JPS60182764A - 半導体受光装置 - Google Patents
半導体受光装置Info
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- JPS60182764A JPS60182764A JP59037828A JP3782884A JPS60182764A JP S60182764 A JPS60182764 A JP S60182764A JP 59037828 A JP59037828 A JP 59037828A JP 3782884 A JP3782884 A JP 3782884A JP S60182764 A JPS60182764 A JP S60182764A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)9発明の技術分野
本発明は撮像装置等の受光部に用いる受光素子をアレー
構造に配列してなる半導体受光装置に関する。
構造に配列してなる半導体受光装置に関する。
(b)、技術の背景
撮像装置の受光部に用いる受光素子は光起電力型、MI
S型等があり、基板上にこれらの個々の素子を配列して
なり、その各が1つの画素を形成する。
S型等があり、基板上にこれらの個々の素子を配列して
なり、その各が1つの画素を形成する。
このような受光素子は個々の画素として、通常基板上に
被着された半導体層に、光起電力型の場合はダイオード
、MIS型の場合はMIS素子によるアレーを構成する
。近年画素の高集積化、高密度化が要望され、画素の間
隔は小さくなり、各素子間における画像信号の干渉が問
題となっている。
被着された半導体層に、光起電力型の場合はダイオード
、MIS型の場合はMIS素子によるアレーを構成する
。近年画素の高集積化、高密度化が要望され、画素の間
隔は小さくなり、各素子間における画像信号の干渉が問
題となっている。
(C)、従来技術と問題点
第1図に裏面入射型半導体受光装置の従来構造の断面を
示す。図においてlは基板、2は半導体層、3は半導体
層2と反対の導電型を有する半導体層、4は空乏層の端
、5は保護膜、6は信号取り出し電極を示す。
示す。図においてlは基板、2は半導体層、3は半導体
層2と反対の導電型を有する半導体層、4は空乏層の端
、5は保護膜、6は信号取り出し電極を示す。
基板1として光を透過する材料を選び、その上にp型の
エピタキシャル半導体層2を形成し、該層内において画
素毎に島状のn型半導体層3を形成しpn接合を構成す
る。
エピタキシャル半導体層2を形成し、該層内において画
素毎に島状のn型半導体層3を形成しpn接合を構成す
る。
図において裏面よりpn接合に到達した入射光により、
pn接合の空乏層内において電子−正孔対を発生し、電
子はn側へ、正孔はp側へ流れこみ光起電力を生じる。
pn接合の空乏層内において電子−正孔対を発生し、電
子はn側へ、正孔はp側へ流れこみ光起電力を生じる。
光起電力は信号取り出し電極6により外部に、例えばシ
フトレジスタに取り出される。pn接合の空乏層の端4
で発生した信号キャリア(正孔)は拡散して拡がり、隣
接するpn接合に達する結果、画素間でクロストークが
生じ、画素分離が不十分となり、分解能が低下するとい
う欠点がある。特に画素が高密度になると、画素配列の
ピンチが信号キャリヤの拡散長より小さくなり、クロス
トークの影響が大きくなり重大な問題となる。
フトレジスタに取り出される。pn接合の空乏層の端4
で発生した信号キャリア(正孔)は拡散して拡がり、隣
接するpn接合に達する結果、画素間でクロストークが
生じ、画素分離が不十分となり、分解能が低下するとい
う欠点がある。特に画素が高密度になると、画素配列の
ピンチが信号キャリヤの拡散長より小さくなり、クロス
トークの影響が大きくなり重大な問題となる。
(d)3発明の目的
本発明の目的は従来技術の有する上記の欠点を除去し、
各画素間において画像信号のクロストークのない高密度
の画素を有し、且つ基板電極の取り出しが容易な高分解
能半導体受光装置を得ることにある。
各画素間において画像信号のクロストークのない高密度
の画素を有し、且つ基板電極の取り出しが容易な高分解
能半導体受光装置を得ることにある。
(e)0発明の構成
上記の目的は、基板上に被着された半導体層に受光素子
を配列して設け、該受光素子間領域の半導体層を部分的
に除去してなる本発明による半導体受光装置を得ること
によって達成される。
を配列して設け、該受光素子間領域の半導体層を部分的
に除去してなる本発明による半導体受光装置を得ること
によって達成される。
本発明は半導体層に形成された受光素子、例えばpn接
合間の半導体層を部分的に除去することにより、pn接
合間で発生する信号キャリヤをなくし、各画素間のクロ
ストークをなくしたものである。且つ各pn接合の基板
側の領域は相互に接続されているため、各pn接合の共
通電極として、基板電位を容易に得られるようにしたも
のである。
合間の半導体層を部分的に除去することにより、pn接
合間で発生する信号キャリヤをなくし、各画素間のクロ
ストークをなくしたものである。且つ各pn接合の基板
