JPS58162848A - 分析炉 - Google Patents

分析炉

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Publication number
JPS58162848A
JPS58162848A JP58022964A JP2296483A JPS58162848A JP S58162848 A JPS58162848 A JP S58162848A JP 58022964 A JP58022964 A JP 58022964A JP 2296483 A JP2296483 A JP 2296483A JP S58162848 A JPS58162848 A JP S58162848A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
platform
furnace
analytical
slot
chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58022964A
Other languages
English (en)
Inventor
ラリ−・エス・オブライエン
ワ−ド・エス・ケイラ−
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leco Corp
Original Assignee
Leco Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Leco Corp filed Critical Leco Corp
Publication of JPS58162848A publication Critical patent/JPS58162848A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27BFURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B17/00Furnaces of a kind not covered by any preceding group
    • F27B17/02Furnaces of a kind not covered by any preceding group specially designed for laboratory use
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N31/00Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods
    • G01N31/12Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods using combustion

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Clinical Laboratory Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Devices For Use In Laboratory Experiments (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は分析装置、%に分析炉に関するものである。 物質試料を制御された温度および槙境条件の下で試験す
るために多種類の分析炉が開発されてきた。このような
炉は例えば灰融解試験を行なうために使用される。すな
わち、灰試料を炉内に挿入し、炉内の温度を上昇させ、
試料を観察して灰の樵々の変形温度を決定する。 1つの周知の分析装置は一般に円筒形の炉を含み、この
炉は炉室を画定しかつ炉室と連通する開口を有する床を
含むものである。この分析装置はさらに試料支持用プラ
ットホームを含み、このプラットホームは炉床開口と同
心整合しかつプラットホームが炉内に配置されるところ
の分析位置と、プラットホームが炉の下方(配置される
ところの装荷位置との間で垂直方向に移動可能である。 プラットホームは装荷および除荷することが比較的困難
である。すなわち、プラットホームは装荷位置にあると
きでも炉の直下方に配置される。したかつ
【、試料をプ
ラットホーム上に置きまたプラットホームから堆り去る
ためKは、炉の下K、さらに詳述すると降下プラットホ
ームと炉床との間に手を伸ばさなければならない。 分析装置の後部分における炉および試料プラットホーム
の典盤的配置は試料処理をさらに複雑にしている。 抵抗形の分析炉は炉壁中を通って炉室内へ延在する複数
