JPH0740016B2 - クロマトグラフ／質量分析装置 - Google Patents
クロマトグラフ／質量分析装置Info
- Publication number
- JPH0740016B2 JPH0740016B2 JP3058676A JP5867691A JPH0740016B2 JP H0740016 B2 JPH0740016 B2 JP H0740016B2 JP 3058676 A JP3058676 A JP 3058676A JP 5867691 A JP5867691 A JP 5867691A JP H0740016 B2 JPH0740016 B2 JP H0740016B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- retention time
- time range
- target
- δti
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスクロマトグラフや
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ／質量分析装置
に係り、特には選択イオンモニタ(ＳＩＭ)法を適用する
場合に必要となるＳＩＭ測定テーブル作成のための手段
に関する。
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ／質量分析装置
に係り、特には選択イオンモニタ(ＳＩＭ)法を適用する
場合に必要となるＳＩＭ測定テーブル作成のための手段
に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ガスクロマトグラフや液体クロ
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ／質量分析装置におい
て、特定の成分の定量分析を行う場合には、選択イオン
モニタ(ＳＩＭ)法が採用されることがある。この選択イ
オンモニタ法は、定量対象となる成分に対応する特定の
ターゲットイオンを予め選定しておき、質量分析計の加
速電圧をターゲットイオンの特有の質量数(m/z)に対応
する値に設定して、ターゲットイオンの経時的な強度変
化を示すクロマトグラムを測定するものである。なお、
その後は、上記のクロマトグラムについて、ピーク面積
(たとえばピーク高さ×半値幅)を算出して予め求めた検
量線に基づいて成分の含有量などを決定する。
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ／質量分析装置におい
て、特定の成分の定量分析を行う場合には、選択イオン
モニタ(ＳＩＭ)法が採用されることがある。この選択イ
オンモニタ法は、定量対象となる成分に対応する特定の
ターゲットイオンを予め選定しておき、質量分析計の加
速電圧をターゲットイオンの特有の質量数(m/z)に対応
する値に設定して、ターゲットイオンの経時的な強度変
化を示すクロマトグラムを測定するものである。なお、
その後は、上記のクロマトグラムについて、ピーク面積
(たとえばピーク高さ×半値幅)を算出して予め求めた検
量線に基づいて成分の含有量などを決定する。
【０００３】このように、選択イオンモニタ法は、イオ
ン種を予め限定してクロマトグラムを測定するので、共
存する妨害成分の影響を受け難く、しかも、各成分につ
いてデータの採取時間を長くとることができるのでＳ／
Ｎ比に優れ、測定感度が非常に高く、定量分析に適して
いる。
ン種を予め限定してクロマトグラムを測定するので、共
存する妨害成分の影響を受け難く、しかも、各成分につ
いてデータの採取時間を長くとることができるのでＳ／
Ｎ比に優れ、測定感度が非常に高く、定量分析に適して
いる。
【０００４】ところで、上記のような選択イオンモニタ
法による定量分析を行う場合には、予め定量すべき対象
成分のターゲットイオンを特定するのに必要な同定テー
ブルと、これらのターゲットイオンの各クロマトグラム
の測定条件を決めるに必要なＳＩＭ測定テーブルとをそ
れぞれ作成する必要がある。
法による定量分析を行う場合には、予め定量すべき対象
成分のターゲットイオンを特定するのに必要な同定テー
ブルと、これらのターゲットイオンの各クロマトグラム
の測定条件を決めるに必要なＳＩＭ測定テーブルとをそ
れぞれ作成する必要がある。
【０００５】上記の同定テーブルとＳＩＭ測定テーブル
