JPS5990854A - 板状物エアブロ−機構 - Google Patents

板状物エアブロ−機構

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Publication number
JPS5990854A
JPS5990854A JP58184983A JP18498383A JPS5990854A JP S5990854 A JPS5990854 A JP S5990854A JP 58184983 A JP58184983 A JP 58184983A JP 18498383 A JP18498383 A JP 18498383A JP S5990854 A JPS5990854 A JP S5990854A
Authority
JP
Japan
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glass plate
holder
dust
air
cartridge
Prior art date
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Pending
Application number
JP58184983A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiro Koizumi
古泉 裕弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58184983A priority Critical patent/JPS5990854A/ja
Publication of JPS5990854A publication Critical patent/JPS5990854A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70866Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、エアプロー技術に関するもので、たとえば、
露光装置における板状物表面の清浄化に利用して有効な
技術に関するものである。
以下では、とくにフォトマスク露光装置に適用した場合
について説明する。
半導体装置、集積回路装置等の製造においては各種のパ
ターンを有するフォトマスクが用いられている。これら
のフォトマスクのパターンは露光装置を用いて製造され
ている。ところで、フォトマスクの一つとして、ガラス
プレートにエマルジョンを塗布し、このエマルジョンを
部分感光してパターンを形成したエマルジョンガラスプ
レートか知られている。このエマルジョンガラスプレー
トは、太ぎなガラスプレートをスクライプし割ったまま
の状態であることから、プレートエツジは鋭角で非常に
もろいものである。このため、ガラスプレートを露光装
置のホルダに移送機構(1111機)を用いて搬送する
場合、移送様構内でガラスプレートがガイド等に接触す
ることから、エツジが欠け、そのガラスチップやエマル
ジョン塵埃がガラスプレート上面の感光面に剛着する。
このような状態のままで露光すると、ガラスチ・ノブや
エマルジョン塵埃対応部の感光剤が感光しなくなり、正
確なパターンが形成されなくなる。
したがって、本発明の目的は板状物表面の塵埃を有効に
除去できるエアブロ−機構を提供することにある。
また本発明の目的は露光装置等に適用した場合、は正確
なパターンの露光を行なうことのできる露光装置を提供
することにある。
このような目的を達成するために本発明は、被処理物に
エアブローを施し、かつ、その時、hい上った塵埃を再
び降下させることなく排気口により吸い取るものであっ
て、以下実施例により本発明を具体的に説明する。
第1図および第2図に本発明を適用した露光装置の一実
施例を示す。これらの図では露光装置のカラスグレート
ホルダ、ガラスグレート移送機構およびガラスプレート
収容用カートリッジを示す。
第1図の左側にはガラスプレート1を保持するホルダ2
が示され、このホルダ2の上方にはホルダ2に保持され
るカラスグレート1にパターンを露光する光学系3が示
されている。また、同図の右側にはガラスプレート1を
収容するカートリッジ4と、このカートリッジ4を支持
する支持機構5が示されている。また、この支持機s5
と前記ホルダ2との間にはガラスプレート1を搬送する
移送機構6が配設されている。ま1こ、この移送機構6
のホルダ2側上面にはブロー機構7が配設されつぎに、
これらの各機構について詳しく説明する。前言eカート
リッジ4は一側面(図中左側面)が開口され、多数の棚
