JPH11316832A - 放射線画像生成方法および放射線画像撮像装置 - Google Patents

放射線画像生成方法および放射線画像撮像装置

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JPH11316832A
JPH11316832A JP11044042A JP4404299A JPH11316832A JP H11316832 A JPH11316832 A JP H11316832A JP 11044042 A JP11044042 A JP 11044042A JP 4404299 A JP4404299 A JP 4404299A JP H11316832 A JPH11316832 A JP H11316832A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】容易に撮影条件の変動による影響を受けること
なく視覚的に見やすい放射線画像を得る。 【解決手段】ST1で先読み動作を行い、照射された放
射線の強度に応じて蓄積された電荷の一部を読み出して
先読み画像データを生成する。ST2で先読み画像デー
タから画像データ生成条件を設定する。ST3で本読み
動作を行い、蓄積された電荷を再度読み出しで、設定さ
れた生成条件で本読み画像データとする。ST4で本読
み画像データに基づいて画像処理条件を設定し、ST5
で設定された画像処理条件で本読み画像データを処理す
る。ST6で画像処理後の画像データを出力する。この
画像処理後の画像データに基づいて放射線画像を生成す
ることにより、撮影条件の変動による影響を受けること
なく視覚的に見やすい放射線画像を得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、放射線画像生成
方法および放射線画像撮像装置に関する。詳しくは、照
射された放射線の強度に応じて蓄積された電荷の一部を
読み出して第1の画像データを生成し、蓄積された電荷
を再度読み出して第1の画像データに基づいて設定され
た画像データ生成条件で第2の画像データを生成し、第
1あるいは第2の画像データのいずれかに基づいて階調
処理等を行うための条件を設定し、この条件に基づいて
第2の画像データを処理して第3の画像データとし、第
3の画像データに基づいて放射線画像を生成することに
より、撮影条件の変動による影響を受けることなく視覚
的に見やすい放射線画像を得るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、疾病診断用の人体X線画像当の放
射線画像を得る方法として増感紙と放射線写真フィルム
とを組み合わせた、いわゆる放射線写真法が利用されて
いる。この方法によれば、被写体を透過したX線等の放
射線が増感紙に入射されると、増感紙に含まれる蛍光体
が放射線のエネルギーを吸収して蛍光を発する。この発
光により、増感紙に密着されるように重ね合わされた放
射線写真フィルムが感光し、放射線写真フィルム上に放
射線画像が形成される。
【0003】しかし、このような放射線写真法により放
射線画像を得るためには、撮影に用いる放射線写真フィ
ルムと増感紙との感度領域を一致させて撮影を行う必要
がある。また、撮影後に放射線写真フィルムに対して化
学的現像および定着等の処理をしなければならず、放射
線画像が得られるまでに時間を要してしまう。
【0004】このため、放射線エネルギーの一部を蓄積
して、その後可視光等の励起光を照射すると蓄積された
エネルギーに応じて輝尽発光を示す輝尽性蛍光体を利用
し、この輝尽性蛍光体をシート状とした輝尽性蛍光体シ
ートに被写体の放射線画像情報を記録したのちレーザ光
等を照射し、輝尽発光を光電的に読み取って画像信号を
得る方法が用いられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
輝尽性蛍光体を用いる方法は、輝尽性蛍光体の層のなか
で光の散乱を生じるため放射線画像の解像度が低下して
しまう。また、励起光を照射して輝尽発光を生じさせな
ければならないことから、励起光を照射する照射手段が
必要とされて構成が複雑である。さらに、撮影条件等の
変動による影響を防止するためには、輝尽発光を光電的
に読み取って画像信号を得る場合に、輝尽性蛍光体シー
トに蓄積記録された放射線画像の記録状態、被写体の部
位、撮影方法などの情報に基づいて、読み取りゲイン等
を設定しなければならない。
【0006】そこで、この発明では、容易に撮影条件の
変動による影響を受けることなく視覚的に見やすい放射
線画像を得ることができる放射線画像生成方法を提供す
るものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明に係る放射線画
像生成方法として、フラットパネルディテクタ(FP
D)の具体例が特開平6−342098に開示されてい
る。つまり、被写体を透過したX線をa−Se層等の光
導電層で吸収してX線強度に応じた電荷を発生させ、そ
の電荷量を画素毎に検知するものである。他の方式のF
PDの例としては、特開平9−90048に開示されて
いるように、X線を増感紙等の蛍光体層に吸収させて蛍
光を発生させ、その蛍光の強度を画素毎に設けたフォト
ダイオード等の光検出器で検知するものがある。蛍光の
検知手段としては他に、CCDやC−MOSセンサを用
いる方法もある。
【0008】特に上記の特開平6−342098に開示
された方式のFPDでは、X線量を画素毎の電荷量に直
接変換するため、FPDでの鮮鋭性の劣化が少なく、鮮
鋭性の優れた画像が得られるので、本発明のX線画像記
録システム及びX線画像記録方法による効果が大きく好
適である。
【0009】この発明に係る放射線画像生成方法は、照
射された放射線の強度に応じて蓄積された電荷の一部を
読み出して第1の画像データを生成し、第1の画像デー
タから画像データ生成条件を設定し、蓄積された電荷の
読み出しを再度行い、設定された画像データ生成条件で
読み出された電荷に基づき第2の画像データを生成し、
第1の画像データあるいは第2の画像データのいずれか
に基づいて画像処理条件を設定し、設定された画像処理
条件で第2の画像データを処理して第3の画像データと
し、第3の画像データに基づいて放射線画像を生成する
ものである。
【0010】また、放射線画像撮像装置は、照射された
放射線の強度に応じた電荷を生成し、生成された電荷を
2次元状に配列された多数の電荷蓄積コンデンサで蓄積
し、蓄積された電荷量に基づき画像データを生成して読
み取る撮像パネルと、撮像パネルを制御する制御手段
と、撮像パネルから読み取られた画像データに基づいて
画像処理条件を設定する画像処理条件設定手段と、設定
された画像処理条件に基づいて撮像パネルから読み取ら
れた画像データを処理する画像処理手段とを有する放射
線画像撮像装置であって、制御手段は、撮像パネルを制
御して、蓄積された電荷量の一部を読み出して、第1の
画像データを生成した後に、第1の画像データに基づい
て設定した画像データ生成条件で電荷を読み出して第2
の画像データを生成し、画像処理条件設定手段は、第1
の画像データあるいは第2の画像データのいずれかに基
づいて画像処理条件を設定し、画像処理手段は、設定さ
れた画像処理条件で上記第2の画像データを処理するも
のである。
【0011】この発明においては、照射された放射線の
強度に応じて蓄積された電荷の一部が読み出されて第1
の画像データが生成される。この第1の画像データに基
づいて、読み出された電荷から画像データを生成する際
のゲインやレベル変換の設定が行われる。次に、再度蓄
積された電荷の読み出しが行われて、設定されたゲイン
やレベル変換で第2の画像データが生成される。この第
1あるいは第2の画像データのいずれかに基づいて階調
処理等の画像処理を行うための条件が設定される。この
設定された条件に基づいて第2の画像データを画像処理
して第3の画像データとされる。この第3の画像データ
に基づいて放射線画像が生成される。
【0012】また 第1の画像データに基づき読取領
域、例えば照射野内領域が判別されて、この判別された
照射野内の第1の画像データからゲインやレベル変換の
設定が行われる。また、判別された照射野内の、第1の
画像データあるいは第2の画像データのいずれかに基づ
いて階調処理等を行うための条件が設定される。さら
に、判別された照射野内の第2の画像データを処理して
第3の画像データとされる。
【0013】
【発明の実施の形態】次に、この発明の実施の一形態に
ついて図を用いて詳細に説明する。図1は、放射線画像