は、従来、次のようにして作成している。
は、従来、次のようにして作成している。
【０００６】たとえば、質量数がそれぞれ(m/z)1，(m/
z)2，(m/z)3の既知の各ターゲットイオンa〜cについ
て、図７に示すような各クロマトグラムが観察される場
合、これらのクロマトグラムを特定するために、ターゲ
ットイオンa〜cの質量数(m/z)1〜(m/z)3、各ターゲット
イオンa〜cのクロマトグラムのピークトップ位置を示す
標準保持時間t1〜t3、およびクロマトグラムのピークト
ップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅Δt1〜Δt3を予
め決定し、これらの質量数(m/z)1〜(m/z)3、標準保持時
間t1〜t3、許容保持時間幅Δt1〜Δt3を互いに対応付け
ることにより同定テーブルを作成する。
z)2，(m/z)3の既知の各ターゲットイオンa〜cについ
て、図７に示すような各クロマトグラムが観察される場
合、これらのクロマトグラムを特定するために、ターゲ
ットイオンa〜cの質量数(m/z)1〜(m/z)3、各ターゲット
イオンa〜cのクロマトグラムのピークトップ位置を示す
標準保持時間t1〜t3、およびクロマトグラムのピークト
ップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅Δt1〜Δt3を予
め決定し、これらの質量数(m/z)1〜(m/z)3、標準保持時
間t1〜t3、許容保持時間幅Δt1〜Δt3を互いに対応付け
ることにより同定テーブルを作成する。
【０００７】また、クロマトグラムの測定条件を決める
ために、各ターゲットイオンa〜cの質量数(m/z)1〜(m/
z)3、および測定保持時間範囲Ｒ1〜Ｒ3を決定し、さら
に、測定保持時間範囲Ｒ1〜Ｒ3の重なりの有無を調べ、
測定保持時間範囲が互いに重なる場合には(この例では
Ｒ1とＲ2とが重なっている)、これらの測定保持時間範
囲をカバーする最小の時間範囲Ｒ0を改めて測定保持時
間範囲として決定し、これらの質量数(m/z)と測定保持
時間範囲Ｒ0、Ｒ3とを互いに対応付けることによりＳＩ
Ｍ測定テーブルを作成する。
ために、各ターゲットイオンa〜cの質量数(m/z)1〜(m/
z)3、および測定保持時間範囲Ｒ1〜Ｒ3を決定し、さら
に、測定保持時間範囲Ｒ1〜Ｒ3の重なりの有無を調べ、
測定保持時間範囲が互いに重なる場合には(この例では
Ｒ1とＲ2とが重なっている)、これらの測定保持時間範
囲をカバーする最小の時間範囲Ｒ0を改めて測定保持時
間範囲として決定し、これらの質量数(m/z)と測定保持
時間範囲Ｒ0、Ｒ3とを互いに対応付けることによりＳＩ
Ｍ測定テーブルを作成する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来技術
では、同定テーブルとＳＩＭ測定テーブルとをそれぞれ
別個に作成しているので、テーブル作成に手間がかかる
ばかりでなく、ＳＩＭ測定テーブルの作成に際しては、
さらに、測定保持時間範囲の重なりの有無を調べてその
範囲を再調整する必要があり、テーブル作成が煩雑にな
っていた。
では、同定テーブルとＳＩＭ測定テーブルとをそれぞれ
別個に作成しているので、テーブル作成に手間がかかる
ばかりでなく、ＳＩＭ測定テーブルの作成に際しては、
さらに、測定保持時間範囲の重なりの有無を調べてその
範囲を再調整する必要があり、テーブル作成が煩雑にな
っていた。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するためになされたものであって、同定テーブル
を作成すると、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動
的に作成されるようにして、選択イオンモニタ(ＳＩＭ)
法に基づく定量分析を効率良く行えるようにするもので
ある。
を解決するためになされたものであって、同定テーブル
を作成すると、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動
的に作成されるようにして、選択イオンモニタ(ＳＩＭ)
法に基づく定量分析を効率良く行えるようにするもので
ある。
【００１０】そのため、本発明では、定量すべき対象成
分を特定するのに必要なターゲットイオンの質量数、各
ターゲットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置
