JP3017346B2 - 管台内面疵検査方法 - Google Patents

管台内面疵検査方法

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JP3017346B2
JP3017346B2 JP3339143A JP33914391A JP3017346B2 JP 3017346 B2 JP3017346 B2 JP 3017346B2 JP 3339143 A JP3339143 A JP 3339143A JP 33914391 A JP33914391 A JP 33914391A JP 3017346 B2 JP3017346 B2 JP 3017346B2
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probe
ultrasonic
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節夫 藤村
雅晴 諸永
達成 野崎
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Babcock Hitachi KK
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は超音波探傷方法に関し、
特に管台の穴の内面の欠陥の探傷を行うに好適な超音波
探傷方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の超音波探傷装置は、図7に示すよ
うに固定角探触子1’と探傷装置2’とから構成されて
いる。構造物の内部欠陥を探傷する場合には板厚tの2
倍程度の探触子走査スペ−スが必要であった。そのた
め、図8に示すように、管台ピッチが狭く、探触子の走
査するスペ−スが確保できない管台部において内面欠陥
検出の目的で超音波探傷装置を使用することは不可能で
あった。なお、従来技術の例が特公平2−15821号
公報に記載されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術は、
管台の内面欠陥の検出について配慮がなされておらず、
超音波探傷が管台の内面欠陥の検出に適用できないとい
う問題点があった。
【0004】本発明は、上記した問題点を解決すること
を目的としており、電子セクタスキャン一点入射型探触
子を管台の穴の中心から管台の穴ピッチと管寄の厚さと
によって定まる所定の距離で、かつ管台の穴エッジの接
線方向に対して所定の角度でセットして形状エコ−と欠
陥エコ−との識別を容易とし、触子位置検出手段と超
音波ビ−ムの屈折角とビ−ム路程を演算する回路とゲ−
ト範囲内のエコ−信号のみを出力させる手段とビ−ム路
程/振幅自動補正回路とを有し、欠陥位置推定精度の向
上、欠陥定量精度を向上させた装置により、管台内面疵
検査に超音波探傷法を適用するにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、電子セ
クタスキャン一点入射型探触子を用いる縦波・横波併用
探傷法にして、該探触子を管台の穴の中心から管台の穴
ピッチと管寄の厚さとによって定まる所定の距離、か
つ、管台の穴エッジの接線方向に対して20±10度の
範囲内の角度にセットして超音波ビ−ムを電子セクタス
キャンすることを特徴とする管台内面疵検査方法が提供
される。
【0006】この場合、上記管台内面に送信される超音
波ビ−ムの入射角、屈折角、ビ−ム路程を演算する回路
と、探触子のビ−ム入射点位置計測手段と、ゲ−ト範囲
内のエコ−信号のみ出力せしめる手段と、ビ−ム路程/
振幅自動補正回路と、を用いて欠陥位置推定および欠陥
エコー信号レベルの補償を行うことを特徴とする。
【0007】
【作用】一点入射電子セクタスキャン超音波探傷法は超
音波ビ−ムを広範囲に送信することができる。従って探
触子を管台の穴の中心から管台の穴ピッチと管寄の厚さ
とによって定まる所定の距離、かつ管台の穴エッジの接
線方向に対して20±10度の範囲内の角度にセットす
ることができるので、狭隘な管台部において探触子を走
査する必要がない。
【0008】さらに本発明によれば、探触子を管台の穴
エッジの接線方向に対して20±10度の範囲内の角度
セットすることにより管台内面の形状エコ−を検出し
なくなるので、形状エコ−と欠陥エコ−との識別が容易
となる。
【0009】さらに本発明によれば、探触子のビ−ム入
射位置、入射角、屈折角、ビ−ム路程の演算機能および
ゲ−ト範囲内のエコ−信号のみを出力させる機能、さら
に、ビ−ム路程/振幅自動補正回路機能により、欠陥位
置推定精度、欠陥定量精度が増加するので、管台内面の
欠陥検出に超音波探傷法が適用できる。
【0010】
【実施例】図1を参照して本発明の実施例を詳述すれ
ば、管台内面の超音波探傷は、一点入射電子セクタスキ
ャン探触子1、電子スキャン超音波探傷装置2、電源装
置3およびモニタテレビ4で構成された超音波探傷装置
を使用し、探触子1を管台穴の中心Oから次式
【数1】 で求められる距離ALに超音波ビ−ム5の入射
点6を合せてセットする。
【数1】 AL=[{(B2+GAP+B3)sin70°}2+{(B2+GAP+B3)cos70°+R1}21/2
【数2】 B2={(R2cos70°+R2sin70°×tan70°)-R1}cos70° ここで、R1は管台の内半径、R2は溶接線の半径、G
APは探触子と溶接線との間隔、B3は探触子の前面か
らビ−ム入射点6までの距離を示す。
【0011】管台内面A点の欠陥を探傷する場合、探触
子1のビ−ム入射点6を前述の管台穴の中心O点から距
離ALの円周上にセットして、かつA点の接線方向に対
して20度の角度をつけて超音波ビ−ム5を投射する。
【0012】図2について探傷原理を説明する。一点入
射電子セクタスキャン探触子1は、素子10が円弧状に
64個配列され、その16個の素子をイで示すように電
子スキャン超音波探傷装置2によって同時に励振して超
音波ビ−ム5を発生させる。次にロおよびハのように素
子1個分ずつシフトさせながら16個の素子を同時に励
振させることにより、円弧上から管寄20への一点入射
角度を変化させることによって、屈折角の異なる広範囲
の超音波ビ−ム5を管台内面に投射することができ、探
触子1を走査せしめずに探傷することが可能となる。
【0013】図3によって管寄と管台の内面の探傷につ
いて説明する。管台の内面の亀裂はエッジ部A点を起点
として放射に発生するものが大部分であるので、亀裂
発生方向に対して45ないし90度の角度で超音波ビ−
ムを投射し探傷するが、図4に示す角度と欠陥/コ−ナ
−エコ−との関係からコ−ナ−エコ−が検出されなくな
るエッジ接線方向に対して20度の角度で超音波ビ−ム
を投射すれば、充分に大きい欠陥エコ−が検出可能であ
り、コ−ナ−エコ−を検出することがない。
【0014】図5は管寄、管台部内面の超音波ビ−ムの
入射点6の方位における屈折角の変化の一例を示してお
り、図でMAXと記載した位置で最大であることが理解
される。
【0015】前述したように探触子をセットしても探傷
する管台内面の位置によって屈折角および超音波ビ−ム
路程が異なるため、図6に示すように欠陥エコ−検出レ
ベルが相違し、欠陥を過小評価する危険性がある。しか
し、探傷位置に対する超音波ビ−ムの屈折角・ビ−ム路
程の演算回路およびビ−ム路程/振幅自動補正回路を備
えていることで検出位置が相違しても欠陥の大きさは同
一に評価され、定量評価精度を向上することが可能であ
る。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、広範囲超音波ビ−ムを
投射する一点入射電子セクタスキャン探触子を管台内面
の形状エコ−が表れない探傷位置にセットすることがで
きるので、管台内面の欠陥検出に超音波探傷が適用可能
となるという効果がある。
【0017】また、超音波ビ−ムの入射位置、入射角、
屈折角、ビ−ム路程の演算、ゲ−ト範囲内のエコ−信号
のみを出力させる機能、およびビ−ム路程/振幅自動補
正機能を備えているので、欠陥位置推定精度および欠陥
定量精度向上の効果がある。
【0018】特に従来技術と対比した場合、従来技術で
は検査ができなかった管台、管内面などの狭隘部の検査
を非破壊的かつ高精度、短時間で検査できるという著し
い効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による管台内面の超音波探傷方法および
装置の概略図。
【図2】一点入射電子セクタスキャン超音波探傷原理の
説明図。
【図3】管台内面の探傷の実施例を示す断面図。
【図4】探傷角度に対する管台内面の欠陥エコ−と形状
エコ−とを示す図。
【図5】管台内面欠陥検出に最適位置に探触子がある場
合の屈折角の変化を示す図。
【図6】屈折角の変化(ビ−ム路程)とエコ−信号レベ
ルの関係を示す図。
【図7】従来の超音波探傷における探触子の走査スペ−
スを示す断面図。
【図8】超音波探傷が適用されるボイラ管寄、管台の平
面図。
【符号の説明】
1…一点入射電子セクタスキャン探触子 2…電子スキャン超音波探傷装置 3…電源装置 4…モニタテレビ 5…超音波ビ−ム 6…入射点 10…素子 20…管寄 21…管台 1’…固定角探触子 2’…超音波探傷装置
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−194349(JP,A) 特開 昭53−26186(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 29/00 - 29/28

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電子セクタスキャン一点入射型探触子を用
    いる縦波・横波併用探傷法にして、前記探触子を管台の
    穴の中心から管台の穴ピッチと管寄の厚さとによって定
    まる所定の距離で、かつ、管台の穴エッジの接線方向に
    対して20±10度の範囲内の角度にセットして超音波
    ビ−ムを電子セクタスキャンすることを特徴とする管台
    内面疵検査方法。
  2. 【請求項2】請求項1記載の管台内面疵検査方法におい
    て、上記管台内面に送信される超音波ビ−ムの入射角、
    屈折角、ビ−ム路程を演算する回路と、探触子のビ−ム
    入射点位置計測手段と、ゲ−ト範囲内のエコ−信号のみ
    出力せしめる手段と、ビ−ム路程/振幅自動補正回路
    と、を用いて欠陥位置推定および欠陥エコー信号レベル
    の補償を行うことを特徴とする管台内面疵検査方法。
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JP2011149888A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Toden Kogyo Co Ltd 複合型超音波探触子及びそれを用いたtofd法による超音波探傷法
CN108845029B (zh) * 2018-04-26 2023-10-31 隆华科技集团(洛阳)股份有限公司 一种用于复合型冷却器的d型管箱的无损检测方法
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