処理装置の構成を示す図である。図1において、放射線
発生器30はコントロール部10によって制御されて、
放射線発生器30から放射された放射線は、被写体5を
通して放射線画像読取装置40の前面に装着されている
撮像パネル41に照射される。
【0014】図2は撮像パネル41の構成を示してお
り、撮像パネル41は所定の剛性を得られるだけの厚み
を有する誘電基板411を有している。この誘電基板は
例えばガラスを用いて構成される。誘電基板411上に
は金属の薄膜を用いた複数のマイクロプレート412-
(1,1)〜412-(m,n)が2次元配置されている。マイク
ロプレート412間には走査線415-1〜415-mと信
号線416-1〜416-nが例えば直交するように配設さ
れる。マイクロプレート412-(1,1)には、1つのトラ
ンジスタ420-(1,1)が接続されている。このトランジ
スタ420-(1,1)は、例えば電界効果トランジスタが用
いられており、ドレイン電極あるいはソース電極がマイ
クロプレート412-(1,1)に接続されると共に、ゲート
電極は走査線415-1と接続される。ドレイン電極がマ
イクロプレート412-(1,1)に接続されるときにはソー
ス電極が信号線416-1と接続され、ソース電極がマイ
クロプレート412-(1,1)に接続されるときにはドレイ
ン電極が信号線416-1と接続される。またマイクロプ
レート412-(1,1)は電荷蓄積コンデンサ422-1の一
方の電極とされる。このようにして1つの画素が形成さ
れる。他のマイクロプレート412にも同様にトランジ
スタ420が接続されており、トランジスタ420のゲ
ート電極には走査線415が接続されると共に、ソース
電極あるいはドレイン電極には信号線416が接続され
る。
【0015】図3は、撮像パネル41の一部断面図を示
しており、誘電基板411上には走査線415と接続さ
れるゲート電極420gが形成される。このゲート電極
420g上にゲート絶縁膜420pが形成されると共
に、ゲート絶縁膜420p上にはアモルファスシリコン
等を用いた半導体層420cが形成される。この半導体
層420cにソース電極420sとドレイン電極420
dが形成されて電界効果トランジスタが構成される。こ
のソース電極420sあるいはドレイン電極420dの
一方が信号線416と接続されると共に他方の電極がマ
イクロプレート412に接続される。
【0016】また、誘電基板411上には外部側のマイ
クロプレートとしての電極422aが形成されると共
に、この電極上に二酸化シリコンあるいは窒化シリコン
等の誘電体422bが形成される。さらに誘電体422
b上にマイクロプレート412が電極として形成され
て、マイクロプレート412と電極422aと誘電体4
22bで電荷蓄積コンデンサ422が形成される。電荷
蓄積コンデンサ422の誘電体422b上に形成された
マイクロプレート412は、トランジスタ420の電極
と接続されると共に、誘電基板411上に形成された電
極422aは接地される。
【0017】トランジスタ420はパッシベーション層
425で被覆されると共に、電荷蓄積コンデンサ422
の電極上およびマイクロプレート412(図示せず)上
には電荷阻止層426が形成される。
【0018】さらに、パッシベーション層425や電荷
阻止層426、走査線415(図示せず)および信号線
416(図示せず)上には、放射線が照射されることに
より電子−正孔対が生成されて抵抗値が変化する光導電
層427が形成される。この光導電層427としては暗
抵抗値が高いものが望ましく、アモルファスセレン、酸
化鉛、硫化カドミウム、ヨウ化第2水銀、または光導電
性を示す有機材料(X線吸収コンパウンドが添加された
光伝導性ポリマを含む)などが用いられ、特にアモルフ
ァスセレンが望ましい。光導電層427上には誘電層4
28が形成されることが好ましく、誘電層428上には
バイアス電極429が形成される。
【0019】ここで、バイアス電極429に高電圧(例
えばプラス数kV)が印加された状態で放射線が光導電
層427に入射されると、放射線の強度に応じた量の電
子−正孔対が生成されると共に、バイアス電極429に
プラスの高電圧が印加されていることから、生成された
電荷は誘電層428側に移動されると共に、前記とは逆
極性の電荷は電荷阻止層426側に移動される。また、
誘電層428によってバイアス電極429から光導電層
427への電荷の注入が阻止されると共に、電荷阻止層
426によって電荷蓄積コンデンサ422の電極から光
導電層427への電荷の注入が阻止される。このため、
光導電層427を介して漏洩電流が流れることを阻止す
ることができ、放射線の強度に応じた量の電荷を電荷蓄
積コンデンサ422に蓄えることができる。
【0020】このようにして、図2に示す各マイクロプ
レート412-(1,1)〜412-(m,n)を一方の電極とする
電荷蓄積コンデンサ422-(1,1)〜422-(m,n)に放射
線像を示す電荷を蓄積することができると共に、電荷蓄
積コンデンサ422-(1,1)〜422-(m,n)に蓄積された
電荷量を判別して画像データを生成することができる。
【0021】また撮像パネル41では、信号線416-1
〜416-nに、例えばドレイン電極が接続されたリセッ
ト動作用のトランジスタ432-1〜432-nが設けられ
ている。このトランジスタ432-1〜432-nのソース
電極は接地されている。また、ゲート電極はリセット線
431と接続される。
【0022】撮像パネル41の走査線415-1〜415
-mとリセット線431は、図2に示すように走査駆動回
路44と接続されている。走査駆動回路44から走査線
415-1〜415-mのうちの1つ走査線415-p(pは1
〜mのいずれかの値)に電荷読出信号RSが供給される
と、この走査線415-pに接続されたトランジスタ42
0-(p,1)〜420-(p,n)がオン状態とされて、電荷蓄積
コンデンサ422-(p,1)〜422-(p,n)に蓄積された電
荷が信号線416-1〜416-nにそれぞれ読み出され
る。信号線416-1〜416-nは、電荷検出器433-1
〜433-nに接続されており、電荷検出器433-1〜4
33-nでは信号線416-1〜416-n上に読み出された
電荷量に比例する電圧信号SV-1〜SV-nが生成され
る。この電荷検出器433-1〜433-nから出力された
電圧信号SV-1〜SV-nが信号選択回路46に供給され
る。
【0023】信号選択回路46には、電荷検出器433
-1〜433-nから電圧信号が供給される。信号選択回路
46では、供給された電圧信号が順次選択されて、例え
ば、12ビットないし14ビットのディジタルのデータ
とされる。このデータは画像データDTとして読取制御
回路48に供給される。なお、バイアス電極429にプ
ラスの高電圧を印加した状態で、走査駆動回路44から
リセット信号RTをリセット線431に供給してトラン
ジスタ432-1〜432-nをオン状態とすると共に、走
査線415-1〜415-mに電荷読出信号RSを供給して
トランジスタ420-(1,1)〜420-(m,n)がオン状態と
すると、電荷蓄積コンデンサ422-(1,1)〜422-(m,
n)に蓄えられた電荷がトランジスタ432-1〜432-n
を介して放出して、撮像パネル41の初期化、すなわち
残留電荷の除去を行うことができる。
【0024】読取制御回路48はコントロール部10と
接続されており、コントロール部10から供給された制
御信号CTDに基づいて走査制御信号RCや出力制御信
号SCが生成される。この走査制御信号RCが走査駆動
回路44に供給されて、走査制御信号RCに基づき走査
線415-1〜415-mに対しての電荷読出信号RSの供
給やリセット線431に対してのリセット信号RTの供
給が行われる。また、出力制御信号SCが信号選択回路
46に供給されて、電荷検出器433-1〜433-nから
の電圧信号の選択動作が制御される。この読取制御回路
48からの走査制御信号RCや出力制御信号SCによっ
て、例えば撮像パネル41が上述のように(m×n)個
のマイクロプレートで構成されている場合には、電荷蓄
積コンデンサ422-(1,1)〜422-(m,n)に蓄積された
電荷に基づくデータをデータDP(1,1)〜DP(m,n)とす
ると、データDP(1,1)、DP(1,2)、……DP(1,n)、
DP(2,1)、……、DP(m,n)の順とし、画像データDT
が生成されて信号選択回路46から読取制御回路48に
供給される。また読取制御回路48では、この画像デー
タDTをコントロール部10に送出する処理も行われ
