JPS59118776A - 1,6−ジヒドロ−1,2,4−トリアジン−5(4h)−オン誘導体、その製造法およびそれを有効成分とする除草剤 - Google Patents

1,6−ジヒドロ−1,2,4−トリアジン−5(4h)−オン誘導体、その製造法およびそれを有効成分とする除草剤

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JPS59118776A
JPS59118776A JP23128782A JP23128782A JPS59118776A JP S59118776 A JPS59118776 A JP S59118776A JP 23128782 A JP23128782 A JP 23128782A JP 23128782 A JP23128782 A JP 23128782A JP S59118776 A JPS59118776 A JP S59118776A
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lower alkyl
alkyl group
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hydrogen atom
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JP23128782A
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Masato Mizutani
理人 水谷
Makoto Sato
良 佐藤
Minoru Sanemitsu
実光 穣
Shunichi Hashimoto
俊一 橋本
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Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、一般式 〔式中、kは低級アルキル基またはシクロアルキル基を
表わし、kエ は水素原子、低級アルキル基、低級アル
ケニル基、低級アルキニル基、一般式 (ここで、R5,R6は同一または相異なシ、水素原子
、低級アルキル基、ハロゲン原子またはハロアルキル基
を表わし、R7は低級アルキル基を表わす。)で示され
る基を表わし、R2は低級アルキル基または低級アルケ
ニル基を表わし、R3は水素原子、低級アルキル基、低
級アルケニル基または一般式−C−R8曾1 (ここで、R8は低級アルキル基を表わす。)(ここで
、R8,Rloは同一または相異なシ、水素原子、低級
アルキル基またはフェニル基を表わす。)で示される基
を表わす。〕で示される1、6−シヒドロー1.2.4
−トリアジン−5(4H)−オン誘導体(以下、本発明
化合物と記す。)、その製造法およびそれを有効成分と
する除草剤に関するものである。 本発明化合物は畑地の茎葉処理および土壌処理において
、問題となる種々の雑草、例えば、ソバカズラ、サナエ
タデ、スベリヒエ、ハコベ、シロザ、アオビユ(チオゲ
イトゥ)、ダイコン、ノハラガラシ、ナズナ、アメリカ
ッノクサネム、エビスグサ、イチビ、アメリカキンゴジ
力、フィールドパンジー、メラニンジン、アメリカアサ
ガオ、マルバアサガオ、セイヨウヒルガオ、ヒメオドリ
コソウ、ホトケノザ、ヨウシュチョウセンアサガオ、イ
ヌホオズキ、オオイヌノ7グリ、7ラサバソウ、オナモ
ミ、ヒマワリ、イヌカミツレ、コーンマリーゴールド等
の広葉雑草、ヒエ、イヌビエ、エノコログサ、メヒシバ
、スズメノカタビラ、ブラックグラス、エンバク、カラ
スムキ、セイバンモロコシ、シバムギ、ウマノチャヒキ
等のイネ科雑草およびツユクサ等のツユクサ科雑草、コ
ゴメガヤッリ、ハマスゲ等のカヤツリグサ科雑草等に対
して除草効力を有し、しかもい(つかの本発明化合物は
トウモロコシ、コムギ、イネ、ダイズ、ワタ等の主要作
物に対して問題となるような薬害を示さない。 また、本発明化合物は水田において問題となる種々の雑
草、例えば、タイヌビエ等のイネ科雑草、アゼナ、キカ
シグサ、ミゾハコベ等の広葉雑草、タマガヤツリ、ホタ
ルイ、マツバイ、ミズガヤツリ等のカヤツリグサ科雑草
、コナギ、ヘラオモダカ等の水田雑草に対して除草効力
を有している。 本発明化合物は水田、畑地、果樹園、牧草地、芝生地、
森林あるいは非農耕地の除草剤の有効成分として用いる
ことができる。 本発明化合物の一般式 〔式中、KおよびR2は前記と同じ意味を表わす。〕 で示される4−アミノ−1,6−シヒドロー1.2.4
−)リアジン−5(4H)−オン誘導体は一般式 〔式中、kは前記と同じ意味を表わす。〕で示される3
−チオ−4−アミノ−1,6−シヒドロー1.2.4−
