JP3787316B2

JP3787316B2 - 光磁気記録再生装置

Info

Publication number: JP3787316B2
Application number: JP2002127028A
Authority: JP
Inventors: 利彦鈴木; 克已有坂; 年男松本; 貴司井上
Original assignee: Canon Inc; Panasonic Corp; Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Canon Inc; Panasonic Corp; Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2002-04-26
Filing date: 2002-04-26
Publication date: 2006-06-21
Anticipated expiration: 2022-04-26
Also published as: JP2003317339A; US7020049B2; US20040017736A1

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザー光を用いて情報の記録または再生を行う光磁気記録媒体の記録再生装置に関し、特には磁壁移動再生（ＤＷＤＤ：Domain Wall Displacement Detection）として知られる記録磁区の磁壁を移動させることによって光学的な検知限以下の微小マークを記録再生する方法において、再生または記録のレーザーパワーを最適化する調整機能を有する光磁気記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光磁気ディスクドライブ装置は、主にパーソナルコンピュータ等の周辺機器として使用され、媒体の可搬容易性や繰り返し記録再生が可能なことから、大容量データストレージ機器として発展してきた。特に、連続したデータを間欠的に記録可能なこと、あるいは連続長データから任意部分データを高速かつランダムに情報再生可能なことなど、テープ状記録媒体では実現し得ないデータアクセシビリティ優位性を備えている。そして今日では、光磁気ディスクドライブ装置のさらなる高密度化や転送速度の高速化が日夜進展しており、マルチメディア機器の主軸として、高精細画像情報のディジタル記録再生装置への用途が開かれている。
【０００３】
このように高速高密度を達成している光磁気ディスクドライブ装置では、データの記録または再生におけるレーザーパワーの調整、すなわち最適化が大変重要である。最適なレーザーパワーは、ディスク（媒体）におけるトラック幅やピッチ、溝形状、記録磁性膜の材料感度や半径方向の均一性などに影響される。一般に、こうした固体差はディスク固有のものであり、ディスクが異なると最適レーザーパワーも異なる。また、同一のディスクであっても、ディスクの反り、ディスク面上の汚れ、使用回数の増大やディスク保存状態によって経時変化が発生する。したがって、レーザーパワーの実効値が変化することから、レーザーパワー最適値が変動することになる。また、これら光磁気ディスクに対する記録再生プロセスにおいては、温度が重要なパラメータであり、ディスクの温度により最適な記録パワーあるいは再生パワーが変化する。
【０００４】
従来、このような変動要因に対するレーザーパワーの調整は、媒体所定位置に設けられたテスト領域において試し書き（試行記録／再生）を行って、レーザーパワーを最適化するものであった。たとえば、所定の信号パターンをもつデータを予め用意し、レーザーパワーを変えながら複数回にわたって記録、再生を繰り返し試行する。得られた再生信号のジッタあるいはエラーレートを尺度にして、各レーザーパワーにおける信号品質を斟酌し、レーザーパワーの最適調整を行う。こうした調整は、装置起動時やディスクが交換された際、または所定周期ごとに実施していた。
【０００５】
あるいは、温度計測機能を機器内部に設けることによって、装置内部温度あるいは媒体表面温度を監視し、計測された温度変化に応じて、レーザーパワーの最適化を実施する方法が提案されている。
【０００６】
近年、こうしたレーザーパワーの最適化については様々な改良技術が考案されている。特開平８−２２１７６０では、再生動作に先んじ、再生レーザーパワーを低パワーから徐々に上昇させて再生信号振幅が飽和する点を検出し、そのレーザーパワーに所定量のパワー補正を加えて、最適再生レーザーパワーを求める技術が開示されている。また、特開平９−２８２７２９でも同様に、再生動作に先んじ、再生レーザーパワーを低パワーから徐々に上昇させて再生信号振幅が急激に立ち上がる点を検出し、そのレーザーパワーに所定量のパワー補正を加えて、最適再生レーザーパワーを求める技術が開示されている。
【０００７】
これら改良技術は、最適再生パワーを所定のテスト領域で求める従来技術に対し、実際の再生時の時間的なズレによって生じる媒体温度変化などを補填することができ、より最適なパワー制御を行えるものであった。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、記録媒体の高密度化ならびにデータの高転送速度化の進展にともなって、こうした光磁気ディスクの小径化が進行し、大容量の高精細画像情報を取り扱うディスクカメラ、あるいはディスクカムコーダーといった小型モバイル機器としての応用展開が図られている。こうしたモバイル用途向け機器は、アウトドアにおける携帯性、使い勝手、小型軽量化などを満足するために、ぎりぎりの高充填設計が施されている。加えて、装置内部の密閉性も高まっており、稼動時の機器内部は、相当な高温環境下におかれる。そしてまた、屋内外の往来をはじめ、寒処暑処、多湿低湿といった急激な環境変化にさらされることになる。
【０００９】
したがって、こうした光磁気ディスクドライブ装置は、これまでのコンピュータ周辺機器用途とは比較にならない、環境変化に対する装置信頼耐性が要求されることになる。特に、これまでのコンピュータ周辺用途では、前述のレーザーパワー調整は、適当な周期で試し書きを行い、必要に応じてレーザーパワーを最適調整することが可能であった。ところが、光磁気ディスク・ドライブ市場動向の変遷にともない、一定の高速データレートで送り込まれる画像情報を取り扱う場合には、実時間で所定処理を行わなければならず、頻繁な試し書き等の調整時間の発生はシステム処理上、重大なトラフィック増加を及ぼしてしまう。
【００１０】
かかる課題に対して、前述の特開平８−２２１７６０、あるいは特開平９−２８２７２９に開示された技術を用いても、解決は容易でない。なぜなら、前述の技術は信号再生振幅値の飽和もしくは急激な立ち上がりを監視して、その値に一定値を供与することでレーザーパワーの最適化を設定するものであった。しかしながら、再生信号振幅の変化に基づいて一律の補正を施す従来のパワー調整法では、さまざまな変動要因に追従することができず、レーザーパワーの最適化を適確に達成し得ない。具体的には、静的変動要因として、ディスク固体特性差（バラツキ）があり、またディスクの特定部位に感度特性のムラ（不均一性）が生じていることがありえる。あるいは動的変動要因として、環境温度変化、あるいはそうした温湿度の急激な変化によってディスクに一時的な反りが発生する場合がある。また、ディスク反射面に部分的な汚れがついていることもある。さらに、ディスクの経時耐久性能変化などもある。このような変動が発生している場合、仮に再生信号振幅の変化点が同一であっても、最適なレーザーパワーも同一に定まるとは限らない。
【００１１】
したがって、再生信号振幅の変化点に基づいて、予め定めた一定値でレーザーパワーを補正しようとするこれまでの技術では、調整精度が不足してしまい、レーザーパワーを最適に設定し得ないという問題があった。
【００１２】
そこで本発明では、ディスク固体特質差といった静的変動要因はもちろん、装置の超小型化やモバイル環境使用下によって生じる過酷な動的変動要因に対しても、再生または記録のレーザーパワー強度を常に最適化し得る、光磁気記録再生装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明の光磁気記録再生装置は、磁壁移動型光磁気記録媒体に光ビームをスポット状に照射し、スポット内における移動層の磁壁を移動させることにより情報の再生を行う光磁気記録再生装置において、前記磁壁の移動が開始される光ビームパワーを検出する手段と、再生光ビームパワーを補正する手段と、再生光ビームパワーを学習する手段と、前記磁壁移動開始光ビームパワーの変化を監視する手段とを有し、前記磁壁移動開始光ビームパワーに変化が生じた場合は再生光ビームパワーを補正し、前記磁壁移動開始光ビームパワーの変化量が所定量以上の場合は再生光ビームパワーを再度学習により求めることを特徴とする。
【００１４】
（作用）
