JPS5891680A - 半導体装置 - Google Patents
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- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
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- G11C16/10—Programming or data input circuits
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- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
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- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
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- H01L27/08—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
- H01L27/085—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only
- H01L27/088—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only the components being field-effect transistors with insulated gate
- H01L27/092—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only the components being field-effect transistors with insulated gate complementary MIS field-effect transistors
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明は電位の異なる2つの電源でそれぞれ駆動される
回路を苓する半導体装置の両回路間の接dK関する0 本発明は、ニブ詳しくは、Sつの電源を有する相補臘M
I8回路、脅に0Ml8のIP恥Mの一路の改良に関す
る。
回路を苓する半導体装置の両回路間の接dK関する0 本発明は、ニブ詳しくは、Sつの電源を有する相補臘M
I8回路、脅に0Ml8のIP恥Mの一路の改良に関す
る。
12) 技術の背景
0Ml8のI P ROMは、低消費電力化の九めに周
辺回路、例えばアドレスバッフ7、デコーダ及び出力バ
ッ7ア等を0Ml8回路で構成しているOBFROMの
メモルセルは、70−ティングゲート中に電荷を注入す
ることで書込みが行なわれる。
辺回路、例えばアドレスバッフ7、デコーダ及び出力バ
ッ7ア等を0Ml8回路で構成しているOBFROMの
メモルセルは、70−ティングゲート中に電荷を注入す
ることで書込みが行なわれる。
通常の回路や続出し時においては、5V程度の通常電源
で動作するが、メモリセルに情報を書込むためには通常
電11vooよシ高いgov程度の電圧(4i込み用の
電11VpP)を必要とする。すなわち2つの電源によ
〕駆動している0 2つの電源を使用しない方式として、同一の電源端子に
続出時と書込時とで異なる電圧を印加する方式がある◎
この方式では書込時に全回路に高電圧が印力口されてし
まうため、tgl路の信頼性に影響を与え、また高耐圧
素子を全回路に置う必lIがあシ集積度−脣性向でも好
ましくない。
で動作するが、メモリセルに情報を書込むためには通常
電11vooよシ高いgov程度の電圧(4i込み用の
電11VpP)を必要とする。すなわち2つの電源によ
〕駆動している0 2つの電源を使用しない方式として、同一の電源端子に
続出時と書込時とで異なる電圧を印加する方式がある◎
この方式では書込時に全回路に高電圧が印力口されてし
まうため、tgl路の信頼性に影響を与え、また高耐圧
素子を全回路に置う必lIがあシ集積度−脣性向でも好
ましくない。
