JPS61292457A - Diagnosing method for electronic exchange - Google Patents
Diagnosing method for electronic exchangeInfo
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- JPS61292457A JPS61292457A JP60133062A JP13306285A JPS61292457A JP S61292457 A JPS61292457 A JP S61292457A JP 60133062 A JP60133062 A JP 60133062A JP 13306285 A JP13306285 A JP 13306285A JP S61292457 A JPS61292457 A JP S61292457A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
障害系または予備・待機系の電子交換機を試験する診断
方法であって、診断に対する要求の違いにより試験項目
を適宜組み合せて診断を行うことにより、診断時間の短
縮を図った診断方法。[Detailed Description of the Invention] [Summary] This is a diagnostic method for testing faulty system or backup/standby system electronic exchange equipment, which reduces diagnostic time by performing diagnosis by appropriately combining test items depending on the differences in diagnostic requirements. A diagnostic method designed to shorten the time.
本発明は障害系汝たは予備・待機系の電子交換機を試験
する診断方法に関する。The present invention relates to a diagnostic method for testing faulty or backup/standby electronic exchanges.
一般に、電子交換機は現用系と予備・待機系の2系統を
用意して障害に対処している。そして、予備・待機系ま
たは障害系の電子交換機は、現用系または正常な実行系
の電子交換機によって、例えば24時間毎あるいは48
時間毎に試験・診断が行われ、障害が潜在化することを
防止している。Generally, electronic exchanges have two systems, a working system and a backup/standby system, to deal with failures. Then, the backup/standby system or failure system electronic switch is activated by the active system or normal active system electronic switch, for example, every 24 hours or 48 hours.
Tests and diagnosis are conducted hourly to prevent potential failures.
この試験・診断に要する時間はできる限り短いことが望
ましい。It is desirable that the time required for this test/diagnosis be as short as possible.
第3図に、診断対象を説明するための機能ブロック図を
示す。第3図において、AC’l’は現用系、SBYは
予備・待機系の電子交換機を示している。FIG. 3 shows a functional block diagram for explaining the diagnosis target. In FIG. 3, AC'l' indicates an active system, and SBY indicates a backup/standby system electronic exchange.
予備・待機系SBYに替えて、障害系OUSが診断対象
となることもある。現用系ACT、予備・待機系SBY
はそれぞれ、中央処理装置CC1主記憶装置MM、チャ
ネルコントロール装置CHCl周辺人出力装置、10を
含む複数の装置を備えている。図においては、現用系C
Cには中央処理装置CCのみが示されて他の装置は図示
を省略しである。Instead of the backup/standby system SBY, the failure system OUS may be the subject of diagnosis. Active system ACT, reserve/standby system SBY
Each has a plurality of devices including a central processing unit CC1, a main memory MM, a channel control device CHCl, and a peripheral output device 10. In the figure, the current system C
Only the central processing unit CC is shown in C, and illustration of other devices is omitted.
予備・待機系SBYまたは障害系OUSの試験項目には
、例えば、次の8項目がある。The test items for the backup/standby system SBY or failure system OUS include, for example, the following eight items.
1、CC通常動作正常性試験
2、CC特殊動作正常性試験
3、CC異常動作検出機能試験
4、MM正常機能試験
5、MM異常検出機能試験
6、CHC正常動作試験
7、CHC異常動作検出機能試験
8、■0試験
従来の診断方法によれば、例えば第4図のフローチャー
トに示すように、上記試験項目1〜8を1から順番に実
行していた。すなわち、最初に試験項目1〜3にて、中
央処理装置CCの試験を行い、次いで試験項目4および
5にて主記憶装置MMの試験を行い、次に試験項目6お
よび7にてチャネルコントロール装置CHCの試験を行
い、最後に試験項目8にて周辺入出力装置10の試験を
行っていた。1, CC normal operation normality test 2, CC special operation normality test 3, CC abnormal operation detection function test 4, MM normal function test 5, MM abnormality detection function test 6, CHC normal operation test 7, CHC abnormal operation detection function Test 8, ■0 Test According to the conventional diagnostic method, the above test items 1 to 8 are executed in order from 1, as shown in the flowchart of FIG. 4, for example. That is, first test items 1 to 3 test the central processing unit CC, then test items 4 and 5 test the main memory device MM, and test items 6 and 7 test the channel control device. The CHC was tested, and finally, in test item 8, the peripheral input/output device 10 was tested.