本発明においては、磁気超解像現象に基づく磁化状態の変化が開始される光ビームパワーと最適となる記録または再生パワーを予め求め、しかる後、最適記録または再生光ビームパワーと再生開始光ビームパワーとの関係値（差或いは比）を求めて保持しておき、記録／再生光ビームパワーの再設定を行う際には、再生開始光ビームパワーのみを検出し、その検出値と上記関係値をもとに記録／再生光ビームパワーの補正をかけている。これにより、再設定毎に試し書きを伴う最適記録／再生光ビームパワーの学習動作を行う必要がなく、調整時間の大幅な短縮を実現できる。また、再生開始光ビームパワーはディスク固体特性差、環境温湿度変化、ディスクの反り、ディスク反射面の汚れ、経時耐久性能変化などの記録再生に関わる様々な変動要因を反映したものであるので、それらを考慮した記録または再生パワーの最適な設定が可能になる。
【００１５】
また、再生開始光ビームパワーの検出結果に基づいて、再生光ビームパワーの学習の際のパワー可変域を最適設定しているので、再生光ビームパワーの設定値が低過ぎたり、高過ぎたりせず、不必要な範囲に渡る試行録再を避けられる為、媒体保護あるいはパワー調整に要する時間短縮を実現できる。
【００１６】
さらに、再生光ビームパワーの再設定を、再生開始光ビームパワーの変化を監視しながら行っているので、センサなどの付加的な構成を必要とせずに再設定のタイミングを計ることができる。
【００１７】
【発明の実施形態】
以下、本発明の好ましい実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００１８】
本発明による再生または記録パワー調整は、例えば、図２に示すような記録再生装置２００に適用される。
【００１９】
＜記録再生装置２００の構成要素及び一連の動作＞
図２は、本発明の実施の一形態における記録再生装置の構成を示す機能ブロック図である。この記録再生装置２００は、磁壁移動型光磁気記録媒体（以下、「ディスク」と記す）２０１に対して情報の記録と再生を行うものであり、光磁気ディスクドライブ装置として構成されたものである。ここで、ディスク２０１の記録領域は、半径方向に複数のゾーンに分割されている。また、ディスク２０１は、サーボ制御部２２９により各ゾーンで線速度が一定となるよう回転制御される。サーボ制御部２２９は、スピンドルモータドライバ２２３を介して、スピンドルモータ（ＳＰＭ）２２２を駆動する。
【００２０】
ディスク２０１の上面には、ディスク面に近接して磁気ヘッド２０２が配置されている。磁気ヘッド２０２は、情報記録時に磁気ヘッドドライバ２０３の駆動により記録信号に応じて変調された磁界を発生し、ディスク２０１に印加する。磁気ヘッドドライバ２０３はタイミング制御部２２７からのロジック信号に応じて磁気ヘッド２０２に駆動電流を供給する。また、ディスク２０１の下面には、磁気ヘッド２０２と対向して光学ヘッド２４０が配置されている。光学ヘッド２４０内には、半導体レーザー２０９が設けられている。
【００２１】
半導体レーザー２０９は、記録、再生、サーボ制御に用いられ、波長は６６０ｎｍである。半導体レーザー２０９は、サーボ制御部２２９によってパワー制御され、ＬＤ（レーザーダイオード）ドライバ２２５によって駆動される。
【００２２】
半導体レーザー２０９から発したレーザー光は集光レンズ２０８で平行光束にされる。続いて、ビームスプリッタ２０７を経た後、対物レンズ２０５に入射する。入射光束は対物レンズ２０５で絞られ、微小光スポットとしてディスク２０１に照射される。
【００２３】
ディスク２０１に照射されたレーザー光の一部は、ディスク面で反射され、対物レンズ２０５を通ってビームスプリッタ２０７に入射する。この入射光束はビームスプリッタ２０７で反射され、さらにビームスプリッタ２１０によって、サーボ検出光学系と信号検出光学系に分けられる。サーボ検出光学系は集光レンズ２１４、フォーカス制御用のシリンドリカルレンズ２１５、サーボ検出用光センサ２２０、Ｉ／Ｖ変換アンプ２２１で構成される。ＰＩＮフォトダイオードからなるサーボ検出用光センサ２２０の出力信号は、Ｉ／Ｖ変換アンプ２２１によって光電流から電圧信号に変換され、サーボ制御部２２９に送られる。
【００２４】
サーボ制御部２２９は、サーボ検出信号をもとにフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を検出する回路を備え、得られたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいてＡＴ（自動トラッキング）／ＡＦ（自動フォーカス）ドライバ２２４を制御する。
【００２５】
光学ヘッド２４０内には、対物レンズ２０５をフォーカス方向とトラッキング方向に駆動するためのアクチュエータが設けられ、駆動コイル２０４が設けられている。ＡＴ／ＡＦドライバ２２４は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に応じて駆動コイル２０４を駆動し、対物レンズ２０５をフォーカス方向、トラッキング方向に位置調整する。こうして、回転するディスク２０１に対する半導体レーザー２０９による光スポットの合焦を維持し、情報トラックに対しトラッキングを行う。また、ヘッド送り機構２２６を制御して、光学ヘッド２４０のシーク制御を行う。
【００２６】
一方、信号検出光学系は、１／２波長板２１１、集光レンズ２１２、偏光ビームスプリッタ２１３、信号検出用光センサ２１６、２１７、Ｉ／Ｖ変換アンプ２１８、２１９から構成される。ビームスプリッタ２１０からの反射光は、１／２波長板２１１で偏光方向が４５度回転させられた後、集光レンズ２１２を通って、偏光ビームスプリッタ２１３に導かれる。偏光ビームスプリッタ２１３は、入射光束を偏光方向が互いに直交する２つの成分に分割し、この分割された成分がＰＩＮフォトダイオードからなる２つの信号検出用光センサ２１６、２１７で検出される。光センサ２１６、２１７の出力信号は、Ｉ／Ｖ変換アンプ２１８、２１９でそれぞれ電流電圧変換された後、再生信号処理部２２８に供給される。
【００２７】
ディスクコントローラ２３０は、ＣＰＵ（中央演算処理ユニット）、外部インタフェース、ＥＣＣ（誤り訂正）、ショックプルーフ等を実現するメモリならびにメモリ制御、記録再生データの変復調回路等によって構成される。具体的には、外部とのインタフェース機能により、内蔵のＣＰＵと協働して、ユーザー指定コマンドを受信実行し、あるいは所定のプログラムを実行することにより、記録再生動作を実現する。このようにディスクコントローラ２３０は、記録再生装置２００を統括制御し、各シーケンス制御の中枢を担う。また、ディスク２０１から得られる再生信号に基づいて、ディスク上のアドレス認識、データ変調・復調、ＥＣＣ（誤り訂正）を実行する。
【００２８】
タイミング制御部２２７は、ディスクコントローラで符号化された記録データを所定の記録タイミングで間欠的に磁気ヘッドドライバ２０３に供給する。また、再生信号処理部２２８が必要とする各種タイミング信号を供給する。
【００２９】
また、装置内部に温度センサ２０６を設けており、ディスクコントローラ２３０によって、ディスク表面近傍の環境温度を常時観測する機能を有する。
【００３０】
＜ディスク２０１の構造ならびに磁壁移動再生の説明＞
図４は、本実施形態で用いるディスク２０１の層構成を示す断面図である。なおディスク２０１としては、特開平６−２９０４９６号公報に記載されている媒体のうち、３層構造の場合を例としている。具体的には、透明基板４０１上に、干渉層である誘電体層４０２、第１の磁性層（移動層）４０３、第２の磁性層（スイッチング層）４０４、第３の磁性層（メモリ層）４０５、保護層として誘電体層４０６を順次積層した構成となっている。第１の磁性層４０３は、周囲温度近傍において第３の磁性層４０５に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さく、磁壁移動度の大きな磁性層からなり、第２の磁性層４０４は、第１の磁性層４０３および第３の磁性層４０５よりもキュリー温度の低い磁性層からなっている。第３の磁性層４０５は、磁区の保存安定性に優れた通常の磁気記録層からなっている。
【００３１】
透明基板４０１としては、例えばポリカーボネートを用い、その上に誘電体層４０２として、ＳｉＮ層を８０ｎｍ形成している。また、第１の磁性層４０３としてＧｄＦｅＣｏ層を厚さ３０ｎｍ、第２の磁性層４０４としてＤｙＦｅＣｏ層を厚さ１０ｎｍ、第３の磁性層４０５としてＴｂＦｅＣｏ層を厚さ４０ｎｍで、順次、スパッタリングで形成している。
【００３２】
次に、磁壁移動再生の動作原理について図７を用いて説明する。ここでは、記録マークの保存をつかさどるメモリ層、磁壁が移動し再生信号検出に直接寄与する移動層、そしてメモリ層と移動層の結合状態をスイッチするスイッチング層の３層構造の場合に関して説明する。
【００３３】
図７（７−１）は移動層の磁区パターンをトラック上面視した図である。情報トラックは、各トラック間で互いに磁気的に分断されている。図７（７−２）はディスク磁性層の断面視であり、上から順に移動層、スイッチング層及びメモリ層の状態を示している。各層中の矢印は原子スピンの向きを表している。このスピンの向きによって、“０”または“１”からなる情報信号を表現している。また、スピン向きが互いに逆向きの領域の境界部には磁壁が形成されている。図７（７−３）は再生信号の波形である。図７（７−４）は光ビーム照射により昇温されて形成された磁性層の温度分布を示している。温度分布は光ビームスポットの進行方向手前から温度が上昇し、光ビームスポット中心後方に温度のピークが出現する曲線となっている。