)リアジン−3,5(2H,4H)−ジオン誘導体と一
般式 R2X        [:IV] 〔式中、k2は前記と同じ意味を表わし、Xはハロゲン
原子を表わす。〕 で示されるハライドとを水中、脱ハロゲン化水素剤の存
在下、0℃〜50℃、0゜5時間〜20時間反応させる
ことによって製造することができる。 反応に供される試剤の量は、3−チオ−4−アミノ−1
,6−シヒドロー1.2.4−トリアジン−3,5(2
H,4H)−ジオン誘導体〔■〕1当量に対して、ハラ
イド〔■〕1〜1.5当量、脱ハロゲン死水素剤1〜1
.2当量である。 脱ハロゲン化水素剤には水酸化ナトリウム、水酸化カリ
ウム等の無機塩基がある。 反応終了後は、通常の後処理を行い、必要ならば、クロ
マトグラフィー、再結晶等によって精製する。 本発明化合物の一般式 〔式中、R、′R2,R3およびR4は前記と同じ意味
を表わし、kよ、は低級アルキル基、低級アルケニル基
、低級アルキニル基、一般式%式% (ここで、R5,R6およびR7は前記と同じ意味を表
わす。)で示される基を表わす。〕で示される1、6−
シヒドロー1.2.4−)リアジン−5(4H)−オン
誘導体は一般式〔式中、R、R2,R3およびに4  
は前記と同じ意味を表わす。〕 で示される1 、6−シヒドロー1.2.4−)リアジ
ン−5(4H)−オン誘導体と一般式%式% 〔式中、R工、は前記と同じ意味を表わし、Yはハロゲ
ン原子を表わす。〕 で示されるハライドとを溶媒中、脱ハロゲン化水素剤の
存在下または非存在下、−20℃〜150℃、0.5時
間〜30時間反応させることによって製造することがで
きる。 反応に供される試剤の量は、1,6−シヒドロー1.2
.4−)リアジン−5(4H)−オン誘導体〔■〕1当
量に対して、ハライド〔■〕1〜1.5当量、脱ハロゲ
ン死水素剤1〜1.5当量である。 溶媒には、ヘキサン、ヘプタン、リグロイン、石油エー
テル等の脂肪族炭化水素類、ベンゼン、トルエン、キシ
レン等の芳香族炭化水素類、クロロホルム、四塩化炭素
、ジクロロエタン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン
等のハロゲン化炭化水素類、ジエチルエーテル、ジイン
プロピルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロ7ラン、
ジエチレンクリコールメジメチルエーテル等のエーテル
類、アセトン、メチルエチルケトンクロヘキサノン等の
ケトン類、メタノール、エタノール、イソプロパツール
 t−ブタノール、オクタツール、シクロヘキサノール
、メチルセロソルフ、ジエチレンゲルコール、グリセリ
ン等のアルコール類、蟻酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブ
チル、炭酸ジエチル等のエステル類、ニトロエタン、ニ
トロベンゼン等のニトロ化物、アセトニトリル、インブ
チロニトリル等のニトリル類、ピリジン、トリエチルア
ミン、  。 ージエチルアニリン、トリブチルアミン、N−メチルモ
ルホリン等の第三級アミン類、ホルムアミド、N,N−
ジメチルホルムアミド、アセトアミド、ヘキサメチルホ
スホロアミド等の酸アミド類、ジメチルスルホキシド、
スルホラン等の硫黄化合物、水等あるいは、それらの混
合物がある。 脱ハロゲン化水素剤には、ピリジン、トリエチルアミン
 N、N−ジエチルアニリン等の有機塩基、水酸化ナト
リウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウ
ム、水素化ナトリウム等の無機塩基、ナトリウムメトキ
シド、ナトリウムエトキシド等のアルカリ金属アルコキ
シド、n−ブチルリチウム、5ec−ブチルリチウム、
メチルマグネシウムヨーシト等のアルキル金属等がある
。 反応終了後は、通常の後処理を行い、必要ならば、クロ
マトグラフィー、蒸留、再結晶等(こよって精製する。 本発明化合物の一般式 〔式中、R,R工およびに2は前記と同じ意味を表わし
、k工、は低級アルキル基、低級アルケニル基または一
般式 −CR8(XI)I (ここで、k8は前記と同じ意味を表わす。)で示され
る基を表わす。〕 で示される1、6−シヒドロー1.2.4−トリアジン
−5(4H)−オン誘導体は一般式〔式中、R,R工お
よびに2は前記と同じ意味を表わす。〕 で示される4−アミノ−1,6−シヒドロー1゜2.4
−)リアジン−5(4H)−オン誘導体と一般式 %式%( 〔式中、kよ、は前記と同じ意味を表わし、2はハロゲ
ン原子を表わす。〕 で示されるハライドとを溶媒中、脱ハロゲン化水素剤の
存在下または非存在下、−40℃〜100℃、0゜5時
間〜30時間反応させることによって製造することがで
きる。 反応に供される試剤の量は、4−アミノ−1゜6−シヒ
