JPS58201121A - 遅延時間補正方式 - Google Patents

遅延時間補正方式

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JPS58201121A
JPS58201121A JP57083024A JP8302482A JPS58201121A JP S58201121 A JPS58201121 A JP S58201121A JP 57083024 A JP57083024 A JP 57083024A JP 8302482 A JP8302482 A JP 8302482A JP S58201121 A JPS58201121 A JP S58201121A
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JP
Japan
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correction
circuit
time
delay
point
Prior art date
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JP57083024A
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JPH034925B2 (ja
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Takashi Matsumoto
隆 松本
Akira Yamagiwa
明 山際
Ryozo Yoshino
亮三 吉野
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS58201121A publication Critical patent/JPS58201121A/ja
Publication of JPH034925B2 publication Critical patent/JPH034925B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/04Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の対象 本発明は、試験機や、計算機などで、クロック発生器か
ら、クロックを使用する所までの遅。
延時間を同一にする為の遅延時間補正方式に関する。
従来技術 試験機の駆動回路における従来のクロック間タイミング
スキーー自動補正回路を第1図によ。
り説明する。
本回路は、基準駆動回路1,6点からf点までの遅延時
間iafと、!1点からf点までの遅延。
時間tyfを、同一にする為の遅延回路2と、被測定駆
動回路3の出力を比較器4に接続する為のS F(11
5、S F(2+ 6及び、比較器4の出力により制御
される遅延回路7より構成される。
タイミングスキュー補正は、第1VcSW(2)6を2
点に接続し、基準。駆動回j18iの出力を、比較器4
づ検出できる条件で、SIF’(1)5をC点に。
S F (216をd点に接続し、駆動回路乙の出力が
比較器4で検出できる様に、遅延回路7を調整する。
この時、遅延回路7の遅延時間を最小遅延時間から5順
次遅延時間を大きくして行き、比較。
器4が駆動回路6の出力を検出した時点で、遅。
延時間を大きくするのを停止する。
または、遅延回路7の遅延時間を最大遅延時。
間から、順次遅延時間を小さくして行き、比較。
器4が、駆動回路乙の出力を検出I7た時点で、4遅延
時間を小さくするのを停止する。
第2に、他の駆動回路についても1選択回路48により
選択して1選択した駆動回1i!8Vc接続さ。
れる遅延回路の調整を同様に行う。     ]1゜こ
の動作を、すべての補正対象について行うことにより、
基準駆動回路の遅延時間に、すべての補正対象、駆動回
路の遅延時間を合わすことが可能となる。
しかし、この方式では、!I点から1点までの遅延時間
と、補正対象である駆動回路乙の出力α点から、比較器
40入力f点までの遅延時間及び、他のすべての補正対
象の同じ所の、遅延時間差は、補正後のタイミングスキ
ューの許容差と比較して、充分小さい必要がある。
このため、補正対象が多くなると、試験機の。
製造が困難になる。
また、遅延回路への遅延時間設定回数が多い。
為、補正時間が長くなる。
発明の目的 本発明の目的とするところは、従来技術での。
問題点を除去するものであり、補正に使用する回路など
の、遅延時間差及び、補正対象のタイミングスキューを
測定し、補正することを可能にすることにより、試験機
や計算機の製造を容易にする遅延時間補正方式を提供す
ることにある。
本発明の特徴とするところは、″4Il補正クロッ。
り及び、補正を行う為の測定系遅延時間を測定し、測定
した時間力、1ら、クロックスキューを求め、遅延回路
に、遅延時間を設定することである。
発明の実施例 本発明の一実施例である試験機の遅延時間設定回数を第
2図により説明する。
本回路は、6点とd点の時間差を測定する時。
開蓋測定回路1.測定結果から、補正値を求め、。
遅延回路5の制御を行う制御部2と、駆動回路、4の出
力を時間差測定回路1に接続するための3゜SW (I
j 5 、選択回路6及びb点d点間の遅延時間測定に
使用するS W (217より構成される。 。
タイミングスキニーの補正は、第1に、5F(i15を
0点に接続し、6点は開・放端とし、、5F(2)7を
閉じ時間差測定回路1の入力であるd点と6点を短絡し
、第3図に示す波形がd、を点の入力となる様にする。
第2に時間差測定回路1の比較電圧を6点は。
VRl、 d 点ハVR2に設定することにより%de
点から6点までの測定系の往復の遅延時間tsが測定で
きる。
この測定遅延時間t・は1選択回路6を切換iて丁べて
の補正対象の糸について測定する。
第31C,5W(1)5を6点に接続シ、5W(2)7
゛を開き6点に対するd点の時間差tgdを測定等る。
の関係があるため txを求める。
このtxをすべての補正対象につめて求める。
第4に、第3で求めたすべてのtxが同一になる様に、
各遅延回路3に設定する値を求め設定する。
実施例では、補正対象の遅延時間を測定する測定系の遅
延時間を測定し、計算により補正を行うため、補正対象
が多くても1等長配線なiを行う必要がなく、製造が困
難とはならず、ま゛た。補正対象の遅延時間も測定し、
計算により“補正を行うので、遅延回路への設定も一度
で門い。
発明の効果 本発明によれば、遅延時間を測定するため、。
計算により、補正値を求めることが可能となり、。
製造上の問題を少くできる。
又、補正が一度の測定と、遅延回路への設定で良いため
、補正時間の短縮も可能である。 。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来技術による試験機駆動回路の。 タイミングスキー−自動補正回路図、第2図は本発明の
一実施例の試験機駆動回路のタイミングスキュー自動補
正回路図、第3図は同じ゛(測定系の測定時の波形図で
ある。 1・・・時間差測定器。 2・・・制御部。 6・・・遅延回路。 7 ・ 27   図 才  2 図 才  3  図 −一−チ吟圏