【００３４】
再生時、図７（７−１）に示すように光ビームスポットは矢印方向に定速で移動する。光ビームスポットの中心から遅れた位置に、スイッチング層のキュリー温度Ｔｓの等温線が楕円状に形成される。ここで、図７（７−１）に示すＴｓ等温線の外側の領域、すなわち、スイッチング層がキュリー温度に達しない領域においては、移動層は、スイッチング層を介して、磁壁抗磁力が大きなメモリ層と交換結合されているため、移動層の磁壁はメモリ層の対応する磁壁位置に固定されたままである。ところが、媒体が光ビーム照射によって昇温され、Ｔｓ等温線にさしかかると、スイッチング層はキュリー点に達して、移動層とメモリ層の交換結合が切断された状態となる。すなわち、このＴｓ温度領域に記録マークの磁壁が到達すると同時に、移動層の磁壁は、より温度が高く磁壁エネルギー密度の小さな領域へ瞬間的に移動する。
【００３５】
この結果、メモリ層の磁区間隔、すなわち記録マーク長とは無関係に、一定の長さに伸長した磁化領域が移動層に形成される。こうして移動層に拡大形成された磁区は、光ビームの反射光量の変化として検出される。そして、得られた再生信号振幅は、記録マーク長によらず常に一定かつ最大の振幅となり、図７（７−３）示すように矩形に近い波形を示す。以上述べた原理によって、光ビームスポット径や対物レンズの開口数ＮＡなどに依存することなく、光学系回折限界以下の記録マークに対して、非常に大きな再生信号振幅を得ることが可能となる。
【００３６】
＜再生信号処理部２２８の詳細構成及び一連の動作＞
図５を用いて、本実施形態におけるディスク２０１のトラックフォーマットについて概説する。１トラックは、図５（５−１）に示すように、Ｎ個のセグメントによって構成されている。各セグメントは、図５（５−２）に示すように、サーボ領域、プリライト領域、データ領域、ポストライト領域で構成されている。ここで、サーボ領域には、ウォブルマークが形成されており、このウォブルマークによって、フォーカスあるいはトラッキング制御に必要なサンプル信号やアドレス信号等が備えられており、いわゆるサンプルサーボ方式を実現している。また、データ領域においては、所定の変調符号を施された光磁気信号が記録される。
【００３７】
次に、再生信号処理部２２８の構成ならびに一連の動作について図面を用いて詳述する。図３に、再生信号処理部２２８の機能ブロック構成を示す。
【００３８】
図３において、再生信号処理部２２８は、マトリクス演算部３０１、ＡＧＣ（自動利得調整；Auto Gain Control）回路３０２、３０７、フィルタ３０３、３０８、アナログ／デジタル変換器（以下、「Ａ／Ｄ変換器」と記す）３０４、３０９、エッジ検出部３０５、ＰＬＬ（フェーズロックドループ；Phase Locked Loop）３０６、波形等化部３１０、振幅検出部３１１、データ検出部３１２を備えている。
【００３９】
ディスク２０１からの反射光は、磁気カー効果によってカー回転角が与えられる。すなわち、記録磁区パターンに応じて、２つの偏光成分が分離検出され、Ｉ／Ｖ変換アンプ２１８、２１９を経てｉ信号、ｊ信号として出力される。マトリクス演算部３０１は、ｉ信号、ｊ信号の和成分と差成分を求める。差成分からは光磁気記録情報（ｉ−ｊ）信号を検出する。一方、ｉ信号、ｊ信号の和成分である（ｉ＋ｊ）信号からは、ディスク２０１からの反射光量に応じたサーボ用ピット信号出力が得られる。
【００４０】
マトリクス演算部３０１から出力されるサーボ用ピット信号（ｉ＋ｊ）は、ディスク反射率のばらつきや光学特性の固体差、あるいはスタンバイ／再生／記録といった各動作モードにおけるレーザーパワー強度変化による信号レベル差を吸収するために、ＡＧＣ回路３０２によって、反射光量一定相当にゲイン制御される。このようなゲイン制御の後、サーボ用ピット信号（ｉ＋ｊ）は、前置フィルタ３０３によって不要の高域成分が抑圧され、Ａ／Ｄ変換器３０４により、デジタル化される。デジタル化されたピット信号は、エッジ検出部３０５において、ディスク（媒体）のピット部のさまざまなエッジ情報が抽出され、後段のディスクコントローラ２３０に送出される。また、ピット部のエッジ信号をもとに、ＰＬＬ３０６において位相同期ループが構成され、ピット信号に同期したクロックが生成され、Ａ／Ｄ変換器３０４やタイミング制御部２２７に供給される。
【００４１】
一方、マトリクス３０１から出力されるデータ（ｉ−ｊ）信号は、ＡＧＣ回路３０７を経て、前置フィルタ３０８において不要な高域成分が抑圧され、Ａ／Ｄ変換器３０９により、デジタル化される。デジタル化されたデータ信号は、振幅検出部３１１において、信号振幅の大きさが検知される。ここで、データ振幅値が一定レベルになるように、ＡＧＣ回路３０７が帰還制御される。続いて、デジタルデータは、波形等化部３１０において所定のイコライジングされる。次に、データ検出部３１２において、最尤復号によるデータ検出が行われる。得られたデータ信号は、ディスクコントローラ２３０に供給されて、誤り訂正（ＥＣＣ）、復調処理が施される。Ａ／Ｄ変換器３０９、波形等化部３１０およびデータ検出部３１２に必要なクロックや各種のタイミング信号は、タイミング制御部２２７から供給される。
【００４２】
＜ＤＷＤＤ再生開始パワーの定義＞
ところで、本実施形態の再生パワー調整方法に関わる指標であるＤＷＤＤ再生開始パワー（以後、略称「Ｐｒｄｗｄ」とする）について、その定義ならびに測定方法について説明する。
【００４３】
図６は、単一繰り返し波形をデータとして記録したディスクに対し、再生パワーを変化させた時の、データ（ｉ−ｊ）信号の振幅値：ＣＮＲ（キャリア／ノイズ比；Carrier Noise Ratio）（ｄＢ）と、その信号品位を表すジッタ：σ（ｎｓ）をプロットしたものである。計測条件は、線速２．４ｍ／ｓ、マーク長０．０８μｍの繰り返し波形を再生したものである。
【００４４】
同図において、再生パワーを１.０ｍＷから、０．１ｍＷ単位に徐々に上昇させていくと、まず１．０ｍＷから１．２ｍＷまでは、スイッチング層の温度がキュリー温度に達しないため、移動層はメモリ層と交換結合したままであり、磁壁の移動による磁区拡大が起こらず、この光学系では、マーク長０．０８μｍの再生波形は得られない。
【００４５】
続いて、再生パワーを１．２ｍＷから１．３ｍＷに変化させた瞬間に、ＣＮＲが０ｄＢ（再生振幅ゼロ）から＋２４ｄＢ急上昇している。まさに、この再生パワーによってスイッチング層がキュリー温度に達する部分が生じ、磁壁移動による磁区拡大が起き始めていることを示している。ここでは、まだスイッチング層におけるキュリー温度以上になる領域がビームサイズに対して十分大きくない。よって、再生パワーの上昇とともに、スイッチング層のキュリー温度以上の領域が拡大し、再生信号振幅が増加する。やがて、再生パワー１．６〜１.７ｍＷ程度でほぼ飽和レベルのＣＮＲ＝４０ｄＢに達する。再生パワーが増大するとスイッチング層のキュリー温度に達する領域が再生ビーム照射領域に近くなるので、再生信号振幅は再生パワーの変化に対して緩やかな変化を示している。さらに再生パワーを増大させ２．８ｍＷ以上では、媒体の温度上昇により磁気カー回転角が減少してしまい、再生パワーの上昇とともに再生信号振幅は徐々に低下し始める。一方、信号の品位を表すジッタσは、再生パワー２．３ｍＷで最良値σ＝３.３ｎｓを得ている。
【００４６】
以上より、磁壁移動再生を開始する際には、急激な再生振幅増大現象がみられ、その開始パワーは、最適再生パワーである２．３ｍＷに比べて、約１ｍＷ低いパワーであることがわかる。
【００４７】
ここで、本実施形態におけるＤＷＤＤ再生開始パワーとして、再生振幅ゼロを０ｄＢ基準とし、再生レーザーパワーを０.１ｍＷ上昇させて再生振幅の増加が＋６ｄＢ以上得られたパワーと定義する。図６の例では、Ｐｒｄｗｄ＝１．３ｍＷとなる。
【００４８】
図１６を用いて、振幅検出部３１１における再生信号振幅検波の具体例を説明する。図１６（１６−１）は、再生信号の最大振幅が１００％となるようにＡＧＣ回路をホールドさせた再生エンベロープ波形である。図１６（１６−２）は、再生エンベロープに対し、ピーク・ボトムレベルを検波し、信号振幅を検出している模式図である。再生パワーの変化に応じて、再生エンベロープ検波レベルの変化量をディスクコントローラ２３０において監視する。
【００４９】
なお、ＤＷＤＤ再生開始パワーの定義の仕方としては、上記したものに限定されるものではない。たとえば、再生エンベロープの最大振幅１００％に対して、５０％のレベルをしきい値として、大小判定を行ってＤＷＤＤ再生開始パワーを定義してもよい。
【００５０】
次に、ＤＷＤＤ再生開始パワーを実際に計測するための具体的手法について、図８に示すフローチャートを用いて詳述する。
【００５１】
ステップＳ８０１：初期設定
