JPH11183445A - 探傷装置 - Google Patents
探傷装置Info
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- JPH11183445A JPH11183445A JP9350534A JP35053497A JPH11183445A JP H11183445 A JPH11183445 A JP H11183445A JP 9350534 A JP9350534 A JP 9350534A JP 35053497 A JP35053497 A JP 35053497A JP H11183445 A JPH11183445 A JP H11183445A
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- Japan
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- wedge
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥面が装置移動方向と平行でない欠陥も検
出できる探傷装置を提供する。 【解決手段】 クサビ2は、傾斜面22を有し、一端部
23には貫通穴24、他端部25には円弧状の歯面26
が、形成されている。探触子4は、傾斜面22に固着さ
れる。倣い治具3は、配管1の外表面13の曲率rとほ
ぼ同様の曲面部32及び、載置面34を有している。載
置面34は、クサビ2が載置され、また、取付穴35が
形成されている。クサビ2は、固定ねじ5で倣い治具3
に取り付けられ、貫通孔24を中心に旋回動自在であ
る。クサビ2の他端部25側の載置面34には、歯面2
6とかみ合う歯車61が、支持台62を介して取り付い
ている。歯車61はつまみ63と同軸に取り付いてい
る。歯車61には目盛り板65が設けられ、目盛り板6
5と基準点66とにより、首振り角cを測定できる。
出できる探傷装置を提供する。 【解決手段】 クサビ2は、傾斜面22を有し、一端部
23には貫通穴24、他端部25には円弧状の歯面26
が、形成されている。探触子4は、傾斜面22に固着さ
れる。倣い治具3は、配管1の外表面13の曲率rとほ
ぼ同様の曲面部32及び、載置面34を有している。載
置面34は、クサビ2が載置され、また、取付穴35が
形成されている。クサビ2は、固定ねじ5で倣い治具3
に取り付けられ、貫通孔24を中心に旋回動自在であ
る。クサビ2の他端部25側の載置面34には、歯面2
6とかみ合う歯車61が、支持台62を介して取り付い
ている。歯車61はつまみ63と同軸に取り付いてい
る。歯車61には目盛り板65が設けられ、目盛り板6
5と基準点66とにより、首振り角cを測定できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属材料又は配管
等の内部にある欠陥を検出する探傷装置に関するもので
ある。
等の内部にある欠陥を検出する探傷装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】原子力発電所や火力発電所、あるいは各
種プラントの配管などは、管内に高温流体が流れるもの
であり、かつ起動と停止が頻繁に行われるため、その熱
伸び差(熱膨張の差)による熱応力の繰り返しにより、
配管内部に欠陥が生じて、配管が破損する場合がある。
このような欠陥は、事故に結びつく可能性が高いので、
早期に発見して対処することにより、事故の未然防止を
図る必要がある。この診断方法の一例としては、超音波
斜角探傷法がある。
種プラントの配管などは、管内に高温流体が流れるもの
であり、かつ起動と停止が頻繁に行われるため、その熱
伸び差(熱膨張の差)による熱応力の繰り返しにより、
配管内部に欠陥が生じて、配管が破損する場合がある。
このような欠陥は、事故に結びつく可能性が高いので、
早期に発見して対処することにより、事故の未然防止を
図る必要がある。この診断方法の一例としては、超音波
斜角探傷法がある。
【0003】配管内部を超音波で斜角探傷する従来の装
置を、図6〜図7に示す。図6(a)は、部分的に表し
た正面図、(b)はその斜視図である。クサビ又はシュ
ー(以下、クサビ120という。)は、配管110の外
表面113とほぼ同じ曲率rの曲面部132を有し、ま
た、傾斜面122を有する。探触子140は、超音波ビ
ーム181を送信するとともに、その反射エコー184