る。
【0025】放射線画像読取装置40で得られた画像デ
ータは、読取制御回路48を介して図4に示すコントロ
ール部10に供給される。なお、放射線画像読取装置4
0で得られた画像データをコントロール部10に供給す
る際に画像データの対数変換処理を行うものとすれば、
コントロール部10における画像データの処理を簡単と
することができる。また、上記の対数変換を読み出され
た電荷量を電荷検出器433で電圧信号SVに変換する
ときに同時に行っても良い。こうして対数変換後にディ
ジタルデータとすることにより、電圧信号SVが小さい
領域での放射線情報の分解能を高くすることができる。
【0026】図5に示すように、コントロール部10の
動作を制御するためのCPU(Central Processing Uni
t)11には、システムバス12と画像バス13が接続さ
れる。なお、コントロール部10の動作を制御するため
のCPU11は、メモリ14に記憶された制御プログラ
ムに基づいて動作が制御される。
【0027】システムバス12と画像バス13には、表
示制御回路15、フレームメモリ制御回路16、入力イ
ンタフェース17、出力インタフェース18、撮影制御
回路19、ディスク制御回路20等が接続されており、
システムバス12を利用しCPU11によって各回路の
動作が制御されると共に、画像バス13を介して各回路
間での画像データの転送等が行われる。
【0028】フレームメモリ制御回路16には、フレー
ムメモリ21が接続されており、放射線画像読取装置4
0で得られた画像データが撮影制御回路19やフレーム
メモリ制御回路16を介して記憶される。フレームメモ
リ21に記憶された画像データは読み出されて表示制御
回路15やディスク制御回路20に供給される。また、
フレームメモリ21には、放射線画像読取装置40から
供給された画像データをCPU11で処理してから記憶
するものとしてもよい。
【0029】表示制御回路15には、画像表示装置22
が接続されており画像表示装置22の画面上に表示制御
回路15に供給された画像データに基づく放射線撮影画
像が表示される。ここで、放射線画像読取装置40の画
素数よりも画像表示装置22の表示画素数が少ない場合
には、画像データを間引きして読み出すことにより、画
面上に撮影画像全体を表示させることができる。また、
画像表示装置22の表示画素数分に相当する領域の画像
データを読み出すものとすれば、所望の位置の撮影画像
を詳細に表示させることができる。
【0030】フレームメモリ21からディスク制御回路
20に画像データが供給される際には、例えば連続して
画像データが読み出されてディスク制御回路20内のF
IFOメモリに書き込まれ、その後順次ディスク装置2
3に記録される。
【0031】さらに、フレームメモリ21から読み出さ
れた画像データやディスク装置23から読み出された画
像データを出力インタフェース18を介して外部機器1
00に供給することもできる。
【0032】画像処理条件設定回路25では、放射線画
像読取装置40から撮影制御回路19を介して供給され
た画像データを用いて、画像を診断に適した濃度および
コントラストで表現するための階調処理、画像の鮮鋭度
をコントロールするための周波数処理、画像全体を見や
すい範囲に収めるためのダイナミックレンジ圧縮処理を
行うための処理条件の設定や、放射線が照射された領域
を識別する照射野認識が行われる。
【0033】この画像処理条件設定回路25で設定され
た条件で、画像処理回路26によって放射線画像読取装
置40から撮影制御回路19を介して供給された画像デ
ータの階調処理や周波数処理、ダイナミックレンジ圧縮
処理等が行われる。また、画像処理条件設定回路25で
認識された照射野に対して同様に各種の処理が行われ
る。
【0034】なお、画像処理条件設定回路25や画像処
理回路26をCPU11が兼ねる構成として、種々の条
件設定や認識処理および画像処理を行うものとしてもよ
い。外部機器100としては、レーザーイメージャとも
呼ばれる走査型レーザ露光装置が用いられる。この走査
型レーザ露光装置では、画像データによりレーザビーム
強度を変調し、従来のハロゲン化銀写真感光材料や熱現
象ハロゲン化銀写真感光材に露光したあと適切な現像処
理を行うことによって放射線画像のハードコピーが得ら
れるものである。
【0035】この走査型レーザー露光装置は、レーザー
光源としてルビーレーザー、YAGレーザー、ガラスレ
ーザーなど固体レーザー;He−Neレーザー、Arイ
オンレーザー、Krイオンレーザー、C02レーザー、
C0レーザー、He−Cdレーザー、N2レーザー、エ
キシマーレーザーなどの気体レーザー;InGaPレー
ザー、AlGaAsレ‐ザー、GaAsレーザー、In
GaAsレ‐ザー、InAsPレーザー、CdSnP2
レーザー、GaSbレーザー,GaNレーザーなど半導
体レーザー;化学レーザー、色素レーザーがあげられ
る。
【0036】ハロゲン化銀写真感光材料はポリエステ
ル、3酢酸アセート、ポリエチレンナフタレート、ポリ
カーボネートそしてポリノルボルネン系樹脂等の着色あ
るいは無着色の透明な高分子材料を支持体に、接着性を
付与する下引き層を塗布し、更にその上に支持体の片面
もしくは両面にハロゲン化銀粒子を分散したゼラチンな
どの高分子層が塗設される。片面のみにハロゲン化銀粒
子などを含む感光層が塗設される場合は、該層の別の面
にハレーション防止染料、帯電防止剤、マット剤等を必
要に応じて含むゼラチン層を塗設することができる。こ
の層のゼラチンなどの高分子膜は該感光材料が環境の湿
度変化や水中での処理中に強いカールを起こさないよう
に、その膜厚を調整することができる。
【0037】この感光材料で用いられ感光層はハロゲン
化銀粒子を分散する。このハロゲン化銀粒子は沃臭化
銀、臭化銀、塩化銀、塩臭化銀などの組成であって、形
状はサイコロ状、8面体、ジャガイモ状、球状、棒状、
平板状などで、その粒径分布は狭いものから広いものま
で目的によって選択できる。平均粒径は球状のハロゲン
化銀粒子として換算して0.1〜1μmが好ましい。平
板状の場合は平均アスぺクト比が100:1〜2:1の
ものを用いることができる。該ハロゲン化銀粒子の内部
と表面のハロゲン組成の異なる多重層構造のコア/シェ
ル型粒子を用いることが好ましい。該ハロゲン化銀粒子
の製造方法は特開昭59−177535号、同59−1
7844号、同60−35726、同60−14772
7号等を参考にすることができる。これらのハロゲン化
銀粒子はハイポやセレン化合物、テルル化合物そして金
化合物を用いて化学増感することが好ましく、ハロゲン
化銀粒子生成時にイリジウム化合物やその他金属イオ
ン、そして増感色素を添加することができる。該感材に
用いられる増感色素の分光極大波長は500〜1500
nmであり、シアニン色素やメロシアニン色素が―般に
用いられ、その構造等については、例えばC.E.K.
Mees,T.H.James著、The Theory of the
Photographic Process,第3版198〜201ぺージ
(マクミラン、ニューヨーク、1986)に記載されて
いる。また該感光層に保存中や現像処理中のカプリ上昇
を抑制する種々の含窒素有機化合物や硫黄原子を含有す
るメルカプト化合物を含有することが好ましい。さらに
該感光層中にイラジエイションを防止する染料を含有す
ることができる。また現像処理後の膜面に凹凸を与えて
外光の反射を抑えるための非感光性のハロゲン化銀粒子
を含有することができる。該感光層の上層には感光層を
保護するゼラチン保護層を塗設することができ、該層に
は目的に応じて帯電防止剤、マット剤、スべリ剤などを
含有せしめることができる。そして感光層ならびにその
保護層中にゼラチン鎖を架橋して膜面を強化する硬膜剤
を含有することが好ましい。
【0038】ハロゲン化銀感光材料は自動現像機を用い
て現像処理することが好ましく、処理時間(Dry to Dr
y)は10秒〜210秒で処理することができる。該自
動現像機で用いる現像液には現像主薬として特開平4−
154641号、特開平4−16841号記載のジヒド
ロキシべンゼン類や3−ピラゾリドン類、またアスコル
ビン酸類を用いることが好ましい。保恒剤として亜硫酸
塩、アルカリ剤として水酸化塩や炭酸塩が特開昭61−
28708号や特開昭60−93439号記載の緩衝剤
とともに用いられる。溶解助剤としてグリコール類、銀
スラッジ防止剤としてスルフィド、ジスルフィルド化合
物やトリアジンが用いられる。有機抑制剤はアゾール系
有機防止剤、無機抑制剤は臭化カリウムなどL.F.