まず、ディスクコントローラ２３０により、ＤＷＤＤ再生開始パワーを計測するための初期設定を行う。具体的には、計測用レジスタ値のクリア、テスト用再生パワーの初期値設定（Ｐｒ＝０．５ｍＷ）、再生信号処理部２２８におけるＡＧＣ回路３０７を所定ゲインに固定させＡＧＣ制御を行わないモードに設定する。その後、ステップＳ８０２に移行する。
【００５２】
ステップＳ８０２、Ｓ８０３：振幅情報Ａ _n の検出、格納
再生レーザーパワーをステップＳ８０１で設定した初期値（Ｐｒ＝０．５ｍＷ）とし、当該再生指示データを再生する。再生データは、再生信号処理２２８の振幅検出３１１においてエンベロープ検波され（ステップＳ８０２）、得られた振幅値がレジスタＡ₁に格納される（ステップ８０３）。その後、ステップ８０４に移行する。
【００５３】
ステップＳ８０４、Ｓ８０８：振幅情報Ａ _n を所定パワーまで繰り返し計測
ｎを試行回数として、ステップＳ８０４において、ｎが所定数を超えているかどうかを判定する。ｎが所定数以下であれば、ステップＳ８０８において、再生パワーをΔＰｒ（例えば０.１ｍＷ）だけ上げて、ステップＳ８０２、Ｓ８０３を実行する。ステップＳ８０４では試行回数を判定しているので、その結果、所定回数ｎに達するまで、再生パワーをΔＰｒ（０.１ｍＷ）ずつ上昇させながら振幅情報Ａ₁、Ａ₂、Ａ₃、…、Ａ_nを計測してレジスタに格納する。所定数の試行が終了すると、ステップＳ８０５に移行する。
【００５４】
ステップＳ８０５：振幅差Δ（Ａ _k −Ａ _k-1 ）の判定
ステップＳ８０５では、レジスタに格納された振幅情報から、Δ（Ａ_k−Ａ_k-1）（１≦ｋ≦ｎ）の最大値Δ（Ａ_k−Ａ_k-1）_maxを求める。そして、Δ（Ａ_k−Ａ_k-1）≧６ｄＢを満足するｋの値を出力する。Δ（Ａ_k−Ａ_k-1）_max＜６ｄＢであれば、ステップＳ８０７に移行し、再生パワーの初期値を下げてリトライ（ステップＳ８０１から再実行）を試みる。
【００５５】
ステップＳ８０６：ＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）の決定
ステップＳ８０５においてΔ（Ａ_k−Ａ_k-1）_max≧６ｄＢであれば、ステップＳ８０６において、振幅差Δ（Ａ_k−Ａ_k-1）が最大、かつΔ（Ａ_k−Ａ_k-1）≧６ｄＢを満たすｋの値に基づく再生供与パワー値Ｐｒ（ｋ）をＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）とする。
【００５６】
Ｐｒｄｗｄ＝Ｐｒ（ｋ）
＜再生パワー学習の意味ならびに一連の動作について＞
さて、本明細書では、これより“再生パワー学習”という用語を用いるが、その意味ならびに動作フローについて、ここに図面を用いて説明する。
【００５７】
“再生パワー学習”とは、再生信号の品質が最良となる再生パワーを検知することである。前述の図６では、再生信号におけるフィルタ３０８の出力を観測し、時間軸変動成分であるジッタσを評価指標に定め、再生パワーＰｒ＝２．３ｍＷ時に、最も信号品位が良くなることが示されていた。このように、通常の“再生パワー学習”は、再生パワーを低パワーから高パワーまで段階的に可変しながら、ある評価指標をもとに最適再生パワーＰｒを試行して求める作業となる。
【００５８】
図１０は再生パワー学習の動作フローチャートである。図１０を用いて再生パワー学習の具体的動作を説明する。
【００５９】
ステップＳ１００１：初期設定
まず、ディスクコントローラ２３０により、再生パワー学習に必要な初期設定を行う。具体的には、計測用レジスタ値のクリア、テスト用再生パワーの可変域（開始点・終了点）の設定などを行う。その後、ステップＳ１００２に移行する。
【００６０】
ステップＳ１００２、Ｓ１００３：エラーレート算出、格納
ステップＳ１００２では、再生パワーを開始点に設定し、指定された再生領域を再生する。得られたデータはディスクコントローラ２３０におけるＥＣＣ（誤り訂正）部によって、エラー数が検出され、エラーレートＥ₁が算出される。その後、ステップＳ１００３において、エラーレートはレジスタに格納される。その後、ステップＳ１００４に移行する。
【００６１】
ステップＳ１００４、Ｓ１００８：再生パワー可変域のエラーレートの算出
ｎを試行回数として、ステップＳ１００４において、ｎが所定値に達したかどうかを判定する。ｎが所定数未満であれば、ステップＳ１００８において、再生パワーをΔＰｒ（例えば０．１ｍＷ）だけ上げて、ステップＳ１００２、Ｓ１００３を実行する。その結果、ｎが所定値に達するまでΔＰｒ（０．１ｍＷ）ステップで上昇させたそれぞれの再生パワーにおけるエラーレートが順次Ｅ₁、Ｅ₂、Ｅ₃、…、Ｅ_Nのように算出され、レジスタに格納される。所定値の試行が終了すると、ステップＳ１００５に移行する。
【００６２】
ステップＳ１００５：Ｅ _N 判定
ステップＳ１００５では、レジスタに格納されたエラーレートＥ₁、Ｅ₂、Ｅ₃、…、Ｅ_Nの信頼性を判定する。図９は、各レジスタに格納されたエラーレート値と計測時の再生パワーをプロットしたものである。低再生パワー側あるいは高再生パワー側でエラーレートが悪化している様子がうかがえる。同図において判定レベルＥ_thが設定されている。ここでは、判定レベルＥ_thは、エラーレート＝５．０×１０^-4のラインを示している。ステップＳ１００５において、得られたエラーレートＥ₁、Ｅ₂、Ｅ₃、…、Ｅ_Nの全てがこの判定レベルＥ_thを上回った場合、ステップＳ１００９に移行してリトライ（ステップＳ１００１から再実行）させる。それ以外であれば、ステップＳ１００６に移行する。
【００６３】
ステップＳ１００６：上限パワー（Ｐｒｍａｘ）、下限パワー（Ｐｒｍｉｎ）の算出
図９に示されるエラーレートＥ₁、Ｅ₂、Ｅ₃、…、Ｅ_Nのカーブと判定レベルＥ_thとの交点を求める。それらの交点を低パワー側においてＰｒｍｉｎ（ｍＷ）、高パワー側においてＰｒｍａｘ（ｍＷ）とする。実際には、再生パワーのステップ幅が比較的粗いサンプル値であるため、エラーレート＝５．０×１０^-4に相当する再生パワーを線形補間する。こうして、ステップＳ１００６において、判定レベルＥ_thとエラーレート曲線との２つの交点Ｐｒｍｉｎ、Ｐｒｍａｘを算出する。
【００６４】
ステップＳ１００７：最適再生パワーＰｒ算出
ステップＳ１００６で算出されたＰｒｍｉｎ、Ｐｒｍａｘから、次式で最適再生パワーＰｒを算出する。
【００６５】
Ｐｒ＝（Ｐｒｍａｘ＋Ｐｒｍｉｎ）／２
これは、図９に示されるとおり、エラーレート５．０×１０^-4に相当する再生パワーの上下限値のセンター値をもって、最適再生パワーＰｒに設定するものである。
【００６６】
（第１の実施形態）
＜第１の実施形態による最適再生パワーの制御フロー＞
本発明は、これまで説明したＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）の変化を監視することによって、再生パワーを最適化するものである。図１は、本実施形態に基づく最適再生パワー調整方法の全体動作を示すフローチャートであり、これについて図面を参照しながら制御フローを詳述する。
【００６７】
ステップＳ１０１：再生領域へシーク
まず、ディスクコントローラ２３０は、インタフェースを介し外部から再生コマンドを受けると、ディスク２０１上の再生を指示された領域に光学ヘッド２４０をシーク動作させ、再生スタンバイとする。
【００６８】
ステップＳ１０２、Ｓ１０３：ＤＷＤＤ再生開始パワーの検出と格納
ステップＳ１０１のシーク動作の後、再生信号処理部２２８は、ディスクコントローラ２３０からの制御を受け、その再生を指示された領域におけるＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）を計測する（ステップＳ１０２）。得られたＤＷＤＤ再生開始パワーはレジスタに格納する（ステップＳ１０３）。その後、ステップＳ１０４に移行する。
【００６９】
ステップＳ１０４：初回判定
ｋをＤＷＤＤ再生開始パワーの検知回数として、ステップＳ１０４では、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｎ）の検知が初回であるかどうか、すなわちｎ＝１であるかどうかを判定する。初回（Ｐｒｄｗｄ（１））である場合には、ステップＳ１１０に移行し、最適再生パワーの学習を行う。ＤＷＤＤ再生開始パワーの検知が２回目以降（Ｐｒｄｗｄ（ｎ）：ｎ＞１）であれば、ステップＳ１０５に移行する。
【００７０】
ステップＳ１１０：再生パワー学習時のパワー可変域設定
ＤＷＤＤ再生開始パワーの検知が初回である場合、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（１）に基づいて、再生パワー学習を試行する際のパワー可変域を設定する。図１１は、再生パワーと再生信号振幅値の関係を示している。再生指示されたデータに対して、再生パワーを低パワーから高パワーへと複数ステップずつ変えながら試行再生し、再生信号品位が最良となる再生パワーを最適再生パワーとして設定する。再生パワーが低過ぎると磁壁移動再生が起こらず、また高過ぎても磁気カー回転角の低下によって再生信号品位が下がってしまう。そこで、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（１）の結果に基づいて、