従って書込み用の高圧電IRVPPが必要な最小展の1
g1wrs分のみ電11VPPで駆−せしめ1.他の部
分は通常電+11vooによ)駆動せしめるようにした
方式の方が望ましい◎ ところが0Ml8回路において通常電源VOOが印加さ
れる回路部と高圧電11VPPが印加される回路部とを
混在させると種々の問題が生じ、両者と分離する必豪性
が出てくる。
g1wrs分のみ電11VPPで駆−せしめ1.他の部
分は通常電+11vooによ)駆動せしめるようにした
方式の方が望ましい◎ ところが0Ml8回路において通常電源VOOが印加さ
れる回路部と高圧電11VPPが印加される回路部とを
混在させると種々の問題が生じ、両者と分離する必豪性
が出てくる。
(3)従来技術と問題点
181図は一般的なgpaonの全体を示すブロック図
である。lはメモリセルアレイで、メモリセルMol複
数マトリクス配置している。各メモリセルはフローティ
ングゲートを有し、ピット@BとワードmWK接続され
るo3は外部よシ与えられる制御信号OE、OR等よル
種々の制御信号aSを内部に与える制御信号発生部であ
るo8はロウ・アドレス・バッファ、会はロウデコーダ
、Isはコラム・アドレスバッフ y s 6 ハコ
ツム・デコーダ%7はコラムゲート、8は出力バッファ
及びデータ人力バッファ、そして9は入出力端子である
0出力パツ7アは、メモリセルMOO蓄積情報をビット
@Bを介して検出し、出力OUTを入出力端子9に出力
するセンス回路よりなり、データ人力バッファは、入出
力端子からのデータDATAを低圧から高圧にレベルシ
フトしてゲートからピッ)#に印加するレベルシフト回
路とからなる。
である。lはメモリセルアレイで、メモリセルMol複
数マトリクス配置している。各メモリセルはフローティ
ングゲートを有し、ピット@BとワードmWK接続され
るo3は外部よシ与えられる制御信号OE、OR等よル
種々の制御信号aSを内部に与える制御信号発生部であ
るo8はロウ・アドレス・バッファ、会はロウデコーダ
、Isはコラム・アドレスバッフ y s 6 ハコ
ツム・デコーダ%7はコラムゲート、8は出力バッファ
及びデータ人力バッファ、そして9は入出力端子である
0出力パツ7アは、メモリセルMOO蓄積情報をビット
@Bを介して検出し、出力OUTを入出力端子9に出力
するセンス回路よりなり、データ人力バッファは、入出
力端子からのデータDATAを低圧から高圧にレベルシ
フトしてゲートからピッ)#に印加するレベルシフト回
路とからなる。
ここでは低圧回路と高圧回路が結合している例として上
記レベルシフト回路で説明する。
記レベルシフト回路で説明する。
第S図は従来NMO8で使用されているレベルシフト回
路で、トランジスタQx*Qs、QseQ4の回路が通
常電源VOOで駆動する低圧回路で、トランジスタQs
=Q・−Q!の回路が書込み用の高圧電源VPPで駆動
する高圧回路である。DINは例えばTTLレベルのデ
ータ信号で−DINがLレベルの時Qtがオンし’ D
OUT K VPP O高電圧(sov程[)の信号を
出力する。
路で、トランジスタQx*Qs、QseQ4の回路が通
常電源VOOで駆動する低圧回路で、トランジスタQs
=Q・−Q!の回路が書込み用の高圧電源VPPで駆動
する高圧回路である。DINは例えばTTLレベルのデ
ータ信号で−DINがLレベルの時Qtがオンし’ D
OUT K VPP O高電圧(sov程[)の信号を
出力する。
第3図のレベルシフト回路t−oiIs回路で構成する
場合、単純KH2図の如く、第S図のデプレッシ冒ン型
トランジスタQl sQs 會QiをPチャネルMO8
ト9ンジスタQlt−Q is 、Q 16 K sエ
ンハンスメント原トランジスタQseQ**QseQt
をNチャネルM08トランジスタQiseQ14*Qu
eQuにそれぞれ置換えただけでは不十分である0なぜ
ならDINがHレベルでノード@がHレベル(VOOレ
ベル〕の時、PチャネルトランジスタQlioゲート*
v00レベルで、ソースがVPPレベルであるためs
Qxhが完全にカットオフせず、 VPP−Q□iQ工
、−GNDの径路で電流が流れてしまい、0Ml81g
l路の特徴で′ある低電力が実現されない。
場合、単純KH2図の如く、第S図のデプレッシ冒ン型
トランジスタQl sQs 會QiをPチャネルMO8
ト9ンジスタQlt−Q is 、Q 16 K sエ
