JPH1051401A - 光ファイバ線路の障害位置検出装置 - Google Patents
光ファイバ線路の障害位置検出装置Info
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- JPH1051401A JPH1051401A JP8205677A JP20567796A JPH1051401A JP H1051401 A JPH1051401 A JP H1051401A JP 8205677 A JP8205677 A JP 8205677A JP 20567796 A JP20567796 A JP 20567796A JP H1051401 A JPH1051401 A JP H1051401A
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- G01M11/39—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is projected from both sides of the fiber or waveguide end-face
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 障害点の検出精度を上げる。
【解決手段】 光ファイバ線路10に、信号波長λsと
は異なる波長λ1を反射する光ファイバ・グレーティン
グ10aを適当な間隔及び位置に配置する。信号光の波
長λsは、グレーティング10aにより反射されずに、
光ファイバ線路10を伝送する。光パルス試験器14
は、信号波長λsとは異なる波長λ0,λ1のプローブ
・パルス光を時間的に前後して出力する。波長λ0,λ
1のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路10に入力し、光ファイバ線路10を伝送する。波
長λ1のプローブ光の反射光は、グレーティング10a
による反射パルスを含み、それが位置基準となる。波長
λ0のプローブ光は、グレーティング10aによる反射
を含まない。光パルス試験器14で、波長λ0,λ1の
反射光を相互比較することにより、障害の有無と位置を
高精度に検出できる。
は異なる波長λ1を反射する光ファイバ・グレーティン
グ10aを適当な間隔及び位置に配置する。信号光の波
長λsは、グレーティング10aにより反射されずに、
光ファイバ線路10を伝送する。光パルス試験器14
は、信号波長λsとは異なる波長λ0,λ1のプローブ
・パルス光を時間的に前後して出力する。波長λ0,λ
1のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路10に入力し、光ファイバ線路10を伝送する。波
長λ1のプローブ光の反射光は、グレーティング10a
による反射パルスを含み、それが位置基準となる。波長
λ0のプローブ光は、グレーティング10aによる反射
を含まない。光パルス試験器14で、波長λ0,λ1の
反射光を相互比較することにより、障害の有無と位置を
高精度に検出できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバ線路の
障害位置検出装置に関する。
障害位置検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ファイバ通信システムの光ファイバ線
路を監視・保守する手段として、光パルス試験器が広く
使用されている。光パルス試験器は、光ファイバの長手
方向距離に対する損失分布などが測定できる装置であ
り、局部的な損失増加や破断障害などを検出できる。光
パルス試験器は、周期的に発生させた短光パルスを光フ
ァイバに入射して、光ファイバ上でこの短光パルスによ
って発生するレーリ後方散乱光の光強度を時間軸上で観
測することによって、距離に対する損失を測定するもの
である。詳細は、例えば、オーム社発行の「光ファイ
バ」12.4項に説明されている。
路を監視・保守する手段として、光パルス試験器が広く
使用されている。光パルス試験器は、光ファイバの長手
方向距離に対する損失分布などが測定できる装置であ
り、局部的な損失増加や破断障害などを検出できる。光
パルス試験器は、周期的に発生させた短光パルスを光フ
ァイバに入射して、光ファイバ上でこの短光パルスによ
って発生するレーリ後方散乱光の光強度を時間軸上で観
測することによって、距離に対する損失を測定するもの
である。詳細は、例えば、オーム社発行の「光ファイ
バ」12.4項に説明されている。
【0003】図9、図10及び図11は、従来の基本的
な光通信システムの概略構成ブロック図を示す。これら
は、光パルス試験器と光ファイバ線路との接続方法が異
なる。A局を光送信端局として光送信装置110を設
け、B局を光受信端局として光受信装置112を設け、
A局及びBにそれぞれ光パルス試験器114,116を
設ける。118は、光ファイバ線路である。
な光通信システムの概略構成ブロック図を示す。これら
は、光パルス試験器と光ファイバ線路との接続方法が異
なる。A局を光送信端局として光送信装置110を設
け、B局を光受信端局として光受信装置112を設け、
A局及びBにそれぞれ光パルス試験器114,116を
設ける。118は、光ファイバ線路である。
【0004】図9では、A局側の、光ファイバ線路11
8の端部118aに、光送信装置110の出力端と、光
パルス試験器114の入出力端とを選択的に接続できる
ようにし、他方、B局側の、光ファイバ線路118の別
の端部118bは、光受信装置110の入力端と、光パ
ルス試験器116の入出力端に選択的に接続できるよう
にしている。通常は、光ファイバ線路118の端部11
8aと端部118bをそれぞれ光送信装置110の出力
端及び光受信装置112の入力端に接続しておき、試験
が必要になったときに、光ファイバ線路118の端部1
18aに光パルス試験器114の入出力端を接続する
か、光ファイバ線路118の端部118bに光パルス試
験器116の入出力端を接続する。
8の端部118aに、光送信装置110の出力端と、光
パルス試験器114の入出力端とを選択的に接続できる
ようにし、他方、B局側の、光ファイバ線路118の別
の端部118bは、光受信装置110の入力端と、光パ
ルス試験器116の入出力端に選択的に接続できるよう
にしている。通常は、光ファイバ線路118の端部11
8aと端部118bをそれぞれ光送信装置110の出力
端及び光受信装置112の入力端に接続しておき、試験
が必要になったときに、光ファイバ線路118の端部1
18aに光パルス試験器114の入出力端を接続する
か、光ファイバ線路118の端部118bに光パルス試
験器116の入出力端を接続する。
【0005】図10では、光合分波器120,122に
より光パルス試験器114,116を常時、光ファイバ
線路118に接続する。これにより、図9におけるよう
な接続の切り替えをしなくても、必要時に即座に試験す
ることができる。また、光パルス試験器114,116
の出力光を、光送信装置110の出力光の波長とは異な
る波長帯にすることにより、信号伝送しながら、光ファ
イバ線路118を測定できるという利点がある。
より光パルス試験器114,116を常時、光ファイバ
線路118に接続する。これにより、図9におけるよう
な接続の切り替えをしなくても、必要時に即座に試験す
ることができる。また、光パルス試験器114,116
の出力光を、光送信装置110の出力光の波長とは異な
る波長帯にすることにより、信号伝送しながら、光ファ
イバ線路118を測定できるという利点がある。
【0006】図11は、複数の光ファイバ線路が設けら
れている場合に、光パルス試験器114,116を有効
に活用できるようにしたものであり、光スイッチ12
4,126により光パルス試験器114,116の出力
光(及び反射光)を目的の光ファイバ線路(につながる
光合分波器)に接続するようにしている。
れている場合に、光パルス試験器114,116を有効
に活用できるようにしたものであり、光スイッチ12
4,126により光パルス試験器114,116の出力
光(及び反射光)を目的の光ファイバ線路(につながる
光合分波器)に接続するようにしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】光パルス試験器は、前
述のように、時間軸上で光強度を観測するものであるか
ら、時間軸を距離に換算する必要がある。パルス送出時
からの時間tに対する距離Lは、 L=ct/2n で表される。ここで、cは光速、nは光ファイバの群屈
折率と呼ばれ、光ファイバ中を光信号が進む時の伝搬速
度に関わる係数である。群屈折率nは、光ファイバの設
計パラメータや材料などに依存している。一般に、1.
3ミクロン帯にゼロ分散波長を有する光ファイバでは
1.460〜1.465程度、1.55ミクロン帯にゼ
ロ分散波長をシフトさせた光ファイバでは1.470〜
1.475程度である。
述のように、時間軸上で光強度を観測するものであるか
ら、時間軸を距離に換算する必要がある。パルス送出時
からの時間tに対する距離Lは、 L=ct/2n で表される。ここで、cは光速、nは光ファイバの群屈
折率と呼ばれ、光ファイバ中を光信号が進む時の伝搬速
度に関わる係数である。群屈折率nは、光ファイバの設
計パラメータや材料などに依存している。一般に、1.
