JPS61213934A - シフトパス回路 - Google Patents

シフトパス回路

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Publication number
JPS61213934A
JPS61213934A JP60054787A JP5478785A JPS61213934A JP S61213934 A JPS61213934 A JP S61213934A JP 60054787 A JP60054787 A JP 60054787A JP 5478785 A JP5478785 A JP 5478785A JP S61213934 A JPS61213934 A JP S61213934A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shift
circuit
data
parallel
series
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60054787A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsumi Fujinami
藤浪 克美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60054787A priority Critical patent/JPS61213934A/ja
Publication of JPS61213934A publication Critical patent/JPS61213934A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ディジタル技術によるシフトパス回路に関す
る。
(従来の技術) 従来、この種のシフトパス回路はレジスタを利用し、直
列にレジスタを接続することにより、外部よりレジスタ
の値を任意に設定することが可能な構成となっていた。
例えば、斯かる技術に関しては特公昭48−41770
号に記載されている。
(発明が解決しようとする問題点) 上述した従来のシフトパス回路は、レジスタを利用する
ことにより、できうる限シ診断回路の増加を抑えている
ため、論理回路構成が複雑になるに伴ってシフトパス回
路に含まれるレジスタ数が数百〜壱千にもなシ、特定の
レジスタにある値を入力する場合にはシフトパス回路に
含まれるすべてのレジスタに再入力しなくてはならず、
設定時間が大幅に増加するという欠点があった。
シフトハス回路は、それ以外の回路の故障診断に対し非
常に有効な手法である。しかし、シフトパス回路のなか
のレジスタが1ビツトでも故障した場合には、シフトパ
ス回路のなかにデータが入力されても故障したレジスタ
以後に正しい値しか伝播されず、データを出力してもす
べてのビットから固定した値しか出力されないという欠
点があった。また、シフトデータのデータ入力回路、ま
たはデータ出力回路が故障した場合にも固定した値しか
出力されないため、シフトパス回路が複雑になるに伴っ
て7フトパス回路の故障診断が非常困難になるという欠
点があった。
本発明の目的は、レジスタを直列接続して構成したシフ
ト回路に、そのレジスタ数より少ない段数の直並列シフ
トレジスタを備け、直並列シフトレジスタにセットされ
ている値をシフト回路へ並列に入力したり、あるいはシ
フト回路にセットされている値を直並列シフトレジスタ
へ並列に入力することができるように結線することによ
り上記欠点を除去し、設定時間が短くて故障診断が容易
なように構成したシフトパス回路を提供することにある
(問題点を解決するための手段) 本発明による7フトパス回路は、シフト回路とフト選択
回路とを具備し、直並列シフトレジスタにセットされて
いる値をシフト回路へ並列に入力したり、あるいはシフ
ト回路にセットされている値を直並列シフトレジスタへ
並列に入力したシすることができるように構成したもの
である。
シフト回路は、レジスタを直列に接続して故障診断を容
易にするためのものである。
直並列シフトレジスタは、シフト回路より短い段数を有
するものである。
データ選択回路は、シフト回路に処理データ、直列診断
データ、または並列診断データのうちの一つを選択的に
入力させるだめのものである。
シフト選択回路は、シフト回路のデータを直並列シフト
レジスタに選択的に入力させるだめのものである。
(実施例) 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明によるシフトパス回路の一実施例を示
すブロック図である。第1図において、シフトパス回路
は直並列フットレジスタ1と、データ選択回路21.2
2と、シフト回路31゜32と、シフト選択回路4と、
論理回路61゜!i2とにより構成されている。
次に、第1図に従って動作を詳細に説明する。
第1図において、それぞれのシフト回路21゜22にセ
ットされている値はシフト選択回路4に入力される。信
号端子10上の選択信号によ多入力が選択されると、選
択されたデータ出力が直並列シフトレジスタ1に入力さ
れる。直並列シフトレジスタ1にはシリアルデータ入力
信号端子8、またはシフト選択回路4から並列データが
入力され、データはデータ出力回路7を通してシリアル
