JPH1174187A - 基板加熱処理方法および装置 - Google Patents

基板加熱処理方法および装置

Info

Publication number
JPH1174187A
JPH1174187A JP24782397A JP24782397A JPH1174187A JP H1174187 A JPH1174187 A JP H1174187A JP 24782397 A JP24782397 A JP 24782397A JP 24782397 A JP24782397 A JP 24782397A JP H1174187 A JPH1174187 A JP H1174187A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
heating
heating plate
heat treatment
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP24782397A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3933765B2 (ja
Inventor
Masao Tsuji
雅夫 辻
Tetsuya Hamada
哲也 濱田
Satoshi Yamamoto
聡 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP24782397A priority Critical patent/JP3933765B2/ja
Publication of JPH1174187A publication Critical patent/JPH1174187A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3933765B2 publication Critical patent/JP3933765B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板を搬入して加熱板上に載置した後基板の
温度が所定の加熱処理温度に到達するまでの時間が短縮
されて、装置のスループットを向上させることができ、
複数枚の基板を連続して加熱処理したときに、複数枚の
基板を均一に加熱処理することができる方法を提供す
る。 【解決手段】 所定の加熱処理温度に加熱された加熱板
上へ基板を搬入し、加熱板の上面に基板を接触させて一
定時間保持し、基板を加熱処理した後加熱板上から基板
を搬出する熱処理サイクルにおいて、加熱板を固定出力
で加熱する状態と自動温度調節して加熱する状態とを切
り換える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウエハ、
液晶表示装置用あるいはフォトマスク用のガラス基板な
どの基板の表面にフォトレジスト等の塗布液を塗布した
後に基板を加熱処理したり、化学増幅型レジストが塗布
された基板を露光後にベーク処理したりする場合などに
適用される基板加熱処理方法、ならびに、その方法の実
施に使用される基板加熱処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】基板の表面にフォトレジスト等の塗布液
を塗布した後に基板を加熱処理したり、化学増幅型レジ
ストが塗布された基板を露光後ベーク(PEB)処理し
たりする場合などには、加熱板(ホットプレート)を備
えた基板加熱処理装置が使用され、所定の加熱処理温度
に加熱された加熱板上に基板を直接に載置しあるいは加
熱板上に基板を僅かに浮かせた状態で支持して、加熱板
からの熱伝導により基板を所定の加熱処理温度に加熱す
るようにしている。この基板加熱処理装置においては、
基板を所定の加熱処理温度で加熱処理するために、加熱
板の内部に配置された測温抵抗体で加熱板の温度を測定
し、その測定値に基づいて加熱板に内蔵されたヒータを
PID制御することにより、加熱板の温度を常に所定の
加熱処理温度に保持するようにしている。
【0003】ところが、基板を加熱板上へ搬入して載置
した時には、所定の加熱処理温度、例えば120℃に保
たれた加熱板が常温(20℃程度)の基板に熱を吸収さ
れて、一時的に加熱板の温度が大きく低下する。このよ
うな加熱板の急峻な温度低下を即座に補償するように温
度制御が行われると、ヒータから加熱板に熱を与え過ぎ
てしまうことになり、加熱板の温度がオーバーシュート
を起こして、基板を加熱し過ぎてしまう。そこで、従来
は、図5に加熱板および基板のそれぞれの温度変化の様
子を示すように、加熱板の温度(その変化の状態を曲線
Aで示す)が一時的に大きく低下しても、オーバーシュ
ートすることなく加熱板が120℃の温度に緩やかに到
達するように、PIDの値を変化させることにより対応
していた。図5において、曲線Bが基板の温度変化の状
態を示し、taが、基板を加熱板上に搬入して載置した
時点を、tbが、加熱板および基板のそれぞれの温度が
所定の加熱処理温度(120℃)に到達した時点をそれ
ぞれ示す。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ように、加熱板の温度がオーバーシュートを起こさない
ようにPIDの値を変化させる方法では、加熱板上に基
板を載置した時点taから基板の温度が所定の加熱処理
温度(120℃)に到達した時点tbまでの時間Tabが
長くかかってしまう。また、加熱処理温度の設定を変更
したときにも、加熱板の温度が変更後の加熱処理温度に
