JPH06308131A - データ処理装置 - Google Patents

データ処理装置

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JPH06308131A
JPH06308131A JP9574493A JP9574493A JPH06308131A JP H06308131 A JPH06308131 A JP H06308131A JP 9574493 A JP9574493 A JP 9574493A JP 9574493 A JP9574493 A JP 9574493A JP H06308131 A JPH06308131 A JP H06308131A
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JP
Japan
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data
processing device
data processing
devices
sample
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JP9574493A
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English (en)
Inventor
Rie Yamagishi
理恵 山岸
Takeshi Sato
剛 佐藤
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】複数の自動分析装置を接続して、個々の装置か
ら得られた校正用試料の測定値から各装置の補正係数を
算出し、自動的に装置間の測定値差を校正することによ
って、複数の装置間での測定値の一致をはかり、信頼性
の高い測定データを提供すること。 【構成】各自動分析装置において、各分析項目毎に数種
の同一試料を測定し、それをインターフェイスを介して
データ処理装置31へ送信する。処理装置31の演算部
29で、基準とする装置に対する相関処理を行い、これ
を補正係数として処理装置31の記憶部30に記憶す
る。この補正係数を一般試料の測定値に乗じて処理装置
31に接続された出力装置から出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、自動分析装置のデータ
処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】臨床検査の分野では、検体数の増加に伴
って、生化学自動分析装置の普及が高まってきた。さら
に効率を高めるため、大病院や検査センター等では、同
一分析項目を複数の自動分析装置を使用して短時間に大
量の検体を処理できるようになった。また、同一項目の
分析において装置故障用バックアップ装置や夜間緊急用
装置と、昼間のルーチン装置と別に備えている場合が多
く、これら装置間でのデータの互換性は、検査の信頼性
向上の上で重要である。したがって、検査データの信頼
性を確保するため個々の装置の性能は向上し、装置毎の
精度管理やホストコンピュータによるデータ管理による
人為ミスの減少等の機能は発展してきた。しかし、個々
の装置の精度管理は行われているが、装置間の測定値差
は全く管理されておらず、同一施設内で装置ごとに測定
値が異なる可能性があった。このように同一施設内です
ら測定値が異なる可能性があるのだから、施設が異なれ
ば同一項目だからといって単純に比較検討することはで
きない。したがって、転院するたびに同じ検査を行わな
ければならず、患者に時間的,経済的負担を強いること
になっていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では複数
の装置間での測定値差は考慮されておらず、装置間の測
定値差を校正するには装置個々に校正用試料を測定し、
その結果を手作業で集計,演算後、検量係数を補正しな
ければならず非効率的であった。したがって、本発明の
目的は、複数の自動分析装置の測定値差を自動的に校正
し、複数の装置での測定値の一致を図り、検査の信頼性
向上を目指すものである。
【0004】尚、本発明は同一施設内のみならず、施設
間のデータ管理も対象とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の自動分
析装置を接続したデータ処理装置に、各々の装置におけ
る校正用試料の測定結果を集計し、演算,検量係数の補
正を自動的に行うことにより達成される。
【0006】
【作用】本発明によって、今まで校正されていなかった
装置間の測定値差が、簡便で迅速に補正でき、複数の装
置での測定値の一致を図ることができる。これにより検
査の信頼性が高まることはもちろん、測定結果に互換性
があるので転院するたびに同じ検査を繰り返さずに済
み、時間的,経済的節約につながる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の実施に用いる実施例1を図
1,図2aにより説明する。まず、自動分析装置32−
32″の動作例を図3により説明する。
【0008】試料を入れた試料カップ1は、試料ディス
ク2の上に複数個設置される。試料ディスク2は、コン
ピュータ3によりインターフェイス4を介して制御され
る。試料ディスク2は、予め登録された順番に従って試
