記電圧非直線指数
αが大きいことと相まって従来のZnOバリスタでは対
応することのできなかった低電圧用ICの保護素子や低
い電圧における電圧安定化素子として使用することがで
きる。さらに、低融点ガラスで固めて素子形成を行うた
めに高温プロセスを必要とすることなく簡単にして作る
ことができるため、回路基板上やガラス基板上に素子を
直接形成することができるものである。このように種々
の特徴を有する本発明の電圧非直線性素子は、今までの
ZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用途が期待
できるものであり、その産業性は大なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる電圧非直線性素子の一実施例を
示す拡大断面図、第2図および第3図はそれぞれ本発明
の素子をガラス基板上に設けた実施例を示す断面図、第
4図は本発明素子と従来のZnOバリスタの電圧−電流
特性を示す図、第5図は本発明素子においてBi2O5
の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α、バリスタ電
圧V、liAおよび並列静電容量Cの変化する様子を示
す図である。 1 、1 & 、 1 b 、 2・−・・ITO電極
、3 、3 &。 4・・・・・・ガラス基板、5・・・・・・電圧非直線
性素子、6・・・・・・ZnO粉末、了・・・・・・B
i2O5絶縁破膜、8・・・・・低融点ガラス。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名a) 綜 第4図 一力 電圧(1’) 第 5 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  Bi_2O_3を主成分とする薄い絶縁被膜を有した
    微粉末状の半導体物質が複数個集まった状態を一つの粉
    末とし、その粉末間もしくは一部に上記微粉末を含む粉
    末間を低融点ガラスで固め、電極を備えてなることを特
    徴とする電圧非直線性素子。
JP61035970A 1986-02-20 1986-02-20 電圧非直線性素子 Pending JPS62193204A (ja)

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JPS62193204A true JPS62193204A (ja) 1987-08-25

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5344899A (en) * 1976-09-13 1978-04-22 Gen Electric Metal oxide varistor and method of manufacture thereof

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5344899A (en) * 1976-09-13 1978-04-22 Gen Electric Metal oxide varistor and method of manufacture thereof

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