を示す標準保持時間(ti、i＝１，２，…)、およびクロ
マトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持
時間幅(Δti、i＝１，２，…)をそれぞれ与える同定テ
ーブルを備えたクロマトグラフ／質量分析装置におい
て、次の構成を採る。
分を特定するのに必要なターゲットイオンの質量数、各
ターゲットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置
を示す標準保持時間(ti、i＝１，２，…)、およびクロ
マトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持
時間幅(Δti、i＝１，２，…)をそれぞれ与える同定テ
ーブルを備えたクロマトグラフ／質量分析装置におい
て、次の構成を採る。
【００１１】すなわち、本発明の装置では、図１の機能
ブロック図に示すように、同定テーブルに基づいて、許
容保持時間幅(Δti)に一定値(f)を掛けた測定保持時間
幅(f・Δti)を算出するとともに、この測定保持時間幅
(f・Δti)と前記標準保持時間(ti)とから各ターゲット
イオンについての測定保持時間範囲(Ｒi＝ti−f・Δti
〜ti＋f・Δti)を設定する測定保持時間範囲設定手段１
と、この測定保持時間範囲設定手段１で設定された各測
定保持時間範囲(Ｒi)を各ターゲットイオンごとに時間
軸上にプロットしてタイムチャートを作成するタイムチ
ャート作成手段２と、このタイムチャート作成手段２で
作成されたタイムチャートの測定保持時間範囲(Ｒi)が
互いに重なるターゲットイオンどうしを一つのグループ
とし、各グループに含まれるターゲットイオンの測定保
持時間範囲(Ｒi)を全てカバーする最小の時間範囲を最
適測定保持時間範囲(Ｔi)として決定するとともに、各
グループごとにそのターゲットイオンの質量数と前記最
適測定保持時間範囲(Ｔi)とを互いに対応付けたＳＩＭ
測定テーブルを作成するＳＩＭ測定テーブル作成手段３
とを備えている。
ブロック図に示すように、同定テーブルに基づいて、許
容保持時間幅(Δti)に一定値(f)を掛けた測定保持時間
幅(f・Δti)を算出するとともに、この測定保持時間幅
(f・Δti)と前記標準保持時間(ti)とから各ターゲット
イオンについての測定保持時間範囲(Ｒi＝ti−f・Δti
〜ti＋f・Δti)を設定する測定保持時間範囲設定手段１
と、この測定保持時間範囲設定手段１で設定された各測
定保持時間範囲(Ｒi)を各ターゲットイオンごとに時間
軸上にプロットしてタイムチャートを作成するタイムチ
ャート作成手段２と、このタイムチャート作成手段２で
作成されたタイムチャートの測定保持時間範囲(Ｒi)が
互いに重なるターゲットイオンどうしを一つのグループ
とし、各グループに含まれるターゲットイオンの測定保
持時間範囲(Ｒi)を全てカバーする最小の時間範囲を最
適測定保持時間範囲(Ｔi)として決定するとともに、各
グループごとにそのターゲットイオンの質量数と前記最
適測定保持時間範囲(Ｔi)とを互いに対応付けたＳＩＭ
測定テーブルを作成するＳＩＭ測定テーブル作成手段３
とを備えている。
【００１２】
【作用】上記構成において、測定保持時間範囲設定手段
１は、同定テーブルに基づいて、各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲(Ｒi)を設定し、次いで、タ
イムチャート作成手段２は、この各測定保持時間範囲
(Ｒi)を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロット
してタイムチャートを作成する。続いて、最適測定保持
時間範囲作成手段３は、タイムチャート上の測定保持時
間範囲(Ｒi)が互いに重なるターゲットイオンどうしを
一つのグループとし、各グループに含まれるターゲット
イオンの測定保持時間範囲(Ｒi)を全てカバーする最小
の時間範囲を最適測定保持時間範囲(Ｔi)として決定し
てＳＩＭ測定テーブルを作成する。
１は、同定テーブルに基づいて、各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲(Ｒi)を設定し、次いで、タ
イムチャート作成手段２は、この各測定保持時間範囲
(Ｒi)を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロット
してタイムチャートを作成する。続いて、最適測定保持
時間範囲作成手段３は、タイムチャート上の測定保持時
間範囲(Ｒi)が互いに重なるターゲットイオンどうしを
一つのグループとし、各グループに含まれるターゲット
イオンの測定保持時間範囲(Ｒi)を全てカバーする最小
の時間範囲を最適測定保持時間範囲(Ｔi)として決定し
てＳＩＭ測定テーブルを作成する。
【００１３】つまり、同定テーブルが一旦作成される
と、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動的に作成さ
れることになる。
と、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動的に作成さ
れることになる。
【００１４】
【実施例】図２は本発明の実施例に係るガスクロマトグ
ラフ／質量分析装置の全体を示すブロック図である。
ラフ／質量分析装置の全体を示すブロック図である。
【００１５】同図において、符号１０はガスクロマトグ
ラフ／質量分析装置の全体を示し、１２はガスクロマト
グラフ、１４は質量分析計、１６はガスクロマトグラフ
１２と質量分析計１４の動作を制御するとともに、質量
分析計１４で得られるデータを処理するＣＰＵ、１８は
必要な制御プログラムや後述する同定テーブル、ＳＩＭ
測定テーブル、および測定データが格納されるメモリ、
２０は同定テーブルのパラメータ等を入力するためのキ
ーボード、２２はメモリ１８の内容を表示するＣＲＴで
ある。
ラフ／質量分析装置の全体を示し、１２はガスクロマト
グラフ、１４は質量分析計、１６はガスクロマトグラフ
１２と質量分析計１４の動作を制御するとともに、質量
分析計１４で得られるデータを処理するＣＰＵ、１８は
必要な制御プログラムや後述する同定テーブル、ＳＩＭ
測定テーブル、および測定データが格納されるメモリ、
２０は同定テーブルのパラメータ等を入力するためのキ
ーボード、２２はメモリ１８の内容を表示するＣＲＴで
ある。
【００１６】そして、図１の機能ブロック図に示した測
定保持時間範囲設定手段１、タイムチャート作成手段
２、およびＳＩＭ測定テーブル作成手段３は、本例では
ＣＰＵ１６とメモリ１８により実現される。
定保持時間範囲設定手段１、タイムチャート作成手段
２、およびＳＩＭ測定テーブル作成手段３は、本例では
ＣＰＵ１６とメモリ１８により実現される。
【００１７】次に、上記構成のガスクロマトグラフ／質
量分析装置１０によるＳＩＭ測定テーブルの作成動作に
ついて説明する。
量分析装置１０によるＳＩＭ測定テーブルの作成動作に
ついて説明する。
【００１８】いま、たとえば、７種の成分を定量するた
め、図３に示すような同定テーブルが作成されたものと
する。この同定テーブルの作成は、たとえば、所定の質
量範囲を繰り返し走査してその範囲内の全ての質量数の
マススペクトルを測定し、その結果に基づいて各成分ご
との時間変化を示すマスクロマトグラムを求める。そし
て、このマスクロマトグラムから、各成分a〜gに対応す
るターゲットイオンの質量数(m/z)1〜(m/z)7、各ターゲ
ットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置を示す
標準保持時間(ti、i＝１〜７)、およびクロマトグラム
のピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅(Δt
i、i＝１〜７)をそれぞれ決定し、これらの各パラメー
タをキーボード２０から入力することにより行われる。
こうして作成された同定テーブルは、メモリ１８に格納
される。
め、図３に示すような同定テーブルが作成されたものと
する。この同定テーブルの作成は、たとえば、所定の質
量範囲を繰り返し走査してその範囲内の全ての質量数の
マススペクトルを測定し、その結果に基づいて各成分ご
との時間変化を示すマスクロマトグラムを求める。そし
て、このマスクロマトグラムから、各成分a〜gに対応す
るターゲットイオンの質量数(m/z)1〜(m/z)7、各ターゲ
ットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置を示す
標準保持時間(ti、i＝１〜７)、およびクロマトグラム
のピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅(Δt
i、i＝１〜７)をそれぞれ決定し、これらの各パラメー