料分注プローブ5の下まで回転移動し、試料は試料分注
プローブ5に連結された試料用ポンプ7により反応容器
6の中に所定量分注される。試料を分注された反応容器
6は恒温槽8に連絡された反応槽9の中を第一試薬添加
位置まで移動する。第一試薬添加位置まで移動した反応
容器6は、試料分注プローブ10に連結された試薬ポン
プ11により試薬ビン12から吸引された所定の第一試
薬が加えられる。第一試薬添加後の反応容器6は撹拌装
置13の位置まで移動、最初の撹拌が行われる。内容物
が撹拌された反応容器6は光源14から発した光束を通
過し、この時の吸光度は多波長光度計15で検知され
る。検知された吸光度信号は、アナログ/デジタル(A
/D)コンバータを経由し、インターフェイス4を介し
てコンピュータ3に入り、試料中の測定対象濃度に変換
される。この濃度変換方法は、測定項目によって異なる
が、例えば、酵素項目では次のような式によって変換さ
れる。
【0009】
【数1】
【0010】ここで、△Aは吸光度変化、εはモル吸光
係数、Lはセルの光路長、Vsは試料容量、Vrは試薬
容量である。このうち、カッコ内はKファクターと呼ば
れ、酵素活性の検量係数である。自動分析装置では、K
ファクターを予め設定しておき測定した吸光度変化に乗
じて活性値を求めている。Kファクターには、Kファク
ターを構成する個々の物理的パラメータを理論値とし
て、計算で求めるF値がある。しかし、F値は装置その
もののバラツキを全く考慮しておらず、現実にそぐわな
いものである。そこで最近は、Kファクターを複数濃度
の反応指示物質を測定して検量を行う実測K値が用いら
れるようになった。実測K値は、F値より現実的ではあ
るが、酵素活性の測定にはサンプルの経時変化や試薬の
ロット間差、劣化などの装置以外で測定誤差をおこす因
子も多く存在し、実測K値だけでは補正しきれない場合
もある。そこで本発明では、各自動分析装置32−3
2″において各分析項目毎に数種の同一試料を測定し、
それをインターフェイス4を介してデータ処理装置31
へ送信する。データ処理装置31の演算部29は、基準
とする装置に対する相関処理を行う。この時に得られる
線形一次回帰は、 y=aix+bi で表され、各装置のデータ処理上の補正係数としてデー
タ処理装置31の記憶部30に記憶される。この補正係
数を一般試料の測定値に乗じて、データ処理装置31に
接続された出力装置33から出力、報告書を作成する。
この方法を用いた測定例をALPを例として図4で示
す。一般的にALPは、装置間差が大きい項目である
が、本発明を利用すれば、装置間差を簡単に補正するこ
とができるのである。測定の終了した反応容器6は洗浄
機構19の位置まで移動し、容器洗浄ポンプ20により
内部の液排出後水で洗浄され次の分析に供される。
【0011】実施例2として、図2bでは、各自動分析
装置32−32″において各分析項目毎に数種の同一試
料を測定し、それをインターフェイス4を介してデータ
処理装置31へ送信する。データ処理装置31の演算部
29で、基準とする装置に対する相関処理を行い、これ
を補正係数としてデータ処理装置31の記憶部30に記
憶する。この補正係数を各自動分析装置32−32″の
インターフェイス4を介してコンピュータ3の中の各測
定項目のKファクターに乗じてKファクター自体を校正
し、通常試料の測定を行い結果をプリンタ17から印字
出力するか、CRT画面18上に表示出力する。
【0012】
【発明の効果】本発明によって、今まで校正されていな
かった複数装置間の測定値差を簡単に補正でき、より汎
用性の高い測定データを供給でき、測定結果に対する信
頼性が高まるという効果がある。また、測定結果に互換
性があるので転院するたびに同じ検査を繰り返さずに済
み、時間的,経済的節約につながる。
【図面の簡単な説明】
【図1】データ処理装置の内部構造図である。
【図2】複数の自動分析装置を用いたシステム構成例
1,2を示す図である。
【図3】自動分析装置の一例を示す図である。
【図4】実際に本発明を用いた場合のALPの測定例を
示す図である。
【符号の説明】
1…試料カップ、2…試料ディスク、3…コンピュー
タ、4…インターフェイス、5…試料分注プローブ、6
…反応容器、7…試料用ポンプ、8…恒温槽、9…反応
槽、10…試薬分注プローブ、11…試薬ポンプ、12
…試薬ビン、13…撹拌装置、14…光源、15…多波
長光度計、17…プリンタ、18…CRT画面、19…
洗浄機構、20…洗浄ポンプ、29…データ処理装置の
演算部、30…データ処理装置の記憶部、31…データ
処理装置、32−32″…自動分析装置、33…出力装
置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】生体試料中の被検物質と、それを直接的,
    間接的に係らず検出し得る物質を含有する試薬を混合
    し、その反応物質に光を照射して吸光度又は濁度、又は
    反射率を測定することにより、被検物質の定量を行う自
    動分析装置において、複数台の自動分析装置の各々から
    得られた任意の校正用試料の測定結果から、各装置の補
    正係数を算出し、自動的に装置間の測定値差を校正する
    ことを特徴とするデータ処理装置。
JP9574493A 1993-04-22 1993-04-22 データ処理装置 Pending JPH06308131A (ja)

