JPS60114748A - 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置 - Google Patents
固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置Info
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- JPS60114748A JPS60114748A JP58222711A JP22271183A JPS60114748A JP S60114748 A JPS60114748 A JP S60114748A JP 58222711 A JP58222711 A JP 58222711A JP 22271183 A JP22271183 A JP 22271183A JP S60114748 A JPS60114748 A JP S60114748A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（挟挿Ｊ分野）
本発明は、固形製剤の表面を１゛Ｖカメラで走査し′ζ
、その走査信号のレベルが一定値以上の場合にパルス信
号を出力させて異物を検出するようにしたカメラ検査方
法およびその装置に係り、特に、上記′１゛ｖカメうの
走査線における隣接した二つのアドレス間及び隣接した
二つの走査線にまたがるパルス信号を取り出して、その
出力に対応した中と長さの異物を検出して固形製剤の表
面を検査するようにしたもので′ある。
、その走査信号のレベルが一定値以上の場合にパルス信
号を出力させて異物を検出するようにしたカメラ検査方
法およびその装置に係り、特に、上記′１゛ｖカメうの
走査線における隣接した二つのアドレス間及び隣接した
二つの走査線にまたがるパルス信号を取り出して、その
出力に対応した中と長さの異物を検出して固形製剤の表
面を検査するようにしたもので′ある。
（従来技術）
通常、錠剤等の固形製剤は、種々の薬品成分よりなる粉
末を固めて一定形状に成形したものであるが、その表面
には粉末の凹凸がある一方、薬品成分の原料中に含まれ
る各種の繊維状異物や、空気中に浮遊している人の毛髪
や服の繊維の異物が露出または７−１着することがある
。従来が呟二の種の異物を持つ固形製剤はその形成品の
検査上で重欠点として除去されていたが、これらの検査
及び除去が１」親等人手によって行なわれており、検査
ミスや、検査基準の不均一等の問題がさけ難く、固形製
剤の表面精度が十分得られないために使用時に不快感を
伴うことが多く、従来がら検査の自動化が望まれていた
。
末を固めて一定形状に成形したものであるが、その表面
には粉末の凹凸がある一方、薬品成分の原料中に含まれ
る各種の繊維状異物や、空気中に浮遊している人の毛髪
や服の繊維の異物が露出または７−１着することがある
。従来が呟二の種の異物を持つ固形製剤はその形成品の
検査上で重欠点として除去されていたが、これらの検査
及び除去が１」親等人手によって行なわれており、検査
ミスや、検査基準の不均一等の問題がさけ難く、固形製
剤の表面精度が十分得られないために使用時に不快感を
伴うことが多く、従来がら検査の自動化が望まれていた
。
（発明の目的）
本発明は、に記従来例の欠点を除去し、固形製剤形成品
の表面検査を自動的に行なわんとするもので、成形品の
表面にあられれる粉体の凹凸が約５（ｌφ以１・の短寸
法であるのに比して、成形品の表面にあられれる毛髪等
の繊維状異物が約５０Ｘ５＋１Ｑμ以上の長ｊｊ法であ
ることに注［Ｊして、これらを区別して、例えば５０μ
以上の長さと中の繊細状）′６物を表面に持つ固形製剤
のみを池のものと区別して自動的に選別する方法及びそ
の装置を提供せんとすることを目的とするものである。
の表面検査を自動的に行なわんとするもので、成形品の
表面にあられれる粉体の凹凸が約５（ｌφ以１・の短寸
法であるのに比して、成形品の表面にあられれる毛髪等
の繊維状異物が約５０Ｘ５＋１Ｑμ以上の長ｊｊ法であ
ることに注［Ｊして、これらを区別して、例えば５０μ
以上の長さと中の繊細状）′６物を表面に持つ固形製剤
のみを池のものと区別して自動的に選別する方法及びそ
の装置を提供せんとすることを目的とするものである。
（発明の構成）
すなわち、本発明に係る固形製剤の表面に露れる一定＝
Ｊ法以上の繊維状異物を検出する方法は、上記固形製剤
の表面をＴＶカメラで走査し、該走査線の信号を一定の
レベルで判別して異物検出のパルス信号を発生させ、隣
合う走査線の間で互いに対応して隣接するアドレスの部