の電気発熱体を含む。通常、炉は着脱可能なカバーを含
み、発熱体を収容するために要氷される開口、チャンネ
ルまたはボアのため、炉室内の空気が比較的急速に炉か
ら流出する。これは炉の温度調整を困難にしかつ炉の′
区力賛求t7および分析装置の操作費を壇加す・る。 発熱体を炉内に密封するために発熱体と炉の各種部分と
の間にjスケットが配置されてきたけれども、これらの
ガスケットは比較的に脆弱であって容易に破損される。 さらに、ガスケットは典型的にはリング形部材であり、
これは炉壁の上衣面と炉カバーとの間の唯一の固定位置
にのみ配置されうる。 上記間趙点は本発明によって解決される。本発明の一面
に従って、炉室と、プラットホームか炉室内に支持され
るところの分析位置と、プラットホームが接近を便利に
するために炉から遠隔の所に配置されるところの装荷位
置との間で移動可能な試料支持プラットホームとを含む
分析装置炉が提供される。 本発明の別の面に従って、複数の発熱体が炉中を通って
炉室内へ延在し、第一および第二のスロット機構を一定
する、第一および第二の絶縁部材が発熱体の各種部分を
協同的に受入れ、この構造により発熱体が貫通する点に
おける炉壁を介する熱損失が大幅に低減される。好適実
施態様では、第一のスロット1fs構と第二のスロット
4!I構は互に角配向される。スロットは互に角配向さ
れているため、第一の部材の一部分が第二のスロット機
構の露出部分を通る空気流を制限し、同様に第二の部材
の部分が第一のスロット機構の露出部分を通る空気流を
制限する。 炉の熱損失が低減されるので、炉室内の温度はより精密
に調整することができ、かつ炉の電力要求量が低減され
る。 本発明のこれらおよび他の目的、利点および特徴を工以
下の説明ならびに添付図面を参照することによってさら
によく理解されるであろう。 本発明の好適実施態様に従って構成された分析装置炉が
図面KIOで示されている。第1.2図に見られるよう
に、分析装置IOはハウジングまたはキャビネット12
、ハウジング内に支持されかつ炉UtS(第3図)を画
定する炉14を含む。 分析装重炉はまた試料ペデスタル16およびペデスタル
輸込機構is (第2.5.6図)を含む。 複数の加熱体加(第3図)が炉室内に配置されかつ試料
のli!iI解のための熱を供給するために制御される
。 ハウジング12 (第1.2図)は水平の作業区域ムを
固定する長方形台ηを含む。主電力スイッチ2b(第1
図が台ご内に配置されて炉の主電力制御を与える。キー
ボード28(%−1,2図)は 乙上に装着されかつ台
から恢′方かつ上方に傾斜させられ、ディスプレイパネ
ルIかキーボードに隣接して白々かも垂直上方に延在し
かつディスプレイ諺な含む。円弧状のペデスタル隔ii
[壁あがディスプレイパネルlからハウジング120側
面あまで延在する。第2図に見られるように、壁真に円
のAセグメントの円弧状横断面を有する。炉キャビネッ
ト蕊がキーボード公、ディスプレイパネル加および隔室
壁あの上方に支持されかつ煙りガラス前窓40を含む。 キャビネットあは一般に垂直でありかつ本技術分野の通
常の知識を有する者には周知の方法で炉14を支持して
いる。 炉14 (第1.3図)は円筒形の外側壁詔な有し、円
形の床42と炉床伺が炉の下部分を構成している。床4
2と炉床利は環状部材であり、狭い部分46 mと広い
部分46 bを有する攻付きメア46を画定している。 床42の上表面は円形凹部またはボケツ)50を画定し
、この中に炉床44が配置されている。ホケット(資)
の直径は炉床Iの外径と大体同一であり、床42と炉床
44が密接に嵌合するようになっている。さらに、床4
2は横状***部52を画定し、この***部は後述するよ
うに9411壁を床42の中央に置く、管状ボア8は軸
方向ボア46 K It直に床部材C中を通って半径方
向に延在し、ついで床42と炉床I中を通って上方に延
在して炉室15と遅過している。担体または反応ガスは
加圧ガス源をボア54に取り付けることによって炉室1
5に導入される。 炉の儒をは外肯うイナ聞、中間ライナ印、内側ライナ心
および発熱体支持体−な含む。同心配置のライナ聞、印
、心はすべて円筒形でありかつ互に密接嵌合するように
寸法を定められている。内−jライナ心の内径は炉室1
5の横限界を画定しかつ中間ライナ舶の内極および炉床
Iの外径と実質的に等しい外径を有する。同様に、中間
ライナ印は外側ライナ郭の内径と実質的に等しい外径を
有する。外側ライナ詔はさらに下部、・・状凹部(資)
と上部壌状凹部困を画定し、外側ライナを炉14の他の
部品に対して同心に配置している。外−ライナ聞は床部
