JPH0883948A - 半導体レーザ装置、情報記録再生装置及び画像記録装置 - Google Patents

半導体レーザ装置、情報記録再生装置及び画像記録装置

Info

Publication number
JPH0883948A
JPH0883948A JP7140752A JP14075295A JPH0883948A JP H0883948 A JPH0883948 A JP H0883948A JP 7140752 A JP7140752 A JP 7140752A JP 14075295 A JP14075295 A JP 14075295A JP H0883948 A JPH0883948 A JP H0883948A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
control
output
laser device
control signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7140752A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3323033B2 (ja
Inventor
Toyoki Taguchi
豊喜 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP14075295A priority Critical patent/JP3323033B2/ja
Publication of JPH0883948A publication Critical patent/JPH0883948A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3323033B2 publication Critical patent/JP3323033B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 フィードバック系のフィードバック量を制御
増幅器のダイナミックレンジを損なうことなく自動補正
可能とするとともに、半導体レーザの遅延や光検出器の
接合容量のバラツキによる特性の変化を調整可能とし
て、また高い消光比が得られる半導体レーザ装置を提供
する。 【構成】 入力端子に制御入力されるとともに信号が光
検出器24の出力信号が負帰還され、負帰還端子から制
御信号と出力信号との誤差信号を利得を可変して各々独
立して出力する差動可変増幅器5と差動可変増幅器6
と、この差動可変増幅器6から出力される誤差信号を所
望の周波数特性で増幅する制御増幅部10と、半導体レ
ーザ23に駆動電流を供給するドライブ段13と、差動
可変増幅器5から出力される誤差信号に基づいて負帰還
端子に位相遅れを補償するための補償電流を負帰還する
補償回路9を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置、レー
ザ・プリンタ、光データ通信システム等に用いられる半
導体レーザ装置、当該半導体レーザ装置を用いる光ディ
スク装置の如き情報記録再生装置、及び、当該半導体レ
ーザ装置を用いるレーザ・プリンタや複写機の如き画像
記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体レーザは、直接光強度変調が容易
で、小型、低消費電力および高効率などの利点から、大
容量の記憶装置である光ディスク装置やレーザ・ビーム
・プリンタ等のシステムに多く利用されている。
【0003】しかしながら、現状の半導体レーザは次の
ような特性により、出射光量の変動が生じる欠点があ
る。 (1) 温度変化、経年変化による微分量子効率の変化。
【0004】(2) 温度変化、反射光(戻り光)による
しきい値電流の変化。 (3) 反射光(戻り光)によるモードホッピング雑音の
発生。 このため半導体レーザを駆動するには、半導体レーザの
出力光量をモニタし安定化する制御回路が必要不可欠で
ある。特に光ディスク装置では、大容量化とデータの高
転送速度を計るために、より精度の高い光強度変調と、
再生時の低雑音化が要求されている。
【0005】現在入手可能な半導体レーザを、光ディス
ク装置の光源として用いつつレーザ雑音を抑圧するため
に広帯域フロントAPC法が知られている(例えば田
口、星野:光ディスク装置における「高精度レーザ制御
方式(11)、1991年電子情報通信学会春季全国大
会、C−372」等)。
【0006】広帯域フロントAPC法は、記録再生時に
実際に光ディスクに照射される光、すなわち、半導体レ
ーザのフレント光の一部を光検出器に導いて検出し、そ
の検出信号を半導体レーザの光出力制御に用いるという
ものである。この方法によれば制御帯域を広くできるこ
とにより、レーザ雑音を低減することができる。
【0007】この広帯域フロントAPCでは、再生信号
帯域に対し制御帯域をいかに広くするかがポイントであ
る。広帯域フロントAPCの制御帯域を再生信号帯域よ
り広くする技術は、例えば特開平4−208581号公
報(発明の名称「半導体レーザ装置」)に開示されてい
る。
【0008】この半導体レーザ装置では、半導体レーザ
の出力光を検出する光検出器から負帰還される出力信号
と、外部からの制御信号との誤差信号を出力する誤差検
出回路を設け、この誤差信号に基づいて半導体レーザの
駆動電流を制御する帰還ループを構成するとともに、こ
の帰還ループの位相遅れを補償するための補償電流を誤
差検出回路の入力に負帰還する補償回路を備えている。
【0009】ところで、この公知技術では前述した半導
体レーザの微分量効率のバラツキや、経年変化、装置毎
の光学系調整のバラツキによる上記帰還ループの帰還量
の変化について考慮されていない。
【0010】さらに、半導体レーザの遅延や光検出器の
接合容量のバラツキによる周波数特性の変化についても
考慮されていない。上述した帰還量の変化や周波数特性
の変化があると、特に光ディスク装置のような情報記録
再生装置の用途ではレーザ雑音の低減効果が十分でなく
なるばかりか、ノイズへの過渡応答特性の劣化により不
要なノイズを発生することになる。
【0011】またさらに、記録時のパルス過渡応答特性
の劣化は記録マーク変動を誘発し再生マージンを大幅に
損失することになり一層深刻である。一方、レーザ・プ
リンタ等では光のオンオフの比である消光比を極めて高
くすることを要求されているが、オフの領域即ちレーザ
発振しきい値以下では帰還の効率が大幅に低下し高い消
光比を得ることができないという問題があった。このこ
とを、図15と図16のシミュレーション結果を参照し
て説明する。
【0012】図15にオンオフ時のモニタPD電流の応
答波形を示す。オン時の光量は高速の応答性をもち安定
しているが、オフの瞬間は十分にオフとならず制御系が
劣化していることが分かる。図16にオンオフ時のLD
駆動電流の応答波形を示す。オフの瞬間はしきい値電流