ドロー1.2.4−)リアジン−5(4H)−オン誘導
体〔刈〕当量に対して、ハライド(XIn) 1〜1,
5当量、脱ハロゲン死水素剤1〜1.5当量である。 溶媒には、ヘキサン、ヘプタン、リグロイン、石油エー
テル等の脂肪族炭化水素類、ベンゼン、トルエン、キシ
レン等の芳香族炭化水素類、クロロホルム、四塩化炭素
、ジクロロエタン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン
等のハロゲン化炭化水素類、ジエチルエーテル、ジイソ
プロピルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロ7ラン、
ジエチレングリコールにジメチルエーテル等のエーテル
類、アセトン、メチルエチルケトン、メチルインブチル
ケトン、イソホロン、シクロヘキサノン等のケトン類、
メタノール、エタノール、インプロパツール、t−ブタ
ノール、オクタツール、シクロヘキサノール、メチルセ
ロソルソ、ジエチレンゲルコール、グリセリン等のアル
コール類、蟻酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、炭酸
ジエチル等のエステル類、ニトロエタン、ニトロベンゼ
ン等のニトロ化物、アセトニトリル、インブチロニトリ
ル等のニトリル類、ピリジン、トリエチルアミン、N、
N−ジエチルアニリン、トリブチルアミン、N−メチル
モルホリン等の第三級アミン類、ホルムアミド、N、N
−ジメチルホルムアミド、アセトアミド、ヘキサメチル
ホスホロアミド等の酸アミド類、ジメチルスルホキシド
、スルホラン等の硫黄化合物、水等あるいは、それらの
混合物がある。 脱ハロゲン化水素剤には、ピリジン、トリエチルアミン
、N、N−ジエチルアニリン等の有機塩基、水酸化ナト
リウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウ
ム、水素化ナトリウム等の無機塩基、ナトリウムメトキ
シド、ナトリウムエトキシド等のアルカリ金属アルコキ
シド、n−ブチルリチウム、5ec−ブチルリチラム、
メチルマグネシウムヨーシト等のアルキル金属等がある
。 反応終了後は、通常の後処理を行い、必要ならば、クロ
マトグラフィー、蒸留、再結晶等番こよって精製する。 本発明化合物の一般式 〔式中、R,R工、 R2,Roおよびに工。は前記と
同じ意味を表わす。〕 で示される1、6−シヒドロー1.2.4−1リアジン
−5(4H)−オン誘導体は一般式〔式中、R,R工お
よびR2は前記と同じ意味を表わす。〕 で示される4−アミノ−1,6−シヒドロー1.2.4
−1−リアジン−5(4H)−オン誘導体と一般式 〔式中、k、およびに10は前記と同じ意味を表わす。 〕 で示されるケトンとを溶媒の存在下または非存在下、お
よび酸の存在下または非存在下、0℃〜100℃、0゜
5時間〜20時間反応させることによって製造すること
ができる。 反応に供される試剤の量は、4−アミノ−1゜6−シヒ
ドロー1.2.4−トリアジン−5(4H・)−オン誘
導体(XV) 1当量に対してケト7 (XVI) 1
〜100当量、酸0.01〜0.1当!である。 溶媒には、ヘキサン、ヘプタン、リグロイン、石油エー
テル等の脂肪族炭化水素類、ベンゼン、トルエン、キシ
レン等の芳香族炭化水素類、クロロホルム、四塩化炭素
、ジクロロエタン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン
等のハロゲン化炭化水素類、ジエチルエーテル、ジイソ
プロピルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、
ジエチレングリコールタジメチルエーテル等のエーテル
類、メタノール、エタノール、インプロパツール、
【−
ブタノール、オクタツール、シクロヘキサノール、メチ
ルセロソルブ、ジエヂレングルコール、グリセリン等の
アルコール類、蟻酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、
炭酸ジエチル等のエステル類、ニトロエタン、÷トロベ
ンゼン等のニトロ化物、アセトニトリル、インブチロニ
トリル等のニトリル類、ホルムアミド、N、N−ジメチ
ルホルムアミド、アセトアミド等の酸アミド類、ジメチ
ルスルホキシド、スルホラン等の硫黄化合物等あるいは
、それらの混合物がある。 酸には、塩酸、硫酸、硝酸、蟻酸、酢酸、P−トルエン
スルホン酸等力アル。 反応終了後は、通常の後処理を行い、必要ならば、クロ
マトグラフィー、蒸留、再結晶等によって精製する。 次に本発明化合物の製造例を示す。 製造例1  (本発明化合物3の製造)3−チオ−4−
アミノ−6−【−ブチル−1,6−シヒドロー1.2.