ンハンスメント原トランジスタQseQ**QseQt
をNチャネルM08トランジスタQiseQ14*Qu
eQuにそれぞれ置換えただけでは不十分である0なぜ
ならDINがHレベルでノード@がHレベル(VOOレ
ベル〕の時、PチャネルトランジスタQlioゲート*
v00レベルで、ソースがVPPレベルであるためs
Qxhが完全にカットオフせず、 VPP−Q□iQ工
、−GNDの径路で電流が流れてしまい、0Ml81g
l路の特徴で′ある低電力が実現されない。
従って0Ml8によるレベルシフト回路としては。
第6図の回路が筺われている0すなわちノードOにゲー
トが接続されたPチャネルトランジスタQtsとノード
■と■との間にゲートがvccK接続されたNチャネル
トランジスタQleとが追刀Ωされている0動作は次の
とうシである0 DIp4751Hレベルのとキ、ノードOはLレベル。
トが接続されたPチャネルトランジスタQtsとノード
■と■との間にゲートがvccK接続されたNチャネル
トランジスタQleとが追刀Ωされている0動作は次の
とうシである0 DIp4751Hレベルのとキ、ノードOはLレベル。
ノード■はHレベル、同時にノード0もHレベル(Va
aレベル)になる口するとトランジスタQl。
aレベル)になる口するとトランジスタQl。
がオンし、ノードOのレベルが下が9、トランジスタQ
laを導通ずる九め、ノード■の電位はVOOレベルか
らVPPレベル方向に上昇する0従ってトランジスタQ
nは完全にカットオフしよ記述常電流は流れなくなる。
laを導通ずる九め、ノード■の電位はVOOレベルか
らVPPレベル方向に上昇する0従ってトランジスタQ
nは完全にカットオフしよ記述常電流は流れなくなる。
トランジスタQ、。はノード■の高電圧VPPレベルが
前段に加わらないようにすると共に、ノード■が上昇す
るとカットオフして%Q1Gを通る電流経路を遮断する
ためのものである〇 この第6図のレベルシフト回路は、2つの電源端子に’
iE規の電圧が印加され% VPPがvccよ)高電圧
である場合は、上記の如く安定して動作する。しかしな
がらVPPがVOOよル低竜圧であると次の問題を生じ
る。
前段に加わらないようにすると共に、ノード■が上昇す
るとカットオフして%Q1Gを通る電流経路を遮断する
ためのものである〇 この第6図のレベルシフト回路は、2つの電源端子に’
iE規の電圧が印加され% VPPがvccよ)高電圧
である場合は、上記の如く安定して動作する。しかしな
がらVPPがVOOよル低竜圧であると次の問題を生じ
る。
@5図は第番図のXの部分の回路を半導体基板表面に形
成し九ときの断面図である。1Fip型半導体基板、3
はNWのウェル領域である。各ノード■、■、■・0は
第4#Aのそれと同じである。
成し九ときの断面図である。1Fip型半導体基板、3
はNWのウェル領域である。各ノード■、■、■・0は
第4#Aのそれと同じである。
基板IFiGNDレベルに、各ウェル領域はWoo’V
PP が印加されている。
PP が印加されている。
今、電源VOOのみ投入され、電01Vp−未だ投入さ
れずGNDレベルにある場合を仮定する〇’ 84
1M。jm(DINゆH□い、−1,郭、2イヤ(0■
)であると、トランジスタQ、がオンし、VOO二Q1
8−ノード0−Qteの経路が導通し、ノード■は上昇
する〇一方Vpp#1GNDレベルである九めウェル領
域2の電位をGNDレベルである。
れずGNDレベルにある場合を仮定する〇’ 84
1M。jm(DINゆH□い、−1,郭、2イヤ(0■
)であると、トランジスタQ、がオンし、VOO二Q1
8−ノード0−Qteの経路が導通し、ノード■は上昇
する〇一方Vpp#1GNDレベルである九めウェル領
域2の電位をGNDレベルである。
その結果PN接合Jは順方向バイアスされ、図中IOの
如き不所望の電流が流れてしまう◇その結果、FiPR
OMを使用するシステム側の電源VPPの端子°に電f
iIoが流れ込み、システム側で不要なリセットをかけ
てしまう恐れがある。従って第舎図−#!5図の如き0
Ml8回路においては、VOOの投入をVPPより先に
してはならないという電源投入順序の制約が生じてしま
う。このような制御は1iPROMo02用に際しmま
しくない。
如き不所望の電流が流れてしまう◇その結果、FiPR
OMを使用するシステム側の電源VPPの端子°に電f