までしか駆動電流を抑制できていないことが分かる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の半導体レーザ装置では、半導体レーザの微分量子効率
のバラツキ、経年変化、装置毎の光学系調整のバラツキ
による帰還ループの帰還量の変化や、半導体レーザの遅
延や光検出器の接合容量のバラツキによる周波数特性の
変化について考慮されていない。
【0014】このため、光ディスク装置のような情報記
録再生装置の用途ではレーザ雑音の低減効果が十分でな
くなるばかりか、ノイズへの過渡応答特性の劣化により
不要なノイズを発生することになり十分とはいえない。
【0015】また、消光比性能が要求される用途では、
レーザ発振しきい値以下では帰還の効率が大幅に低下し
高い消光比を得ることができない。本発明は、半導体レ
ーザの駆動電流を負帰還制御する帰還系の帰還量を、制
御増幅器のダイナミックレンジを損なうことなく自動補
正可能とするとともに、半導体レーザの遅延や光検出器
の接合容量のバラツキによる特性の変化を調整可能とし
て、また高い消光比が得られる半導体レーザ装置を提供
することを目的とする。
【0016】また、本発明は、このような半導体レーザ
装置を用い、良好な記録再生特性が可能となる情報記録
再生装置を提供することを目的とする。さらに、本発明
は、このような半導体レーザ装置を用いて高精度の画質
が得られる画像記録装置を提供することを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記目的は、次の半導体
レーザ装置により達成される。すなわち、半導体レーザ
と、この半導体レーザの出力光を検出する光検出器と、
前記半導体レーザを駆動する駆動部と、前記半導体レー
ザの出力を帰還制御すべく、外部から与えられる制御信
号と前記光検出器の出力光とを受けてこれら制御信号及
び出力光で規定される駆動信号を前記駆動部に与える制
御増幅部と、前記光検出器、前記駆動部及び前記制御増
幅部で構成される帰還制御ループの位相を、当該帰還制
御ループの時間的及び電気的挙動に従って能動的に制御
する補償部とを具備する半導体レーザ装置。
【0018】上記目的は、次の半導体レーザ装置により
達成される。すなわち、半導体レーザと、この半導体レ
ーザの出力光を検出する光検出器と、前記半導体レーザ
を駆動する駆動部と、前記半導体レーザの出力を帰還制
御すべく、外部から与えられる制御信号と前記光検出器
の出力光とを受けてこれら制御信号及び出力光で規定さ
れる駆動信号を前記駆動部に与える制御増幅部と、前記
制御信号の値に応じて前記帰還制御のモードを変えるモ
ード変化部とを具備する半導体レーザ装置。
【0019】上記目的は、次の情報記録再生装置により
達成される。すなわち、半導体レーザと、この半導体レ
ーザの出力光を検出する光検出器と、前記半導体レーザ
を駆動する駆動部と、前記半導体レーザの出力を帰還制
御すべく、外部から与えられる制御信号と前記光検出器
の出力光とを受けてこれら制御信号及び出力光で規定さ
れる駆動信号を前記駆動部に与える制御増幅部と、前記
光検出器、前記駆動部及び前記制御増幅部で構成される
帰還制御ループの位相を当該帰還制御ループの時間的及
び電気的挙動に従って能動的に制御する補償部とを具備
する半導体レーザ装置と、この半導体レーザ装置の出力
光を記録媒体に照射する照射部と、前記記録媒体の反射
光を検出する検出部と、この検出部の出力から再生信号
を生成する再生信号生成部と、前記半導体レーザ装置に
供給すべき前記制御信号を生成する制御信号生成部と、
を具備する情報記録再生装置。
【0020】上記目的は、次の画像記録装置により達成
される。すなわち、半導体レーザと、この半導体レーザ
の出力光を検出する光検出器と、前記半導体レーザを駆
動する駆動部と、前記半導体レーザの出力を帰還制御す
べく、外部から与えられる制御信号と前記光検出器の出
力光とを受けてこれら制御信号及び出力光で規定される
駆動信号を前記駆動部に与える制御増幅部と、前記光検
出器、前記駆動部及び前記制御増幅部で構成される帰還
制御ループの位相を、当該帰還制御ループの時間的及び
電気的挙動に従って能動的に制御する補償部とを具備す
る半導体レーザ装置と、この半導体レーザ装置の出力光
を感光体に走査する走査部と、この走査部の走査により
形成される潜像を可視化する画像形成部と、この検出部
の出力から再生信号を生成する再生信号生成部と、前記
半導体レーザ装置に供給すべき前記制御信号を生成する
制御信号生成部と、を具備する画像記録装置。
【0021】上記目的は、次の画像記録装置により達成
される。すなわち、半導体レーザと、この半導体レーザ
の出力光を検出する光検出器と、前記半導体レーザを駆
動する駆動部と、前記半導体レーザの出力を帰還制御す
べく、外部から与えられる制御信号と前記光検出器の出
力光とを受けてこれら制御信号及び出力光で規定される
駆動信号を前記駆動部に与える制御増幅部と、前記制御
信号の値に応じて前記帰還制御のモードを変えるモード
変化部とを具備する半導体レーザ装置と、この半導体レ
ーザ装置の出力光を感光体に走査する走査部と、この走
査部の走査により形成される潜像を可視化する画像形成
部と、この検出部の出力から再生信号を生成する再生信
号生成部と、前記半導体レーザ装置に供給すべき前記制
御信号を生成する制御信号生成部と、を具備する画像記
録装置。
【0022】
【作用】本発明の半導体レーザ装置においては、補償部
により、光検出器、駆動部及び制御増幅部で構成される
帰還制御ループの位相を当該帰還制御ループの時間的及
び電気的挙動に従って能動的に制御するので、前記帰還
制御ループと独立してフィードバックの位相補償が独立
に調整できる。
【0023】また、本発明の半導体レーザ装置において
は、モード変化部により、制御信号の値に応じて帰還制
御のモードを変える、例えば、制御信号が零の期間は半
導体レーザの駆動電流を強制的に零とする等を行えるの
で、消費電力を低減することができる。
【0024】さらに、本発明の半導体レーザ装置を情報
記録再生装置に用いた場合、各種のバラツキに強くなり
装置製造の歩留まりが向上する。またさらに、本発明の
半導体レーザ装置を画像記録装置に用いた場合、高い消
光比と高精度の光量精度、高速の安定なパルス特性によ
り、高速で高画質な特性を得ることができる。
【0025】
【実施例】図1を参照して本発明の第1原理に係るの半
導体レーザ装置を説明する。図1に示すように、第1原
理に係るの半導体レーザ装置は、半導体レーザ510
と、光検出器520と、駆動部530と、制御増幅部5
40と、補償部550とを具備する。ここで、光検出器
520は、半導体レーザ510の出力光を検出する。駆
動部530は、半導体レーザ510に駆動電流を与え
る。制御増幅部540は、半導体レーザ510の出力
を、帰還制御によりAPC制御すべく、端子531,5
42を介して与えられる制御信号と、光検出器520の