4−トリアジン−3,5(2H,4H)−ジオン9゜4
4グ、水酸化ナトリウム2゜242と水120−を氷冷
下に混合し、この溶液にメチルヨーシト9.941を那
え、4時間攪拌した。生成した白色結晶を沖過し、結晶
は水100 mlで2回洗浄した。 エチルアルコールから再結晶して目的の3−メチルチオ
−4−アミノ−6−t−ブチル−1,6−シヒドロー1
.2.4−トリアジン−5(4H)−オンを8.982
得た。 (収率 88.9%) 製造例2  (本発明化合物32の製造)含量60チの
水素化ナトリウム66Ingとジメチルホルムアミド5
rnlの溶液に室温で3−メチルチオ−4−アミノ−6
−【−ブチルー1.6−シヒドロー1.2.4−)リア
ジン−5(4H)−オン324 W9をテトラヒドロ7
ラン10rnlに溶解した溶液を加え、30分間攪拌し
た。この溶液にベンジルプロミド257〜を加え、3時
間加熱還流した。室温まで冷却後IN塩酸5−を含む水
5o−に注ぎ、生成物は酢酸エチル100−で抽出した
。飽和食塩水1.0rnlで洗浄、無水硫酸ナトリウム
で乾燥後、酢酸エチルを減圧下に留去した濃縮残渣をn
−ヘキサン−酢酸エチル溶媒でシリカゲルクロマト精製
すると目的の1−ベンジル−3−メチルチオ−4−アミ
ノ−6−t−ブチル−1,6−シヒドロー1.2.4−
トリアジン−5(4H)−オンが270■白色結晶とし
て得られた。(収率 88.2%)製造例3  (本発
明化合物12の製造)3−メチルチオ−4−アミノ−6
−【−ブチル−1,6−シヒドロー1.2.4−)リア
ジン−5(4H)−オン216りとテトラヒドロフラン
10−の溶液を一20’Cに冷却し、この溶液にn−ブ
チルリチウム−ヘキサン溶液(1゜6M溶液)0゜69
−を加えた。−20℃で10分間攪拌した後、メチルヨ
ーシト213■を加えた。反応溶液は徐々に室温にもど
し、10時間攪拌を続けた。IN塩酸3−を含む水30
−に注ぎ、生成物は酢酸エチル6〇−で抽出した。飽和
食塩水10−で洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥後
、酢酸エチルを減圧下に留去した。濃縮残渣をn−ヘキ
サン−酢酸エチル溶媒でシリカゲルクロマト精製すると
目的の3−メチルチオ−4−メチルアミノ−6−【−ブ
チル−1,6−シヒドロー1.2.4−トリアジン−5
(4H)−オンが149■白色結晶として得られた。 (収率 64.8チ) 製造例4  (本発明化合物37の製造)1−ベンジル
−3−メチルチ、t−4−7ミノー6−【−ブチル−1
,6−シヒドロー1゜2.4−)リアジン−5(4H)
−オン306■、P−トルエンスルホン酸5■とアセト
ン10rnlを混合し、3時間加熱還流した。室温まで
冷却後、減圧下に過剰のアセトンを留去した。酢酸エチ
ル30−を加え、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液10−
1飽和食塩水1〇−で洗浄し、無水硫酸マグネシウムで
乾燥した。酢酸エチルを減圧下に留去すると、無色透明
な液体として目的の1−ベンジル−3−メチルチオ−4
ニイソプ口ピリデンアミノ−6−t−ブチル−1,6−
シヒドロー1,2゜4−トリアジン−5(4H)−オン
が332■得られた。(収率 95.6%) このような製造法によって製造できる本発明化合物のい
くつかを、第1表に示す。 本発明化合物を製造する場合、原料化合物である3−チ
オ−4−アミノ−1,6−シヒドロー1.2.4−トリ
アジン−3,5(2H,4H)−ジオン誘導体〔■〕は
一般式 〔式中、kは前記と同じ意味を表わす。〕で示される3
−チオ−4−アミノ−1,2,4−トリアジン−3,5
(2H,4H)−ジオン誘導体とナトリウムアマルガム
と・1を水中、アルカリ金属水酸化物の存在下または非
存在下、0℃〜50℃、0.5時間〜10時間反応させ
ることによって製造することができる。 反応に供される試剤の量は、3−チオ−4−して、ナト
リウムアマルガム1〜10当量、アルカリ金属水酸化物
1〜】。2当量である。 アルカリ金属水酸化物には、水酸化ナトリウム、水酸化
カリウム等がある。 反応終了後、通常の後処理を行い、必要ならば、クロマ