3ミクロン帯にゼロ分散波長を有する光ファイバでは
1.460〜1.465程度、1.55ミクロン帯にゼ
ロ分散波長をシフトさせた光ファイバでは1.470〜
1.475程度である。
【0008】従って、極めて優れた時間精度を有してい
ても、群屈折率nの誤差が、距離の誤差(不確定性)と
なる。観測点の距離が遠くなるほぼ絶対的な誤差が大き
くなり、上記パラメータでは100kmで約340mも
の誤差が生じるとが考えられる。群屈折率nは光ファイ
バ毎に異なることので、光ファイバ線路を構成する光フ
ァイバの1本1本についてこれを管理することも可能で
あるが、データ処理が複雑となり、現実的でない。更
に、布設ルートが変更された場合、それ以前の測定デー
タと比較できないので、実際の布設位置との誤差が大き
くなる。
ても、群屈折率nの誤差が、距離の誤差(不確定性)と
なる。観測点の距離が遠くなるほぼ絶対的な誤差が大き
くなり、上記パラメータでは100kmで約340mも
の誤差が生じるとが考えられる。群屈折率nは光ファイ
バ毎に異なることので、光ファイバ線路を構成する光フ
ァイバの1本1本についてこれを管理することも可能で
あるが、データ処理が複雑となり、現実的でない。更
に、布設ルートが変更された場合、それ以前の測定デー
タと比較できないので、実際の布設位置との誤差が大き
くなる。
【0009】例えば、光ファイバ・ケーブルが鉄道や道
路等の側溝などに布設されるとする。布設後は側溝に蓋
がされ外部の影響から保護され、この区間に障害が発生
しても、地形外観の目視では確認できない。その場合、
測定誤差を考慮して、前後の広い範囲で側溝の蓋をはが
して点検を行することになる。また高速道路等に布設さ
れている場合、障害箇所の確認作業に伴い広範囲な車線
規制等の措置が必要となる。埋設ケーブルではその作業
が更に困難になることは言うまでもない。
路等の側溝などに布設されるとする。布設後は側溝に蓋
がされ外部の影響から保護され、この区間に障害が発生
しても、地形外観の目視では確認できない。その場合、
測定誤差を考慮して、前後の広い範囲で側溝の蓋をはが
して点検を行することになる。また高速道路等に布設さ
れている場合、障害箇所の確認作業に伴い広範囲な車線
規制等の措置が必要となる。埋設ケーブルではその作業
が更に困難になることは言うまでもない。
【0010】また、市街地では光ファイバ・ケーブルが
道路下の管路などに布設されるため、公共道路に設けら
れたマンホールに立ち入って検査する必要が生じる。マ
ンホールの間隔は最短の場合100m程度となることが
あるが、障害点位置の測定誤差が前述のように340m
程度あると、障害箇所に近いマンホールを特定すること
ができず、例えば4カ所のマンホールから障害箇所を探
す必要が生じる。しかし、公共道路での作業は交通渋滞
など交通網に著しい影響を与えてしまう。
道路下の管路などに布設されるため、公共道路に設けら
れたマンホールに立ち入って検査する必要が生じる。マ
ンホールの間隔は最短の場合100m程度となることが
あるが、障害点位置の測定誤差が前述のように340m
程度あると、障害箇所に近いマンホールを特定すること
ができず、例えば4カ所のマンホールから障害箇所を探
す必要が生じる。しかし、公共道路での作業は交通渋滞
など交通網に著しい影響を与えてしまう。
【0011】このように、従来例の精度では、障害位置
を確認する作業に多くの作業工数とコストがかかる。そ
の結果、通信復旧までに長い時間がかかってしまう。公
共交通網に付随して又は隣接して布設されている光ファ
イバ・ケーブルの場合、その交通網に与える影響が大き
すぎる。
を確認する作業に多くの作業工数とコストがかかる。そ
の結果、通信復旧までに長い時間がかかってしまう。公
共交通網に付随して又は隣接して布設されている光ファ
イバ・ケーブルの場合、その交通網に与える影響が大き
すぎる。
【0012】本発明は、このような問題点を解決し、障
害位置をより高い精度で検出できる光ファイバ線路の障
害位置検出装置を提示することを目的とする。
害位置をより高い精度で検出できる光ファイバ線路の障
害位置検出装置を提示することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明では、光ファイバ
線路の1カ所以上に信号波長とは異なる波長を反射する
反射手段を配置する。反射手段は例えば、光ファイバ・
グレーティングである。その反射手段の反射波長に合致
する波長のプローブ・パルス光を入射して、その反射光
から反射手段の設置位置に対応する基準点を検出する。
これにより、複数の距離基準を得ることができ、時間か
ら距離への換算精度が向上する。即ち、設置場所が明確
な反射手段からの反射光を距離マーカにして、そのマー
カから後方散乱光の異常点(障害点)までの位置を測定
すればよい。
線路の1カ所以上に信号波長とは異なる波長を反射する
反射手段を配置する。反射手段は例えば、光ファイバ・
グレーティングである。その反射手段の反射波長に合致
する波長のプローブ・パルス光を入射して、その反射光
から反射手段の設置位置に対応する基準点を検出する。
これにより、複数の距離基準を得ることができ、時間か
ら距離への換算精度が向上する。即ち、設置場所が明確
な反射手段からの反射光を距離マーカにして、そのマー
カから後方散乱光の異常点(障害点)までの位置を測定
すればよい。
【0014】反射手段の反射波長及び信号波長のどちら
とも異なる波長のプローブ・パルス光を使用すること
で、反射手段に影響されずに、光ファイバ線路のレーリ
後方散乱の時間変化、即ち、距離に関する微細な変化を
調べることができ、各部の様子と障害の位置をより高精
度に調べることができる。反射手段の反射波長と同じ波
長のプローブ・パルス光でも、障害の有無と程度及びそ
の位置を検出できるが、反射手段の影響がある。反射手
段の反射波長とも異なる波長のプローブ・パルス光を用
いることにより、反射手段の影響をなくすことができ
る。
とも異なる波長のプローブ・パルス光を使用すること
で、反射手段に影響されずに、光ファイバ線路のレーリ
後方散乱の時間変化、即ち、距離に関する微細な変化を
調べることができ、各部の様子と障害の位置をより高精
度に調べることができる。反射手段の反射波長と同じ波
長のプローブ・パルス光でも、障害の有無と程度及びそ
の位置を検出できるが、反射手段の影響がある。反射手
段の反射波長とも異なる波長のプローブ・パルス光を用
いることにより、反射手段の影響をなくすことができ
る。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を詳細に説明する。
実施の形態を詳細に説明する。
【0016】図1は、本発明の一実施例の概略構成ブロ
ック図を示す。送信局Aと受信局Bとの間の光ファイバ
線路10には、信号波長λsとは異なる波長λ1を反射
する光ファイバ・グレーティング10a,10a,10
a,10aを適当な間隔及び位置に配置してある。
ック図を示す。送信局Aと受信局Bとの間の光ファイバ
線路10には、信号波長λsとは異なる波長λ1を反射
する光ファイバ・グレーティング10a,10a,10
a,10aを適当な間隔及び位置に配置してある。
【0017】送信局Aは、波長λsの信号伝送光を発生
する光送信装置12、信号波長λsとは異なる波長λ
0,λ1のプローブ・パルス光を発生し、その反射光強
度を時間軸上で測定するする光パルス試験器14及び、
光送信装置12の出力光を光ファイバ線路10に入射
し、光パルス試験器14が出力するプローブ光を光ファ
イバ線路10に入射すると共に、光ファイバ線路10上
での反射光を光パルス試験器14に入力する光合分波器
16を具備する。光合分波器16は、図示したように、
機能的にはハーフ・ミラーからなる。
する光送信装置12、信号波長λsとは異なる波長λ
0,λ1のプローブ・パルス光を発生し、その反射光強
度を時間軸上で測定するする光パルス試験器14及び、
光送信装置12の出力光を光ファイバ線路10に入射
し、光パルス試験器14が出力するプローブ光を光ファ
イバ線路10に入射すると共に、光ファイバ線路10上
での反射光を光パルス試験器14に入力する光合分波器
16を具備する。光合分波器16は、図示したように、
機能的にはハーフ・ミラーからなる。
【0018】受信局Bも、信号光の送信と受信という違
いを除いて、基本的には送信局Aと同様の構成からな
り、光ファイバ線路10を伝送してきた信号光を受信す
る光受信装置18、光パルス試験器14と同様に波長λ
0,λ1のプローブ光を発生し、その反射光強度を時間
軸上で測定するする光パルス試験器20及び、光ファイ
バ線路10を伝送してきた信号光を光受信装置18に入
射し、光パルス試験器20が出力するプローブ光を光フ
ァイバ線路10に入射すると共に、光ファイバ線路10
上での反射光を光パルス試験器20に入力する光合分波
器22を具備する。
いを除いて、基本的には送信局Aと同様の構成からな
り、光ファイバ線路10を伝送してきた信号光を受信す
る光受信装置18、光パルス試験器14と同様に波長λ
0,λ1のプローブ光を発生し、その反射光強度を時間
軸上で測定するする光パルス試験器20及び、光ファイ
バ線路10を伝送してきた信号光を光受信装置18に入
射し、光パルス試験器20が出力するプローブ光を光フ
ァイバ線路10に入射すると共に、光ファイバ線路10
上での反射光を光パルス試験器20に入力する光合分波
器22を具備する。
【0019】パルス試験器14,20の発生するプロー
ブ光の波長λ0,λ1は、信号伝送の波長λsとは異な
る波長とする。なお、波長分割多重方式の場合、信号伝
送の波長λsは複数の波長からなる波長帯を意味する。
ブ光の波長λ0,λ1は、信号伝送の波長λsとは異な
る波長とする。なお、波長分割多重方式の場合、信号伝
送の波長λsは複数の波長からなる波長帯を意味する。
【0020】光ファイバ線路10の光ファイバ・グレー
ティング10aは、光ファイバの接続点など、目標とな
る場所に設置する。例えば、融着接続点を収容するクロ
ージャーなどが好ましい。光ファイバ・グレーティング
10aの反射率は、1%〜10%程度が適当である。ま
た、光ファイバの融着接続用の余長部分に予め光ファイ
バ・グレーティング10aを形成しておくことで、接続
箇所を減らし、伝送損失を改善できる。光ファイバ・グ
レーティング10aの反射波長λ1を、伝送信号波長
(又は波長帯)λs以外の波長としているので、光ファ
イバ・グレーティング10aは信号伝送光を減衰させな
くなり、伝送中(インサービス)でも、障害点を測定で
きるようになる。
ティング10aは、光ファイバの接続点など、目標とな
る場所に設置する。例えば、融着接続点を収容するクロ
ージャーなどが好ましい。光ファイバ・グレーティング
10aの反射率は、1%〜10%程度が適当である。ま
た、光ファイバの融着接続用の余長部分に予め光ファイ
バ・グレーティング10aを形成しておくことで、接続
箇所を減らし、伝送損失を改善できる。光ファイバ・グ
レーティング10aの反射波長λ1を、伝送信号波長
(又は波長帯)λs以外の波長としているので、光ファ
イバ・グレーティング10aは信号伝送光を減衰させな
くなり、伝送中(インサービス)でも、障害点を測定で
きるようになる。
【0021】本実施例の動作を説明する。光送信装置1
2は信号光を発生し、その信号光は、光合分波器16を
介して光ファイバ線路10に入力し、光ファイバ線路1
0を伝送する。信号光の波長λsは、光ファイバ・グレ
ーティング10aの反射波長λ1とは異なるので、光フ
ァイバ線路10を伝送する間、信号光は、光ファイバ・
グレーティング10aによっても反射されず、減衰しな
い。光ファイバ線路10から出力される信号光は、受信
局Bの光合分波器22を経由して光受信装置18に入力
し、受信処理される。
2は信号光を発生し、その信号光は、光合分波器16を
介して光ファイバ線路10に入力し、光ファイバ線路1
0を伝送する。信号光の波長λsは、光ファイバ・グレ
ーティング10aの反射波長λ1とは異なるので、光フ