出力光信号とを受け、これら制御信号及び出力光信号で
規定される駆動信号を、駆動部530に与える。補償部
550は、光検出器520と駆動部530と制御増幅部
540とにより構成される帰還ループの位相、とりわけ
位相遅れを、当該帰還ループの時間的及び電気的挙動に
従って能動的に制御する。
【0026】このような図1に示す第1原理に係るの半
導体レーザ装置としては、次のような具体的な実施例が
ある。図2に示すように、第1実施例の半導体レーザ装
置は、集積回路化した半導体レーザ制御回路1と、半導
体レーザ制御回路1に接続された半導体レーザ23と、
半導体レーザ23の出力光を検出する光検出器24と、
半導体レーザ制御回路1に外付けされた複数の抵抗器等
からなる。
【0027】半導体レーザ制御回路1は、次のように構
成されている。入力端子30には外部から制御電流信号
が入力される。この制御電流信号は、電流−電圧変換回
路2によって制御電圧信号に変換され。この制御電圧信
号は、制御増幅部10と、第2の可変利得手段である可
変利得型差動増幅器5とに夫々入力される。この制御増
幅部10は、第1の可変利得手段である可変利得型差動
増幅器6と、演算増幅器7と、両増幅器6、7の出力の
減算する差動増幅器8とからなり、駆動制御信号を出力
する。
【0028】この差動増幅器8から出力される駆動制御
信号は、レベルシフト11により所望の電位にレベルシ
フトされる。このレベルシフトされた駆動制御信号は、
バッファー18と、半導体レーザ23のドライブ電流を
検出するためのトランジスタ12と、半導体レーザ23
に駆動電流を供給するトランジスタ13とに夫々入力さ
れる。
【0029】トランジスタ13の容量は、トランジスタ
12の容量の約100倍である。トランジスタ12には
駆動電流の約1%が流れることにより、外部抵抗R1の
電圧降下で、駆動電流がモニタされる。コンパレータ1
4は、この電圧降下を基準電圧Ref3とで比較し、検
出結果をバッファー16を介して外部に出力するととも
に、レベルシフト11の出力電位を下げることにより駆
動電流を制限する。
【0030】ウインドウコンパレータ15は、演算増幅
器7の出力電圧が基準電圧範囲Ref1とRef2の範
囲にあるときに、制御状態を判定し、判定結果をバッフ
ァー17を介して外部に出力する。
【0031】その他、半導体レーザ制御回路1には電源
電圧の低下を検出して自動的に制御動作を停止する電源
監視回路21、外部からのコントロールで制御動作を作
動または停止に切替えるパワーセーブ回路22が設けら
れている。
【0032】電流−電圧変換回路2からの制御電圧信号
は、例えばディジタル情報を表すように強度変調された
変調信号電圧であり、これが抵抗素子Riを介して制御
電流として制御増幅部10の反転入力端子に入力されて
いる。制御増幅部10の非反転入力端子には、電流−電
圧変換回路2と同一構成の電流−電圧変換回路3で生成
された基準電圧が、抵抗素子Riを介して入力されてい
る。
【0033】光検出器24のアノードは、端子39に接
続されている。光検出器24のモニタ電流は、端子39
を通して制御増幅部10の反転入力端子に負帰還され
る。これにより、半導体レーザ23の出力光は、電流−
電圧変換回路2の制御電圧信号である変調信号電圧に比
例して光強度変調される。つまり、半導体レーザ23
は、オート・パワー・制御される。
【0034】演算増幅器7は、外付抵抗Rzにより利得
の可変ができ、光検出器24の接合容量の影響を回避す
る零点周波数を、最適化することができる。電圧−電流
変換回路19,20は、入力端子44,43を介して与
えられる電位を、それらの内部で基準電圧及び抵抗によ
りプルアップする。この電圧−電流変換回路19,20
のプルアップレベルは、電圧入力もしくは外付抵抗Rg
1,Rg2により設定ができる。電圧−電流変換回路1
9,20の出力電流は、可変利得型差動増幅器6,5に
夫々入力される。
【0035】一般に、可変利得型差動増幅器は、利得の
可変により出力のダイナミックレンジが大きく変る。こ
のため、可変利得型差動増幅器を回路(制御増幅部)の
後段に配置すると、制御系のダイナミックレンジを大幅
に低下させることになる。従って、可変利得型差動増幅
器は、回路(制御増幅部)の初段に配置することが望ま
しい。また、差動増幅器が可変利得機能を有すること
は、素子バラツキや光学系のバラツキを補償するために
は不可欠である。
【0036】次に、本実施例の特徴の一つである可変利
得型差動増幅器5と制御増幅部10との分離効果を説明
する。可変利得型差動増幅器5の出力は端子33に接続
されている。この端子33を、半導体レーザ制御回路1
の外部で端子32に接続することにより、位相遅れ補償
電流、すなわち半導体レーザ23の接合容量の影響等に
よる応答特性の劣化を改善する補償電流が、RC直列回
路からなる補償回路9で生成される。さて、このように
配置した場合、図3に示すように可変利得型差動増幅器
5と補償回路9とで作られるループを、独立のフィード
バックループとして考えることができる。即ち、半導体
レーザ23の動作に関しては制御増幅部10の入力であ
るVoutの位相特性のみを考慮すれば良いことになる。
【0037】可変利得型差動増幅器5の利得を可変した
ときの位相進み効果を図4に示す。図4に示すように、
可変利得型差動増幅器5を利得可変させるだけで、十分
な位相進み効果が得られ、補償回路9の定数変更の必要
性はなく集積化回路への内臓が可能であり低コストとな
る。
【0038】一方、制御系における利得の設定は、制御
のゲイン交差周波数、即ち制御帯域を先に決定すれば、
必要な利得が決定され無調整化が可能となる。さて、こ
のような効果を得るためには、可変利得型差動増幅器5
の周波数特性を目的とする制御帯域の1.5倍までは平
坦にする必要がある。
【0039】以上のように本実施例においては、第1の
可変利得増幅手段が初段に配置されているので、当該第
1の可変利得増幅手段の利得を可変しても後段の高いゲ
インをもつ制御増幅手段のダイナミックレンジを損なわ
ず、特にしきい値電流のバラツキに強い高精度の制御が
可能となる。
【0040】また、第2の可変利得増手段がフィードバ
ック制御ループと独立しているためフィードバックの位
相補償が独立に調整できるとともに、利得が可変できる
ことにより補償手段の定数を変更する必要がなくなり、
部品コストと調整コストが低減される。
【0041】次に図5,図6を参照して本発明の第2実
施例に係る半導体レーザ装置を説明する。第2実施例に
係る半導体レーザ装置は、低い電源電圧での使用に際し
て、パルス特性を劣化すること無く駆動電流を増加させ
得るものである。図5においては、図2と同一部分には
同一符号を付してその説明は省略する。すなわち、入力
I/V変換回路2の出力を、反転バッファAMP101
で反転し、レベルシフト103を介してドライブトラン
ジスタ105に供給する。ドライブトランジスタ105
の出力は、制御系ドライブトランジスタ13と端子(L