分ｌζに記パルス信号が発生した時の当該一連に連続す
る走査線の線数を計数し、該計数値が一定の設定値より
火なる時に異物と判定するようにしたことを特ｉ６１正
するものである。
Ｊ法以上の繊維状異物を検出する方法は、上記固形製剤
の表面をＴＶカメラで走査し、該走査線の信号を一定の
レベルで判別して異物検出のパルス信号を発生させ、隣
合う走査線の間で互いに対応して隣接するアドレスの部
分ｌζに記パルス信号が発生した時の当該一連に連続す
る走査線の線数を計数し、該計数値が一定の設定値より
火なる時に異物と判定するようにしたことを特ｉ６１正
するものである。
また、本発明に係る固形製剤の表面を’ｒ ｖカメラで
走査して、その走査信号のレベルが一定値以上の場合に
パルス信号を出力させて異物を検出するようにした装置
は、上記ＴＶカメラの一走査線毎のパルス信号をアドレ
ス毎に一時記憶して、次回の走査時に順次アドレス毎に
出力するシフトレジスターと、該シフトレジスターの一
アドレス出力と次のアドレス出力のＯＲをとる素子と、
該Ｏ１（素子の出力と次回の走査線における」二記−ア
ドレス出力と対応したアドレスの出力とのＡＮＤをとる
素子と、該Ａ Ｎ Ｄ素子の出力のパルス信号をカウン
トする素子と、該カウント素子のカウント数が一定数以
」二の時に異物検出信号を出力する手段とよりなり、上
記ＯＲ素子とＡＮＩ）素子との出力により、隣接する二
つのアドレス間及び隣接する二つの走査線にまたがるパ
ルス信号を上記カウント素子で取り出して、その出力に
対応した中と長さの異物を検出するようにしたことを特
徴とするものである。
走査して、その走査信号のレベルが一定値以上の場合に
パルス信号を出力させて異物を検出するようにした装置
は、上記ＴＶカメラの一走査線毎のパルス信号をアドレ
ス毎に一時記憶して、次回の走査時に順次アドレス毎に
出力するシフトレジスターと、該シフトレジスターの一
アドレス出力と次のアドレス出力のＯＲをとる素子と、
該Ｏ１（素子の出力と次回の走査線における」二記−ア
ドレス出力と対応したアドレスの出力とのＡＮＤをとる
素子と、該Ａ Ｎ Ｄ素子の出力のパルス信号をカウン
トする素子と、該カウント素子のカウント数が一定数以
」二の時に異物検出信号を出力する手段とよりなり、上
記ＯＲ素子とＡＮＩ）素子との出力により、隣接する二
つのアドレス間及び隣接する二つの走査線にまたがるパ
ルス信号を上記カウント素子で取り出して、その出力に
対応した中と長さの異物を検出するようにしたことを特
徴とするものである。
（実施例）
以下、本発明を図面に示す検査侭の実施例について詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は、固形製剤の検査機の概略の構成を示すもので
、大略円板形状をなす０（給ドラム１と、該供給ドラム
１の外周面に放射状に配設した多数の受筒２と、上記供
給ドラム１の回転軸；）を駆動する手段（図示せず）と
、上記受筒２内に異なる空気圧を導入して受筒２の外端
間１」部上に薬品の素錠等の固形製剤Ａを自在に吸着ま
たは離脱させる手段（図示せず）等よりなるドラム回転
装置と、−■−記０（給ドラム１の外方の一定位置に設
けた′１゛ｖカメラＣと、該ｉ’ Ｖカメラの走査信号
を処理する回路と、カメラの前方に設けた光源ポックス
ト等よりなる検査装置と、上記供給ドラム１の近傍の一
定位置に設けた検査すべｂ固形製剤）＼の位置を検出す
るト段１）、上記供給ドラム１の受ｎｆＪ ２ ｚｓ固
形製削八へ供給する手段（図示せず）と、」１記受筒２
から固形製剤Ａを受取る手段（図示せず）と、上記受筒
２から固形製剤Ａの中で不良のものを除去する（１．除
手段Ｅ（図示せず）等の附属装置とから構成される。上
記結成よりなる検査機は、供給手段がらＯ（給ドラム１
へＯＬ給される固形製剤Ａが骨節２の外端開口部に吸着
される一方、０（給ドラム］を駆動手段で軸芯３を中心
にして一刀向へ回転駆動させてＯｔ給トドラム１共に移
動する受部２の固形製剤Ａを位置検出手段りと連動する
上記カメラＣでＪ＋Ｉｉ捉して走査し、その走査信号を
処理回路ＪＯで・判別して、その結果、固形製剤Ａの表
面に異常力ｆあるとした時にはル１．除手段Ｅで、受取
手段とは別に、区分して供ＫＦドラム１から取り出すよ
うにする。
、大略円板形状をなす０（給ドラム１と、該供給ドラム
１の外周面に放射状に配設した多数の受筒２と、上記供
給ドラム１の回転軸；）を駆動する手段（図示せず）と
、上記受筒２内に異なる空気圧を導入して受筒２の外端
間１」部上に薬品の素錠等の固形製剤Ａを自在に吸着ま
たは離脱させる手段（図示せず）等よりなるドラム回転