ァイバ線路10を伝送する間、信号光は、光ファイバ・
グレーティング10aによっても反射されず、減衰しな
い。光ファイバ線路10から出力される信号光は、受信
局Bの光合分波器22を経由して光受信装置18に入力
し、受信処理される。
【0022】また、光パルス試験器14は、波長λ0,
λ1のプローブ・パルス光を時間的に前後して出力す
る。勿論、波長λ0,λ1のプローブ・パルス光を時間
的に同時に出力してもよいが、その場合、各波長λ0,
λ1の反射光を分離する分離光素子、分離光を個別に受
光する受光素子及び各受光素子の出力を処理する信号処
理回路を光パルス試験器14内に設ける必要がある。
λ1のプローブ・パルス光を時間的に前後して出力す
る。勿論、波長λ0,λ1のプローブ・パルス光を時間
的に同時に出力してもよいが、その場合、各波長λ0,
λ1の反射光を分離する分離光素子、分離光を個別に受
光する受光素子及び各受光素子の出力を処理する信号処
理回路を光パルス試験器14内に設ける必要がある。
【0023】光パルス試験器14から出力された波長λ
1のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路10に入力し、光ファイバ線路10を伝送する。波
長λ1のプローブ光は、光ファイバ線路10を伝送する
間に、光ファイバ・グレーティング10aにより一部を
反射され、減衰する。各光ファイバ・グレーティング1
0aによる反射光及び光ファイバ線路10のレーリ後方
散乱光は、光ファイバ線路10を送信局Aに向けて逆に
進行し、光合分波器16を介して光パルス試験器14に
入力する。光パルス試験器14は、入力した反射光を、
縦軸を反射光強度、横軸を時間軸として図形表示(及び
/又は印刷出力)する。
1のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路10に入力し、光ファイバ線路10を伝送する。波
長λ1のプローブ光は、光ファイバ線路10を伝送する
間に、光ファイバ・グレーティング10aにより一部を
反射され、減衰する。各光ファイバ・グレーティング1
0aによる反射光及び光ファイバ線路10のレーリ後方
散乱光は、光ファイバ線路10を送信局Aに向けて逆に
進行し、光合分波器16を介して光パルス試験器14に
入力する。光パルス試験器14は、入力した反射光を、
縦軸を反射光強度、横軸を時間軸として図形表示(及び
/又は印刷出力)する。
【0024】光パルス試験器14から出力された波長λ
0のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路10に入力し、光ファイバ線路10を伝送する。波
長λ0のプローブ光は、光ファイバ線路10の光ファイ
バ・グレーティング10aによっても反射されない。従
って、光ファイバ線路10のレーリ後方散乱による反射
光のみが、光ファイバ線路10を送信局Aに向けて逆に
進行し、光合分波器16を介して光パルス試験器14に
入力する。光パルス試験器14は、波長λ1のときと同
様に、入力した反射光を、縦軸を反射光強度、横軸を時
間軸として図形表示(及び/又は印刷出力)する。
0のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路10に入力し、光ファイバ線路10を伝送する。波
長λ0のプローブ光は、光ファイバ線路10の光ファイ
バ・グレーティング10aによっても反射されない。従
って、光ファイバ線路10のレーリ後方散乱による反射
光のみが、光ファイバ線路10を送信局Aに向けて逆に
進行し、光合分波器16を介して光パルス試験器14に
入力する。光パルス試験器14は、波長λ1のときと同
様に、入力した反射光を、縦軸を反射光強度、横軸を時
間軸として図形表示(及び/又は印刷出力)する。
【0025】λ1のプローブ光による測定結果と、λ0
のプローブ光による測定結果は、モニタ画面上(又は印
刷用紙上)で、同じ時間軸上に併記される。これによ
り、後述するように、障害点位置をより精度良く検出で
きる。
のプローブ光による測定結果は、モニタ画面上(又は印
刷用紙上)で、同じ時間軸上に併記される。これによ
り、後述するように、障害点位置をより精度良く検出で
きる。
【0026】光パルス試験器20による検査も、光パル
ス試験器14の場合と同じである。
ス試験器14の場合と同じである。
【0027】図2は、光パルス試験器14,20による
測定結果を示す。図2(1)は波長λ1のプローブ光に
よる測定例を示し、同(2)は波長λ0のプローブ光に
よる測定例を示す。共に、横軸は距離(プローブ光を出
力してからの時間)、縦軸は反射光強度である。
測定結果を示す。図2(1)は波長λ1のプローブ光に
よる測定例を示し、同(2)は波長λ0のプローブ光に
よる測定例を示す。共に、横軸は距離(プローブ光を出
力してからの時間)、縦軸は反射光強度である。
【0028】図2(1)に示すように、波長λ1のプロ
ーブ光は、光ファイバ・グレーティング10aにより反
射されるので、反射光強度は、光ファイバ・グレーティ
ング10aの存在する位置で強くなる。光ファイバ・グ
レーティング10aの位置は既知であるので、強い反射
光強度が位置のマーカM1〜M5になる。他方、図2
(2)に示すように、波長λ0のプローブ光は、光ファ
イバ・グレーティング10aにより反射されないので、
その反射光強度は、光ファイバ線路10の状況を反映し
たものになり、通常は、距離に応じて減衰し、障害点で
その障害の程度に応じて強くなる。
ーブ光は、光ファイバ・グレーティング10aにより反
射されるので、反射光強度は、光ファイバ・グレーティ
ング10aの存在する位置で強くなる。光ファイバ・グ
レーティング10aの位置は既知であるので、強い反射
光強度が位置のマーカM1〜M5になる。他方、図2
(2)に示すように、波長λ0のプローブ光は、光ファ
イバ・グレーティング10aにより反射されないので、
その反射光強度は、光ファイバ線路10の状況を反映し
たものになり、通常は、距離に応じて減衰し、障害点で
その障害の程度に応じて強くなる。
【0029】λ1のみでも、障害位置を検出できるが、
光ファイバ・グレーティング10aによる反射と、亀裂
又は破断などによる反射とを識別を容易にするには、光
ファイバ・グレーティング10aの反射波長λ1とは異
なる波長λ0でも障害を測定するのが好ましい。
光ファイバ・グレーティング10aによる反射と、亀裂
又は破断などによる反射とを識別を容易にするには、光
ファイバ・グレーティング10aの反射波長λ1とは異
なる波長λ0でも障害を測定するのが好ましい。
【0030】波長λ2のプローブ光の反射光強度の強く
なった位置(時間)を、波長λ1のプローブ光の反射光
によるマーカM1〜M5の位置(時間)と対比すること
により、障害点位置をより高精度に確定できる。マーカ
M1〜M5の位置は既知であるから、近くのマーカ点か
らの距離を求めることで、距離誤差を小さく出来る。
なった位置(時間)を、波長λ1のプローブ光の反射光
によるマーカM1〜M5の位置(時間)と対比すること
により、障害点位置をより高精度に確定できる。マーカ
M1〜M5の位置は既知であるから、近くのマーカ点か
らの距離を求めることで、距離誤差を小さく出来る。
【0031】光パルス試験器14,20が障害点位置ま
での距離を自動計算する機能を具備する場合、マーカM
1〜M5の位置、即ち、光ファイバ・グレーティング1
0aの設置位置を入力できるようにするのが好ましい。
入力されたマーカ位置により、従来よりも精度良く障害
点位置(までの距離)を算出できる。
での距離を自動計算する機能を具備する場合、マーカM
1〜M5の位置、即ち、光ファイバ・グレーティング1
0aの設置位置を入力できるようにするのが好ましい。
入力されたマーカ位置により、従来よりも精度良く障害
点位置(までの距離)を算出できる。
【0032】図3は、マーカM2,M3間に障害が発生
した場合の、本実施例の測定例を示す。図3(1)はマ
ーカM1〜M5の位置を示し、同(2)は、波長λ1の
プローブ・パルス光による測定波形を示す。マーカM1
〜M5は波長λ1を反射する反射素子からなる。障害点
でフレネル反射があり、直近のマーカM2とそのフレネ
ル反射光との距離を算出すれば、障害点の位置を高精度
に決定できる。この場合には、波長λ1のみで障害点の
位置を高精度に測定できる。
した場合の、本実施例の測定例を示す。図3(1)はマ
ーカM1〜M5の位置を示し、同(2)は、波長λ1の
プローブ・パルス光による測定波形を示す。マーカM1
〜M5は波長λ1を反射する反射素子からなる。障害点
でフレネル反射があり、直近のマーカM2とそのフレネ
ル反射光との距離を算出すれば、障害点の位置を高精度
に決定できる。この場合には、波長λ1のみで障害点の
位置を高精度に測定できる。
【0033】図4は、マーカM2に重なって又は非常に
近接して障害が発生した場合の本実施例の測定例を示
す。図4(1)はマーカM1〜M5の位置、同(2)
は、波長λ1のプローブ・パルス光による測定波形、同
(3)は、波長λ0のプローブ・パルス光による測定波
形をそれぞれ示す。波長λ1のプローブ・パルス光によ
る測定では、図4(2)にも示すように、マーカM2の
反射光と障害点のフレネル反射光が実質的に重なってし
まい、両者を識別できない。しかし、波長λ0のプロー
ブ・パルス光による測定では、図4(3)に示すよう
に、マーカM1〜M5による反射光が存在しなくなり、
障害点のフレネル反射光が顕著になるので、障害点を明
確に識別できる。波長λ0,λ1のプローブ・パルス光
による測定を対比することで、障害点かマーカM1〜M
5かを識別でき、障害点の位置を精度良く決定できる。
近接して障害が発生した場合の本実施例の測定例を示
す。図4(1)はマーカM1〜M5の位置、同(2)
は、波長λ1のプローブ・パルス光による測定波形、同
(3)は、波長λ0のプローブ・パルス光による測定波
形をそれぞれ示す。波長λ1のプローブ・パルス光によ
る測定では、図4(2)にも示すように、マーカM2の
反射光と障害点のフレネル反射光が実質的に重なってし
まい、両者を識別できない。しかし、波長λ0のプロー
ブ・パルス光による測定では、図4(3)に示すよう
に、マーカM1〜M5による反射光が存在しなくなり、
障害点のフレネル反射光が顕著になるので、障害点を明
確に識別できる。波長λ0,λ1のプローブ・パルス光
による測定を対比することで、障害点かマーカM1〜M
5かを識別でき、障害点の位置を精度良く決定できる。
【0034】光ファイバ線路上には、異なる波長を反射
する反射素子をそれぞれ複数配置してもよい。図5は、
その実施例の概略構成ブロック図を示す。送信局Aと受
信局Bとの間の光ファイバ線路30には、波長λ1を反
射する光ファイバ・グレーティング30a,30a,3
0a、波長λ2を反射する光ファイバ・グレーティング
30b,30b、及び波長λ3を反射する光ファイバ・
グレーティング30cを適当な間隔及び位置に配置して
ある。
する反射素子をそれぞれ複数配置してもよい。図5は、
その実施例の概略構成ブロック図を示す。送信局Aと受
信局Bとの間の光ファイバ線路30には、波長λ1を反
射する光ファイバ・グレーティング30a,30a,3
0a、波長λ2を反射する光ファイバ・グレーティング
30b,30b、及び波長λ3を反射する光ファイバ・
グレーティング30cを適当な間隔及び位置に配置して
ある。
【0035】送信局Aでは、光パルス試験器14の代わ
りに、波長λ0,λ1,λ2,λ3のプローブ・パルス
光を発生し、その反射光強度を時間軸上で測定するする
光パルス試験器32を配置し、受信局Bには、光パルス
試験器20の代わりに、光パルス試験器32と同様に波
長λ0,λ1,λ2,λ3のプローブ・パルス光を発生
し、その反射光強度を時間軸上で測定する光パルス試験
器34を配置する。
りに、波長λ0,λ1,λ2,λ3のプローブ・パルス
光を発生し、その反射光強度を時間軸上で測定するする
光パルス試験器32を配置し、受信局Bには、光パルス
試験器20の代わりに、光パルス試験器32と同様に波