タをキーボード２０から入力することにより行われる。
こうして作成された同定テーブルは、メモリ１８に格納
される。
【００１９】次に、ＣＰＵ１６は、メモリ１８に記憶さ
れている同定テーブルに基づいて、許容保持時間幅(Δt
i)に一定値(f)を掛けた測定保持時間幅(f・Δti)を算出
する。ここに(f)はピ−クの開始点と終点が測定保持時
間範囲内に入り、しかもピ−ク検出できる測定保持時間
範囲を与える値である。
れている同定テーブルに基づいて、許容保持時間幅(Δt
i)に一定値(f)を掛けた測定保持時間幅(f・Δti)を算出
する。ここに(f)はピ−クの開始点と終点が測定保持時
間範囲内に入り、しかもピ−ク検出できる測定保持時間
範囲を与える値である。
【００２０】続いて、この測定保持時間幅(f・Δti)と
標準保持時間(ti)とから各ターゲットイオンについての
測定保持時間範囲(Ｒi＝ti−f・Δti〜ti＋f・Δti、i
＝１〜７)を設定する。
標準保持時間(ti)とから各ターゲットイオンについての
測定保持時間範囲(Ｒi＝ti−f・Δti〜ti＋f・Δti、i
＝１〜７)を設定する。
【００２１】次に、各測定保持時間範囲(Ｒi)を各ター
ゲットイオンごとに(この例では質量数(m/z)1〜(m/z)7
ごとに)時間軸上にプロットして、図４に示すようなタ
イムチャートを作成する。
ゲットイオンごとに(この例では質量数(m/z)1〜(m/z)7
ごとに)時間軸上にプロットして、図４に示すようなタ
イムチャートを作成する。
【００２２】引き続いて、タイムチャート上の測定保持
時間範囲(Ｒi)が重なるターゲットイオンどうしを一つ
のグループとする。この例では、Ｒ1，Ｒ2，Ｒ4が重な
るので１グループ、Ｒ3は重なるものがないので単独で
１グループ、Ｒ5，Ｒ6，Ｒ7が重なるので１グループと
なり、全部で３つのグループができる。
時間範囲(Ｒi)が重なるターゲットイオンどうしを一つ
のグループとする。この例では、Ｒ1，Ｒ2，Ｒ4が重な
るので１グループ、Ｒ3は重なるものがないので単独で
１グループ、Ｒ5，Ｒ6，Ｒ7が重なるので１グループと
なり、全部で３つのグループができる。
【００２３】そして、各グループごとに、そのグループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ｒi)
を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間範
囲(Ｔi)として決定する。したがって、この例では、
Ｔ1，Ｔ2，Ｔ3がそれぞれ最適測定保持時間範囲とな
る。ここで、Ｔ1＝t1−f・Δti〜t4＋f・Δt4、Ｔ2＝t3
−f・Δt3〜t3＋f・Δt3、Ｔ3＝t5−f・Δt5〜t7＋f・
Δt7である。
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ｒi)
を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間範
囲(Ｔi)として決定する。したがって、この例では、
Ｔ1，Ｔ2，Ｔ3がそれぞれ最適測定保持時間範囲とな
る。ここで、Ｔ1＝t1−f・Δti〜t4＋f・Δt4、Ｔ2＝t3
−f・Δt3〜t3＋f・Δt3、Ｔ3＝t5−f・Δt5〜t7＋f・
Δt7である。
【００２４】こうして、最適測定保持時間範囲(Ｔi、i
＝１〜３)が決定されると、各グループごとにそのター
ゲットイオンの質量数と最適測定保持時間範囲(Ｔi)と
を互いに対応付けて、図５に示すようなＳＩＭ測定テー
ブルを作成する。こうしてＣＰＵ１６により作成された
ＳＩＭ測定テーブルは、メモリ１８に格納される。
＝１〜３)が決定されると、各グループごとにそのター
ゲットイオンの質量数と最適測定保持時間範囲(Ｔi)と
を互いに対応付けて、図５に示すようなＳＩＭ測定テー
ブルを作成する。こうしてＣＰＵ１６により作成された
ＳＩＭ測定テーブルは、メモリ１８に格納される。
【００２５】選択イオンモニタ法に基づいて各成分の定
量分析を行う場合には、ＣＰＵ１６は、図３に示す同定
テーブルと図５に示すＳＩＭ測定テーブルとを共に参照
して、たとえば、図６に示すように、ガスクロマトグラ
フで分離して得られる成分の保持時間が一つの最適測定
保持時間範囲Ｔ1内にあるときには、質量分析計の加速
電圧をターゲットイオンの各質量数(m/z)1，(m/z)2，(m
/z)4に対応する３つの値にそれぞれ時分割(たとえば０.
