JPH11242827A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

光ピックアップ装置

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JPH11242827A
JPH11242827A JP10045036A JP4503698A JPH11242827A JP H11242827 A JPH11242827 A JP H11242827A JP 10045036 A JP10045036 A JP 10045036A JP 4503698 A JP4503698 A JP 4503698A JP H11242827 A JPH11242827 A JP H11242827A
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JP
Japan
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light
medium
pickup device
optical pickup
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Application number
JP10045036A
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English (en)
Inventor
Hitoshi Takeuchi
仁志 竹内
Junsaku Nakajima
淳策 中嶋
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 案内溝が施された基板を有する光ディスクに
書き込まれた情報を再生する際に、溝のエッジ領域のノ
イズが再生信号にもれ込まないようにすることによっ
て、トラック密度を大きくしても信頼性の高い光ピック
アップ装置を提供する。 【解決手段】 ディスクからの反射光のうち、溝エッジ
領域73の情報を多く含んだ部位が再生用ディテクター
11に入射しないように遮光する。もしくは回折素子を
用いることで、反射光のうちエッジ領域の情報を多く含
んだ部位からラジアルサーボ信号を生成し、エッジ領域
の情報をあまり含まない部位から再生信号とフォーカス
エラー信号を生成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報記録媒体に対
する情報信号の書き込み及び/または読み出しを行う光
ピックアップ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年では、コンピュータの記録装置や音
楽、画像情報等のパッケージメディアとしての光ディス
クの高密度化が進んでいる。書き換え可能な光ディスク
には、通常グルーブと呼ばれる案内溝が形成されトラッ
クを構成している。媒体の記録層上に集光されたビーム
スポットはトラックに沿って走行し、記録及び再生が行
われる。グルーブ領域を記録再生トラックとして用いて
もよいし、逆に非グルーブ(ランド)領域を記録再生ト
ラックとして用いてもよい。また、ランド・グルーブ双
方をトラックとして使用することも可能である。光ディ
スクを高密度化するための手段の1つは、トラック密度
を向上させることであり、トラック間隔を狭めることが
重要な開発課題になっている。
【0003】ところで案内溝のエッジ領域(ランドから
グルーブ、もしくはグルーブからランドへの遷移領域)
は、全く存在しないことが理想であるが、現実に作製さ
れたディスクでは、ランド・グルーブ間にいくらかの遷
移領域が存在する。トラック間隔を狭めてゆくことは、
ランド領域やグルーブ領域に比較して、エッジ領域が相
対的に大きくなることを意味し、エッジ領域の揺らぎが
再生信号に与える影響を無視できなくなってくる。具体
的にはエッジ領域に生じたわずかな突起や窪みが、ノイ
ズとして再生信号に混入するため、再生信号ジッターを
劣化させ、光ディスクシステムの信頼性を低下させると
いう問題が生じる。
【0004】図7に、従来から用いられている光ピック
アップ装置の1例を示す。半導体レーザー1から出射さ
れた光2は、コリメーターレンズ3で平行光となり第1
偏光ビームスプリッター(PBS)4に入射する。入射
光はS波(偏光方向が紙面に垂直)のみから構成される
直線偏光であるため、第1PBS4を透過し1/4波長
板5に入る。1/4波長板5を通過した光は円偏光にな
り、対物レンズ6で集光され、媒体7の記録層上にビー
ムスポットを形成する。
【0005】戻り光は対物レンズ6を通ったのち、1/
4波長板5でP波(偏光方向が紙面に平行)のみからな
る直線偏光になり、第1PBS4に入る。P波は第1P