長λ0,λ1,λ2,λ3のプローブ・パルス光を発生
し、その反射光強度を時間軸上で測定する光パルス試験
器34を配置する。
【0036】光パルス試験器32,34の発生するプロ
ーブ光の波長λ0,λ1,λ2,λ3は、信号伝送の波
長λsとは異なる波長とする。なお、波長分割多重方式
の場合、信号伝送の波長λsは複数の波長からなる波長
帯を意味する。
ーブ光の波長λ0,λ1,λ2,λ3は、信号伝送の波
長λsとは異なる波長とする。なお、波長分割多重方式
の場合、信号伝送の波長λsは複数の波長からなる波長
帯を意味する。
【0037】図5の実施例でも、光ファイバ・グレーテ
ィング30a,30b,30cは、光ファイバの接続点
など、目標となる場所に設置する。反射波長が異なる光
ファイバ・グレーティング30a,30b,30cを近
接して、例えば10m程度の距離で配置することによ
り、マーカの精度がより高くなり、結果として、障害点
検出の位置精度が高くなる。光ファイバ・グレーティン
グ30a,30b,30cも、例えば、融着接続点を収
容するクロージャーなどに配置するのが好ましい。光フ
ァイバ・グレーティング30a,30b,30cの反射
率は、1%〜10%程度が適当である。また、光ファイ
バの融着接続用の余長部分に予め光ファイバ・グレーテ
ィング30a,30b,30cを形成しておくことで、
接続箇所を減らし、伝送損失を改善できる。
ィング30a,30b,30cは、光ファイバの接続点
など、目標となる場所に設置する。反射波長が異なる光
ファイバ・グレーティング30a,30b,30cを近
接して、例えば10m程度の距離で配置することによ
り、マーカの精度がより高くなり、結果として、障害点
検出の位置精度が高くなる。光ファイバ・グレーティン
グ30a,30b,30cも、例えば、融着接続点を収
容するクロージャーなどに配置するのが好ましい。光フ
ァイバ・グレーティング30a,30b,30cの反射
率は、1%〜10%程度が適当である。また、光ファイ
バの融着接続用の余長部分に予め光ファイバ・グレーテ
ィング30a,30b,30cを形成しておくことで、
接続箇所を減らし、伝送損失を改善できる。
【0038】光ファイバ・グレーティング30a,30
b,30cの反射波長λ1〜λ3を、伝送信号波長(又
は波長帯)λs以外の波長とすることにより、光ファイ
バ・グレーティング30a,30b,30cが信号伝送
光を減衰させなくなり、伝送中(インサービス)でも、
障害点を測定できるようになる。
b,30cの反射波長λ1〜λ3を、伝送信号波長(又
は波長帯)λs以外の波長とすることにより、光ファイ
バ・グレーティング30a,30b,30cが信号伝送
光を減衰させなくなり、伝送中(インサービス)でも、
障害点を測定できるようになる。
【0039】図5に示す実施例の動作を説明する。信号
光の伝送に関して、光ファイバ線路30の光ファイバ・
グレーティング30a,30b,30cが信号光の波長
λsを反射しないので、図1に示す実施例と同じであ
る。
光の伝送に関して、光ファイバ線路30の光ファイバ・
グレーティング30a,30b,30cが信号光の波長
λsを反射しないので、図1に示す実施例と同じであ
る。
【0040】光パルス試験器32は、波長λ0,λ1,
λ2,λ3のプローブ・パルス光を時間的に前後して出
力する。勿論、波長λ0〜λ3のプローブ・パルス光を
時間的に同時に出力してもよいが、その場合、各波長λ
0〜λ3の反射光を分離する分離光素子と分離光を個別
に受光する受光素子を光パルス試験器32内に設ける必
要がある。
λ2,λ3のプローブ・パルス光を時間的に前後して出
力する。勿論、波長λ0〜λ3のプローブ・パルス光を
時間的に同時に出力してもよいが、その場合、各波長λ
0〜λ3の反射光を分離する分離光素子と分離光を個別
に受光する受光素子を光パルス試験器32内に設ける必
要がある。
【0041】光パルス試験器32から出力された波長λ
1のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路30に入力し、光ファイバ線路30を伝送する。波
長λ1のプローブ光は、光ファイバ線路30を伝送する
間に、光ファイバ・グレーティング30aにより一部を
反射され、減衰する。各光ファイバ・グレーティング3
0aによる反射光及び光ファイバ線路30のレーリ後方
散乱光は、光ファイバ線路30を送信局Aに向けて逆に
進行し、光合分波器16を介して光パルス試験器32に
入力する。光パルス試験器32は、入力した反射光を、
縦軸を反射光強度、横軸を時間軸として図形表示(及び
/又は印刷出力)する。
1のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路30に入力し、光ファイバ線路30を伝送する。波
長λ1のプローブ光は、光ファイバ線路30を伝送する
間に、光ファイバ・グレーティング30aにより一部を
反射され、減衰する。各光ファイバ・グレーティング3
0aによる反射光及び光ファイバ線路30のレーリ後方
散乱光は、光ファイバ線路30を送信局Aに向けて逆に
進行し、光合分波器16を介して光パルス試験器32に
入力する。光パルス試験器32は、入力した反射光を、
縦軸を反射光強度、横軸を時間軸として図形表示(及び
/又は印刷出力)する。
【0042】光パルス試験器32から出力される波長λ
2,λ3のプローブ光も、基本的に波長λ1のプローブ
光と同様である。但し、波長λ2のプローブ光は光ファ
イバ・グレーティング30bにより反射され、波長λ3
のプローブ光は光ファイバ・グレーティング30cによ
り反射される。その反射光強度の時間特性(即ち、距離
特性)が、モニタ画面に図形表示され、及び/又は印刷
出力される。
2,λ3のプローブ光も、基本的に波長λ1のプローブ
光と同様である。但し、波長λ2のプローブ光は光ファ
イバ・グレーティング30bにより反射され、波長λ3
のプローブ光は光ファイバ・グレーティング30cによ
り反射される。その反射光強度の時間特性(即ち、距離
特性)が、モニタ画面に図形表示され、及び/又は印刷
出力される。
【0043】光パルス試験器32から出力された波長λ
0のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路30に入力し、光ファイバ線路30を伝送する。波
長λ0のプローブ光は、光ファイバ線路30のどの光フ
ァイバ・グレーティング30a,30b,30cによっ
ても反射されない。従って、光ファイバ線路30のレー
リ後方散乱による反射光のみが、光ファイバ線路30を
送信局Aに向けて逆に進行し、光合分波器16を介して
光パルス試験器32に入力する。光パルス試験器32
は、その反射光強度の時間特性(即ち、距離特性)をモ
ニタ画面に図形表示(及び/又は印刷出力)する。
0のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ
線路30に入力し、光ファイバ線路30を伝送する。波
長λ0のプローブ光は、光ファイバ線路30のどの光フ
ァイバ・グレーティング30a,30b,30cによっ
ても反射されない。従って、光ファイバ線路30のレー
リ後方散乱による反射光のみが、光ファイバ線路30を
送信局Aに向けて逆に進行し、光合分波器16を介して
光パルス試験器32に入力する。光パルス試験器32
は、その反射光強度の時間特性(即ち、距離特性)をモ
ニタ画面に図形表示(及び/又は印刷出力)する。
【0044】波長λ1のプローブ光により光ファイバ・
グレーティング30a,30a,30aの位置を測定で
き、波長λ2のプローブ光により光ファイバ・グレーテ
ィング30b,30bの位置を測定でき、波長λ3のプ
ローブ光により光ファイバ・グレーティング30cの位
置を測定できる。これらの測定位置が、マーカとなり、
λ0のプローブ光による障害点測定点に対する基準位置
となる。λ0,λ1,λ2,λ3のプローブ光による測
定結果の一例を図6に示す。図6(1)はλ1の測定
例、同(2)はλ2の測定例、同(3)はλ3の測定
例、同(4)はλ0の測定例である。いずれも、縦軸は
反射光強度、横軸は距離(時間)を示す。
グレーティング30a,30a,30aの位置を測定で
き、波長λ2のプローブ光により光ファイバ・グレーテ
ィング30b,30bの位置を測定でき、波長λ3のプ
ローブ光により光ファイバ・グレーティング30cの位
置を測定できる。これらの測定位置が、マーカとなり、
λ0のプローブ光による障害点測定点に対する基準位置
となる。λ0,λ1,λ2,λ3のプローブ光による測
定結果の一例を図6に示す。図6(1)はλ1の測定
例、同(2)はλ2の測定例、同(3)はλ3の測定
例、同(4)はλ0の測定例である。いずれも、縦軸は
反射光強度、横軸は距離(時間)を示す。
【0045】各波長λ0,λ1,λ2,λ3のプローブ
光による測定結果は、同一画面上又は同一用紙上に、同
じ時間軸で併記されるのが好ましい。それにより、マー
ク位置と障害点位置の対比と障害点位置の距離の計算が
容易になる。光パルス試験器32,34が、障害点位置
までの距離を自動計算する機能を具備する場合、マーカ
位置、即ち、光ファイバ・グレーティング30a,30
b,30cの設置位置を入力できるようにするのが好ま
しい。入力されたマーカ位置により、従来よりも精度良
く障害点位置(までの距離)を算出できる。
光による測定結果は、同一画面上又は同一用紙上に、同
じ時間軸で併記されるのが好ましい。それにより、マー
ク位置と障害点位置の対比と障害点位置の距離の計算が
容易になる。光パルス試験器32,34が、障害点位置
までの距離を自動計算する機能を具備する場合、マーカ
位置、即ち、光ファイバ・グレーティング30a,30
b,30cの設置位置を入力できるようにするのが好ま
しい。入力されたマーカ位置により、従来よりも精度良
く障害点位置(までの距離)を算出できる。
【0046】図5に示す実施例において、複数の波長
(例えば、λ1とλ2)を反射できる光ファイバ・グレ
ーティングを用いてもよいことは、明らかである。
(例えば、λ1とλ2)を反射できる光ファイバ・グレ
ーティングを用いてもよいことは、明らかである。
【0047】図5に示す実施例は、例えば、反射素子と
しての光ファイバ・グレーティング30a〜30cを極
めて近くに隣接して挿入したい場合に特に有効である。
この場合、光パルス試験器32,34の発生するプロー
ブ光のパルス幅を狭くしなくても、波長を変更すること
で各光ファイバ・グレーティング30a〜30cを分離
できる。光パルス試験器32,34の測定ダイナミック
レンジはプローブ光のパルス幅に依存し、パルス幅が狭
いほど距離の分解能が上がるが、ダイナミックレンジが
小さくなる。従って、目標とする測定箇所が測定端より
遠く、測定ダイナミック・レンジを大きくする必要があ
る場合、即ち、超長距離の光ファイバ線路で特に有効で
ある。
しての光ファイバ・グレーティング30a〜30cを極
めて近くに隣接して挿入したい場合に特に有効である。
この場合、光パルス試験器32,34の発生するプロー
ブ光のパルス幅を狭くしなくても、波長を変更すること
で各光ファイバ・グレーティング30a〜30cを分離
できる。光パルス試験器32,34の測定ダイナミック
レンジはプローブ光のパルス幅に依存し、パルス幅が狭
いほど距離の分解能が上がるが、ダイナミックレンジが
小さくなる。従って、目標とする測定箇所が測定端より
遠く、測定ダイナミック・レンジを大きくする必要があ
る場合、即ち、超長距離の光ファイバ線路で特に有効で
ある。
【0048】図7は、光送信装置の出力光を光分波器で
多分岐して、複数の端末に分配する光ファイバ通信シス
テムに適用した本発明の実施例の概略構成ブロック図で
ある。センタ局40は、波長λsの信号光を出力する光
送信装置42、波長λ1〜λnのプローブ・パルス光を
発生し、その反射光強度を時間軸上で測定する光パルス
試験器44、光送信装置42の出力光と光パルス試験器
44の出力光(プローブ光)を合波し、プローブ光の反