５sec単位)で切り換えて各ターゲットイオンのクロマト
グラムのデータを採取する。他の最適保持時間範囲
Ｔ2，Ｔ3についても同様である。
量分析を行う場合には、ＣＰＵ１６は、図３に示す同定
テーブルと図５に示すＳＩＭ測定テーブルとを共に参照
して、たとえば、図６に示すように、ガスクロマトグラ
フで分離して得られる成分の保持時間が一つの最適測定
保持時間範囲Ｔ1内にあるときには、質量分析計の加速
電圧をターゲットイオンの各質量数(m/z)1，(m/z)2，(m
/z)4に対応する３つの値にそれぞれ時分割(たとえば０.
５sec単位)で切り換えて各ターゲットイオンのクロマト
グラムのデータを採取する。他の最適保持時間範囲
Ｔ2，Ｔ3についても同様である。
【００２６】なお、この実施例では、ガスクロマトグラ
フと質量分析計とを結合した装置について説明したが、
液体クロマトグラフやその他のクロマトグラフと質量分
析計とを結合した装置についても本発明を適用すること
ができるのは勿論である。
フと質量分析計とを結合した装置について説明したが、
液体クロマトグラフやその他のクロマトグラフと質量分
析計とを結合した装置についても本発明を適用すること
ができるのは勿論である。
【００２７】
【発明の効果】本発明によれば、同定テーブルが一旦作
成されると、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動的
に作成されるので、従来のように、同定テーブルとＳＩ
Ｍ測定テーブルとを個別に作成していた場合に比べてテ
ーブル作成の手間を大幅に削減することができる。
成されると、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動的
に作成されるので、従来のように、同定テーブルとＳＩ
Ｍ測定テーブルとを個別に作成していた場合に比べてテ
ーブル作成の手間を大幅に削減することができる。
【図１】本発明のクロマトグラフ／質量分析装置の機能
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】本発明の実施例に係るガスクロマトグラフ／質
量分析装置の全体を示すブロック図である。
量分析装置の全体を示すブロック図である。
【図３】同定テーブルの内容を示す説明図である。
【図４】タイムチャート作成手段で作成されるタイムチ
ャートである。
ャートである。
【図５】ＳＩＭ測定テーブル作成手段で作成されたＳＩ
Ｍ測定テーブルの説明図である。
Ｍ測定テーブルの説明図である。
【図６】同定テーブルとＳＩＭ測定テーブルに基づいて
選択イオンモニタ法により定量分析を行う場合の説明図
である。
選択イオンモニタ法により定量分析を行う場合の説明図
である。
【図７】各成分のターゲットイオンに基づいて得られる
クロマトグラムである。
クロマトグラムである。
１…測定保持時間範囲設定手段、２…タイムチャート作
成手段、３…ＳＩＭ測定テーブル作成手段、１０…クロ
マトグラフ／質量分析装置、１６…ＣＰＵ、１８…メモ
リ。
成手段、３…ＳＩＭ測定テーブル作成手段、１０…クロ
マトグラフ／質量分析装置、１６…ＣＰＵ、１８…メモ
リ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｊ 49/26 4230−5Ｅ
Claims (1)
- 【請求項１】 定量すべき対象成分を特定するのに必要
なターゲットイオンの質量数、前記各ターゲットイオン
のクロマトグラムのピークトップ位置を示す標準保持時
間(ti、i＝１，２，…)、および前記クロマトグラムの
ピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅(Δt
i、i＝１，２，…)をそれぞれ与える同定テーブルを備
えたクロマトグラフ／質量分析装置において、前記同定
テーブルに基づいて、前記許容保持時間幅(Δti)に一定
値(f)を掛けた測定保持時間幅(f・Δti)を算出するとと
もに、この測定保持時間幅(f・Δti)と前記標準保持時
間(ti)とから各ターゲットイオンについての測定保持時
間範囲(Ｒi＝ti−f・Δti〜ti＋f・Δti)を設定する測
定保持時間範囲設定手段(１)と、この測定保持時間範囲
設定手段(１)で設定された各測定保持時間範囲(Ｒi)を
各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロットしてタイ
ムチャートを作成するタイムチャート作成手段(２)と、
このタイムチャート作成手段(２)で作成されたタイムチ
ャートの測定保持時間範囲(Ｒi)が互いに重なるターゲ
ットイオンどうしを一つのグループとし、各グループに
含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ｒi)を
全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間範囲
(Ｔi)として決定するとともに、各グループごとにその
ターゲットイオンの質量数と前記最適測定保持時間範囲
(Ｔi)とを互いに対応付けたＳＩＭ測定テーブルを作成
するＳＩＭ測定テーブル作成手段(３)と、を備えること
を特徴とするクロマトグラフ／質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3058676A JPH0740016B2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | クロマトグラフ／質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3058676A JPH0740016B2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | クロマトグラフ／質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04294271A JPH04294271A (ja) | 1992-10-19 |