iIoが流れ込み、システム側で不要なリセットをかけ
てしまう恐れがある。従って第舎図−#!5図の如き0
Ml8回路においては、VOOの投入をVPPより先に
してはならないという電源投入順序の制約が生じてしま
う。このような制御は1iPROMo02用に際しmま
しくない。
第す図ではPWjii板にOMI S 1g回路を構成
した場合についての問題点t−指摘したがN型基板の場
合も同様の問題点がある。すなわち第6図の断面図に示
すように、Ni基a l Z内にトランジスタQ、。・
pgウェル領域8′内にトランジスタQm1が形成され
、Q、。のソースに眠j11Bを介してVOOが印加さ
れている場合であるoji板にはVPPが印加されてい
る0今、電源vccが先に投入されVPPが未だ投入さ
れずGNDレベルにあると、接曾J′が願力向バイアス
され、電流!′がVPP @K)lれ込んでしまう。
した場合についての問題点t−指摘したがN型基板の場
合も同様の問題点がある。すなわち第6図の断面図に示
すように、Ni基a l Z内にトランジスタQ、。・
pgウェル領域8′内にトランジスタQm1が形成され
、Q、。のソースに眠j11Bを介してVOOが印加さ
れている場合であるoji板にはVPPが印加されてい
る0今、電源vccが先に投入されVPPが未だ投入さ
れずGNDレベルにあると、接曾J′が願力向バイアス
され、電流!′がVPP @K)lれ込んでしまう。
従ってこの場合も上記と同様VOOをVppjJ)も先
に投入してはならないという制約が生じる。
に投入してはならないという制約が生じる。
(4) 本発明の目的
本発明の目的は% 1つの異なる電源で駆動される2つ
の回路を有する半導体装置において、Sつの電源の投入
順序の制約をなくした装置の提供にある。
の回路を有する半導体装置において、Sつの電源の投入
順序の制約をなくした装置の提供にある。
本発明の目的は、2つの異なる電源で駆動される2つの
0Ml81!J路を有する半導体1!tfKおりて2つ
の電源の投入順序の制約をなくした装置の提供にある。
0Ml81!J路を有する半導体1!tfKおりて2つ
の電源の投入順序の制約をなくした装置の提供にある。
(5) 発明の構成
本発明はsexの電源で駆動される第1の回路と。
該第1の電源より高電位の第2の電源で駆動される第[
)回路を有し、該第3の回路が該第Sの電源に接続され
九不純物領域と該不純吻領域内に設けられたソースまた
はドレイン領域とを有してなる半導体装置において。
)回路を有し、該第3の回路が該第Sの電源に接続され
九不純物領域と該不純吻領域内に設けられたソースまた
はドレイン領域とを有してなる半導体装置において。
時第1の電源の電位の信号を出力する1ilo回路の出
力端と、該ソースまたはドレイン領域に接続された第1
の回路の入力趨とをゲートがa’tsの電源に接続され
たトランジスタで接続してなることを特徴とする〇 さらに本発明は、第1の電源で駆動される第1の相補1
1Ml81!11路を有し、該第1の相補屋MI8回路
が該第1の電源に接続された第1のウェル領域と該第1
のウェル領域内に設けられたソースま念はドレイン領域
とを有し、 該第1の電源よル高電位の第3の電源で駆動される第4
の相補型MI8回路を有し、該第2の相補型MI8回路
が該MSの電源に接続され九第2のウェル領域と該ms
のウェル領域内に設けられたソースまたはドレイン領域
とを有してなる半導体装置において、 該ソースまたはドレイン領域に接続された該第1の相補
fiMI81gl路の出力端と、BKソースまたはドレ
イン領域に接続された該第Sの相補fiMI8回路の入
力端とを、ゲートが鋏第1の電源に接続され九Mlのト
ランジスタとゲートが#lI第Sの電源に接続された第
Sのトランジスタとの直列接続体で接続されてなる仁と
を特徴とする。
力端と、該ソースまたはドレイン領域に接続された第1
の回路の入力趨とをゲートがa’tsの電源に接続され
たトランジスタで接続してなることを特徴とする〇 さらに本発明は、第1の電源で駆動される第1の相補1
1Ml81!11路を有し、該第1の相補屋MI8回路
が該第1の電源に接続された第1のウェル領域と該第1
のウェル領域内に設けられたソースま念はドレイン領域
とを有し、 該第1の電源よル高電位の第3の電源で駆動される第4
の相補型MI8回路を有し、該第2の相補型MI8回路
が該MSの電源に接続され九第2のウェル領域と該ms