射光を光パルス試験器44に戻す光合分波器46、並び
に、光合分波器46からの、光送信装置42及び光パル
ス試験器44の出力光の合波光を、n系統の光ファイバ
線路50−1〜50−nに分波する光合分波器48を具
備する。光合分波器48はまた、光ファイバ線路50−
1〜50−nからの反射光を多重して光合分波器46に
戻す機能を具備する。光合分波器48の入出力特性は波
長に依存しない。n系統の光ファイバ線路50−1〜5
0−nの反対端は、それぞれ、光受信端末52−1〜5
2−nに接続する。
多分岐して、複数の端末に分配する光ファイバ通信シス
テムに適用した本発明の実施例の概略構成ブロック図で
ある。センタ局40は、波長λsの信号光を出力する光
送信装置42、波長λ1〜λnのプローブ・パルス光を
発生し、その反射光強度を時間軸上で測定する光パルス
試験器44、光送信装置42の出力光と光パルス試験器
44の出力光(プローブ光)を合波し、プローブ光の反
射光を光パルス試験器44に戻す光合分波器46、並び
に、光合分波器46からの、光送信装置42及び光パル
ス試験器44の出力光の合波光を、n系統の光ファイバ
線路50−1〜50−nに分波する光合分波器48を具
備する。光合分波器48はまた、光ファイバ線路50−
1〜50−nからの反射光を多重して光合分波器46に
戻す機能を具備する。光合分波器48の入出力特性は波
長に依存しない。n系統の光ファイバ線路50−1〜5
0−nの反対端は、それぞれ、光受信端末52−1〜5
2−nに接続する。
【0049】n系統の光ファイバ線路50−1〜50−
nのそれぞれには、波長λ1,λ2,・・・,λnを反
射する反射率1〜10%程度の反射素子(例えば、上述
の各実施例と同様の光ファイバ・グレーティングからな
る。)54−1,54−2,・・・,54−nを適当な
位置に配置してある。好ましい位置は、先の各実施例と
同様である。反射素子51−1〜54−nの反射波長λ
1〜λnは、信号光の波長λsとは異なる波長に設定さ
れる。
nのそれぞれには、波長λ1,λ2,・・・,λnを反
射する反射率1〜10%程度の反射素子(例えば、上述
の各実施例と同様の光ファイバ・グレーティングからな
る。)54−1,54−2,・・・,54−nを適当な
位置に配置してある。好ましい位置は、先の各実施例と
同様である。反射素子51−1〜54−nの反射波長λ
1〜λnは、信号光の波長λsとは異なる波長に設定さ
れる。
【0050】図7に示す実施例の動作を説明する。セン
タ40の光送信装置42が出力する波長λsの信号光
は、光合分波器46を介して光合分波器48のMポート
に入力し、n個に分波されて、光合分波器48のポート
#1〜#nから各光ファイバ線路50−1〜50−nに
出力される。各光ファイバ線路50−1〜50−nに伝
送する信号光は、各端末52−1〜52−nに入力し、
受信処理される。
タ40の光送信装置42が出力する波長λsの信号光
は、光合分波器46を介して光合分波器48のMポート
に入力し、n個に分波されて、光合分波器48のポート
#1〜#nから各光ファイバ線路50−1〜50−nに
出力される。各光ファイバ線路50−1〜50−nに伝
送する信号光は、各端末52−1〜52−nに入力し、
受信処理される。
【0051】光パルス試験器44は、各波長λ1〜λn
のプローブ・パルス光を時間的に前後して、例えばλ
1,λ2,・・・,λnの順に出力する。光パルス試験
器44の出力光は、光合分波器46を介して光合分波器
48のMポートに入力する。光合分波器48は、信号光
λsと同様に、光パルス試験器44からのプローブ光も
n個に分波し、各分波光をポート#1〜#nから各光フ
ァイバ線路54−1〜54−nに入力する。
のプローブ・パルス光を時間的に前後して、例えばλ
1,λ2,・・・,λnの順に出力する。光パルス試験
器44の出力光は、光合分波器46を介して光合分波器
48のMポートに入力する。光合分波器48は、信号光
λsと同様に、光パルス試験器44からのプローブ光も
n個に分波し、各分波光をポート#1〜#nから各光フ
ァイバ線路54−1〜54−nに入力する。
【0052】光ファイバ線路54−1では、波長λ1の
プローブ光は、伝搬に伴い反射素子54−1により部分
的に反射されるが、その他の波長λ2〜λnは反射素子
54−1に反射されずに、光ファイバ線路54−1を伝
搬する。従って、反射素子54−1による波長λ1の反
射光と、レーリ後方散乱による波長λ1〜λnの反射光
が、光ファイバ線路50−1をセンタ40に向けて伝搬
する。同様に、光ファイバ線路54−2では、波長λ2
のプローブ光が反射素子54−2により反射され、光フ
ァイバ線路54−nでは、波長λnのプローブ光が反射
素子54−nにより反射される。
プローブ光は、伝搬に伴い反射素子54−1により部分
的に反射されるが、その他の波長λ2〜λnは反射素子
54−1に反射されずに、光ファイバ線路54−1を伝
搬する。従って、反射素子54−1による波長λ1の反
射光と、レーリ後方散乱による波長λ1〜λnの反射光
が、光ファイバ線路50−1をセンタ40に向けて伝搬
する。同様に、光ファイバ線路54−2では、波長λ2
のプローブ光が反射素子54−2により反射され、光フ
ァイバ線路54−nでは、波長λnのプローブ光が反射
素子54−nにより反射される。
【0053】光ファイバ線路54−1〜54−nを戻る
反射光は、光合分波器48により合波され、光合分波器
46を介して光パルス試験器44に入力する。光パルス
試験器44では、各波長毎に反射光強度が時間軸上で解
析(モニタ画面への表示及び/又は印刷出力を含む。)
される。
反射光は、光合分波器48により合波され、光合分波器
46を介して光パルス試験器44に入力する。光パルス
試験器44では、各波長毎に反射光強度が時間軸上で解
析(モニタ画面への表示及び/又は印刷出力を含む。)
される。
【0054】図7に示す実施例では、各光ファイバ線路
50−1〜50−nの反射光が重畳されて光パルス試験
器44に戻ってくるので、レーリ後方散乱により各光フ
ァイバ線路50−1〜50−nの微細な障害を精密測定
することはできないが、例えば、破断又は亀裂の場合に
は、その位置からの反射パルスがあり、破断又は亀裂よ
り後側の反射素子54−1〜54−nからの反射光が存
在しなくなるか通常よりも弱くなるので、破断等の発生
した光ファイバ線路50−1〜50−nをプローブ光の
波長λ1〜λnにより特定でき、そのおよその位置も計
測できる。例えば、波長λ1のプローブ光では、光ファ
イバ線路50−1の破断の有無とおよその位置を計測で
き、波長λnのプローブ光では、光ファイバ線路50−
nの破断の有無とおよその位置を計測できる。
50−1〜50−nの反射光が重畳されて光パルス試験
器44に戻ってくるので、レーリ後方散乱により各光フ
ァイバ線路50−1〜50−nの微細な障害を精密測定
することはできないが、例えば、破断又は亀裂の場合に
は、その位置からの反射パルスがあり、破断又は亀裂よ
り後側の反射素子54−1〜54−nからの反射光が存
在しなくなるか通常よりも弱くなるので、破断等の発生
した光ファイバ線路50−1〜50−nをプローブ光の
波長λ1〜λnにより特定でき、そのおよその位置も計
測できる。例えば、波長λ1のプローブ光では、光ファ
イバ線路50−1の破断の有無とおよその位置を計測で
き、波長λnのプローブ光では、光ファイバ線路50−
nの破断の有無とおよその位置を計測できる。
【0055】図8は、図7の光パルス試験器44の概略
構成ブロック図を示す。60−1,60−2,・・・,
60−nはそれぞれ、波長λ1,λ2,・・・,λnの
レーザ光を発生する光源(レーザ・ダイオード)であ
り、パルス発生器62の発生する駆動パルスにより駆動
されて、それぞれの波長の光パルス(プローブ光)を発
生する。光セレクタ64は、光源60−1〜60−nの
出力光を所定タイミングで順に選択し、光合分波器66
に供給する。
構成ブロック図を示す。60−1,60−2,・・・,
60−nはそれぞれ、波長λ1,λ2,・・・,λnの
レーザ光を発生する光源(レーザ・ダイオード)であ
り、パルス発生器62の発生する駆動パルスにより駆動
されて、それぞれの波長の光パルス(プローブ光)を発
生する。光セレクタ64は、光源60−1〜60−nの
出力光を所定タイミングで順に選択し、光合分波器66
に供給する。
【0056】光合分波器66は、光セレクタ64からの
プローブ光を外部(ここでは、光合分波器46)に出力
し、外部(ここでは、光合分波器46)からの反射光
を、受光器68に供給する。受光器68は光信号を電気
信号に変換し、信号処理回路70に出力する。信号処理
回路70は、パルス発生器62からのタイミング信号を
時間軸上の基準として、受光器68の出力レベルの処理
(例えば、対数圧縮)を開始する。これにより、時間軸
(即ち、距離)上で反射光強度の変化を計測でき、その
結果を表示装置72の画面上に表示する。
プローブ光を外部(ここでは、光合分波器46)に出力
し、外部(ここでは、光合分波器46)からの反射光
を、受光器68に供給する。受光器68は光信号を電気
信号に変換し、信号処理回路70に出力する。信号処理
回路70は、パルス発生器62からのタイミング信号を
時間軸上の基準として、受光器68の出力レベルの処理
(例えば、対数圧縮)を開始する。これにより、時間軸
(即ち、距離)上で反射光強度の変化を計測でき、その
結果を表示装置72の画面上に表示する。
【0057】波長の異なる複数の光源60−1〜60−
nと光セレクタ64の代わりに、波長可変の光源を使用
してもよいことは明らかである。光源を直接、パルス駆
動する代わりに、音響光学(AO)スイッチなどの光ス
イッチで光パルスを形成してもよい。
nと光セレクタ64の代わりに、波長可変の光源を使用
してもよいことは明らかである。光源を直接、パルス駆
動する代わりに、音響光学(AO)スイッチなどの光ス
イッチで光パルスを形成してもよい。
【0058】図7に示す実施例は例えば、ケーブル・テ
レビジョンなどのような放送型光網において、スター・
カップラなどで多分岐した光ファイバ線路の障害位置を
分配元の局から集中的に測定するのに適している。その
場合、各分岐ファイバの任意箇所に各分岐毎に異なる波
長の反射素子を設置し、分配元の局では波長によって障
害の発生した分岐路を特定し、反射時間によって位置を
特定できる。
レビジョンなどのような放送型光網において、スター・
カップラなどで多分岐した光ファイバ線路の障害位置を
分配元の局から集中的に測定するのに適している。その
場合、各分岐ファイバの任意箇所に各分岐毎に異なる波
長の反射素子を設置し、分配元の局では波長によって障
害の発生した分岐路を特定し、反射時間によって位置を
特定できる。
【0059】通常、光ファイバ・ケーブルには、複数
の、例えば12本以上の光ファイバ線路が収容される。
その場合、1本の光ファイバ線路に上述の反射素子10
a,30a,30b,30cを組み込み、距離基準の光
ファイバ線路とすることで、光ファイバ・ケーブルに収
容される全光ファイバ線路の障害点位置を精度良く検出
できる。光ファイバ・ケーブルに収容されれる全光ファ
イバ線路の線路長は同じだからである。図12は、その
実施例の概略構成ブロック図を示す。
の、例えば12本以上の光ファイバ線路が収容される。
その場合、1本の光ファイバ線路に上述の反射素子10
a,30a,30b,30cを組み込み、距離基準の光
ファイバ線路とすることで、光ファイバ・ケーブルに収
容される全光ファイバ線路の障害点位置を精度良く検出
できる。光ファイバ・ケーブルに収容されれる全光ファ
イバ線路の線路長は同じだからである。図12は、その
実施例の概略構成ブロック図を示す。
【0060】送信局Aと受信局Bは光ファイバ・ケーブ
ル210で結ばれ、光ファイバ・ケーブル210には、
n本の光ファイバ線路212−1〜212−nが収容さ
れている。1本の光ファイバ線路212−1には、図1
の光ファイバ線路10と同様に、信号波長λsとは異な
る波長λ1を反射する光ファイバ・グレーティング21