上記の従来方法においては、試験項目の1から順番に試
験を行うので、電子交換機の試験・診断に要する時間が
長すぎるという問題がある。試験診断時間が長いと、障
害復旧までの時間が長くなり、この間に現用系に障害が
発生した場合には現用・予備共にシステムダウンとなり
、システム全体としての稼動率が低下し、ひいてはシス
テム全体の信軌性が低下するという問題点を生ずる。In the above-mentioned conventional method, since the test is performed in order starting from test item 1, there is a problem that the time required for testing and diagnosing the electronic exchange is too long. If the test diagnosis time is long, it will take a long time to recover from the failure, and if a failure occurs in the active system during this time, both the active and backup systems will go down, reducing the operating rate of the entire system. This causes the problem that reliability is reduced.
上記の問題点を解決するために、本発明により、中央処
理装置、主記憶装置、チャネルコントロール装置、およ
び周辺入出力装置を含む複数の装置を備えた、障害系ま
たは予備・待機系の電子交換機を試験する診断方法であ
って、試験診断項目を装置の各々の単位に分割するとと
もに必要に応じて装置の各々に含まれる機能毎の単位に
分割し、且つ、試験診断項目を、装置の各々の正常動作
の確認項目と異常動作の確認項目に分割し、診断に対す
る要求の違いにより試験項目を適宜組み合せて診断を行
うことを特徴とする電子交換機の診断方法が提供される
。In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a fault system or backup/standby electronic switching system equipped with a plurality of devices including a central processing unit, a main storage device, a channel control device, and peripheral input/output devices. A diagnostic method for testing a system, which divides test and diagnosis items into each unit of the device and, if necessary, into units for each function included in each device, and divides the test and diagnosis items into each unit of the device. Provided is a method for diagnosing an electronic exchange, which is characterized in that the test items are divided into normal operation confirmation items and abnormal operation confirmation items, and the diagnosis is performed by appropriately combining the test items depending on the difference in the requirements for diagnosis.
診断項目を、装置毎、各装置の機能毎、および各装置の
正常動作確認と異常動作確認に分割し、これら分割した
診断項目を適宜組合せて診断を行うことにより、すべて
の診断項目を実行しなくてもすべての装置の診断が可能
になり、診断時間を短縮できる。By dividing the diagnostic items into each device, each function of each device, and confirming normal operation and abnormal operation of each device, and performing diagnosis by combining these divided diagnostic items as appropriate, all diagnostic items can be executed. This makes it possible to diagnose all devices even if the device is not used, reducing diagnosis time.
第1図は本発明の一実施例による電子交換機の診断方法
を示すフローチャートである。第1図において、最初に
、ステップS1にて、試験項目8の周辺入出力装置10
の試験を行う。現用系ACT内の中央処理装置CCから
見て、予備・待機系SBY内の中央処理装置CC1主記
憶装置MM、チャネルコントロール装置CHCは、周辺
入出力装置IOの上位装置である。従って、ステップS
1にてIOが正常と判定されると、その上位装置CC,
MM、CHCの通常動作正常性試験、すなわち試験項目
1,4.および6は実行しなくてもすべて正常であった
とみなされ、ステップS2に進む。ステップ82〜S5
では、各装置の通常動作正常性試験(試験項目1,4.
6)を除く残りの試験(試験項目5.3.2)が順次行
われる。FIG. 1 is a flowchart showing a method for diagnosing an electronic exchange according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, first, in step S1, the peripheral input/output device 10 of test item 8 is
The test will be carried out. Viewed from the central processing unit CC in the active system ACT, the central processing unit CC1 in the backup/standby system SBY, the main storage device MM, and the channel control device CHC are higher-level devices of the peripheral input/output device IO. Therefore, step S
If the IO is determined to be normal in step 1, the higher-level device CC,
MM, CHC normal operation normality test, test items 1, 4. and 6 are all considered to be normal even if they are not executed, and the process proceeds to step S2. Steps 82-S5
Next, we will perform normal operation normality tests for each device (test items 1, 4.
