JPS6185649A - スタンパの製造方法 - Google Patents
スタンパの製造方法Info
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- JPS6185649A JPS6185649A JP20785284A JP20785284A JPS6185649A JP S6185649 A JPS6185649 A JP S6185649A JP 20785284 A JP20785284 A JP 20785284A JP 20785284 A JP20785284 A JP 20785284A JP S6185649 A JPS6185649 A JP S6185649A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B23/00—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
- G11B23/0057—Intermediate mediums, i.e. mediums provided with an information structure not specific to the method of reproducing or duplication such as matrixes for mechanical pressing of an information structure ; record carriers having a relief information structure provided with or included in layers not specific for a single reproducing method; apparatus or processes specially adapted for their manufacture
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は繰り返し使用が可能な光デイスク用スタンバの
製造方法に関する。
製造方法に関する。
光ディスクはレー1す光を使用して情報の記録と再生を
行うメモリであって、大容量記録が可能であり、非接触
で記録と再生ができ、また塵埃の影■を受は難いなど優
れた特徴を備えている。
行うメモリであって、大容量記録が可能であり、非接触
で記録と再生ができ、また塵埃の影■を受は難いなど優
れた特徴を備えている。
か賢る光ディスクはニッケル(Ni)製のスタンパを用
いてアクリル樹脂のような透明樹脂を成型し、このよう
にして作った透明基板の上にテルル(Te ) 、セレ
ン(Se )などの非金属元素或いはこの化合物からな
る記録媒体を膜形成した後、かかる二枚の基板を記録媒
体面を内側とするエアサンドインチ型の構造をとって作
られている。
いてアクリル樹脂のような透明樹脂を成型し、このよう
にして作った透明基板の上にテルル(Te ) 、セレ
ン(Se )などの非金属元素或いはこの化合物からな
る記録媒体を膜形成した後、かかる二枚の基板を記録媒
体面を内側とするエアサンドインチ型の構造をとって作
られている。
スタンパは平滑なガラス基板にレジストを被覆し、これ
に写真食刻技術(ホトリソグラフィ)を用いて同心円状
の多数のプリグループを作り、か\るレジスト被覆基板
にNi を真空蒸着し、その後このNi蒸着膜を陰極と
してNiの電鋳メンキを行い、カラス基板から2JI
1ixiすることにより作られている。
に写真食刻技術(ホトリソグラフィ)を用いて同心円状
の多数のプリグループを作り、か\るレジスト被覆基板
にNi を真空蒸着し、その後このNi蒸着膜を陰極と
してNiの電鋳メンキを行い、カラス基板から2JI
1ixiすることにより作られている。
第2図(A)〜(E)は従来の製造工程を示すもので具
体的に説明すると次のようになる。
体的に説明すると次のようになる。
表面をgf磨して平坦にした厚さ約1 cmのガラス基
板1の上にスピンコード法により)7さ約700 人の
レジスト膜2を形成する(同図へ)。
板1の上にスピンコード法により)7さ約700 人の
レジスト膜2を形成する(同図へ)。
次にか\るレジスト膜2に写真食刻技術を用い−ζ同上
円状のプリグループ3お数多くパターン形成する(同図
B)。
円状のプリグループ3お数多くパターン形成する(同図
B)。
二\でプリグループ3は約01)(μmの幅と約1゜(
i )t m c、) lニノナをもって形成されてお
り、直径3b(、mのティスフの(;5合、プリグルー
プの故は48000I−フッ゛7と1すjy)て多い。
i )t m c、) lニノナをもって形成されてお
り、直径3b(、mのティスフの(;5合、プリグルー
プの故は48000I−フッ゛7と1すjy)て多い。
次!’二、’l・・べ′、W板上に真空凍着法Gこより
N1膜をキ、’、1 :l El f+ 、覧’) I
′、!ごに形成して電Hillう1,1とする(同図0
) 。
N1膜をキ、’、1 :l El f+ 、覧’) I
′、!ごに形成して電Hillう1,1とする(同図0
) 。
次にこの電15i IIり4を陰i墳としてNi メッ
キ浴にl;/(”jし、;L鋳メッキを行って′上極j
模4の上うこ厚さi’J300 Itmのメッキ層5を
形成する(同図1〕)。
キ浴にl;/(”jし、;L鋳メッキを行って′上極j
模4の上うこ厚さi’J300 Itmのメッキ層5を
形成する(同図1〕)。
次GこJ、・キ層5を力うス拮(反1かり’M’l ;
’Jtするごと;こ、Lリスタンパ6が形成される(同
図E)。
’Jtするごと;こ、Lリスタンパ6が形成される(同