材42上に配置され、除起[52が凹部圀中に密接嵌合
して床42を外側ライナに対して同心に配置している。 中間ライナωは炉床44とmMkf!に合しかつ***部
52上に位置している。最後に、内側ライナ成は炉床4
4主に位置している0円筒形の、半径方向に延在するボ
ア70は観察孔の役目をし、2イナ詔、印、成を頁通し
、かつ炉室内の試料を特に加熱中績察するための手段を
与えている。 炉側壁の頂部には砿状支持部材關があり、この支持部材
は外側ライナ聞および床42の外径に実質的に等しい外
径を有する。支持部材図は下方に延在する横状***部7
2を有し、この***部はポケット簡の直径に*質的に等
しい外径を有する。支持部材64(第4図も参照)は外
負2イナ詔上に位置し、***部72がポヶッ)68内に
配置されて支持部材を外側ライナと同心にしている。支
持部材−の内径は内側ライナ成の内径と実質的に同一で
ある。支持部材例の上表面74は平坦でありかつ6対の
離間した発熱鉢受は入れチャンネル76a、;6bを含
む。6対のチャンネル76m、76bは互に平行に配向
されかつ支持部材4の外衣面78から内六面−まで延在
する。さらに、6対のチャンネル76a、76bはチャ
ンネル間を延在する支持部材間の半径に平行に延在する
。 ガスケツトドは発熱体支持部材−の潰上に配置されかつ
支持部材−と実質的に等しい外径を有する。さらに、カ
バー84がガスケット圏上に位置しかつガスケツ)82
と実質的に等しい外径を有する。頂部プラグ86は円筒
形部材であり、その拡大上部円筒形部分88が縮小下部
円筒形部分90に一体に接合されている。下部分冊の外
径はガスケツ)Dの内径に実質的に等しく、拡大部分冊
の外極はカバー84の内極に実質的に等しい。したがっ
て、プラグ86は力ヵ−84およびガスづ・ット82と
密接歌合しかつガスケット上に位置している。 炉はまた加熱体スペーサ92(第3.4図)を含み、ス
ペーサ92は円筒形部材であり、支持部材間の内径に実
質的に等しい外径およびプラグ86の下部分90の外径
KW質的に等しい直径の軸方向に延在するボア93を有
する。スペーサ92は6対のスロット94を含み、6対
のスロット94畠、94bはスペーサを垂直に貫通しか
つスペーサの外表面から内方に貫通している。6対のス
ロツ) 94m、 94bはスペーサ92に関して半径
方向に細長くかつ支持部材lのチャンネル76g+、7
6bとそれぞれ整合するように配置されている。さらに
、6対のスロツ) 94m、94bは相互にかつそれら
の間を延在するスペーサ920半径に平行である。 口1プ95が6対のスロット94m、 94bによって
一定されている。 横状の炉室カバー96は中間ライナ印の内径に実質的に
等しい外径を有し、その中央ボア99はプラグ間の下部
分90の外径に実質的に等しい直径を有する。カバー9
6は内側ライナーの櫃状頂表面上に位置しかつその直上
に配置されたスペーサ92を支持している。カバーM家
平坦部材でありかつこれを貫通する6つの均等に離間し
た細長いスロット98(第3図)を含む。各スロツ、ト
郭はスペーサ92の一対のスロット94a、94bの下
方に配置され、細長いU字形加熱体が細長いスロット対
94a、 94bおよびこれとjli +ti整合した
スロット98を通して下方へ挿入されるようになってい
る。スロット94と98はそれらの縦軸が角関係に配−
Jされシ好適実施態様で、は直角をなしている。第3図
に見られるように、スペーサ92の各ロープ95は加熱
体加の脚部博聞の関連スロット98の中央部分を実質的
におおっている。 複数の加熱体20(第3.4図)は炉室15中へ下方に
延在する。加熱体かは市販のものであり、好適にはニケ
イ化モリブデンから製作されている諸加熱体かは一対の
平行脚部1()Lla、II)Ubを含む 字形部材で
あり、これらの脚部は支持部材間のチャンネル76a、
76b中を水平に通り、スペーサ92のスロツ) 94
a、 94bおよびカバー%のスロツ)98中を下方へ
通って炉室15中へ延在する。加熱体41は周知の方法
で電力源144(2)10図)から電力を与えられてf
gts内に熱−を発生する。 第4図に見られるよう罠、チャンネル16およびスロツ
)94.98は加熱体加の脚部向を密接に受け入れるよ
うに寸法を定められている。かくして、胸部100a、
1(2)bの外径はチャンネル76およびスロット94
の幅と実質的に同一である。ざらに、脚部1(Kl a
と+tMl b間の外間隔はカバー%中に形成された接
疎方向に延在するスロット98と冥質的に同一である。 スペーサ92とカバー96はそれにより協同して加熱体
Jを炉14内KI!對し、空気が加熱体脚部11)Ua