側の領域は相互に接続されているため、各pn接合の共
通電極として、基板電位を容易に得られるようにしたも
のである。
(f)1発明の実施例
第2図(al、 (blは本発明に係る半導体受光装置
の平面図と断面図である。図で第1図と同一番号は同一
対象を示し、7は半導体層のギャップ領域を示す。
の平面図と断面図である。図で第1図と同一番号は同一
対象を示し、7は半導体層のギャップ領域を示す。
基板1として、厚さ0.4mmのサファイア基板を用い
、この上に半導体層2として、エピタキシャル成長によ
り厚さ5μmのp型の珪素層を形成する。
、この上に半導体層2として、エピタキシャル成長によ
り厚さ5μmのp型の珪素層を形成する。
つぎに半導体層3としてピッチ20μmで2次元に配列
された画素部に燐イオンを打ち込み、厚さ1μm、面積
10μm×10μmのn型珪素層を形成し、pn接合を
構成する。
された画素部に燐イオンを打ち込み、厚さ1μm、面積
10μm×10μmのn型珪素層を形成し、pn接合を
構成する。
つぎにリソグラフィ工程を用いて、画素間領域の半導体
層2を部分的にエツチングして除去し、面積2μm×1
0μmを有するギャップ領域7を形成する。 絶縁性の
保護膜4として、厚さ5000人の二酸化珪素膜を用い
、基板全面に被着してリソグラフィ工程を用いて信号取
り出し電極6の形成部を開口する。
層2を部分的にエツチングして除去し、面積2μm×1
0μmを有するギャップ領域7を形成する。 絶縁性の
保護膜4として、厚さ5000人の二酸化珪素膜を用い
、基板全面に被着してリソグラフィ工程を用いて信号取
り出し電極6の形成部を開口する。
pn接合のn側の信号取り出し電極6は、厚さ8000
人のアルミニウム層を用いて形成する。
人のアルミニウム層を用いて形成する。
pn接合のp側の各画素共通の基板電極は、図示されて
いないが、半導体層2の上に適宜設ける。
いないが、半導体層2の上に適宜設ける。
以上のような構造により、pn接合のp領域で発生した
信号キャリアの拡散はpn接合間のギャップ領域7で遮
断され、隣接するpn接合間でクロストークを生じない
。従って従来例ではpn接合の間隔を信号キャリアの拡
散長以下にすることができでかったが、本発明によりそ
れが可能となり、画素の高密度化ができ高分解能半導体
受光装置が得られる。
信号キャリアの拡散はpn接合間のギャップ領域7で遮
断され、隣接するpn接合間でクロストークを生じない
。従って従来例ではpn接合の間隔を信号キャリアの拡
散長以下にすることができでかったが、本発明によりそ
れが可能となり、画素の高密度化ができ高分解能半導体
受光装置が得られる。
実施例では、本発明を裏面入射型半導体受光装置に適用
したが、表面入射型にも適用可能である。
したが、表面入射型にも適用可能である。
また実施例では受光素子としてpn接合を用いたが、他
の型の受光素子を用いてもよい。
の型の受光素子を用いてもよい。
また実施例では、基板1にサファイアを用いたが、他の
材料、例えば珪素等の半導体を用いてもよい。
材料、例えば珪素等の半導体を用いてもよい。
マタ実施例では半導体層2として珪素のエピタキシャル
成長層を用いたが、インジウム・砒素・アンチモン、水
銀・カドミウム・テルル、鉛・錫・テルル等地の材料を
用いてもよい。この場合前記の結晶に対応してそれぞれ
、基板1はエピタキシャル層よりエネルギハンドギャッ
プの広いインジウム・砒素、カドミウム・テルル、鉛・
テルル等を用いる必要がある。
成長層を用いたが、インジウム・砒素・アンチモン、水
銀・カドミウム・テルル、鉛・錫・テルル等地の材料を
用いてもよい。この場合前記の結晶に対応してそれぞれ
、基板1はエピタキシャル層よりエネルギハンドギャッ
プの広いインジウム・砒素、カドミウム・テルル、鉛・
テルル等を用いる必要がある。
また実施例では、可視受光装置について説明したが、他
の波長領域の装置についても発明の要旨は変わらない。
の波長領域の装置についても発明の要旨は変わらない。
(g)1発明の効果
以上詳細に説明したように本発明によれば、各画素間に
おいて画像信号のクロストークのない高密度の画素を有
し、且つ基板電極の取り出しが容易な高分解能半導体受
光装置を得ることができる。
おいて画像信号のクロストークのない高密度の画素を有
し、且つ基板電極の取り出しが容易な高分解能半導体受
光装置を得ることができる。
第1図は裏面入射型半導体受光装置の従来構造の断面、
第2図は本発明に係る裏面入射型半導体受光装置の平面
図と断面図である。 図において1は基板、2はn型半導体層、3はn型半導
体層、4は空乏層の端、5は保護膜、6は信号取り出し
電極、7はギャップ領域を示す。 幻1.2゜ 草2z
第2図は本発明に係る裏面入射型半導体受光装置の平面
図と断面図である。 図において1は基板、2はn型半導体層、3はn型半導
体層、4は空乏層の端、5は保護膜、6は信号取り出し
電極、7はギャップ領域を示す。 幻1.2゜ 草2z
Claims (1)
- 基板上に被着された半導体層に受光素子を配列して設け
、該受光素子間領域の半導体層を部分的に除去してなる