を受信するためのものであり、クサビ120の傾斜面1
22に固定して取付けられる。斜角探傷する際には、ク
サビ120を配管110の外表面113に当接し、そし
て、配管110の円周方向Bに沿ってクサビ120を摺
動しながら、配管110の外表面113から内管面11
2に、斜角で超音波ビーム181を入射し、欠陥111
からの反射エコー184を検出する。
置を、図6〜図7に示す。図6(a)は、部分的に表し
た正面図、(b)はその斜視図である。クサビ又はシュ
ー(以下、クサビ120という。)は、配管110の外
表面113とほぼ同じ曲率rの曲面部132を有し、ま
た、傾斜面122を有する。探触子140は、超音波ビ
ーム181を送信するとともに、その反射エコー184
を受信するためのものであり、クサビ120の傾斜面1
22に固定して取付けられる。斜角探傷する際には、ク
サビ120を配管110の外表面113に当接し、そし
て、配管110の円周方向Bに沿ってクサビ120を摺
動しながら、配管110の外表面113から内管面11
2に、斜角で超音波ビーム181を入射し、欠陥111
からの反射エコー184を検出する。
【0004】別の従来の装置を図7に示す。図7(a)
は正面図、(b)は側面図、(c)はクサビ120’の
正面図、(d)はクサビ120’の側面図である。クサ
ビ120’は、管軸方向Aに摺動するものであり、配管
110内の欠陥111からの反射エコー184を検出す
る。
は正面図、(b)は側面図、(c)はクサビ120’の
正面図、(d)はクサビ120’の側面図である。クサ
ビ120’は、管軸方向Aに摺動するものであり、配管
110内の欠陥111からの反射エコー184を検出す
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】反射エコー184は、
超音波ビーム181が欠陥111で反射したもの(欠陥
エコー)であり、欠陥面114に対して直角方向の場合
に最大となる。しかしながら、配管110の外表面11
3とクサビ120、120’の曲面部132、132’
とは平面ではなく、曲面で当接していることから、例え
ば欠陥面114が配管110の管軸方向Aと平行でない
場合には、超音波ビーム181を欠陥面114に対して
直角に入射させることはできず、反射エコー184が小
さくなってしまい、欠陥111の探傷が困難であった。
また、例えば内管面112のわずかな凹凸等(図示省
略)、欠陥111以外で反射した反射エコー184(妨
害エコー)も併せて検出した場合で、欠陥エコーが妨害
エコーと区別できないときにも、同様に、欠陥111の
探傷が困難となる。本発明は、かかる状況に鑑みてなさ
れたものであり、欠陥面が装置移動方向と平行でない欠
陥も検出できる探傷装置を提供することを目的とする。
超音波ビーム181が欠陥111で反射したもの(欠陥
エコー)であり、欠陥面114に対して直角方向の場合
に最大となる。しかしながら、配管110の外表面11
3とクサビ120、120’の曲面部132、132’
とは平面ではなく、曲面で当接していることから、例え
ば欠陥面114が配管110の管軸方向Aと平行でない
場合には、超音波ビーム181を欠陥面114に対して
直角に入射させることはできず、反射エコー184が小
さくなってしまい、欠陥111の探傷が困難であった。
また、例えば内管面112のわずかな凹凸等(図示省
略)、欠陥111以外で反射した反射エコー184(妨
害エコー)も併せて検出した場合で、欠陥エコーが妨害
エコーと区別できないときにも、同様に、欠陥111の
探傷が困難となる。本発明は、かかる状況に鑑みてなさ
れたものであり、欠陥面が装置移動方向と平行でない欠
陥も検出できる探傷装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、かかる課題を
解決するためになされたものであり、被探傷物内部に探
傷波を発信し且つその反射波を検出する探傷波発生検出
手段と、予め設定された入射角度で探傷波を上記被探傷
物内部に入射する入射角度設定手段とを有し、上記被探
傷物上を摺動させて探傷を行う探傷装置において、被探
傷物上を摺動可能な取付け手段と、該取付け手段に回動
自在に設置された入射角度設定手段と、該入射角度設定
手段を回動させる回動手段とを有する。
解決するためになされたものであり、被探傷物内部に探
傷波を発信し且つその反射波を検出する探傷波発生検出
手段と、予め設定された入射角度で探傷波を上記被探傷
物内部に入射する入射角度設定手段とを有し、上記被探