、1曲bK沿って上方へ流れるのを制限する。もちろん
、炉14を構成する部材のおのおのおよび部材16はア
ルミナのような適当な耐火セラミック材料から作られて
いる。 試料支持ペデスタル16(第1.3図)は円筒形基底部
分102およびこれに一体に接合されかつこれから上方
に延在する狭い円筒形プラットホーム部分104を含む
。水平に延在する試料プラットホーム106はペデスタ
ル16の上表面である。ペデスタル16はアルミニウム
カップ108 内に支持され、カップ108は一般にカ
ップ状の譲状部材である。 ペデスタル輸送機@tS(第5.6図)はロッドレスシ
リンダ110およびこれにピボット結合された支持プレ
ート112を含む。シリンダ110はイリノイ州エルム
ハースト(Elmhurst)のオリがコーボレーシv
i y (Origa Coporaflon)からタ
イプ200/alとして市販されているものである。 シリンダ110はブラケット113によってハウジング
12の一面あに固着されている(12図参照)。 シリンダ110は垂直方向に移動可能な要素114を一
体に含み、要素114はシリンダの高さに沿って上下に
移動する。L字形ブラケット116は二またに分かれた
脚部118を有し、脚部118はポル) 120を使用
して移動可能要素114に固着されている。脚部118
からブラケット116の水平脚部122が延在する。支
持プレート112はピボットビン124で脚部122上
に水平配向をなしてピボット支持された平坦部材である
。かくして、支持プレート112はピン124の垂直軸
線を中心として水平平面内で自由に回動することができ
る。作業プラットホーム130(第1.2.5図)はね
じを使用して部材112にこれをおおう関係で固着され
ている。プラットホーム130は一体前面131を含み
、この前面は部材112およびこれによって支持された
部材130.16を手動で回動させるためのハンドル1
33を支持している。駆動シャ7 ) 126は部材1
30を介して支持プレート112中に支持され、支持プ
v、−) 112の下側に固着された電気モータ128
で駆動される。カップ108は駆動シャフト126の端
上にこれと共に回転するように支持されている。したが
って、モータ128が作動させられると、駆動シャフト
126はカップ108およびペデスタル16を回転させ
る。この回転製作は試料の均一加熱および試料中の最小
温度勾配を確実にする。センサ132はカップ108に
隣接して作業プラットホーム130シに装着されてカッ
プの回転位置を検出する。センサ132の構造および動
作については本願と同日付けで出願された米国特許出願
第2155.171号に許述されている。 第2.8.9図は作業プラットホーム130シたがって
試料プラットホーム106の移動を所定水平平面および
所定喬直麿に制限するための案内機構を示す。隔富壁詞
は水平みぞ134mと、側面あに近接しかつ水平みぞ1
34mと遅過する垂直みぞ134bとを含むみそ機構1
34を含む。スタッドまたは突起138が作業プラット
ホーム130からみぞ134中へ延在する。スタッド1
38はみぞ134中でのみ移動し、これらは共に作業プ
ラットホーム130およびその上に支持された試料プラ
ットホーム106の移動を所定水平平面に分った移動の
みまたは庚定垂直線に沿った移動のみに制限する遅動装
置の役目をする。スタッド138がみぞ134b中に配
置されているときには、ペデスタル16はボア荀および
炉14と同心整合し、したがってペデスタル16が上方
へ移動させられるとき、それは第3図に見られるように
炉14内へ移動する。スタッド138がみぞ134中で
移動するとき、ペデスタル16は3つの基本位置へかつ
3つの基本位置間で移動させられ−る。分析位置は第3
図に示されており、この位置においてペデスタル16は
ボア46と垂直または同心整合しかつ炉m15内へ完全
に挿入されている。この位置において、試料プラットホ
ーム106は観察孔70と整合した炉室15の中央部分
に配置されて〜・くる。スタッド138がみぞ134b
中を下方に移動すると、シリンダ110の作動によって
ペデスタル16は炉14かも第2.7図に示された不作
動位置へ押出され、この位置においてペデスタルは炉と
垂直整合しているが、試料プラットホーム106は炉の
下方に配置されかつこれと整合している。スタッド13
8がみぞ134鳳中を移動してみそ134bから遠ざか
ると、ペデスタル16はt71!J1図に示された装荷
位1(第2図に破線で示され℃いる)へ水平に回動させ
られ、この位置において試料プラットホーム106は炉
14から出てその下方に配置されている。かくして、円
