JPH09204317A - 誤り検出訂正回路の診断装置 - Google Patents
誤り検出訂正回路の診断装置Info
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- JPH09204317A JPH09204317A JP8012903A JP1290396A JPH09204317A JP H09204317 A JPH09204317 A JP H09204317A JP 8012903 A JP8012903 A JP 8012903A JP 1290396 A JP1290396 A JP 1290396A JP H09204317 A JPH09204317 A JP H09204317A
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 abstract description 9
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 上位装置または診断制御装置を介在させず
に、テストデータのすべてのパターンを逐次生成し、さ
らに各パターンごとにすべての極性反転パターンを逐次
生成する。 【解決手段】 テストデータを生成するために加算器1
および2と,信号反転回路6を設けることにより、全デ
ータパターンでECG部21およびECC部22の診断
を実施することができる。すなわち、上位装置や診断制
御装置を介在させずに、短時間のうちに誤り検出訂正回
路の正常性を精度よく診断できるという効果がある。
に、テストデータのすべてのパターンを逐次生成し、さ
らに各パターンごとにすべての極性反転パターンを逐次
生成する。 【解決手段】 テストデータを生成するために加算器1
および2と,信号反転回路6を設けることにより、全デ
ータパターンでECG部21およびECC部22の診断
を実施することができる。すなわち、上位装置や診断制
御装置を介在させずに、短時間のうちに誤り検出訂正回
路の正常性を精度よく診断できるという効果がある。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は誤り検出訂正回路の
診断装置に関し、特に誤り検出訂正符号生成部(以下、
ECG部という。)および誤り検出訂正部(以下、EC
C部という。)を有する誤り検出訂正回路の診断装置に
関する。
診断装置に関し、特に誤り検出訂正符号生成部(以下、
ECG部という。)および誤り検出訂正部(以下、EC
C部という。)を有する誤り検出訂正回路の診断装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】情報処理システムの信頼性を向上させる
ためには、各構成装置の正常動作を確保しなければなら
ない。誤り検出訂正回路は主として記憶装置に採用さ
れ、書き込み/読み出しの際に発生する恐れのある1ビ
ットエラーを検出訂正することができる。しかしなが
ら、上記のような誤り検出訂正回路自身の誤動作も皆無
ではなく、その正常性を診断することが重要である。
ためには、各構成装置の正常動作を確保しなければなら
ない。誤り検出訂正回路は主として記憶装置に採用さ
れ、書き込み/読み出しの際に発生する恐れのある1ビ
ットエラーを検出訂正することができる。しかしなが
ら、上記のような誤り検出訂正回路自身の誤動作も皆無
ではなく、その正常性を診断することが重要である。
【0003】従来、このような誤り検出訂正回路の診断
については種々の工夫が施されてきた。たとえば、特開
昭58−207155号公報によれば、上位装置あるい
は診断制御装置によりECG部へテストデータを与え、
診断制御部の制御により制御部の出力データの一部信号
の極性を反転し、ECC部へ入力する。そして、ECC
部が送出するエラー検出信号を参照することによって、
ECG部とECC部の正常性を診断していた。
については種々の工夫が施されてきた。たとえば、特開
昭58−207155号公報によれば、上位装置あるい
は診断制御装置によりECG部へテストデータを与え、
診断制御部の制御により制御部の出力データの一部信号
の極性を反転し、ECC部へ入力する。そして、ECC
部が送出するエラー検出信号を参照することによって、
ECG部とECC部の正常性を診断していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のような誤り検出
訂正回路の診断方法において、診断の精度を向上させる
ためには、ECG部へのテストデータのパターンを多数
用意すること,およびECG部の出力データの信号の一
部の極性を反転するパターンを増加することが必要であ
る。したがって、信頼度の高い確実な診断を行なうため
には長時間を要し、その間上位装置や診断制御装置を拘
束しなければならない。
訂正回路の診断方法において、診断の精度を向上させる
ためには、ECG部へのテストデータのパターンを多数
用意すること,およびECG部の出力データの信号の一
部の極性を反転するパターンを増加することが必要であ
る。したがって、信頼度の高い確実な診断を行なうため
には長時間を要し、その間上位装置や診断制御装置を拘
束しなければならない。
【0005】すなわち、上位装置または診断制御装置は
上記のテストデータのパターンを多数生成する手段を備
えると共に、各パターンごとにECG部の出力信号の極
性を反転する複数の制御信号を設定しなければならな
い。
上記のテストデータのパターンを多数生成する手段を備
えると共に、各パターンごとにECG部の出力信号の極
性を反転する複数の制御信号を設定しなければならな
い。
【0006】本発明の目的は、上位装置または診断制御
装置を介在させずに、テストデータのすべてのパターン
を逐次生成し、さらに各パターンごとにすべての極性反
転パターンを逐次生成するようにして、上記の欠点を改
善した誤り検出訂正回路の診断装置を提供することにあ
る。
装置を介在させずに、テストデータのすべてのパターン
を逐次生成し、さらに各パターンごとにすべての極性反
転パターンを逐次生成するようにして、上記の欠点を改
善した誤り検出訂正回路の診断装置を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明による誤り検出訂
正回路の診断装置は、書き込みデータに誤り検出訂正符
号を付加して記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部
と、前記記憶部から読み出したデータに含まれる1ビッ
トのエラーを検出訂正し読み出しデータとして送出する
誤り検出訂正部とを有する記憶装置において、カウンタ
が設定するテストデータに前記誤り検出訂正符号生成部
を介して誤り検出訂正符号を付加して診断データを生成
し、前記診断データを1ビットごとに反転して前記誤り
検出訂正部に入力し、前記誤り検出訂正部が送出するエ
ラー検出信号によってその正常性を判断するようにして
構成される。
正回路の診断装置は、書き込みデータに誤り検出訂正符
号を付加して記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部
と、前記記憶部から読み出したデータに含まれる1ビッ
トのエラーを検出訂正し読み出しデータとして送出する
誤り検出訂正部とを有する記憶装置において、カウンタ
が設定するテストデータに前記誤り検出訂正符号生成部
を介して誤り検出訂正符号を付加して診断データを生成
し、前記診断データを1ビットごとに反転して前記誤り
検出訂正部に入力し、前記誤り検出訂正部が送出するエ
ラー検出信号によってその正常性を判断するようにして
構成される。
【0008】また、本発明による誤り検出訂正回路の診
断装置は、書き込みデータに誤り検出訂正符号を付加し
て記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部と、前記記
憶部から読み出したデータに含まれる1ビットのエラー
を検出訂正し読み出しデータとして送出する誤り検出訂
正部とを有する記憶装置において、前記誤り検出訂正符
号生成部および前記誤り検出訂正部を含む誤り検出訂正
回路を診断するテストデータを保持するフリップフロッ
プと、前記テストデータを逐次変更して設定するカウン
タと、前記フリップフロップの内容および前記カウンタ
の内容を逐次変更する加算器と、前記テストデータに前
記誤り検出訂正符号生成部を介して誤り検出訂正符号を
付加した診断データのビット列に対応するデコード信号
を前記カウンタの出力信号に従って生成するデコーダ
と、前記診断データおよび前記デコード信号を入力し前
記診断データの任意の1ビットを反転して前記誤り検出
訂正部に送出する信号反転回路とを具備し、前記誤り検
出訂正部が前記信号反転回路の生成した1ビットエラー
を検出訂正するか否かを検知するようにして構成され
る。
断装置は、書き込みデータに誤り検出訂正符号を付加し
て記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部と、前記記
憶部から読み出したデータに含まれる1ビットのエラー
を検出訂正し読み出しデータとして送出する誤り検出訂
正部とを有する記憶装置において、前記誤り検出訂正符
号生成部および前記誤り検出訂正部を含む誤り検出訂正
回路を診断するテストデータを保持するフリップフロッ
プと、前記テストデータを逐次変更して設定するカウン
タと、前記フリップフロップの内容および前記カウンタ
の内容を逐次変更する加算器と、前記テストデータに前
記誤り検出訂正符号生成部を介して誤り検出訂正符号を
付加した診断データのビット列に対応するデコード信号
を前記カウンタの出力信号に従って生成するデコーダ
と、前記診断データおよび前記デコード信号を入力し前
記診断データの任意の1ビットを反転して前記誤り検出
訂正部に送出する信号反転回路とを具備し、前記誤り検
出訂正部が前記信号反転回路の生成した1ビットエラー
を検出訂正するか否かを検知するようにして構成され
る。
【0009】さらに、本発明による誤り検出訂正回路の
診断装置は、前記誤り検出訂正部が送出するデータを前
記フリップフロップに保持されているテストデータと比
較して両者が一致しないときエラー信号を送出する比較
器を備えるようにして構成される。
診断装置は、前記誤り検出訂正部が送出するデータを前
記フリップフロップに保持されているテストデータと比
較して両者が一致しないときエラー信号を送出する比較
器を備えるようにして構成される。
【0010】すなわち、本発明では、ECG部へのテス
トデータを加算器によって連続して変化させている。こ
のため上位装置を使わずに高速にすべてのデータパター
ンをECG部へ入力することができる。
トデータを加算器によって連続して変化させている。こ
のため上位装置を使わずに高速にすべてのデータパター
ンをECG部へ入力することができる。
【0011】さらに、ECG部からの出力信号を反転さ
せるために使うデコーダーの入力信号を加算器によって
発生させている。このため上位装置を使わずに高速にす
べてのエラーパターンを発生させることができる。
せるために使うデコーダーの入力信号を加算器によって
発生させている。このため上位装置を使わずに高速にす
べてのエラーパターンを発生させることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明について図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
【0013】図1は本発明の実施の形態を示すブロック
図である。同図において、本発明による誤り検出訂正回
路の診断装置は、ライトデータ31に誤り検出訂正符号
を付加してRAM部20に書き込むECG部21と、前
記RAM部から読み出したデータに含まれる1ビットの
エラーを検出訂正しリードデータ32として送出するE
CC部22とを有する記憶装置において、前記ECG部
および前記ECC部を含む誤り検出訂正回路を診断する
テストデータ35を保持するフリップフロップ(以下、
F/Fという。)4と、前記テストデータを逐次変更し
て設定するカウンタ3と、前記F/Fの内容および前記
カウンタの内容を逐次変更する加算器1および2と、前
記テストデータ35に前記ECG部を介して誤り検出訂
正符号を付加した診断データ36のビット列に対応する
デコード信号を前記カウンタの出力信号に従って生成す
るデコーダ5と、前記診断データ36および前記デコー
ド信号を入力し前記診断データの任意の1ビットを反転
して前記ECC部に送出する信号反転回路6とを具備す
る。
図である。同図において、本発明による誤り検出訂正回
路の診断装置は、ライトデータ31に誤り検出訂正符号
を付加してRAM部20に書き込むECG部21と、前
記RAM部から読み出したデータに含まれる1ビットの
エラーを検出訂正しリードデータ32として送出するE
CC部22とを有する記憶装置において、前記ECG部
および前記ECC部を含む誤り検出訂正回路を診断する
テストデータ35を保持するフリップフロップ(以下、
F/Fという。)4と、前記テストデータを逐次変更し
て設定するカウンタ3と、前記F/Fの内容および前記
カウンタの内容を逐次変更する加算器1および2と、前
記テストデータ35に前記ECG部を介して誤り検出訂
正符号を付加した診断データ36のビット列に対応する
デコード信号を前記カウンタの出力信号に従って生成す
るデコーダ5と、前記診断データ36および前記デコー
ド信号を入力し前記診断データの任意の1ビットを反転
して前記ECC部に送出する信号反転回路6とを具備す
る。
【0014】さらに、セレクタ23および24は通常の
運用モードと診断モードとを切替える機能を有し、診断
モードセレクト信号33によって作動する。
運用モードと診断モードとを切替える機能を有し、診断
モードセレクト信号33によって作動する。
【0015】なお、F/F4はセレクタ23の出力を入
力信号とする4ビット構成でリセット機能を備えてい
る。また、カウンタ3は加算器2の出力を入力信号とす
る3ビット構成のF/Fであり、リセット機能を備えて
いる。さらに、加算器2は上記のカウンタ3の出力を入
力信号とし、それに“1”を加算して出力し、それを再
びカウンタ3に入力する。このとき、オーバフローが発
生したら、それをオーバーフロー信号34として加算器
1へ送出する。そして、このとき加算器1はF/F4の
出力信号に“1”を加算して出力し、これをF/F4に
入力し新たなテストデータ35とする。
力信号とする4ビット構成でリセット機能を備えてい
る。また、カウンタ3は加算器2の出力を入力信号とす
る3ビット構成のF/Fであり、リセット機能を備えて
いる。さらに、加算器2は上記のカウンタ3の出力を入
力信号とし、それに“1”を加算して出力し、それを再
びカウンタ3に入力する。このとき、オーバフローが発
生したら、それをオーバーフロー信号34として加算器
1へ送出する。そして、このとき加算器1はF/F4の
出力信号に“1”を加算して出力し、これをF/F4に
入力し新たなテストデータ35とする。
【0016】次に、上記の誤り検出訂正回路の診断装置
の動作について説明する。
の動作について説明する。
【0017】まず、通常運用時、RAM部20へのデー
タ書き込み動作では、診断モードセレクト信号33は論
理“0”である。この時、F/F4にはライトデータ3
1が入力される。そしてF/F4の出力信号およびEC
G部21の出力信号はRAM部20へ入力される。
タ書き込み動作では、診断モードセレクト信号33は論
理“0”である。この時、F/F4にはライトデータ3
1が入力される。そしてF/F4の出力信号およびEC
G部21の出力信号はRAM部20へ入力される。
【0018】RAM部20からのデータ読み出し動作で
は、RAM部の出力信号はECC部22へ入力され、入
力データの誤りを検出訂正されたECC部の出力信号は
リードデータ32となる。
は、RAM部の出力信号はECC部22へ入力され、入
力データの誤りを検出訂正されたECC部の出力信号は
リードデータ32となる。
【0019】診断時は、診断モードセレクト信号33は
論理“1”となる。そしてリセット信号により、F/F
4およびカウンタ3の初期値を“0”にする。この時デ
コーダ5の出力は、“10000000”となり、信号