The remaining tests (test item 5.3.2) except for 6) will be conducted sequentially.
ステップS1にてIOが異常と判定されると、ステップ
S6に進み、■0の次の上位装置であるチャネルコント
ロール装置CHCの正常動作を試験しく試験項目6)、
正常であればステップS2に、異常であればステップS
7に進む。If it is determined in step S1 that the IO is abnormal, the process proceeds to step S6 and tests the normal operation of the channel control device CHC, which is the next higher-level device after 0.Test item 6)
If normal, go to step S2; if abnormal, go to step S
Proceed to step 7.
ステップS7にて、CHCの上位装置である主記憶装置
MMの正常機能を試験しく試験項目4)、正常であれば
ステップS3に、異常であればステップS8に進む。In step S7, the normal function of the main memory device MM, which is a host device of the CHC, is tested (test item 4). If normal, the process proceeds to step S3, and if abnormal, the process proceeds to step S8.
ステップS8にて、MMの上位装置である中央処理装置
CCの通常動作正常性を試験しく試験項目1)、正常で
あればステップS4に進み、異常であれば診断を終了す
る。In step S8, the normal operation of the central processing unit CC, which is a host device of the MM, is tested (test item 1). If normal, the process proceeds to step S4, and if abnormal, the diagnosis is ended.
ステップS1にて、周辺入出力装置■0が異常である確
率は一般に小さいので、ステップ86〜S8が実行され
ることは稀である。従って、診断の殆んどがステップ8
1〜S5の5ステツプで済む。Since the probability that peripheral input/output device 20 is abnormal in step S1 is generally small, steps 86 to S8 are rarely executed. Therefore, most of the diagnosis is done in step 8.
All you need is 5 steps from 1 to S5.
第2図は第1図に示した方法の利点の理解を容易にする
概念図を示す。第2図において、試験項目8で周辺入出
力装置IOの正常性が確認されれば、試験項目1,4.
6におけるCC,MM。FIG. 2 shows a conceptual diagram that facilitates understanding of the advantages of the method shown in FIG. In FIG. 2, if the normality of the peripheral input/output device IO is confirmed in test item 8, test items 1 and 4 are confirmed.
CC, MM in 6.
CHCの正常性は確認されたものとみなされ、残された
試験項目7,5.3.2のみを実行すればよいことがわ
かる。The normality of the CHC is considered to have been confirmed, and it is understood that only the remaining test items 7, 5.3.2 need to be executed.
以上の実施例の説明では、最下位装置である周辺入出力
装置■0の試験を最初に行う例を示したが、試験項目1
〜8を診断に対する要求の違いにより適宜組合せること
により、従来より少ないステップ数で予備・待機系SB
、Yまたは障害系OUSの診断を行うことが可能である
ことは明らかである。例えば障害系OUSより障害発生
装置を検出する場合、試験項目1〜8を項目順に実行す
る事ですみやかに検出でき、予じめ装置が正常である事
を期待できる定期切替直前の試験の場合では、試験項目
を8.7,5,2.3の順で実行する事で短時間で診断
を終える事ができる。In the above description of the embodiment, an example was shown in which the peripheral input/output device ■0, which is the lowest-level device, is tested first, but test item 1
By appropriately combining 8 to 8 depending on the difference in diagnostic requirements, backup/standby SB can be created with fewer steps than before.
, Y or a diagnosis of faulty OUS is clearly possible. For example, when detecting a faulty device from the faulty OUS, it can be detected quickly by executing test items 1 to 8 in order, and in the case of a test immediately before a periodic switchover where it can be expected that the device is normal in advance. , the diagnosis can be completed in a short time by executing the test items in the order of 8.7, 5, and 2.3.
また、試験項目は上記1〜8に限定されるものではない
。Moreover, the test items are not limited to the above 1 to 8.