図E)。
以上のようにしてスタンパ6を形成し、これをtE用し
−ご樹脂鋳型することにより光ティスフW l)j。
−ご樹脂鋳型することにより光ティスフW l)j。
が形成されている。
が:し、多数の光ティスフ4 Uy、を鋳込み成形する
とtノを型が(1’、耗するため、成る回数に互2.て
使用するとスタンパ6を更新することが必要であるが、
今までは第2図(B)に示すプリグループ原盤7からは
一個のスタンパしか形成できなかったために改めて(Δ
)の工程に遡ってやり直すことが必要であり、そのため
多大の工数を必要とし、この改とが要望されていた。
とtノを型が(1’、耗するため、成る回数に互2.て
使用するとスタンパ6を更新することが必要であるが、
今までは第2図(B)に示すプリグループ原盤7からは
一個のスタンパしか形成できなかったために改めて(Δ
)の工程に遡ってやり直すことが必要であり、そのため
多大の工数を必要とし、この改とが要望されていた。
(発明か解決しようとする問題点〕
以上記したように光ディスク基板を樹脂成形するのに使
用するスタンパは型寿命があり、そのため規定回数使用
すると更新か必要であるが、この場合にプリクループ原
盤は再使用ができないために初めから作り直すことが必
要で、その度毎に多くの工数を要することが問題であっ
た。
用するスタンパは型寿命があり、そのため規定回数使用
すると更新か必要であるが、この場合にプリクループ原
盤は再使用ができないために初めから作り直すことが必
要で、その度毎に多くの工数を要することが問題であっ
た。
上記の問題点はレジスト原盤に電極膜を被覆した後、該
電極1りに電鋳メッキを施してスタンパを形成する光デ
イスク基板の形成工程において、レジスト原盤に金属薄
膜を被覆し、該金属薄膜を酸化する処理を行った該被処
理基板に電極膜の被覆と電tノtメッキ処理を行ってス
タンパを形成することを特徴とするスタンパの製造方法
をとることにより解決することができる。
電極1りに電鋳メッキを施してスタンパを形成する光デ
イスク基板の形成工程において、レジスト原盤に金属薄
膜を被覆し、該金属薄膜を酸化する処理を行った該被処
理基板に電極膜の被覆と電tノtメッキ処理を行ってス
タンパを形成することを特徴とするスタンパの製造方法
をとることにより解決することができる。
従来行われてきたスタンパの製造方法において一個のプ
リグループ原盤より一個のスタンパしか製造できない理
由は第2図(D)に示すメッキ層5をカラス基板1から
7811■して同tfl (E)に不ずス壬“ンバ(j
を形成する際、プリクループ原盤のし一′・ストち部分
的に:t、++ #IItされて精度か低トするために
原;斥rとして使えなくなることによる。
リグループ原盤より一個のスタンパしか製造できない理
由は第2図(D)に示すメッキ層5をカラス基板1から
7811■して同tfl (E)に不ずス壬“ンバ(j
を形成する際、プリクループ原盤のし一′・ストち部分
的に:t、++ #IItされて精度か低トするために
原;斥rとして使えなくなることによる。
そこで)コ)゛こ明はメッキ層5を′l、すj言;I[
する際にレジストか711:1111シないように保護
膜を設けることにより代↓々Hの使用をiiJ能にする
ものである。
する際にレジストか711:1111シないように保護
膜を設けることにより代↓々Hの使用をiiJ能にする
ものである。
(実晦例〕
第1図は本発明を実施したスタンパの製造り程1・′1
て従、+6の一1程と51(なる所はブリクルーフ原詔
上に硬くまた。7+1型作用のある保、iii ll夕
を設りたことである。
て従、+6の一1程と51(なる所はブリクルーフ原詔
上に硬くまた。7+1型作用のある保、iii ll夕
を設りたことである。
以丁図面により本発明を説明する。
第1 +:’<I (Δ)はガラス基telのににスピ
ンコ−1・法によりレノスト膜2を形成した状態、同図
(B)はこのレジスト膜2を選択エノヂングしてプリグ
ループ3を形成した状態で従来工程と変わらない。
ンコ−1・法によりレノスト膜2を形成した状態、同図
(B)はこのレジスト膜2を選択エノヂングしてプリグ
ループ3を形成した状態で従来工程と変わらない。
本発明の特徴はこのようにして形成した従来のプリグル
ープ原盤の上にNi或いはクローl、(Cr)のような
金属薄膜を真空蒸着法などにより形成し、これを酸化し
て金属酸化物からなる硬くて薄い保護膜を形成する。
ープ原盤の上にNi或いはクローl、(Cr)のような
金属薄膜を真空蒸着法などにより形成し、これを酸化し
て金属酸化物からなる硬くて薄い保護膜を形成する。
この場合、保護nりはパターン精度をt員なわぬよう成
るべく薄<且つ硬いことが必要であり、また酸化処理に
当たってプリグループパターンに変形を起こさせないこ
とが必要である。
るべく薄<且つ硬いことが必要であり、また酸化処理に
当たってプリグループパターンに変形を起こさせないこ
とが必要である。
その方法として本実施例においては真空前111法によ
りNi 金J、77s膜8を約300人の厚さに形成し
く同図0)、次にこれをプラズマ処理!装置にセ−/
トし、FZSW分圧2.3 X 1O−2Torr、電
力200ワツトの条件でプラズマ酸化してN1金属Iり
8を酸化物に変え、これを保護lり9とする(同図D)
。
りNi 金J、77s膜8を約300人の厚さに形成し
く同図0)、次にこれをプラズマ処理!装置にセ−/
トし、FZSW分圧2.3 X 1O−2Torr、電
力200ワツトの条件でプラズマ酸化してN1金属Iり
8を酸化物に変え、これを保護lり9とする(同図D)
。
ごこて本発明においては、同図(D)に示すように従来
のプリグループ原盤の上に保護膜9を設Uたちのかブリ
