JPS5921499B2 - ガラスビン底部の欠陥検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はガラスビンの検査装置に関するもので、特にガ
ラスビンの底部の欠陥を検査する装置に関するものであ
る。

ガラスビンの底部には、ガラス成形工程中において、種
々の欠陥が生ずることがある。

これらの欠陥を分類すれば微細なシワ、キズ、内部突起
、異物付着、異物混入などとなる。シワはガラスピンの
外観を損ね、キズは強度を低下させ、内部突起、異物付
着、異物混入などは内容物を汚染する恐れがあるから、
このような欠階を有するガラスビンは製ビン工場から出
荷される前に除去しておく必要がある。ガラスビンを自
動的に検査する装置は古くから実用化されており、検査
すべき欠陥の種類に応じて各種の検査機が使用されてい
る。

しかしながらガラスビン底部の検査機は比較的種類も少
なく、しかも検査可能な欠陥の種類が限定されているた
め完全に自動的な検査をすることができず、自動検査を
補う意味で検査員による目視検査が必要とされている現
状にある。目視検査の一般的な方法はガラスビンを乳白
色のプラスチック板の下側に蛍光灯のような光源を設け
てガラスビンの底部を下から照明し、このガラスビンを
検査員が土から覗き込むようにして検査を行なう方法で
ある。

この方法は不透明な異物の混入等の欠陥については確実
な検査が行なえるが、微細なワレや透明な異物、内部突
起等の欠陥については十分なコントラストが得られず、
完全な検査を行なうことは困難であつた。またこの方法
では検査員は常に照明光線を目に受けているため疲れが
早く、この点からも検査精度が低下する結果となり勝ち
であつた。本発明は上記の如き従来技術の欠点を解決す
るためになされたものであり、その目的とするところは
ガラスビンの底部に生ずることのある各種の欠陥を自動
的に検査しラる装置を提供することである。

そしてこの目的を達成するためになされた本発明の要旨
は、検査位置でビン底部を通して光線が透過可能な状態
にビンを支持する手段と、支持されたピンの口部の上方
に位置する光電変換手段と、ピン底部の下方に位置し光
電変換手段の視野よりも大きい面積を有する暗色板と、
光電変換手段の視野の外側からピン底部を照明する光線
と、光電変換手段の出力信号の変化によりピン底部の欠
陥の有無を判別する処理回路とから成ることを特徴とす
るガラスピン底部の欠陥検査装置に存する。以下に本発
明の実施例に従つて更に詳細に説明する。

図面はいずれも本発明の実施例を示すもので、第１図は
平面図、第２図は要部の中央縦断面図である。

この実施例では光電変換手段としてテレビカメラが使用
されている。第１図において、検査されるべきガラスピ
ン１はコンベア２によつて図の左から右へ向つて送られ
、ウオームホイール３により一定ピッチに揃えられた後
スターホイール４のポケツト５へ１本ずつ供給される。

スターホィール４は反時計方向に間歇的に回転し検査位
置６へピン１を移送する。第２図に検査位置の断面図が
示されている。検査位置には、ピン１の直径よりもやや
小さい径の孔７を持つ平板８があつて、ピン１はスター
ホイール４によつてこの孔７の上に支持される。従つて
、ピン底部を通して光線が透過可能な状態にピン１は支
持されることとなる。この時ピン１の外側はガイドレー
ル９により位置決めされている。検査位置には、上記の
ように支持されたピン１の口部の上方にテレピカメラ１
０が設けられていて、ピン１の底部を撮影している。テ
レビカメラ１０はなるべくピン１の口部に近づけるのが
よい。その方が映像が大きくなり、検出精度が向上する
からである。図示の場合にはテレビカメラ１０の有効視
野はレンズの有効径と、ピン１を支持している平板８の
孔７の径とによつて定まり、これを細線により示した。
Ｌ方、平板８の下方には、，照明ボツクス１１があり、
その中には暗色板１２と光源１３とが納められている。

暗色板１２は図示のようにテレビカメラ１０及び平板８
の孔１の直下にあり、テレピカメラの有効視野を完全に
カバーしうる大きさを持つ。この暗色板１２はテレビカ
メラ１０がピン１の底部を撮影した際、黒く映るように
するためのものであるから反射率がなるべく小さいこと
が好ましく、ツヤ消しの黒色板が最も好ましい。この暗
色板１２の周囲には光源１３が配置されており、ピン１
の底部をテレビカメラの視野の外側から照明する。実施
例においては円形の螢光灯を使用した。検査位置６には
以上の各装置が設けられており、スターホイール４によ
つて移送されてきたピン１の底部を撮影する。