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、複数のクロックを多数の点へ供給すること。 が必要な装置において、各クロック分配経路中。 にプログラマブル遅延回路と、前記クロック供。 給圧から時間差測定器迄の切換回路を有し、前。 記測定器にて基準クロックと切換回路を経由し、た調整
    すべきクロックとの時間差を測定し、切。 換回路の電気長をあらかじめ測定しておき、前記基準ク
    ロックとの時間差に補正を行い、この補正後の時間差が
    なくなる様に前記プログラマブル遅延回路を制御し、ク
    ロック位相差をなくし調整を完了させ、さらに切換回路
    により次のクロックを前記と同様にして調整していき、
    装置内の全てのクロックの位相差をなくすることを特徴
    とする遅延時間補正方式。
JP57083024A 1982-05-19 1982-05-19 遅延時間補正方式 Granted JPS58201121A (ja)

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JP57083024A JPS58201121A (ja) 1982-05-19 1982-05-19 遅延時間補正方式

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JP57083024A JPS58201121A (ja) 1982-05-19 1982-05-19 遅延時間補正方式

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JPS58201121A true JPS58201121A (ja) 1983-11-22
JPH034925B2 JPH034925B2 (ja) 1991-01-24

Family

ID=13790664

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JP57083024A Granted JPS58201121A (ja) 1982-05-19 1982-05-19 遅延時間補正方式

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01216274A (ja) * 1988-02-25 1989-08-30 Fujitsu Ltd Lsi試験装置
US6784684B2 (en) 2001-09-25 2004-08-31 Renesas Technology Corp. Testing apparatus including testing board having wirings connected to common point and method of testing semiconductor device by composing signals

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS524751A (en) * 1975-06-27 1977-01-14 Ibm Automatic clock control system
JPS55960A (en) * 1978-06-20 1980-01-07 Fujitsu Ltd Clock distributor

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JPH034925B2 (ja) 1991-01-24

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