トグラフィー、再結晶等によって精製する。 尚、3−チオ−4−アミノ−1,2,4−ト(1973
年)明細書に記載されている公知化合物である。 次に、この3−チオ−4−アミノ−1,6−シヒドロー
1.’2.4−トリアジンー3,5(2Ht 4 H)
−ジオン誘導体の製造例を示す。 製造例5 3−チオ−4−アミノ−6−【−ブチル−1,2,4−
1−リアジン−3,5(2H,4H)−ジオン18.0
3F、水酸化ナトリウム3.61と水80rnlの溶液
を水冷下に冷却し、5チナトリウムアマルガム150P
を5回に分け、1時間を要して徐々に加えた。更に1時
間攪拌した後、生成した不溶物を沖過して除去した。r
液を再び水冷下に冷却し、酢酸で中和すると白色沈澱が
生成した。この沈澱を枦取し、水100−で洗浄した。 エチルアルコールから再結晶して、目的の3−チオ−4
−アミノ−1,6−シヒドロー1.2.4−)リアジン
−3,5(2H,4)()−ジオン誘導体を14゜55
 F得た。(収率 79゜9%)m、P、  185゜
6℃ このような製造法によって製造できる3−チオ−4−ア
ミノ−1,6−シヒドロー1,2゜4−トリアジン−3
,5(2H,4H)−ジオン誘導体(III)のいくつ
かを、第2表に示す。 第  2  表 本発明化合物を除草剤の有効成分として用いる場合は、
通常固体担体、液体担体、界面活性剤その他の製剤用補
助剤と混合して、乳剤、水和剤、懸濁剤、粒剤等に製剤
する。 これらの製剤には有効成分として本発明化合物を1重量
比で0.1〜90%、好ましくは1〜80%含有する。 固体担体には、カオリンクレー、アッタパルジャイトク
レー、ベントナイト、酸性白土、パイロフィライト、タ
ルク、珪藻土、方解石、クルミ粉、尿素、硫酸アンモニ
ウム、合成含水酸化珪素等の微粉末あるいは粒状物があ
シ、液体担体には、キシレン、メチルナフタレン等の芳
香族炭化水素類、インプロパツール、エチレンクリコー
ル、セロソルブ等のアルコール類、アセトン、シクロヘ
キサノン、イソホロン等のケトン類、大豆油、綿実油等
の植物油、ジメチルスルホキシド、アセトニトリル、水
等がある。 乳化、分散、湿層等のために用いられる界面活性剤には
、アルキル硫酸エステル塩、アルキル(アリール)スル
ホン酸塩、ジアルキルスルホコハク酸塩、ポリオキシエ
チレンアルキルアリールエーテルリン酸エステル塩等の
陰イオン界面活性剤、ポリオキシエチレンアルキルエー
テル、ポリオキシエチレンアルキルアリールエーテル、
ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポ
リマー、ソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレ
ンンルビタン脂肪酸エステル等の非イオン界面活性剤等
がある。 製剤用補助剤には、リグニンスルホン酸塩、アルギン酸
塩、ポリビニルアルコール、アラビアガム、CM、C(
カルボキシメチルセルロース)、PAP(酸性リン酸イ
ン鴬ビル)等がある。 次に製剤例を示す。なお、本発明化合物は第1表の化合
物番号で示す。部は重量部を示す。 製剤例1 本発明化合物12.50部、リグニンスルホン酸カルシ
ウム3部、ラウリル硫酸ナトリウム2部および合成含水
酸化珪素45部をよく粉砕混合して水和剤を得る。 製剤例2 本発明化合物31.10部、ポリオキシエチレンスチリ
ルフェニルエーテル14部、ドデシルベンゼンスルホン
酸カルシウム6部、キシレン30部およびイソホロン4
0部をよく混合して乳剤を得る。 製剤例3 本発明化合物15.2部、合成含水酸化珪素1 部、 
リグニンスルホン酸カルシウム2部、ヘントナイト30
部およびカオリンクレー65部をよく粉砕混合し、水を
加えてよく練シ合せた後、造粒乾燥して粒剤を得る。 製剤例4 本発明化合物3.25部、ポリオキシエチレンソルビタ
ンモノオレエート3部、0M03部、水69部を混合し
、粒度が5ミクロン以下になるまで湿式粉砕して懸濁剤
を得る。 これらの製剤は、そのままであるいは水で希釈して、土
壌処理、茎葉処理または湛水処理をする。尚、土壌処理
には、土壌表面処理、土壌混和処理等が含まれ、茎葉処
理には、作物と雑草の上方から散布する方法の他に、薬
剤が作物に付着しないように限定指向して散布する方法
