JPS59743A - Ecc回路診断方式 - Google Patents
Ecc回路診断方式Info
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- JPS59743A JPS59743A JP57110404A JP11040482A JPS59743A JP S59743 A JPS59743 A JP S59743A JP 57110404 A JP57110404 A JP 57110404A JP 11040482 A JP11040482 A JP 11040482A JP S59743 A JPS59743 A JP S59743A
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- G06F11/2215—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test error correction or detection circuits
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- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
〔発明の技術分野〕
本発明はメモリのエラーチェック&コレクション(誤り
検出、誤り訂正)機能いわゆるECC機能を有するBC
C回路の診噺を行なうBCC回路診断方式に関する◎ 〔発明の技術的背景〕 一般にこの種のBCC回路はl]cci能のほかにEC
Cのためのチェックピッ)Cを発生する機能を有してい
る・従来、このチェックビットCは第1図1−示される
ようCニメモリデータの1語(全語)に対して付加され
ていた口この例では1語は64ピツト構成で、チェック
ビットCは8ビツト構成である。メモリリードアクセス
の場合、メモリコントローラ10の制御(二よってメモ
リアレイIIから統み出された1語64ピツトのメモリ
データと8ビツトのチェックヒ゛ットCはメモリコント
ローラノoに設けられているFCC回路12に入力され
る。BCC回路12はこれら入力情軸6二基づいて周知
のFCC動作を行ない、64ビツトの正しいメモリデー
タを出力するーメモリコントローラ10は1語のメモリ
リードアクセスであれはECC回路12から出力される
64ビツトのメモリデータをその牙まシス゛テムバヌ1
3≦二送出し、 ]722語半語) 、 1/4語また
は1/8 (1バイト)のメモリリードアクセスであれ
は該当するデータビット位置のメモリデータをシステム
バス13のあらかじめ定められているゾーン位置(二送
出するDシステムパス13上のデータはCP [114
゜または入出力m器(以上、 l/(Jと称する)15
゜16などC二転送される、 一方、メモリライトアクセスの場合1例えば1 語(6
4ビツト)書き込みであれば、gcc回路回路上2ステ
ムバス13を介して転送される1語の畳キ込みデータζ
二対してチェックビットCを生成する。この書き込みデ
ータおよびチェックビットCはメモリコントローラlo
の制御C二よりメモリアレイ111−書き込まれる0こ
れに対し1例えば1/2語(32ビツト)書き込みであ
れは、メモリコントローラ10の制御によりメモリアレ
イ11の対応するアドレス位置から1語のメモリゲータ
とチェックビットCが続み出される。次に読み出しデー
タである1語のメモリデータの1/2語とシステムバス
13を介して転送された】72語の書き込みデータとが
合成され、1語の書き込みデータとしてFCC回路12
1−与えられる。16 CC回路I2はこの合成後の1
語の書き込みデータに対してチェックピッ)Cを生成す
る0以後の動作は1語書き込みの場合と同じである口
検出、誤り訂正)機能いわゆるECC機能を有するBC
C回路の診噺を行なうBCC回路診断方式に関する◎ 〔発明の技術的背景〕 一般にこの種のBCC回路はl]cci能のほかにEC
Cのためのチェックピッ)Cを発生する機能を有してい
る・従来、このチェックビットCは第1図1−示される
ようCニメモリデータの1語(全語)に対して付加され
ていた口この例では1語は64ピツト構成で、チェック
ビットCは8ビツト構成である。メモリリードアクセス
の場合、メモリコントローラ10の制御(二よってメモ
リアレイIIから統み出された1語64ピツトのメモリ
データと8ビツトのチェックヒ゛ットCはメモリコント
ローラノoに設けられているFCC回路12に入力され
る。BCC回路12はこれら入力情軸6二基づいて周知
のFCC動作を行ない、64ビツトの正しいメモリデー
タを出力するーメモリコントローラ10は1語のメモリ
リードアクセスであれはECC回路12から出力される
64ビツトのメモリデータをその牙まシス゛テムバヌ1
3≦二送出し、 ]722語半語) 、 1/4語また
は1/8 (1バイト)のメモリリードアクセスであれ
は該当するデータビット位置のメモリデータをシステム
バス13のあらかじめ定められているゾーン位置(二送
出するDシステムパス13上のデータはCP [114
゜または入出力m器(以上、 l/(Jと称する)15
゜16などC二転送される、 一方、メモリライトアクセスの場合1例えば1 語(6
4ビツト)書き込みであれば、gcc回路回路上2ステ
ムバス13を介して転送される1語の畳キ込みデータζ
二対してチェックビットCを生成する。この書き込みデ
ータおよびチェックビットCはメモリコントローラlo