筒炉14が下方に延長された場合、この仮想延長部は装
荷位置にあるペデスタル16のどの部分も通過しないこ
とになる。 第10図は適当なインターフェイス回路を含むコンピュ
ータ140を使用する分析装置のコントロールシステム
を示す。コンピュータはキーボード公から指令信号を受
信するためにキーボードに結合され、ディスプレイn、
ペデスタルモータ128、ガス制御装置142および発
熱体電力源144KM合された出力ボートを有し、゛こ
れらへ適当な制御信号を送る。コンピュータはここで記
載されるように炉を制御するために通常の要領でプログ
ラムを組み込まれている。ガス辿j碑装に142はボア
54(第3図参照)にガスを導入するためのソレノイド
パルプのような任意の周知装置であり、電力源144は
加熱体か(第3図)へ電流を送給する。 分′#装置炉10が操作されるべきときKは、分析中炉
室15内に維持されるべき温度および環境に関する所望
情報がキーボード公を介してコンピュータ140にエン
トリされる。ペデスタル16・は第1図に示された装荷
位w(第2図に破線で示されている)へ移動させられ、
この位置においてプラットホーム106は、プラットホ
ームハンドル133を把持してプラットホームを前方へ
回動させることによって、炉14から出てその下方に配
置されている。分析されるべき試料がついでプラットホ
ーム106上に置かれる。随意的には試料はプラットホ
ーム106上に置かれた試料トレイ中に置かれる。つい
でオペレータはノ・ンドル133を把持しかつ作業プラ
ットホーム130をピボットビン124を中心として回
動させ、この結果ペデスタル16が第2.7図に示され
たその作動位置へ水平に移動させられ、プラットホーム
106が炉14と垂直整合して炉の下方に配置される。 部材130がそのように回動させられると、スタッド1
38は水平みぞ1341中を第8図に示された位置まで
移動する。オペレータがアップ・ダウンスイッチ器を押
すとシリンダは要素114を上方へ移動させ、これによ
り作業プラットホーム130およびペデスタル16が第
3図に示された分析位置へ運び上げられる。スタッド1
38桟ペデスタル16がその作動位置へ回動させられて
スタッド13gが第8図に示されたように配置されるま
で、ペデスタル16が上方へ移動させられないことを保
址する。同様に、ペデスタル16が上方移動な開始して
スタッド138がみぞ134bに入ると、作業プラット
ホーム130およびペデスタル16は装荷位置の方へ前
方に回動させることかできない。 ペデスタル16が分析位置へ完全に上昇させられた後、
コンピュータ140はガス制御装置142、ペデスタル
モータ128および電力源144へ適切な信号を発出し
てオペレータが選択した所望の温度、槙境およびペデス
タル回転を生ずる。コンピュータ140は分析中これら
の制御信号を変更してペデスタル16を押出することな
く炉室15内の温度または、!j!境を震えることもで
きる。プラットホーム106上の試料の状態は試料分析
中flil花祭孔およびガラス40を通して観察されう
る。 分析の児了かコンピュータ140によって決定されたと
き、信号がガス制御装置142および電力源へ発出され
て炉Mlb内へのガスの導入を終結するとともに加熱体
加への電力な切る。冷却時期後、オペレータはアップ・
ダウンスイッチ羽を作動させてシリンダを制御し、これ
により要素114がシリンダ110に旧って下方へ移動
し、ペデスタル16を第2.7図に示された下位置すな
わち不作動位置に運送する。スベレータはついでハンド
ル133を把持して作業プラットホーム130を回転さ
せ、これによりペデスタル16は第1図に示された装荷
位置(#2図に破森で示されている)へ水平に移動する
。プラットホーム106上の試料はついで目視検査され
、次の処理のために除去される。 発熱体Jは一部協同スペーサ92およびカバー96によ
って炉14内に絶縁密封されている。部材92.96は
協同して発熱体JKr8って炉14から出る空気流を低
減する。スロット94と98は角配向され、脚部】圓a
と1圓す間のスロットの部分が部材92上のロープ95
の1つによっておおわれるようになっている。さらに、
スペーサ92は発熱体側を炉室15内に均等に離間配置
する役をする。 発熱体」がなんらかの理由で交換されなければならない
場合には、プラグ86、カバー84およびガスケット圏
が厳重に炉14から除去される。つい1′交換されるべ
き発熱体が電力源144から分離され、ついで交換され
るべき発熱体が電力源144かも分離され、ついでスペ
ーサ92が支持部財団から上方へ引出される。ついで交
換されるべき発熱体側か部材96から上方へ引出され、