Ｐｒ１＝Ｐｒｄｗｄ（１）＋α（ｍＷ）
Ｐｒ２＝Ｐｒ１＋β（ｍＷ）
と定める。（α、βは定数）
こうして設定された可変域Ｐｒ１からＰｒ２において、再生パワー学習を試行する。そして、パワー可変域は、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化に追従して調整域が変更される。そして、ステップＳ１１１に移行する。
【００７１】
ステップＳ１１１、Ｓ１１２：再生パワーの学習と最適再生パワーの設定
ステップＳ１１１では、ステップＳ１１０で求められたパワー可変域に基づいて再生パワー学習を行う。その後、ステップ１１２において、ステップＳ１１１の再生パワー学習によって得られた最適再生パワーＰｒを再生パワーに設定し、処理を終了する。
【００７２】
ステップＳ１０５、Ｓ１０６：ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化の監視
ステップＳ１０４で２回目以降ＤＷＤＤ再生開始パワーが検出された場合、ステップＳ１０５において、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化を監視する。具体的には、現在算出された値Ｐｒｄｗｄ（ｎ）とその１つ前に算出された値Ｐｒｄｗｄ（ｎ−１）の差成分ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）を算出する。
【００７３】
ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（ｎ−１）
そして、ステップＳ１０６において、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）が０かどうかを判断し、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝０、すなわちＤＷＤＤ再生開始パワーに変化がない場合は、ステップＳ１０９に移行し、最適再生パワーを変更しないこととし、処理を終了する。一方、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）≠０でない場合は、ステップＳ１０７に移行する。
【００７４】
ステップＳ１０７：Ｐｒｄｗｄ変化総量判定
ステップＳ１０７では、ステップＳ１０６で現在算出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｎ）と１回目に算出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（１）の変化の大きさ｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜を算出する。そして、
｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜＞γ（γは定数）
を満たす変動があった場合、ステップＳ１１０に移行して、後述するように、再生パワー学習を再実施する。これに対し、｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜がγ以下の場合には、ステップＳ１０８に移行して、最適再生パワーの補正を行う。
【００７５】
ステップＳ１０８：最適再生パワー補正
ステップＳ１０８では、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量に応じて、パワー学習を経ずに実際の再生パワーの補正を行う。
【００７６】
図１２に、再生パワーの補正における時間による遷移の様子を示す。同図において、横軸は時間、縦軸は再生パワーである。ある時刻（ｔ１以前）において、本実施形態の記録再生装置が起動し、各時刻ｔ１、ｔ２、ｔ３、…において、ＤＷＤＤ再生開始パワーが監視され、同時に、最適再生パワーが設定されるものとする。図１２（１２−１）は、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄの時間遷移である（白丸印でプロット）。また、図１２（１２−２）は、最適再生パワー設定値の時間遷移である（黒丸印でプロット）。
【００７７】
いま、時刻ｔ１で検出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｔ１）をもとに、パワー学習によって求めた最適再生パワーＰｒ（ｔ１）を設定する。続いて、時刻ｔ２でＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｔ２）が検出される。ＤＷＤＤ再生開始パワーが時刻ｔ１からｔ２の間に、ΔＰｒｄｗｄ（ｔ２）＝｜Ｐｒｄｗｄ（ｔ２）−Ｐｒｄｗｄ（ｔ１）｜だけ低下している。これは、起動とともに装置内部の温度が上昇し、ディスク２０１上のスイッチング層に形成されるＴｓ等温線の領域が、より低い再生パワーで達成し得るようになったためである。
【００７８】
そこで、時刻ｔ２では、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量であるΔＰｒｄｗｄ（ｔ２）だけ、最適再生パワーＰｒ（ｔ１）を補正する。
【００７９】
Ｐｒ（ｔ２）＝Ｐｒ（ｔ１）＋ΔＰｒｄｗｄ（ｔ２）
以下同様に、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量に応じて、最適再生パワーを補正する。
【００８０】
Ｐｒ（ｔ３）＝Ｐｒ（ｔ２）＋ΔＰｒｄｗｄ（ｔ３）
…
Ｐｒ（ｔｋ）＝Ｐｒ（ｔｋ−１）＋ΔＰｒｄｗｄ（ｔｋ）（１≦ｋ≦ｎ）
図１２（１２−１）、（１２−２）に示すように、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化に比例して、実際の最適再生パワーの設定値も補正される。時刻ｔ５付近より、装置内部の温度上昇が飽和してＤＷＤＤ再生開始パワーの変動が収束する傾向が見られるが、再生パワー設定値も、こうした動的変動に追従して最適化させることができる。
【００８１】
なお、本実施形態のステップＳ１０８における最適再生パワーの補正は、検出したＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量に一対一の比で最適再生パワーを補正しているが、本発明の主旨はこれを限定するものではなく、所定の係数を設けて、
Ｐｒ（ｋ）＝ｐ×Ｐｒ（ｋ−１）＋ｑ×ΔＰｒｄｗｄ（ｋ）（ｐ、ｑ：定数）として、最適再生パワーを補正し得ることは論をまたない。
【００８２】
ところで、装置内部温度が一定温度まで上昇した光磁気ディスクドライブ装置に、新たに外気温相当のディスクを入れて再生動作させる状況を模式的にプロットしたものが、図１２（１２−３）、（１２−４）である。図１２（１２−３）は、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄの時間遷移である（白丸印でプロット）。また、図１２（１２−４）は、最適再生パワー設定値の時間遷移である（黒丸印でプロット）。
【００８３】
ディスクの入れ替え後、時刻ｔ１３で検出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｔ１３）をもとに、パワー学習によって求めた最適再生パワーＰｒ（１３）を設定する。続いて、時刻ｔ１４でＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｔ１４）が検出される。ＤＷＤＤ再生開始パワーが、時刻ｔ１３からｔ１４の間に、ΔＰｒｄｗｄ（ｔ１４）＝｜Ｐｒｄｗｄ（ｔ１４）−Ｐｒｄｗｄ（ｔ１３）｜だけ低下している。これはディスクの入れ替え直後、ディスク磁性膜の温度が外気温相当だったものが、装置内部の高温環境下によって急激に温度上昇し、ディスク上のスイッチング層に形成されるＴｓ等温線の領域が、より低い再生パワーで達成し得るようになったためである。そこで、時刻ｔ１４では、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量であるΔＰｒｄｗｄ（ｔ１４）だけ、最適再生パワーＰｒ（ｔ１３）を補正する。
【００８４】
Ｐｒ（ｔ１４）＝Ｐｒ（ｔ１３）＋ΔＰｒｄｗｄ（ｔ１４）
以下同様に、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量に応じて、最適再生パワーを補正することができる。
【００８５】
以上のようにして、ステップＳ１０８の最適再生パワーの補正が行われる。この最適再生パワーの補正が行われた後、処理を終了する。
【００８６】
＜再生パワー学習の再実施＞