DK)37で加算され、半導体レーザ22に供給され
る。ドライブトランジスタ105のゲインは、端子(I
B)106に外付けされる抵抗(Rb)により決定され
る(開ループ制御)。反転バッファAMP101の出力
は、抵抗RとキャパシタCの直列回路で構成される補償
回路102に導かれる。
【0042】この補償回路102の出力である高周波補
償電流は、可変利得増幅器GCAMP1の反転入力端子
に供給され、閉ループ制御系によって生ずる不所望なト
ランジェントの発生を抑制する。発振器108は、外部
コントロール信号(ON/OFF)により正弦波発信出
力(例えば300MHzの高周波出力)の有無が切替え
られ、抵抗RとキャパシタCの直列回路で構成される補
償回路109に導かれる。補償回路109の出力である
電流は、可変利得増幅器GCAMP1の非反転入力端子
に供給され、光出力レベルを変化させず、つまり制御の
不安定性を招くこと無く、半導体レーザに高周波の正弦
波電流が流される。特に光ディスクの再生時において、
高周波の正弦波電流を流すと、半導体レーザの光出力が
マルチモード化し、戻り光によるモードホッピング発生
が抑制され、一層のレーザノイズ低減が図られる。ま
た、正弦波発振出力電流は、可変利得増幅器GCAMP
1の非反転入力端子に供給されるため、反転入力端子と
異なり接合容量等が接続されておらず、減衰することな
く後段に伝達され、効率よく半導体レーザに高周波電流
を供給する。この高周波電流は正弦波であるので、不要
輻射ノイズの発生が押さえられる。
【0043】図5においては、図2に示すフィードバッ
ク制御系の他に上記開ループ制御を併用しているが、こ
の場合、本来のフィードバック制御系に影響を与えない
ためには、入力信号に対応した開ループ制御の帰還電流
をフィードバック点すなわち可変利得増幅器GCAMP
1の反転入力端子点に正しく帰還する必要がある。正し
く帰還されない場合は、その相違成分を本来のフィード
バック制御系がそれを補うように働き、これが光出力の
オーバーシュート等となって特性の劣化を招く。上記高
周波補償電流は半導体レーザ22と光検出器23が持つ
高周波域での帰還電流低下を補い、オーバーシュートの
発生を防止し、フィードバック制御系への影響を回避す
るように働く。図6は補償前と補償後のパルス特性のシ
ミュレーション結果を示している。
【0044】以上のように第2実施例においては、入力
信号に応じて駆動電流を供給できるように2つの駆動手
段を並列に配置している。また、2つの駆動手段の並列
駆動により発生するオーバーシュートを、入力信号の高
周波成分をフィードバック点に注入することにより、補
償するようにしている。
【0045】この結果、開ループ制御となるため、半導
体レーザの持つ特性を最大限に利用できるから、立上り
時間の短縮等のパルス特性が改善される。また、消光に
近い領域では、制御増幅器HGAMP7が飽和領域に入
り、パルス特性が大幅に劣化する。並列駆動によれば、
制御増幅器の出力振幅が小さくなり、飽和状態に達する
ことなく、制御が行われ、消光比が大幅に改善される。
このため、制御増幅器の負担が軽減され、消光比が改善
される。
【0046】次に、図7を参照して本発明の第2原理に
係るの半導体レーザ装置を説明する。 図7に示すよう
に、第2原理に係るの半導体レーザ装置は、半導体レー
ザ510と、光検出器520と、駆動部530と、制御
増幅部540と、入力判定部560と、出力変化部57
0とを具備する。
【0047】ここで、半導体レーザ510、光検出器5
20、駆動部530及び制御増幅部540は、図1に示
す第1原理に係るの半導体レーザ装置と同じである。入
力判定部560及び出力変化570はモード変化部を構
成しており、前記制御信号の値に応じて前記帰還制御の
モードを変える。入力判定部560は、少なくとも制御
信号の零期間を判定する。出力判定部570は、入力判
定部560により制御信号が零期間のとき半導体レーザ
510に与えるべき駆動電流を強制的に零とするべく駆
動部530又は制御増幅部540に指令を与える。また
出力判定部570は、入力判定部560により制御信号
が零期間のとき半導体レーザ510に閾値電流を供給で
きるだけの値に保つべく駆動部530又は制御増幅部5
40に指令を与える。
【0048】次に、図8を参照して本発明の第3原理に
係るの半導体レーザ装置を説明する。図8に示すよう
に、第3原理に係るの半導体レーザ装置は、半導体レー
ザ510と、光検出器520と、駆動部530と、制御
増幅部540と、補償部550と、入力判定部560
と、出力変化部570とを具備する。
【0049】ここで、半導体レーザ510、光検出器5
20、駆動部530及び制御増幅部540は、図1,図
7に示す第1,第2原理に係るの半導体レーザ装置と同
じである。また、入力判定部560及び出力変化部57
0は、図7に示す第2原理に係るの半導体レーザ装置と
同じである。つまり、第3原理に係るの半導体レーザ装
置は、第1原理に係るの半導体レーザ装置と、第2原理
に係るの半導体レーザ装置とを組合せたものである。
【0050】このような図7,図8に示す第2,第3原
理に係るの半導体レーザ装置としては、次のような具体
的な実施例がある。図9に示すように、この半導体レー
ザ装置は、集積回路化した半導体レーザ制御回路300
と、半導体レーザ制御回路300に接続された半導体レ
ーザ部320と、半導体レーザ制御回路1に外付けされ
た複数の抵抗器等からなる。半導体レーザ部320は、
半導体レーザ321と、半導体レーザ321の出力光を
モニタする内臓光検出器322とからなる。
【0051】半導体レーザ制御回路300は次のように
構成されている。入力端子311には、外部からTTL
レベルの2値化信号が入力される。コンバータ301
は、この2値化信号を受け、この2値化信号に基づき制
御電圧信号と基準電圧とを生成する。この制御電圧信号
と基準電圧とは、制御増幅器10及び第2の可変利得手
段である可変利得型差動増幅器5に夫々入力される。
【0052】この制御増幅部10は、駆動制御信号を出
力するものであり、第1の可変利得手段である可変利得
型差動増幅器6と、演算増幅器7と、両増幅器6、7の
出力を引算する差動増幅器8とからなる。この差動増幅
器8から出力される駆動制御信号は、レベルシフト11
により所望の電位とされる。この所望の電位とされた駆
動制御信号はトランジスタ13に与えられる。トランジ
スタ13は、この駆動制御信号に応じて半導体レーザ3
21に対し駆動電流を供給する。
【0053】その他、半導体レーザ制御回路300に
は、電源電圧の低下を検出して自動的に制御動作を停止
する電源監視回路21が設けられている。コンバータ3
01から出力される制御電圧信号は、例えばディジタル
情報を表すように強度変調された変調信号電圧である。
この変調信号電圧は、イコライザ302及び抵抗素子R
iを介して制御電流として制御増幅部10の反転入力端
子に入力されている。なお、イコライザ303は、内臓
