JPH08184588A - データ処理装置 - Google Patents
データ処理装置Info
- Publication number
- JPH08184588A JPH08184588A JP32664194A JP32664194A JPH08184588A JP H08184588 A JPH08184588 A JP H08184588A JP 32664194 A JP32664194 A JP 32664194A JP 32664194 A JP32664194 A JP 32664194A JP H08184588 A JPH08184588 A JP H08184588A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration curve
- data
- formation
- displayed
- working curve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】検量線表示より、検量線の信頼性を低下させて
いるデータを容易に識別でき、そのデータを除いて再計
算を実行し、信頼性の高い定量を行うことの出来るデー
タ処理装置を提供する。 【構成】検量線表示に際し、複数の測定毎の個々の検量
線の基礎となる形成点を前記表示手段に表示する行程
と、表示手段上に表示された形成点を任意に選択する行
程と、前記選択された形成点を除いて検量線を設定する
行程を設けた。
いるデータを容易に識別でき、そのデータを除いて再計
算を実行し、信頼性の高い定量を行うことの出来るデー
タ処理装置を提供する。 【構成】検量線表示に際し、複数の測定毎の個々の検量
線の基礎となる形成点を前記表示手段に表示する行程
と、表示手段上に表示された形成点を任意に選択する行
程と、前記選択された形成点を除いて検量線を設定する
行程を設けた。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は各種分析における検量線
表示につき、特に複数の測定対象成分の濃度データをも
って検量線を形成するデータ処理装置に関する。
表示につき、特に複数の測定対象成分の濃度データをも
って検量線を形成するデータ処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】各種分析装置、特に液体クロマトグラフ
では、未知試料内の定量を行う成分と同じ成分の既知濃
度と、該既知濃度に対するクロマトグラムのピーク高
さ，ピーク面積、或いは検出器出力を持て検量線を作成
し、未知試料内の成分の定量を行っていた。その中でも
複数の標準試料内の成分を用いて検量線を作成すること
が知られている。これは標準試料の中にも信頼出来ない
ものが存在し、１つの標準試料だけでは必ずしも正確な
検量線を作成することは出来ないことによる。特開昭64
−80838 号公報には、標準試料に対する複数の測定結果
を用いることが記載されており、複数の測定データに対
応した検量線を作成することについて開示されている。
では、未知試料内の定量を行う成分と同じ成分の既知濃
度と、該既知濃度に対するクロマトグラムのピーク高
さ，ピーク面積、或いは検出器出力を持て検量線を作成
し、未知試料内の成分の定量を行っていた。その中でも
複数の標準試料内の成分を用いて検量線を作成すること
が知られている。これは標準試料の中にも信頼出来ない
ものが存在し、１つの標準試料だけでは必ずしも正確な
検量線を作成することは出来ないことによる。特開昭64
−80838 号公報には、標準試料に対する複数の測定結果
を用いることが記載されており、複数の測定データに対
応した検量線を作成することについて開示されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】検量線を用いて定量を
行う場合、検量線の信頼性が重要な課題となる。しかし
ながら上記従来技術の如く複数の測定データを用いる場
合、そのデータ中に信頼性を低下させているデータが存
在した場合であっても、表示されている検量線は全ての
データの平均値などから算出されており、そのデータを
特定することができなかった。
行う場合、検量線の信頼性が重要な課題となる。しかし
ながら上記従来技術の如く複数の測定データを用いる場
合、そのデータ中に信頼性を低下させているデータが存
在した場合であっても、表示されている検量線は全ての
データの平均値などから算出されており、そのデータを
特定することができなかった。
【０００４】本発明は、検量線の信頼性を低下させてい
るデータを容易に発見することが出来ると共に、該デー
タを除去し正確な検量線を描画することができるデータ
処理装置の提供を目的とする。
るデータを容易に発見することが出来ると共に、該デー
タを除去し正確な検量線を描画することができるデータ
処理装置の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明では検量線を表示
する表示手段と、測定対象成分の既知濃度データに基づ
いて前記検量線を描画する描画手段を有するデータ処理
装置において、前記検量線が測定対象成分の複数の測定
のデータを加味した状態で描画される場合であって、以
下の検量線作成行程を備えている。
する表示手段と、測定対象成分の既知濃度データに基づ
いて前記検量線を描画する描画手段を有するデータ処理
装置において、前記検量線が測定対象成分の複数の測定
のデータを加味した状態で描画される場合であって、以
下の検量線作成行程を備えている。
【０００６】或る一定の濃度値上に前記測定対象成分の
測定毎の検量線の基礎となる形成点を前記表示手段に表
示する第１の行程，前記表示手段上に表示された形成点
を任意に選択する第２の行程，前記選択された形成点を
除いて前記検量線を設定する第３の行程。
測定毎の検量線の基礎となる形成点を前記表示手段に表
示する第１の行程，前記表示手段上に表示された形成点
を任意に選択する第２の行程，前記選択された形成点を
除いて前記検量線を設定する第３の行程。
【０００７】
【作用】以上の構成では、先ず複数の測定毎の検量線を
作成する上での形成点を表示する行程を設けたため、複
数の測定対象成分のうちどれが信頼するに足らない成分
であるかを特定することが出来る。
作成する上での形成点を表示する行程を設けたため、複
数の測定対象成分のうちどれが信頼するに足らない成分
であるかを特定することが出来る。
【０００８】また複数の測定毎の形成点を併せて配置，
表示するから、他の形成点との比較により、信頼するに
足らない形成点を容易に判断できる。
表示するから、他の形成点との比較により、信頼するに
足らない形成点を容易に判断できる。
【０００９】更に、検量線を設定する前に、検量線の信
頼性を低下させるデータ任意に選択する行程を設けたの
で、検量線作成に操作者の判断を加味することが検量線
の自動描画手段上で可能となる。
頼性を低下させるデータ任意に選択する行程を設けたの
で、検量線作成に操作者の判断を加味することが検量線
の自動描画手段上で可能となる。
【００１０】
【実施例】以下本願発明を図面に基づいて説明する。
【００１１】図２は本願発明の一実施例を示すデータ処
理装置の構成図である。
理装置の構成図である。
【００１２】１２はＣＰＵであり液体クロマトグラフな
どの分析装置からその検出信号がＡ／Ｄ変換器を経てＣ
ＰＵ１２に取り込まれる。ＣＰＵ１２にはクロマトグラ
ムデータ等を取り込む。その手段としては例えばRS232C
インタフェースやネットワークからデジタル伝送路１０
を経て取り込むことが出来る。ＣＰＵ１２にはプログラ
ムを記憶しているＲＯＭ，取り込まれたデータを記憶す
るＲＡＭなどのメモリ１４が接続され、検量線や未知試
料の定量結果を表示する表示部１６，測定操作を入力す
る入力部などが接続されている。
どの分析装置からその検出信号がＡ／Ｄ変換器を経てＣ
ＰＵ１２に取り込まれる。ＣＰＵ１２にはクロマトグラ
ムデータ等を取り込む。その手段としては例えばRS232C
インタフェースやネットワークからデジタル伝送路１０
を経て取り込むことが出来る。ＣＰＵ１２にはプログラ
ムを記憶しているＲＯＭ，取り込まれたデータを記憶す
るＲＡＭなどのメモリ１４が接続され、検量線や未知試
料の定量結果を表示する表示部１６，測定操作を入力す
る入力部などが接続されている。
【００１３】図１は本願発明の一実施例を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【００１４】先ず、複数の標準試料を分析する。この分
析は必要に応じて行われ、この結果は記憶される。
析は必要に応じて行われ、この結果は記憶される。
【００１５】本実施例では検量線を２点で作成し、標準
試料の分析が４回行われる場合を示す。即ち各対象成分
毎の検量線の基礎となる形成点は図３の検量線図に示す
ように計８点からなる。縦軸は検出器の出力値から算出
される応答値でありクロマトグラフを例にとると成分ピ
ークの面積であったりピークの高さであったりする。次
に記憶した標準試料の各測定データから最小自乗法によ
り検量線の係数を計算し検量線を作成し表示する。
試料の分析が４回行われる場合を示す。即ち各対象成分
毎の検量線の基礎となる形成点は図３の検量線図に示す
ように計８点からなる。縦軸は検出器の出力値から算出
される応答値でありクロマトグラフを例にとると成分ピ
ークの面積であったりピークの高さであったりする。次
に記憶した標準試料の各測定データから最小自乗法によ
り検量線の係数を計算し検量線を作成し表示する。
【００１６】そして表示部１６上には対象成分の複数の
測定毎の検量線の基礎となる形成点が各測定データ毎に
識別できるように表示される。図３の表示例では各形成
点に数字が付され夫々判別できるようになっている。こ
の場合１回目の測定には１，２回目の測定には２、とい
う具合に表示する。
測定毎の検量線の基礎となる形成点が各測定データ毎に
識別できるように表示される。図３の表示例では各形成
点に数字が付され夫々判別できるようになっている。こ
の場合１回目の測定には１，２回目の測定には２、とい
う具合に表示する。
【００１７】尚、各形成点は上記のように数字が付され
る場合の他、アルファベットが付されるものであった
り、また各対象成分毎の形成点を図４に示すような丸，
三角，四角，菱等、形状が異なるようにしたり、各対象
成分毎色分けしたり、各対象成分を判別できるようなも
のであれば良い。本実施例では測定回ごと、上記の形状
や色分けが一致している。
る場合の他、アルファベットが付されるものであった
り、また各対象成分毎の形成点を図４に示すような丸，