以下、ステップＳ１０７において｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜＞γであったときに行われる再生パワー学習の再実施について、図１５を用いて説明する。
【００８７】
最適再生パワー初期値Ｐｒ（１）の設定後、相当なる温度変化、時間経過、ディスク内の位置変化等が生じると、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量による校正のみでは補正誤差が生じることがある。図１５（１５−１）は、ＤＷＤＤ再生開始パワーの検出結果を時間軸にプロットしたものである。ステップＳ１０８の最適再生パワーの補正に関連して述べたとおり、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化を監視して、最適再生パワーＰｒを補正する。図１５（１５−２）はＰｒｄｗｄの変化に基づく最適再生パワーＰｒを補正するカーブを示す。いま、時刻ｔ５において、Ｐｒｄｗｄ（５）がＰｒｄｗｄ（１）に比べてγ（ｍＷ）以上変化している。したがって、ステップＳ１０７による判定で、再生パワー学習を再実施し、最適再生パワーＰｒ（５）を求めて再設定している。以後、図１５（１５−３）のように、Ｐｒｄｗｄの変化を監視して再生パワーを校正する。時刻ｔ５でのパワー学習実施後は、Ｐｒｄｗｄ（５）を基準として、Ｐｒｄｗｄの変化総量を判定する。
【００９２】
（第２の実施形態）
＜第２の実施形態による最適再生パワーの制御フロー＞
本実施形態は、所定のテスト領域において最適再生パワー（Ｐｒ）とＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）の比率ｋを求めてレジスタに格納しておき、ＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）変化に応じて、再生パワーを最適調整するものである。図１８は、本実施形態に基づく最適再生パワー調整方法の全体動作を示すフローチャートであり、これについて図面を参照しながら制御フローを詳述する。
【００９３】
ステップＳ１８０１、Ｓ１８０２：最適再生パワーの学習と格納
ディスクコントローラ２３０は、ディスク２０１上所定のテスト領域に光学ヘッド２４０をシーク動作させ、最適再生パワー（Ｐｒ）を学習する（ステップＳ１８０１）。求めた最適再生パワーをレジスタに格納する（ステップＳ１８０２）。
【００９４】
ステップＳ１８０３、Ｓ１８０４：ＤＷＤＤ再生開始パワーの検出と格納
続いて、ディスクコントローラ２３０からの制御を受け、その再生を指示された領域におけるＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）を計測する（ステップＳ１８０３）。得られたＤＷＤＤ再生開始パワーはレジスタに格納する（ステップＳ１８０４）。
【００９５】
ステップＳ１８０５：補正値ｋの算出と格納
レジスタに格納された、最適再生パワー（Ｐｒ）とＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）の比率を算出する。本実施形では、ｋ＝（Ｐｒ）−（Ｐｒｄｗｄ）を求めてレジスタに格納する。
【００９６】
ステップＳ１８０６、Ｓ１８０７：ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化の監視
ステップＳ１８０６において、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化を監視する。具体的には、現在算出された値Ｐｒｄｗｄ（ｎ）とその１つ前に算出された値Ｐｒｄｗｄ（ｎ−１）の差成分ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）を算出する。
【００９７】
ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（ｎ−１）
そして、ステップＳ１８０７において、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）が０かどうかを判断し、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝０、すなわちＤＷＤＤ再生開始パワーに変化がない場合は、ステップＳ１８１０に移行し、最適再生パワーを変更しないこととし、処理を終了する。一方、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）≠０でない場合は、ステップＳ１８０８に移行する。
【００９８】
ステップＳ１８０８：Ｐｒｄｗｄ変化総量判定
ステップＳ１８０８では。現在算出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｎ）と１回目に算出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（１）の変化の大きさ｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜を算出する。そして、
｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜＞δ（δは定数）
を満たす変動があった場合、ステップＳ１８１１に移行して、補正値ｋを再度求め直す。これに対し、｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜がδ以下の場合には、ステップＳ１８０９に移行して、最適再生パワーの補正を行う。
【００９９】
ステップＳ１８０９：最適再生パワー補正
ステップＳ１８０９では、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｎ）に、予めレジスタに格納している補正値ｋを加算する。
【０１００】
すなわち、
Ｐｒ（ｎ）＝Ｐｒｄｗｄ（ｎ）＋ｋ
となるように、Ｐｒ（ｎ）を補正することで、最適再生パワーＰｒ（ｎ）を算出し、パワー学習工程を経ずに実際の再生パワーの補正を行う。
【０１０１】
なお、ステップＳ１８０５において補正値ｋは（Ｐｒ）と（Ｐｒｄｗｄ）の差分を用いたが、これに拘束されるものではなく（Ｐｒ）と（Ｐｒｄｗｄ）の比を用いてもかまわない。また、ステップＳ１８１１等における補正値の再学習は、所定のテスト領域に限定されるものではなく、ユーザーデータ領域においても最適再生パワーならびにＤＷＤＤ再生開始パワーの検出によって算出可能である。
【０１０２】
（第１の参考実施例）
以下、本発明による第１の参考実施例について図面を参照して詳細に説明する。第１の参考実施例は、これまで説明した“ＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）”の変化を監視することによって、記録パワーを最適化するものである。図１３は、本参考実施例に基づく最適記録パワー調整方法の全体動作を示すフローチャートであり、これについて、図面を参照しながら制御フローを詳述する。
【０１０３】
＜起動シーケンス：図１３（１３−１）＞
ステップＳ１３０１：パワー学習
装置起動時あるいはディスク入れ替え時に、まず、ディスク所定領域において所定のパワー学習を行い（ステップＳ１３０１）、記録パワー初期値Ｐｗ（０）、再生パワー初期値Ｐｒ（０）を設定する。これらは通常のパワー調整工程に基づくものである。さらに、ＤＷＤＤ再生開始パワー初期値Ｐｒｄｗｄ（０）を検知して初期設定する。
【０１０４】
＜記録パワー調整シーケンス：図１３（１３−２）＞
ステップＳ１３０２、Ｓ１３０３：ＤＷＤＤ再生開始パワーの検出と格納
ディスクコントローラ２３０は、所定の間欠動作タイミングにしたがって、ＤＷＤＤ再生開始パワーの検出を行う。再生信号処理部２２８は、まず、ステップＳ１３０２において、ディスクコントローラ２３０からの制御を受け、記録直後のデータをもとにＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄを計測する。得られたＤＷＤＤ再生開始パワーはレジスタに格納する（ステップＳ１３０３）。その後、ステップＳ１３０４に移行する。
【０１０５】
ステップＳ１３０４、Ｓ１３０５：ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化の監視
ステップＳ１３０４では、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化を監視する。具体的には、現在算出された値Ｐｒｄｗｄ（ｎ）とその１つ前に算出された値Ｐｒｄｗｄ（ｎ−１）の差成分ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）を算出する。
【０１０６】
ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（ｎ−１）