A.メイソン著「フォトグラフィック・プロセッンング
・ケミストリー」フォーカルプレス社刊(1966年)
の226〜229ぺージ記載の化合物を用いることがで
きる。また有機キレート剤、ジアルデヒド系現像硬膜剤
を含むことができる。現像処理をするときの現像液の補
充量は5−15ml/4つ切り1枚が好ましい。定着液
としては当業界で一般に用いられている定着素材を含む
ことができ、キレート剤や定着硬膜剤、そして定着促進
剤を含むことができる。
【0039】特許平9−311407号記載の、上記の
ようなウエット処理を行わずに熱現像を行うハロゲン化
銀感材を用いることができる。この感材は支持体上に少
なくとも1層の感光層を有し、有機銀塩、感光性ハロゲ
ン化銀粒子、銀イオンのための還元剤及びバインダイー
を含有する熱現像感光材料である。該感光材料のハロゲ
ン化銀粒子の組成は沃臭化銀、臭化銀、塩臭化銀もしく
は臭化銀であり、立方体、8面体、球形、ジャガイモ状
で平均粒径は球形粒子として換算して0.2〜0.01
0μmが好ましい。更に該ハロゲン化銀粒子にハイポや
セレンそして金化合物で化学増感を施し、400〜15
00nmに感色性を付与する分光増感色素を用いること
が好ましい。本感材では感材の保存中のカプリの上昇を
抑制するために有機カルボン酸塩やイソシアネート化合
物を含有することが好ましい。該感材に用いる有機銀塩
は炭素数が10〜30の長鎖カルボン酸銀塩が好まし
い。その例としてベへン酸銀、ステアリン酸銀、オレイ
ン酸銀、ラウリン酸銀、カプロン酸銀、ミリスチン酸
銀、パルミチン酸銀、マレイン酸銀、フマル酸銀、酒石
酸銀、リノール酸銀、酪酸銀及び樟脳酸銀及びこの混合
物である。有機銀塩のための還元剤はフェニドンやハイ
ドロキノンなどのジヒドロキシべンゼン類が用いられ
る。その外に広範囲の還元剤を用いることができ、例え
ばアミドオキシム類、アジン類、脂肪族カルボン酸アリ
ールヒドロアジドとアスコルビン酸との組合せなどであ
る。また、該感材の感光層の上に保護膜を塗設すること
が好ましく、この保護膜には帯電防止剤やマット剤、ス
べリ剤などを目的に応じて添加することができる。これ
ら感光層及ぴ保護層は、接着性を付与する下引き層を塗
布したポリエステル、3酢酸アセート、ポリエチレンナ
フタレート、ポリカーボネートそしてポリノルポルネン
系樹脂等の着色あるいは無着色の透明な高分子材料を支
持体に上に塗設する。感光層の塗布をしていない支持体
上にハレーション防止染料やマット剤、帯電防止剤を含
有したバッキング層を塗布することが好ましい。該感光
材料は走査型レーザ露光装置を用いて画像信号が露光さ
れ、そして80℃以上200℃以下で熱現像が行われ
る。
【0040】また、この放射線画像処理装置で得られた
画像情報は、例えば特開平8−282099号に記載さ
れているように、走査型レーザ露光装置を用いて画像信
号により高密度レーザービームで露光することによって
顕色成分を有する転写層から受容層に転写することによ
り、ハードコピーを得ることができる。
【0041】この走査型レーザー露光装置は、レーザー
光源としてルビーレーザー、YAGレーザー、ガラスレ
ーザーなど固体レーザー;HeーNeレーザー、Arイ
オンレーザー、Krイオンレーザー、C02レーザー、
C0レーザー、HeーCdレーザー、N2レーザー、エ
キシマーレーザーなどの気体レーザー;InGaPレー
ザー、AlGaAsレーザー、GaAsレーザー、In
GaAsレーザー、InAsPレーザー、CdSnP2
レーザー、GaSbレーザー,GaNレーザーなど半導
体レーザー;化学レーザー、色素レーザーがあげられ
る。レーザー光は400〜1200nmである。
【0042】該感材は3つの支持体から構成される。第
1の支持体上に顕色成分を設けた転写材料と、第3の支
持体を有した剥離材料を転写層と対面するように設け、
第1の支持体側から高密度エネルギー光を像様に露光す
ることによって、露光部分の支持体と転写層の結合力を
アプレーションによって低下させ、単車材料と剥離材料
を引き離して、転写層の露光部を剥離材料上に転写した
後、剥離材料の露光部の転写層と、第2の支持体上に発
色成分を含有する受容層を有した受容材料の受容層がわ
と重ね合わせ画像を形成することを特徴とする。ここで
いうアプレーションとは、画像露光部分の転写層の破壊
は起こらず、支持体と転写層間の結合力のみが低下する
あるいはなくなる、あるいは画像露光部分の転写層の一
部が熱破壊して飛散する等のほかに、画像露光部分の転
写層に亀裂が生じるまでの現象まで含む。画像形成は、
潜像形成時または潜像形成後に発色成分と顕色成分を混
合させることにより行われ、更に加熱または加圧するこ
とが好ましい。加熱する手段はオープン、サーマルへッ
ド、ヒートロール、ホットスタンプ、熱ぺン等温度のみ
をかけるものでも、温度をかけると同時に圧力をかける
ものでもよい。第1層の顕色成分は例えば有機還元剤で
第2の支持体の発色成分は有機還元剤により発色する銀
源である。有機還元剤は例えばスクシンイミド、フタル
イミド、2−メチルスクシンイミド、ジチオウラシル、
5−メチル−5−n−ぺンチルヒダトイン、フタルイミ
ド等があげられる。銀源としては脂肪族カルボン酸との
銀塩(例えばべへン酸銀、ステアリン酸銀、オレイン酸
銀、ラウリン酸銀などである。また特開平9−1880
73号記載の熱転感熱記録方法を用いることができる。
熱転写シートの染料層面と熱転写受像シートの受容層面
とが接するように向かい合わせ、染料層と受容層の界面
にサーマルへッド等の加熱印加手段により、画像情報に
応じた熱エネルギーを与えることにより、染料層中の染
料を受容層に移行させる。さらに移行した後に熱転写シ
ートの背面側からサーマルへッド等の加熱印加手段によ
り所定の熱エネルギーを与えることにより、未反応染料
の定着を行う。染料層の熱移行性の染料の具体例は例え
ば特開昭59−78893号、同59−1090939
4号、同60−2398号の公開公報に記戴されている
ものをあげることができる。染料層に用いられるバイン
ダー樹脂の代表例はセルロース系、ポリアクリル酸系、
ポリビニルアルコール系などから選ぶことができる。受
容層は昇華染料が染着しやすい樹脂が選ばれ、例えばポ
リオレフィン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニ
リデン樹脂などから選ぶことができる。
【0043】さらにピエゾ効果などにより、入力する画
像信号に基づいてインク微粒子を像様に射出して画像を
形成する、いわゆるインクジェットによって画像を出力
することが可能であり、さらに画像信号を光信号に置き
換えて、トナーによる画像を形成するゼログラフィのひ
とつである、いわゆるデジタルコピアーにより画像を出
力することができる。
【0044】入力インタフェース17には、キーボード
等の入力装置24が接続されており、入力装置24を操
作することで、得られた画像データを識別するための識
別情報の入力などが行われる。
【0045】なお、フレームメモリ21には、放射線画
像読取装置40から供給された画像データを記憶するも
のとしたが、供給された画像データをCPU11で処理
してから記憶するものとしてもよい。
【0046】また、ディスク装置23には、フレームメ
モリ21に記憶されている、放射線画像読取装置40か
ら供給された画像データやその画像データをCPU11
で処理した画像データを、識別情報などと共に保存する
ことができる。
【0047】次に、動作について説明する。被写体5の
放射線画像を得る際には、放射線発生器30と放射線画
像読取装置40の撮像パネル41の間に被写体5が位置
するものとされて、放射線発生器30から放射された放
射線が被写体5に照射されると共に、被写体5を通り抜
けた放射線が撮像パネル41に入射するものとされる。
【0048】コントロール部10には、撮影が行われる
被写体5を識別するための識別情報が入力装置24を用
いて入力される。この入力装置24を用いた識別情報の
入力は、キーボードを操作したり、磁気カード、バーコ
ード、HIS(病院内情報システム:ネットワークによ
る情報管理)を利用して行われる。また、識別情報は、
ID番号、氏名、生年月日、性別、撮影部位、撮影日時
等の情報から構成される。また撮影日時は、CPU11
に内蔵されている時計機能を利用して、CPU11から
カレンダーや時刻の情報を自動的に得ることもできる。