光検出器322の拡散遅延による不所望な特性を補償す
るものである。
【0054】コンバータ301の変換ゲインは、端子3
13の入力電圧により可変することができる。これによ
り、内臓光検出器322のモニタ量のバラツキが調整さ
れる。また、この端子313の入力電圧は、電圧−電流
変換器301に入力される。電圧−電流変換器301の
出力電流は、電圧−電流変換器19の出力と加算され
る。この加算値により可変利得型差動増幅器6の利得は
可変される。これにより内臓光検出器322のモニタ量
のバラツキによるループゲインの変動を抑制することが
可能となる。制御増幅部10の非反転入力端子には、コ
ンバータ301で生成された基準電圧が、抵抗素子Ri
を介して入力されている。
【0055】光検出器322のアノードは端子39に接
続されているから、光検出器322のモニタ電流は、端
子39を通して制御増幅部10の反転入力端子に負帰還
される。これにより、半導体レーザ321の出力光は、
イコライザ303の制御電圧信号である変調信号電圧に
比例して光強度変調される。そして、コンバータ301
の入力がHレベル、即ち発光状態では、図2に示す半導
体レーザ装置1と同様の働きをする。
【0056】コンバータ301の入力がLレベルの場
合、制御増幅部10の出力は、しきい値検出回路307
とレベルシフト306とに入力される。しきい値検出回
路307は入力がLレベルとなった時にしきい値を検出
し、レベルシフト306に所望のレベルシフトを生じさ
せる。レベルシフト306の出力は、入力がLレベルの
期間、スイッチ305と内部帰還抵抗Rfを介してフィ
ードバックされ、制御増幅部10の出力をクランプす
る。パルス生成回路302は、これらのタイミングをコ
ントロールする。特にパルス生成回路302の出力31
0は、レベルシフト11の出力を零にするように働き、
入力がLレベルのあいだ半導体レーザの駆動電流を零と
する。
【0057】以上の動作をシミュレーション結果を参照
して説明する。図10にオンオフ時のモニタPD電流の
応答波形を示す。オフの瞬間に光量は完全に零になって
いる。また、オンになるフィードバックループが正規に
なった瞬間においても過渡応答に乱れはなく、良好な特
性を示している。これは、常に制御増幅部10がフィー
ドバック動作を継続しているためである。また、図11
にオンオフ時のLD駆動電流の応答波形を示す。オフ時
にLD駆動電流が零であることが分かる。
【0058】次に、図12を参照して本発明の第4実施
例の半導体レーザ装置を説明する。先の実施例の半導体
レーザ装置においては、クランプレベルの検出方法とし
て、半導体レーザの閾値電流レベルを検出するようにし
ていた。しかしこの手段では、検出するタイミングが必
ずしも正確に検出できない場合がある。
【0059】また、先の実施例の半導体レーザ装置にお
いては、半導体レーザの消光から発光へ切替えるための
信号成分が、制御ループに影響を与え、このため発光出
力にオーバーシュートが発生することがある。
【0060】さらに、先の実施例の半導体レーザ装置に
おいて、半導体レーザ部が内臓しているの光検出器は、
拡散遅延等のために、明確な低域遮断特性(LPF)と
は異なる劣化した周波数特性が発生することがある。ま
た、半導体レーザをフィードバック制御すると、このフ
ィードバック制御とは逆の特性が光出力に発生し、パル
ス特性が劣化させることになる。このため、半導体レー
ザ装置を組込んだレーザプリンタの場合においては、印
字特性を劣化させることがある。
【0061】図12に示す第4実施例の半導体レーザ装
置は、上述したいくつかの問題点を解消することができ
る。すなわち、外部制御信号(端子IN311)は、レ
ベル変換回路301で処理される。レベル変換回路30
1の一つの信号出力は、ループ切替SW305、サンプ
ルホールド回路307、レベルシフト回路11に制御パ
ルス信号として供給される。レベル変換回路301の他
方の信号出力は、入力制御AMP303に供給され、光
出力を制御するための制御信号レベルに変換される。な
お、入力制御AMP303は、外付け抵抗313により
出力振幅が可変される。反転バッファ101は、補償回
路102により生成された高周波補償電流をフィードバ
ック点に供給することにより、半導体レーザ321のO
N/OFF制御により発生するオーバーシュートの発生
を防止することができる。反転バッファ101の出力
は、外部供給端子104(EQ)に供給され、外付け回
路103により光検出器322の特性劣化を補償する。
【0062】すなわち、第4実施例の半導体レーザ装置
においては、常に得られる制御系の信号レベルは、発光
時の制御出力レベルであることに着目し、発光時のレベ
ルを検出するサンプルホールド回路を設けている。
【0063】また、前述した図5に示した実施例と同様
に、出力レベルシフト11により半導体レーザ321の
ON/OFF制御は、開ループ制御として実現される。
したがって、図5に示した実施例と同様の遅れ位相の補
償を行っている。
【0064】さらに、外付け回路(外付け抵抗313)
によって、入力信号の高周波成分をフィードバック点に
注入することにより、半導体レーザ部320の内臓光検
出器322の不所望な特性を補償している。
【0065】以上のように第4の実施例の半導体レーザ
装置においては、クランプレベルを発光時の値とするこ
とにより、検出タイミング処理等の複雑な処理が不要と
なり、回路構成が簡易となる。また、発光時のオーバー
シュート発生が回避でき、切替えタイミングの調整が不
要となる。さらに、光検出器322の特性補償を外付け
回路(外付け抵抗313)で行うようにしているため、
汎用性が増す。
【0066】次に、図13を参照して、上記実施例に示
した半導体レーザ装置を用いて構成した本発明に係わる
情報記録再生装置を説明する。すなわち、制御増幅部1
0とドライブ回路13を含む半導体レーザ制御回路1
は、制御電流Icと利得制御電圧Vgを生成する記録波
形生成回路80によって制御される。図2に示した半導
体レーザ23とモニタ用光検出器24とは、固定された
光学ユニット70に設けられている。
【0067】光ディスク78へのデータ書き込み時、半
導体レーザ23は、情報によりアナログ的にまたはディ
ジタル的に変調された制御電流Icにしたがってレーザ
ビームを出射する。半導体レーザ23の出力ビームは、
コリメータレンズ、複合プリズム、ガルバノミラー、再
生用ホログラム素子等より構成される光学ユニット70
により、移動光学ヘッド77に導かれる。移動光学ヘッ
ド77は、情報記録再生装置にセットされて回転する光
ディスク78の半径方向に直線的に移動可能に構成され
ている。
【0068】光ディスク78に記録された情報を再生す
るときは、半導体レーザ23は記録時より弱い光強度の
レーザビームを、読み出し用ビームとして出力する。こ
の場合にも、読み出しビームは、同様にして光学ユニッ
ト70および移動光学ヘッド77により光ディスク78
に導かれる。また、この時の光ディスク78からの反射