装置と、−■−記０（給ドラム１の外方の一定位置に設
けた′１゛ｖカメラＣと、該ｉ’ Ｖカメラの走査信号
を処理する回路と、カメラの前方に設けた光源ポックス
ト等よりなる検査装置と、上記供給ドラム１の近傍の一
定位置に設けた検査すべｂ固形製剤）＼の位置を検出す
るト段１）、上記供給ドラム１の受ｎｆＪ ２ ｚｓ固
形製削八へ供給する手段（図示せず）と、」１記受筒２
から固形製剤Ａを受取る手段（図示せず）と、上記受筒
２から固形製剤Ａの中で不良のものを除去する（１．除
手段Ｅ（図示せず）等の附属装置とから構成される。上
記結成よりなる検査機は、供給手段がらＯ（給ドラム１
へＯＬ給される固形製剤Ａが骨節２の外端開口部に吸着
される一方、０（給ドラム］を駆動手段で軸芯３を中心
にして一刀向へ回転駆動させてＯｔ給トドラム１共に移
動する受部２の固形製剤Ａを位置検出手段りと連動する
上記カメラＣでＪ＋Ｉｉ捉して走査し、その走査信号を
処理回路ＪＯで・判別して、その結果、固形製剤Ａの表
面に異常力ｆあるとした時にはル１．除手段Ｅで、受取
手段とは別に、区分して供ＫＦドラム１から取り出すよ
うにする。
−１−記カメラで１１１）捉される固形製剤Ａの映像信
号は、第・１図（イ）に示す如く、多数の走査１１ａ・
・・Ｘよりなる走査信号として取り出され、また、各走
査線は第４図（ロ）に示す如く、同期信号ａ、と基準レ
ベルａ２と映像信号ａ、とよりなり、固形製剤への表面
に毛髪等の異物や歪等の凹凸がある場合には、第４図（
ハ）に示す如く、映像信号上にレベルの落ちた不良部分
ａ４が発生することで検出される。第２図は］・記’ｒ
ｖカメラＣの走査１１８号を処理［るフロック回路１
０を示すもので、検査すべき固形製剤の位置を検出する
エンコーダ等よりなる丁゛段からの位置検出信号回路１
１を含み、該１１シ置検出１．；号回路の出力で固形製
剤Ａを照明するストロボライトド；の点月回路１２を作
動するとともに、水゛＋１と１ｌｉ１／（の同期１６号
回路１３の出力で固形製剤へを捕捉・）−る゛ｌ’Ｖカ
メラＣを作動する。′１゛＼パカメラＣの映像１．；号
は、上記位置検出信号回路１］の出力に同期しＣＩ’＋
：動する固形製剤の検査領域を設定する検査マスク回路
１４により、第４図（ニ）に示す如く、各走西−線の検
査部分、すなわち、走査線の′？ドレス）２Ｑ数が特定
されるとともに、検出すべき不良部〃のレベル感度を設
定する回路１５からの出力に、１：す、」−記者走査線
の検査部分において一定レベルｅ以下の不良部分がクリ
ッパー回路１６で検出され、第４図（ホ）に示す如く、
走査線に不良部５１がある場合には１（第４図（へ）に
示す）、ない場合には（）の２値化出力のパルス信号か
クリッパー回路１６から第１表に示す如く各走査線のア
第 １ 表 ドレスｉりに１′１１定回路２０へ出力される。判定回
路２０は、１．記１１）置検出信号回路１１の出力に同
期して１つ駆動し、第：（図に示す如く、クリッパー回
路からの２Ｉｌｌ′を化人力のパルス信号を受ける第１
シフトレジスター２１とＡ Ｎ ｌ）素子２５と、ｆｆ
ｓ］シ７トレジス幻−に直列に接続した！ｊＳ２シフト
レノスター２２と、第１シフトレジスターの第１ノ５４
１：（０） ７ ｌＳ゛レスＬｉ号のＯＲをとるＭ］Ｏ
Ｒ素Ｊ’−２３′と、該第１ＯＲ素子２３の出方と上記
第２シフトレジスター２２の第１乃至第３のアドレス信
号の０１（をとる第１ＯＲ素子２４と、該第２ ＯＲ素
子２４の出力と１−記の如くクリッパー回路１６の出力
のＡ Ｎ ｌ）をとる」二記ＡＮＤ素子２５がらの出力
パルスをＪＩ数するカウント素子２６と、該カウント索
子の設定パルス数を設定する回路２７とよりなる。カウ
ント素子が設定回路２７のパルス数より多くのパルスを
カウントした時に出方する１ｌｆｆｉ号が、不良信号用
シフトレジスター１７に人力され、該不良信号用シフト
レジスター１７は、上記位置検出信号回路１】の出力に
同期して作動し、その出力で４二良のＩＭ形製剤を除去
する排除手段Ｅを動作する。
号は、第・１図（イ）に示す如く、多数の走査１１ａ・
・・Ｘよりなる走査信号として取り出され、また、各走
査線は第４図（ロ）に示す如く、同期信号ａ、と基準レ
ベルａ２と映像信号ａ、とよりなり、固形製剤への表面
に毛髪等の異物や歪等の凹凸がある場合には、第４図（
ハ）に示す如く、映像信号上にレベルの落ちた不良部分
ａ４が発生することで検出される。第２図は］・記’ｒ
ｖカメラＣの走査１１８号を処理［るフロック回路１
０を示すもので、検査すべき固形製剤の位置を検出する
エンコーダ等よりなる丁゛段からの位置検出信号回路１
１を含み、該１１シ置検出１．；号回路の出力で固形製