BS4により反射され、1/2波長板8により偏光面が
回転させられ、P成分とS成分を持った直線偏光となっ
て、第2ビームスプリッタ(PBS)9に入る。第2P
BS9に入射した光のうちP成分は反射して集光レンズ
10により、再生用ディテクター11に集光される。ま
た、S成分は第2PBS9を透過し集光レンズ12によ
りサーボ用ディテクター13に集光される。
【0006】図8は媒体記録層上にビームスポットが形
成されているときの断面図と平面図である。媒体7の基
板にはランド71とグルーブ72が形成されており、ラ
ンド71にビームスポット80があるときの様子を示し
ている。ランド71とグルーブ72の間の領域73が案
内溝のエッジ領域である。平面図に示したように、この
エッジ領域73はビームスポット80内部に位置し、エ
ッジ領域73の情報は反射光に含まれることとなる。
【0007】
【課題を解決するための手段】さて、このエッジ領域7
3は全く無いことが理想的であるが、現実には、この領
域を完全に無くすことは困難である。そして、この領域
が存在することが光ディスクの高密度化において大きな
課題となってくる。これを以下に説明する。
【0008】光ディスクを高密度化する手段の1つは、
トラック密度を向上させることである。図9(a)、
(b)に低密度のトラックおよび高密度のトラック上に
ビームスポット80が形成されているときの模式図を示
す。斜線部はエッジ領域73を表している。高密度の際
にはビームスポットも小さくする必要があるので、図9
(b)に図示のように、ビームスポット80は 図9
(a)のビームスポット80よりも小さくなっている。
スポット径は例えば、トラック幅の1.5倍になってい
る。エッジ領域73の幅は媒体7の基板にグルーブ72
を施す際の加工精度で決まるが、通常0.1μm程度の
エッジ領域73ができる。トラック密度を向上させてゆ
くと、ビームスポット80に入ってくるエッジ領域73
が、ランド領域71やグルーブ領域72に比べて相対的
に大きくなる。エッジ領域73が滑らかであるなら、さ
して問題ではないが、エッジ領域73の制御は困難であ
るため、エッジ領域73の比較的荒れた面がビームスポ
ット80中に占める面積が大きくなってしまう。これが
再生RF信号に媒体ノイズとして混入し、データの信頼
性を低下させる。
【0009】また、エッジ領域を限りなく0にした場
合、もしくはエッジ領域を滑らかに作製した際にも、ト
ラック幅の揺らぎの問題が残る。図10(a)、(b)
は低密度のトラックおよび高密度のトラックにビームス
ポット80が形成されているときの模式図を示す。ここ
で、トラック幅の揺らぎ75は強調して示されている。
トラック幅の揺らぎ75の大きさもグルーブ72の加工
精度によって決まるため、トラック幅の揺らぎ75はト
ラック密度を向上させると、やはり相対的に大きくな
る。この揺らぎ75は再生RF信号にノイズとして混入
し、データの信頼性を低下させる。
【0010】本発明は、上述の課題に鑑みてなされたも
のであり、上記案内溝のエッジ領域が再生信号に与える
影響を小さくし、ディスクのトラック密度を向上させて
も信頼性を低下させない光ピックアップ装置を提供する
ことを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、基板上に案内溝を設けることでトラックが形成され
た媒体の記録層上に、ビームスポットが形成され、媒体
からの戻り光が、媒体の情報を伴って受光素子に入射す
ることにより、トラッキング、フォーカシング、及び、
情報の再生が行われる光ピックアップ装置において、媒
体からの戻り光を、再生信号を生成する受光素子、及
び、ラジアルエラー信号とフォーカスエラー信号を生成
する受光素子へと導く光学系を備え、再生信号を生成す
る受光素子へ導く光学系に、案内溝のエッジ領域の情報
を多く含んだ部位を遮光する遮光手段を設けてなること
を特徴とする光ピックアップ装置である。
【0012】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の光ピックアップ装置において、前記遮光手段は液晶シ
ャッターからなることを特徴とする光ピックアップ装置
である。
【0013】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
の光ピックアップ装置において、前記液晶シャッターは
ピクセル制御により遮光位置が光軸に垂直な方向に移動
可能であることを特徴とする光ピックアップ装置であ
る。
【0014】請求項4に記載の発明は、基板上に案内溝
を設けることでトラックが形成された媒体の記録層上
に、ビームスポットが形成され、媒体からの戻り光が、
媒体の情報を伴って受光素子に入射することにより、ト
