JP4694959B2 - 光線路試験方法及び試験システム - Google Patents
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Description
S(ν)=aS1(ν)+bS2(ν)
となる。試験光パルスが第一または第二の光ファイバのみに存在するときの散乱では、それぞれ係数は
[実施形態1]
図1は本発明の実施形態に係る光線路試験システムを示す構成説明図である。図1中、図6と同一部分は同一符号を付してその説明を省略する。ただし、第二の光ファイバ4を接続する加入者端末5の受光ポートには受光部6を直接接続する。第二の光ファイバ4は、光ファイバ中の試験光パルス幅の長さwvの半分より短い、つまりL2≦wv/2とする。
ブリルアン後方散乱光のスペクトルの、時間変化を説明する。
試験光パルスが完全に第一の光ファイバ3に入射し終わる時刻をt=0とする。
背景技術で説明した図6で、測定されるブリルアン散乱光スペクトルの極大値を測定するとする。このとき、背景技術のところでも説明した通り、試験光パルスが光ファイバ中に存在する長さはwvだが、試験光パルスが第一と第二の光ファイバの接続点を通過する時、パルスの存在する光ファイバの割合によって散乱光のパワーが決まる。このため、L2≦wvのときは第二の光ファイバが単独で測定されず、L2≦wv/2のときは、第二の光ファイバのブリルアン散乱光スペクトルのピークは常に第一、第三の光ファイバのブリルアン散乱光スペクトルのピークよりも小さくなる。ブリルアン散乱光スペクトルの極大値を検出すれば、このようなときでも第二の光ファイバを検出できる。つまり、従来の光試験システム構成であっても、第二の光ファイバを高分解能に検出可能である。このため、第二の光ファイバを検出する位置の精度がよくなり、分解能が上がる。
分岐する光線路での分岐の先の各光ファイバを識別する試験方法として、ブリルアン周波数シフトが異なるように設計された光ファイバを、加入者端末前にターミネーションケーブルとして設置し、該ターミネーションケーブルのブリルアン周波数シフトが発生する位置を測定するという、ユーザ装置までの光線路試験が考えられる。
Claims (6)
- 局内伝送装置と加入者端末を接続する光ファイバ線路の光ファイバに生じるブリルアン後方散乱光の周波数スペクトルを検出することにより、光ファイバ線路の異常を検出する光線路試験方法であって、
被測定光ファイバ線路は、第一の光ファイバと、第一の光ファイバとは異なるブリルアン周波数シフトを持つ第二の光ファイバとから構成され、第二の光ファイバに直接加入者端末内の受光部が接続してあり、ブリルアン後方散乱光の周波数スペクトルにおける複数の極大値とパワー変化を検出することにより光ファイバ線路のブリルアン周波数シフトの光ファイバ長手方向の変化による異常を検出することを特徴とする光線路試験方法。 - 請求項1に記載の光線路試験方法において、ブリルアン後方散乱光の周波数スペクトルにおける複数の極大値とパワー変化を、ブリルアン散乱光測定器を用いて検出することを特徴とする光線路試験方法。
- 請求項1又2に記載の光線路試験方法において、第二の光ファイバと加入者端末の間には試験光パルスを遮断する光フィルタがあることを特徴とする光線路試験方法。
- 請求項2又は3に記載の光線路試験方法において、第二の光ファイバには、ブリルアン散乱光測定器の受光部の受光する周波数の範囲外の周波数のブリルアン周波数シフト、もしくは第二の光ファイバのブリルアン周波数シフトのピークのパワーより小さいパワーのピークのブリルアン周波数シフトを有する第三の光ファイバを接続することを特徴とする光線路試験方法。
- 請求項1乃至4のいずれかに記載の光線路試験方法において、第二の光ファイバの長さは、パルス幅をw、光ファイバ中の光の速さをvとすると、wv/2以下であることを特徴とする光線路試験方法。
- 請求項1乃至5のいずれかに記載の光線路試験方法において、被測定光ファイバ線路は光スプリッタと、該光スプリッタの下部にそれぞれ異なるブリルアン散乱周波数シフトが設定された光ファイバが接続されていることを特徴とする光線路試験方法。
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