剤Ａを照明するストロボライトド；の点月回路１２を作
動するとともに、水゛＋１と１ｌｉ１／（の同期１６号
回路１３の出力で固形製剤へを捕捉・）−る゛ｌ’Ｖカ
メラＣを作動する。′１゛＼パカメラＣの映像１．；号
は、上記位置検出信号回路１］の出力に同期しＣＩ’＋
：動する固形製剤の検査領域を設定する検査マスク回路
１４により、第４図（ニ）に示す如く、各走西−線の検
査部分、すなわち、走査線の′？ドレス）２Ｑ数が特定
されるとともに、検出すべき不良部〃のレベル感度を設
定する回路１５からの出力に、１：す、」−記者走査線
の検査部分において一定レベルｅ以下の不良部分がクリ
ッパー回路１６で検出され、第４図（ホ）に示す如く、
走査線に不良部５１がある場合には１（第４図（へ）に
示す）、ない場合には（）の２値化出力のパルス信号か
クリッパー回路１６から第１表に示す如く各走査線のア
第 １ 表 ドレスｉりに１′１１定回路２０へ出力される。判定回
路２０は、１．記１１）置検出信号回路１１の出力に同
期して１つ駆動し、第：（図に示す如く、クリッパー回
路からの２Ｉｌｌ′を化人力のパルス信号を受ける第１
シフトレジスター２１とＡ Ｎ ｌ）素子２５と、ｆｆ
ｓ］シ７トレジス幻−に直列に接続した！ｊＳ２シフト
レノスター２２と、第１シフトレジスターの第１ノ５４
１：（０） ７ ｌＳ゛レスＬｉ号のＯＲをとるＭ］Ｏ
Ｒ素Ｊ’−２３′と、該第１ＯＲ素子２３の出方と上記
第２シフトレジスター２２の第１乃至第３のアドレス信
号の０１（をとる第１ＯＲ素子２４と、該第２ ＯＲ素
子２４の出力と１−記の如くクリッパー回路１６の出力
のＡ Ｎ ｌ）をとる」二記ＡＮＤ素子２５がらの出力
パルスをＪＩ数するカウント素子２６と、該カウント索
子の設定パルス数を設定する回路２７とよりなる。カウ
ント素子が設定回路２７のパルス数より多くのパルスを
カウントした時に出方する１ｌｆｆｉ号が、不良信号用
シフトレジスター１７に人力され、該不良信号用シフト
レジスター１７は、上記位置検出信号回路１】の出力に
同期して作動し、その出力で４二良のＩＭ形製剤を除去
する排除手段Ｅを動作する。
１ｌ記判定回路の第１と第２のシフトレゾスター２１．
２２は、夫々上記走査線のアドレス総数に対応したビッ
ト数を持つもので、」二元同期信号回路１３からのクロ
ックイｔ″ｉｊをシフトレジスター制御回路１８から受
けとって動作し、クリッパー回路１６からの−・走査線
における各アドレス毎の２値化信号を順次各ビットに入
力してビット順にシフトして行ｉ、ｆｊ＆１シフトレジ
スター２１の２値化出力が順次第２シフトレジスター２
２の各ビットに順次人力される。このため、たとえば、
第１表に示す如き、各走査線の７ｐｖス信号として第２
シフトレジスター２２の１１ビツトには第１走査線にお
けるアドレス１１数の２値化信号が人力されると同時に
、＠１シフトレジスター２１の１１ビツトには、第２走
査線におけるアドレス１１数の２値化信号が第２表に示
す如く人力されて、次にクリッパー回路１６から第３走
査線における第１アドレスの２値化信号が第１シフトレ
ジスター２１の１１第２表 第３表 番ビットに人力されると、第１シフトレジスター２１の
各ビットの２値化信号が順次１ビツトづつシフ１・され
ると第１シフトレジスター２１の１番ビットの２値化信
号が第２シフトレジ又ター２２の１番ピントに人力され
て、第２シフトレジスター２２の各ビットの２値化信号
が順次１ビツトづ一ノシ７１・され、第２シフトレジス
ター２２の１番ビットの２値化信号が消滅するようにな
る。この時、第３表に示す如く、ｔｊＳＩ ＯＲ素子２
３は第１シフトレジスター２１のｆｆ１ｌ乃至第：（ビ
ットにもける２値化信号、すなわち、第２走査線におけ
るｆｔ５Ｊ乃至第３アドレスにおける２値化信号の０１
＜をとって、それらの中に“１”信号がある場合には１
″を、第２０１（素子２４へ入力する一力、詠第２０Ｂ
素子２４は第１゛（月く素子２３の入力と第２シフトレ
ジ゛スター２２の第１乃至第３ビツトにおける２値化信
号、すなわち、第１走査線における第１］５至第３アド
レスにおける２値化信号とのＯＩ＜をとって、それらの
中に“１”信号がある場合には、“１゛をＡ Ｎ Ｄ素
子２５へ人ノＪする。したがって、Ａ Ｎ ＋）素子２
５では第３走査線における第１アドレスの２値化信号が
“１”で第２（月く素１′−２・１からの人力が“１゛
の時に、“１”をカウント素Ｊ’ ２６へ人力し、該カ
ウント素子２６はＡＮ Ｉ’）素ｒ−からの“１゛信号
が連続する１１↓にこれらを順次計数して、この３１数
値が設定回路２７の設定数を５−した時に不良検出信号