8を有する箱となっている。
前記側8にはガラスプレート1の移動方向に沿う方向に
4条の噴射孔9群が設けられている。これらの噴射孔9
群は第2図に示すように、両側にそれぞれ2東ずつ設け
られ、内側の2灸の噴射孔9群はガラスプレート1をカ
ートリッジ4から送り出すように左上がりに傾斜した孔
(搬送用(ローダ用)エアートランスシュータ)となっ
ている。
また、外側の2条の噴射孔9はカラスプレートlをカー
トリッジ4内に送り込むように右上がりに傾斜し1こ孔
(搬送用(アンローダ用)エアートランスシュータ)と
なっている。ま1こ、−条の噴射孔9群は互いに連通し
、この連通孔lOはそれぞれカートリッジ40両側面に
開口している。ま1こ、支持機構5のカートリッジ載置
部両側には、前記開口し1こ連通孔10に一致する空気
供給管11がそれぞれ2本ずつ設けられている。したが
って、一方の供給管11から空気を連通孔10に送り込
み、搬送用(ローダ用)トランスシュータの噴射孔群か
らエアーを噴き出させることによって、棚8上のガラス
プレー+−1は棚8上に浮いた状態でカートリッジ4か
ら送り出され、隣りの移送機構6のガイドテーブル12
上に移る。また、ガイドテーブル12上をカートリッジ
方向に移動して来るガラスプレート1は他方の空気供給
管11から連通孔10内に空気を送り込む操作によって
、搬送用(アンローダ用)エアートランスシュータの噴
射孔群の流れに乗り代えてカートリッジ4内に搬入され
る。さらに、一枚のガラスプレート1の搬出、処理、搬
入が終了すると、支持機構5は一般上昇又は下降して、
新たなガラスプレート1を前記同様の操作(手順)によ
って搬出、搬入するようになっている。
前記移送機構6におけるガラスプレート1の移送は前記
カートリッジ4における棚8のエアートランスシュータ
機構と同様である。すなわち、ガイドテーブル12上に
も移送方向に沿って4東の噴射孔13群が設けられ、そ
れぞれの噴射孔13群へは空気供給管14および連通孔
15を介して空気が供給噴射されるようになっている。
これらの噴射孔13群は内側2条がローダ用、外側2条
がアンローダ用となっている。
前記ブロー機構7はガラスプレート1の移動方向に直交
する方向に沼って延びろスリットノズル16と、このス
リットノズル16から噴き出された空気を上方に吸引す
る排気孔(塵埃収納ダクト)17とを有するブロ一本体
18からなっている。
また、このブロ一本体18の下面とガイドテーブル12
との間隔はガラスプレート1が通過するに充分であり、
かつ必要以上広くならないように決定されている。換言
するならば、スリットノズル16かも吹き出される空気
が勢いよくガラステーブル12に噴き付けられる程度の
間隔となっている。また、前記スリットノズル16はガ
ラスプレート10幅よりも広く形成されているとともに
、ガラスプレート1のローディング方向にエアーが流れ
ないように、ローディング方向に逆らう流れとなるよう
に吹き出される。すなわち、これは、露光が施こされる
ホルダ側に塵埃が飛散しないように第1図中スリットノ
ズル16は左上から右下に向かって吹き出される。この
傾斜は噴射空気の圧力(速度)等によって決定すればよ
い(たとえば10度〜80度)。この決定の因子は、ガ
ラスプレー)1に吹き伺けた空気がブロ一本体18の下
面からガラスグレート1のローディング方向(ホルダ方
向)に流れないことと、スリットノズル16から吹き付
けられる空気流によってガラスグレート1の移動が停止
し1こり極端に遅くならないようにすることにある。ま
た、ブロ一本体18の排気孔17は図示しない真空ポン
プ(排気ポンプ)に連通され、常にガラスプレート1上
に舞い上がった空気や塵埃を排気するようになっている
ま1こ、ブロ一本体18の下面周縁にはエアー洩れ防止
にラビリンス19が設けられて(・る。
前記ガイドテーブル12の外れにはガラスプレート2を
保持するホルダ2が位置している。このホルダ2はガイ
ドテーブル12と同一面を成す移送テーブル部20と、
この移送テーブル部20の上方に設けられた矩形枠から
なるホルダ21と、前記ホルダ部21と移送テーブル部
20とを一体的に連結する連結部22とからなっている
。また、前記移送テーブル20にも移動方向に沿って4
条の噴射孔23が設けられ、それぞれの噴射孔23群へ
は空気供給管24および連通孔25を介して空気が供給
噴射されるようになっている。これらの噴射孔23群は
内側2灸がローダ用、外側2条がアンローダ用となって
いる。また、前記ホルダ部210枠状下面には周面に沼
って吸着孔26が設けられている。これら吸着孔26は
ホルダ部21内で連通孔27に繋がっている。また、こ
の連通孔27は導管28を介して図示しない真空ポンプ