ラッキング、フォーカシング、及び、情報の再生が行わ
れる光ピックアップ装置において、媒体からの戻り光を
受光素子側に回折させる回折素子を備え、該回折素子
は、戻り光のうち、案内溝のエッジ領域の情報をあまり
含まない部位を、再生信号とフォーカスエラー信号を生
成する受光素子に導き、前記戻り光のうち、案内溝のエ
ッジ領域の情報を多く含んだ部位を、ラジアルエラー信
号を生成する受光素子に導くことを特徴とする光ピック
アップ装置である。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した具体的な
実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【0016】<従来例1>図1に本発明の光ピックアッ
プ装置の1例を示す。図1の光ピックアップ装置は従来
例として説明した図7の光ピックアップ装置に加えて液
晶シャッター14を設けたものであり、再生用ディテク
ター11の手前に液晶シャッター14を配置している。
ディテクター11は再生信号を生成するものであり、液
晶シャッター14はこのディテクター11に入ってくる
光束のうち、案内溝エッジ領域73(前述の図7、8、
9及び説明を参照)の情報が多く含まれた部位を遮光す
るものである。
【0017】従って、記録媒体7において、前述のよう
にエッジ領域73の荒れや、トラック幅の揺らぎがあっ
ても、本実施例では液晶シャッター14により、その情
報が再生用ディテクター11に入射しにくくできる。す
なわち、媒体グルーブのエッジ領域73に起因するノイ
ズが小さくなり、トラック密度を向上させても再生信号
の信頼性が低下することがない。
【0018】また、液晶シャッター14は複数のピクセ
ルから構成された液晶シャッターなので、各々のピクセ
ルを制御することで、ディテクター11に入射する戻り
光の任意の部位を遮光できる。従って、例えば、対物レ
ンズ6がシフトして光軸がずれることにより、案内溝エ
ッジ領域73の情報が多く含まれた部位が移動しても、
それに応じて遮光位置を移動させることが可能である。
また、媒体ごとにエッジ領域73の大きさが異なる場合
には、媒体毎に遮光位置を調整する必要が生じるが、こ
の要求に対しても、最も良好な再生信号が得られるよう
に遮光位置を移動させることで容易に対応できる。
【0019】具体的なピックアップ装置の構成例につい
て、図1を参照しながら説明してゆく。半導体レーザー
1の波長は635nmであり開口数(NA)0.6の対
物レンズ6を用いてピックアップを構成した。媒体7に
は、基板厚みが0.6mmで、ランド・グルーブ共に
0.78μm幅になっている相変化光ディスクを用い
た。ディテクター13は4分割ディテクターであり、プ
ッシュプル法によりラジアルエラー信号を生成し、非点
収差法によりフォーカスエラー信号を生成している。
【0020】測定にはまず、グルーブ72上に最短マー
ク0.4μmで8−16変調によりランダムデータを記
録した。記録は半導体レーザー1からの出射光の強度を
記録するデータに応じて変調することで行った。続いて
書き込んだデータを再生した。 再生する際の液晶シャ
ッター14の遮光パターンとして、図2(a)、
(b)、(c)、(d)に示す4種類を行った。
【0021】図2において、14aは光束の位置、14
bは液晶シャッター14による遮光部の、配置及び位置
を示している。(a)は全く遮光のないもの、(b)は
トラック方向に光束の両側から直線的に遮光したもの
、(c)はトラック方向に光束の両側から回折パター
ンに沿って遮光したもの 、(d)は光束の中央部以外
を遮光したものである。各場合における再生信号のPL
Lジッター値を表1に示す。
【0022】
【表1】
【0023】遮光を全く行わない(a)が従来の光ピッ
クアップ装置に相当する。パターン(b)及び(c)に
よる遮光を行った場合にジッター値がよくなっている。
これは案内溝のエッジ領域73の情報が再生用ディテク
ター11に入射する量が少なくなったためである。逆に
(d)ではジッター値が悪くなる。これは再生用ディテ
クター11に入る光量が少なくなったためと考えられ
る。
【0024】ここで用いた液晶シャッター14は、対角
が7mmで、画素数が、140×110のものである。
各画素を独立に制御して、図2に示したような様々な遮
光パターンを作っている。
【0025】次の例は、この事を利用して光束位置が移
動しても、遮光位置もそれに応じて移動させることによ
り、常に良好な再生信号を得るようにした光ピックアッ
プ装置である。
【0026】まず、液晶シャッター14の遮光パターン
及び遮光位置を最も良好な再生信号が得られるように調
整する。図3において、点線14aで表しているのが液
晶シャッター14に入射している光束を示しており、液