の制御C二よりメモリアレイ111−書き込まれる0こ
れに対し1例えば1/2語(32ビツト)書き込みであ
れは、メモリコントローラ10の制御によりメモリアレ
イ11の対応するアドレス位置から1語のメモリゲータ
とチェックビットCが続み出される。次に読み出しデー
タである1語のメモリデータの1/2語とシステムバス
13を介して転送された】72語の書き込みデータとが
合成され、1語の書き込みデータとしてFCC回路12
1−与えられる。16 CC回路I2はこの合成後の1
語の書き込みデータに対してチェックピッ)Cを生成す
る0以後の動作は1語書き込みの場合と同じである口
このようC?; U C回路を備えたシステムでは、メ
モリリードアクセス時(二、ECC回路のICC機能(
二より正しいメモリデータを転送することができるよう
響二なっている。しかし従来のシステムでは、E、CC
回路自身に故障が発生した場合、読み出しゲータのエラ
ーが検出されなくなるため、誤すデータがUP[Jなど
i二転送されル欠点カあった。また、メモリライトアク
セス時において、1語書き込みでない場合には、1語の
書き込みデータとするためC二、いったんメモリアレイ
をメモリ北−ドアクセス/シて1語のメモリデータを続
み出さなければならず、アクセス時間が長くなる欠点も
あった。 〔発明の目的〕 本発明は上記事情C二区みてなされたものでその目的は
、]/in語のメモリアグセヌ時I’ニーECC回路の
診断が行なえ、もってエラー分解能が同上するE CC
回路診断方式を提供すること(二ある。 本発明の他の目的は、]/m語のメモリライト7’)セ
ス+:際し、当該アクセスC二先立って1語のメモリリ
ードアクセスを行なうことが不要となり、性能同上が図
れるト】e c回路診断方式を提供することC二ある◎ 〔発明の概要〕 本発明では、従来のよう121語のメモリデータに対し
てチェックビットを付加するのではな(、l/n (n
は211上の整数)語のメモリデータ単位でチェックピ
ッチを付加するようにしている・そこで本発明では、1
/n語のメモリデータ単位でチェックビットが付加され
たn個のメモリアレイと、これら各メモリアレイ≦二対
応するn台のECC回路とを設けるようにしている。 このような横取、とした場合、 1/in (mはm≧
nを満足する整数)語のメモリアクセスであれは。 n台のsee回路のうちECC動作が必要となる回路は
1台だけであるが1本発明では残りのIBCCECC回
路共通の1/nMQtl二対する+4 CC動作を行な
わせるようにしている。上記メモリアクセスがメモリリ
ードであれは、n台のIIcU回路
モリリードアクセス時(二、ECC回路のICC機能(
二より正しいメモリデータを転送することができるよう
響二なっている。しかし従来のシステムでは、E、CC
回路自身に故障が発生した場合、読み出しゲータのエラ
ーが検出されなくなるため、誤すデータがUP[Jなど
i二転送されル欠点カあった。また、メモリライトアク
セス時において、1語書き込みでない場合には、1語の
書き込みデータとするためC二、いったんメモリアレイ
をメモリ北−ドアクセス/シて1語のメモリデータを続
み出さなければならず、アクセス時間が長くなる欠点も
あった。 〔発明の目的〕 本発明は上記事情C二区みてなされたものでその目的は
、]/in語のメモリアグセヌ時I’ニーECC回路の
診断が行なえ、もってエラー分解能が同上するE CC
回路診断方式を提供すること(二ある。 本発明の他の目的は、]/m語のメモリライト7’)セ
ス+:際し、当該アクセスC二先立って1語のメモリリ
ードアクセスを行なうことが不要となり、性能同上が図
れるト】e c回路診断方式を提供することC二ある◎ 〔発明の概要〕 本発明では、従来のよう121語のメモリデータに対し
てチェックビットを付加するのではな(、l/n (n
は211上の整数)語のメモリデータ単位でチェックピ
ッチを付加するようにしている・そこで本発明では、1
/n語のメモリデータ単位でチェックビットが付加され
たn個のメモリアレイと、これら各メモリアレイ≦二対
応するn台のECC回路とを設けるようにしている。 このような横取、とした場合、 1/in (mはm≧
nを満足する整数)語のメモリアクセスであれは。 n台のsee回路のうちECC動作が必要となる回路は
1台だけであるが1本発明では残りのIBCCECC回
路共通の1/nMQtl二対する+4 CC動作を行な
わせるようにしている。上記メモリアクセスがメモリリ
ードであれは、n台のIIcU回路
【16個のメモリア
レイの一つから鞍み出された共通のl/n語C二対して
診断、修正(誤り検出、誤り訂正)を行なう。もしn台
のI(CC回路が全て正常であれは、各ECC回路の誤
り検出結果は同一となる鴬は1“である0したかつて比
較部により各KCC回路の動作結果1例えば誤り検出結
果を比較することにより1; CC回路の診断が行なえ
る。 〔発明の実施例〕 以下1本発明の一実施例を図[kiを参照して説明する
。なお、第1図と同一部分には同一符号を付して詳細な
説明を省略する。第2図のシステムパスおいて20はメ
モリ装置であり、1語が例えば64ピツトのメモリデー
タが扱われる◎21.22はメモリ装置20を構1成す
るメモリアレイである。メモリアレイ21は1語64ビ
ツトのメモリデータのうち上位の半語(1/24%)す
なわちビット0〜ピツト31の32ビツトを記憶するの
に用いられ、メモリアレイ22は同じく下位の半語(]