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、障害
系または予備・待機系の電子交換機を試験する診断方法
において、電子交換機内の複数の装置の診断項目を、装
置毎、各装置の機能毎、および各装置の正常動作確認と
異常動作確認に分割し、これら分割した診断項目を適宜
組合せて診断を行うことにより、一部の診断項目を実行
することですべての装置の診断が可能になり、診断時間
を大幅に短縮でき、その結果、障害復旧時間が短縮され
、システムの稼動率が向上し、ひいてはシステム全体の
信頼性が向上する。As is clear from the above description, according to the present invention, in a diagnostic method for testing a faulty electronic exchange or a standby/standby electronic exchange, diagnostic items for a plurality of devices in an electronic exchange can be set for each device and for each device. By dividing each function and each device into normal operation check and abnormal operation check, and performing diagnosis by appropriately combining these divided diagnostic items, it is possible to diagnose all devices by executing some of the diagnostic items. As a result, diagnosis time can be significantly shortened, resulting in shortened failure recovery time, improved system availability, and overall system reliability.
第1図は本発明の一実施例による電子交換機の診断方法
を示すフローチャート、
第2図は第1図に示した方法の利点の理解を容易にする
概念図、
第3図は診断対象を説明するための機能プロ・ツク図、
第4図は従来の診断方法の一例を示すフローチャートで
ある。
CC・・・中央処理装置
MM・・・主記憶装置
C)(C・・・チャネルコントロール装置■0・・・周
辺入出力装置Fig. 1 is a flowchart showing a method for diagnosing an electronic exchange according to an embodiment of the present invention; Fig. 2 is a conceptual diagram that facilitates understanding of the advantages of the method shown in Fig. 1; Fig. 3 explains the object of diagnosis. FIG. 4 is a flowchart showing an example of a conventional diagnostic method. CC...Central processing unit MM...Main memory C) (C...Channel control device ■0...Peripheral input/output device
Claims (1)
装置、および周辺入出力装置を含む複数の装置を備えた
、障害系または予備・待機系の電子交換機を試験する診
断方法であって、 試験診断項目を該装置の各々の単位に分割するとともに
必要に応じて該装置の各々に含まれる機能毎の単位に分
割し、且つ、 該試験診断項目を、該装置の各々の正常動作の確認項目
と異常動作の確認項目に分割し、 診断に対する要求の違いにより該試験項目を適宜組み合
せて診断を行うことを特徴とする電子交換機の診断方法
。[Scope of Claims] 1. A diagnostic method for testing a faulty system or standby/standby system electronic exchange equipped with a plurality of devices including a central processing unit, a main storage device, a channel control device, and peripheral input/output devices. The test and diagnosis items are divided into units for each unit of the device and, if necessary, divided into units for each function included in each device, and the test and diagnosis items are divided into units for each unit of the device, and the test and diagnosis items are A method for diagnosing an electronic exchange, characterized in that the test items are divided into operation confirmation items and abnormal operation confirmation items, and the diagnosis is performed by appropriately combining the test items depending on the difference in the requirements for the diagnosis.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60133062A JPS61292457A (en) | 1985-06-20 | 1985-06-20 | Diagnosing method for electronic exchange |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60133062A JPS61292457A (en) | 1985-06-20 | 1985-06-20 | Diagnosing method for electronic exchange |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61292457A true JPS61292457A (en) | 1986-12-23 |
Family
ID=15095936
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60133062A Pending JPS61292457A (en) | 1985-06-20 | 1985-06-20 | Diagnosing method for electronic exchange |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61292457A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01295338A (en) * | 1987-12-25 | 1989-11-29 | Fujitsu Ltd | On switch control system for separation display flag of duplex system |
JPH0314350A (en) * | 1989-06-13 | 1991-01-23 | Fujitsu Ltd | Failure diagnostic system for duplex apparatus |
-
1985
- 1985-06-20 JP JP60133062A patent/JPS61292457A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01295338A (en) * | 1987-12-25 | 1989-11-29 | Fujitsu Ltd | On switch control system for separation display flag of duplex system |
JPH0314350A (en) * | 1989-06-13 | 1991-01-23 | Fujitsu Ltd | Failure diagnostic system for duplex apparatus |
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