| JPH0740016B2 true JPH0740016B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=13091181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3058676A Expired - Fee Related JPH0740016B2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | クロマトグラフ／質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0740016B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4697302B2 (ja) * | 2006-03-07 | 2011-06-08 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP2008128720A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Shimadzu Corp | Ｇｃ／ｍｓ多成分一斉分析方法 |
| JP5568994B2 (ja) * | 2010-01-08 | 2014-08-13 | 株式会社島津製作所 | 分析装置制御システム及び該システム用プログラム |
| JP5445149B2 (ja) * | 2010-01-08 | 2014-03-19 | 株式会社島津製作所 | 分析装置制御システム及び該システム用プログラム |
| JP5709155B2 (ja) * | 2010-04-28 | 2015-04-30 | 独立行政法人理化学研究所 | スケジューリング装置、スケジューリング方法、スケジューリングプログラム、記録媒体、および質量分析システム |
| US9285381B2 (en) | 2012-07-18 | 2016-03-15 | Shimadzu Corporation | Analyzing apparatus control system and program for chromatograph measurements |
| US9759734B2 (en) | 2012-07-18 | 2017-09-12 | Shimadzu Corporation | Analyzing apparatus control system and program for the same |
| JP6226823B2 (ja) * | 2014-06-12 | 2017-11-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法 |
-
1991
- 1991-03-22 JP JP3058676A patent/JPH0740016B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04294271A (ja) | 1992-10-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1995593B1 (en) | Chromatograph mass spectrometer | |
| JP6036304B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | |
| JP5365579B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | |
| JP5347932B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析装置 | |
| EP3051286A1 (en) | Multi-component quantitative analysis method using chromatography | |
| JP5757264B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析データ処理装置 | |
| JPH0740016B2 (ja) | クロマトグラフ／質量分析装置 | |
| CN108027345B (zh) | 分析数据解析装置以及分析数据解析用程序 | |
| JP4057664B2 (ja) | クロマトグラフ／質量分析装置のデータ処理装置 | |
| JP5561016B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析装置 | |
| US11061006B2 (en) | Chromatograph-mass spectrometry system and measurement condition display method | |
| JP5315025B2 (ja) | スペクトル解析および表示 | |
| JP6226823B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法 | |
| JP3663140B2 (ja) | 質量分析方法および質量分析装置 | |
| JP2019148455A5 (ja) | ||
| JPH08129002A (ja) | Ｓｉｍ法を用いたクロマトグラフ質量分析装置 | |
| JP2995841B2 (ja) | ガスクロマトグラフ質量分析計のデータ処理装置 | |
| US6765200B2 (en) | Mass spectrometry and mass spetrometer using the same | |
| WO2020100182A1 (ja) | クロマトグラフ装置 | |
| JP4461919B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析測定方法及び装置 | |
| WO2020152871A1 (ja) | クロマトグラフを用いた物質同定方法 | |
| JPH09269319A (ja) | 定量分析用データ処理装置 | |
| JPS6382357A (ja) | マスクロマトグラフイ分析方法 | |
| JPS6375659A (ja) | ガスクロマトグラフイ質量分析計を用いた定量分析方法 | |
| JP3220996B2 (ja) | クロマトグラフ／質量分析装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080501 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090501 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100501 Year of fee payment: 15 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |