JPS58211663A - 自動分析装置 - Google Patents
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- JPS58211663A JPS58211663A JP9321782A JP9321782A JPS58211663A JP S58211663 A JPS58211663 A JP S58211663A JP 9321782 A JP9321782 A JP 9321782A JP 9321782 A JP9321782 A JP 9321782A JP S58211663 A JPS58211663 A JP S58211663A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、自動分析装置に係り、特に濃度に対して直線
性のない検量線を有する血中薬物の濃度を定量するに好
適な自動分析装置に関する。
性のない検量線を有する血中薬物の濃度を定量するに好
適な自動分析装置に関する。
多くの薬物は、薬用量と中毒量の間、すなわち安全許容
量の範囲が狭く、また、治療有効濃度は個々の患者ごと
に著しい個体差がある。このため個々の患者に対する投
薬計画に、血中の薬物濃度定置は有用であり、精度の高
い定量が請求される。
量の範囲が狭く、また、治療有効濃度は個々の患者ごと
に著しい個体差がある。このため個々の患者に対する投
薬計画に、血中の薬物濃度定置は有用であり、精度の高
い定量が請求される。
このような血中薬物濃度の足置は、ホモジニアスエンザ
イム・イムノアッセイの一方法であるＥＭＩＴ法により
行われる場合が多い。このＥＭＩＴ法では、検量線は、
薬物濃度に対して直線とならない。このために、検量線
を直線とするための特別のグラフ用紙が試薬ロット毎に
準備されており、測定データを、この指定グラフ用紙に
プロットすると濃度に対して直線性のある検量線が得ら
れるようになっている。°ところが、反応液の測光タイ
ミングがずれた場合、測定試薬濃度を変えた場合、試薬
開封後に時間経過した試薬を用いた場合などには、この
指定ブラシ用紙を用いても、満足する検量線を作成する
ことができない状態にあるという欠点を有していた。
イム・イムノアッセイの一方法であるＥＭＩＴ法により
行われる場合が多い。このＥＭＩＴ法では、検量線は、
薬物濃度に対して直線とならない。このために、検量線
を直線とするための特別のグラフ用紙が試薬ロット毎に
準備されており、測定データを、この指定グラフ用紙に
プロットすると濃度に対して直線性のある検量線が得ら
れるようになっている。°ところが、反応液の測光タイ
ミングがずれた場合、測定試薬濃度を変えた場合、試薬
開封後に時間経過した試薬を用いた場合などには、この
指定ブラシ用紙を用いても、満足する検量線を作成する
ことができない状態にあるという欠点を有していた。
本発明の目的は、薬物・ホルモン・抗生物質などの酵素
免疫反応による測定において、検量線作成時の試薬の状
態および測光タイミングに最も適した検量線を自動的に
作成することのできる自動分析装置を提供することにあ
る。
免疫反応による測定において、検量線作成時の試薬の状
態および測光タイミングに最も適した検量線を自動的に
作成することのできる自動分析装置を提供することにあ
る。
本発明の要旨は次の如くである。すなわち、ＥＭＩＴ法
を用いた酵素免疫反応は次式に従う。
を用いた酵素免疫反応は次式に従う。
％式％（２）
ここでＲｏは薬物濃度０におけるレスポンス。
几、は薬物濃度■におけるレスポンス、ａおよびｂはパ
ラメータ、Ｘは薬物濃度、Ｙは吸光度である。
ラメータ、Ｘは薬物濃度、Ｙは吸光度である。
試薬に添付されているグラフ用紙は、あらかじめ（１）
式によりｕ＊ ＨＫ＋ ａ＊ ｂの各・くラメータ
値が求められており、薬物濃度に対して吸光度をグロッ
トすると、検量線が直線となるように作られている。す
なわち、パラメータ（）Ｌ、、に、ａ。
式によりｕ＊ ＨＫ＋ ａ＊ ｂの各・くラメータ
値が求められており、薬物濃度に対して吸光度をグロッ
トすると、検量線が直線となるように作られている。す
なわち、パラメータ（）Ｌ、、に、ａ。
ｂ）を固定値としている。しかしながら、我々の実験に
よれば、このパラメータ値は、指定条件で測定した場合
であっても一定ではなく、例えば試薬開封後に時間が経
つと変化する。また、測光タイミングをずらした場合、
試薬濃度を変化させた場合には、その値が大きく変動す
る。
よれば、このパラメータ値は、指定条件で測定した場合
であっても一定ではなく、例えば試薬開封後に時間が経
つと変化する。また、測光タイミングをずらした場合、
試薬濃度を変化させた場合には、その値が大きく変動す
る。
さらに、項目によっては、多重回帰の結果、収束しにく
いものがあるが、これらについては、多重回帰で使用す
るダンピング係数を検討することである程度解決するこ
とができることを解明した。
いものがあるが、これらについては、多重回帰で使用す
るダンピング係数を検討することである程度解決するこ
とができることを解明した。
そこで、本発明は、検量線を作成する毎にその時点にお
ける装置および試薬の状態に最も適したダンピング係数
を項目毎に指定することを可能とし、各標準物質の反応
液の吸光度データを非線形最小二重法による多重回帰に
よって処理して、測定回毎にパラメータを決定して、自
動的に最適な検量線を得ようというものである。
ける装置および試薬の状態に最も適したダンピング係数
を項目毎に指定することを可能とし、各標準物質の反応
液の吸光度データを非線形最小二重法による多重回帰に
よって処理して、測定回毎にパラメータを決定して、自
動的に最適な検量線を得ようというものである。
以下、本発明の実施例にろいて説明する。
第１図には、本発明の一実施例が示されている。
図において、各測定項目毎に濃度の異なる複数個の標準
物質を設置できるサンプルディスク１０が設けられてい
る。複数個の標準物質は、測定項目毎に連続してサンプ
ルディスク１０上に並べることができるように構成され
ている。また、反応ディスク２１は、その円周上にＦ１
個の測定セルを兼ねた反応容器２２を有し、回転自在に
構成されている。また、標準物質（試料）の移送は、サ
ンプリングツローブ４１によって行われ、試薬の分注は
、分注器３８．３９によって行われる。また、分光器２
７は、複数検知器を有する多波長同時測光形であり、光
源ランプ２５と相対し、反応ディスク２１が回転状態に
あるときに、反応容器２２の列が光源ラング２５からの
光束２６を通過する様に構成されている。光束２６は、
反応ディスク２１が停止状態にあるときに吐出位置４５
から時計方向に数えて、例えば、３１番目の反応容器４
６の中心を透過する様に配置されている。光束２６の位
置と吐出位＋１４５の間には排液装置および洗浄装置２
４が配置されている。
物質を設置できるサンプルディスク１０が設けられてい
る。複数個の標準物質は、測定項目毎に連続してサンプ
ルディスク１０上に並べることができるように構成され
ている。また、反応ディスク２１は、その円周上にＦ１
個の測定セルを兼ねた反応容器２２を有し、回転自在に
構成されている。また、標準物質（試料）の移送は、サ
ンプリングツローブ４１によって行われ、試薬の分注は
、分注器３８．３９によって行われる。また、分光器２
７は、複数検知器を有する多波長同時測光形であり、光
源ランプ２５と相対し、反応ディスク２１が回転状態に
あるときに、反応容器２２の列が光源ラング２５からの
光束２６を通過する様に構成されている。光束２６は、
反応ディスク２１が停止状態にあるときに吐出位置４５
から時計方向に数えて、例えば、３１番目の反応容器４
６の中心を透過する様に配置されている。光束２６の位
置と吐出位＋１４５の間には排液装置および洗浄装置２
４が配置されている。
制御装（ｕ、全体の構成は、マルチプレクサ、対数。
変換増幅器５３、Ａ／Ｄ変換器５４、リード・オンリ・
メモリ（以下ＲＯＭと称する）、ランダム・アクセス・
メモリ（以下、Ｒ，ＡＭと称する）、プリンタ５５、操
作パネル５２、機構部駆動回路３５からなるが、Ａ／Ｄ
変換器５４はさらに、インターフェイス５０を経て中央
処理装置５１に接続されている。この中央処理装置１５
１は、機構系を含めた装置全体の制御と、前述の多重回
帰による検儀線作成や濃度演算などのデータ処理全般を
行なうものでマイクロコンピュータが使用される。