(局部処理)等が含まれる。 また、他の除草剤と混合して用いることによシ、除草効
力の増強を期待できる。さらに、殺虫剤、“殺ダニ剤、
殺線虫剤、殺菌剤、植物生長調節剤、肥料、土壌改良剤
等と混合して用いることもできる。 本発明化合物を除草剤の有効成分として用いる場合、そ
の施用量は、通常1アールあたり0.5y〜200グ、
好ましくは、19〜50グであシ、乳剤、水和剤、懸濁
剤等は、(必要ならば、展着剤等の散布補助剤を添加し
た)水で希釈、1アールあたシ1リットル〜10リット
ルの割合で施用し、粒剤等は、なんら希釈することなく
そのまま施用する。 展着剤には、前記の界面活性剤のほか、ポリオキシエチ
レン樹脂酸(エステル)、リグニンスルホン酸塩、アビ
エチン酸塩、ジナフチルメタンジスルホン酸塩、パラフ
ィン等がある。 次に、本発明化合物が除草剤の有効成分として有用であ
ることを試験例で示す。なお、本発明化合物は、第1表
の化合物番号で示し、比較対照に用いた化合物は第3表
の化合物記号で示す。 第3表 また、雑草および作物に対する除草効力は、調査時の供
試植物の発芽および生育阻害の程度を肉眼観察し、化合
物を供試していない場合と全くないしほとんど゛違いが
ないものを「0」とし、供試植物が枯死ないし生育が完
全に阻害されているものを「5」として、0〜5の6段
階に評価し、0.1.2.3.4.5で示す。 試験例1  畑地土壌混和処理試験 直径10cm、深さIonの円筒型プラスチックポット
に畑地土壌を詰め、ヒエ、エンバク、アメリカツノクサ
ネム、イチビを播種し、覆土した。製剤例2に準じて供
試化合物を乳剤にし、その所定量を水で希釈し、1アー
ルあたり10リツトル散布の割合で、小型噴霧器にて土
壌表面に散布した後、深さ4備までの土壌表層部分をよ
く混和した。散布後20日間温室内で育成し、除草効力
を調査した。 その結果を第4表に示す。 第4表 試験例3 水田土壌処理試験 直径8L3、深さ12nの円筒型プラスチックポットに
水田土壌を詰め、タイヌビエ、広葉雑草(アゼナ、キカ
シグサ、ミゾハコベ)、ホタルイの種子を1〜201の
深さに混ぜ込んだ。湛水して水田状態とした後、温室内
で育成した。6日後(各雑草の発生初期)に製剤例2に
準じて供試化合物を乳剤にし、その所定量を水で希釈し
、1ボツトあたシ5ミリリットルの割合で水面に滴下し
た。滴下後20日間温室内で育成し、除草効力を調査し
た。 その結果を第6表に示す。 第  6  表 試験例4 畑地土壌処理試験 、 面積33X23o7、深さ113のバットに畑地上′壌
を詰め、ダイズ、ワタ、オナモミ、ヒマワタ、エビスグ
サ、イチビ、アメリカキンゴジカ、エノコログサ、メヒ
シバを播種し、1〜20の厚さに覆土した。製剤例2に
準じて供試化合物を乳剤にし、その所定量を水で希釈し
、1アールあたり10リツトル散布の割合で小型噴霧器
にて土壌表面に散布した。 散布後20日間温室内で育成し、除草効力を調査した。 その結果を第7表に示す。 試験例5  畑地土壌混和処理試験 面積33X23<2、深さ11c怨のバットに畑地土壌
を詰め、ハコベ、シロザ、オオイヌノフグリ、ソバカズ
ラを播種し、1〜21の厚さに覆土した。製剤例2に準
じて供試化合物を乳剤にし、その所定量を水で希釈し、
1アールあたシ10リットル散布の割合で、小型噴霧器
にて土壌表面に散布した後、深さ4011までの土壌表
層部分をよく混和した。さらに、コムギの種子を201
の深さに埋め込んだ。 散布後28日間温室内で育成し、除草効力を調査した。 その結果を第8表に示す。 \ 第  8  表 試験例6 畑地茎葉処理試験 面積33X23z2、深さ11c1にのハツトに畑地土
壌を詰め、ワタ、トウモロコシ、コムギ、アメリカツノ
クサネム、ヒマワリ、オナモミ、イチビ、アオビユ、ハ
コベ、オオイヌノフグリを播種し、18日間育成した。 その後、製剤例2に準じて供試化合物を乳剤にし、その
所定量を展着剤を含む水で希釈し、1アールあた!l1
5リットル散布の割合で′、小型噴霧器にて植物体の上
方から茎葉部全面に均一に散布した。このとき各植物の
生育は草種により異なるが、1〜4葉期で、草丈は2〜
120であった。散布20日後に除草効力を調査した。 その結果を第9表に示す。なお、本試験は、全期間を通