傷物上を摺動させて探傷を行う探傷装置において、被探
傷物上を摺動可能な取付け手段と、該取付け手段に回動
自在に設置された入射角度設定手段と、該入射角度設定
手段を回動させる回動手段とを有する。
【0007】また、超音波ビームを送受信して、曲率を
持つ被探傷物の欠陥を検出する欠陥検出手段と、上記超
音波ビームの送受信方向を、上記被探傷物の曲率の接線
方向に対して斜めに保持する斜角保持手段と、該斜角保
持手段のための載置面を有し、上記被探傷物の上を摺動
する摺動手段と、上記欠陥検出手段を旋回動して、上記
送受信方向を変える首振り手段とを備えるようにしても
良い。すなわち、斜角保持手段用の載置面を摺動手段に
有し、更に首振り手段をも備えることで、曲率を持つ被
探傷物において、斜角探傷の首振り走査等が可能とな
る。よって、摺動手段を被探傷物上において摺動させた
り、欠陥検出手段を旋回動させたりして、超音波ビーム
の送受信方向を変えることができるので、被探傷物の管
軸方向と交差するような欠陥であっても、超音波ビーム
の送受信方向が欠陥面に直角となるように欠陥検出手段
を調整することができる。よって、曲率を持つ被探傷物
において、その探傷を容易に行うことができ、欠陥面の
方向に影響されないで欠陥を探傷することができる。
持つ被探傷物の欠陥を検出する欠陥検出手段と、上記超
音波ビームの送受信方向を、上記被探傷物の曲率の接線
方向に対して斜めに保持する斜角保持手段と、該斜角保
持手段のための載置面を有し、上記被探傷物の上を摺動
する摺動手段と、上記欠陥検出手段を旋回動して、上記
送受信方向を変える首振り手段とを備えるようにしても
良い。すなわち、斜角保持手段用の載置面を摺動手段に
有し、更に首振り手段をも備えることで、曲率を持つ被
探傷物において、斜角探傷の首振り走査等が可能とな
る。よって、摺動手段を被探傷物上において摺動させた
り、欠陥検出手段を旋回動させたりして、超音波ビーム
の送受信方向を変えることができるので、被探傷物の管
軸方向と交差するような欠陥であっても、超音波ビーム
の送受信方向が欠陥面に直角となるように欠陥検出手段
を調整することができる。よって、曲率を持つ被探傷物
において、その探傷を容易に行うことができ、欠陥面の
方向に影響されないで欠陥を探傷することができる。
【0008】
【発明の実施の形態】次に、本発明に係る探傷装置の実
施の形態について図面に基づいて説明する。装置の全体
構成の正面図を図1に示す。この装置は、曲率rを持つ
配管1(被探傷物)の欠陥11を探傷するものであり、
入射角度設定手段としてのクサビ2、取付け手段として
の倣い治具3、並びに、探傷波発生検出手段の一部をな
す探触子4、探傷器71、パソコン72及び表示器73
で構成されている。なお、図中破線で示す82は、探触
子4から探傷波として伝播する超音波ビーム81の中心
軸である。
施の形態について図面に基づいて説明する。装置の全体
構成の正面図を図1に示す。この装置は、曲率rを持つ
配管1(被探傷物)の欠陥11を探傷するものであり、
入射角度設定手段としてのクサビ2、取付け手段として
の倣い治具3、並びに、探傷波発生検出手段の一部をな
す探触子4、探傷器71、パソコン72及び表示器73
で構成されている。なお、図中破線で示す82は、探触
子4から探傷波として伝播する超音波ビーム81の中心
軸である。
【0009】図1の装置における配管付近を部分的に拡
大したものを図2に示す。また、図2における平面図を
つまみを破断して図3に示す。クサビ2は、平面視が矩
形状で、その側面視では、略三角形状部21を持ってお
り、傾斜面22を有する。その傾斜角aは、配管1の内
管面12の管軸方向Aの欠陥が検出できる所定の屈折角
bとなるように設計されている。ここにいう屈折角b
は、配管1内部を伝播する超音波ビーム81の中心軸8
2がその入射表面の法線83となす角度をいう。クサビ
2の一端部23には、固定ねじ5用の貫通孔24が高さ
方向に形成されている。クサビ2の他端部25は、円弧
状であって、その端面に歯面26が形成されている。ク
サビ1の底面27は、平らな面である。
大したものを図2に示す。また、図2における平面図を
つまみを破断して図3に示す。クサビ2は、平面視が矩
形状で、その側面視では、略三角形状部21を持ってお
り、傾斜面22を有する。その傾斜角aは、配管1の内
管面12の管軸方向Aの欠陥が検出できる所定の屈折角
bとなるように設計されている。ここにいう屈折角b
は、配管1内部を伝播する超音波ビーム81の中心軸8