に連通される。したがって、真空ポンプの作動によって
、ガラスプレート1はホルダ部21下面に真空吸着保持
される。また、保持の状態では、ガラスプレート10周
縁部がホルダ部21に密着する。そして、この保持の状
態ではガラスプレート1上面にピントのあった像が結ば
れるようになっている。
つぎに、露光作業について説明する。カートリッジ4の
棚8かも送り出されたガラスプレート1は移送機構6上
を浮いた状態で移動し、ホルダ2の移送テーブル20上
に達し、真空ポンプの作動による吸着孔26の吸着作用
でホルダ部21下面に保持される。ここで、全てのロー
ダ用エアートランスシーータを停止させる。ところで移
送機構上を移動するガラスプレート1はブロー機構7に
よってその上面感光面の塵埃を吹き飛ばされ清浄化され
る。したがって、ホルダ2に達し1こガラスプレート1
の上面には麟埃は存在しなくなる。そこで、露光した後
、ガラスプレート1の真空吸着保持を停止した後、各ア
ンロー°ダ用エアートランスシュークを作動させ、ガラ
スプレート1を移送機構6上に移動させてカートリッジ
4内に収容させる。その後、各ローダ用エアートランス
シュータを停止させるとともに、支持機構5を一段上昇
又は下降させ、新1こなガラスプレート1を供給する用
意をする。
また、この実施例によれば、搬送の最終段階でガラスプ
レート上面全域は清浄化されるので、仮りに上面感光面
に耐着している塵埃も除去される。
したがって、正確な露光ができることから歩留を向上さ
せることができる。たとえば、エアーブロー機構使用前
の露光装置は、塵埃サイズ10μmφ以上の欠陥密度が
0.7個/閤2であったのに対し、エアーブロー機構使
用後には欠陥密度は0.1個/漂2以下となった。
なお、本発明は前記実施例に限定されな(・。すなわち
、ガラスプレートを搬送する機構は必ずしもエアートラ
ンスシュータでなくともよい。まTこ清浄化用のノズル
は円形ノズルを並べる構造でもよい。さらに、この処理
装置は被露光物としてガラスプレートに限定されない。
以上のように、本発明の処理装置によれば、たとえば被
露光物の表面感光面を清浄化しTこ後に所定のパターン
を露光することから、欠陥のない正確な感光パターンを
形成することができる。したがって、マスク製造の歩留
およびこれらのマスクを用いて製造する半導体回路素子
の歩留を向上させることができる。
以上本発明の実施例においては主にマスク露光装置に適
用した場合について説明したが、本発明はそれに限定さ
れることなく、ウェーハのフォトレジスト関係工程その
他に適用できることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の処理装置の一実施例による主としてガ
ラスプレート移送機構部を示す一部断面図、第2図は同
じくガラスプレートを収容するカートリッジおよびガラ
スプレート搬送路の一部を示す一部断面平面図である。 1・・・ガラスプレート、2・・・ホルダ、3・・・光
学系、4・・・カー) IJッジ、5・・・支持機構、
6・・・移送機構、7・・・ブロー機構、8・・・棚、
9・・・噴射孔、10・・・連通孔、11・・・空気供
給管、12・・・ガイドテーブル、13・・・噴射孔、
14・・・空気供給管、15・・・連通孔。 16・・・スリットノズル、17・・・排気孔、18・
・・ブロ一本体、19・・・ラビリンス、20・・・移
送テーブル、21・・・ホルダ部、22・・・連結部、
23・・・噴射孔、24・・・空気供給管、25・・・
連通孔、26・・・吸着孔、27・・・連通孔、28・
・・導管。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、  (a)  その直下にある被処理体に気体を吹
    き付ける噴射口 (b)  上記噴射口に近接して設けられた吹き付けら
    れた気体を排気するための排気口 (c)  上記噴射口の直下を被処理体を搬送するため
    の搬送機構 よりなる板状物エアブロ−機構。
JP58184983A 1983-10-05 1983-10-05 板状物エアブロ−機構 Pending JPS5990854A (ja)

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ID=16162742

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6292642U (ja) * 1985-11-29 1987-06-13
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