メモリ（以下ＲＯＭと称する）、ランダム・アクセス・
メモリ（以下、Ｒ，ＡＭと称する）、プリンタ５５、操
作パネル５２、機構部駆動回路３５からなるが、Ａ／Ｄ
変換器５４はさらに、インターフェイス５０を経て中央
処理装置５１に接続されている。この中央処理装置１５
１は、機構系を含めた装置全体の制御と、前述の多重回
帰による検儀線作成や濃度演算などのデータ処理全般を
行なうものでマイクロコンピュータが使用される。
次に、第１図図示実施例の動作について説明する。
まず、薬物・ホルモン等を含む被測定標準物質（試料）
を収容した試料容器４４がサンプリング位置に供給され
ると、ピペッタ４０のグローブ４１の先端が上記試料容
器中に浸漬され、血清の一定量を吸入し、グローブ４１
内に保持する。その後、プローブ４１は、反応ディスク
２１の吐出位置４５まで移動し、吐出位置４５に移送さ
れている反応容器２２内にプローブ４１で保持していた
血清を吐出する。上記サンプリング動作が終ると、反応
ディスク２１は反時計方向に間欠的な回転移動を開始し
、反応ディスク２１上に、反応容器２２の全数より１つ
多い数の反応容器２２が吐出位置を通過するまで回転し
て停止する。
を収容した試料容器４４がサンプリング位置に供給され
ると、ピペッタ４０のグローブ４１の先端が上記試料容
器中に浸漬され、血清の一定量を吸入し、グローブ４１
内に保持する。その後、プローブ４１は、反応ディスク
２１の吐出位置４５まで移動し、吐出位置４５に移送さ
れている反応容器２２内にプローブ４１で保持していた
血清を吐出する。上記サンプリング動作が終ると、反応
ディスク２１は反時計方向に間欠的な回転移動を開始し
、反応ディスク２１上に、反応容器２２の全数より１つ
多い数の反応容器２２が吐出位置を通過するまで回転し
て停止する。
前記反応ディスク２１の回転によって、上記サンプリン
グ動作でサンプリングされた試料の入った反応容器２２
は、吐出位置４５よシ反応容器１ピッチ分だけ反時計方
向に進んだ位置に来て停止している。前記反応ディスク
２１の回転中に、反応ディスク２１上の全ての反応容器
２２は光束２６を通過する。従って、それぞれの反応容
器２２が光束２６を通過するときには、分光器２７によ
る光吸収測定がなされ、分光器２７の出力は、マルチプ
レクサにより現在必襞な測定波長の信号が選択され、Ａ
／Ｄ変換器５４により中央処理装置５０に取込れて、Ｒ
ＡＭに記憶される。
グ動作でサンプリングされた試料の入った反応容器２２
は、吐出位置４５よシ反応容器１ピッチ分だけ反時計方
向に進んだ位置に来て停止している。前記反応ディスク
２１の回転中に、反応ディスク２１上の全ての反応容器
２２は光束２６を通過する。従って、それぞれの反応容
器２２が光束２６を通過するときには、分光器２７によ
る光吸収測定がなされ、分光器２７の出力は、マルチプ
レクサにより現在必襞な測定波長の信号が選択され、Ａ
／Ｄ変換器５４により中央処理装置５０に取込れて、Ｒ
ＡＭに記憶される。
前記の反応ディスク２１の回転および停止している間の
時間を例えば、２０秒とすると、２０秒を１サイクルと
して上記動作を繰り返す。上記サイクルが進むにつれて
サンプリングされた特定の被測定試料は反応ディスク２
１が停止している状聾での位置が反応容器１ピッチ分ず
つ反時計方向に進む。分注器３６と分注器３７からの試
薬の吐 。
時間を例えば、２０秒とすると、２０秒を１サイクルと
して上記動作を繰り返す。上記サイクルが進むにつれて
サンプリングされた特定の被測定試料は反応ディスク２
１が停止している状聾での位置が反応容器１ピッチ分ず
つ反時計方向に進む。分注器３６と分注器３７からの試
薬の吐 。
出は、試料の入った反応容器２２が反応容器１ピッチ分
ずつ反時計方向に進んで、反応ディスク２１上で、それ
ぞれ吐出位置４６．４７に停止した状轢でなされる。特
定の被測定試料について見ると、吐出位１ｔ４７で添加
された第１試薬により、第１段階の反応が開始され、吐
出位置４６で添加された第２試薬により第２段階の反応
が開始される。以上の動作で１サイクルにおける反応デ
ィスク２１の停止時間を４．５秒、回転時間を１５，５
秒とすると、特定試料についてみると、その試料の反応