のウェル領域内に設けられたソースまたはドレイン領域
とを有してなる半導体装置において、 該ソースまたはドレイン領域に接続された該第1の相補
fiMI81gl路の出力端と、BKソースまたはドレ
イン領域に接続された該第Sの相補fiMI8回路の入
力端とを、ゲートが鋏第1の電源に接続され九Mlのト
ランジスタとゲートが#lI第Sの電源に接続された第
Sのトランジスタとの直列接続体で接続されてなる仁と
を特徴とする。
(6) 発明の実施例
第7図は本発明の実施例の概略図であるOClは第1の
電源である通常電源■ocで駆動される第1の回路で、
Othは第Sの電源である書込み用電源vPPで駆動さ
れる第3の回路で、両回路間はゲートが第2の電源VP
Pに接続されたトランジスタQ8□で接続されている。
電源である通常電源■ocで駆動される第1の回路で、
Othは第Sの電源である書込み用電源vPPで駆動さ
れる第3の回路で、両回路間はゲートが第2の電源VP
Pに接続されたトランジスタQ8□で接続されている。
第7図は第6図に対応する実施例で、第1の回路01は
配、@Sよ10その出力端4/lcは電源VOOの電位
が出力されるOHsの回路amはトランジスタQsoを
有しs VppK接続された8g不純物領域1′内にソ
ースまたはドレイン領域6が設け1 ら
れ、入力端Sが接続されている。詳しい動作については
後述する。
配、@Sよ10その出力端4/lcは電源VOOの電位
が出力されるOHsの回路amはトランジスタQsoを
有しs VppK接続された8g不純物領域1′内にソ
ースまたはドレイン領域6が設け1 ら
れ、入力端Sが接続されている。詳しい動作については
後述する。
第8図は本発明の実態(flJf)m略図2”ある。
第1のCMIS1gl路O1の出力端6と第゛急の0M
l81g1回amの入力端Sとの間は、ゲートが電源V
OOに接続された第1のトランジスタQlllとゲート
が電源■PPVc接続された第8のトランジスタQll
との直列接続体によ多接続されて^る0 M8図はM6・5図に対応する実施例でs ag lの
0Ml81[ff回路は第4図のトランジスタQllを
有し。
l81g1回amの入力端Sとの間は、ゲートが電源V
OOに接続された第1のトランジスタQlllとゲート
が電源■PPVc接続された第8のトランジスタQll
との直列接続体によ多接続されて^る0 M8図はM6・5図に対応する実施例でs ag lの
0Ml81[ff回路は第4図のトランジスタQllを
有し。
第SのOMI 8回路は同トランジスタQ1mを有する
0第i′・第8の0Mll9回路はそれぞれWooに接
続された第1のウェル領域Wl及びVpp K接続され
次第Sのウェル領域w、1r有し、706 はその中に
設けられたソースま次はドレイン領域を示す0#しい動
作はf&述する0 @9.10図はよ記第8図に対応する具体的な実施例を
示す回路図及び断面図である。
0第i′・第8の0Mll9回路はそれぞれWooに接
続された第1のウェル領域Wl及びVpp K接続され
次第Sのウェル領域w、1r有し、706 はその中に
設けられたソースま次はドレイン領域を示す0#しい動
作はf&述する0 @9.10図はよ記第8図に対応する具体的な実施例を
示す回路図及び断面図である。
本実施例ではトランジスタQll eQls eQls
IQ14を有する第1の0Ml8回路とトランジスタ
Qu−・Qll +Qu ・Qtaを有する11g5の
OMIS1gl路閾1cNチャネルのエンハンスメント
トランジスタQl・。
IQ14を有する第1の0Ml8回路とトランジスタ
Qu−・Qll +Qu ・Qtaを有する11g5の
OMIS1gl路閾1cNチャネルのエンハンスメント
トランジスタQl・。
Qllを設けている0このような構造にすることにより
電源の投入に際し% VOOとVl”よシ先に投入して
も前述した如き従来の問題紘生しないため、[#投入順
序の制約をとり除くことができる。
電源の投入に際し% VOOとVl”よシ先に投入して
も前述した如き従来の問題紘生しないため、[#投入順
序の制約をとり除くことができる。
今電#VQQK6Vが投入され、電# VPPは未だ投
入されずGNDレベルであると前述の如くノード0がH
レベル(Vaaレベル)K上昇しても、トランジスタQ
nxのゲートはGNDレベルであるためカットオフし、