なお、入力される識別情報は、その時点で撮影される被
写体に関するものだけでも良く、一連の識別情報を予め
入力しておいて、入力順に被写体を撮影したり、必要に
応じて入力された識別情報を読み出して用いるものとし
てもよい。
【0049】放射線画像読取装置40の電源スイッチが
オン状態とされると、コントロール部10からの制御信
号CTDに基づき、放射線画像読取装置40の読取制御
回路48や走査駆動回路44によって撮像パネル41の
初期化が行われる。
【0050】放射線画像読取装置40での撮像パネル4
1の初期化が完了すると、放射線発生器30からの放射
線の照射が可能とされる。ここで、放射線を照射するた
めのスイッチが放射線発生器30に設けられている場
合、このスイッチが操作されると、放射線発生器30か
ら被写体5に向けて放射線が所定時間だけ照射されると
共に、放射線の照射開始を示す信号DFSや照射終了を
示す信号DFEがコントロール部10に供給される。
【0051】このとき、放射線画像読取装置40の撮像
パネル41に入射される放射線の強度は、被写体5によ
る放射線吸収の度合いが異なるため、被写体5によって
変調される。撮像パネル41の電荷蓄積コンデンサ42
2-(1,1)〜422-(m,n)には、被写体5によって変調さ
れた放射線の強度に基づく電荷が蓄えられる。
【0052】次に、コントロール部10では、信号DF
Sが供給されてから所定時間後、例えば放射線の照射時
間が0.1秒程度であるときには、この照射時間よりも
長い時間(例えば約1秒)経過後、または、信号DFE
が供給されてから直ちに、放射線画像読取装置40での
電荷読出動作を開始するために制御信号CTDが放射線
画像読取装置40の読取制御回路48に供給される。
【0053】一方、放射線を照射するためのスイッチが
コントロール部10に設けられている場合、このスイッ
チが操作されると、放射線の照射を開始させるための照
射開始信号CSTが撮影制御回路19を介して放射線発
生器30に供給されて、放射線発生器30から被写体5
に向けて放射線が所定時間だけ照射される。
【0054】次に、コントロール部10では、照射開始
信号CSTを出力してから所定時間後、放射線画像読取
装置40での電荷読出動作を開始するために制御信号C
TDが放射線画像読取装置40の読取制御回路48に供
給される。なお、コントロール部10では、放射線発生
器30での放射線の照射終了を検出してから、放射線画
像読取装置40での電荷読出動作を開始するための制御
信号CTDを放射線画像読取装置40に供給するものと
してもよい。このため、放射線の照射中に電荷読出動作
が行われて画像データが生成されてしまうことを防止で
きる。
【0055】放射線画像読取装置40の読取制御回路4
8では、コントロール部10から供給された電荷読出動
作を開始するための制御信号CTDに基づいて走査制御
信号RCや出力制御信号SCが生成される。この走査制
御信号RCが走査駆動回路44に供給されて、走査制御
信号RCに基づき走査線415-1〜415-mに対して順
次電荷読出信号RSが供給されて、電荷蓄積コンデンサ
422-(1,1)〜422-(m,n)に蓄えられた電荷が順次読
み出される。また、出力制御信号SCが信号選択回路4
6に供給されて、電荷検出器432-1〜432-nからの
電圧信号SV-1〜SV-nの選択動作が行われて、選択さ
れた電圧信号に基づいた画像データDTが生成されて読
取制御回路48に供給される。
【0056】また、電荷蓄積コンデンサ422-(1,1)〜
422-(m,n)に蓄えられた電荷の読み出しが終了された
ときには、次の撮影を行うことが出来るように、電荷読
出信号RSとリセット信号RTによってトランジスタ4
20-(1,1)〜420-(m,n)、432-1〜432-nをオン
状態として、撮像パネル41の初期化が行われる。
【0057】読取制御回路48では、信号選択回路46
から供給されたデータを画像データDTとしてコントロ
ール部10に送出する処理が行われる。この画像データ
DTはコントロール部10の撮影制御回路19やフレー
ムメモリ制御回路16等を介してフレームメモリ21に
記憶される。放射線画像読取装置40からコントロール
部10に対しての画像データの供給が終了すると、フレ
ームメモリ21には1画面分の画像データが記憶され
る。このため、このフレームメモリ21に記憶された画
像データを用いて、画像表示装置22に放射線画像を表
示させることができる。また、フレームメモリ21に記
憶された画像データを処理して表示制御回路15に供給
したり、画像データを処理してからフレームメモリ21
に記憶させて、このフレームメモリ21に記憶された画
像データを表示制御回路15に供することにより、輝度
やコントラストあるいは鮮鋭度等が調整された放射線画
像を表示することもできる。
【0058】ここで、蓄えられた電荷を読み出して、撮
影条件の変動による影響を受けることなく視覚的に見や
すい放射線画像を速やかに、例えば画像表示装置22に
表示させるためには、コントロール部10によって放射
線画像読取装置40を制御して、図5に示す放射線画像
生成処理が行われる。
【0059】ステップST1では、放射線画像の生成に
先だって、撮像パネル41に記録されている情報を把握
するための電荷読取動作(以下「先読み動作」という)
が行われる。この先読み動作では、電荷蓄積コンデンサ
422-(1,1)〜422-(m,n)から蓄えられた電荷を読み
出すための電荷読出時間を、放射線画像を生成するため
の電荷読取動作(以下「本読み動作」という)よりも短
い時間に設定することにより、本読み動作時に電荷蓄積
コンデンサ422-(1,1)〜422-(m,n)から読み出され
る電荷量よりも少ない電荷を読み出す。この先読み動作
によって読み出す電荷量は、本読み動作時に読み出す電
荷量の20パーセント以下であることが、本読み画像デ
ータのS/N比向上の点から好ましい。
【0060】一般に、電荷蓄積コンデンサに蓄えられた
電荷の単位時間当たりの読出量は、読出開始直後が最も
大きく、時間の経過に従って徐々に減少する。従って、
先読み動作時の電荷読出時間を例えば本読み動作時の電
荷読出時間の数パーセント〜10パーセント程度の時間
とすることにより、先読み動作に読み出す電荷量を、本
読み動作時のそれの20パーセント以下に抑えることが
できる。
【0061】ステップST2では、先読み動作によって
得られた画像データ(以下「先読み画像データ」とい
う)の最大値と最小値が求められて、求められた最大値
と最小値に基づき、本読み動作で得られる画像データ
(以下「本読み画像データ」という)が所定の深さ方向
分解能を有するように、電荷検出部433-1〜433-n
のゲインの設定や信号選択回路46での画像データのレ
ベル変換の設定が行われる。例えば、先読み画像データ
の最大値が「Smax」で最小値が「Smin」であるとき、
電荷検出部433-1〜433-nのゲインを変えることな
く、また信号選択回路46でのレベル変換等を行うこと
なく本読み動作を行った場合に、本読み画像データの最
大値が「Mmax」で最小値が「Mmin」となるものとす
る。ここで、本読み画像データは「Ma」〜「Md」(M
a>Mmax>Mmin>Md)の分解能を有するものとする場
合、本読み画像データの最大値が「Mmax」=「Ma」、
最小値が「Mmin」=「Md」となるように電荷検出部4
33-1〜433-nのゲインの設定や信号選択回路46で
の画像データのレベル変換の設定が行われる。なお、最
大値「Mmax」が「Ma」よりも大きくなる場合等におい
ても、最大値「Mmax」=「Ma」となるように電荷検出
部433-1〜433-nのゲインの設定や信号選択回路4
6での画像データのレベル変換の設定が行われる。
【0062】ステップST2で電荷検出部433-1〜4
33-nのゲインの設定や信号選択回路46での画像デー
タのレベル変換の設定が行われると、ステップST3に
進み本読み動作が行われる。
【0063】ステップST3では、先読み動作後に電荷
蓄積コンデンサ422-(1,1)〜422-(m,n)に蓄えられ
ている電荷が読みだされて本読み画像データが生成され
てステップST4に進む。
【0064】ステップST4では、本読み画像データを
用いて画像処理条件の設定が行われる。この画像処理条
件の設定では、患者の体型や照射線量に係らず常に安定
して診断に適した濃度およびコントラストで画像を表示
するための階調処理の条件の設定が行われる。また、画
像処理条件の設定では、画像の鮮鋭度をコントロールす
るための周波数処理、画像全体を細かい構造のコントラ
ストを低下させることなく見やすい濃度範囲に収めるた
めのダイナミックレンジ圧縮処理等を行うための条件の
設定を行うものとしてもよい。
【0065】階調処理では、原画像データSorgに基づ
いて決定された基準値S1,S2が、図6に示すように、
階調処理後の画像データSoutとしての出力値S1’,S
2’と対応するように階調変換曲線が決定される。この
出力値S1’,S2’は、出力画像における所定の輝度ま
たは写真濃度D1,D2と対応するものである。
【0066】階調変換曲線は、原画像データSorgの全
信号領域にわたって連続な関数であることが好ましく、
またその微分関数も連続であることが好ましい。また、
全信号領域にわたって、その微分係数の符号が一定であ
ることが好ましい。
【0067】基準値の決定は、本読み画像データの最小
値および最大値をそれぞれ基準値S1,S2としたり、本
読み画像データの累積ヒストグラムが、例えば5%とな
る値と95%となる値をそれぞれ基準値S1,S2とする
ことで決定される。また、特開昭63−262141号
で示されているように、判別基準法などを用いた自動し
きい値選別法により、本読み画像データのヒストグラム
を複数の小領域に分割し、所望の画像部分に対応する領
域の統計量から基準値S1,S2を決定したり、本読み画
像データのヒストグラムを生成し、特開昭61−287
380号および特開平2−272529号に示されてい
る方法を用いて、最もレベルの高い側のピークを除去し
てから上述の方法を用いることにより基準値S1,S2を
決定することもできる。さらに、特開平3−21857
8号に示されているように、被写体の所望の部分に対応
する画像領域を設定し、領域内の本読み画像データのヒ
ストグラムから基準値S1,S2を決定するものとしても
よい。
【0068】階調変換曲線は、画像毎にその都度作成し
てもよく、特開昭59−83149号に示されているよ
うに、予め数種の基準曲線を作成し、いずれかの基準曲
線を選択し、基準曲線の1点を中心として回転あるいは
平行移動することにより階調変換曲線を得るものとして
もよい。
【0069】また、2つの基準値S1,S2を基準として
階調変換曲線を決定するだけでなく、1つの基準値や3
つ以上の基準値を基準として階調変換曲線を決定しても
よい。
【0070】さらに、基準曲線の選択や基準曲線の回転
あるいは平行移動は、放射線の線質や線量等の照射条件
やどの部分をどのような方向から撮影したかを示す部位
***条件および単純撮影か造影撮影であるか等の撮影方
法に関する情報に基づいて行うものとしてもよい。な
お、必要とされる条件や撮影方法が入力装置24を用い
て識別情報として入力されている場合には、これらの情
報を用いるものとすれば階調変換曲線の決定を容易とす
ることができる。
【0071】さらに、基準曲線の選択や基準曲線の回転
あるいは平行移動は、画像表示装置の種類や画像出力の
ための外部機器の種類に関する情報に基づいて行うもの
としてもよい。これは、画像の出力方式に依存して、好
ましい階調が異なる場合があるためである。
【0072】階調変換曲線のデータは、原画像データS
orgと階調処理画像データSoutとの対応を表すルックア
ップテーブルとして記憶しておくのが実用的である。
【0073】周波数処理では、例えば式(1)に示す非
鮮鋭マスク処理によって鮮鋭度を制御するために、関数
Fが特公昭62−62373号や特公昭62−6237
6号で示される方法によって定められる。
【0074】 Soua=Sorg+F(Sorg−Sus) ・・・(1) なお、Souaは処理後の画像データ、Sorgは原画像デー
タ、Susは原画像データを平均化処理等によって求めら
れた非鮮鋭データである。
【0075】この周波数処理では、例えばF(Sorg−
Sus)がβ×(Sorg−Sus)とされて、β(強調係
数)が図7に示すように基準値S1,S2間でほぼ線形に
変化される。また図8の実線で示すように、低輝度を強
調する場合には基準値S1〜値「A」までのβが最大と
されて、値「B」〜基準値S2まで最小とされる。また
値「A」〜値「B」までは、βがほぼ線形に変化され
る。高輝度を強調する場合には破線で示すように、基準
値S1〜値「A」までのβが最小とされて、値「B」〜
基準値S2まで最大とされる。また値「A」〜値「B」
までは、βがほぼ線形に変化される。なお、図示せずも
中輝度を強調する場合には値「A」〜値「B」のβが最
大とされる。このように周波数処理では、関数Fによっ
て任意の輝度部分の鮮鋭度を制御することができる。
【0076】ここで、基準値S1,S2および値A,B
は、前述した階調処理条件の設定における基準値S1,
S2の決定方法と同様の方法により、本読み画像データ
から求められる。また、周波数処理の方法は、上記非鮮
鋭マスク処理に限られるものではなく、特開平9−44
645号で示される多重解像度法などの手法を用いても
よい。
【0077】ダイナミックレンジ圧縮処理では、式
(2)に示す圧縮処理によって見やすい濃度範囲に収め
る制御を行うため、関数Gが特許公報266318号で
示される方法によって定められる。
【0078】 Stb=Sorg+G(Sus) ・・・(2) なお、Stbは処理後の画像データ、Sorgは原画像デー
タ、Susは原画像データを平均化処理等によって求めら
れた非鮮鋭データである。
【0079】ここで、G(Sus)が図9Aに示すよう
に、非鮮鋭データSusがレベル「La」よりも小さくな
るとG(Sus)が増加するような特性を有する場合に
は、低濃度領域の濃度が高いものとされて、図9Bに示
す原画像データSorgは図9Cに示すように低濃度側の
ダイナミックレンジが圧縮された画像データStbとされ
る。また、G(Sus)が図9Dに示すように、非鮮鋭デ
ータSusがレベル「Lb」よりも小さくなるとG(Su
s)が減少するような特性を有する場合には、高濃度領
域の濃度が高いものとされて、図9Bに示す原画像デー
タSorgは図9Eに示すように高濃度側のダイナミック
レンジが圧縮される。
【0080】ここで、値La,Lbは前述の階調処理条
件の設定における基準値S1,S2の決定方法と同様の方
法により、本読み画像データから求められる。
【0081】周波数処理およびダイナミックレンジ圧縮
処理における関数F(Sorg−Sus)およびG(Sus)
の形状や、非鮮鋭データSusの非鮮鋭化の程度を定める
非鮮鋭マスクサイズは、放射線の照射条件や部位***条
件および撮影方法に関する情報に基づいて行うものとし
てもよい。
【0082】ステップST4において、以上のように階
調処理、周波数処理およびダイナミックレンジ圧縮処理
などの画像処理条件を定める際には、本読み画像データ
そのものを用いるかわりに、本読み画像データに対して
間引き縮小処理を行った間引きデータに対して実行させ
て、演算時間の短縮を図ることが好ましい。
【0083】このように、階調処理で用いられる階調変
換曲線や周波数処理での関数F(Sorg−Sus)および
ダイナミックレンジ圧縮処理での関数G(Sus)が、本
読み画像データの解析結果に基づいて定められるとステ
ップST5に進む。
【0084】ステップST5では、ステップST4で定
められた階調変換曲線や関数F(Sorg−Sus),関数
G(Sus)を用いて階調処理や周波数処理およびダイナ
ミックレンジ圧縮処理が行われてステップST6に進
み、ステップST6では画像処理が行われた画像データ
が出力される。
【0085】このように、第1の画像データである先読
み画像データを用いて第2の画像データである本読み画
像データの生成条件が設定されると共に、本読み画像デ
ータを用いて画像処理が行われるので、画像処理が行わ
れて得られた第3の画像データに基づいて放射線画像を
表示、あるいは外部機器を用いてハードコピー出力する
ことにより、撮影条件の変動による影響を受けることな
く視覚的に見やすい放射線画像を得ることができる。
【0086】次に、放射線画像生成処理の他の方法につ
いて図10のフローチャートを用いて説明する。ステッ
プST11では、ステップST1と同様にして先読み動
作が行われてステップST12に進む。
【0087】ステップST12では、ステップST2と
同様にして先読み画像データに基づき、本読み動作で得
られる画像データが所定の深さ方向分解能を有するよう
に、電荷検出部433-1〜433-nのゲインの設定や信
号選択回路46での画像データのレベル変換の設定が行
われる。さらに、先読み画像データを用いてステップS
T4と同様に、階調処理で用いられる階調変換曲線や周
波数処理での関数F(Sorg−Sus)およびダイナミッ
クレンジ圧縮処理での関数G(Sus)が定められる。
【0088】ステップST13では、ステップST3と
同様に電荷蓄積コンデンサ422-(1,1)〜422-(m,n)
に蓄えられている電荷が読みだされて本読み画像データ
が生成されてステップST14に進む。
【0089】ステップST14では、ステップST12
で定められた階調変換曲線や関数F(Sorg−Sus),
関数G(Sus)を用いることにより、ステップST13
で得られた本読み画像データの階調処理や周波数処理お
よびダイナミックレンジ圧縮処理が行われて、ステップ
ST15で画像処理が行われた画像データが出力され
る。
【0090】この場合には、撮影条件の変動による影響
を受けることなく視覚的に見やすい放射線画像を得るこ
とができると共に、先読み画像データを用いて本読み画
像データの画像処理条件も設定されることから、本読み
画像データを用いて本読み画像データの画像処理条件を
設定する場合よりも放射線画像生成処理を高速に行うこ
とができる。
【0091】ところで、放射線画像生成処理に際して
は、例えば診断に必要とされない部分に放射線が照射さ
れないようにするため、あるいは診断に必要とされない
部分に放射線が照射されて、この部分で散乱された放射
線が診断に必要とされる部分に入射されて分解能が低下
することを防止するため、被写体5の一部や放射線発生
器30に鉛板等の放射線非透過物質を設置して、被写体
5に対する放射線の照射野を制限する照射野絞りが行わ
れる。
【0092】このように照射野絞りが行われた場合、照
射野内領域と照射野外領域の画像データを用いて、種々
の条件を設定して画像処理を行うものとすると、照射野
外領域の画像データによって、照射野内の診断に必要と
される部分の画像処理が適正に行われなくなってしま
う。このため、照射野認識を行うものとし、認識された
照射野内領域の画像データを用いて種々の条件を設定す
ることにより、診断に必要とされる部分の画像処理を適
正に行うことができる。
【0093】図11は、照射野絞りが行われたときの放
射線画像生成処理を示すフローチャートである。図11
において、ステップST21では、上述のステップST
1と同様にして先読み動作が行われる。
【0094】ステップST22では、先読み画像データ
に基づいて照射野認識が行われる。この照射野認識で
は、例えば特開昭63−259538号で示される方法
が用いられて、図12Aに示すように撮像面上の所定の
位置Pから撮像面の端部側に向かう線分上の画像データ
を用いて例えば微分処理が行われる。この微分処理によ
って得られた微分信号Sdは、図12Bに示すように照
射野エッジ部で信号レベルが大きくなるため、微分信号
Sdの信号レベルを判別して1つの照射野エッジ候補点
EP1が求められる。この照射野エッジ候補点を求める
処理を、撮像面上の所定の位置を中心として放射状に行
うことにより複数の照射野エッジ候補点EP1〜EPkが
求められる。このようにして得られた複数の照射野エッ
ジ候補点EP1〜EPkの隣接するエッジ候補点を直線あ
るいは曲線で結ぶことにより照射野エッジ部が求められ
る。
【0095】また、特開平5−7579号で示される方
法を用いることもできる。この方法では、撮像面を複数
の小領域に分割したとき、照射野絞りによって放射線の
照射が遮られた照射野外の小領域では、略一様に放射線
の放射線量が小さくなり画像データの分散値が小さくな
る。また、照射野内の小領域では、被写体によって放射
線量が変調されることから照射野外に比べて分散値が高
くなる。さらに、照射野エッジ部を含む小領域では最も
放射線量が小さい部分と被写体によって変調された放射
線量の部分が混在することから分散値は最も高くなる。
このことから、分散値によって照射野エッジ部を含む小
領域が判別される。
【0096】また、特開平7−181609号で示され
る方法を用いることもできる。この方法では、画像デー
タを所定の回転中心に関して回転移動させて、平行状態
検出手段によって照射野の境界線が画像上に設定された
直交座標の座標軸と平行となるまで回転を行うものと
し、平行状態が検出されると、直線方程式算出手段によ
って回転角度と回転中心から境界線までの距離によって
回転前の境界の直線方程式が算出される。その後、複数
の境界線に囲まれる領域を直線方程式から決定すること
で、照射野の領域を判別することができる。また照射野
エッジ部が曲線である場合には、境界点抽出手段で画像
データに基づき例えば1つの境界点を抽出し、この境界
点の周辺の境界候補点群から次の境界点を抽出する。以
下同様に、境界点の周辺の境界候補点群から境界点を順
次抽出することにより、照射野エッジ部が曲線であって
も判別することができる。
【0097】ステップST22において、以上のように
照射野認識を行う際には、先読み画像データそのものを
用いるかわりに、先読み画像データに対して間引き縮小
処理を行った間引き画像データに対して実行させて、演
算時間の短縮を図ることが好ましい。
【0098】次に、検出された照射野エッジ部に基づい
て、本読み動作時の読取領域を設定する。本読み動作時
の読取領域は、照射野エッジで囲まれる図形と合同な領
域としてもよいが、画像データの取り扱いを効率的にす
るために、照射野エッジで囲まれる図形に外接しかつ各
辺が撮像面の辺縁に平行な矩形領域とすることが好まし
い。また、予め設定した数種の異なるサイズの矩形領域
の中から、照射野エッジで囲まれる図形を含む最小の矩
形領域を選択するようにしてもよい。
【0099】このようにして照射野エッジ部が検出され
て、本読み動作時の読取領域が照射野内領域となるよう
に設定が行われると、次のステップST23では、照射
野内の先読み画像データを用いて、ステップST2と同
様にして本読み画像データが所定の深さ方向分解能を有
するように、電荷検出部433でのゲインの設定や信号
選択回路46でのレベル変換の設定が行われる。
【0100】ステップST24では、ステップST22
で設定された読取領域に対して本読み動作が行われてス
テップST25に進む。
【0101】ステップST25では、ステップST4と
同様にして、照射野内の本読み画像データを用いて、階
調処理で用いられる階調変換曲線や周波数処理での関数
F(Sorg−Sus)およびダイナミックレンジ圧縮処理
での関数G(Sus)が定められてステップST26に進
む。
【0102】ステップST26では、ステップST25
で定められた階調変換曲線や関数F(Sorg−Sus)、
関数G(Sus)を用いて階調処理や周波数処理およびダ
イナミックレンジ圧縮処理が行われて、ステップST2
7で画像処理が行われた画像データが出力される。
【0103】このため、照射野認識が行われて、照射野
内の先読み画像データを用いて本読み画像データの生成
条件が設定されると共に、照射野内の本読み画像データ
を用いて画像処理条件が設定されて画像処理が行われる
ので、照射野絞りが行われた場合であっても撮影条件の
変動による影響を受けることなく視覚的に見やすい放射
線画像を得ることができる。
【0104】図13は、照射野認識を行って放射線画像
生成処理を行う場合の他の動作を示すフローチャートで
ある。図13において、ステップST31では、上述の
ステップST1と同様にして先読み動作が行われる。
【0105】ステップST32では、ステップST22
と同様にして、先読み動作で得られた画像データに基づ
いて照射野認識が行われる。この照射野認識で照射野エ
ッジ部が検出されると、ステップST33では、照射野
内の先読み画像データを用いて、ステップST2と同様
にして本読み画像データが所定の深さ方向分解能を有す
るように、電荷検出部433でのゲインの設定や信号選
択回路46でのレベル変換の設定が行われる。さらに、
照射野内の先読み画像データを用いて、ステップST4
と同様にして、階調処理で用いられる階調変換曲線や周
波数処理での関数F(Sorg−Sus)およびダイナミッ
クレンジ圧縮処理での関数G(Sus)が定められてステ
ップST34に進む。
【0106】ステップST34では、ステップST32
で設定された読取領域に対して本読み動作が行われてス
テップST35に進む。
【0107】ステップST35では、ステップST33
で定められた階調変換曲線や関数F(Sorg−Sus)、
関数G(Sus)を用いて階調処理や周波数処理およびダ
イナミックレンジ圧縮処理が行われて、ステップST3
6で画像処理が行われた画像データが出力される。
【0108】この場合には、照射野内に対して撮影条件
の変動による影響を受けることなく視覚的に見やすい放
射線画像を得ることができると共に、照射野内の先読み
画像データを用いて本読み画像データの画像処理条件も
設定されることから、照射野内の本読み画像データを用
いて照射野内の本読み画像データの画像処理条件を設定
する場合よりも、放射線画像生成処理を高速に行うこと
ができる。
【0109】なお、上述の実施の形態では、第1の画像
データから判別される読取領域を照射野内領域として説
明したが、読取領域は照射野内領域に限られるものでは
なく、例えば所望の部位の位置を判別して読取領域とす
ることもできる。
【0110】
【発明の効果】この発明によれば、照射された放射線の
強度に応じて蓄積された電荷の一部が読み出されて第1
の画像データが生成されると共に、この第1の画像デー
タに基づいて画像データ生成条件が設定されて、再度電
荷の読み出しが行われて第2の画像データが生成され
る。この第1あるいは第2の画像データのいずれかに基
づいて階調処理等を行うための条件が設定されて、この
条件に基づいて第2の画像データが画像処理されて第3
の画像データとされて、第3の画像データに基づいて放
射線画像が生成される。このため、撮影条件の変動によ
る影響を受けることなく視覚的に見やすい放射線画像を
得ることができる。
【0111】また、第1の画像データから読取領域、例
えば照射野内領域が判別されて、この判別された照射野
内の第1の画像データから画像データ生成条件の設定
や、判別された照射野内の、第1の画像データあるいは
第2の画像データのいずれかに基づいて画像処理条件の
設定が行われるので、照射野絞りが行われた場合であっ
ても撮影条件の変動による影響を受けることなく視覚的
に見やすい放射線画像を得ることができる。
【0112】また、画像処理条件の設定は第1の画像デ
ータに基づいても行われるので、第2の画像データに基
づいて画像処理条件の設定を行う場合よりも速やかに放
射線画像生成することができる。
【0113】さらに、画像処理条件の設定では少なくと
も階調処理の条件が設定されるので、常に安定して良好
な濃度およびコントラストの放射線画像を得ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】放射線画像撮像装置の構成を示す図である。
【図2】撮像パネルの構成を示す図である。
【図3】撮像パネルの一部断面図である。
【図4】放射線画像読取装置とコントロール部の構成を
示す図である。
【図5】放射線画像生成処理を示すフローチャートであ
る。
【図6】階調変換特性を示す図である。
【図7】強調係数と原画像データの関係を示す図であ
る。
【図8】強調係数と原画像データの関係を示す図であ
る。
【図9】ダイナミックレンジ圧縮処理を説明するための
図である。
【図10】放射線画像生成処理の他の方法を示すフロー
チャートである。
【図11】照射野絞りが行われたときの放射線画像生成
処理を示すフローチャートである。
【図12】照射野認識処理を説明するための図である。
【図13】照射野絞りが行われたときの放射線画像生成
処理の他の方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
10 コントロール部 11 CPU 21 フレームメモリ 30 放射線発生器 40 放射線画像読取装置 41 撮像パネル 44 走査駆動回路 46 信号選択回路 48 読取制御回路

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照射された放射線の強度に応じて蓄積さ
    れた電荷の一部を読み出して第1の画像データを生成
    し、 上記第1の画像データから画像データ生成条件を設定
    し、 上記蓄積された電荷の読み出しを再度行い、上記設定さ
    れた画像データ生成条件で読み出された電荷に基づき第
    2の画像データを生成し、 上記第1の画像データあるいは上記第2の画像データの
    いずれかに基づいて画像処理条件を設定し、 上記設定された画像処理条件で上記第2の画像データを
    処理して第3の画像データとし、 上記第3の画像データに基づいて放射線画像を生成する
    ことを特徴とする放射線画像生成方法。
  2. 【請求項2】 上記第1の画像データ生成時に読み出す
    電荷量が、上記第2の画像データ生成時に読み出す電荷
    量の20パーセント以下であることを特徴とする請求項
    1記載の放射線画像生成方法。
  3. 【請求項3】 上記第1の画像データに基づき読取領域
    を判別し、 上記判別された読取領域に対して、上記蓄積された電荷
    の読み出しを再度行うことを特徴とする請求項1あるい
    は請求項2記載の放射線画像生成方法。
  4. 【請求項4】 上記読取領域内の上記第1の画像データ
    から画像データ生成条件を設定することを特徴とする請
    求項3記載の放射線画像生成方法。
  5. 【請求項5】 上記読取領域内の、上記第1の画像デー
    タあるいは上記第2の画像データのいずれかに基づいて
    画像処理条件を設定することを特徴とする請求項3ある
    いは請求項4記載の放射線画像生成方法。
  6. 【請求項6】 上記読取領域内の上記第2の画像データ
    を処理して上記第3の画像データとすることを特徴とす
    る請求項3から請求項5のいずれかに記載の放射線画像
    生成方法。
  7. 【請求項7】 上記読取領域は放射線の照射野内領域に
    対応することを特徴とする請求項3から請求項6のいず
    れかに記載の放射線画像生成方法。
  8. 【請求項8】 上記画像処理条件は、少なくとも階調処
    理を行うための条件を有することを特徴とする請求項1
    あるいは請求項5に記載の放射線画像生成方法。
  9. 【請求項9】 照射された放射線の強度に応じた電荷を
    生成し、生成された電荷を2次元状に配列された多数の
    電荷蓄積コンデンサで蓄積し、蓄積された電荷量に基づ
    き画像データを生成して読み取る撮像パネルと、 上記撮像パネルを制御する制御手段と、 上記撮像パネルから読み取られた画像データに基づいて
    画像処理条件を設定する画像処理条件設定手段と、 上記設定された画像処理条件に基づいて上記撮像パネル
    から読み取られた画像データを処理する画像処理手段と
    を有する放射線画像撮像装置であって、 上記制御手段は、上記撮像パネルを制御して、上記蓄積
    された電荷量の一部を読み出して、第1の画像データを
    生成した後に、上記第1の画像データに基づいて設定し
    た画像データ生成条件で電荷を読み出して第2の画像デ
    ータを生成し、 上記画像処理条件設定手段は、上記第1の画像データあ
    るいは第2の画像データのいずれかに基づいて画像処理
    条件を設定し、 上記画像処理手段は、上記設定された画像処理条件で上
    記第2の画像データを処理することを特徴とする放射線
    画像撮像装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004049887A (ja) * 2002-05-28 2004-02-19 Canon Inc X線撮影装置およびx線撮影方法、並びに光電変換素子
JP2007215760A (ja) * 2006-02-16 2007-08-30 Canon Inc 画像処理装置及びその制御方法、プログラム
WO2013065515A1 (ja) * 2011-11-01 2013-05-10 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影システム及び放射線撮影方法

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