三角，四角，菱等、形状が異なるようにしたり、各対象
成分毎色分けしたり、各対象成分を判別できるようなも
のであれば良い。本実施例では測定回ごと、上記の形状
や色分けが一致している。
【００１８】次に上記各対象成分毎の検量線の基礎とな
る形成点の中で検量線作成上操作者が不要と判断した形
成点、即ち同一濃度上の他の形成点に比して明らかに掛
け離れた位置に形成点がある場合などに、表示画面上で
その形成点を指定し、不要であることを明らかにする。
この時図７に示すように指定された形成点をそれ迄の表
示形態から変化させることで２重指定を防止すると共に
その形成点を含まない計算により検量線を作成すること
を明らかにすることができる。
る形成点の中で検量線作成上操作者が不要と判断した形
成点、即ち同一濃度上の他の形成点に比して明らかに掛
け離れた位置に形成点がある場合などに、表示画面上で
その形成点を指定し、不要であることを明らかにする。
この時図７に示すように指定された形成点をそれ迄の表
示形態から変化させることで２重指定を防止すると共に
その形成点を含まない計算により検量線を作成すること
を明らかにすることができる。
【００１９】この形成点選択行程は、形成点を選択する
必要が無い場合はそのまま次の行程に移行するが、形成
点の確認行程としてこの行程を設けることによって精度
の高い検量線であることを認識しつつ操作者は後の分析
を継続できる。また図５に示したように、形成点Ａを選
択したときその形成点のデータを表示するようにすれば
操作者の判断をより確実なものとすることが出来る。こ
のデータは標準試料Ｓｔｄ１に対する３回目の測定によ
ってもたらされた形成点であることを示している。
必要が無い場合はそのまま次の行程に移行するが、形成
点の確認行程としてこの行程を設けることによって精度
の高い検量線であることを認識しつつ操作者は後の分析
を継続できる。また図５に示したように、形成点Ａを選
択したときその形成点のデータを表示するようにすれば
操作者の判断をより確実なものとすることが出来る。こ
のデータは標準試料Ｓｔｄ１に対する３回目の測定によ
ってもたらされた形成点であることを示している。
【００２０】また図６に示すように各形成点のデータを
検量線画面と同一画面に表示しておいても同様の効果を
得ることが出来る。このデータはＳｔｄ１、及びＳｔｄ
２に対して行われた測定の結果を示している。この時選
択された形成点のデータを他のデータと識別して表示す
ることでも２重指定の防止やその形成点を含まない検量
線を作成することを明らかにすることが出来る。その例
として挙げられるのが、指定されたデータの色を変えた
り、データ欄を点滅させたりすることが考えられる。
検量線画面と同一画面に表示しておいても同様の効果を
得ることが出来る。このデータはＳｔｄ１、及びＳｔｄ
２に対して行われた測定の結果を示している。この時選
択された形成点のデータを他のデータと識別して表示す
ることでも２重指定の防止やその形成点を含まない検量
線を作成することを明らかにすることが出来る。その例
として挙げられるのが、指定されたデータの色を変えた
り、データ欄を点滅させたりすることが考えられる。
【００２１】次に上記行程で指定された形成点を除いて
検量線の係数を再計算し、この計算結果に基づいて新た
な検量線を形成する。
検量線の係数を再計算し、この計算結果に基づいて新た
な検量線を形成する。
【００２２】この際、図８に示すように再計算の結果得
られた信頼性の高い検量線と、元の検量線を同じ表示画
面上に出力することによって、検量線の比較が出来、再
計算の結果得られた検量線が本当に正しいのかの判別が
可能となる。この表示画面上では再計算時に除かれた形
成点は×で表示され、再計算時の計算に用いられた形成
点は・で表示されている。検量線２０は再計算の結果得
られた信頼性の高い検量線を示し、２２は全ての形成点
データが計算の対象として得られたもとの検量線であ
る。
られた信頼性の高い検量線と、元の検量線を同じ表示画
面上に出力することによって、検量線の比較が出来、再
計算の結果得られた検量線が本当に正しいのかの判別が
可能となる。この表示画面上では再計算時に除かれた形
成点は×で表示され、再計算時の計算に用いられた形成
点は・で表示されている。検量線２０は再計算の結果得
られた信頼性の高い検量線を示し、２２は全ての形成点
データが計算の対象として得られたもとの検量線であ
る。
【００２３】図８の例では、再計算の結果得られた信頼
性の高い検量線２０は実線で、全ての形成点データによ
り算出された元の検量線は破線で表示され、異なる線種
より識別できる。また線の太細，線の色の違い等によっ
ても検量線の比較容易に行うことが出来る。
性の高い検量線２０は実線で、全ての形成点データによ
り算出された元の検量線は破線で表示され、異なる線種
より識別できる。また線の太細，線の色の違い等によっ
ても検量線の比較容易に行うことが出来る。
【００２４】次に、未知試料の分析を行い、この際上記
得られた信頼性の高い検量線を用いて定量計算を行う。
得られた信頼性の高い検量線を用いて定量計算を行う。
【００２５】
【発明の効果】本発明では、検量線を表示する際、検量
線を形成する既知濃度に応じた値を測定毎のデータで表
示するため、検量線の信頼性を低下させているデータの
識別が容易であり、そのデータを除いた後検量線の再設
定ができるから、操作者の意に反することのない、信頼
性の高い検量線を自動描画することが可能となる。
線を形成する既知濃度に応じた値を測定毎のデータで表
示するため、検量線の信頼性を低下させているデータの
識別が容易であり、そのデータを除いた後検量線の再設
定ができるから、操作者の意に反することのない、信頼
性の高い検量線を自動描画することが可能となる。
【図１】本発明の一実施例を示すフローチャート。
【図２】本発明の実施例のデータ処理装置の構成図。
【図３】本発明の実施例の第１の検量線図。
【図４】本発明の実施例の第２の検量線図。
【図５】本発明の実施例の第３の検量線図。
【図６】本発明の実施例の第４の検量線図。
【図７】本発明の実施例の第５の検量線図。
【図８】本発明の実施例の第６の検量線図。
８…Ａ／Ｄ変換器、１０…デジタル伝送路、１２…ＣＰ
Ｕ、１４…メモリ、１６…表示部、１８…入力部、２
０，２１…検量線。
Ｕ、１４…メモリ、１６…表示部、１８…入力部、２
０，２１…検量線。
Claims (5)
- 【請求項１】検量線を表示する表示手段と、測定対象成
分の既知濃度データに基づいて前記検量線を描画する描
画手段を有するデータ処理装置において、前記検量線が
測定対象成分の複数の測定データを加味した状態で描画
される場合であって、或る一定の濃度値上に前記複数の
測定毎の検量線の基礎となる形成点を前記表示手段に表
示する行程と，前記表示手段上に表示された形成点を任
意に選択する行程と，前記選択された形成点を除いて前
記検量線を設定する行程を設けたことを特徴とするデー
タ処理装置。 - 【請求項２】前記各測定対象成分毎の検量線の基礎とな
る形成点を前記各測定対象毎に識別して表示することを
特徴とする請求項１に記載のデータ処理装置。 - 【請求項３】前記選択された形成点を他の形成点と識別
して表示することを特徴とする請求項１または２に記載
のデータ処理装置。 - 【請求項４】前記選択された形成点を除いて設定した検
量線と，前記選択された形成点を含む検量線を識別して
表示することを特徴とする請求項１乃至３に記載のデー
タ処理装置。 - 【請求項５】測定対象成分の既知濃度データに基づいて
検量線を描画する描画手段を有するデータ処理装置にお
いて、前記検量線が測定対象成分の複数の測定の濃度の
データを加味した状態で描画される場合であって、或る
一定の濃度値上に前記各複数の測定毎の検量線の基礎と
なる形成点を表示する表示手段と，前記各形成点に基づ
いて検量線を設定する設定手段と，前記形成点を任意に
選択する選択手段を有し、前記設定手段は前記選択手段
によって形成点が選択された場合、該形成点を除いて検
量線を設定することを特徴とするクロマトグラフ用デー
タ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32664194A JPH08184588A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32664194A JPH08184588A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | データ処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08184588A true JPH08184588A (ja) | 1996-07-16 |
Family
ID=18190060
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32664194A Pending JPH08184588A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | データ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08184588A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000275195A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Rigaku Industrial Co | 蛍光ｘ線分析装置 |
| JP2018504709A (ja) * | 2015-01-26 | 2018-02-15 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 自動定量的回帰 |
-
1994
- 1994-12-28 JP JP32664194A patent/JPH08184588A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000275195A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Rigaku Industrial Co | 蛍光ｘ線分析装置 |
| JP2018504709A (ja) * | 2015-01-26 | 2018-02-15 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 自動定量的回帰 |
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