722語すなわちビット32〜ビツト63を記憶するの
に用いられる。すなわち本実施例はn = 2の場合で
ある。メモリアレイ21.22には半5ハのメモリデー
タのほかに。 当該半語のメモリデータのチェックピッl(7ビツト)
が付加されて記憶される。 30はメモリコントローラである。メモリコントローラ
30はメモリ装置20とシステムパス13との間に設け
られ、メモリ装置20≦二対1−るメモリアクセス制御
を行なう031 * 32はメモリコントローラ30に
内蔵されているECC回路であるo B CC(ロ)路
31.32はメモリアレイ21.22.システムパス1
3のデータゾーンのビット0〜ビヅト31.ビット0〜
ピツトタ31−それぞれ対応して設けられている。EC
C回路:l I + 32はチェックビットCの生成、
誤り検出、誤りiJ正の1・ICC動作機能を自してい
る。p;cc開回路? I 、 、、? 2の動作制御
はメモリコントローラ、?θg二J二って行なわれる。 33は比較部(以下、COMPと称する)である、 C
(J M P 、v 、vはECC回路、? 7 、3
2の各WCC動作結果(生成されたチェックピッ)C1
誤り検出結果である1ビツトエラーの有無やマルチビッ
トエラーの有無を示す信号)を比較し、一致/不一致を
検出イーる。 次に本発明の一実施例の動作を説明する。メモリコント
ローラ、?0はCPU l 4或いは1/(J15.1
6からのメモリアクセス要求に応じてメモリアゲ−ビス
制御を行なう。今、この要求が1語のメモリデータを読
み出す1語(全語)読み出し要求であるものとする。し
かし、てメモリコントローラ30の制御により、メモリ
アレイ2ノから対応する1語(64ピツト)の上位の半
語(ビット0〜ビヅト31の32ビツト)および当該半
語に付加されたチェックピッ)C(7ビツト)が読み出
される◎同様gニメモリアレイ22から上記対1.らす
る1語の下位の半語(ビット32〜ビツト63の32ビ
ツト)および当該半語≦二付加されたチェックピッM;
(7ビツト)が読み出される。メモリ装置20(のメモ
リアレイ21)から読み出された上位の半語およびその
チェックピッ) C(、Q 9ビツト)はFCC回路3
ノ(二人力され、同じくメモリ装置20(のメモリアレ
イ22)から読み出された下位の半語およびそのチェッ
クピッ)C(39ピツト)はト】cc回路32C二人力
される。、ECC回路、? 1 、32はこれら入力さ
れた半語およびそのチェックピッ)C1二基づいて誤り
検出を行ない、必要があれば誤り訂正を行ない、それぞ
れ正しい上位の半語(32ビツト)、下位の半語(32
ビツト)を出力する0メモリコントローラ30はBCC
回路31から出力される上位の半語をシステムパス13
のデータゾーンのビット0〜ピツト31のゾーンに送出
する一方。 BCC回路32から出力される下位の半語をシステムパ
ス13のデータゾーンのビット32〜ビツト63のゾー
ンに送出する。したがって1語読み出しの場合の動作は
、1語を処理対象とする1台のICCを備えた従来シス
テムとほぼ等しい01語読み出しの場合、l(CC回路
;? 7 、.92の処理対象となる半語は異なるため
、COMP33の比較結果は無視されるよう1m、なっ
ている。また、にIJMP、? 、?の動作を禁止して
もよい。 次に1語のメモリデータのうちの上位の半語の読み出し
の場合の動作を説明する0メそりコントローラ30は半
語読み出しの場合(二も(従来例のメモリコントローラ
10と同様C二)1語Wみ出しを行なう0これ(二より
、メモリコントローラ30
レイの一つから鞍み出された共通のl/n語C二対して
診断、修正(誤り検出、誤り訂正)を行なう。もしn台
のI(CC回路が全て正常であれは、各ECC回路の誤
り検出結果は同一となる鴬は1“である0したかつて比
較部により各KCC回路の動作結果1例えば誤り検出結
果を比較することにより1; CC回路の診断が行なえ
る。 〔発明の実施例〕 以下1本発明の一実施例を図[kiを参照して説明する
。なお、第1図と同一部分には同一符号を付して詳細な
説明を省略する。第2図のシステムパスおいて20はメ
モリ装置であり、1語が例えば64ピツトのメモリデー
タが扱われる◎21.22はメモリ装置20を構1成す
るメモリアレイである。メモリアレイ21は1語64ビ
ツトのメモリデータのうち上位の半語(1/24%)す
なわちビット0〜ピツト31の32ビツトを記憶するの
に用いられ、メモリアレイ22は同じく下位の半語(]
722語すなわちビット32〜ビツト63を記憶するの
に用いられる。すなわち本実施例はn = 2の場合で
ある。メモリアレイ21.22には半5ハのメモリデー
タのほかに。 当該半語のメモリデータのチェックピッl(7ビツト)
が付加されて記憶される。 30はメモリコントローラである。メモリコントローラ
30はメモリ装置20とシステムパス13との間に設け
られ、メモリ装置20≦二対1−るメモリアクセス制御
を行なう031 * 32はメモリコントローラ30に
内蔵されているECC回路であるo B CC(ロ)路
31.32はメモリアレイ21.22.システムパス1
3のデータゾーンのビット0〜ビヅト31.ビット0〜
ピツトタ31−それぞれ対応して設けられている。EC
C回路:l I + 32はチェックビットCの生成、
誤り検出、誤りiJ正の1・ICC動作機能を自してい
る。p;cc開回路? I 、 、、? 2の動作制御
はメモリコントローラ、?θg二J二って行なわれる。 33は比較部(以下、COMPと称する)である、 C
(J M P 、v 、vはECC回路、? 7 、3
2の各WCC動作結果(生成されたチェックピッ)C1
誤り検出結果である1ビツトエラーの有無やマルチビッ
トエラーの有無を示す信号)を比較し、一致/不一致を
検出イーる。 次に本発明の一実施例の動作を説明する。メモリコント
ローラ、?0はCPU l 4或いは1/(J15.1
6からのメモリアクセス要求に応じてメモリアゲ−ビス
制御を行なう。今、この要求が1語のメモリデータを読
み出す1語(全語)読み出し要求であるものとする。し
かし、てメモリコントローラ30の制御により、メモリ
アレイ2ノから対応する1語(64ピツト)の上位の半
語(ビット0〜ビヅト31の32ビツト)および当該半
語に付加されたチェックピッ)C(7ビツト)が読み出
される◎同様gニメモリアレイ22から上記対1.らす
る1語の下位の半語(ビット32〜ビツト63の32ビ
ツト)および当該半語≦二付加されたチェックピッM;
(7ビツト)が読み出される。メモリ装置20(のメモ
リアレイ21)から読み出された上位の半語およびその
チェックピッ) C(、Q 9ビツト)はFCC回路3
ノ(二人力され、同じくメモリ装置20(のメモリアレ
イ22)から読み出された下位の半語およびそのチェッ
クピッ)C(39ピツト)はト】cc回路32C二人力
される。、ECC回路、? 1 、32はこれら入力さ
れた半語およびそのチェックピッ)C1二基づいて誤り
検出を行ない、必要があれば誤り訂正を行ない、それぞ
れ正しい上位の半語(32ビツト)、下位の半語(32
ビツト)を出力する0メモリコントローラ30はBCC
回路31から出力される上位の半語をシステムパス13
のデータゾーンのビット0〜ピツト31のゾーンに送出
する一方。 BCC回路32から出力される下位の半語をシステムパ
ス13のデータゾーンのビット32〜ビツト63のゾー
ンに送出する。したがって1語読み出しの場合の動作は
、1語を処理対象とする1台のICCを備えた従来シス
テムとほぼ等しい01語読み出しの場合、l(CC回路
;? 7 、.92の処理対象となる半語は異なるため
、COMP33の比較結果は無視されるよう1m、なっ
ている。また、にIJMP、? 、?の動作を禁止して
もよい。 次に1語のメモリデータのうちの上位の半語の読み出し
の場合の動作を説明する0メそりコントローラ30は半
語読み出しの場合(二も(従来例のメモリコントローラ
10と同様C二)1語Wみ出しを行なう0これ(二より
、メモリコントローラ30
【二は、メモリアレイ21か
ら読み出された所望の上位半語およびそのチェックビッ
トCと、メモリアレイ22から読み出された不所望の下
位半語およびそのチェックビットCとが入力される。 ところで、1語が64ビツトのメモリデータが扱われる
システムでは、一般に1語(全語)アクセスのほかに1
/2語(半語)アクセス、1/4藷アクセス、 1/8
語アクセスができるように構成されている。そして、1
/2語、1/4語。 または1/8語のメモリデータがシステムパスの64ビ
ツトのデータゾーンCLおいて往来するゾーン位置はそ
れぞれ一義的(1決まっているのが一般的である◎この
ため、1台のECC回路を有する従来のメモリコントロ
ーラは、1語(全語)読み出しでない場合でも1語読み
出しを行ない、この1語g二対してI(CCN路を動作
させ。 ECC回路から出力される1語から所望のビット位置の
1/2語 1/4語、または1/8語を選択してシステ
ムパスの所定のゾーン位置c二送出するいわゆるゾーン
コントロール機能を有している。第3図はこのゾーンコ
ントロール≦二ついて上位半語の読み出しを例≦二とっ
て示したものである・すなわち、メモリ装置より読み出
された1語64ピツトの(誤り訂正後の)メモリデータ
から第3図の斜線部aで示される所望の上位半語(ビッ
ト0〜どット31の32ピツト)がメモリコントローラ
CLよって選択される。そして、この選択された上位半
語はシステムパスの64ビツトのデータゾーンの下位3
2ビツトのゾーンすなわち第3図の斜線部すで示される
ビット32〜ビツト63のゾーンCL送出される◎した
がって、システムパス13のデータゾーンのビット0〜
ピツト31 に対しLでKCC回路31が設けられ、同
じくビット32〜ピット63C一対応してECC1路3
2が設けられている本実施例では、半語読み出しの場合
、F;CC回路・92を動作させ、Rice回路32の
出力(半語のメモリデータ)をシステムパス13のデー
タゾーンのビット31〜ビツト63の位置C二送出する
必要があることは容易C二理解されよう◎このとき、E
CC回路31はアイドル状態ζ二あっても何ら間軸ない
が1本実施例は上位の半語読み出し≦二おいてアイドル
状態にあってもよいECC回路3ノをも動作させ、ト;
c’c回路37132の自己診断を行なおうとするもの
である。 メモリコントローラ3oに入力された(メモリアレイ2
1の出力である)所望の上位半語およびそのチェックビ
ットCは、メモリコントローラ30の制御により600
回路、? 7 、32の両回路C二人力される。これに
対し、(メモリアレイ22の出力である)不所望の下位
半語およびそのチェックピッ)CはECC回路3ノは勿
論Ifl C(:回路32への入力も禁止される。これ
は、上位の半語よたは下位の半語のいずれが一方を選択
してECC回路32に導くセレクタを設けることg二よ
って容易に実現できる。なお。 第2図では、セレクタは省略されている。メモリコント