光は、移動光学ヘッド77から光学ユニット70に戻
り、複合プリズム72で分離されて再生用ホログラム素
子により再生用光検出器76に集光される。
【0069】半導体レーザ23からの出力光の一部は、
複合プリズムによって分離されて光検出器76に入力さ
れる。これにより、光検出器24の受光面以外に光を当
てないようにし、不要な拡散遅延信号の発生を防止して
いる。
【0070】再生用光検出器76の光検出出力は、プリ
アンプと演算回路からなる演算処理回路81に導かれ、
再生情報信号とサーボ用信号が分離生成される。サーボ
用信号はサーボ回路83に導かれ、移動光学ヘッド77
を制御する。再生情報信号はディジタル処理可能な2値
信号と再生クロックを生成する2値化・PLL回路82
に導かれ、ここで処理された後ディスクコントローラ8
4へ供給される。ディスクコントローラ84は変復調回
路と誤り訂正回路を備え、さらにサーボ回路83と記録
波形生成回路80とを制御するコントローラ、SCSI
インターフェイス等を含んで構成される。ディスクコン
トローラ84は、半導体レーザ制御回路1の異常検出状
態を判定し情報記録再生装置の安定動作を達成する。
【0071】記録波形生成回路80は、制御電流信号I
cを正確に設定するためのD/Aコンバータと、半導体
レーザ制御回路1からのモニタ出力信号を読み取るため
のA/Dコンバータとを備え、データバスを通じてコン
トローラ84とデータの送受を行う。
【0072】次に、図14を参照して、上記実施例に示
した半導体レーザ装置を用いて構成した本発明に係わる
画像記録装置を説明する。図14において、図示しない
イメージコントローラから送出されたビデオ信号400
は、インターフェイス401を介し、シーケンスコント
ローラ402から半導体レーザ制御回路300の入力端
子311に導かれる。半導体レーザ制御回路300はそ
のビデオ信号400をもとに作られたレーザ制御信号に
したがって、高精度の光量設定精度と高速応答性能によ
りレーザをオンオフする。そのレーザ出力ビームは、コ
リメータレンズ320からシリンドリカルレンズ332
を通り、ポリゴンミラー325を照射する。ポリゴンミ
ラー325は一定速度で回転しており、ポリゴンミラー
325で反射されたレーザビームは、トーリックレンズ
326から結合レンズ327を通りミラー331で反射
され感光ドラム332上を走査する。
【0073】感光ドラム332は、一定速度で回転され
走査が重ならないようにされている。感光ドラム332
上の画像はドットで描かれるが、各ドットが多少重なる
ように画像が描かれるため、それぞれのドットがつなが
って線で描いたように見え、連続的な画像が形成され
る。
【0074】レーザビームはポリゴンミラー325の一
面を走査するごとに光検出器330によってタイミング
が検出され、水平同期信号生成部403でレーザ制御信
号の送出タイミングが調整される。半導体レーザ制御回
路300のもつ高速応答性は印字スピードの大幅に向上
させるとともに、さらに、高精度の光量設定精度は印字
のムラ発生を完全に防止して、高解像度の印字を達成す
ることができる。一方、従来光量の制御は走査開始前に
光量調整するサンプリング方式でありシーケンスコント
ローラの負荷は重くコストアップとなっていた。
【0075】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
第1の可変利得増幅器が制御増幅部の初段に配置されて
いるため、当該第1の可変利得増幅器の利得を可変して
も後段の高いゲインをもつ制御増幅部のダイナミックレ
ンジを損なわず、特にしきい値電流のバラツキに強い高
精度の制御が可能となる。
【0076】また、第2の可変利得増幅器がフィードバ
ック制御ループと独立しているため、フィードバックの
位相補償が独立に調整できるとともに、利得が可変でき
ることにより補償手段の定数を変更する必要がなくな
り、部品コストと調整コストが低減される。
【0077】さらに、制御信号が零の期間は半導体レー
ザの駆動電流を強制的に零とするため、消費電力を低減
することができる。またさらに、この半導体レーザ装置
を情報記録再生装置に用いた場合、各種のバラツキに強
くなり装置製造の歩留まりが向上する。
【0078】さらにまた、この半導体レーザ装置を画像
記録装置に用いた場合、高い消光比と高精度の光量精
度、高速の安定なパルス特性により、高速で高画質な特
性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1原理に係る半導体レーザ装置の概
略ブロック図。
【図2】本発明に係る半導体レーザ装置の第1実施例の
詳細な回路図。
【図3】図2における差動可変増幅器5と補償回路9と
で作られるループを示す回路図。
【図4】図2における差動可変増幅器5の利得を可変し
たときの位相進み効果を示す特性図。
【図5】本発明に係る半導体レーザ装置の第2実施例の
詳細な回路図。
【図6】図5に示す第2実施例の半導体レーザ装置のパ
ルス特性における補償前及び補償後のシミュレーション
結果を示す特性図。
【図7】本発明の第2原理に係る半導体レーザ装置の概
略ブロック図。
【図8】本発明の第3原理に係る半導体レーザ装置の概
略ブロック図。
【図9】本発明に係る半導体レーザ装置の第3実施例の
詳細な回路図。
【図10】図9における半導体レーザのオン・オフ制御
時のモニタPD電流波形を示す特性図。
【図11】図9における半導体レーザのオン・オフ制御
時のLD駆動電流波形を示す特性図。
【図12】本発明に係る半導体レーザ装置の第4実施例
の詳細な回路図。
【図13】図2の実施例の半導体レーザ装置を用いた光
ディスク装置の構成を示す図。
【図14】図9の実施例の半導体レーザ装置を用いた画
像記録装置の構成を示す図。
【図15】従来の半導体レーザ装置における半導体レー
ザのオン・オフ制御時のモニタPD電流波形を示す図。
【図16】従来の半導体レーザ装置における半導体レー
ザのオン・オフ制御時のLD駆動電流波形を示す図。
【符号の説明】
1…半導体レーザ制御回路 2…電流/電圧
変換回路 6…差動可変増幅回路 7…演算増幅回
路 8…差動増幅器 11…レベルシ
フト回路 14…コンパレータ回路 19…電圧/電
流変換回路 21…電源監視回路 23…半導体レ
ーザ 24…モニタ用光検出素子 71…コリメー
タレンズ 72…複合プリズム 73…集光レン
ズ 74…ガルバノミラー 75…ホログラ
ム素子 77…移動光学系 78…光ディス
ク 80…記録波形生成系 81…演算処理
回路 82…2値化・PLL回路 83…サーボ回
路 84…コントローラ 301…TTL
/ECL変換回路 303…イコライザ回路 305…アナロ
グスイッチ 325…ポリゴンミラー 326…トーリ
ックレンズ 327…結像ミラー 332…感光ド
ラム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 7/125 A 7811−5D