ノード■の電位は上昇しない。
入されずGNDレベルであると前述の如くノード0がH
レベル(Vaaレベル)K上昇しても、トランジスタQ
nxのゲートはGNDレベルであるためカットオフし、
ノード■の電位は上昇しない。
さらにVPPが投入されてもVPPの電位がVOOの電
位よシ未だ低い場合は、ノード■の電位はVPPの電位
よりトランジスタQsxの閾値電圧vth低いレベルま
でしか上昇しない。従ってPNg曾Jは願バイアスされ
ることなく、従来の如き電源投入順序は全く制約がない
。
位よシ未だ低い場合は、ノード■の電位はVPPの電位
よりトランジスタQsxの閾値電圧vth低いレベルま
でしか上昇しない。従ってPNg曾Jは願バイアスされ
ることなく、従来の如き電源投入順序は全く制約がない
。
第11図は第7図に対応する具体的実施例の断面図であ
る。本実施例では配MA8よシなる#g1の回路の出力
1416とトランジスタQsx工)なる第8の回路の入
力端iの間にゲートが電源VPP K接続されたNチャ
ネルエンハンスメントトランジスタQalt−設けてい
る0このような4造にすることにシ夛電源投入順序は自
由になる。
る。本実施例では配MA8よシなる#g1の回路の出力
1416とトランジスタQsx工)なる第8の回路の入
力端iの間にゲートが電源VPP K接続されたNチャ
ネルエンハンスメントトランジスタQalt−設けてい
る0このような4造にすることにシ夛電源投入順序は自
由になる。
今、電源■ccがVPPよ)先に投入され、あるいは電
源VOOの電位がvPPの電位より高い場合は。
源VOOの電位がvPPの電位より高い場合は。
入力端5の電位はVPPの電位よj)Qsxの閾値電圧
vth分低い電位になJ)、PN接会J′が順バイアス
されることはない。従ってVOO’tVPPよシ先に投
。
vth分低い電位になJ)、PN接会J′が順バイアス
されることはない。従ってVOO’tVPPよシ先に投
。
入しても前述し九問題は生じない〇
(7) 発明の詳細
な説明し友ように本発明によれば1gつの電源WooI
VPPの投入順序に関する制約がなくな夛、f用時に余
分の注意をはらう必要がない0
VPPの投入順序に関する制約がなくな夛、f用時に余
分の注意をはらう必要がない0
#I1図は従来の一般的なgFROMの全体を示すブロ
ック図、第8・8・1図は従来例の回路図、第5.6図
は従来例の断面図、第7−8図は本発明の概念を示す図
sK9m”0図は本発明の一実施例の回路図−断面図、
第11図は本発明の実施例を示す断面図である◎ 図中%01は落1o回路及び第1のON I S回路、
OBは第3の回路及び第1の0AIII 8回路−vo
oは第1の電源、VPPはM!lの電源、1/は不#i
ll物領域、6.7はソースを九はドレイン領域、wi
。 W2は第1.第Sのウェル領域、iは出力端、Sハ入力
端sQl・は第1のトランジスタs Qa。は第2のト
ランジスタである。 第 1 図 3 4 VJZ I!1 第 3 図 〃ソ 篤 4 図
ック図、第8・8・1図は従来例の回路図、第5.6図
は従来例の断面図、第7−8図は本発明の概念を示す図
sK9m”0図は本発明の一実施例の回路図−断面図、
第11図は本発明の実施例を示す断面図である◎ 図中%01は落1o回路及び第1のON I S回路、
OBは第3の回路及び第1の0AIII 8回路−vo
oは第1の電源、VPPはM!lの電源、1/は不#i
ll物領域、6.7はソースを九はドレイン領域、wi
。 W2は第1.第Sのウェル領域、iは出力端、Sハ入力
端sQl・は第1のトランジスタs Qa。は第2のト
ランジスタである。 第 1 図 3 4 VJZ I!1 第 3 図 〃ソ 篤 4 図
Claims (1)
- (1)第1の電源で駆動されるN1の回路と、該第1の
電源よシ高電位の第2の電源で駆動される第2の回路を
有し、該第2の回路が#第8の電源に接続され九不純物
領域と該不純物領域内に設けられたソースまたはドレイ
ン領域とを有してなる半導体装置において、 時第1の電源の電位の信号を出力する第1の一路の出力
端と、該ソースまたはドレイン領域に接続された第3の
回路の入力端とをゲートが該第2の電源に接続されたト
ランジスタで接続してなることt−特徴とする半導体装
置0 12)第1の電源で駆動され、!JIEIの相補11M
l8回路を有し、該第1の相補型MI81g回路が該第