反転回路6は診断データ36のビット0を反転し、EC
C部22へ入力する。
論理“1”となる。そしてリセット信号により、F/F
4およびカウンタ3の初期値を“0”にする。この時デ
コーダ5の出力は、“10000000”となり、信号
反転回路6は診断データ36のビット0を反転し、EC
C部22へ入力する。
【0020】このときECG部21およびECC部22
が正常ならば、ECCエラー検出信号37は論理“1”
となる。ECCエラー検出信号37を常に観測し、それ
が論理“1”以外であれば異常であることがわかる。
が正常ならば、ECCエラー検出信号37は論理“1”
となる。ECCエラー検出信号37を常に観測し、それ
が論理“1”以外であれば異常であることがわかる。
【0021】次に、カウンタ3には加算器2によって
“001”の値を入力する。この時F/F4は“000
0”のままであるが、デコーダ5の出力は“01000
000”となり、信号反転回路6は診断データのビット
1を反転しECC部22へ入力する。この時もECCエ
ラー検出信号37を観測することにより、回路の異常を
知ることができる。
“001”の値を入力する。この時F/F4は“000
0”のままであるが、デコーダ5の出力は“01000
000”となり、信号反転回路6は診断データのビット
1を反転しECC部22へ入力する。この時もECCエ
ラー検出信号37を観測することにより、回路の異常を
知ることができる。
【0022】同様にしてカウンタ3が“111”になる
まで診断を行う。その後、カウンタ3が“000”とな
るとき、加算器2のオーバーフロー信号34が“1”に
なる。このとき加算器1は入力信号に1を加えた“00
01”をF/F4へ入力する。この後も同様にカウンタ
3の値が“000”から“111”になるまで診断を行
う。
まで診断を行う。その後、カウンタ3が“000”とな
るとき、加算器2のオーバーフロー信号34が“1”に
なる。このとき加算器1は入力信号に1を加えた“00
01”をF/F4へ入力する。この後も同様にカウンタ
3の値が“000”から“111”になるまで診断を行
う。
【0023】すなわち、上記のようにしてF/F4を
“0000”から“1111”まで変化させ、それぞれ
において診断データ36を1ビットずつ全ビット反転さ
せたパターンで診断を行う。
“0000”から“1111”まで変化させ、それぞれ
において診断データ36を1ビットずつ全ビット反転さ
せたパターンで診断を行う。
【0024】図2は本発明の実施の他の形態を示すブロ
ック図である。同図において、本発明の誤り検出訂正回
路の診断装置は、診断モードのときECC部22の出力
データとF/F4が保持するテストデータ35とを比較
する比較器7を備えている。そして比較器7は両者が一
致しないときに比較エラー検出信号38を送出する。上
記以外の構成および機能は図1に示すものと同じであ
る。
ック図である。同図において、本発明の誤り検出訂正回
路の診断装置は、診断モードのときECC部22の出力
データとF/F4が保持するテストデータ35とを比較
する比較器7を備えている。そして比較器7は両者が一
致しないときに比較エラー検出信号38を送出する。上
記以外の構成および機能は図1に示すものと同じであ
る。
【0025】図2において、診断モードでは、比較器7
はECC部22の出力データをテストデータ35と比較
し、一致したならば比較エラー検出信号38を論理
“0”とする。したがってECCエラー検出信号37と
比較エラー検出信号38とを常に観測し、ECCエラー
検出信号37が論理“1”および比較エラー検出信号3
8が論理“0”以外であれば異常であることがわかる。
はECC部22の出力データをテストデータ35と比較
し、一致したならば比較エラー検出信号38を論理
“0”とする。したがってECCエラー検出信号37と
比較エラー検出信号38とを常に観測し、ECCエラー
検出信号37が論理“1”および比較エラー検出信号3
8が論理“0”以外であれば異常であることがわかる。
【0026】すなわち、ECCエラー検出信号の有無に
加えて、誤り検出訂正回路への入力データとその出力デ
ータとを比較した比較エラー検出信号を観測することに
より、その正常性を高精度で診断することができる。
加えて、誤り検出訂正回路への入力データとその出力デ
ータとを比較した比較エラー検出信号を観測することに
より、その正常性を高精度で診断することができる。
【0027】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明は
テストデータを生成するために加算器と信号反転回路を
設けることにより、全データパターンでECG部および
ECC部の診断を実施することができる。すなわち、上
位装置や診断制御装置を介在させずに、短時間のうちに
誤り検出訂正回路の正常性を精度よく診断できるという
効果がある。
テストデータを生成するために加算器と信号反転回路を
設けることにより、全データパターンでECG部および
ECC部の診断を実施することができる。すなわち、上
位装置や診断制御装置を介在させずに、短時間のうちに
誤り検出訂正回路の正常性を精度よく診断できるという
効果がある。
【図1】本発明の実施の形態を示すブロック図。
【図2】本発明の実施の他の形態を示すブロック図。
1,2 加算器 3 カウンタ 4 F/F 5 デコーダ 6 信号反転回路 7 比較器 20 RAM部 21 ECG部 22 ECC部 23,24 セレクタ 33 診断モードセレクト信号 37 ECCエラー検出信号 38 比較エラー検出信号