して温室内で行った。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  一般式 〔式中、kは低級アルキル基またはシクロアルキル基を
    表わし、Kエ は水素原子、低級アルキル基、低級アル
    ケニル基、低級アルキニル基を茫醤、一般式 (ここで、 R,、R6は巨ルーまたは相異なり、水素
    原子、低級アルキル基、ハロゲン原子またはハロアルキ
    ル基を表わし、R7は低級アルキル基を表わす。)で示
    される基を表わし、R2は低級アルキル基または低級ア
    ルケニル基を表わし、R3は水素原子、低級アルキル、
    基、低級アルケニル基またはυ (ここで、R8は低級アルキル基を表わす。)で示され
    る基を表わし、R4は水素原子を(ここで、’9 t 
    R10は同一または相異なシ、水素原子、低級アルキル
    基またはフェニル基を表わす。)で示される基を表わす
    。〕で示される1、6−シヒドロー1.2.4−トリア
    ジン−5(4H)−オン誘導体。
  2. (2)  一般式 〔式中、kは低級アルキル基またはシクロアルキル基を
    表わす。〕 で示される3−チオ−4−アミノ−1,6−シヒドロー
    1.2.4−トリアジン−3,5(2H、4H)−ジオ
    ン誘導体と一般式〔式中、R2は低級アルキル基または
    低級アルケニル基を表わし、Xはハロゲン原子を表わす
    。〕 で示されるハライドとを反応させることを特徴とする一
    般式 〔式中、kおよびR2は前記と同じ意味を表わす。〕 で示される4−アミノ−1,6−シヒドロー1.2.4
    −)リアジン−5(4H)−オン誘導体の製造法。
  3. (3)一般式 〔式中、Rは低級アルキル基またはシクロアルキル基を
    表わし、R2は低級アルキル基または低級アルケニル基
    を表わし、R3は水素原子、低級アルキル基、低級アル
    ヶニ(ここで、R8は低級アルキル基を表わす。)(と
    こで、R9,R工。は同一または相異なシ、水素原子、
    低級アルキル基またはフェニル基を表わす。)で示され
    る基を表わす。〕で示される1、6−シヒドロー1.2
    .4−トリアジン−5(4H)−オン誘導体と一般に工
    □Y 〔式中、kよ、は低級アルキル基、低級アルケニル基、
    低級アルキニル基、一般式 (ここで、R6,R6は同一または相異なり、水素原子
    、低級アルキル基、ハロゲン原子またはハロアルキル基
    を表わし、R7は低級アルキル基を表わす。)で示され
    る基を表わし、Yはハロゲン原子を表わす。〕で示され
    るハライドとを反応させることを特徴とする一般式 〔式中、R、R2,R3,R,およびに工、は前記と同
    じ意味を表わす。〕 で示される1、6−シヒドロー1.2.4−トリアジン
    −5(4H)−オン誘導体の製造法。
  4. (4)  一般式 〔式中、kは□低級アルキル基またはシクロアルキル基
    を表わし、kよ は水素原子、低級アルキル基、低級ア
    ルケニル基、低級アルキニル基、一般式 (ここで、R6,に6は同一または相異なり水素原子、
    低級アルキル基、ハロゲン原子またはハロアルキル基を
    表わし、R7は低級アルキル基を表わす。)で示される
    基を表わし、R2は低級アルキル基または低級アルケニ
    ル基を表わす。〕 で示される1、6−シヒドロー1.2.4−トリアジン
    −5(4H)−オン誘導体と一般式 R12Z 〔式中、kよ、は低級アルキル基、低級アルケニル基ま
    たは一般式 −C−R8 (ここで、k8は低級アルキル基を表わす。)で示され
    る基を表わし、Zはハロゲン原子を表わす。〕 で示されるハライドを反応させることを特徴とする一般
    式 〔式中、R,R工、に2およびkよ、は前記と同じ意味
    を表わす。〕 で示される1、6−シヒドロー1.2.4−トリアジン
    −5(4H)−オン誘導体の製造法。
  5. (5)  一般式 〔式中、kは低級アルキル基またはシクロアルキル基を
    表わし、kエ は水素原子、低級アルキル基、低級アル