1の電源に接続された第1のウェル頭載と該第1のフェ
ル領域内に設けられたソースまたはドレイン領域とを有
し、 該第1の電源よp高電位の第3の電源で駆動される第3
の相補型NIB@路を有し、該第2の相補IMMI8J
g回路が該第3の電源に接続された第3のウェル領域と
該第Sのフェル領域内に設けられたソースまたはドレイ
ン領域とを有してなる半導体装置において。 該ソースまたはドレイン領域に接続された該第1(D相
補型MIS回路の出力端とIEソースまたはドレイン領
域に接続された該第2の相補厘MI8回路の入力端とを
、ゲートが該第1の電源に接続されたNlのトランジス
タとゲートが該#I8の電源に接続された第8のトラン
ジスタとの直列接続体で接続されてなることを特徴とす
る牛、4体装置0
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56189442A JPS5891680A (ja) | 1981-11-26 | 1981-11-26 | 半導体装置 |
IE2797/82A IE54239B1 (en) | 1981-11-26 | 1982-11-24 | Cmis semiconductor device with two power supplies |
US06/444,482 US4506164A (en) | 1981-11-26 | 1982-11-24 | CMIS Level shift circuit |
EP82306286A EP0090116B1 (en) | 1981-11-26 | 1982-11-25 | Cmis semiconductor device with two power supplies |
DE8282306286T DE3275334D1 (en) | 1981-11-26 | 1982-11-25 | Cmis semiconductor device with two power supplies |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56189442A JPS5891680A (ja) | 1981-11-26 | 1981-11-26 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5891680A true JPS5891680A (ja) | 1983-05-31 |
JPH0143464B2 JPH0143464B2 (ja) | 1989-09-20 |
Family
ID=16241313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56189442A Granted JPS5891680A (ja) | 1981-11-26 | 1981-11-26 | 半導体装置 |
Country Status (5)
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---|---|
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EP (1) | EP0090116B1 (ja) |
JP (1) | JPS5891680A (ja) |
DE (1) | DE3275334D1 (ja) |
IE (1) | IE54239B1 (ja) |
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- 1982-11-24 US US06/444,482 patent/US4506164A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-11-24 IE IE2797/82A patent/IE54239B1/en not_active IP Right Cessation
- 1982-11-25 EP EP82306286A patent/EP0090116B1/en not_active Expired
- 1982-11-25 DE DE8282306286T patent/DE3275334D1/de not_active Expired
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