その際発熱体は扁連スロット98を通って出る。ついで
新発熱体が空になったスロット98を通して挿入されか
つ支持部材4の関連チャンネル76a、76b中に位に
させられる。ついでスペーサ92が発熱体側のItQl
l(3)と整合したスロット94に再挿入される。つい
でガスケット82が発熱体側を支持部材閤内KV!封す
るために再配置される。カバー84およびプラグ86も
また内配置される。 以上の説明は本発明の好適実施態様の説明を意図したも
のであることか坤解されるべきである。特許請求の範囲
で規定された本発明の精神およびより広い面から離脱す
ること−なく種々の変化や変更がなされうる。
【図面の簡単な説明】
第1図は試料装荷、除荷位置に示された本発明に係る分
析装*rの斜視図である。 第2図は炉が破線で示された分析装置の平面図である。 第3図は炉の垂直断面図である。 第4図は第3図のW−N平面に沿って取られた炉の断面
図である。 第5図は試料ペデスタルを支持する昇降0回動機構の側
面図である。 第6図は試料ペデスタル、センサ、作業プラットホーム
を取り外して支持プラットホームの2位置を示す第5図
の機構の平面−である。 第7図は不作動位置にある試料ペデスタルの部分側面図
である。 第8図は!s2図の■−■−に沿って蝦られた部分断面
図である。 第9図は第8図に示された構造の部分平面図である。 第1θ図は炉の制御回路を示すブロック電気回路図であ
る。 10  ・・・ 分析装置炉 12  ・・・ ハウジング 14−・炉 15−・ 炉室 16 −・ 試料ペデスタル 加 −・ 発熱体 器、あ−・スイッチ 昂 ・・・ キーボード (資)・・・ ディスプレイパネル 〜 ・−・ ディスプレイ 謔 ・・・ 炉キャビネット 伺 ・・・ 炉床 8 ・・・ ボア 詔、印、62・・・2イナ 64 −・・ 支持部材 70  ・・・ W察孔 76  ・・・ チャンネル 羽 ・・・ ガスケット あ ・・・ カバー 86  ・・・ プラグ 92・・・スペーサ % ・・・スロット % ・・・  カバー 憾 −・スロット 100 −発熱体脚部 106−・・試料プラットホーム 108  ・・・アルオニつムカッグ 110 −・ シリンダ 114−・移動可能費素 116  ・・・・L字形プクケット 124  ・・・ ピボットビン 126−・・駆動シャフト 128  ・・・電気モータ 180−・・作業プラットホーム 192・−センナ 138−・  ハンドル 1B4 −・・  みぞ 138 −・ スタッド 140  ・・・ コンピュータ 142  ・・・ ガス制御装置 144 −・電力源

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 炉室を一定し、下部分が前記炉室と連通する開口を
    有する囲い; 分析されるべき試料を支持するプラットホーム; 前記プラットホームが前記開口を通って延在しかつ前記
    炉室内に配置されるところの上昇分析位置と、前記プラ
    ットホームおよびその上に支持された試料が炉の下方に
    配置されるところの下降位置との間で前記プラットホー
    ムを移動させるための第一の機構; 館記炉の下方の下降位置と、前記プラットホーム上の試
    料の装荷および除荷を容易にするために前記プラットホ
    ームが前記炉との■直整合から外れた所に配置されると
    ころの達隔懺荷位置との間で前記プラットホームの移動
    を可能にする機構; からなる分析炉。 2 第一の移動機構が、垂直に移動可能な要素を含むシ
    リンダおよび前記要素を前記プラットホームに結合する
    機構からなる特許請求の範囲!1項記載の分析炉。 3 移動を可能にする機構が要素に結合されている特許
    請求の範囲第2項記載の分析炉。 4 移動を可能にする機@L】プラットホームを垂直軸
    を中心として回動させる機構からなる特許請求の範囲第
    3.1JL記載の分析炉。 5 プラットホームが下降位置の上方にあるとき下降位
    −と装荷位置との間のプラットホームの水平移動を防止
    する連動機構を含む特許請求の範囲第4項記載の分析炉
    。 6 連動機構が、プラットホームに隣接しかつ適合みぞ
    を含む壁と、プラットホームの1つから前記みぞ中へ延
    在する従節機構とからなり、前記プラットホームが前記
    みぞで決定されたパターン中でのみ移動できるようにし
    た#ff1lil求の範囲第5項記載の分析炉。 7 みぞがプラットホームの移動を垂直移動かまたは水
    平移動に制限するためKL字形である特許請求の範囲第
    6項記載の分析炉。 8 室を含む炉壁; 一端で接合された一対の細長い離間脚部を含むU字形発