Claims (3)
- 【請求項1】 書き込みデータに誤り検出訂正符号を付
加して記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部と、前
記記憶部から読み出したデータに含まれる1ビットのエ
ラーを検出訂正し読み出しデータとして送出する誤り検
出訂正部とを有する記憶装置において、カウンタが設定
するテストデータに前記誤り検出訂正符号生成部を介し
て誤り検出訂正符号を付加して診断データを生成し、前
記診断データを1ビットごとに反転して前記誤り検出訂
正部に入力し、前記誤り検出訂正部が送出するエラー検
出信号によってその正常性を判断することを特徴とする
誤り検出訂正回路の診断装置。 - 【請求項2】 書き込みデータに誤り検出訂正符号を付
加して記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部と、前
記記憶部から読み出したデータに含まれる1ビットのエ
ラーを検出訂正し読み出しデータとして送出する誤り検
出訂正部とを有する記憶装置において、 前記誤り検出訂正符号生成部および前記誤り検出訂正部
を含む誤り検出訂正回路を診断するテストデータを保持
するフリップフロップと、前記テストデータを逐次変更
して設定するカウンタと、前記フリップフロップの内容
および前記カウンタの内容を逐次変更する加算器と、前
記テストデータに前記誤り検出訂正符号生成部を介して
誤り検出訂正符号を付加した診断データのビット列に対
応するデコード信号を前記カウンタの出力信号に従って
生成するデコーダと、前記診断データおよび前記デコー
ド信号を入力し前記診断データの任意の1ビットを反転
して前記誤り検出訂正部に送出する信号反転回路とを具
備し、 前記誤り検出訂正部が前記信号反転回路の生成した1ビ
ットエラーを検出訂正するか否かを検知することを特徴
とする誤り検出訂正回路の診断装置。 - 【請求項3】 請求項2記載の誤り検出訂正回路の診断
装置において、前記誤り検出訂正部が送出するデータを
前記フリップフロップに保持されているテストデータと
比較して両者が一致しないときエラー信号を送出する比
較器を備えることを特徴とする誤り検出訂正回路の診断
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8012903A JP2806856B2 (ja) | 1996-01-29 | 1996-01-29 | 誤り検出訂正回路の診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8012903A JP2806856B2 (ja) | 1996-01-29 | 1996-01-29 | 誤り検出訂正回路の診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09204317A true JPH09204317A (ja) | 1997-08-05 |
JP2806856B2 JP2806856B2 (ja) | 1998-09-30 |
Family
ID=11818339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8012903A Expired - Lifetime JP2806856B2 (ja) | 1996-01-29 | 1996-01-29 | 誤り検出訂正回路の診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2806856B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010055384A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Fujitsu Ltd | 接続状態診断装置 |
JPWO2012137323A1 (ja) * | 2011-04-06 | 2014-07-28 | 富士通株式会社 | 情報処理装置及び疑似障害発生方法 |
JP2017004588A (ja) * | 2015-06-10 | 2017-01-05 | インフィネオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフトInfineon Technologies AG | 誤り訂正能力をテストするための回路および方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH06325600A (ja) * | 1993-05-11 | 1994-11-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | メモリ用テストパタン生成回路 |
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1996
- 1996-01-29 JP JP8012903A patent/JP2806856B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2806856B2 (ja) | 1998-09-30 |
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