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザと、 この半導体レーザの出力光を検出する光検出器と、 前記半導体レーザを駆動する駆動部と、 前記半導体レーザの出力を帰還制御すべく、外部から与
    えられる制御信号と前記光検出器の出力光とを受けてこ
    れら制御信号及び出力光で規定される駆動信号を前記駆
    動部に与える制御増幅部と、 前記光検出器、前記駆動部及び前記制御増幅部で構成さ
    れる帰還制御ループの位相を、当該帰還制御ループの時
    間的及び電気的挙動に従って能動的に制御する補償部と
    を具備する半導体レーザ装置。
  2. 【請求項2】 前記補償部は、可変利得アンプと、キャ
    パシタンス及び抵抗を含むCR回路とを具備し、前記可
    変利得アンプの入力には前記制御信号と前記光検出器の
    出力光とが与えられ、前記可変利得アンプの出力と前記
    CR回路の一端とが接続され、前記CR回路の他端が前
    記制御増幅部の入力側に接続される請求項1に記載の半
    導体レーザ装置。
  3. 【請求項3】 前記可変利得アンプは、当該可変利得ア
    ンプの制御帯域の少なくとも1.5倍以上の周波数帯域
    まで平坦な周波数特性を有する請求項1に記載の半導体
    レーザ装置。
  4. 【請求項4】 前記制御増幅部は、少なくとも、初段ア
    ンプとして可変利得差動アンプと、前記初段アンプより
    も高い利得の後段アンプとを具備する請求項1に記載の
    半導体レーザ装置。
  5. 【請求項5】 前記制御信号の値に応じて前記帰還制御
    のモードを変えるモード変化部を、更に具備する請求項
    1に記載の半導体レーザ装置。
  6. 【請求項6】 前記モード変化部は、前記半導体レーザ
    に与えるべき駆動電流を、前記制御信号の値が零の期間
    は強制的に零とする手段を具備する請求項5に記載の半
    導体レーザ装置。
  7. 【請求項7】 前記モード変化部は、前記制御増幅部の
    出力を、前記制御信号の値が零の期間は前記半導体レー
    ザに閾値電流を供給できるだけの値に保つクランプ手段
    を具備する請求項5に記載の半導体レーザ装置。
  8. 【請求項8】 半導体レーザと、 この半導体レーザの出力光を検出する光検出器と、 前記半導体レーザを駆動する駆動部と、 前記半導体レーザの出力を帰還制御すべく、外部から与
    えられる制御信号と前記光検出器の出力光とを受けてこ
    れら制御信号及び出力光で規定される駆動信号を前記駆
    動部に与える制御増幅部と、 前記制御信号の値に応じて前記帰還制御のモードを変え
    るモード変化部とを具備する半導体レーザ装置。
  9. 【請求項9】 半導体レーザと、この半導体レーザの出
    力光を検出する光検出器と、前記半導体レーザを駆動す
    る駆動部と、前記半導体レーザの出力を帰還制御すべ
    く、外部から与えられる制御信号と前記光検出器の出力
    光とを受けてこれら制御信号及び出力光で規定される駆
    動信号を前記駆動部に与える制御増幅部と、前記光検出
    器、前記駆動部及び前記制御増幅部で構成される帰還制
    御ループの位相を当該帰還制御ループの時間的及び電気
    的挙動に従って能動的に制御する補償部とを具備する半
    導体レーザ装置と、 この半導体レーザ装置の出力光を記録媒体に照射する照
    射部と、 前記記録媒体の反射光を検出する検出部と、 この検出部の出力から再生信号を生成する再生信号生成
    部と、 前記半導体レーザ装置に供給すべき前記制御信号を生成
    する制御信号生成部とを具備する情報記録再生装置。
  10. 【請求項10】 半導体レーザと、この半導体レーザの
    出力光を検出する光検出器と、前記半導体レーザを駆動
    する駆動部と、前記半導体レーザの出力を帰還制御すべ
    く、外部から与えられる制御信号と前記光検出器の出力
    光とを受けてこれら制御信号及び出力光で規定される駆
    動信号を前記駆動部に与える制御増幅部と、前記光検出
    器、前記駆動部及び前記制御増幅部で構成される帰還制
    御ループの位相を当該帰還制御ループの時間的及び電気
    的挙動に従って能動的に制御する補償部とを具備する半
    導体レーザ装置と、 この半導体レーザ装置の出力光を感光体に走査する走査
    部と、 この走査部の走査により形成される潜像を可視化する画
    像形成部と、 この検出部の出力から再生信号を生成する再生信号生成
    部と、 前記半導体レーザ装置に供給すべき前記制御信号を生成
    する制御信号生成部とを具備する画像記録装置。
  11. 【請求項11】 半導体レーザと、この半導体レーザの
    出力光を検出する光検出器と、前記半導体レーザを駆動
    する駆動部と、前記半導体レーザの出力を帰還制御すべ
    く、外部から与えられる制御信号と前記光検出器の出力
    光とを受けてこれら制御信号及び出力光で規定される駆
    動信号を前記駆動部に与える制御増幅部と、前記制御信
    号の値に応じて前記帰還制御のモードを変えるモード変
    化部とを具備する半導体レーザ装置と、 この半導体レーザ装置の出力光を感光体に走査する走査
    部と、 この走査部の走査により形成される潜像を可視化する画
    像形成部と、 この検出部の出力から再生信号を生成する再生信号生成
    部と、 前記半導体レーザ装置に供給すべき前記制御信号を生成
    する制御信号生成部とを具備する画像記録装置。
JP14075295A 1994-07-15 1995-06-07 半導体レーザ制御装置、半導体レーザ装置、情報記録再生装置及び画像記録装置 Expired - Lifetime JP3323033B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14075295A JP3323033B2 (ja) 1994-07-15 1995-06-07 半導体レーザ制御装置、半導体レーザ装置、情報記録再生装置及び画像記録装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16258094 1994-07-15
JP6-162580 1994-07-15
JP14075295A JP3323033B2 (ja) 1994-07-15 1995-06-07 半導体レーザ制御装置、半導体レーザ装置、情報記録再生装置及び画像記録装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0883948A true JPH0883948A (ja) 1996-03-26
JP3323033B2 JP3323033B2 (ja) 2002-09-09