過程は２０秒毎に３１回測定され、１０分間の測定デー
タがＲＡＭに記憶される。中央処理装置はＩ（、ＯＭの
プログラムに従って作動し、）ｔＡＭ内の３１個の測定
データを抽出し、演算処理を行う。
ずつ反時計方向に進んで、反応ディスク２１上で、それ
ぞれ吐出位置４６．４７に停止した状轢でなされる。特
定の被測定試料について見ると、吐出位１ｔ４７で添加
された第１試薬により、第１段階の反応が開始され、吐
出位置４６で添加された第２試薬により第２段階の反応
が開始される。以上の動作で１サイクルにおける反応デ
ィスク２１の停止時間を４．５秒、回転時間を１５，５
秒とすると、特定試料についてみると、その試料の反応
過程は２０秒毎に３１回測定され、１０分間の測定デー
タがＲＡＭに記憶される。中央処理装置はＩ（、ＯＭの
プログラムに従って作動し、）ｔＡＭ内の３１個の測定
データを抽出し、演算処理を行う。
ＥＭＩＴ検量線作成に必要である１項目あたり５あるい
は６種類の標準物質は、サンプルディスク１０上に連続
して並べられているため、ある特定項目の濃ｊ現の異な
る複数個の標準物質は、自動的に連続して複数回ずつ（
例えば２回ずつ）サンプリングプローブ４１によって反
工６容器２２に移送される。＃度に対して直線関係のな
い物質について慣鍍巌を作成する場合には、＃嵐の異な
る標準物質を鑞数回ずつサンプリングして測定すること
は必須であシ、本装置ではこれがｔ３工能である。
は６種類の標準物質は、サンプルディスク１０上に連続
して並べられているため、ある特定項目の濃ｊ現の異な
る複数個の標準物質は、自動的に連続して複数回ずつ（
例えば２回ずつ）サンプリングプローブ４１によって反
工６容器２２に移送される。＃度に対して直線関係のな
い物質について慣鍍巌を作成する場合には、＃嵐の異な
る標準物質を鑞数回ずつサンプリングして測定すること
は必須であシ、本装置ではこれがｔ３工能である。
これら４ｘ数の試料の反応過程は、上述のように１０分
間に渡って測定し、これらの測定データは項目毎に１ま
とめにして、〆色度に対して直線関係のある検量線の作
成に供せられる。
間に渡って測定し、これらの測定データは項目毎に１ま
とめにして、〆色度に対して直線関係のある検量線の作
成に供せられる。
このようなＥ Ｍ Ｉ Ｔ測定データに基づく検量線作
成のためのフローチャートが第２図、第３図に示されて
いる。この演舞処理にあたっては、あらかじめ設定した
次の６抽類の演春、モデルのうち、測定データに最も適
したモデルを自動的に選択することがＯＪ能であるよう
にした。
成のためのフローチャートが第２図、第３図に示されて
いる。この演舞処理にあたっては、あらかじめ設定した
次の６抽類の演春、モデルのうち、測定データに最も適
したモデルを自動的に選択することがＯＪ能であるよう
にした。
■ ＭＯＤＥＬ ＋ １ ４パラメータ ロジット■
ＭＵＩ）ＥＬ÷２５パラメータ ロジット■ ＭＯＪ）
ＥＬす３５パラメータ Ｈ，＝Ｒｓ＋Ｋ ｅｘｐ ［ａｔｎｃ＋ｂ （ｔｎｃ
）”−）Ｃ（ｔｎＣ）”〕■ ＭＯＤＥＬ ＋４ ５パ
ラメータ ■ ＭＵＤＩす５ Ｒ＝Ｒ，＋ＫｔｎＣ ■ ＭＯＤＥＬす６ 几＝几、＋に−Ｃ また、測定データの演算処理の一例として非線形最小二
乗法を用いた多重回帰による。この多重回帰による処理
を次に説明する。
ＭＵＩ）ＥＬ÷２５パラメータ ロジット■ ＭＯＪ）
ＥＬす３５パラメータ Ｈ，＝Ｒｓ＋Ｋ ｅｘｐ ［ａｔｎｃ＋ｂ （ｔｎｃ
）”−）Ｃ（ｔｎＣ）”〕■ ＭＯＤＥＬ ＋４ ５パ
ラメータ ■ ＭＵＤＩす５ Ｒ＝Ｒ，＋ＫｔｎＣ ■ ＭＯＤＥＬす６ 几＝几、＋に−Ｃ また、測定データの演算処理の一例として非線形最小二
乗法を用いた多重回帰による。この多重回帰による処理
を次に説明する。
ある特定項目について濃度Ｘｏ ｅ Ｘｓ ＋ Ｘｓ
＊ Ｘｔ＋Ｘ４ 、Ｘｓである標準物質の測定デニタが
、それぞれＹｏｌｌＹｔｌｔ ＹｔｈＹｓｓ＊ Ｙ４Ｊ
Ｉ ＹｓＪであるとする□。これらの値を用いて（１）
式の４１！Ｉのパラメータ（Ｒ＠ Ｉ Ｋ＊ ａｓ ｂ
）の初期値を設定後、Ｇａｕｓｓ−Ｎｅｗｔｏｎ変法を
用いた非線形最小二乗法による多重回帰を行ない、４柚
のパラメータ匝を決足する。次に多重回帰の方法につい
て詳しく述べる。
＊ Ｘｔ＋Ｘ４ 、Ｘｓである標準物質の測定デニタが
、それぞれＹｏｌｌＹｔｌｔ ＹｔｈＹｓｓ＊ Ｙ４Ｊ
Ｉ ＹｓＪであるとする□。これらの値を用いて（１）
式の４１！Ｉのパラメータ（Ｒ＠ Ｉ Ｋ＊ ａｓ ｂ
）の初期値を設定後、Ｇａｕｓｓ−Ｎｅｗｔｏｎ変法を
用いた非線形最小二乗法による多重回帰を行ない、４柚
のパラメータ匝を決足する。次に多重回帰の方法につい
て詳しく述べる。
ある特定項目について、測定データ（Ｙ（ｉ））と、設
屋パラメータ値を（１）式に代入して得られた計算値（
Ｆ （ｉ） ）との差（ｙ（ｉ））は、ｙ （ｉ）−Ｙ
（ｉ） −Ｆ（ｉ） で近似される。求めるパラメータ値は、この差の二乗和
（Ｓ）が最小となるときの値である。
屋パラメータ値を（１）式に代入して得られた計算値（
Ｆ （ｉ） ）との差（ｙ（ｉ））は、ｙ （ｉ）−Ｙ
（ｉ） −Ｆ（ｉ） で近似される。求めるパラメータ値は、この差の二乗和
（Ｓ）が最小となるときの値である。
Ｓ＝Σ′（ｙ−ｙ（ｉ））”
さて、
であるから、
とおくと、次の４式（３）〜（６）が成立する。
Δ几、Σｘｒ＋Δに、Σｘ１ｘ２＋ΔａΣＸｌＸ３＋Δ
ｂＸｘｌｘ４＝Σｘｓ ｙ （３）Δｌ
も、Σｘｌｘ２＋Δに、Σｘｉ＋ΔａΣ’ｘ２ Ｘ３＋
ΔｂΣＸ３ Ｘ４ ＝ΣＸ＝ ｙ （４）
Δ几、Σｘｌ ｘ３＋Δに、Σｘ２ Ｘ３＋ΔａΣＸ：
＋ΔｂΣｘ３ｘ４＝ΣＸ３ ｙ （５）Δ
几、ΣＸｌＸ４＋３に＠Σｘ２ｘ４＋ΔａΣＸ３ Ｘ４
＋ΔｂΣｘ：＝ΣＸ４ ｙ （６）（３
）〜（６）式を満足するパラメータの変化分Δ几、。
ｂＸｘｌｘ４＝Σｘｓ ｙ （３）Δｌ
も、Σｘｌｘ２＋Δに、Σｘｉ＋ΔａΣ’ｘ２ Ｘ３＋
ΔｂΣＸ３ Ｘ４ ＝ΣＸ＝ ｙ （４）
Δ几、Σｘｌ ｘ３＋Δに、Σｘ２ Ｘ３＋ΔａΣＸ：
＋ΔｂΣｘ３ｘ４＝ΣＸ３ ｙ （５）Δ
几、ΣＸｌＸ４＋３に＠Σｘ２ｘ４＋ΔａΣＸ３ Ｘ４
＋ΔｂΣｘ：＝ΣＸ４ ｙ （６）（３
）〜（６）式を満足するパラメータの変化分Δ几、。
Δに、、Δａ、Δｂは、行列式（力を解くことで求まる
。
。
Δ几、を用いて、パラメータａｇ ｂ Ｉ Ｋ＠ ＨＲ
＠値を、ａ ＝ ａ＋Δａ、ｂ＝ｂ＋Δｂ、に、＝Ｋ。
＠値を、ａ ＝ ａ＋Δａ、ｂ＝ｂ＋Δｂ、に、＝Ｋ。
＋Δに、 、 ）Ｌ、 ＝）１．、＋ΔＲ６と帥４き換
えて多重回帰すると、差の二乗和（Ｓ）が最小のときの
パラメータ値が求まる。求めたパラメータ値を（１）式
に代入することによって、濃度に対して直線関係のある
検量線が得られる。この検量線は、測定時点における装
置あるいは試薬の状態を反映した測定データに最も適す
るようにパラメータ値が定められているために精度の商
いものを得ることかで：□ きる。
えて多重回帰すると、差の二乗和（Ｓ）が最小のときの
パラメータ値が求まる。求めたパラメータ値を（１）式
に代入することによって、濃度に対して直線関係のある
検量線が得られる。この検量線は、測定時点における装
置あるいは試薬の状態を反映した測定データに最も適す
るようにパラメータ値が定められているために精度の商
いものを得ることかで：□ きる。
多重回帰で行列式（力を解くにあたり、収束条件の良い
結果を雨るために、行列式（刀の（ｉ、１）成分に対し
て１よシある程度大きな定数をダンピングの目的で乗じ
た。ダンピング係数として、大きな値をとると、発散の
おそれは少ないが非常に収束しにくいと考えられる。逆
に、非常に１に近い値をとると、収束は早いが、発散す
ることが予想されるためである。また、各項目に共通な
ダンピング係数を乗じた場合には、ダンピング係数のと
り方によって非常に収束しにくくなるような項目のある
ことがわかった。さらに、とのＥＭＩＴ項目においても
、収束結果の良悪および収束するまでに要する多重回帰
の回数などの収束条件はダンピングのかけ方に影響され
ることがわかった。
結果を雨るために、行列式（刀の（ｉ、１）成分に対し
て１よシある程度大きな定数をダンピングの目的で乗じ
た。ダンピング係数として、大きな値をとると、発散の
おそれは少ないが非常に収束しにくいと考えられる。逆
に、非常に１に近い値をとると、収束は早いが、発散す
ることが予想されるためである。また、各項目に共通な
ダンピング係数を乗じた場合には、ダンピング係数のと
り方によって非常に収束しにくくなるような項目のある
ことがわかった。さらに、とのＥＭＩＴ項目においても
、収束結果の良悪および収束するまでに要する多重回帰
の回数などの収束条件はダンピングのかけ方に影響され
ることがわかった。
この−例として、ＥＴＨＯ８ＵＸＩＭＩＩ）Ｅについて
のダンピング係数と収束条件の関係を次に示した。
のダンピング係数と収束条件の関係を次に示した。
ダ
ク
］−
１収
以上のように、ダンピングのかけ方は、多重回帰による
収束の条件に大きな影響を与えるため、測屋項目毎にダ
ンピングのかけ方を指定する機能を有することは、良い
収束結果、つまり精度の高い検量線を作成するために欠
くことができないといえる。
収束の条件に大きな影響を与えるため、測屋項目毎にダ
ンピングのかけ方を指定する機能を有することは、良い
収束結果、つまり精度の高い検量線を作成するために欠
くことができないといえる。
検量耐作成の一例として、前記モデル１に基づいた非線
形最小２乗法による多重回帰のフローチャートが第４図
に、検量線の良否判定フローチャートが第５図に示され
ている。第５図中のｎ、ｍ。
形最小２乗法による多重回帰のフローチャートが第４図
に、検量線の良否判定フローチャートが第５図に示され
ている。第５図中のｎ、ｍ。
ｚ＋ ｌ ｚ＊ ｌ ｚ＝ ！ １４ 、とはパラメー
タとして各項目毎に手操作入力する定数である。この検
量線良否判定には、同一濃度キャリブレータ２乗測定値
の差、キャリブレータ２乗測定平均値と検量線（回帰直
線）の關り、測定値の感度判定、回帰直線収束条件（Ｓ
Ｄ ｊｉｂ、 ）判定を考慮している。
タとして各項目毎に手操作入力する定数である。この検
量線良否判定には、同一濃度キャリブレータ２乗測定値
の差、キャリブレータ２乗測定平均値と検量線（回帰直
線）の關り、測定値の感度判定、回帰直線収束条件（Ｓ
Ｄ ｊｉｂ、 ）判定を考慮している。
最後に、ＥＭＩｉ’測定結果ｔ１従来どおりパラメータ
を１廻とした特別のグラフ用紙にプロットした場合を第
６図に、本発明に基づいてパラメータを演算により求め
て検Ｊ！＃！を作成した場合を第７図にそれぞれ示しで
ある。図から明らかなように、本発明に基づいて作成さ
れた検量線は、濃度に対して直線関係があシ、本発明の
目的は十分に達成されたことがわかる。測定条件の一例
を次に示す。
を１廻とした特別のグラフ用紙にプロットした場合を第
６図に、本発明に基づいてパラメータを演算により求め
て検Ｊ！＃！を作成した場合を第７図にそれぞれ示しで
ある。図から明らかなように、本発明に基づいて作成さ
れた検量線は、濃度に対して直線関係があシ、本発明の
目的は十分に達成されたことがわかる。測定条件の一例
を次に示す。
したがって、本実施例によれば、濃度に対して直線性の
ない薬物、ホルモン、抗生物質などの酵素免役反応によ
る測定において、検量線を作成する毎に、測定時点にお
ける装置区および試薬の状態に最も適した演算パラメー
タを、指定したダンピングのかけ方を用いた非線形最小
二乗法による多重回帰で求めることができるのて、濃度
にｉＪして直線性のある精度の高い検ｊｉ′線を自動的
に作成できるという効果がある。
ない薬物、ホルモン、抗生物質などの酵素免役反応によ
る測定において、検量線を作成する毎に、測定時点にお
ける装置区および試薬の状態に最も適した演算パラメー
タを、指定したダンピングのかけ方を用いた非線形最小
二乗法による多重回帰で求めることができるのて、濃度
にｉＪして直線性のある精度の高い検ｊｉ′線を自動的
に作成できるという効果がある。
以上説明したように、本発明によれば、薬物・ホルモン
・抗生物質などの酵素免疫反応による測定において、検
量線作成時の試薬の状態および測光タイミングに最も適
した検Ｍ、線を自動的に作成することができる。
・抗生物質などの酵素免疫反応による測定において、検
量線作成時の試薬の状態および測光タイミングに最も適
した検Ｍ、線を自動的に作成することができる。
第１図は本発明の実施例を示す構成図、第２図及び第３
図は検歇線作成フローチャート、第４図は非線形最小２
乗法による多重回帰フローチャート、第５図はｍｍ線良
否判定フローチャート、第６図はＬｌｌ）ＯＣＡＩＮＥ
測定の結果を試薬絵付のノ（ラメータ固厘グラフ用紙に
プロットして得られた検層線図、第７図は第６図の測定
結果を本実施例によって演算処理して描いた検敏＠図で
ある。 ２２・・・反応容器、４４・・・試料容器、４０・・・
ピベツ第 １ 図 ３
図は検歇線作成フローチャート、第４図は非線形最小２
乗法による多重回帰フローチャート、第５図はｍｍ線良
否判定フローチャート、第６図はＬｌｌ）ＯＣＡＩＮＥ
測定の結果を試薬絵付のノ（ラメータ固厘グラフ用紙に
プロットして得られた検層線図、第７図は第６図の測定
結果を本実施例によって演算処理して描いた検敏＠図で
ある。 ２２・・・反応容器、４４・・・試料容器、４０・・・
ピベツ第 １ 図 ３
Claims (1)
- １、抗てんかん剤・強心剤・気管支拡張剤等の薬物、ホ
ルモン、抗生物質などの酵素免疫反応による測定の各測
定項目毎に４箇以上の濃度の異なる標準物質を設置でき
るサンプル供給機構と該各標準物質を複数回サンプリン
グできるザンプリング機構とを備えた自動分析装置にお
いて、上記各標準物質の反応液の吸光度データを非線形
最小二乗法による多重回帰によって処理する第１の手段
と、該第１の手段における処理に基づき検量線を作成す
る第２の手段と、該第２の手段において作成された検量
線の直線性の良否を判定する第３の手段とを設けたこと
を特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9321782A JPS58211663A (ja) | 1982-06-02 | 1982-06-02 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9321782A JPS58211663A (ja) | 1982-06-02 | 1982-06-02 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58211663A true JPS58211663A (ja) | 1983-12-09 |
| JPH0547782B2 JPH0547782B2 (ja) | 1993-07-19 |
Family
ID=14076387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9321782A Granted JPS58211663A (ja) | 1982-06-02 | 1982-06-02 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58211663A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60154161A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Shimadzu Corp | 免疫反応測定に使用する検量線の作成方法 |
| JPS6382360A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Agency Of Ind Science & Technol | 陶石の化学組成による耐火度測定法 |
| JPS63145959A (ja) * | 1986-07-30 | 1988-06-18 | Shinotesuto Kenkyusho:Kk | 免疫的測定方法及び免疫的測定用キット |
| JPS6443743A (en) * | 1987-08-11 | 1989-02-16 | Nikkiso Co Ltd | Fully automated dry type grain size distribution measuring instrument |
| JPH08101198A (ja) * | 1986-07-30 | 1996-04-16 | Shinotesuto:Kk | 免疫的測定方法及び装置 |
| EP0790500A2 (en) * | 1996-01-09 | 1997-08-20 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of determining calibration curve and analysis method and apparatus using the same |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5451577A (en) * | 1977-09-30 | 1979-04-23 | Hitachi Ltd | Automatic chemical analyzer |
-
1982
- 1982-06-02 JP JP9321782A patent/JPS58211663A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5451577A (en) * | 1977-09-30 | 1979-04-23 | Hitachi Ltd | Automatic chemical analyzer |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60154161A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Shimadzu Corp | 免疫反応測定に使用する検量線の作成方法 |
| JPH0568655B2 (ja) * | 1984-01-24 | 1993-09-29 | Shimadzu Corp | |
| JPS63145959A (ja) * | 1986-07-30 | 1988-06-18 | Shinotesuto Kenkyusho:Kk | 免疫的測定方法及び免疫的測定用キット |
| JPH0692969B2 (ja) * | 1986-07-30 | 1994-11-16 | 株式会社シノテスト | 免疫的測定方法 |
| JPH08101198A (ja) * | 1986-07-30 | 1996-04-16 | Shinotesuto:Kk | 免疫的測定方法及び装置 |
| JPS6382360A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Agency Of Ind Science & Technol | 陶石の化学組成による耐火度測定法 |
| JPS6443743A (en) * | 1987-08-11 | 1989-02-16 | Nikkiso Co Ltd | Fully automated dry type grain size distribution measuring instrument |
| EP0790500A2 (en) * | 1996-01-09 | 1997-08-20 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of determining calibration curve and analysis method and apparatus using the same |
| EP0790500A3 (en) * | 1996-01-09 | 1998-11-18 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of determining calibration curve and analysis method and apparatus using the same |
| US5948368A (en) * | 1996-01-09 | 1999-09-07 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of determining calibration curve and analysis method and apparatus using the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0547782B2 (ja) | 1993-07-19 |
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