を不良信号用シフトレジスター１７へ出力するようにな
る。ついで、クリッパー回路１にがら第３走査線におけ
る第２アドレスの２値化１．ｉ号が第１シフトレジスタ
ー２１の■番ビ。
２２は、夫々上記走査線のアドレス総数に対応したビッ
ト数を持つもので、」二元同期信号回路１３からのクロ
ックイｔ″ｉｊをシフトレジスター制御回路１８から受
けとって動作し、クリッパー回路１６からの−・走査線
における各アドレス毎の２値化信号を順次各ビットに入
力してビット順にシフトして行ｉ、ｆｊ＆１シフトレジ
スター２１の２値化出力が順次第２シフトレジスター２
２の各ビットに順次人力される。このため、たとえば、
第１表に示す如き、各走査線の７ｐｖス信号として第２
シフトレジスター２２の１１ビツトには第１走査線にお
けるアドレス１１数の２値化信号が人力されると同時に
、＠１シフトレジスター２１の１１ビツトには、第２走
査線におけるアドレス１１数の２値化信号が第２表に示
す如く人力されて、次にクリッパー回路１６から第３走
査線における第１アドレスの２値化信号が第１シフトレ
ジスター２１の１１第２表 第３表 番ビットに人力されると、第１シフトレジスター２１の
各ビットの２値化信号が順次１ビツトづつシフ１・され
ると第１シフトレジスター２１の１番ビットの２値化信
号が第２シフトレジ又ター２２の１番ピントに人力され
て、第２シフトレジスター２２の各ビットの２値化信号
が順次１ビツトづ一ノシ７１・され、第２シフトレジス
ター２２の１番ビットの２値化信号が消滅するようにな
る。この時、第３表に示す如く、ｔｊＳＩ ＯＲ素子２
３は第１シフトレジスター２１のｆｆ１ｌ乃至第：（ビ
ットにもける２値化信号、すなわち、第２走査線におけ
るｆｔ５Ｊ乃至第３アドレスにおける２値化信号の０１
＜をとって、それらの中に“１”信号がある場合には１
″を、第２０１（素子２４へ入力する一力、詠第２０Ｂ
素子２４は第１゛（月く素子２３の入力と第２シフトレ
ジ゛スター２２の第１乃至第３ビツトにおける２値化信
号、すなわち、第１走査線における第１］５至第３アド
レスにおける２値化信号とのＯＩ＜をとって、それらの
中に“１”信号がある場合には、“１゛をＡ Ｎ Ｄ素
子２５へ人ノＪする。したがって、Ａ Ｎ ＋）素子２
５では第３走査線における第１アドレスの２値化信号が
“１”で第２（月く素１′−２・１からの人力が“１゛
の時に、“１”をカウント素Ｊ’ ２６へ人力し、該カ
ウント素子２６はＡＮ Ｉ’）素ｒ−からの“１゛信号
が連続する１１↓にこれらを順次計数して、この３１数
値が設定回路２７の設定数を５−した時に不良検出信号
を不良信号用シフトレジスター１７へ出力するようにな
る。ついで、クリッパー回路１にがら第３走査線におけ
る第２アドレスの２値化１．ｉ号が第１シフトレジスタ
ー２１の■番ビ。
トとＡＮＩ）素子に人力されると、上記と同様の処理を
順次１Ｊなうようになる。したがって、−Ｉ−記シ７ト
レジスター２１．２２により、」二記′１゛Ｖカメラ（
二の・走Ｎ線毎のパルス信号をアドレス毎に一時記憶し
て、次回の走査時に順次アドレス毎に出力させるととも
に、上記ＯＲ素子２３．２４とＡＮ Ｄ Ｊ６ ）’
２ ！′）により、隣接する三つのアドレス間及びｌ？
接する三つの走査線にまたがるパルス信号を取り出し、
かつ、その連続した出力をト記カウント素ｊ’ ２１ｉ
で取り出して、その連続出力に対応した一定の中と長さ
の異物を排除手ｙ、Ｅで除去することができるようにな
る。
順次１Ｊなうようになる。したがって、−Ｉ−記シ７ト
レジスター２１．２２により、」二記′１゛Ｖカメラ（
二の・走Ｎ線毎のパルス信号をアドレス毎に一時記憶し
て、次回の走査時に順次アドレス毎に出力させるととも
に、上記ＯＲ素子２３．２４とＡＮ Ｄ Ｊ６ ）’
２ ！′）により、隣接する三つのアドレス間及びｌ？
接する三つの走査線にまたがるパルス信号を取り出し、
かつ、その連続した出力をト記カウント素ｊ’ ２１ｉ
で取り出して、その連続出力に対応した一定の中と長さ
の異物を排除手ｙ、Ｅで除去することができるようにな
る。
」二元実施例に詳記した如く、本発明に係る固形製剤の
表面異物のカメラ検査方法およびその装置は、固形製剤
の表面に露れる一定寸法以上の繊維状異物を検出するた
めに、固形製剤の表面をｉ’ Ｖカメラで走査して、そ
の走査信号のレベルが一定値以−１，の場合にパルス信
号を出力させて異物を検出するようにした装置として、
上記′ｒＶカメラの一走査線毎のパルス信号をアドレス
毎に一時記憶して、次回の走査時に順次アドレス毎に出
力するシフトレジスターと、該シフトレジスターの−・
アドレス出力と次のアドレス出力のＯＲをとる素子と、