その後、ステップＳ１３０５において、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝０かどうかを判定する。ここでΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝０、すなわちＤＷＤＤ再生開始パワーに変化がない場合は、ステップＳ１３０８に移行し、記録パワーを変更しないものとして、処理を終了する。一方、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）≠０の場合には、ステップＳ１３０６に移行する。
【０１０７】
ステップＳ１３０６：Ｐｒｄｗｄ変化総量判定
ステップＳ１３０６では、ステップＳ１３０５において現在算出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｎ）とステップＳ１３０１で算出されたＤＷＤＤ再生開始パワー初期値Ｐｒｄｗｄ（０）の変化の大きさ｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（０）｜を算出する。
【０１０８】
そして、
｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（０）｜＞γ（γは定数）
を満たす変動があった場合、ステップＳ１３０９に移行して、記録パワー学習を再実施する。これに対し、｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（０）｜≦γの場合には、ステップＳ１３０７に移行する。
【０１０９】
ステップＳ１３０９：記録パワー学習
ステップＳ１３０９では、記録パワー学習を行い、最適記録パワーを設定し、その後、処理を終了する。
【０１１０】
ステップＳ１３０７：最適記録パワー補正
ステップＳ１３０７では、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量に応じて、パワー学習を経ずに実際の記録パワーの補正を行う。その後、処理を終了する。
【０１１１】
図１４に、記録パワーの補正における時間遷移の様子を示す。同図において、横軸は時間、縦軸は記録パワーである。ある時刻（ｔ１以前）において本参考実施例を搭載した装置が起動し、各時刻ｔ１、ｔ２、ｔ３、…において、ＤＷＤＤ再生開始パワーが監視され、同時に、最適記録パワーが設定されるものとする。図１４（１４−１）は、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄの時間遷移である（白丸印でプロット）。また、図１４（１４−２）は、最適記録パワー設定値の時間遷移である（黒丸印でプロット）。
【０１１２】
いま、時刻ｔ１で検出されたＤＷＤＤ再生開始パワーをＰｒｄｗｄ（ｔ１）、続いて、時刻ｔ２におけるＤＷＤＤ再生開始パワーがＰｒｄｗｄ（ｔ２）と検出されたとする。ＤＷＤＤ再生開始パワーが時刻ｔ１からｔ２の間に、ΔＰｒｄｗｄ（ｔ２）＝｜Ｐｒｄｗｄ（ｔ２）−Ｐｒｄｗｄ（ｔ１）｜だけ低下している。これは、起動とともに装置内部が温度上昇し、ディスク２０１上のスイッチング層に形成されるＴｓ等温線の領域が、より低い再生パワーで達成し得るようになったためである。
【０１１３】
そこで、時刻ｔ２では、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量であるΔＰｒｄｗｄ（ｔ２）だけ、最適記録パワーＰｗ（ｔ１）を補正する。
【０１１４】
Ｐｗ（ｔ２）＝Ｐｗ（ｔ１）＋ΔＰｒｄｗｄ（ｔ２）
以下同様に、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量に応じて、最適記録パワーを補正する。
【０１１５】
Ｐｗ（ｔ３）＝Ｐｗ（ｔ２）＋ΔＰｒｄｗｄ（ｔ３）
…
Ｐｗ（ｔｋ）＝Ｐｗ（ｔｋ−１）＋ΔＰｒｄｗｄ（ｔｋ）（１≦ｋ≦ｎ）
図１４（１４−１）、（１４−２）に示すように、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化に比例して、実際の最適記録パワーの設定値も補正される。時刻ｔ５付近より、装置内部の温度上昇が飽和してＤＷＤＤ再生開始パワーの変動が収束する傾向があるが、最適記録パワー設定値も、こうした動的変動に追従して最適化させることができる。
【０１１６】
ところで、装置内部温度が一定温度まで上昇した光磁気ディスクドライブ装置に、新たに外気温相当のディスクを入れて記録動作させる状況を模式的にプロットしたのもが、図１４（１４−３）、（１４−４）である。図１４（１４−３）は、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄの時間遷移である（白丸印でプロット）。また、図１４（１４−４）は、最適記録パワー設定値の時間遷移である（黒丸印でプロット）。
【０１１７】
ディスクの入れ替え後、時刻ｔ１３においてＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｔ１３）を検出し、一方、記録パワー学習によって求めた最適記録パワーＰｗ（１３）が設定される。続いて、時刻ｔ１４でＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｔ１４）が検出される。ＤＷＤＤ再生開始パワーが時刻ｔ１３からｔ１４の間に、ΔＰｒｄｗｄ（ｔ１４）＝｜Ｐｒｄｗｄ（ｔ１４）−Ｐｒｄｗｄ（ｔ１３）｜だけ低下している。これはディスクの入れ替え直後、ディスク磁性膜の温度が外気温相当だったものが、装置内部の高温環境下によって急激に温度上昇し、ディスク上のスイッチング層に形成されるＴｓ等温線の領域が、より低い再生パワーで達成し得るようになったためである。そこで、時刻ｔ１４では、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量であるΔＰｒｄｗｄ（ｔ１４）だけ、最適記録パワーＰｗ（ｔ１３）を補正する。
【０１１８】
Ｐｗ（ｔ１４）＝Ｐｗ（ｔ１３）＋ΔＰｒｄｗｄ（ｔ１４）
以下同様に、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量に応じて、最適記録パワーを補正する。このようにして、ステップＳ１３０７の最適記録パワーの補正が行われる。その後、処理を終了する。
【０１１９】
（第２の参考実施例）
＜第２の参考実施例による最適記録パワーの制御フロー＞
本参考実施例は、所定のテスト領域において最適記録パワー（Ｐｗ）とＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）の比率ｋを求めてレジスタに格納しておき、ＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）変化に応じて、記録パワーを最適調整するものである。図１９は、本参考実施例に基づく最適記録パワー調整方法の全体動作を示すフローチャートであり、これについて図面を参照しながら制御フローを詳述する。
【０１２０】
ステップＳ１９０１、Ｓ１９０２：最適記録パワーの学習と格納
ディスクコントローラ２３０は、ディスク２０１上所定のテスト領域に光学ヘッド２４０をシーク動作させ、最適記録パワー（Ｐｗ）を学習する（ステップＳ１９０１）。求めた最適記録パワーをレジスタに格納する（ステップＳ１９０２）。
【０１２１】
ステップＳ１９０３、Ｓ１９０４：ＤＷＤＤ再生開始パワーの検出と格納
続いて、ディスクコントローラ２３０からの制御を受け、その再生を指示された領域におけるＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）を計測する（ステップＳ１８０３）。得られたＤＷＤＤ再生開始パワーはレジスタに格納する（ステップＳ１８０４）。
【０１２２】
ステップＳ１９０５：補正値ｋの算出と格納
レジスタに格納された、最適記録パワー（Ｐｗ）とＤＷＤＤ再生開始パワー（Ｐｒｄｗｄ）の比率を算出する。本実施形では、ｋ＝（Ｐｗ）−（Ｐｒｄｗｄ）を求めてレジスタに格納する。
【０１２３】
ステップＳ１９０６、Ｓ１９０７：ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化の監視
ステップＳ１９０６において、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化を監視する。具体的には、現在算出された値Ｐｒｄｗｄ（ｎ）とその１つ前に算出された値Ｐｒｄｗｄ（ｎ−１）の差成分ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）を算出する。
【０１２４】
ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（ｎ−１）
そして、ステップＳ１９０７において、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）が０かどうかを判断し、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）＝０、すなわちＤＷＤＤ再生開始パワーに変化がない場合は、ステップＳ１９１０に移行し、最適記録パワーを変更しないこととし、処理を終了する。一方、ΔＰｒｄｗｄ（ｎ）≠０でない場合は、ステップＳ１９０８に移行する。
