JPH11148975A - マイクロコンピュータ及びそのアクセス速度制御方法 - Google Patents
マイクロコンピュータ及びそのアクセス速度制御方法Info
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- JPH11148975A JPH11148975A JP9313253A JP31325397A JPH11148975A JP H11148975 A JPH11148975 A JP H11148975A JP 9313253 A JP9313253 A JP 9313253A JP 31325397 A JP31325397 A JP 31325397A JP H11148975 A JPH11148975 A JP H11148975A
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Microcomputers (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 大線量の放射線環境下でも長期間使用するこ
とができるマイクロコンピュータ及びそのアクセス速度
制御方法を提供する。 【解決手段】 マイクロコンピュータが受ける放射線総
量を放射線検出素子２１の検出信号に基づいて求め、こ
の求めた放射線総量と予め試験により設定してメモリ部
１２に記憶させたテーブルデータとにより、ＣＰＵ部１
１においてアクセス速度を制御するようにする。また、
ＣＰＵ部１１と、このＣＰＵ部１１とアクセスするメモ
リ部１２や各種回路インターフェイス部１３とを同一チ
ップ化（ＡＳＩＣ化）して、この同一チップ化した各部
が確実に放射線により同一方向に劣化、変化するように
する。
とができるマイクロコンピュータ及びそのアクセス速度
制御方法を提供する。 【解決手段】 マイクロコンピュータが受ける放射線総
量を放射線検出素子２１の検出信号に基づいて求め、こ
の求めた放射線総量と予め試験により設定してメモリ部
１２に記憶させたテーブルデータとにより、ＣＰＵ部１
１においてアクセス速度を制御するようにする。また、
ＣＰＵ部１１と、このＣＰＵ部１１とアクセスするメモ
リ部１２や各種回路インターフェイス部１３とを同一チ
ップ化（ＡＳＩＣ化）して、この同一チップ化した各部
が確実に放射線により同一方向に劣化、変化するように
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はマイクロコンピュー
タ及びそのアクセス速度制御方法に関し、大線量の放射
線環境下で使用される各種機器の電子機器部に用いられ
るマイクロコンピュータに適用して有用なものである。
タ及びそのアクセス速度制御方法に関し、大線量の放射
線環境下で使用される各種機器の電子機器部に用いられ
るマイクロコンピュータに適用して有用なものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、大線量の放射線環境下において、
電子機器は、放射線の影響により電子部品の劣化が発生
して、その機能、性能が低下してしまうため、長期間使
用することが不可能であった。
電子機器は、放射線の影響により電子部品の劣化が発生
して、その機能、性能が低下してしまうため、長期間使
用することが不可能であった。
【０００３】特に、従来のマイクロコンピュータは、そ
の半導体部品（ＩＣ、ＬＳＩ）が放射線により急速に劣
化して半導体部品の特性が大幅に変化するため、その機
能、性能の低下や動作不良が発生してしまう。このた
め、従来のマイクロコンピュータは、大線量の放射線環
境下では長期間（２年以上）使用することができず、放
射線に曝されない環境下で使用してきた。図７は従来の
マイクロコンピュータの使用例を示す説明図である。
の半導体部品（ＩＣ、ＬＳＩ）が放射線により急速に劣
化して半導体部品の特性が大幅に変化するため、その機
能、性能の低下や動作不良が発生してしまう。このた
め、従来のマイクロコンピュータは、大線量の放射線環
境下では長期間（２年以上）使用することができず、放
射線に曝されない環境下で使用してきた。図７は従来の
マイクロコンピュータの使用例を示す説明図である。
【０００４】同図に示すように、遮へい体３３に囲まれ
た大線量の放射線環境下（図中のＡ部）には、作業機器
３２のみが配置されており、この作業機器３２を制御す
るためのマイクロコンピュータ３１は、遮へい体３３の
外側の放射線に曝されない環境下（図中のＢ部）に配置
されている。従って、この放射線環境下の作業機器３２
と放射線に曝されない環境下のマイクロコンピュータ３
１との間で電気信号を伝送するために、長距離（例えば
１００ｍ程度）の電気信号ケーブル３４が多数（例えば
２００本〜３００本）、作業機器３２からマイクロコン
ピュータ３１まで配線されている。
た大線量の放射線環境下（図中のＡ部）には、作業機器
３２のみが配置されており、この作業機器３２を制御す
るためのマイクロコンピュータ３１は、遮へい体３３の
外側の放射線に曝されない環境下（図中のＢ部）に配置
されている。従って、この放射線環境下の作業機器３２
と放射線に曝されない環境下のマイクロコンピュータ３
１との間で電気信号を伝送するために、長距離（例えば
１００ｍ程度）の電気信号ケーブル３４が多数（例えば
２００本〜３００本）、作業機器３２からマイクロコン
ピュータ３１まで配線されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
マイクロコンピュータ３１は放射線環境下で使用でき
ず、放射線環境下の作業機器３２と放射線に曝されない
環境下のマイクロコンピュータ３１とを電気信号ケーブ
ル３４によって電気的につながなければならないことか
ら、次のような問題点が発生している。
マイクロコンピュータ３１は放射線環境下で使用でき
ず、放射線環境下の作業機器３２と放射線に曝されない
環境下のマイクロコンピュータ３１とを電気信号ケーブ
ル３４によって電気的につながなければならないことか
ら、次のような問題点が発生している。
【０００６】 放射線環境下の電気信号ケーブル３４
の増加により、放射線環境エリア（原子力関連設備のセ
ル等）の大形化やコスト増大、及び保守性の悪化を招い
ていた。 放射線環境下の電気信号ケーブル３４が長くなるた
め、センサ信号等の微弱信号の伝送ができない又は精度
が低下する。 放射線環境下での移動体にマイクロコンピュータ３
１を搭載することができないため、この移動体に複雑な
作業や高精度な作業を要求することができず、放射線環
境下における作業の機械化が困難であった。
の増加により、放射線環境エリア（原子力関連設備のセ
ル等）の大形化やコスト増大、及び保守性の悪化を招い
ていた。 放射線環境下の電気信号ケーブル３４が長くなるた
め、センサ信号等の微弱信号の伝送ができない又は精度
が低下する。 放射線環境下での移動体にマイクロコンピュータ３
１を搭載することができないため、この移動体に複雑な
作業や高精度な作業を要求することができず、放射線環
境下における作業の機械化が困難であった。
【０００７】従って本発明は上記従来技術に鑑み、大線
量の放射線環境下でも長期間使用することができるマイ
クロコンピュータ及びそのアクセス速度制御方法を提供
することを課題とする。
量の放射線環境下でも長期間使用することができるマイ
クロコンピュータ及びそのアクセス速度制御方法を提供
することを課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明のマイクロコンピュータは、主演算部と、周辺制御部
と、記憶手段とを有するマイクロコンピュータであっ
て、マイクロコンピュータが受ける放射線量を測定する
放射線測定手段と、予め試験により設定したテーブルデ
ータを有する記憶手段と、前記放射線測定手段により測
定した放射線量と前記記憶手段のテーブルデータとによ
りアクセス速度を制御する主演算部とを有することを特
徴とする。
明のマイクロコンピュータは、主演算部と、周辺制御部
と、記憶手段とを有するマイクロコンピュータであっ
て、マイクロコンピュータが受ける放射線量を測定する
放射線測定手段と、予め試験により設定したテーブルデ
ータを有する記憶手段と、前記放射線測定手段により測
定した放射線量と前記記憶手段のテーブルデータとによ
りアクセス速度を制御する主演算部とを有することを特
徴とする。
【０００９】また、本発明のマイクロコンピュータのア
クセス速度制御方法は、主演算部と、周辺制御部と、記
憶手段とを有するマイクロコンピュータのアクセス速度
制御方法であって、放射線測定手段によりマイクロコン
ピュータが受ける放射線量を測定し、この測定した放射
線量と予め試験により設定して記憶手段に記憶させたテ
ーブルデータとにより、主演算部においてアクセス速度
を制御することを特徴とする。
クセス速度制御方法は、主演算部と、周辺制御部と、記
憶手段とを有するマイクロコンピュータのアクセス速度
制御方法であって、放射線測定手段によりマイクロコン
ピュータが受ける放射線量を測定し、この測定した放射
線量と予め試験により設定して記憶手段に記憶させたテ
ーブルデータとにより、主演算部においてアクセス速度
を制御することを特徴とする。
【００１０】また、前記マイクロコンピュータにおい
て、前記主演算部と周辺制御部と記憶手段は同一チップ
化していることを特徴とする。
て、前記主演算部と周辺制御部と記憶手段は同一チップ
化していることを特徴とする。
【００１１】また、前記マイクロコンピュータのアクセ
ス速度制御方法において、前記主演算部と周辺制御部と
記憶手段は同一チップ化することを特徴とする。
ス速度制御方法において、前記主演算部と周辺制御部と
記憶手段は同一チップ化することを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。
に基づき詳細に説明する。
【００１３】図１は本発明の実施の形態に係る耐放射線
性マイクロコンピュータの本体部の機能ブロック図、図
２は前記マイクロコンピュータの本体部の構成図、図３
は前記マイクロコンピュータの全体構成図、図４は放射
線総量とＣＰＵ部／各回路部間のウェイト時間との関係
図である。
性マイクロコンピュータの本体部の機能ブロック図、図
２は前記マイクロコンピュータの本体部の構成図、図３
は前記マイクロコンピュータの全体構成図、図４は放射
線総量とＣＰＵ部／各回路部間のウェイト時間との関係
図である。
【００１４】＜構成＞図１に示すように、本実施の形態
に係る耐放射線性マイクロコンピュータの本体部には、
デジタル回路部１と、アナログ回路部２とを備えてい
る。また、デジタル回路部１には、デジタル信号処理回
路部３と、メモリ回路部５と、その他の周辺回路部４と
を有しており、アナログ回路部２には、通信用インター
フェイス部６と、電圧監視リセット回路部７と、メモリ
バックアップ回路部８とを有している。
に係る耐放射線性マイクロコンピュータの本体部には、
デジタル回路部１と、アナログ回路部２とを備えてい
る。また、デジタル回路部１には、デジタル信号処理回
路部３と、メモリ回路部５と、その他の周辺回路部４と
を有しており、アナログ回路部２には、通信用インター
フェイス部６と、電圧監視リセット回路部７と、メモリ
バックアップ回路部８とを有している。
【００１５】具体的には、図２に示すような構成となっ
ている。即ち、図２において、１１はＣＰＵ部であり、
このＣＰＵ部１１と、その周辺のメモリ部１２（ＲＯＭ
１２ａ、ＲＡＭ１２ｂ，１２ｃ等）や各種回路インター
フェイス部１３（ＰＩＯ１３ａ、ＳＩＯ１３ｂ，１３ｃ
等）との間でデジタル信号が伝送される。
ている。即ち、図２において、１１はＣＰＵ部であり、
このＣＰＵ部１１と、その周辺のメモリ部１２（ＲＯＭ
１２ａ、ＲＡＭ１２ｂ，１２ｃ等）や各種回路インター
フェイス部１３（ＰＩＯ１３ａ、ＳＩＯ１３ｂ，１３ｃ
等）との間でデジタル信号が伝送される。
【００１６】メモリ部１２のＲＡＭ１２ａ，１２ｂは、
バッテリ１６を接続したメモリバックアップ回路１５に
よってバックアップされるようになっている。また、図
２において、１７はクロック回路、１８はウォッチドッ
グタイマ、１９はリセット回路である。
バッテリ１６を接続したメモリバックアップ回路１５に
よってバックアップされるようになっている。また、図
２において、１７はクロック回路、１８はウォッチドッ
グタイマ、１９はリセット回路である。
【００１７】このマイクロコンピュータは、放射線環境
下で使用すると、ＣＰＵ部１１と、その周辺のメモリ部
１２や各種回路インターフェイス部１３との間のアクセ
ス速度が、マイクロコンピュータの受ける放射線総量に
応じて変化する。これはマイクロコンピュータの各ＩＣ
（ＬＳＩ）の特性が放射線によりそれぞれ変化するため
である。そして、このままでは、ＣＰＵ部１１と、メモ
リ部１２や各種回路インターフェイス部１３との間のア
クセスができなくなる。
下で使用すると、ＣＰＵ部１１と、その周辺のメモリ部
１２や各種回路インターフェイス部１３との間のアクセ
ス速度が、マイクロコンピュータの受ける放射線総量に
応じて変化する。これはマイクロコンピュータの各ＩＣ
（ＬＳＩ）の特性が放射線によりそれぞれ変化するため
である。そして、このままでは、ＣＰＵ部１１と、メモ
リ部１２や各種回路インターフェイス部１３との間のア
クセスができなくなる。
【００１８】そこで、このことを解決するために、本実
施の形態では、まず、ＣＰＵ部１１と、このＣＰＵ部１
１とアクセスするメモリ部１２や各種回路インターフェ
イス部１３とを同一チップ化（ＡＳＩＣ化）することに
よって、小型化し且つ同一プロセスで製造するようにし
て、このＡＳＩＣ化した各部が同一方向に劣化、変化す
るようにしている。つまり、上記各部をＡＳＩＣ化して
小型化することにより、上記各部が受ける放射線量が一
様になるようにしている。また、上記各部をＡＳＩＣ化
して同一プロセスで製造するよることにより、放射線に
対する特性をそろえている。
施の形態では、まず、ＣＰＵ部１１と、このＣＰＵ部１
１とアクセスするメモリ部１２や各種回路インターフェ
イス部１３とを同一チップ化（ＡＳＩＣ化）することに
よって、小型化し且つ同一プロセスで製造するようにし
て、このＡＳＩＣ化した各部が同一方向に劣化、変化す
るようにしている。つまり、上記各部をＡＳＩＣ化して
小型化することにより、上記各部が受ける放射線量が一
様になるようにしている。また、上記各部をＡＳＩＣ化
して同一プロセスで製造するよることにより、放射線に
対する特性をそろえている。
【００１９】次に、図３に示すように、放射線検出素子
２１と、この放射線検出素子２１の検出信号をＣＰＵ部
１１に伝送するためのインターフェイス回路部２２と
を、マイクロコンピュータ内に備えている。なお、本実
施の形態では、放射線検出素子２１として、温度に左右
されずに正確に放射線量を検出することができる放射線
検出素子（本出願人が先に出願（特願平９−１２２２４
６号）したもの）を用いている。
２１と、この放射線検出素子２１の検出信号をＣＰＵ部
１１に伝送するためのインターフェイス回路部２２と
を、マイクロコンピュータ内に備えている。なお、本実
施の形態では、放射線検出素子２１として、温度に左右
されずに正確に放射線量を検出することができる放射線
検出素子（本出願人が先に出願（特願平９−１２２２４
６号）したもの）を用いている。
【００２０】そして、ＣＰＵ部１１では、インターフェ
イス回路部２２を介して放射線検出素子２１の検出信号
を入力し、これを積算することによってマイクロコンピ
ュータが受ける放射線総量を求め、この求めた放射線総
量と予め試験により設定してメモリ部１２に記憶させた
テーブルデータとにより、アクセス速度を制御する。具
体的には、図４に示すように、ＣＰＵ部１１が外部（メ
モリ部１２や各種回路インターフェイス部１３）をアク
セスするときに使用する信号出力ウェイト時間を、放射
線総量と、放射線総量とウェイト時間との関係を表すテ
ーブルデータとにより、マイクロコンピュータ（ＣＰＵ
部１１）が自己判断して自動的に変更する。
イス回路部２２を介して放射線検出素子２１の検出信号
を入力し、これを積算することによってマイクロコンピ
ュータが受ける放射線総量を求め、この求めた放射線総
量と予め試験により設定してメモリ部１２に記憶させた
テーブルデータとにより、アクセス速度を制御する。具
体的には、図４に示すように、ＣＰＵ部１１が外部（メ
モリ部１２や各種回路インターフェイス部１３）をアク
セスするときに使用する信号出力ウェイト時間を、放射
線総量と、放射線総量とウェイト時間との関係を表すテ
ーブルデータとにより、マイクロコンピュータ（ＣＰＵ
部１１）が自己判断して自動的に変更する。
【００２１】＜作用・効果＞従って、本実施の形態によ
れば、放射線環境下でマイクロコンピュータを使用し
て、放射線によりマイクロコンピュータ内の半導体部品
が劣化し、特性が変化しても、このマイクロコンピュー
タが受ける放射線総量を放射線検出素子２１の検出信号
に基づいて求め、この求めた放射線総量と予め試験によ
り設定してメモリ部１２に記憶させたテーブルデータと
により、ＣＰＵ部１１においてアクセス速度を制御する
ため、放射線による影響をキャンセルして、ＣＰＵ部１
１と、その周辺のメモリ部１２や各種回路インターフェ
イス部との間でアクセスができなくなるのを防止し、マ
イクロコンピュータとしての機能、性能を長期間維持す
ることができる。
れば、放射線環境下でマイクロコンピュータを使用し
て、放射線によりマイクロコンピュータ内の半導体部品
が劣化し、特性が変化しても、このマイクロコンピュー
タが受ける放射線総量を放射線検出素子２１の検出信号
に基づいて求め、この求めた放射線総量と予め試験によ
り設定してメモリ部１２に記憶させたテーブルデータと
により、ＣＰＵ部１１においてアクセス速度を制御する
ため、放射線による影響をキャンセルして、ＣＰＵ部１
１と、その周辺のメモリ部１２や各種回路インターフェ
イス部との間でアクセスができなくなるのを防止し、マ
イクロコンピュータとしての機能、性能を長期間維持す
ることができる。
【００２２】このため、放射線環境下におけるマイクロ
コンピュータの寿命を従来の１０倍から１００倍以上に
延ばすことができ、大線量の放射線環境下であっても、
マイクロコンピュータを長期間（２年〜１０年）使用す
ることができる。
コンピュータの寿命を従来の１０倍から１００倍以上に
延ばすことができ、大線量の放射線環境下であっても、
マイクロコンピュータを長期間（２年〜１０年）使用す
ることができる。
【００２３】しかも、本実施の形態では、ＣＰＵ部１１
と、このＣＰＵ部１１とアクセスするメモリ部１２や各
種回路インターフェイス部１３とを同一チップ化（ＡＳ
ＩＣ化）したため、この同一チップ化した各部が確実に
放射線により同一方向に劣化、変化するようになり、確
実に上記の作用・効果を得ることができる。
と、このＣＰＵ部１１とアクセスするメモリ部１２や各
種回路インターフェイス部１３とを同一チップ化（ＡＳ
ＩＣ化）したため、この同一チップ化した各部が確実に
放射線により同一方向に劣化、変化するようになり、確
実に上記の作用・効果を得ることができる。
【００２４】そして、このマイクロコンピュータを放射
線環境下（原子力分野及び宇宙分野）において使用され
る機器に搭載して、これらの機器の自動制御が可能とな
り、下記等の実現が図れる。
線環境下（原子力分野及び宇宙分野）において使用され
る機器に搭載して、これらの機器の自動制御が可能とな
り、下記等の実現が図れる。
【００２５】 原子力関連設備のセル内電気信号ケー
ブルの大幅削減に伴い、セルの小型化や低コスト化、及
び保守性の改善が図れる。 原子力分野及び宇宙分野での遠隔操作によるメカト
ロニクス化（ロボッテック化）を実現することができ
る。
ブルの大幅削減に伴い、セルの小型化や低コスト化、及
び保守性の改善が図れる。 原子力分野及び宇宙分野での遠隔操作によるメカト
ロニクス化（ロボッテック化）を実現することができ
る。
【００２６】また、本実施の形態では、放射線検出素子
２１として、温度に左右されずに正確に放射線量を検出
することができる放射線検出素子を用いているため、検
出環境の温度変化や放射線の照射強度の変動による発熱
等によって放射線検出素子２１の温度が変化しても、正
確に放射線総量を測定してアクセス速度を制御すること
ができる。
２１として、温度に左右されずに正確に放射線量を検出
することができる放射線検出素子を用いているため、検
出環境の温度変化や放射線の照射強度の変動による発熱
等によって放射線検出素子２１の温度が変化しても、正
確に放射線総量を測定してアクセス速度を制御すること
ができる。
【００２７】なお、放射線検出素子の温度変化が少ない
環境下では、勿論、一般的な放射線検出素子を用いるこ
ともできる。
環境下では、勿論、一般的な放射線検出素子を用いるこ
ともできる。
【００２８】また、上記では、放射線検出値の積算（放
射線総量の算出）をＣＰＵ部１１で行っているが、勿
論、放射線検出素子２１側に放射線総量を算出する演算
部を設け、この演算部で算出した放射線総量のデータを
ＣＰＵ部１１に伝送するようにしてもよい。
射線総量の算出）をＣＰＵ部１１で行っているが、勿
論、放射線検出素子２１側に放射線総量を算出する演算
部を設け、この演算部で算出した放射線総量のデータを
ＣＰＵ部１１に伝送するようにしてもよい。
【００２９】
【発明の効果】以上、発明の実施の形態と共に具体的に
説明したように、本発明のマイクロコンピュータは、主
演算部と、周辺制御部と、記憶手段とを有するマイクロ
コンピュータであって、マイクロコンピュータが受ける
放射線量を測定する放射線測定手段と、予め試験により
設定したテーブルデータを有する記憶手段と、前記放射
線測定手段により測定した放射線量と前記記憶手段のテ
ーブルデータとによりアクセス速度を制御する主演算部
とを有することを特徴とする。
説明したように、本発明のマイクロコンピュータは、主
演算部と、周辺制御部と、記憶手段とを有するマイクロ
コンピュータであって、マイクロコンピュータが受ける
放射線量を測定する放射線測定手段と、予め試験により
設定したテーブルデータを有する記憶手段と、前記放射
線測定手段により測定した放射線量と前記記憶手段のテ
ーブルデータとによりアクセス速度を制御する主演算部
とを有することを特徴とする。
【００３０】また、本発明のマイクロコンピュータのア
クセス速度制御方法は、主演算部と、周辺制御部と、記
憶手段とを有するマイクロコンピュータのアクセス速度
制御方法であって、放射線測定手段によりマイクロコン
ピュータが受ける放射線量を測定し、この測定した放射
線量と予め試験により設定して記憶手段に記憶させたテ
ーブルデータとにより、主演算部においてアクセス速度
を制御することを特徴とする。
クセス速度制御方法は、主演算部と、周辺制御部と、記
憶手段とを有するマイクロコンピュータのアクセス速度
制御方法であって、放射線測定手段によりマイクロコン
ピュータが受ける放射線量を測定し、この測定した放射
線量と予め試験により設定して記憶手段に記憶させたテ
ーブルデータとにより、主演算部においてアクセス速度
を制御することを特徴とする。
【００３１】従って、このマイクロコンピュータ及びそ
のアクセス速度制御方法によれば、放射線環境下でマイ
クロコンピュータを使用して、放射線によりマイクロコ
ンピュータ内の半導体部品が劣化し、特性が変化して
も、このマイクロコンピュータが受ける放射線量を放射
線測定手段によって測定し、この測定した放射線量と予
め試験により設定して記憶手段に記憶させたテーブルデ
ータとにより、主演算部においてアクセス速度を制御す
るため、放射線による影響をキャンセルして、マイクロ
コンピュータとしての機能、性能を長期間維持すること
ができる。このため、大線量の放射線環境下であって
も、マイクロコンピュータを長期間使用することができ
る。
のアクセス速度制御方法によれば、放射線環境下でマイ
クロコンピュータを使用して、放射線によりマイクロコ
ンピュータ内の半導体部品が劣化し、特性が変化して
も、このマイクロコンピュータが受ける放射線量を放射
線測定手段によって測定し、この測定した放射線量と予
め試験により設定して記憶手段に記憶させたテーブルデ
ータとにより、主演算部においてアクセス速度を制御す
るため、放射線による影響をキャンセルして、マイクロ
コンピュータとしての機能、性能を長期間維持すること
ができる。このため、大線量の放射線環境下であって
も、マイクロコンピュータを長期間使用することができ
る。
【００３２】そして、このマイクロコンピュータを放射
線環境下（原子力分野及び宇宙分野）において使用され
る機器に搭載して、これらの機器の自動制御が可能とな
り、下記等の実現が図れる。
線環境下（原子力分野及び宇宙分野）において使用され
る機器に搭載して、これらの機器の自動制御が可能とな
り、下記等の実現が図れる。
【００３３】 原子力関連設備のセル内電気信号ケー
ブルの大幅削減に伴い、セルの小型化や低コスト化、及
び保守性の改善が図れる。 原子力分野及び宇宙分野での遠隔操作によるメカト
ロニクス化（ロボッテック化）を実現することができ
る。
ブルの大幅削減に伴い、セルの小型化や低コスト化、及
び保守性の改善が図れる。 原子力分野及び宇宙分野での遠隔操作によるメカト
ロニクス化（ロボッテック化）を実現することができ
る。
【００３４】また、本発明のマイクロコンピュータは、
前記マイクロコンピュータにおいて、前記主演算部と周
辺制御部と記憶手段は同一チップ化していることを特徴
とする。
前記マイクロコンピュータにおいて、前記主演算部と周
辺制御部と記憶手段は同一チップ化していることを特徴
とする。
【００３５】また、本発明のマイクロコンピュータのア
クセス速度制御方法は、前記マイクロコンピュータのア
クセス速度制御方法において、前記主演算部と周辺制御
部と記憶手段は同一チップ化することを特徴とする。
クセス速度制御方法は、前記マイクロコンピュータのア
クセス速度制御方法において、前記主演算部と周辺制御
部と記憶手段は同一チップ化することを特徴とする。
【００３６】従って、このマイクロコンピュータ及びそ
のアクセス速度制御方法によれば、主演算部と周辺制御
部と記憶手段とを同一チップ化したため、この同一チッ
プ化した各部が確実に放射線により同一方向に劣化、変
化するようになり、確実に上記の作用・効果を得ること
ができる。
のアクセス速度制御方法によれば、主演算部と周辺制御
部と記憶手段とを同一チップ化したため、この同一チッ
プ化した各部が確実に放射線により同一方向に劣化、変
化するようになり、確実に上記の作用・効果を得ること
ができる。
【図１】本発明の実施の形態に係る耐放射線性マイクロ
コンピュータの本体部の機能ブロック図である。
コンピュータの本体部の機能ブロック図である。
【図２】前記マイクロコンピュータの本体部の構成図で
ある。
ある。
【図３】前記マイクロコンピュータの全体構成図であ
る。
る。
【図４】放射線総量とＣＰＵ部／各回路部間のウェイト
時間との関係図である。
時間との関係図である。
【図５】従来のマイクロコンピュータの使用例を示す説
明図である。
明図である。
１１ ＣＰＵ部 １２ メモリ部 １３ 各種回路インターフェイス部 ２１ 放射線検出素子
フロントページの続き (72)発明者 河村 陽 東京都千代田区丸の内二丁目５番１号 三 菱重工業株式会社内 (72)発明者 黒田 能克 愛知県小牧市大字東田中1200番地 三菱重 工業株式会社名古屋誘導推進システム製作 所内
Claims (4)
- 【請求項１】 主演算部と、周辺制御部と、記憶手段と
を有するマイクロコンピュータであって、 マイクロコンピュータが受ける放射線量を測定する放射
線測定手段と、 予め試験により設定したテーブルデータを有する記憶手
段と、 前記放射線測定手段により測定した放射線量と前記記憶
手段のテーブルデータとによりアクセス速度を制御する
主演算部とを有することを特徴とするマイクロコンピュ
ータ。 - 【請求項２】 主演算部と、周辺制御部と、記憶手段と
を有するマイクロコンピュータのアクセス速度制御方法
であって、 放射線測定手段によりマイクロコンピュータが受ける放
射線量を測定し、この測定した放射線量と予め試験によ
り設定して記憶手段に記憶させたテーブルデータとによ
り、主演算部においてアクセス速度を制御することを特
徴とするマイクロコンピュータのアクセス速度制御方
法。 - 【請求項３】 請求項１に記載するマイクロコンピュー
タにおいて、 前記主演算部と周辺制御部と記憶手段は同一チップ化し
ていることを特徴とするマイクロコンピュータ。 - 【請求項４】 請求項２に記載するマイクロコンピュー
タのアクセス速度制御方法において、 前記主演算部と周辺制御部と記憶手段は同一チップ化す
ることを特徴とするマイクロコンピュータのアクセス速
度制御方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9313253A JPH11148975A (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | マイクロコンピュータ及びそのアクセス速度制御方法 |
| CA002252989A CA2252989C (en) | 1997-11-14 | 1998-11-06 | Microcomputer and its access speed control method |
| EP98121500A EP0919913B1 (en) | 1997-11-14 | 1998-11-12 | Microcomputer and its access speed control method |
| DE69801145T DE69801145T2 (de) | 1997-11-14 | 1998-11-12 | Mikrorechner und Verfahren zur Steuerung seiner Zugriffsgeschwindigkeit |
| US09/191,377 US6275747B1 (en) | 1997-11-14 | 1998-11-13 | Microcomputer and its access speed control method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9313253A JPH11148975A (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | マイクロコンピュータ及びそのアクセス速度制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11148975A true JPH11148975A (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=18038981
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9313253A Pending JPH11148975A (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | マイクロコンピュータ及びそのアクセス速度制御方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6275747B1 (ja) |
| EP (1) | EP0919913B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11148975A (ja) |
| CA (1) | CA2252989C (ja) |
| DE (1) | DE69801145T2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2785713B1 (fr) * | 1998-11-10 | 2000-12-08 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de commande d'unites de levage et de telemanipulation placees en enceinte confinee |
| US6442437B1 (en) * | 1999-06-22 | 2002-08-27 | Mustek Systems Inc. | Method for step motor control |
| US7372942B2 (en) * | 2004-03-29 | 2008-05-13 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Medical imaging system with dosimetry for estimating circuit board life |
| US7509541B2 (en) * | 2004-06-24 | 2009-03-24 | Intel Corporation | Detection mechanism |
| SE0600056L (sv) * | 2006-01-13 | 2007-07-14 | Tomas Unfors | Arrangemang och anordning för avkänning och presentation av strålning |
| US7550730B1 (en) | 2008-04-08 | 2009-06-23 | International Business Machines Corporation | Method for detecting alpha particles in SOI technology |
| US7875854B2 (en) * | 2008-04-08 | 2011-01-25 | International Business Machines Corporation | Design structure for alpha particle sensor in SOI technology and structure thereof |
| US9690578B2 (en) * | 2013-02-20 | 2017-06-27 | Intel Corporation | High dose radiation detector |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4433380A (en) * | 1975-11-25 | 1984-02-21 | Philips Medical Systems, Inc. | Tomographic scanner |
| US4670892A (en) * | 1977-11-15 | 1987-06-02 | Philips Medical Systems, Inc. | Method and apparatus for computed tomography of portions of a body plane |
| DE3123685A1 (de) * | 1980-06-19 | 1982-03-18 | Fuji Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa | Verfahren zur wanddicken-messung von rohrfoermigen gegenstaenden |
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| US5022027A (en) * | 1982-05-27 | 1991-06-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Communications interface and system for radiation recovery of a microprocessor portion thereof |
| US4572954A (en) * | 1984-06-11 | 1986-02-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Radiation measuring system using transister flux sensors |
| JPS62228962A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-07 | Toshiba Corp | 計数率計 |
| US4733383A (en) * | 1986-09-16 | 1988-03-22 | Waterbury Nelson J | Combined digital and analog timepiece and radiation monitor assembly |
| JPH04332009A (ja) | 1991-05-07 | 1992-11-19 | Fuji Electric Co Ltd | 計算機システムの温度異常検出方式 |
| JPH05282168A (ja) | 1992-03-30 | 1993-10-29 | Hitachi Ltd | フォールトトレラントコンピュータ |
| SE501709C2 (sv) * | 1993-09-09 | 1995-05-02 | Unfors Instr Ab | Metod och instrument för mätning av röntgenstrålning |
| JPH08180678A (ja) * | 1994-12-27 | 1996-07-12 | Hitachi Ltd | ダイナミック型ｒａｍ |
| JPH0951251A (ja) * | 1995-08-08 | 1997-02-18 | Sony Corp | 受信機 |
| JPH10144878A (ja) | 1996-11-06 | 1998-05-29 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置およびその製造方法 |
| JP3170221B2 (ja) | 1997-05-13 | 2001-05-28 | 核燃料サイクル開発機構 | 半導体放射線検出素子 |
-
1997
- 1997-11-14 JP JP9313253A patent/JPH11148975A/ja active Pending
-
1998
- 1998-11-06 CA CA002252989A patent/CA2252989C/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-11-12 DE DE69801145T patent/DE69801145T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-12 EP EP98121500A patent/EP0919913B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-13 US US09/191,377 patent/US6275747B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69801145T2 (de) | 2002-03-21 |
| DE69801145D1 (de) | 2001-08-23 |
| EP0919913A1 (en) | 1999-06-02 |
| US6275747B1 (en) | 2001-08-14 |
| CA2252989A1 (en) | 1999-05-14 |
| EP0919913B1 (en) | 2001-07-18 |
| CA2252989C (en) | 2002-06-11 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
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