    熱体; 前記端および陣間脚部が貫通する細長いスロットを画定
    し、前記脚部の縦軸線と前記スロットの縦軸線とが直交
    関係になるようにする第一の絶縁部材; カjlf;1yi12111fP文IFF:i−’;H
    aとis二のスロットを有し、前記第二のスロットの縦
    軸線と前記脚部の縦軸−とが平行になるようにする第二
    の絶縁部材; かうなる分析炉。 9 炉室を画定し、下部分が前記炉室と連通する開口を
    有する囲い; 分析されるべき試料を支持するプラットホーム; 前記プラットホームが前記開口を通って延在しかつ前記
    炉室内に配置されるところの上昇分析位置と、前記プラ
    ットホームおよびその上に支持された試料が炉の下方に
    配置されるところの下降位置との間で前記プラットホー
    ムを移動させるための第一の機構; 前記炉の下方の下降位置と、前記プラット申−五上の試
    料の装荷および除荷を容易にするために前記プラットホ
    ームが前記炉との垂直整合から外れた所に配置されると
    ころの遠隔装荷位置との間で前記プラットホームの移動
    を可能にする機構; 一端で接合された一対の細長い離間脚部を含むU字形発
    熱体; r3iI記端および離間脚部が負通ずる細長いスロット
    を含み、前記ai41部の縦軸線と前記スロットの蛙@
    線とが直交関係になるようにしかつ前記脚部が前記炉室
    内で延在するように前記囲いにzJシて配置された第一
    の絶縁部材;前記第一の絶縁部材に隣接して延在しかつ
    前記脚部を受は入れるための離間した第二のスロットを
    有し、前記第二のスロットの縦軸線と前記脚部の縦軸線
    とが平行になるようにする第二の絶縁部材; からなる分析炉。 tO炉室と連通する開口を有する下部分を含む。 前記炉室を画定する壁機構; 分析されるべき試料を支持するプラットホーム; 前記プラットホームが前記炉室内に配置されるところの
    上昇分析位置と、前記プラットその ホームおよび1に支持された試料が前記炉の下方に配置
    されるところの下降位置との間で前記プラットホームを
    喬直に移動させる機構; 前記下降位置と、前記プラットホームの装荷および除荷
    な容易にするために前記プラットホームが前記壁機構と
    の垂直整合から外れた所に配置されるところの装荷位置
    との間で前記プラットホームを水平に移動させる機構; からなる分析炉。 11  垂直移動8!桝が喬直移動可能なji!素を含
    むロッドレスシリンダからなる特許請求の範囲第10項
    記載の分析炉。 U 水平移#JJ機構が1直移動可能なgi隼上に作動
    支持されている特許請求の範囲第11項記載の分析炉。 13  水平移動機構がプラットホームを垂直軸を中心
    として回動させる機構からなる特許請求の範囲第12項
    記載の分析炉。 14  水平移動機構が―直接動機構上に作動支持され
    ている特許請求の範囲第10項記載の分析炉。 15  水平移動機構がプラットホームを垂直軸を中心
    として回動させる機構からなる特許請求の範囲第14項
    記載の分析炉。 16  水平移動機構がプラットホームを垂直軸を中心
    として回動させる機構からなる特許請求の範囲第10項
    記載の分析炉。 17  プラット小−人が垂直軸を中心として回転可能
    である特許請求の範囲第1O項記載の分析炉。 18  装荷位置と下降位置との間のプラットホームの
    水平移動を制限しかつ下降位置と分析位置との間のプラ
    ットホームの垂直移動を制限する機構を具備する特許請
    求の範囲第1θ項記載の分析炉。 19  制限機構が、みぞを画定する機構と、移動機構
    の1つから前記みぞ中へ延在する従節とからなり、前記
    従節が前記みぞ中でのみ移動できるようにした特許請求
    の範囲第18項記載の分析炉。 201つの移動機構が水平移動機構からなる特許請求の
    範囲第19項記載の分析炉。 η 室を画定しかつ前記室と連通する開口を有する床を
    含む炉: 垂直に移動可能な要素; 実質的に水平の平面内で回動するように前記移動可能な
    g!素にピボット装着された回動可能なJj!!素; 前記回動可能な要lAKよって作動支持された試料支持
    プラットホーム; を具備し、前記回動可能な要素および移動可能な要素を
    第一の位置へ移動させることKよって前記プラットホー
    ムが前記室内の分析位置へ移動させられるよさにしかつ