晶シャッター14の中央を光軸が通っている。ここで
は、図3(a)に示すような遮光パターンのときに、最
も良好な再生信号が得られることが判った。 得られた
ジッター値は表2中(a)で示すものである。
【0027】次に、図1における対物レンズ6を700
μmシフトさせることで、図3(b)のように、液晶シ
ャッター14に入射する光束の位置を変えた。このと
き、液晶シャッター14自信は移動しないので、光束1
4aのうち遮光される部位は最適位置ではなくなる。そ
の結果、ジッターは劣化する(表2の(b))。 そこ
で、図3(c)に示すように、光束14aの移動に相当
する分だけ、液晶シャッター14の各画素を動作させる
事により、遮光部14bを移動させて最適位置を遮光し
た。これにより、もとの良好なジッター値を得ることが
できた(表2の(3))。
【0028】光ディスクをトラッキングする際、対物レ
ンズ6のシフトは頻繁に発生するものであり、光束位置
14aは絶えず移動している。本例に用いた光ピックア
ップ装置では、液晶シャッター14の各画素を電気的に
制御する事で遮光位置を容易に変える事ができる。従っ
て、常に良好な再生信号を得ることができ、光ピックア
ップ装置の信頼性が向上する。
【0029】
【表2】
【0030】<実施例2>本発明の第2の実施例につい
て説明する。
【0031】図4に第2の実施例を示す。この図でラジ
アルx方向とは、媒体(ディスク)7の半径方向を表
す。光軸20は紙面に平行で上下方向に沿っている。半
導体レーザー1から出射した光は回折素子21を通って
コリメーターレンズ3、対物レンズ6によって媒体7に
集光される。媒体で反射された戻り光は回折素子21に
よって回折される。回折素子21は、後述するように4
つの領域に分割されており、各領域に入射した光は、デ
ィテクター23、25、27、29に導かれるようにな
っている。
【0032】図5は回折素子21を、光軸を紙面に垂直
にした方向から見たものである。ラジアル方向とは、デ
ィスクの半径方向を表す。回折素子21は23H、25
H、27H、29Hで示された4つの領域に分割されて
おり、各領域に入射した光は、順にディテクター23、
25、27、29に導かれる。回折素子21の領域27
H、29Hに入射する光には、媒体案内溝のエッジ領域
73(図8、9、10参照)の情報が多く含まれてい
る。反対に領域23H、25Hに入射する光に含まれる
エッジ領域73の情報は、相対的に少なくなる。
【0033】図6はディテクター23、25、27、2
9を、光軸を紙面に垂直にした方向から見たものであ
る。そのうち、ディテクター23は23aと23bに分
割されている。各ディテクターから得られる出力を,P
23a、P23b、P25、P27、P29 とする。
図5に図示の回折素子21の領域27H、29Hに入射
した光は、ディテクター27、29に導かれるので、演
算(P27―P29)を行うことでラジアルエラー信号
が得られる。こうして得られるラジアルエラー信号には
エッジ領域の揺らぎが含まれることになるが、ローパス
フィルターを通すことで、周波数の高い揺らぎ成分は除
去され、安定したトラッキングが可能となる。
【0034】回折素子21(図5)の領域23Hに入射
した光は、図6のディテクター23aと23bの境界線
上に集光される。演算(P23a―P23b)を行うこ
とで、いわゆるナイフエッジ法によるフォーカスエラー
信号が得られる。また演算(P23a+P23b+P2
5)を行うことで、媒体7に書かれている情報の再生信
号が得られる。図5の回折素子21における領域23
H、25Hに入射する光には、媒体グルーブのエッジ領
域73の情報は比較的少ないため、フォーカスエラー信
号や再生信号に含まれるエッジ領域73の揺らぎによる
ノイズは少なくなる。
【0035】このようにして、エッジ領域73に起因す
るノイズが少ない再生信号が得られることとなる。さら
に 本実施例の光学系では図4の半導体レーザー1、回
折素子21、及び受光素子23、25、27、29を一
体型のパッケージにすることができるので、光学系の部
品点数を大幅に削減でき、コストダウンを図ることがで
きる。
【0036】
【発明の効果】請求項1に記載の光ピックアップ装置で
は、媒体案内溝のエッジ領域の揺らぎが再生信号に与え
る影響を小さくし、ディスクのトラック密度を向上させ
ても信頼性を低下させることがない。請求項2に記載の
ピックアップ装置では、上記の効果に加えて、構成が簡
単であり、さらに請求項3に記載の光ピックアップ装置
では、光束の通過する位置が変化しても、常に良好な品
質の再生信号を得ることができる。
【0037】請求項4に記載の光ピックアップ装置で
は、媒体案内溝のエッジ領域の揺らぎが再生信号に与え
る影響を小さくし、ディスクのトラック密度を向上させ
ても信頼性を低下させることがなく、また、光ピックア
ップ装置のコストダウンを図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る光ピックアップ装置
を模式的に示す図である。
【図2】図1の液晶シャッターの遮光パターンを表す図
である。
【図3】図1の液晶シャッターの遮光パターンが移動す
る様子を説明するための説明図である。
【図4】本発明の第2実施例に係る光ピックアップ装置
を模式的に示す図である。
【図5】図4の回折素子の詳細を示す図である。
【図6】図4の受光素子の詳細を示す図である。
【図7】従来の光ピックアップ装置を模式的に示す図で
ある。
【図8】ランド、グルーブ間のエッジ領域を説明する図
である。
【図9】トラック密度を向上させた際の案内溝エッジ領
域が再生信号に及ぼす影響を説明するための説明図であ
る。
【図10】トラック密度を向上させた際のトラック幅の
揺らぎが再生信号に及ぼす影響を説明するための説明図
である。
【符号の説明】
1 半導体レーザー 4 第1偏光ビームスプリッター 6 対物レンズ 7 媒体 9 第2偏光ビームスプリッター 10 集光レンズ 11 再生用ディテクター 12 集光レンズ 13 サーボ用ディテクター 14 液晶シャッター 14a 光束 14b 遮光部 21 回折素子 23、25、27、29 受光素子 23H、25H、27H、29H 分割領域 71 ランド 72 グルーブ 73 エッジ領域 80 ビームスポット

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に案内溝を設けることでトラック
    が形成された媒体の記録層上に、ビームスポットが形成
    され、媒体からの戻り光が、媒体の情報を伴って受光素
    子に入射することにより、トラッキング、フォーカシン
    グ、及び、情報の再生が行われる光ピックアップ装置に
    おいて、媒体からの戻り光を、再生信号を生成する受光
    素子、及び、ラジアルエラー信号とフォーカスエラー信
    号を生成する受光素子へと導く光学系を備え、再生信号
    を生成する受光素子へ導く光学系に、案内溝のエッジ領
    域の情報を多く含んだ部位を遮光する遮光手段を設けて
    なることを特徴とする光ピックアップ装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の光ピックアップ装置に
    おいて、前記遮光手段は液晶シャッターからなることを
    特徴とする光ピックアップ装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の光ピックアップ装置に
    おいて、前記液晶シャッターはピクセル制御により遮光
    位置が光軸に垂直な方向に移動可能であることを特徴と
    する光ピックアップ装置。
  4. 【請求項4】 基板上に案内溝を設けることでトラック
    が形成された媒体の記録層上に、ビームスポットが形成
    され、媒体からの戻り光が、媒体の情報を伴って受光素
    子に入射することにより、トラッキング、フォーカシン
    グ、及び、情報の再生が行われる光ピックアップ装置に
    おいて、媒体からの戻り光を受光素子側に回折させる回
    折素子を備え、該回折素子は、戻り光のうち、案内溝の
    エッジ領域の情報をあまり含まない部位を、再生信号と
    フォーカスエラー信号を生成する受光素子に導き、前記
    戻り光のうち、案内溝のエッジ領域の情報を多く含んだ
    部位を、ラジアルエラー信号を生成する受光素子に導く
    ことを特徴とする光ピックアップ装置。
JP10045036A 1998-02-26 1998-02-26 光ピックアップ装置 Pending JPH11242827A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8913474B2 (en) 2013-04-05 2014-12-16 Hitachi Consumer Electronics Co., Ltd. Optical information recording/reproducing apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8913474B2 (en) 2013-04-05 2014-12-16 Hitachi Consumer Electronics Co., Ltd. Optical information recording/reproducing apparatus

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