【０１２５】
ステップＳ１９０８：Ｐｒｄｗｄ変化総量判定
ステップＳ１９０８では。現在算出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｎ）と１回目に算出されたＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（１）の変化の大きさ｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜を算出する。そして、
｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜＞ε（εは定数）
を満たす変動があった場合、ステップＳ１９１１に移行して、補正値ｋを再度求め直す。これに対し、｜Ｐｒｄｗｄ（ｎ）−Ｐｒｄｗｄ（１）｜がε以下の場合には、ステップＳ１９０９に移行して、最適記録パワーの補正を行う。
【０１２６】
ステップＳ１９０９：最適記録パワー補正
ステップＳ１９０９では、ＤＷＤＤ再生開始パワーＰｒｄｗｄ（ｎ）に、予めレジスタに格納している補正値ｋを加算する。
【０１２７】
すなわち、
Ｐｗ（ｎ）＝Ｐｒｄｗｄ（ｎ）＋ｋ
となるように、Ｐｗ（ｎ）を補正することで、最適記録パワーＰｗ（ｎ）を算出し、パワー学習工程を経ずに実際の記録パワーの補正を行う。
【０１２８】
なお、ステップＳ１９０５において補正値ｋは（Ｐｗ）と（Ｐｒｄｗｄ）の差分を用いたが、これに拘束されるものではなく（Ｐｗ）と（Ｐｒｄｗｄ）の比を用いてもかまわない。
【０１２９】
以上、本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、ＤＷＤＤ再生開始パワーの監視タイミングは、ディスクコントローラ２３０によって統括される。この際、装置の電源立上げ直後、ディスク入れ替え直後、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変動量の大きさなどを鑑みて、記録再生に関わる動的変動が大きく発生し得る状況下においては、通常時よりも監視タイミングを早めて追従精度を上げるよう設計するのはもちろんである。逆に、定常動作中、記録再生スタンバイ時、あるいはＤＷＤＤ再生開始パワーの変動量が少ない場合などは、通常よりも監視タイミングを長くして監視の頻度を小さくし、省電力に寄与するように設計するのはもちろんである。
【０１３０】
また、上述の実施例では、ＤＷＤＤ再生開始パワーの変化量を監視し、再生パワー補正を行ったが、機器内部に設けた温度センサを用いて所定量以上の温度変化を監視し補正を行っても良い。更に、装置内部温度の変動が大きい状況下においては、通常時よりも監視タイミングを早めて追従精度を上げるよう設計するようにしてもよい。一方、装置内部温度の変動が少ない状況下すなわちＤＷＤＤ再生開始パワーの変動が少ない状況においては、通常よりも監視タイミングを間欠させて、省電力に尽くすよう設計しても良い。
【０１３１】
また、ここでは本発明の好ましい実施の形態について、ハードウエアを踏まえた構成について説明したが、本発明はこれに制約されることなく、ソフトウエアによるプログラム処理によっても実現可能なのはもちろんである。
【０１３２】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、磁気超解像現象に基づく磁化状態の変化が開始される光ビームパワーと最適となる記録または再生パワーを予め求め、しかる後、最適記録または再生光ビームパワーと再生開始光ビームパワーとの関係値（差或いは比）を求めて保持しておき、記録／再生光ビームパワーの再設定を行う際には、再生開始光ビームパワーのみを検出し、その検出値と上記関係値をもとに記録／再生光ビームパワーの補正をかけている。
【０１３３】
これにより、再設定毎に試し書きを伴う最適記録／再生光ビームパワーの学習動作を行う必要がなく、調整時間の大幅な短縮を実現できる。また、従来の方法でのパワー調整工程は、所定のテスト領域にシーク動作を行うことからアクセス時間が多大にかかるばかりか、信号品位の判定にエラーレート等を用いていたため、計測には相当量のデータ記録、再生を繰り返し試行する必要があったが、本発明による再生開始パワーの計測は、再生信号振幅から瞬時に得られるため、パワー調整に関わる大幅な時間短縮効果が得られる。
【０１３４】
また、再生開始光ビームパワーはディスク固体特性差、環境温湿度変化、ディスクの反り、ディスク反射面の汚れ、経時耐久性能変化などの記録再生に関わる様々な変動要因を反映したものであるので、それらを考慮した記録または再生パワーの最適な設定が可能になる。
【０１３５】
また、再生開始光ビームパワーの検出結果に基づいて、再生光ビームパワーの学習の際のパワー可変域を最適設定しているので、再生光ビームパワーの設定値が低過ぎたり、高過ぎたりせず、不必要な範囲に渡る試行録再を避けられる為、媒体保護あるいはパワー調整に要する時間短縮を実現できる。
【０１３６】
さらに、再生光ビームパワーの再設定を、再生開始光ビームパワーの変化を監視しながら行っているので、センサなどの付加的な構成を必要とせずに再設定のタイミングを計ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に関わる動作を示すフローチャートである。
【図２】記録再生装置の機能ブロック図である。
【図３】再生信号処理部の機能ブロック図である。
【図４】本発明が適用されるディスク（光磁気記録媒体）の構造の一例を示す模式断面図である。
【図５】ディスクにおけるトラックデータ構造を説明する図である。
【図６】本発明に関わる磁壁移動再生開始パワーを説明する図である。
【図７】磁壁移動再生の原理の説明する図である。
【図８】本発明に関わる磁壁移動再生開始パワー検知の動作を示すフローチャートである。
【図９】再生パワー学習を説明するグラフである。
【図１０】再生パワー学習の動作の動作を示すフローチャートである。
【図１１】本発明に関わる再生パワー学習可変域を説明するグラフである。
【図１２】本発明に関わる再生パワーの自動校正を説明するグラフである。
【図１３】本発明の第１の参考実施例に関わる動作を示すフローチャートである。
【図１４】本発明に関わる記録パワーの自動校正を説明するグラフである。
【図１５】本発明に関わる再生パワー学習の再実施を説明するグラフである。
【図１６】再生信号の振幅検波を説明する図である。
【図１７】ＭＳＲ媒体における再生原理、特性を説明する図である。
【図１８】本発明の第２の実施形態に関わる動作を示すフローチャートである。
【図１９】本発明の第２の参考実施例に関わる動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
２０１：ディスク
２０２：磁気ヘッド
２０３：磁気ヘッドドライバ
２０４：駆動コイル
２０５：対物レンズ
２０７、２１０：ビームスプリッタ
２０８、２１２、２１４：集光レンズ
２０９：半導体レーザ
２１１：１／２波長板
２１３：偏光ビームスプリッタ
２１５：シリンドリカルレンズ
２１６、２１７、２２０：光センサ（ＰＩＮフォトダイオード）
２１８、２１９、２２１：Ｉ／Ｖ変換アンプ
２２２：スピンドルモータ
２２３：スピンドルモータドライバ
２２４：ＡＴ／ＡＦドライバ
２２５：ＬＤドライバ
２２６：ヘッド送り機構
２２７：タイミング制御部
２２８：再生信号処理部
２２９：サーボ制御部
２３０：ディスクコントローラ
３０１：マトリクス演算部
３０２、３０７：ＡＧＣ回路
３０３、３０８：フィルタ
３０４、３０９：Ａ／Ｄ変換器
３０５：エッジ検出部
３０６：ＰＬＬ
３１０：波形等化部
３１１：振幅検出部
３１２：データ検出部

Claims

磁壁移動型光磁気記録媒体に光ビームをスポット状に照射し、スポット内における移動層の磁壁を移動させることにより情報の再生を行う光磁気記録再生装置において、
前記磁壁の移動が開始される光ビームパワーを検出する手段と、再生光ビームパワーを補正する手段と、再生光ビームパワーを学習する手段と、前記磁壁移動開始光ビームパワーの変化を監視する手段とを有し、前記磁壁移動開始光ビームパワーに変化が生じた場合は再生光ビームパワーを補正し、前記磁壁移動開始光ビームパワーの変化量が所定量以上の場合は再生光ビームパワーを再度学習により求めることを特徴とする光磁気記録再生装置。
前記補正手段は、前記再生光ビームパワーに前記磁壁移動開始再生光ビームパワーの変化量を加算することにより再生光ビームパワーの補正を行なうことを特徴とする請求項１に記載の光磁気記録再生装置。
前記補正手段は、学習により求めた再生光ビームパワーと検出した磁壁移動開始光ビームパワーとの差或いは比を予め記憶しておき、変化した磁壁移動開始光ビームパワーと前記記憶されている差或いは比を用いて、補正された再生光ビームパワーを求めることを特徴とする請求項１に記載の光磁気記録再生装置。