    前記回動可能なjII素および移動可能なIl!素を第
    二の位置へ移動させることによって前記プラットホーム
    が前記炉の下方のかつ前記炉の垂直延長点f)外貴の装
    荷位置へ移動させられるようにした、ことを特徴とする
    分析装置。 乙無直に移動可能なl!素を支持するロッドレスシリン
    ダを具備する特許請求の範囲第21項記載の分析装置。 お プラットホームが垂直軸を中心として回転可能であ
    る特許請求の範囲第η項記載の分析装置。 別 プラットホームの特定垂直線への垂直移動を制限し
    かつプラットホームの特定水平面への水平移動を制限す
    る機構を具備する特許請求の範囲第5項記載の分析装置
    。 δ 制限機構が、みぞと、回動可能な要素から前記みぞ
    中へ延在するスタッドとからなり、′#記スタッドが前
    記みぞ中でのみ移動できるようKした特許請求の範囲l
    lA24項記載の分析装置。 26  室を画定する壁機構; 前記壁a構を通って前記室中へ延在しかつ一対の離間脚
    部を含む複数の発熱体; 前記脚部を受は入れかつ複数の細長い第一のスロット機
    構を含む第一の絶縁部材を具備し、加熱体の1つが前記
    第一のスロット機構のおのおのを通って延在していると
    と;前記第一の絶縁部材に隣接しかつ複数の対の細長い
    第二のスロット機構を一定する第二の絶縁部材を具備し
    、前記離間脚部の対の1つが前記第二のスロット機構の
    対のおのおのを通って延在し、前記第二のスロット機構
    の各対が前記第一の絶縁部材の第一のスロット機構の1
    つに対して内配置されて前記発熱体まわりの熱損失を低
    減するようにしたこと;からなる分析炉。 ご 第一の絶縁部材が実質的に円筒形であり、第一のス
    ロット機構のおのおのが第一の絶縁部材の半径に対して
    撫直に配向されている特許請求の範囲第か項記載の分析
    炉。 あ 第二のスロット機構の対のおのおのが実質的に平行
    である特許請求の範囲第漢項または第n項記載の分析炉
    。 298g二の絶縁部材が実質的に円筒形であり、第二の
    スロット機構の対のおのおのが、縦方向r(かつ第二の
    スロット機構の前記各対間を延在する第二の絶縁部材の
    半径に平行な方向に横方向内方に延在する特許請求の範
    囲第あ項記載の分析炉。 加 壁恰栴は横断面が実質的に円形であり、第一および
    第二の絶縁部材もまた横断面が実質的に円形であって壁
    機構と密接嵌合するようにした特許請求の範囲第6項記
    載の分析炉。 31  第二のスロット機構の対のおのおのが関連する
    第一のスロット機構に実質的Km直である%W!f請求
    の範囲第か項記載の分析炉。 32  第一のスロット機構のおのおのが、これを通っ
    て延在する発熱体を密接に受は入れるように寸法を定め
    られている特許請求の範囲第加須記載の分析炉。 33  第二の絶縁部材が、発熱体の離間脚部の各対間
    で第一のスロット機構の実質的に全部をおおっている特
    許請求の範囲第か項または第凋項紀載の分析炉。 真 室を画定する一P壁; 一対の離間脚部を含む発熱体; 前記離間脚部が貫通する細長いスロットを画定する第一
    の絶縁部材; 前記細長いスロットを介する熱損失を量減するために前
    記離間脚部間で前記スロットの一部分をおおう機構; かうなる分析炉。 35  第一の絶縁部材が複数の細長いスロットを画定
    し、発熱体の1つが前記スロットの1つを通って延在し
    、おおう機構が離間脚部間で前記スロットのおのおのの
    一部分をおおっている特許請求の範囲第あ項記載の分析
    炉。 あ スロットのおのおのがF!A遅する発熱体を密接に
    受は入れているtP!f肝錆求の範囲第掴項記載の分析
    炉。 37  各部分が一対の関am部間の実質的に全距離か
    らなる特許請求の範囲第掴項記載の分ゼ「炉。 あ おおり機構が、離間脚部の対の1つ間をそれぞれ延
    在する複数のローブを含む第二の絶縁部材からなる特許
    請求の範囲第あ項記載の分析炉。 39  炉は実質的に円筒形であり、第一および籐二の
    絶縁部Iは横断面が実質的に内形であってp・と密接に
    嵌合している特許請求の範囲第38m記載の分析炉。
JP58022964A 1982-03-05 1983-02-16 分析炉 Pending JPS58162848A (ja)

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