4,214,・・・を適当な間隔及び位置に配置され、
距離基準用の光ファイバ線路となる。光ファイバ・グレ
ーティング214の設置位置及び反射率などは、先の実
施例の光ファイバ・グレーティング10aと同じであ
る。図5に示す実施例のように、反射波長の異なる複数
種類の光ファイバ・グレーティングを設けても良い。
ル210で結ばれ、光ファイバ・ケーブル210には、
n本の光ファイバ線路212−1〜212−nが収容さ
れている。1本の光ファイバ線路212−1には、図1
の光ファイバ線路10と同様に、信号波長λsとは異な
る波長λ1を反射する光ファイバ・グレーティング21
4,214,・・・を適当な間隔及び位置に配置され、
距離基準用の光ファイバ線路となる。光ファイバ・グレ
ーティング214の設置位置及び反射率などは、先の実
施例の光ファイバ・グレーティング10aと同じであ
る。図5に示す実施例のように、反射波長の異なる複数
種類の光ファイバ・グレーティングを設けても良い。
【0061】送信局Aは、各光ファイバ線路212−1
〜212−nに対して、波長λsの信号伝送光を発生す
る光送信装置216−1〜216−nを具備し、各光送
信装置216−1〜216−nの出力光は、光合分波器
218−1〜218−nを介して各光ファイバ線路21
2−1〜212−nに印加される。
〜212−nに対して、波長λsの信号伝送光を発生す
る光送信装置216−1〜216−nを具備し、各光送
信装置216−1〜216−nの出力光は、光合分波器
218−1〜218−nを介して各光ファイバ線路21
2−1〜212−nに印加される。
【0062】送信局Aは更に、光信号波長λsとは異な
る波長λ0,λ1のプローブ・パルス光を発生し、その
反射光強度を時間軸上で測定するする光パルス試験器2
20と、光パルス試験器220の出力プローブ・パルス
光を何れか1つのの光ファイバ線路212−1〜212
−nに接続する光スイッチ222を具備する。光スイッ
チ222のn個の選択端子はそれぞれ、光合分波器21
8−1〜218−nに接続する。
る波長λ0,λ1のプローブ・パルス光を発生し、その
反射光強度を時間軸上で測定するする光パルス試験器2
20と、光パルス試験器220の出力プローブ・パルス
光を何れか1つのの光ファイバ線路212−1〜212
−nに接続する光スイッチ222を具備する。光スイッ
チ222のn個の選択端子はそれぞれ、光合分波器21
8−1〜218−nに接続する。
【0063】光合分波器218−1〜218−nは図1
の光合分波器16と同様に、機能的にはハーフ・ミラー
からなり、それぞれ、光送信装置216−1〜216−
nの出力光を光ファイバ線路212−1〜212−nに
入射し、光パルス試験器220から光スイッチ222を
介して入射するプローブ・パルス光を光ファイバ線路2
12−1〜212−nに入射すると共に、光ファイバ線
路212−1〜212−nからの反射光を光スイッチ2
22に供給する。光スイッチ222は、選択された端子
に接続する光合分波器218−1〜218−nからの反
射光を光パルス試験器220に供給する。
の光合分波器16と同様に、機能的にはハーフ・ミラー
からなり、それぞれ、光送信装置216−1〜216−
nの出力光を光ファイバ線路212−1〜212−nに
入射し、光パルス試験器220から光スイッチ222を
介して入射するプローブ・パルス光を光ファイバ線路2
12−1〜212−nに入射すると共に、光ファイバ線
路212−1〜212−nからの反射光を光スイッチ2
22に供給する。光スイッチ222は、選択された端子
に接続する光合分波器218−1〜218−nからの反
射光を光パルス試験器220に供給する。
【0064】受信局Bは、光ファイバ・ケーブル210
の各光ファイバ線路212−1〜212−nを伝送した
光信号を受信する光受信装置224−1〜224−nを
具備する。勿論、送信局Aの光合分波器218ー1〜2
18ーn、光パルス試験器220及び光スイッチ222
と同様の装置を設けて、光受信局b側からも、光ファイ
バ・ケーブル210の障害の有無と位置を測定できるよ
うにしても良い。
の各光ファイバ線路212−1〜212−nを伝送した
光信号を受信する光受信装置224−1〜224−nを
具備する。勿論、送信局Aの光合分波器218ー1〜2
18ーn、光パルス試験器220及び光スイッチ222
と同様の装置を設けて、光受信局b側からも、光ファイ
バ・ケーブル210の障害の有無と位置を測定できるよ
うにしても良い。
【0065】光ファイバ線路212ー1を距離基準専用
とし、信号を伝送しない場合には、光送信装置216−
1、光合分波器218−1及び光受信装置224−1が
不要になることは勿論である。このとき、光スイッチ2
22の対応する選択端子を光ファイバ線路212−1に
直結する。
とし、信号を伝送しない場合には、光送信装置216−
1、光合分波器218−1及び光受信装置224−1が
不要になることは勿論である。このとき、光スイッチ2
22の対応する選択端子を光ファイバ線路212−1に
直結する。
【0066】パルス試験器220の発生するプローブ光
の波長λ0,λ1は、信号伝送の波長λsとは異なる波
長とする。波長分割多重方式の場合、信号伝送の波長λ
sは複数の波長からなる波長帯を意味することは勿論で
ある。本実施例の場合、波長λ1のプローブ・パルス光
のみを発生するようにしてもよいが、波長λ0のプロー
ブ・パルス光は、先の実施例も説明したように、距離基
準の光ファイバ線路212−1の光ファイバ・グレーテ
ィング214の位置又はこれに近接した位置で障害が発
生した場合に、これを識別するのに役立つ。
の波長λ0,λ1は、信号伝送の波長λsとは異なる波
長とする。波長分割多重方式の場合、信号伝送の波長λ
sは複数の波長からなる波長帯を意味することは勿論で
ある。本実施例の場合、波長λ1のプローブ・パルス光
のみを発生するようにしてもよいが、波長λ0のプロー
ブ・パルス光は、先の実施例も説明したように、距離基
準の光ファイバ線路212−1の光ファイバ・グレーテ
ィング214の位置又はこれに近接した位置で障害が発
生した場合に、これを識別するのに役立つ。
【0067】本実施例の動作を説明する。各光送信装置
216−1〜216−nは信号光を発生し、その信号光
は、光合分波器218−1〜218−nを介して光ファ
イバ線路212−1〜212ーnに入力し、光ファイバ
線路212−1〜212ーnを伝送する。受信局Bの光
受信装置224−1〜224−nは光ファイバ線路21
2−1〜212ーnを伝送した信号光を受信処理する。
216−1〜216−nは信号光を発生し、その信号光
は、光合分波器218−1〜218−nを介して光ファ
イバ線路212−1〜212ーnに入力し、光ファイバ
線路212−1〜212ーnを伝送する。受信局Bの光
受信装置224−1〜224−nは光ファイバ線路21
2−1〜212ーnを伝送した信号光を受信処理する。
【0068】障害の発生した時又は継続的に、光パルス
試験器220により光ファイバ・ケーブル210の各光
ファイバ線路212−1〜212−nの障害の有無及び
その位置を測定する。通常は、光ファイバ・ケーブル2
10の管理者は、光パルス試験器220から波長λ1の
プローブ・パルス光を発生させ、光スイッチ222によ
り順次、切り換えて各光ファイバ線路212−1〜21
2−nを調べる。光ファイバ線路212−1の反射光か
らは、先の各実施例と同様に、図2(1)に示すような
多数の距離マーカ(とフレネル反射パルス)を得ること
ができる。他の光ファイバ線路212−2〜212−n
からは、レーリ後方散乱光と障害点のフレネル反射光の
時間変化が得られる。光ファイバ線路212−1の測定
結果と他の光ファイバ線路212−2〜212−nの測
定結果を対比することで、光ファイバ線路212−2〜
212−nの障害点の位置を精度よく測定できる。
試験器220により光ファイバ・ケーブル210の各光
ファイバ線路212−1〜212−nの障害の有無及び
その位置を測定する。通常は、光ファイバ・ケーブル2
10の管理者は、光パルス試験器220から波長λ1の
プローブ・パルス光を発生させ、光スイッチ222によ
り順次、切り換えて各光ファイバ線路212−1〜21
2−nを調べる。光ファイバ線路212−1の反射光か
らは、先の各実施例と同様に、図2(1)に示すような
多数の距離マーカ(とフレネル反射パルス)を得ること
ができる。他の光ファイバ線路212−2〜212−n
からは、レーリ後方散乱光と障害点のフレネル反射光の
時間変化が得られる。光ファイバ線路212−1の測定
結果と他の光ファイバ線路212−2〜212−nの測
定結果を対比することで、光ファイバ線路212−2〜
212−nの障害点の位置を精度よく測定できる。
【0069】光ファイバ線路212−1の光ファイバ・
グレーティング214の測定位置に疑問がある場合に
は、光パルス試験器220から波長λ0のプローブ・パ
ルス光を発生させ、波長λ0により光ファイバ線路21
2−1を調べる。この作用は、図1に示す実施例と全く
同じである。従って、図12に示す実施例では、光パル
ス試験器220は、波長λ1のプローブ・パルス光のみ
を発生するものであってもよい。
グレーティング214の測定位置に疑問がある場合に
は、光パルス試験器220から波長λ0のプローブ・パ
ルス光を発生させ、波長λ0により光ファイバ線路21
2−1を調べる。この作用は、図1に示す実施例と全く
同じである。従って、図12に示す実施例では、光パル
ス試験器220は、波長λ1のプローブ・パルス光のみ
を発生するものであってもよい。
【0070】光ファイバ・グレーティングなどの反射素
子の設置周期を例えば10km程度とすると、100k
mの光ファイバ線路でも、表示距離の誤差を34m程度
とすることができる。更に設置箇所を増やすことによっ
て誤差を小さくできる。障害位置を精度良く特定でき、
復旧時間を大幅に短縮できる。また、障害発生の確率が
大きな区間には、その両端に反射素子を設置することに
よって、障害をより簡単に検出できるようになる。
子の設置周期を例えば10km程度とすると、100k
mの光ファイバ線路でも、表示距離の誤差を34m程度
とすることができる。更に設置箇所を増やすことによっ
て誤差を小さくできる。障害位置を精度良く特定でき、
復旧時間を大幅に短縮できる。また、障害発生の確率が
大きな区間には、その両端に反射素子を設置することに
よって、障害をより簡単に検出できるようになる。
【0071】
【発明の効果】以上の説明から容易に理解できるよう
に、本発明によれば、障害点の位置を高精度に特定でき
るようになる。これにより障害の復旧に要する時間を短
縮できる。例えば、公共交通網の一時規制の範囲を狭く
でき、その時間を短縮できる。
に、本発明によれば、障害点の位置を高精度に特定でき
るようになる。これにより障害の復旧に要する時間を短
縮できる。例えば、公共交通網の一時規制の範囲を狭く
でき、その時間を短縮できる。
【図1】 本発明の一実施例の概略構成ブロック図であ
る。
る。
【図2】 光パルス試験器14,20による測定結果の
模式図である。
模式図である。
【図3】 マーカM2,M3間に障害が発生した場合
の、本実施例の測定例である。
の、本実施例の測定例である。
【図4】 マーカM2に重なって又は非常に近接して障
害が発生した場合の本実施例の測定例である。
害が発生した場合の本実施例の測定例である。
【図5】 本発明の第2実施例の概略構成ブロック図で
ある。
ある。
【図6】 第2実施例における測定結果の一例である。
【図7】 本発明の第3実施例の概略構成ブロック図で
ある。
ある。
【図8】 光パルス試験器44の概略構成ブロック図で
ある。
ある。
【図9】 第1の従来例の概略構成ブロック図である。
【図10】 第2の従来例の概略構成ブロック図であ
る。
る。
【図11】 第3の従来例の概略構成ブロック図であ
る。
る。
【図12】 光ファイバ・ケーブルに適用する本発明の
第4実施例の概略構成ブロック図である。
第4実施例の概略構成ブロック図である。
10:光ファイバ線路 10a:光ファイバ・グレーティング 12:光送信装置 14:光パルス試験器 16:光合分波器 18:光受信装置 20:光パルス試験器 22:光合分波器 30:光ファイバ線路 30a,30b,30c:光ファイバ・グレーティング 32,34:光パルス試験器 40:センタ局 42:光送信装置 44:光パルス試験器 46,48:光合分波器 50−1〜50−n:光ファイバ線路 52−1〜52−n:光受信端末 54−1,54−2,・・・,54−n:反射素子 60−1,60−2,・・・,60−n:波長λ1,λ
2,・・・,λnの光源 62:パルス発生器 64:光セレクタ 66:光合分波器 88:受光器 70:信号処理回路 72:表示装置 110:光送信装置 112:光受信装置 114,116:光パルス試験器 118:光ファイバ線路 118a,118b:光ファイバ線路118の端部 120,122:光合分波器 124,126:光スイッチ 210:光ファイバ・ケーブル 212−1〜212−n:光ファイバ線路 214:光ファイバ・グレーティング 216−1〜216−n:光送信装置 218−1〜218−n:光合分波器 220:光パルス試験器 222:光スイッチ 224−1〜224−n:光受信装置
2,・・・,λnの光源 62:パルス発生器 64:光セレクタ 66:光合分波器 88:受光器 70:信号処理回路 72:表示装置 110:光送信装置 112:光受信装置 114,116:光パルス試験器 118:光ファイバ線路 118a,118b:光ファイバ線路118の端部 120,122:光合分波器 124,126:光スイッチ 210:光ファイバ・ケーブル 212−1〜212−n:光ファイバ線路 214:光ファイバ・グレーティング 216−1〜216−n:光送信装置 218−1〜218−n:光合分波器 220:光パルス試験器 222:光スイッチ 224−1〜224−n:光受信装置
Claims (15)
- 【請求項1】 信号波長とは異なる所定の反射波長を反
射する反射手段を1以上の所定位置に配置した光ファイ
バ線路と、 少なくとも当該反射波長のプローブ・パルス光を発生
し、当該反射手段からの反射光を距離マーカとして用
い、当該光ファイバ線路からのレーリ後方散乱光及び障
害点からのフレネル反射光を時間軸上で分析する光パル
ス試験手段とからなることを特徴とする光ファイバ線路
の障害位置検出装置。 - 【請求項2】 上記反射手段が光ファイバ・グレーティ
ングからなる請求項1に記載の光ファイバ線路の障害位
置検出装置。 - 【請求項3】 上記光ファイバ線路が、反射波長の異な
る複数種類の1以上の反射手段を具備する請求項1に記
載の光ファイバ線路の障害位置検出装置。 - 【請求項4】 上記光パルス試験手段が、上記複数種類
の反射手段の各反射波長に対応する波長のプローブ・パ
ルス光を発生する請求項3に記載の光ファイバ線路の障
害位置検出装置。 - 【請求項5】 上記光パルス試験手段が更に、上記反射
手段の反射波長及び上記信号波長のどちらとも異なる波
長のプローブ・パルス光を発生する請求項1又は4に記
載の光ファイバ線路の障害位置検出装置。 - 【請求項6】 上記光パルス試験手段が、上記複数のプ
ローブ・パルス光を所定順序で発生する請求項4又は5
に記載の光ファイバ線路の障害位置検出装置。 - 【請求項7】 センタ局から複数の光ファイバ線路に信
号光を送出自在な光伝送システムにおいて、 それぞれ信号波長とは異なり各光ファイバ線路に固有の
波長を反射する、当該各光ファイバ線路の1以上の所定
箇所に配置された反射手段と、 当該各光ファイバ線路の当該反射手段の反射波長のプロ
ーブ・パルス光を発生し、その反射光を時間軸上で分析
する光パルス試験手段と、 当該光パルス試験手段の出力光を当該各光ファイバ線路
に供給し、当該各光ファイバ線路からの反射光を当該光
パルス試験手段に供給する光結合手段とからなることを
特徴とする光ファイバ線路の障害位置検出装置。 - 【請求項8】 上記光結合手段が、上記光パルス試験手
段の出力光を分波して上記各光ファイバ線路に分配し、
当該各光ファイバ線路からの反射光を合波して当該光パ
ルス試験手段に供給する光合分波手段である請求項7に
記載の光ファイバ線路の障害位置検出装置。 - 【請求項9】 信号波長とは異なる所定の反射波長を反
射する反射手段を1以上の所定位置に配置した第1の光
ファイバ線路と、当該第1の光ファイバ線路と実質的に
同じ線路長の第2の光ファイバ線路と、 少なくとも当該反射波長のプローブ・パルス光を発生
し、当該第1の光ファイバ線路及び当該第2の光ファイ
バ線路からの反射光を時間軸上で分析する光パルス試験
手段とからなり、当該反射波長のプローブ・パルス光
の、当該反射手段からの反射光を距離マーカとして用い
ることを特徴とする光ファイバ線路の障害位置検出装
置。 - 【請求項10】 上記反射手段が光ファイバ・グレーテ
ィングからなる請求項9に記載の光ファイバ線路の障害
位置検出装置。 - 【請求項11】 上記第1の光ファイバ線路が、反射波
長の異なる複数種類の1以上の反射手段を具備する請求
項9に記載の光ファイバ線路の障害位置検出装置。 - 【請求項12】 上記光パルス試験手段が、上記複数種
類の反射手段の各反射波長に対応する波長のプローブ・
パルス光を発生する請求項11に記載の光ファイバ線路
の障害位置検出装置。 - 【請求項13】 上記光パルス試験手段が更に、上記反
射手段の反射波長及び上記信号波長のどちらとも異なる
波長のプローブ・パルス光を発生する請求項9又は12
に記載の光ファイバ線路の障害位置検出装置。 - 【請求項14】 上記光パルス試験手段が、上記複数の
プローブ・パルス光を所定順序で発生する請求項12又
は13に記載の光ファイバ線路の障害位置検出装置。 - 【請求項15】 上記第1の光ファイバ線路及び上記第
2の光ファイバ線路が同じ光ファイバ・ケーブルに収容
されている請求項9に記載の光ファイバ線路の障害位置
検出装置。
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1168663A (ja) * | 1997-08-18 | 1999-03-09 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光伝送線路監視装置 |
US6301404B1 (en) | 1998-03-17 | 2001-10-09 | Nec Corporation | Supervisory signal optical bypass circuit, optical amplifying repeater and supervisory system |
JP2002190089A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-07-05 | Alcatel | 光導波路をモニタする方法、ならびに前記方法のためのモニタリングシステムおよびモニタリングユニット |
US6603587B1 (en) | 1998-08-14 | 2003-08-05 | Nec Corporation | Optical amplifier repeater |
JP2007132945A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Taida Electronic Ind Co Ltd | 光ファイバネットワークの測定システム及びその測定方法 |
JP2007174597A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Fujikura Ltd | 線路監視装置付き光ケーブル線路、光ケーブル線路、光ケーブル線路の融着点検出方法 |
JP2007232459A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Fujikura Ltd | 光ファイバ侵入監視装置 |
JP2007232413A (ja) * | 2006-02-27 | 2007-09-13 | Fujikura Ltd | 光ファイバリング干渉型センサ及び接続用クロージャ |
JPWO2011033649A1 (ja) * | 2009-09-18 | 2013-02-07 | 公立大学法人高知工科大学 | 複数のセンシング領域を有する分布型光ファイバーセンサー装置 |
WO2016208169A1 (ja) * | 2015-06-25 | 2016-12-29 | 日本電気株式会社 | 装置、特定方法 |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0936457B1 (en) * | 1998-02-16 | 2000-12-20 | Hewlett-Packard Company | Localization of faults in fiber optic systems |
JP3527844B2 (ja) * | 1998-03-11 | 2004-05-17 | 安藤電気株式会社 | 多分岐光線路試験方法および装置 |
US6650840B2 (en) * | 1998-03-27 | 2003-11-18 | Lucent Technologies Inc. | Method for identifying faults in a branched optical network |
US6708004B1 (en) | 1998-12-01 | 2004-03-16 | Tyco Telecommunications (Us) Inc. | Method and apparatus for reducing crosstalk between a monitoring channel and a data channel in a WDM optical communication system |
US20050074244A1 (en) * | 2000-01-12 | 2005-04-07 | Nortel Networks Limited | Optimization of a communications system based on identification of an optical member |
DE10026330A1 (de) * | 2000-05-26 | 2001-11-29 | Bosch Gmbh Robert | Verformungssensor |
EP1189367A1 (en) * | 2000-07-27 | 2002-03-20 | Alcatel | System and method for determining wavelength dependent information in an optical communication system |
JP2002218577A (ja) * | 2001-01-24 | 2002-08-02 | Nec Corp | 通信ネットワーク、波長多重装置、光スイッチ装置及びそれらに用いる光リンク属性・状態管理方法 |
JP3696517B2 (ja) * | 2001-03-16 | 2005-09-21 | 富士通株式会社 | 光伝送システム |
DE10140852C5 (de) * | 2001-08-21 | 2016-11-17 | Robert Bosch Gmbh | Elektronisches System mit einem Lichtwellenleiter-Netzwerk und Verfahren zum Selbsttest sowie dazugehöriges Computerprogramm |
US6714715B2 (en) | 2001-09-17 | 2004-03-30 | Terraworx, Inc. | Optical device, system and method for detecting a condition in an optical device |
GB0126166D0 (en) * | 2001-10-31 | 2002-01-02 | Cit Alcatel | Apparatus and method for monitoring an optical transmission line |
US7295724B2 (en) * | 2004-03-01 | 2007-11-13 | University Of Washington | Polymer based distributive waveguide sensor for pressure and shear measurement |
GB0407386D0 (en) | 2004-03-31 | 2004-05-05 | British Telecomm | Monitoring a communications link |
GB0421747D0 (en) | 2004-09-30 | 2004-11-03 | British Telecomm | Distributed backscattering |
US8045174B2 (en) * | 2004-12-17 | 2011-10-25 | British Telecommunications Public Limited Company | Assessing a network |
US20060162984A1 (en) * | 2005-01-25 | 2006-07-27 | Trw Automotive U.S. Llc | Crash sensor for sensing an impact to a vehicle in response to reduced light intensity and an associated method |
EP1708388A1 (en) * | 2005-03-31 | 2006-10-04 | British Telecommunications Public Limited Company | Communicating information |
EP1713301A1 (en) | 2005-04-14 | 2006-10-18 | BRITISH TELECOMMUNICATIONS public limited company | Method and apparatus for communicating sound over an optical link |
DE102005063102A1 (de) * | 2005-12-30 | 2007-07-12 | Adva Ag Optical Networking | Verfahren und Einrichtung zur Überwachung einer optischen Übertragungsstrecke, insbesondere einer optischen Übertragungsstrecke zu einem Endteilnehmer eines Übertragungsnetzes |
EP1989797B1 (en) * | 2006-02-24 | 2011-04-13 | BRITISH TELECOMMUNICATIONS public limited company | Sensing a disturbance |
CA2647173A1 (en) * | 2006-04-03 | 2007-10-11 | British Telecommunications Public Company Limited | Evaluating the position of a disturbance |
DE102007013606B4 (de) * | 2007-03-21 | 2018-06-21 | Adva Ag Optical Networking | Verfahren und System und Empfänger zum Lokalisieren einer Dämpfungsänderungsstelle bei einem Lichtwellenleiter sowie abhörsicheres optisches Signalübertragungssystem |
EP2432140B1 (en) * | 2010-09-17 | 2014-11-12 | ADVA Optical Networking SE | Monitoring node and reflector node of an optical communication network, optical communication network, and method for operating an optical communication network |
US8797518B2 (en) * | 2010-10-07 | 2014-08-05 | At&T Intellectual Property I, L.P. | Identifiable visible light sources for fiber optic cables |
CN103338069B (zh) * | 2013-06-09 | 2015-12-02 | 华为技术有限公司 | 检测分支光纤的方法、装置和设备 |
CN110518969B (zh) * | 2019-09-19 | 2024-01-16 | 桂林聚联科技有限公司 | 一种光缆振动的定位装置及方法 |
CN110518968B (zh) * | 2019-09-19 | 2024-02-20 | 桂林聚联科技有限公司 | 一种光缆振动的定位装置及方法 |
US11965732B2 (en) * | 2021-02-17 | 2024-04-23 | Touch Netix Limited | Methods and sensor for measuring strain |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4928004A (en) * | 1988-06-20 | 1990-05-22 | Center For Innovative Technology | Method and apparatus for sensing strain |
GB8828408D0 (en) * | 1988-12-06 | 1989-01-05 | British Telecomm | Loss detector |
US4950883A (en) * | 1988-12-27 | 1990-08-21 | United Technologies Corporation | Fiber optic sensor arrangement having reflective gratings responsive to particular wavelengths |
US5177354A (en) * | 1989-12-11 | 1993-01-05 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Device and a method for distinguishing faults employed in an optical transmission system |
JPH08125607A (ja) * | 1994-10-21 | 1996-05-17 | Fujitsu Ltd | 光伝送路障害点標定方法および光伝送線 |
DE69513937T2 (de) * | 1994-11-17 | 2000-07-20 | Alcatel, Paris | Verfahren zum Messen und Detektieren physikalischer Grössen unter Verwendung eines Mehrpunktsensors |
US5848204A (en) * | 1995-09-08 | 1998-12-08 | California State University-Fullerton | Fiber devices and sensors based on multimode fiber Bragg gratings |
JP3534550B2 (ja) * | 1995-11-01 | 2004-06-07 | 住友電気工業株式会社 | Otdr装置 |
-
1996
- 1996-08-05 JP JP20567796A patent/JP3402083B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-07-25 EP EP97112879A patent/EP0823621A3/en not_active Withdrawn
- 1997-08-04 US US08/905,178 patent/US6185020B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1168663A (ja) * | 1997-08-18 | 1999-03-09 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光伝送線路監視装置 |
US6301404B1 (en) | 1998-03-17 | 2001-10-09 | Nec Corporation | Supervisory signal optical bypass circuit, optical amplifying repeater and supervisory system |
US6603587B1 (en) | 1998-08-14 | 2003-08-05 | Nec Corporation | Optical amplifier repeater |
JP2002190089A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-07-05 | Alcatel | 光導波路をモニタする方法、ならびに前記方法のためのモニタリングシステムおよびモニタリングユニット |
JP2007132945A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Taida Electronic Ind Co Ltd | 光ファイバネットワークの測定システム及びその測定方法 |
JP2007174597A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Fujikura Ltd | 線路監視装置付き光ケーブル線路、光ケーブル線路、光ケーブル線路の融着点検出方法 |
JP2007232413A (ja) * | 2006-02-27 | 2007-09-13 | Fujikura Ltd | 光ファイバリング干渉型センサ及び接続用クロージャ |
JP2007232459A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Fujikura Ltd | 光ファイバ侵入監視装置 |
JPWO2011033649A1 (ja) * | 2009-09-18 | 2013-02-07 | 公立大学法人高知工科大学 | 複数のセンシング領域を有する分布型光ファイバーセンサー装置 |
WO2016208169A1 (ja) * | 2015-06-25 | 2016-12-29 | 日本電気株式会社 | 装置、特定方法 |
JPWO2016208169A1 (ja) * | 2015-06-25 | 2018-04-12 | 日本電気株式会社 | 装置、特定方法 |
US10215663B2 (en) | 2015-06-25 | 2019-02-26 | Nec Corporation | Device and specification method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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