ローラ3oはECC回路32は勿論。 本来アイドル状態CLあってよいEccl!l!、l路
31をも動作させる。これ5二よりKCC回路3i。 32は同一データである上記上位の半語およびチェック
ピッ)Cに基づいて誤り検出を行なう。 ECC回路31 、32は誤り検出の結果として1ピツ
トエラーの有無、マルチビットエラーの有無を示す信号
を出力する。 C(JMP33はこれらECC回路37
、、? 2から出力される信号を比較し、一致/不一
致を検出する。この場合。 ECC回路37 、 、? 2は上述のように同一デー
タに基づいて誤り検出を行なっており、したがって60
0回路、? l 、 3;!が共に正常であれは。 C(JMP33は一致検出を行なうはずである0すなわ
ち、 CL)MP331mよって一致検出がなされれば
、ECC回路37 、.92は共に正常であり。 CUMP 33によって不一致検出がなされればECC
回路、97 、 、? ;!のいずれかが故障であると
診断できる。ECC回路:411 、? 2は誤り検出
の結果、誤り訂正が可能であれは誤りビットを訂正し、
正しい半語の読み出しデータとして出力する・メモリコ
ントローラ3oはFACC回路32から出力される半語
の読み出しデータをシステムパス13の64ビツトのデ
ータゾーンのビット32〜ビツト63のゾーン位置冨二
送出する0これ(一対し、ECC回路3)から出力され
る半語の読み出しデータのシステムパス13におけるピ
ットO〜ピット3Jのゾーン位置への送出は行なわれな
い。これは、半語読み出しのために従来のメモリコント
ローラが有していた機能、すなわちメモリ装置から全語
(1語)を読み出し、この全語(実際f二は)j U
CN路から出力される全語)から所定のポジション(上
位の半語読み出しであればピッ)0〜ピツト31゜下位
の半語読み出しであれはビット32〜ビツト63)の半
語を選択してシステムパスにおけるビット32〜ビツト
63のゾーン位置C二送出するゾーンコントロール機能
を利用して簡単に実現できる。 ところで、ECC回路31 、.92の診断は上位の半
語読み出しの場合C二限らず、メモリアレイ21内のメ
モリデータだけが読み出しの対象となっていれば1/4
語読み出しや1/8語読み出しの場合でも行なえること
は明らかである。この場合、メモリコントローラ30は
F、CC回路S2から出力される上位の半語の中から所
定のポジションの]74語または1/8語を選択し。 1/4語読み出しであればシステムパス13のデータゾ
ーンのビット48〜ビツト63 、]/8 語読み出し
であれば同じくビット56〜ビツト63のゾーン位置C
二送出すること3−なる0次に、メモリアクセス要求が
上位半語の!き込みである場合の動作を説すする。この
場合、上位半語が格納されるメモリアレイ214=対応
したECCM路3ノを動作させてチェックビットCを生
成させ、このチェックピッ)Cが付加された半語なメモ
リアレイ21に導く必要があることは容易g二理解され
よう◎このと、a、geeCC回路32イドル状態にあ
っても何ら問題ないが、木実施例は上位の半語書き込み
Cおいて本来アイドル状態ロニあってもよいECC回路
32をも動作させ、8CC回路31 、.92の自己診
断を行なおうとするものである◎ システムパス13のデータゾーンのビット、32〜ビツ
ト63のゾーン位置を介してメモリみ コントローラ、’40に転送される書き込グデータとし
ての上位半語は、 ト】CC回路、? 1 、32の両
回路に入力される。メモリコントローラ30は14 C
C回路、v 7は勿論、本来アイドル状態C二ありても
よい−JN CCn路32をも動作させるにれにより1
3 CC回路、91 、 、? 2は同一データである
上記半語C二対するチェックピッ)Cを生成するn C
(JMP、? 、qはこれらIらCC回路31゜32で
生成されるチェックビットCを比較し。 一致/不一致を検出する。明らかなように一致していれ
ばECC回路37 、3 ;!は正常であり。 不一致であればい寸れかが故障と診断される。 KCC回路、? 7 、32はチェックビットCを生H
−rると、当該チェックビットCを上記半語6二付加し
て出力する0メそりコントローラ30はECC回路3)
から出力されるチェックビットCが付加された半語をメ
モリアレイ21の指定アドレス位置に書き込む。これ5
二対し、ECC回路32の出力を書き込む動作は行なわ
れない。 この説明から明らかなようC二本実施例C−よれば。 上位半語の書き込み時+二Fr CC回路、11.32
の診断が行なえ、しかも従来例のように、いったん全語
(1語)読み出しを行ない、書き込むべき半語と金砂、
し、て全語の嘗き込みを行なう複雑な手順を不要とする
こζができ、1回のメモリアクセスで済′0′0なお、
下位半語の書き込みC二対しても119]のメモリアク
セスで済むことは明らかである〇 ところで前記実施例では、データ読み出し時のBee回
路、? 7 、32の診断は、メモリアレイ2I内のメ
モリデータだけが続み出しの対象となっている場合に行
なわれるものとして説明したが、メモリアレイ22内の
メモリデータだけが読み出しの対象となっている場合f
二も応用すること力)できる◎ただし、このためC二は
、メモリアレイ21から読み出μれる上旬半語とそのチ
ェックビット、またはメモリアレイ22から読み出され
る下位半語とそのチェックビットのいずれか一万を選択
してECC回路31に導く手段を設け、メモリアレイ2
2内のメモリデータだけが読み出しの対象となっている
場合(二後者を選択゛するよう(二する必91+〜ある
。 また、iiJ記実施例ではメモリ装置が半語のメモリデ
ータ?格納する2個のメモリアレイから構成さJt ”
Cいる場合について説明し、だが1例えば]/′4語の
メモリデータな格納する4個のメモリアレイやIA語の
メモリデータな格納する8個のメモリアレイで構成され
ていてもよい。この場合には、1000回路を4絵、8
台とする必要がある◎なお1本発明では書き込み時の[
C回路診断機能は必ずし、も必要でない。 〔発明の効果〕 以上詳述したようC二本発明のI(CC回路診断方式に
よ第1.ば、]/in語のメモリアクセス時にF、CC
回路の診断が行なえるので、エラー分解能が同上する。 また1本発明i二よれは、 l/in語のメモリライト
アクセスに際し、当該アクセス(二先立って1語のメモ
リリードアクセスを行なう必要がな(なるので性能が同
上する0′
ら読み出された所望の上位半語およびそのチェックビッ
トCと、メモリアレイ22から読み出された不所望の下
位半語およびそのチェックビットCとが入力される。 ところで、1語が64ビツトのメモリデータが扱われる
システムでは、一般に1語(全語)アクセスのほかに1
/2語(半語)アクセス、1/4藷アクセス、 1/8
語アクセスができるように構成されている。そして、1
/2語、1/4語。 または1/8語のメモリデータがシステムパスの64ビ
ツトのデータゾーンCLおいて往来するゾーン位置はそ
れぞれ一義的(1決まっているのが一般的である◎この
ため、1台のECC回路を有する従来のメモリコントロ
ーラは、1語(全語)読み出しでない場合でも1語読み
出しを行ない、この1語g二対してI(CCN路を動作
させ。 ECC回路から出力される1語から所望のビット位置の
1/2語 1/4語、または1/8語を選択してシステ
ムパスの所定のゾーン位置c二送出するいわゆるゾーン
コントロール機能を有している。第3図はこのゾーンコ
ントロール≦二ついて上位半語の読み出しを例≦二とっ
て示したものである・すなわち、メモリ装置より読み出
された1語64ピツトの(誤り訂正後の)メモリデータ
から第3図の斜線部aで示される所望の上位半語(ビッ
ト0〜どット31の32ピツト)がメモリコントローラ
CLよって選択される。そして、この選択された上位半
語はシステムパスの64ビツトのデータゾーンの下位3
2ビツトのゾーンすなわち第3図の斜線部すで示される
ビット32〜ビツト63のゾーンCL送出される◎した
がって、システムパス13のデータゾーンのビット0〜
ピツト31 に対しLでKCC回路31が設けられ、同
じくビット32〜ピット63C一対応してECC1路3
2が設けられている本実施例では、半語読み出しの場合
、F;CC回路・92を動作させ、Rice回路32の
出力(半語のメモリデータ)をシステムパス13のデー
タゾーンのビット31〜ビツト63の位置C二送出する
必要があることは容易C二理解されよう◎このとき、E
CC回路31はアイドル状態ζ二あっても何ら間軸ない
が1本実施例は上位の半語読み出し≦二おいてアイドル
状態にあってもよいECC回路3ノをも動作させ、ト;
c’c回路37132の自己診断を行なおうとするもの
である。 メモリコントローラ3oに入力された(メモリアレイ2
1の出力である)所望の上位半語およびそのチェックビ
ットCは、メモリコントローラ30の制御により600
回路、? 7 、32の両回路C二人力される。これに
対し、(メモリアレイ22の出力である)不所望の下位
半語およびそのチェックピッ)CはECC回路3ノは勿
論Ifl C(:回路32への入力も禁止される。これ
は、上位の半語よたは下位の半語のいずれが一方を選択
してECC回路32に導くセレクタを設けることg二よ
って容易に実現できる。なお。 第2図では、セレクタは省略されている。メモリコント
ローラ3oはECC回路32は勿論。 本来アイドル状態CLあってよいEccl!l!、l路
31をも動作させる。これ5二よりKCC回路3i。 32は同一データである上記上位の半語およびチェック
ピッ)Cに基づいて誤り検出を行なう。 ECC回路31 、32は誤り検出の結果として1ピツ
トエラーの有無、マルチビットエラーの有無を示す信号
を出力する。 C(JMP33はこれらECC回路37
、、? 2から出力される信号を比較し、一致/不一
致を検出する。この場合。 ECC回路37 、 、? 2は上述のように同一デー
タに基づいて誤り検出を行なっており、したがって60
0回路、? l 、 3;!が共に正常であれは。 C(JMP33は一致検出を行なうはずである0すなわ
ち、 CL)MP331mよって一致検出がなされれば
、ECC回路37 、.92は共に正常であり。 CUMP 33によって不一致検出がなされればECC
回路、97 、 、? ;!のいずれかが故障であると
診断できる。ECC回路:411 、? 2は誤り検出
の結果、誤り訂正が可能であれは誤りビットを訂正し、
正しい半語の読み出しデータとして出力する・メモリコ
ントローラ3oはFACC回路32から出力される半語
の読み出しデータをシステムパス13の64ビツトのデ
ータゾーンのビット32〜ビツト63のゾーン位置冨二
送出する0これ(一対し、ECC回路3)から出力され
る半語の読み出しデータのシステムパス13におけるピ
ットO〜ピット3Jのゾーン位置への送出は行なわれな
い。これは、半語読み出しのために従来のメモリコント
ローラが有していた機能、すなわちメモリ装置から全語