ことを特徴とする半導体受光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59037828A JPH0654803B2 (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 半導体受光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59037828A JPH0654803B2 (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 半導体受光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60182764A true JPS60182764A (ja) | 1985-09-18 |
JPH0654803B2 JPH0654803B2 (ja) | 1994-07-20 |
Family
ID=12508383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59037828A Expired - Lifetime JPH0654803B2 (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 半導体受光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0654803B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5593902A (en) * | 1994-05-23 | 1997-01-14 | Texas Instruments Incorporated | Method of making photodiodes for low dark current operation having geometric enhancement |
US6037643A (en) * | 1998-02-17 | 2000-03-14 | Hewlett-Packard Company | Photocell layout for high-speed optical navigation microchips |
JP2002511656A (ja) * | 1998-04-13 | 2002-04-16 | インテル・コーポレーション | 集積回路において光学的クロックを分散する方法および装置 |
JP2003086827A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Hamamatsu Photonics Kk | ホトダイオードアレイ、固体撮像装置、及び、放射線検出器 |
JP2005336998A (ja) * | 2004-04-30 | 2005-12-08 | Kesanori Watanabe | 水中穿刺杆装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS501490A (ja) * | 1973-05-12 | 1975-01-09 | ||
JPS5693379A (en) * | 1979-12-26 | 1981-07-28 | Ricoh Co Ltd | Photodiode |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP59037828A patent/JPH0654803B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS501490A (ja) * | 1973-05-12 | 1975-01-09 | ||
JPS5693379A (en) * | 1979-12-26 | 1981-07-28 | Ricoh Co Ltd | Photodiode |
Cited By (5)
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JP2002511656A (ja) * | 1998-04-13 | 2002-04-16 | インテル・コーポレーション | 集積回路において光学的クロックを分散する方法および装置 |
JP2003086827A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Hamamatsu Photonics Kk | ホトダイオードアレイ、固体撮像装置、及び、放射線検出器 |
JP2005336998A (ja) * | 2004-04-30 | 2005-12-08 | Kesanori Watanabe | 水中穿刺杆装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0654803B2 (ja) | 1994-07-20 |
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