クルリーフ原2’::711)となる。
のプリグループ原盤の上に保護膜9を設Uたちのかブリ
クルリーフ原2’::711)となる。
なお、プラス−1°酸化」−程を通してLシス) Il
’z!2は或イ)稈吸加熱されるが数IO℃程匿であり
、一方レノスト膜2はスビンコーl−後の焼付処理にお
いて15(1℃程l艷の加熱処理を経ているので、この
程度の処理で変形が起こることはない。
’z!2は或イ)稈吸加熱されるが数IO℃程匿であり
、一方レノスト膜2はスビンコーl−後の焼付処理にお
いて15(1℃程l艷の加熱処理を経ているので、この
程度の処理で変形が起こることはない。
次にこの保、:集成9の」二にに来と同様にrη空蒸着
法によりNi を約300 人の厚さに形成して電極膜
・1を形成しく同図E)、この重し++;>4を1℃極
としてメッキ層5を形成しく同図F)、これをガラス)
24Jx lから剥離することによりスタンバ6が形成
される。
法によりNi を約300 人の厚さに形成して電極膜
・1を形成しく同図E)、この重し++;>4を1℃極
としてメッキ層5を形成しく同図F)、これをガラス)
24Jx lから剥離することによりスタンバ6が形成
される。
ここて剥;掘に当たってはスタンバ6はプリグループ原
盤10の」二から211離されるため原盤の精度をbt
なうことはなく、そのため繰り返して使用することがで
きる。
盤10の」二から211離されるため原盤の精度をbt
なうことはなく、そのため繰り返して使用することがで
きる。
以上のように本発明はプリクループを形成したし・シス
ト11りの上に金属酸化物からなる保護膜を設けたもの
をプリグループ原盤とするものであり、そのため反復使
用かiiJ能である。
ト11りの上に金属酸化物からなる保護膜を設けたもの
をプリグループ原盤とするものであり、そのため反復使
用かiiJ能である。
然し、スタンパらを使用して樹脂ih型する場合も同様
であるが繰り返して使用するに従ってパターン精度は低
下するので5回程度の使用で止めるのが信頼性保持の点
から無難である。
であるが繰り返して使用するに従ってパターン精度は低
下するので5回程度の使用で止めるのが信頼性保持の点
から無難である。
第1図(Δ)〜(G)は本発明の製造工程を説明する断
面図、 第2図(A)〜(E)は従来の製造工程を説明する断面
図、 である。 図において、 1はガラス基板、 2はレジスト膜、3はプリ
グループ、 4は電極11り、5はメッキ層、
6はスタンパ、7、IOはプリグループ原盤
、 である。
面図、 第2図(A)〜(E)は従来の製造工程を説明する断面
図、 である。 図において、 1はガラス基板、 2はレジスト膜、3はプリ
グループ、 4は電極11り、5はメッキ層、
6はスタンパ、7、IOはプリグループ原盤
、 である。
Claims (1)
- レジスト原盤に電極膜を被覆した後、該電極膜に電鋳メ
ッキを施してスタンパを形成する光ディスク基板の形成
工程において、レジスト原盤に金属薄膜を被覆し、該金
属薄膜を酸化する処理を行った該被処理基板に電極膜の
被覆と電鋳メッキ処理を行ってスタンパを形成すること
を特徴とするスタンパの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20785284A JPS6185649A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | スタンパの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20785284A JPS6185649A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | スタンパの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6185649A true JPS6185649A (ja) | 1986-05-01 |
Family
ID=16546589
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20785284A Pending JPS6185649A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | スタンパの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6185649A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5489082A (en) * | 1987-12-28 | 1996-02-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Reproducible molding die having a removable cleaning layer |
-
1984
- 1984-10-03 JP JP20785284A patent/JPS6185649A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5489082A (en) * | 1987-12-28 | 1996-02-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Reproducible molding die having a removable cleaning layer |
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