2がその入射表面の法線83となす角度をいう。クサビ
2の一端部23には、固定ねじ5用の貫通孔24が高さ
方向に形成されている。クサビ2の他端部25は、円弧
状であって、その端面に歯面26が形成されている。ク
サビ1の底面27は、平らな面である。
【0010】探触子4は、電圧を加えると超音波ビーム
81を発生し、超音波ビーム81を受けると電圧を発生
する振動子(図示省略)を、保護ケースに収めたもの
で、クサビ2の傾斜面22に固着されている。探触子4
は、超音波ビーム81を、傾斜面22側に向けて傾斜面
22と垂直となるように発信し、そして受信する。倣い
治具3は、その底面31に、配管1の外表面13の曲率
rとほぼ同様の曲面部32を有しており、この曲面部3
2で、配管1の外表面13と密着状態で当接する。ま
た、倣い治具3は、その上面33に、載置面34を有し
ている。クサビ1及び倣い治具3は、材質がともにアク
リル樹脂系である。
81を発生し、超音波ビーム81を受けると電圧を発生
する振動子(図示省略)を、保護ケースに収めたもの
で、クサビ2の傾斜面22に固着されている。探触子4
は、超音波ビーム81を、傾斜面22側に向けて傾斜面
22と垂直となるように発信し、そして受信する。倣い
治具3は、その底面31に、配管1の外表面13の曲率
rとほぼ同様の曲面部32を有しており、この曲面部3
2で、配管1の外表面13と密着状態で当接する。ま
た、倣い治具3は、その上面33に、載置面34を有し
ている。クサビ1及び倣い治具3は、材質がともにアク
リル樹脂系である。
【0011】倣い治具3の載置面34は、平らな面であ
り、クサビ2が載置される。また、載置面34には、固
定ねじ5用の取付穴35が形成されており、クサビ2
は、固定ねじ5で倣い治具3に取り付けられている。ク
サビ2は、固定ねじ5を中心に載置面34上を矢印Cの
方向に旋回動自在である(図3参照)。なお、クサビ2
の傾斜面22の垂直線(仮想線)は、倣い治具3の曲面
部32の中心点(図示省略)と交差しないようになって
いる。したがって、配管1の外表面13に対して斜めに
超音波ビーム81が入射し、垂直探傷ではなく斜角探傷
するようになっている。載置面34におけるクサビ2の
他端部25側には、図3に示すように、クサビ2の歯面
26と円滑にかみ合う歯車61が、支持台62を介して
取り付いている。歯車61はつまみ63と同軸に取り付
いており、つまみ63を回すと歯車61が回動し、歯面
26とかみ合って、クサビ2が旋回動する。また、クサ
ビ2を直接持って旋回動することもできる。
り、クサビ2が載置される。また、載置面34には、固
定ねじ5用の取付穴35が形成されており、クサビ2
は、固定ねじ5で倣い治具3に取り付けられている。ク
サビ2は、固定ねじ5を中心に載置面34上を矢印Cの
方向に旋回動自在である(図3参照)。なお、クサビ2
の傾斜面22の垂直線(仮想線)は、倣い治具3の曲面
部32の中心点(図示省略)と交差しないようになって
いる。したがって、配管1の外表面13に対して斜めに
超音波ビーム81が入射し、垂直探傷ではなく斜角探傷
するようになっている。載置面34におけるクサビ2の
他端部25側には、図3に示すように、クサビ2の歯面
26と円滑にかみ合う歯車61が、支持台62を介して
取り付いている。歯車61はつまみ63と同軸に取り付
いており、つまみ63を回すと歯車61が回動し、歯面
26とかみ合って、クサビ2が旋回動する。また、クサ
ビ2を直接持って旋回動することもできる。
【0012】歯車61の上面部64には、図4に示すよ
うに、目盛り部又は目盛り板(以下、目盛り板65とい
う。)が設けられており、目盛り板65と支持台62の
基準点66とにより、首振り角c(図3参照)を設定し
たり測定したりすることができる。装置は、このように
構成されているため、クサビ2を倣い治具3に対して旋
回動させると、探触子4からの超音波ビーム81は、図
3の二点鎖線で示すように、首振り角cが変わる。すな
わち、クサビ2の旋回動により、超音波ビーム81は首
振りすることになる。なお、クサビ2の歯面26、歯車
61、支持台62及びつまみ63は、回動手段の一部を
構成する。また、首振り角cを設定あるいは測定するた
めに、歯車61の目盛り板65と支持台62の基準点6
6の代わりに、例えばエンコーダ(図示省略)等を用い
るようにしても良い。
うに、目盛り部又は目盛り板(以下、目盛り板65とい
う。)が設けられており、目盛り板65と支持台62の
基準点66とにより、首振り角c(図3参照)を設定し
たり測定したりすることができる。装置は、このように
構成されているため、クサビ2を倣い治具3に対して旋
回動させると、探触子4からの超音波ビーム81は、図
3の二点鎖線で示すように、首振り角cが変わる。すな
わち、クサビ2の旋回動により、超音波ビーム81は首
振りすることになる。なお、クサビ2の歯面26、歯車
61、支持台62及びつまみ63は、回動手段の一部を
構成する。また、首振り角cを設定あるいは測定するた
めに、歯車61の目盛り板65と支持台62の基準点6
6の代わりに、例えばエンコーダ(図示省略)等を用い
るようにしても良い。
【0013】次に、本装置を使って欠陥検出を行う手順
について説明する。まず、クサビ2と倣い治具3及び配
管1との間には、接触媒体(カプラント)74を塗布し
て、クサビ2と倣い治具3との旋回動、及び倣い治具3
と配管1との摺動が滑らかになるようにしておく。超音
波ビーム81を発信しながら倣い治具3を、配管1の管
軸方向Aや円周方向Bに沿って平行走査して、管軸方向
Aに沿った欠陥11aを検出する。この欠陥11aに対
しては、平行走査により超音波ビーム81を欠陥面14
aと直角に入射することができる。欠陥11aからの反
射エコー84は、探触子4と電気的に接続された探傷器
71に信号として送られ、パソコン72でその内容が情
報処理された後、表示器73に出力される。この表示器
73の表示は、一例を示すと、縦軸が受信した反射エコ
ー84の大きさ、横軸が時間軸で表されており、この表
示により、欠陥11aは容易に検出される。なお、超音
波ビーム81は、持続時間の極めて短いパルス波を用い
ると良い。
について説明する。まず、クサビ2と倣い治具3及び配
管1との間には、接触媒体(カプラント)74を塗布し
て、クサビ2と倣い治具3との旋回動、及び倣い治具3
と配管1との摺動が滑らかになるようにしておく。超音
波ビーム81を発信しながら倣い治具3を、配管1の管
軸方向Aや円周方向Bに沿って平行走査して、管軸方向
Aに沿った欠陥11aを検出する。この欠陥11aに対
しては、平行走査により超音波ビーム81を欠陥面14
aと直角に入射することができる。欠陥11aからの反
射エコー84は、探触子4と電気的に接続された探傷器
71に信号として送られ、パソコン72でその内容が情
報処理された後、表示器73に出力される。この表示器
73の表示は、一例を示すと、縦軸が受信した反射エコ
ー84の大きさ、横軸が時間軸で表されており、この表
示により、欠陥11aは容易に検出される。なお、超音
波ビーム81は、持続時間の極めて短いパルス波を用い
ると良い。
【0014】一般に、斜角探傷の場合、検出すべき欠陥
11の発生位置や傾き等を考慮するとともに、超音波ビ
ーム81の入射角、スキップ数、及びクサビ2に探触子
4を接着させた状態で首振り走査等を行い、超音波ビー
ムの入射方向(入射角度)を変化させて欠陥11を検出
する必要がある。したがって、超音波ビーム81が欠陥
面14に対して直角方向に当たるように、入射位置や入
射方向を変えながら探傷する必要がある。すなわち、管
軸方向Aに沿っていない欠陥11b(欠陥面が傾きを有
する欠陥11b)は、平行走査では、超音波ビーム81
が異なる方向に反射して、反射エコー84’が非常に小
さくなり、その検出が困難となるので、超音波ビーム8
1が欠陥面14bに直角に入射するようにクサビ2を首
振りし、超音波ビーム81の入射方向を変化させて、首
振り走査や振子走査等を行う。また、クサビ2をつまみ
63で操作しながら、倣い治具3を管軸方向A又は円周
方向Bに走査させて欠陥検出を行う。
11の発生位置や傾き等を考慮するとともに、超音波ビ
ーム81の入射角、スキップ数、及びクサビ2に探触子
4を接着させた状態で首振り走査等を行い、超音波ビー
ムの入射方向(入射角度)を変化させて欠陥11を検出
する必要がある。したがって、超音波ビーム81が欠陥
面14に対して直角方向に当たるように、入射位置や入
射方向を変えながら探傷する必要がある。すなわち、管
軸方向Aに沿っていない欠陥11b(欠陥面が傾きを有
する欠陥11b)は、平行走査では、超音波ビーム81
が異なる方向に反射して、反射エコー84’が非常に小
さくなり、その検出が困難となるので、超音波ビーム8
1が欠陥面14bに直角に入射するようにクサビ2を首
振りし、超音波ビーム81の入射方向を変化させて、首
振り走査や振子走査等を行う。また、クサビ2をつまみ
63で操作しながら、倣い治具3を管軸方向A又は円周
方向Bに走査させて欠陥検出を行う。
【0015】超音波ビーム81には指向性があるので、
つまみ63でその方向を変化させることで、欠陥11か
らの反射エコー84の大きさも変化するが、反射エコー
84が最大となったときには、超音波ビーム81が欠陥
面14bに直角に入射していると判断できる。したがっ
て、目盛り板65やエンコーダ等により得た首振り角c
で欠陥11bの傾きを計測したり、反射エコー84の大
きさで欠陥11bの大きさを推定したり、超音波パルス
81の送信から反射エコー84の受信までの時間差に基
づいて、入射点85(図2参照)と欠陥11bとの間の
距離を計算したりすることができる。このように、首振
り可能な探触子4を用いることにより、管軸方向Aある
いは円周方向Bの欠陥ばかりでなく、傾きを有する欠陥
11bを高感度で検出することが可能となる。また、歯
車61で首振り角cを自由に設定することができるた
め、角度の異なる複数のクサビ2を製作配置する必要が
なく、経済的である。また、本装置は、管軸方向Aに沿
っていない欠陥11の有無を調べる粗探傷や、欠陥11
の位置等を測定する精密探傷のいずれにも、用いること
ができる。
つまみ63でその方向を変化させることで、欠陥11か
らの反射エコー84の大きさも変化するが、反射エコー
84が最大となったときには、超音波ビーム81が欠陥
面14bに直角に入射していると判断できる。したがっ
て、目盛り板65やエンコーダ等により得た首振り角c
で欠陥11bの傾きを計測したり、反射エコー84の大
きさで欠陥11bの大きさを推定したり、超音波パルス
81の送信から反射エコー84の受信までの時間差に基
づいて、入射点85(図2参照)と欠陥11bとの間の
距離を計算したりすることができる。このように、首振
り可能な探触子4を用いることにより、管軸方向Aある
いは円周方向Bの欠陥ばかりでなく、傾きを有する欠陥
11bを高感度で検出することが可能となる。また、歯
車61で首振り角cを自由に設定することができるた
め、角度の異なる複数のクサビ2を製作配置する必要が
なく、経済的である。また、本装置は、管軸方向Aに沿
っていない欠陥11の有無を調べる粗探傷や、欠陥11
の位置等を測定する精密探傷のいずれにも、用いること
ができる。
【0016】なお、曲率を持つ配管について説明した
が、本発明は配管に限られず、被探傷物が曲面を有する
場合であっても、倣い治具3の曲面部32をその曲面に
適合させることで、本発明を応用することができる。ま
た、本装置では、1つの探触子4で超音波の送受信を行
っているが、これに限られず、送信と受信とを別々に2
つの探触子を用いて行うこともできる。
が、本発明は配管に限られず、被探傷物が曲面を有する
場合であっても、倣い治具3の曲面部32をその曲面に
適合させることで、本発明を応用することができる。ま
た、本装置では、1つの探触子4で超音波の送受信を行
っているが、これに限られず、送信と受信とを別々に2
つの探触子を用いて行うこともできる。
【0017】
【発明の効果】本発明によれば、取付け手段を被探傷物
上において摺動させたり、探傷波発生検出手段を旋回動
させたりして、探傷波の送受信方向を変えることができ
るので、被探傷物の探傷移動方向と交差するような欠陥
であっても、探傷波の送受信方向が欠陥面に直角となる
ように探傷波発生検出手段を調整することができる。よ
って、たとえ曲面を持つ被探傷物であっても、その探傷
を容易に行うことができ、欠陥面の方向に影響されない
で欠陥を探傷することができる。
上において摺動させたり、探傷波発生検出手段を旋回動
させたりして、探傷波の送受信方向を変えることができ
るので、被探傷物の探傷移動方向と交差するような欠陥
であっても、探傷波の送受信方向が欠陥面に直角となる
ように探傷波発生検出手段を調整することができる。よ
って、たとえ曲面を持つ被探傷物であっても、その探傷
を容易に行うことができ、欠陥面の方向に影響されない
で欠陥を探傷することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】装置の全体構成の概念図である。
【図2】図1の装置における配管付近を部分的に拡大し
た正面図である。
た正面図である。
【図3】図2の平面図で、つまみを破断して表してあ
る。
る。
【図4】図2におけるくさびの歯面と歯車とのかみ合い
状態を示す斜視図である。
状態を示す斜視図である。
【図5】超音波ビームが配管内の欠陥で反射する状態を
示す図であり、欠陥面が管軸方向に沿った場合と沿って
いない場合とを表す。
示す図であり、欠陥面が管軸方向に沿った場合と沿って
いない場合とを表す。
【図6】従来の装置を示した図面であり、(a)は、部
分的に表した正面図、(b)はその斜視図である。
分的に表した正面図、(b)はその斜視図である。
【図7】従来の装置を示した図面であり、(a)は正面
図、(b)は側面図、(c)はクサビの正面図、(d)
はクサビの側面図である。
図、(b)は側面図、(c)はクサビの正面図、(d)
はクサビの側面図である。
1 配管 11 欠陥 2 クサビ 22 傾斜面 26 歯面 3 倣い治具 32 曲面部 34 載置面 4 探触子 5 固定ねじ 61 歯車 62 支持台 81 超音波ビーム 84 反射エコー c 首振り角
Claims (1)
- 【請求項1】 被探傷物内部に探傷波を発信し且つその
反射波を検出する探傷波発生検出手段と、予め設定され
た入射角度で探傷波を上記被探傷物内部に入射する入射
角度設定手段とを有し、上記被探傷物上を摺動させて探
傷を行う探傷装置において、被探傷物上を摺動可能な取
付け手段と、該取付け手段に回動自在に設置された入射
角度設定手段と、該入射角度設定手段を回動させる回動
手段とを有することを特徴とする探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9350534A JPH11183445A (ja) | 1997-12-19 | 1997-12-19 | 探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9350534A JPH11183445A (ja) | 1997-12-19 | 1997-12-19 | 探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11183445A true JPH11183445A (ja) | 1999-07-09 |
Family
ID=18411149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9350534A Withdrawn JPH11183445A (ja) | 1997-12-19 | 1997-12-19 | 探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11183445A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005114735A (ja) * | 2003-10-08 | 2005-04-28 | General Electric Co <Ge> | フェイズドアレイ超音波対比試験片 |
JP2007132770A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Idemitsu Eng Co Ltd | 板状部材検査方法、および、板状部材検査装置 |
CN102590350A (zh) * | 2012-01-18 | 2012-07-18 | 中国航空工业集团公司北京航空制造工程研究所 | 用于检测复合材料外凸r区的超声换能器夹具 |
KR101199717B1 (ko) | 2010-10-27 | 2012-11-08 | 한국수력원자력 주식회사 | 경사면에 위치한 용접부의 원주방향 검사를 위한 위상배열 초음파 탐상용 교정시험편 및 이를 이용한 굴절 각도 및 비틀림 각도 위치 측정 시스템 |
JP2014202511A (ja) * | 2013-04-02 | 2014-10-27 | 金川 典代 | ドラム缶検査方法及びその装置 |
KR101480787B1 (ko) * | 2013-07-24 | 2015-01-13 | 성균관대학교산학협력단 | 각도 조절 기능을 구비하는 탐상장치 |
JP2018194528A (ja) * | 2017-05-22 | 2018-12-06 | 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 | 超音波検査システム |
-
1997
- 1997-12-19 JP JP9350534A patent/JPH11183445A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050301 |