該ＯＲ素子の出力と次回の走査線における上記−アドレ
ス出力と対応したアドレスの出力とのＡ Ｎ ｌ）をと
る素ｒ・と、該Ａ ’Ｎ Ｄ素子・の出力のパルス信号
をカウントする素子と、該カウント素子のカウント数が
一定数以上の時に異物検出信号を出力する手段とよりな
り、上記ＯＲ素子とＡＮＤ素子との出力により、隣接す
る二つのアドレス間屋内ψｊ接する二つの走査線にまた
がるパルス信号を１・記カウント素子で取り出して、そ
の出力に対応した中と純さの異物を検出するようにした
固形製剤の表面異物のカメラ検査装置を用いて、固形製
剤の表面を゛Ｉ’Ｖカメラで走査し、該走査線の信号を
一定のレベルで判別して異物検出のパルス信号を発生さ
せ、隣合う走査線の間で互いに対応して隣接するアドレ
スの部分に上記パルス信号か発生した時の当、該一連に
連続する走査線の線数を計数し、該計数値が一定の設定
値より火なる時に異物と゛１゛１ｊ定４−るようにした
検査を行なうものであり、したかって、−簡単な構成で
、所期の目的、即ち固形製剤の表面検査の自動化を達成
できるものである。
表面異物のカメラ検査方法およびその装置は、固形製剤
の表面に露れる一定寸法以上の繊維状異物を検出するた
めに、固形製剤の表面をｉ’ Ｖカメラで走査して、そ
の走査信号のレベルが一定値以−１，の場合にパルス信
号を出力させて異物を検出するようにした装置として、
上記′ｒＶカメラの一走査線毎のパルス信号をアドレス
毎に一時記憶して、次回の走査時に順次アドレス毎に出
力するシフトレジスターと、該シフトレジスターの−・
アドレス出力と次のアドレス出力のＯＲをとる素子と、
該ＯＲ素子の出力と次回の走査線における上記−アドレ
ス出力と対応したアドレスの出力とのＡ Ｎ ｌ）をと
る素ｒ・と、該Ａ ’Ｎ Ｄ素子・の出力のパルス信号
をカウントする素子と、該カウント素子のカウント数が
一定数以上の時に異物検出信号を出力する手段とよりな
り、上記ＯＲ素子とＡＮＤ素子との出力により、隣接す
る二つのアドレス間屋内ψｊ接する二つの走査線にまた
がるパルス信号を１・記カウント素子で取り出して、そ
の出力に対応した中と純さの異物を検出するようにした
固形製剤の表面異物のカメラ検査装置を用いて、固形製
剤の表面を゛Ｉ’Ｖカメラで走査し、該走査線の信号を
一定のレベルで判別して異物検出のパルス信号を発生さ
せ、隣合う走査線の間で互いに対応して隣接するアドレ
スの部分に上記パルス信号か発生した時の当、該一連に
連続する走査線の線数を計数し、該計数値が一定の設定
値より火なる時に異物と゛１゛１ｊ定４−るようにした
検査を行なうものであり、したかって、−簡単な構成で
、所期の目的、即ち固形製剤の表面検査の自動化を達成
できるものである。
なお、異物の長さ、すなわち走査線の本数は′Ｉ゛Ｖカ
メラに写す映像倍率によって変わるのでａ１数比較器の
設定数を、検出したい長さに見合って任、Ｑ、設定ｉ（
能にしておけば判定は自由にできる。
メラに写す映像倍率によって変わるのでａ１数比較器の
設定数を、検出したい長さに見合って任、Ｑ、設定ｉ（
能にしておけば判定は自由にできる。
よって、各種被検査物への広範囲な対応ができるととも
に検査精度を大中に向上し、かつ生産歩留りの向上を計
ることができるものである。
に検査精度を大中に向上し、かつ生産歩留りの向上を計
ることができるものである。
第１図は、本発明の一実施例として固形製剤検査機の概
略構成を示す正面図、第２図は第１図の処理回路のブロ
ック図、第３図は第２図の判定回路の詳細回路図、第４
図（イ）乃至（へ）は第２図の回路の各部における波形
線図である。 Ｃ・・・カメラ、１０・・・処理回路、１６・・・クリ
ッパー回路、２１．２２・・・シフトレジスター、２３
゜２４・・・ＯＲ素子、２５・・・ＡＮＩ）素子、２６
・・・カウント素子。
略構成を示す正面図、第２図は第１図の処理回路のブロ
ック図、第３図は第２図の判定回路の詳細回路図、第４
図（イ）乃至（へ）は第２図の回路の各部における波形
線図である。 Ｃ・・・カメラ、１０・・・処理回路、１６・・・クリ
ッパー回路、２１．２２・・・シフトレジスター、２３
゜２４・・・ＯＲ素子、２５・・・ＡＮＩ）素子、２６
・・・カウント素子。
Claims (2)
- （１）固形製剤の表面に露れる一定り法以トの繊維状異
物を検出する方法にして、上記固形製剤の表面を′ｌ゛
＼１カメラで走査腰該走査線の信号を一定のレベルで判
別して異物検出のパルス信号を発生させ、隣合う走査線
の間で互いにλ′］応して隣接するアドレスの部分に上
記パルス信号が発生した１１＋ｉの出品一連に連続［る
走査線の線数を計数し、１．６１数値が＝一定の設定値
より大なる時１こ異物と判疋するようにしたことを特徴
とする固形製剤の表面異物のカメラ検査）ｊ法。 - （２）固形製剤の表面を１’ Ｖカメラで走査して、そ
の走査信号のレベルが一定値以上の場合にパルス信号を
出力させて異物を検出するようにした装置にして、上記
゛１゛＼１カメラの一走査線毎のパルスｌｉｔ号をアド
レス毎に一時記憶して、次回の走査時に順次）゛Ｉ゛レ
ス毎に出力するシフトレジスターと、該シフトレジスタ
ーの一アドレス出力と次のアドレス出ノ」の（）ｌりを
とる素子と、該（月？素子の出力と次回の走査線におけ
る上記−アドレス出力と対応した′？ドレスの出力との
ＡＮＩ）をとる素ｒ−と、Ｍ ７＼Ｎｌ＞Ｊ／の出力の
パルス信号をカウントする素１′と１．該カウント素子
のカウント数が一定数以」ユのＩＩ、１に異物検出信号
を出力する手段とよりなり、」二記（）１＜素１′・と
ＡＮＤ素子との出力により、１轟接する′ごノのアドレ
ス間及び隣接する二つの走査線にまたがるパルス信号を
」二記カウント素子で取り出し乙ぞの出力に対応した中
と長さの異物を検Ｌ１１−る。１うにしたことを特徴と
する固形製剤の表面異物のカメラ検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58222711A JPS60114748A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置 |
| US06/672,388 US4636849A (en) | 1983-11-26 | 1984-11-16 | Apparatus for inspecting solid drugs and a method therefor |
| EP84114147A EP0144049A3 (en) | 1983-11-26 | 1984-11-23 | An apparatus for inspecting solid drugs and a method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58222711A JPS60114748A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60114748A true JPS60114748A (ja) | 1985-06-21 |
| JPH0417371B2 JPH0417371B2 (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=16786705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58222711A Granted JPS60114748A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4636849A (ja) |
| EP (1) | EP0144049A3 (ja) |
| JP (1) | JPS60114748A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000171410A (ja) * | 1998-12-04 | 2000-06-23 | Ckd Corp | Ｐｔｐシートの外観検査装置およびｐｔｐ包装機 |
| JP2014145652A (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-14 | Fuji Electric Co Ltd | 異物検査装置 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4835605A (en) * | 1985-08-14 | 1989-05-30 | Fhg | Method for the determination of a geometrical parameter for crimped, irregularly structured fibres |
| DE3607767C1 (de) * | 1986-03-08 | 1987-04-02 | Wolf Gmbh Richard | Videoendoskop |
| US4794453A (en) * | 1986-09-09 | 1988-12-27 | Web Printing Controls Co. | Method and apparatus for stroboscopic video inspection of an asynchronous event |