ピン１の底部に欠陥のない場合には、ピン１の底部は光
線をそのまま透過させるので、テレビカメラ１０は暗色
板１２を映すこととなり映像は暗いままである。ところ
がもしピン底部に微細なシワやキズがあれば、それによ
つて光線は屈折あるいは反射されるので、テレビカメラ
１０の視野の外側からピン底部を照明している光線が、
これらのシワやキズによつて屈折あるいは反射されてテ
レビカメラの視野に入ることとなる。この結果暗い映像
中に、欠陥のある部分のみが鮮やかなコントラストで光
り映像信号に明確な変動を与える。また、ピン底部に内
部突起や透明な異物がある場合にも、やはりその部分で
光線の屈折が生ずるので映像信号に明確な変動を与える
。ピン底部に不透明な異物が付着している場合には、他
の欠陥に比較するとコントラストがやや得にくいものの
、出願人会社における実際の検査においては不透明な異
物についてもほぼ完全な検出が可能であることが証明さ
れている。不透明な異物とは言え、暗色板１２とはほと
んどの場合明度の差があるからである。上記のようにピ
ン底部のあらゆる欠陥に対してテレビカメラ１０の映像
信号は明確に変動するので、この映像信号の変化を公知
の処理回路に導き、欠陥の有無を判別せしめる。

検査を終えたピン１はスターホイール４によつてコンベ
ア１４上へ送られ、不良と判定されたピンだけが周知の
排除手段１５によつて不良ピン投入口１６へ落とされる
。この実施例では検査位置６においてピンを支持する手
段として有孔平板８を使用したが、このかわりに透明平
板を使用しても差しつかえない。しかし透明平板の表明
に傷が付くと検査精度が低下するので硬度の大きいもの
を使用する等の注意が必要である。また、この実施例で
は光電変換手段としてテレビカメラを使用したのでピン
底部を＝度に視野に収めることができ、検査位置でピン
を回転させる必要がないのでハンドリング機構が簡素化
できた。

しかし光電変換手段は必ずしもテレビカメラに限定され
るものではなく、光電素子等の他の手段を用いてもよい
。この場合にはテレビカメラに比較して視野がせまくな
るのでピンを検査位置で回転させることが必要となる。
本発明は以上に説明したように、検査位置でピン底部を
通して光線が透過可能な状態にピンを支持する手段と、
支持されたピンの口部の上方に位置する光電変換手段と
、ピン底部の下方に位置し光電変換手段の視野をカバー
しうる面積を有する暗色板と、光電変換手段の視野の外
側からピン底部を照明する光源とを有するので、欠陥の
あるピンが検査位置へ来た場合には光電変換手段の視野
の外側にある光源からの光線が欠陥によつて屈折あるい
は反射されて光電変換手段の視野に入る。

その結果暗い背景中に欠陥部のみが鮮やかなコントラス
トで白く浮び上り、光電変換手段の出力信号中に明確な
不良信号が得られる。本発明によれば従来は検出しにく
かつた種類の欠陥をも確実に検出することが可能となり
、ガラスピン底部の検査を完全に自動化することが可能
となつた。勿論、必要に応じてモニター用のテレビ受像
機等を設けることにより、倹査員による目視倹査を同時
に行なうことも可能である。本発明は広ロピンに対して
特に有効であるが細ロピンの検査にも応用できることは
言うまでもない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例の平面図、第２図はその要部の
中央縦断面図である。 １・・・ガラスピン、７・・・孔、８・・・平板、１０
・・・テレビカメラ（光電変換手段》１２・・・暗色板
、１３・・・光源。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 光源の位置、被検査物の位置、光電変換手段の位置
   が略直線方向にある検査機において、検査機において、
   検査位置で、ビン底部を通して光線が透過可能な状態に
   ビンを支持する手段と、支持されたビンの口部の上方に
   位置する光電変換手段と、ビン底部の下方に位置し光電
   変換手段の視野をカバーしうる面積を有する暗色板と、
   光電変換手段の視野の外側からビン底部を照明する光源
   と、光電変換手段の出力信号の変化によりビン底部の欠
   陥の有無を判別する処理回路とから成ることを特徴とす
   るガラスビン底部の欠陥検査装置。 ２ ビンを支持する手段が有孔平板であることを特徴と
   する特許請求の範囲第１項記載のガラスビン底部の欠陥
   検査装置。 ３ ビンを支持する手段が透明平板であることを特徴と
   する特許請求の範囲第１項記載のガラスビン底部の欠陥
   検査装置。