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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004132961A (ja) * 2002-07-31 2004-04-30 F Hoffmann La Roche Ag 生体サンプル液分析用の検査装置
JP2006017600A (ja) * 2004-07-02 2006-01-19 Hitachi Sci Syst Ltd 臨床検査システム
JP2006047325A (ja) * 2005-10-24 2006-02-16 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2008216263A (ja) * 2008-04-07 2008-09-18 Toshiba Corp 自動分析装置
EP2182364A2 (en) 2008-10-28 2010-05-05 Sysmex Corporation Sample analyzer and calibration method of sample analyzer
JP2010249839A (ja) * 2010-06-30 2010-11-04 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2010256290A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Terametsukusu Kk 吸光度計測装置またはその方法
JP2011149747A (ja) * 2010-01-20 2011-08-04 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2012098295A (ja) * 2011-12-13 2012-05-24 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2013205193A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Sysmex Corp 検体分析システム、検体分析装置、及び検体分析システムの管理方法
JP2021025803A (ja) * 2019-07-31 2021-02-22 株式会社リコー 分光センサの校正装置、及び分光センサの校正方法

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8182747B2 (en) 2002-07-31 2012-05-22 Roche Diagnostics Operations, Inc. Test device for analyzing a biological sample liquid
JP2004132961A (ja) * 2002-07-31 2004-04-30 F Hoffmann La Roche Ag 生体サンプル液分析用の検査装置
JP2006017600A (ja) * 2004-07-02 2006-01-19 Hitachi Sci Syst Ltd 臨床検査システム
JP2006047325A (ja) * 2005-10-24 2006-02-16 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2008216263A (ja) * 2008-04-07 2008-09-18 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2010107255A (ja) * 2008-10-28 2010-05-13 Sysmex Corp 検体分析装置、検体分析装置の校正方法及びコンピュータプログラム
EP2182364A2 (en) 2008-10-28 2010-05-05 Sysmex Corporation Sample analyzer and calibration method of sample analyzer
US8252593B2 (en) 2008-10-28 2012-08-28 Sysmex Corporation Sample analyzer and calibration method of sample analyzer
EP2182364A3 (en) * 2008-10-28 2017-08-16 Sysmex Corporation Sample analyzer and calibration method of sample analyzer
JP2010256290A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Terametsukusu Kk 吸光度計測装置またはその方法
JP2011149747A (ja) * 2010-01-20 2011-08-04 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2010249839A (ja) * 2010-06-30 2010-11-04 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2012098295A (ja) * 2011-12-13 2012-05-24 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2013205193A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Sysmex Corp 検体分析システム、検体分析装置、及び検体分析システムの管理方法
JP2021025803A (ja) * 2019-07-31 2021-02-22 株式会社リコー 分光センサの校正装置、及び分光センサの校正方法

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