Family

ID=26473178

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14075295A Expired - Lifetime JP3323033B2 (ja) 1994-07-15 1995-06-07 半導体レーザ制御装置、半導体レーザ装置、情報記録再生装置及び画像記録装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3323033B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1079548A (ja) * 1996-07-12 1998-03-24 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ制御装置
JPH1079549A (ja) * 1996-07-12 1998-03-24 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ制御装置
JP2003086888A (ja) * 2001-09-14 2003-03-20 Sony Corp 半導体レーザ制御装置
JP2005063999A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Fuji Xerox Co Ltd 発光素子駆動装置及び画像形成装置
US7274648B2 (en) 2002-01-25 2007-09-25 Sony Corporation Semiconductor laser drive circuit including a waveform generator voltage-to-current conversion circuit

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1079548A (ja) * 1996-07-12 1998-03-24 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ制御装置
JPH1079549A (ja) * 1996-07-12 1998-03-24 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ制御装置
JP2003086888A (ja) * 2001-09-14 2003-03-20 Sony Corp 半導体レーザ制御装置
US7274648B2 (en) 2002-01-25 2007-09-25 Sony Corporation Semiconductor laser drive circuit including a waveform generator voltage-to-current conversion circuit
JP2005063999A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Fuji Xerox Co Ltd 発光素子駆動装置及び画像形成装置
JP4517598B2 (ja) * 2003-08-08 2010-08-04 富士ゼロックス株式会社 発光素子駆動装置及び画像形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3323033B2 (ja) 2002-09-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
USRE35766E (en) Stabilized-feedback control device for semiconductor lasers
US6917639B2 (en) Laser driver circuit
US6111901A (en) Semiconductor laser driving circuit, semiconductor laser device, image recording apparatus, and optical disk apparatus
US6888861B2 (en) Semiconductor laser apparatus, information recording/reproduction apparatus and image recording apparatus
US7313068B2 (en) Apparatus and method for automatic power control
KR0153066B1 (ko) 반도체 레이저 장치, 정보기록 및 재생장치와 이미지 기록장치
US7057423B2 (en) Current-voltage transforming circuit employing limiter circuit
KR100210982B1 (ko) 반도체 레이저 구동회로, 반도체 레이저장치, 화상기록장치 및 광디스크장치
US6501775B2 (en) Semiconductor laser driving circuit and semiconductor laser device
US5694409A (en) Device for driving a semiconductor laser by a plurality of driving elements
US5574707A (en) Pulse width control apparatus for optical disk
JP3323033B2 (ja) 半導体レーザ制御装置、半導体レーザ装置、情報記録再生装置及び画像記録装置
US5268914A (en) Laser beam control apparatus
EP1231602B1 (en) Automatic power control apparatus of an optical disc drive
JP2910350B2 (ja) 光メモリ装置及びそのサーボオフセット補正方法
JPH11330628A (ja) 半導体レ―ザ装置、情報記録再生装置及び画像記録装置
JPH06267101A (ja) 半導体レーザ装置および情報記録再生装置
JP3838043B2 (ja) 光ディスク装置
JP2003101131A (ja) 半導体レーザ制御装置
JPH0636331A (ja) 半導体レーザ制御回路
JPH06267102A (ja) 光ディスク装置
JP3367921B2 (ja) 光記録装置
JPH0992915A (ja) 半導体レーザ駆動装置
JP2002043859A (ja) 電圧電流変換回路
JPH09265628A (ja) 光ディスク装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090628

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090628

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100628

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100628

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110628

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120628

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120628

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130628

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term