    ケニル基、低級アルキニル基、一般式 (ここで、R5,R6は同一または相異なり、水素原子
    、低級アルキル基、ハロゲン原子またはハロアルキル基
    を表わし、R7は低級アルキル基を表わす。)で示され
    る基を表わし、R2は低級アルキル基または低級アルケ
    ニル基を表わす。〕 で示される4−アミノ−1,6−シヒドロー1.2.4
    −)リアジン−5(4H)−オンリ、水素原子、低級ア
    ルキル基またはフェニル基を表わす。〕 で示されるケトンとを反応させることを特徴とする一般
    式 〔式中、R,R,、R2,R8およびに10は前記と同
    じ意味を表わす。〕 で示される1、6−シヒドロー1.2.4−トリアジン
    −5(4H)−オン誘導体の製造法。
  6. (6)  一般式 〔式中、kは低級アルキル基またはシクロアルキル基を
    表わし、kエ は水素原子、低級アルキル基、低級アル
    ケニル基、低級アルキニル基、一般式 (ここで、R6,R6は同一または相異なり、水素原子
    、低級アルキル基、ハロゲン原子またはハロアルキル基
    を表わし、R7は低級アルキル基を表わす。)で示され
    る基を表わし、R2は低級アルキル基または低級アルケ
    ニル基を表わし、R3は水素原子、低級アルキル基、低
    級アルケニル基または一般式 −C−R8 晶 (ここで、R8は低級アルキル基を表わす。)で示され
    る基を表わし、R4は水素原子を表わし、またに3 と
    に4とで一般式 (ここで、R9,Rloは同一または相異なシ、水素原
    子、低級アルキル基またはフェニル基を表わす。)で示
    される基を表わす。〕で示される1、6−シヒドロー1
    .2.4−トリアジン−5(4H)−オン誘導体を有効
    成分とすることを特徴とする除草剤。
JP23128782A 1982-12-27 1982-12-27 1,6−ジヒドロ−1,2,4−トリアジン−5(4h)−オン誘導体、その製造法およびそれを有効成分とする除草剤 Pending JPS59118776A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9743757B2 (en) 2010-07-30 2017-08-29 Ergotron, Inc. Edge mount positioning apparatus, system, and method
US11284713B2 (en) 2010-07-30 2022-03-29 Ergotron, Inc. Display positioning apparatus and method

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9743757B2 (en) 2010-07-30 2017-08-29 Ergotron, Inc. Edge mount positioning apparatus, system, and method
US10172450B2 (en) 2010-07-30 2019-01-08 Ergotron, Inc. Display positioning apparatus and method
US10667602B2 (en) 2010-07-30 2020-06-02 Ergotron, Inc. Display positioning apparatus and method
US10939753B2 (en) 2010-07-30 2021-03-09 Ergotron, Inc. Display positioning apparatus and method
US11284713B2 (en) 2010-07-30 2022-03-29 Ergotron, Inc. Display positioning apparatus and method
US11672334B2 (en) 2010-07-30 2023-06-13 Ergotron, Inc. Display positioning apparatus and method

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