(1語)を読み出し、この全語(実際f二は)j U
CN路から出力される全語)から所定のポジション(上
位の半語読み出しであればピッ)0〜ピツト31゜下位
の半語読み出しであれはビット32〜ビツト63)の半
語を選択してシステムパスにおけるビット32〜ビツト
63のゾーン位置C二送出するゾーンコントロール機能
を利用して簡単に実現できる。 ところで、ECC回路31 、.92の診断は上位の半
語読み出しの場合C二限らず、メモリアレイ21内のメ
モリデータだけが読み出しの対象となっていれば1/4
語読み出しや1/8語読み出しの場合でも行なえること
は明らかである。この場合、メモリコントローラ30は
F、CC回路S2から出力される上位の半語の中から所
定のポジションの]74語または1/8語を選択し。 1/4語読み出しであればシステムパス13のデータゾ
ーンのビット48〜ビツト63 、]/8 語読み出し
であれば同じくビット56〜ビツト63のゾーン位置C
二送出すること3−なる0次に、メモリアクセス要求が
上位半語の!き込みである場合の動作を説すする。この
場合、上位半語が格納されるメモリアレイ214=対応
したECCM路3ノを動作させてチェックビットCを生
成させ、このチェックピッ)Cが付加された半語なメモ
リアレイ21に導く必要があることは容易g二理解され
よう◎このと、a、geeCC回路32イドル状態にあ
っても何ら問題ないが、木実施例は上位の半語書き込み
Cおいて本来アイドル状態ロニあってもよいECC回路
32をも動作させ、8CC回路31 、.92の自己診
断を行なおうとするものである◎ システムパス13のデータゾーンのビット、32〜ビツ
ト63のゾーン位置を介してメモリみ コントローラ、’40に転送される書き込グデータとし
ての上位半語は、 ト】CC回路、? 1 、32の両
回路に入力される。メモリコントローラ30は14 C
C回路、v 7は勿論、本来アイドル状態C二ありても
よい−JN CCn路32をも動作させるにれにより1
3 CC回路、91 、 、? 2は同一データである
上記半語C二対するチェックピッ)Cを生成するn C
(JMP、? 、qはこれらIらCC回路31゜32で
生成されるチェックビットCを比較し。 一致/不一致を検出する。明らかなように一致していれ
ばECC回路37 、3 ;!は正常であり。 不一致であればい寸れかが故障と診断される。 KCC回路、? 7 、32はチェックビットCを生H
−rると、当該チェックビットCを上記半語6二付加し
て出力する0メそりコントローラ30はECC回路3)
から出力されるチェックビットCが付加された半語をメ
モリアレイ21の指定アドレス位置に書き込む。これ5
二対し、ECC回路32の出力を書き込む動作は行なわ
れない。 この説明から明らかなようC二本実施例C−よれば。 上位半語の書き込み時+二Fr CC回路、11.32
の診断が行なえ、しかも従来例のように、いったん全語
(1語)読み出しを行ない、書き込むべき半語と金砂、
し、て全語の嘗き込みを行なう複雑な手順を不要とする
こζができ、1回のメモリアクセスで済′0′0なお、
下位半語の書き込みC二対しても119]のメモリアク
セスで済むことは明らかである〇 ところで前記実施例では、データ読み出し時のBee回
路、? 7 、32の診断は、メモリアレイ2I内のメ
モリデータだけが続み出しの対象となっている場合に行
なわれるものとして説明したが、メモリアレイ22内の
メモリデータだけが読み出しの対象となっている場合f
二も応用すること力)できる◎ただし、このためC二は
、メモリアレイ21から読み出μれる上旬半語とそのチ
ェックビット、またはメモリアレイ22から読み出され
る下位半語とそのチェックビットのいずれか一万を選択
してECC回路31に導く手段を設け、メモリアレイ2
2内のメモリデータだけが読み出しの対象となっている
場合(二後者を選択゛するよう(二する必91+〜ある
。 また、iiJ記実施例ではメモリ装置が半語のメモリデ
ータ?格納する2個のメモリアレイから構成さJt ”
Cいる場合について説明し、だが1例えば]/′4語の
メモリデータな格納する4個のメモリアレイやIA語の
メモリデータな格納する8個のメモリアレイで構成され
ていてもよい。この場合には、1000回路を4絵、8
台とする必要がある◎なお1本発明では書き込み時の[
C回路診断機能は必ずし、も必要でない。 〔発明の効果〕 以上詳述したようC二本発明のI(CC回路診断方式に
よ第1.ば、]/in語のメモリアクセス時にF、CC
回路の診断が行なえるので、エラー分解能が同上する。 また1本発明i二よれは、 l/in語のメモリライト
アクセスに際し、当該アクセス(二先立って1語のメモ
リリードアクセスを行なう必要がな(なるので性能が同
上する0′
?4−′J1図は従来例を示すブロック図、第2図は本
発明の一実施例を示すブロック肉、第3(9)は上位の
半語−(二対するゾーンコントロールを説明するための
図である、 lυ、30・・・メモリコントローラ、/ l l ;
’I。 22・・・メモリアレイ、12.31.32・・・1す
C3 C回路、13システムバヌ、##・・・比較部(C(J
M)’ )r+ 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 第3図 鼻
発明の一実施例を示すブロック肉、第3(9)は上位の
半語−(二対するゾーンコントロールを説明するための
図である、 lυ、30・・・メモリコントローラ、/ l l ;