| US4855821A (en) * | 1988-02-16 | 1989-08-08 | Swon James E | Video timing device for pharmaceutical tablet testing |
| US6894772B2 (en) * | 2001-02-12 | 2005-05-17 | Analytical Spectral Devices | System and method for grouping reflectance data |
| US11209410B2 (en) | 2014-06-10 | 2021-12-28 | Logan Instruments Corporation | Dissolution tester assembly with integrated imaging system |
Citations (2)
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| JPS57163805A (en) * | 1981-04-02 | 1982-10-08 | Fuji Electric Co Ltd | Method and device for inspecting thickness of tablet |
Family Cites Families (9)
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|---|---|---|---|---|
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| BE789263A (fr) * | 1971-09-27 | 1973-03-26 | Lilly Co Eli | Systeme et procede electroniques de controle de capsules |
| US3775556A (en) * | 1972-07-31 | 1973-11-27 | K Nagamatsu | Ampoule inspector using a television camera |
| IT1203231B (it) * | 1978-03-17 | 1989-02-15 | Fuji Electric Co Ltd | Apparecchio per ispezionare l'aseptto esterno di medicine solide |
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| US4277803A (en) * | 1980-05-12 | 1981-07-07 | Fuji Electric Co., Ltd. | Automatic product checking system |
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| US4349739A (en) * | 1980-07-28 | 1982-09-14 | American Science And Engineering, Inc. | Micro-calcification detection |
| JPS5863838A (ja) * | 1981-10-14 | 1983-04-15 | Fuji Electric Co Ltd | 欠陥検出回路 |
-
1983
- 1983-11-26 JP JP58222711A patent/JPS60114748A/ja active Granted
-
1984
- 1984-11-16 US US06/672,388 patent/US4636849A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-11-23 EP EP84114147A patent/EP0144049A3/en not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0144049A3 (en) | 1986-02-26 |
| EP0144049A2 (en) | 1985-06-12 |
| US4636849A (en) | 1987-01-13 |
| JPH0417371B2 (ja) | 1992-03-25 |
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