データ出力信号端子9に出力される。並列データはデー
タ選択回路21に入力され、データ選択回路21.22
では端子14のデータ、論理回路61.62のデータ、
あるいはシフト回路!1゜32、もしくは直並列シフト
レジスタ1からのデータが端子13上の選択信号により
選択されて出力される。シフト回路!! 1’、 !I
 2にはデータ選択回路21.22からのデータが入力
され、論理回路61.62およびシフト選択回路4へ出
力される。
直並列データをシフト回路!1.12に入力する場合に
は、端子11上のシリアルデータは入力回路13を介し
て全ビットと・もシフト回路31゜52に入力される。
直並列シフトレ、ジスタ1と同一ビット幅に分割された
シフト回路51.32の内部の一つにデ゛−夕を入力す
る場合には、端子8からデータ入力回路6を介して直並
列シフトレジスタ1にシリアルデータを入力し、その後
、データ選択回路21.22により直並列シフトレジス
タ1の出力を選択してシフト回路31.32に入力する
。したがって、シフト回路51.82のデータ幅に対す
る直並列シフトレジスタ1のデータ幅の比だけデータ入
力時間が短縮・さ・れる。その結果\第1図の回路を検
査するための試験パターン容量が低減されて試験時間が
短縮される。
データ入力回路1Mと、データ出力回路14と、シフト
回路B 1 、、8.2とのなかに故障が発生した場合
には、データ入力回路13より入力されたデータはシフ
ト回路31.52に正しく入力てれず、データ出力回路
14より正しく出力されないため、故障箇所の指定が困
難となる。そこで、直並列シフトレジスタ1にセットさ
れた値を上記と同様にしてシフト回路51.32のすべ
て、または一つに選択的に入力し、端子10から入力さ
れた選択信号によりシフト選択回路4を介して選択され
たシフト回路31.32の出力を直並列シフトレジスタ
1に入力し、シリアルデータとして出力端子9に出力し
て確認する。これによってシフト回路!1.52の故障
箇所を指定することができるため、データ入力回路13
またはデータ出力回路14の故障を容易に指摘すること
もできる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、レジスタを直列接続して
構成したシフト回路に、そのレジスタ数より少ない段数
の直並列シフトレジスタを設け、直並列シフトレジスタ
にセットされている値をシフト回路に入力したり、ある
いはシフト回路にセットされている値を直並列シフトレ
ジスタへ並列に入力することができるように結線するこ
とにより、シフト回路のデータ入力時間を短縮でき、シ
フト回路が故障した場合には故障箇所をすみやかに指摘
できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明によるシフトパス回路の一実施例を示
すブロック図である。 1・・・直並列シフトレジスタ 21.22・・・選択回路 31.12・・・シフト回路 4・・・選択回路 51.52・・・論理回路 6.1iS・・・データ入力回路 7.14・・・データ出力回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. レジスタを直列に接続して故障診断を容易にするための
    シフト回路と、前記シフト回路より短い段数を有する直
    並列シフトレジスタと、前記シフト回路に処理データ、
    直列診断データ、または並列診断データのうちの一つを
    選択的に入力させるためのデータ選択回路と、前記シフ
    ト回路のデータを前記直並列シフトレジスタに選択的に
    入力させるためのシフト選択回路とを具備し、前記直並
    列シフトレジスタにセットされている値を前記シフト回
    路へ並列に入力したり、あるいは前記シフト回路にセッ
    トされている値を前記直並列シフトレジスタへ並列に入
    力することができるように構成したことを特徴とするシ
    フトパス回路。
JP60054787A 1985-03-19 1985-03-19 シフトパス回路 Pending JPS61213934A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60054787A JPS61213934A (ja) 1985-03-19 1985-03-19 シフトパス回路

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JP60054787A JPS61213934A (ja) 1985-03-19 1985-03-19 シフトパス回路

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JPS61213934A true JPS61213934A (ja) 1986-09-22

Family

ID=12980467

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60054787A Pending JPS61213934A (ja) 1985-03-19 1985-03-19 シフトパス回路

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