’I。 22・・・メモリアレイ、12.31.32・・・1す
C3 C回路、13システムバヌ、##・・・比較部(C(J
M)’ )r+ 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 第3図 鼻
Claims (1)
- ]/n (nは2以上の整数)語単位でチェックビット
が付加されたn個のメモリアレイからなるメモリ装置と
、これら各メモリアレイC二対応して設けられたn台の
ECC回路と、 1/lo (ただしmはm≧nを満足
する整数)語のメモリアクセス時において対象どなる1
台のECC回路以外の800回路にも共通のl/n 悟
C対するFCC動作を行なわしめる手段と、これらn台
の800回路のEee動作結果を比較する比較部とを具
備し、1/m語のメモリアクセス時に上記比較部の比較
結果C二基づいて上記HCC回路の診断を行なうことを
特徴とするIflCC回路診断方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57110404A JPS59743A (ja) | 1982-06-26 | 1982-06-26 | Ecc回路診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57110404A JPS59743A (ja) | 1982-06-26 | 1982-06-26 | Ecc回路診断方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59743A true JPS59743A (ja) | 1984-01-05 |
JPH045213B2 JPH045213B2 (ja) | 1992-01-30 |
Family
ID=14534931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57110404A Granted JPS59743A (ja) | 1982-06-26 | 1982-06-26 | Ecc回路診断方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59743A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62500758A (ja) * | 1985-07-01 | 1987-03-26 | バロ−ス・コ−ポレ−シヨン | チツプ動作の自動自己診断を伴うicチツプの誤り検出訂正装置及びその方法 |
JPS6296744U (ja) * | 1985-12-05 | 1987-06-20 | ||
JPH01188953A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-07-28 | Tandem Comput Inc | 障害の許容範囲があるデータ保全装置及びその方法 |
US5321550A (en) * | 1989-02-09 | 1994-06-14 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical system of optical information recording/reproducing apparatus |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5298434A (en) * | 1976-02-14 | 1977-08-18 | Hitachi Ltd | Correction for memory error |
-
1982
- 1982-06-26 JP JP57110404A patent/JPS59743A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5298434A (en) * | 1976-02-14 | 1977-08-18 | Hitachi Ltd | Correction for memory error |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62500758A (ja) * | 1985-07-01 | 1987-03-26 | バロ−ス・コ−ポレ−シヨン | チツプ動作の自動自己診断を伴うicチツプの誤り検出訂正装置及びその方法 |
JPS6296744U (ja) * | 1985-12-05 | 1987-06-20 | ||
JPH01188953A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-07-28 | Tandem Comput Inc | 障害の許容範囲があるデータ保全装置及びその方法 |
US5321550A (en) * | 1989-02-09 | 1994-06-14 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical system of optical information recording/reproducing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH045213B2 (ja) | 1992-01-30 |
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