到達するまでの時間が長くかかってしまう。この結果、
装置のスループットが低下することとなる。
【0005】また、加熱板の温度が所定の加熱処理温度
に緩やかに到達するようにPIDの値を調節すると、複
数枚の基板を連続して加熱処理する場合に、基板の加熱
処理温度が安定するまでに数枚の基板の加熱処理が行わ
れる必要がある。このため、基板の熱処理履歴に各基板
間で差を生じる、といった問題点がある。
【0006】この発明は、以上のような事情に鑑みてな
されたものであり、加熱板上に基板を搬入して載置した
後基板の温度が所定の加熱処理温度に到達するまでの時
間が短縮され、また、加熱処理温度の設定を変更したと
きに、加熱板の温度が変更後の加熱処理温度に到達する
までの時間が短縮されて、装置のスループットを向上さ
せることができ、また、複数枚の基板を連続して加熱処
理したときに、各基板間で熱処理履歴に差を生じない
で、各基板間で加熱処理品質がばらつくことなく均一な
加熱処理を行うことができる基板加熱処理方法を提供す
ること、ならびに、その方法を好適に実施することがで
きる基板加熱処理装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
所定の加熱処理温度に加熱された加熱板上へ基板を搬入
し、加熱板の上面に基板を接触または近接させて一定時
間保持して、基板を加熱処理した後、加熱板上から基板
を搬出し、この熱処理サイクルを繰り返す基板加熱処理
方法において、前記熱処理サイクル内において、前記加
熱板を固定出力で加熱する状態と自動温度調節して加熱
する状態とを切り換えることを特徴とする。
【0008】請求項2に係る発明は、請求項1記載の方
法において、加熱板の上面に基板を接触または近接させ
た時点で自動温度調節加熱状態から固定出力加熱状態へ
切り換え、その切換え時点から所定時間経過後に固定出
力加熱状態から自動温度調節加熱状態へ切り換えて、そ
の自動温度調節加熱状態を、基板が加熱処理された後加
熱板上から搬出され次に加熱処理すべき基板が加熱板上
へ搬入されて加熱板の上面に接触または近接させられる
まで継続させることを特徴とする。
【0009】請求項3に係る発明は、請求項1または請
求項2記載の方法において、加熱板の自動温度調節をP
ID制御により行うことを特徴とする。
【0010】請求項4に係る発明は、上面に基板を接触
または近接させて載置し基板を加熱する加熱板と、この
加熱板を加熱する加熱手段と、この加熱手段を駆動制御
して前記加熱板を所定の加熱処理温度に調節する自動温
度調節手段と、基板を、前記加熱板の上面から上方へ離
間した位置と加熱板の上面に接触または近接した位置と
の間で昇降させる基板昇降手段とを備えた基板加熱処理
装置において、前記加熱手段を固定出力で駆動させて前
記加熱板を前記所定の加熱処理温度より高い温度に加熱
する固定出力駆動手段と、前記自動温度調節手段による
前記加熱手段の駆動制御と前記固定出力駆動手段による
加熱手段の駆動制御とを択一的に切り換える切換え手段
と、この切換え手段を作動させる作動手段とを設けたこ
とを特徴とする。
【0011】請求項5に係る発明は、請求項4記載の装
置において、加熱板の上面に基板を接触または近接させ
た時点で作動手段により切換え手段を作動させて自動温
度調節手段による加熱手段の駆動制御から固定出力駆動
手段による加熱手段の駆動制御へ切り換え、その切換え
時点から所定時間経過後に作動手段により切換え手段を
作動させて固定出力駆動手段による加熱手段の駆動制御
から自動温度調節手段による加熱手段の駆動制御へ切り
換えて、その自動温度調節手段による加熱手段の駆動制
御を、基板が加熱処理された後加熱板上から搬出され次
に加熱処理すべき基板が加熱板上へ搬入されて加熱板の
上面に接触または近接させられるまで継続させることを
特徴とする。
【0012】請求項6に係る発明は、請求項4または請
求項5記載の装置において、自動温度調節手段による加
熱手段の駆動制御がPID制御であることを特徴とす
る。
【0013】請求項1に係る発明の基板加熱処理方法で
は、加熱板を固定出力で加熱する状態と自動温度調節し
て加熱する状態とが適宜切り換えられるので、基板を加
熱板上へ搬入した時に基板が加熱板から吸収する熱量に
見合う程度の熱を、固定出力による加熱によって加熱板
に与えておくことにより、一時的に加熱板の温度が大き
く低下することを防止することが可能になる。したがっ
て、自動温度調節へ切り換えて加熱板を加熱しても、加
熱板に熱を与え過ぎてしまってオーバーシュートを起こ
す、といったことが無くなる。このため、加熱板の温度
が所定の加熱処理温度に緩やかに到達する、といったよ
うな自動温度調節を行わなくてもよいので、加熱板上に
基板を載置してから基板の温度が所定の加熱処理温度に
到達するまでの時間が長くかかったり、加熱処理温度の
設定を変更したときに加熱板の温度が変更後の加熱処理
温度に到達するまでの時間が長くかかったりすることを
無くすことができる。また、複数枚の基板を連続して加
熱処理する場合に、基板の加熱処理温度が安定するまで
に数枚の基板の加熱処理を要する、といったことも無
く、すべての基板を同一の加熱処理温度で加熱処理する
ことができる。
【0014】請求項2に係る発明の基板加熱処理方法で
は、基板が加熱板上へ搬入されて加熱板の上面に接触ま
たは近接した時点で自動温度調節加熱状態から固定出力
加熱状態へ切り換えられ、その切換え時点から所定時間
経過後に固定出力加熱状態から自動温度調節加熱状態へ
切り換えられ、その自動温度調節加熱状態が、基板が加
熱処理された後加熱板上から搬出され次に加熱処理すべ
き基板が加熱板上へ搬入されて加熱板の上面に接触また
は近接するまで継続されるので、何らかの原因により、
基板が加熱処理されて加熱板上から搬出されてから次の
基板が加熱板上へ搬入されるまでの時間がばらつくよう
なことがあっても、すべての基板で熱処理履歴が同一に
なる。
【0015】請求項3に係る発明の基板加熱処理方法で
は、加熱処理された基板が加熱板上から搬出されて次に
加熱処理すべき基板が加熱板上へ搬入されるまでの期間
を含めて、加熱板の温度を所定の加熱処理温度に精度良
く維持することができる。
【0016】請求項4に係る発明の装置を使用して基板
の加熱処理を行うときは、固定出力駆動手段により加熱
手段を固定出力で駆動制御させて加熱板を所定の加熱処
理温度より高い温度に加熱する状態と、自動温度調節手
段により加熱手段を駆動制御して加熱板を所定の加熱処
理温度に調節する状態とが、作動手段によって切換え手
段を作動させることにより適宜切り換えられるので、基
板を加熱板上へ搬入した時に基板が加熱板から吸収する
熱量に見合う程度の熱を、固定出力による加熱によって
加熱板に与えておくことにより、一時的に加熱板の温度
が大きく低下することを防止することが可能になる。し
たがって、自動温度調節へ切り換えて加熱板を加熱して
も、加熱板に熱を与え過ぎてしまってオーバーシュート
を起こす、といったことが無くなる。このため、加熱板
の温度が所定の加熱処理温度に緩やかに到達する、とい
ったような自動温度調節を行わなくてもよいので、加熱
板上に基板を載置してから基板の温度が所定の加熱処理
温度に到達するまでの時間が長くかかったり、加熱処理
温度の設定を変更したときに加熱板の温度が変更後の加
熱処理温度に到達するまでの時間が長くかかったりする
ことを無くすことができる。また、複数枚の基板を連続
して加熱処理する場合に、基板の加熱処理温度が安定す
るまでに数枚の基板の加熱処理を要する、といったこと
も無く、すべての基板を同一の加熱処理温度で加熱処理
することができる。
【0017】請求項5に係る発明の基板加熱処理装置を
使用するときは、基板が加熱板上へ搬入されて加熱板の
上面に接触または近接した時点で、作動手段により切換
え手段を作動させて自動温度調節手段による加熱手段の
駆動制御から固定出力駆動手段による加熱手段の駆動制
御へ切り換えられ、その切換え時点から所定時間経過後
に、作動手段により切換え手段を作動させて固定出力駆
動手段による加熱手段の駆動制御から自動温度調節手段
による加熱手段の駆動制御へ切り換えられ、その自動温
度調節手段による加熱手段の駆動制御が、基板が加熱処
理された後加熱板上から搬出され次に加熱処理すべき基
板が加熱板上へ搬入されて加熱板の上面に接触または近
接するまで継続されるので、何らかの原因により、基板
が加熱処理されて加熱板上から搬出されてから次の基板
が加熱板上へ搬入されるまでの時間がばらつくようなこ
とがあっても、すべての基板で熱処理履歴が同一にな
る。
【0018】請求項6に係る発明の基板加熱処理装置を
使用するときは、加熱処理された基板が加熱板上から搬
出されて次に加熱処理すべき基板が加熱板上へ搬入され
るまでの期間を含めて、加熱板の温度が所定の加熱処理
温度に精度良く維持される。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
について図1ないし図4を参照しながら説明する。
【0020】図1および図2は、この発明に係る基板加
熱処理方法を実施するのに使用される基板加熱処理装置
の構成の1例を示し、図1は要部の概略正面図、図2は
回路構成図である。
【0021】この加熱処理装置は、表面に塗布液、例え
ばフォトレジストが塗布された基板Wを直接に、あるい
は、微小突起を基板Wの下面との間に介在させるなどし
て僅かな間隔を設けて載置する加熱板(ホットプレー
ト)10を有している。加熱板10には、ヒータ(図1
には図示せず)が内蔵されており、また、加熱板10の
温度を測定するための温度センサ12が内設されてい
る。また、加熱板10には、複数個、例えば3個の貫通
孔14が穿設されており、その貫通孔14にリフトピン
16がそれぞれ上下方向に摺動自在に挿通されている。
3本のリフトピン16は、昇降板18の上面に固着され
ており、昇降板18は、それを上下方向へ往復移動させ
る駆動機構、図示例ではエアーシリンダ20に連結され
ている。そして、図1の(a)に示すように、エアーシ
リンダ20によって昇降板18を上昇させることによ
り、3本のリフトピン16を加熱板10の上面より突出
させて、3本のリフトピン16によって基板Wを、加熱
板10の上面から離間させた状態で支持するようになっ
ている。また、3本のリフトピン16によって基板Wを
支持した状態で、図1の(b)に示すように、エアーシ
リンダ20によって昇降板18を下降させることによ
り、3本のリフトピン16を加熱板10の上面より下方
へ引き入れ、これに伴って基板Wがリフトピン16上か
ら加熱板10の上面へ移載されるようになっている。昇
降板18の移動ストロークの下端に対応する位置には、
昇降板18が最下位置へ移動して基板Wがリフトピン1
6上から加熱板10の上面へ移載されたことを検知する
位置センサ22が設けられている。これらのリフトピン
16の昇降動作は、装置外への基板Wの搬出および装置
内への基板Wの搬入に際して行われる。また、図示して
いないが、加熱板10の上方には、それを覆うようにベ
ークカバーが配設されている。
【0022】加熱板10に内蔵されたヒータ24は、図
2に示すように、電源26に接続され、ヒータ24およ
び電源26に対しそれぞれ直列に第1サイリスタ28お
よび第2サイリスタ30が接続されており、両サイリス
タ28は並列に設置されている。第1サイリスタ28に
はPIDコントローラ32が接続され、PIDコントロ
ーラ32には、加熱板10に設置された温度センサ12
が接続されている。このPIDコントローラ32によ
り、基板Wの加熱処理温度として設定された設定温度、
例えば120℃と温度センサ12によって検出された加
熱板10の実際の温度との差に基づいて、その差を無く
すようにヒータ24への出力がPID制御される。ま
た、第2サイリスタ30には、互いに直列に位置センサ
22の接点22a、タイマー34およびタイマー接点3
4aが接続されている。そして、位置センサ22がオン
された時点、すなわち、図1の(b)に示すように基板
Wがリフトピン14上から加熱板10の上面へ移載され
た時点で、それまでPIDコントローラ32によりヒー
タ24への出力を制御していた状態から固定の最大出力
でヒータ24を駆動制御する状態へ切り換わり、その切
換え時点からタイマー34に設定された設定時間が経過
した後に、再びPIDコントローラ32によりヒータ2
4への出力を制御する状態へ切り換わるようになってい
る。
【0023】なお、図2に示したような回路構成の代わ
りに、マイクロコンピュータを用いて、同様のシーケン
ス動作を行わせるようにしてもよい。
【0024】次に、上記構成の基板加熱処理装置を使用
して基板を加熱処理する動作を、図3に示したフローチ
ャートに基づいて説明する。
【0025】この基板加熱処理装置による複数枚の基板
の加熱処理を開始して、未だ装置内に基板が存在してい
ない状態では、加熱板10の温度は、PIDコントロー
ラ32によりヒータ24への出力がPID制御されて、
設定された基板の加熱処理温度、例えば120℃に維持
されている(ステップS1)。そして、装置内へ基板W
が搬入され(ステップS2)、図1の(a)に示すよう
に、リフトピン16が上昇してリフトピン16上に基板
Wが支持された後、リフトピン16が下降することによ
り、図1の(b)に示すように、基板Wがリフトピン1
6上から加熱板10の上面へ移載される(ステップS3
−1)。これと同時に、基板Wが加熱板10上に載置さ
れたことが位置センサ22によって検知され、位置セン
サ22の接点22aが閉じて、タイマー34が作動し、
タイマー接点34aが閉じて、第2サイリスタ30がオ
ン状態へ切り換えられる。これにより、それまでPID
コントローラ32によりヒータ24への出力をPID制
御していた状態から固定の最大出力でヒータ24を駆動
制御する状態へと切り換わる(ステップS3−2)。そ
して、固定の最大出力でヒータ24が駆動されることに
より、加熱板10の温度が設定温度(120℃)以上に
上昇する(ステップS4)。この際、加熱板10上に載
置された基板Wも、加熱板10からの熱伝導によって温
度が次第に上昇する。
【0026】タイマー34が作動してから、すなわち、
ヒータ24への出力がPID制御から出力固定制御へと
切り換わった時点から、タイマー34に設定された設定
時間が経過すると、タイマー接点34aが開いて、第2
サイリスタ30がオンからオフへ切り換わる。これによ
り、固定の最大出力でヒータ24を駆動していた状態か
ら再びPIDコントローラ32によりヒータ24への出
力を制御する状態へと切り換わる(ステップS5)。こ
の時、加熱板10の温度は設定温度(120℃)以上と
なっているため、PID制御に切り換わることにより、
加熱板10の温度が設定温度に向かって低下する(ステ
ップS6)。この間も、加熱板10上の基板Wの温度
は、加熱板10から基板Wへの熱伝導により設定温度に
向かって上昇する。そして、PID制御によって加熱板
10の温度が設定温度に調節され、また、基板Wの温度
が所定の加熱処理温度(120℃)に到達する(ステッ
プS7)。以後、加熱板10の温度はPID制御によっ
て設定温度に保持され、基板Wは120℃の温度で加熱
処理される(ステップS8)。
【0027】基板Wの加熱処理が終了すると、リフトピ
ン16が上昇して、基板Wは、加熱板10上からリフト
ピン16上へ移し替えられ、加熱板10の上面から離間
させられて装置内から搬出される(ステップS9)。そ
して、次に加熱処理すべき基板Wが装置内へ搬入されて
(ステップS2)、上記したステップS3−1、3−2
からステップS9までの操作が繰り返され、すべての基
板の加熱処理が終了すると(ステップS10)、一連の
処理が終了する。
【0028】以上のような基板の加熱処理動作における
加熱板10の温度変化および基板Wの温度変化の様子を
図4に示す。図4において、曲線Iが加熱板10の温度
変化の状態を示し、曲線IIが基板Wの温度変化の状態を
示す。また、t1は、基板Wが加熱板10上に載置され
て、PIDコントローラ32によりヒータ24への出力
がPID制御されていた状態から固定の最大出力でヒー
タ24が駆動される状態へと切り換わった時点(ステッ
プS3−1およびS3−2)を示し、t2は、固定の最
大出力でヒータ24が駆動されていた状態から再びPI
Dコントローラ32によりヒータ24への出力が制御さ
れる状態へと切り換わった時点(ステップS5)を示し
ている。また、t3は、基板Wの温度が所定の加熱処理
温度(120℃)に到達した時点(ステップS7)を示
している。そして、T13は、加熱板10上に基板Wが載
置された時点t1から基板Wの温度が所定の加熱処理温
度に到達した時点t3までの時間であり、この到達時間
13は、従来の加熱処理方法によった場合の到達時間T
ab(図5参照)に比べて短くなる。また、図4におい
て、Cで示した範囲は、PIDコントローラ32により
ヒータ24への出力がPID制御されている時間帯を示
し、Fで示した範囲は、固定の最大出力でヒータ24が
駆動制御されている時間帯を示している。
【0029】固定の最大出力でヒータ24を駆動する時
間としてタイマー34に設定する設定時間は、装置内へ
搬入されて加熱板10上に載置された直後の基板W、例
えば20℃の基板Wを所定の加熱処理温度(120℃)
まで上昇させる際に加熱板10から基板Wによって吸収
される熱量を算出して、その熱量に見合う分だけ加熱板
10に熱量を与えることができる時間とすればよい。
【0030】なお、上記した実施形態では、装置内へ搬
入された基板Wが加熱板10上に載置された時点で、P
IDコントローラ32によりヒータ24への出力をPI
D制御していた状態から固定の最大出力でヒータ24を
駆動制御する状態へ切り換えるようにし、その時点から
所定時間が経過した後に、再びPIDコントローラ32
によりヒータ24への出力を制御する状態へ切り換える
ようにシーケンス制御するようにしたが、別のシーケン
スにより、例えば、基板Wの加熱処理が終了してリフト
ピンを上昇させるタイミングで、PIDコントローラ3
2によるヒータ24のPID制御状態から固定の最大出
力でヒータ24を駆動制御する状態へ切り換えるように
して、加熱板10上に載置された直後の基板Wによって
加熱板10から吸収される熱量に見合う分だけ加熱板1
0に熱量を予め与え、加熱板を設定温度(120℃)以
上の温度に上昇させておき、PID制御から出力固定制
御への切換え時点から基板の入替え時間に相当する時間
が経過した後に、再びPIDコントローラ32によりヒ
ータ24への出力を制御する状態へ切り換え、そのタイ
ミングで次の基板Wが加熱板10上に載置されて、次の
基板Wの昇温が開始されるようにしてもよい。
【0031】
【発明の効果】請求項1に係る発明の基板加熱処理方法
によると、基板が搬入されて加熱板上に載置された後基
板の温度が所定の加熱処理温度に到達するまでの時間が
短縮され、また、加熱処理温度の設定を変更したとき
に、加熱板の温度が変更後の加熱処理温度に到達するま
での時間が短縮されるので、装置のスループットを向上
させることができ、また、複数枚の基板を連続して加熱
処理したときに、各基板間で熱処理履歴に差を生じない
で、各基板間で加熱処理品質がばらつくことがないの
で、複数枚の基板を均一に加熱処理することができる。
【0032】請求項2に係る発明の基板加熱処理方法で
は、何らかの原因により、基板が加熱処理されて加熱板
上から搬出されてから次の基板が加熱板上へ搬入される
までの時間がばらつくようなことがあっても、すべての
基板で熱処理履歴が同一になり、複数枚の基板を均一に
加熱処理することが可能となる。
【0032】請求項3に係る発明の基板加熱処理方法で
は、加熱処理された基板が加熱板上から搬出されて次に
加熱処理すべき基板が加熱板上へ搬入されるまでの期間
を含めて、加熱板の温度を所定の加熱処理温度に精度良
く維持することができるので、基板の加熱処理品質を向
上させることができる。
【0033】請求項4に係る発明の基板加熱処理装置を
使用すると、請求項1に係る発明の基板加熱処理方法を
好適に実施することができて、スループットを向上させ
ることができ、また、複数枚の基板を連続して加熱処理
したときに、複数枚の基板を均一に加熱処理することが
できる。
【0034】請求項5に係る発明の基板加熱処理装置を
使用すると、請求項2に係る発明の基板加熱処理方法を
好適に実施することができ、何らかの原因により、基板
が加熱処理されて加熱板上から搬出されてから次の基板
が加熱板上へ搬入されるまでの時間がばらつくようなこ
とがあっても、複数枚の基板を均一に加熱処理すること
が可能となる。
【0035】請求項6に係る発明の基板加熱処理装置を
使用すると、請求項3に係る発明の基板加熱処理方法を
好適に実施することができて、基板の加熱処理品質を向
上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る基板加熱処理方法を実施するの
に使用される基板加熱処理装置の構成の1例を示す要部
の概略正面図である。
【図2】図1に示した装置の回路構成図である。
【図3】図1および図2に示した構成の基板加熱処理装
置を使用して基板を加熱処理する動作を説明するための
フローチャートである。
【図4】図1および図2に示した構成の基板加熱処理装
置による基板の加熱処理動作における加熱板の温度変化
および基板の温度変化の様子を示す図である。
【図5】従来の方法によって基板を加熱処理したときの
加熱板および基板のそれぞれの温度変化の様子を示す図
である。
【符号の説明】
10 加熱板(ホットプレート) 12 温度センサ 14 加熱板の貫通孔 16 リフトピン 18 昇降板 20 エアーシリンダ 22 位置センサ 22a 位置センサの接点 24 ヒータ 26 電源 28、30 サイリスタ 32 PIDコントローラ 34 タイマー 34a タイマー接点 W 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/324 H01L 21/324 T

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の加熱処理温度に加熱された加熱板
    上へ基板を搬入し、加熱板の上面に基板を接触または近
    接させて一定時間保持して、基板を加熱処理した後、加
    熱板上から基板を搬出し、この熱処理サイクルを繰り返
    す基板加熱処理方法において、 前記熱処理サイクル内において、前記加熱板を固定出力
    で加熱する状態と自動温度調節して加熱する状態とを切
    り換えることを特徴とする基板加熱処理方法。
  2. 【請求項2】 加熱板の上面に基板を接触または近接さ
    せた時点で自動温度調節加熱状態から固定出力加熱状態
    へ切り換え、その切換え時点から所定時間経過後に固定
    出力加熱状態から自動温度調節加熱状態へ切り換えて、
    その自動温度調節加熱状態を、基板が加熱処理された後
    加熱板上から搬出され次に加熱処理すべき基板が加熱板
    上へ搬入されて加熱板の上面に接触または近接させられ
    るまで継続させる請求項1記載の基板加熱処理方法。
  3. 【請求項3】 加熱板の自動温度調節がPID制御によ
    り行われる請求項1または請求項2記載の基板加熱処理
    方法。
  4. 【請求項4】 上面に基板を接触または近接させて載置
    し、基板を加熱する加熱板と、 この加熱板を加熱する加熱手段と、 この加熱手段を駆動制御して前記加熱板を所定の加熱処
    理温度に調節する自動温度調節手段と、 基板を、前記加熱板の上面から上方へ離間した位置と加
    熱板の上面に接触または近接した位置との間で昇降させ
    る基板昇降手段とを備えた基板加熱処理装置において、 前記加熱手段を固定出力で駆動させて前記加熱板を前記
    所定の加熱処理温度より高い温度に加熱する固定出力駆
    動手段と、 前記自動温度調節手段による前記加熱手段の駆動制御と
    前記固定出力駆動手段による加熱手段の駆動制御とを択
    一的に切り換える切換え手段と、 この切換え手段を作動させる作動手段とを設けたことを
    特徴とする基板加熱処理装置。
  5. 【請求項5】 加熱板の上面に基板を接触または近接さ
    せた時点で作動手段により切換え手段を作動させて自動
    温度調節手段による加熱手段の駆動制御から固定出力駆
    動手段による加熱手段の駆動制御へ切り換え、その切換
    え時点から所定時間経過後に作動手段により切換え手段
    を作動させて固定出力駆動手段による加熱手段の駆動制
    御から自動温度調節手段による加熱手段の駆動制御へ切
    り換えて、その自動温度調節手段による加熱手段の駆動
    制御を、基板が加熱処理された後加熱板上から搬出され
    次に加熱処理すべき基板が加熱板上へ搬入されて加熱板
    の上面に接触または近接させられるまで継続させる請求
    項4記載の基板加熱処理装置。
  6. 【請求項6】 自動温度調節手段による加熱手段の駆動
    制御がPID制御である請求項4または請求項5記載の
    基板加熱処理装置。
JP24782397A 1997-08-27 1997-08-27 基板加熱処理方法および装置 Expired - Fee Related JP3933765B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24782397A JP3933765B2 (ja) 1997-08-27 1997-08-27 基板加熱処理方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24782397A JP3933765B2 (ja) 1997-08-27 1997-08-27 基板加熱処理方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1174187A true JPH1174187A (ja) 1999-03-16
JP3933765B2 JP3933765B2 (ja) 2007-06-20

Family

ID=17169203

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24782397A Expired - Fee Related JP3933765B2 (ja) 1997-08-27 1997-08-27 基板加熱処理方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3933765B2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6780795B2 (en) 2002-03-20 2004-08-24 Tokyo Electron Limited Heat treatment apparatus for preventing an initial temperature drop when consecutively processing a plurality of objects
KR100451282B1 (ko) * 2001-12-22 2004-10-06 동부전자 주식회사 웨이퍼용 히터시스템
US7151239B2 (en) 2004-05-24 2006-12-19 Tokyo Electron Limited Heat treating apparatus and heat treating method
US7241633B2 (en) 2003-06-16 2007-07-10 Tokyo Electron Limited Heat treatment apparatus and heat treatment method
JP2007234645A (ja) * 2006-02-27 2007-09-13 Tokyo Seimitsu Co Ltd プローバ温度制御装置、及び、方法
JP2008135738A (ja) * 2007-10-31 2008-06-12 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置の制御方法、半導体製造装置
KR100842027B1 (ko) 2007-07-24 2008-06-27 세메스 주식회사 얼라인 장치 및 이를 이용한 웨이퍼 정렬 방법
JP2011124353A (ja) * 2009-12-10 2011-06-23 Tokyo Electron Ltd 基板の処理方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び基板処理システム
JP2011222834A (ja) * 2010-04-12 2011-11-04 Hoya Corp ベーク処理装置、レジストパターン形成方法、フォトマスクの製造方法、及び、ナノインプリント用モールドの製造方法
DE102004029102B4 (de) * 2003-06-16 2013-07-18 Tokyo Electron Ltd. Substratbearbeitungseinrichtung und Substratbearbeitungsverfahren
CN106773654A (zh) * 2016-12-12 2017-05-31 中南大学 一种分数阶pid控制器参数优化整定方法
CN107966886A (zh) * 2018-01-19 2018-04-27 京东方科技集团股份有限公司 一种加热装置及光刻设备
CN111383960A (zh) * 2018-12-28 2020-07-07 细美事有限公司 用于处理基板的装置和方法

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100451282B1 (ko) * 2001-12-22 2004-10-06 동부전자 주식회사 웨이퍼용 히터시스템
US6780795B2 (en) 2002-03-20 2004-08-24 Tokyo Electron Limited Heat treatment apparatus for preventing an initial temperature drop when consecutively processing a plurality of objects
DE102004029102B4 (de) * 2003-06-16 2013-07-18 Tokyo Electron Ltd. Substratbearbeitungseinrichtung und Substratbearbeitungsverfahren
US7241633B2 (en) 2003-06-16 2007-07-10 Tokyo Electron Limited Heat treatment apparatus and heat treatment method
US7151239B2 (en) 2004-05-24 2006-12-19 Tokyo Electron Limited Heat treating apparatus and heat treating method
JP2007234645A (ja) * 2006-02-27 2007-09-13 Tokyo Seimitsu Co Ltd プローバ温度制御装置、及び、方法
KR100842027B1 (ko) 2007-07-24 2008-06-27 세메스 주식회사 얼라인 장치 및 이를 이용한 웨이퍼 정렬 방법
JP2008135738A (ja) * 2007-10-31 2008-06-12 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置の制御方法、半導体製造装置
JP2011124353A (ja) * 2009-12-10 2011-06-23 Tokyo Electron Ltd 基板の処理方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び基板処理システム
JP2011222834A (ja) * 2010-04-12 2011-11-04 Hoya Corp ベーク処理装置、レジストパターン形成方法、フォトマスクの製造方法、及び、ナノインプリント用モールドの製造方法
CN106773654A (zh) * 2016-12-12 2017-05-31 中南大学 一种分数阶pid控制器参数优化整定方法
CN106773654B (zh) * 2016-12-12 2019-10-29 中南大学 一种分数阶pid控制器参数优化整定方法
CN107966886A (zh) * 2018-01-19 2018-04-27 京东方科技集团股份有限公司 一种加热装置及光刻设备
CN111383960A (zh) * 2018-12-28 2020-07-07 细美事有限公司 用于处理基板的装置和方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3933765B2 (ja) 2007-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3665826B2 (ja) 基板熱処理装置
JP3933765B2 (ja) 基板加熱処理方法および装置
US5522215A (en) Substrate cooling apparatus
US6461438B1 (en) Heat treatment unit, cooling unit and cooling treatment method
US6313441B1 (en) Control system and method for providing variable ramp rate operation of a thermal cycling system
US5638687A (en) Substrate cooling method and apparatus
JP6442339B2 (ja) 熱処理装置および熱処理方法
JP4781931B2 (ja) 熱処理方法および熱処理装置
KR100772270B1 (ko) 웨이퍼 휨 현상의 방지를 위한 급속 열처리 장치 및 방법
JPH03135011A (ja) 基板の加熱処理方法及び加熱処理装置
JP3525022B2 (ja) 基板加熱装置
JPH08236533A (ja) ウエハ加熱冷却装置
CN111063623A (zh) 基片处理装置、基片处理方法和存储介质
JP2002176209A (ja) 分極装置および分極方法
JP4153686B2 (ja) 成膜液乾燥装置
JP2000180071A (ja) 熱処理装置
JP2807844B2 (ja) 基板加熱装置
JPH1022189A (ja) 基板熱処理装置
JPH09306978A (ja) 基板温度制御方法、基板熱処理装置及び基板支持装置
JP2007158110A (ja) 基板処理装置
JP2001358045A (ja) 基板処理装置
JP3504018B2 (ja) 基板冷却装置
TWI772745B (zh) 熱處理裝置及熱處理方法
JPH1197431A (ja) 基板熱処理装置
KR19990006379A (ko) 기판 열처리장치

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050208

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050411

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070306

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070314

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100330

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100330

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110330

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110330

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120330

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120330

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130330

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130330

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees