JPH081607B2 - Pseudo-fault occurrence method in information processing system - Google Patents
Pseudo-fault occurrence method in information processing systemInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理システムにおける擬似障害発生方式
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of use] The present invention relates to a pseudo failure generation method in an information processing system.
信頼性，利用率，保守性等が強く要求される情報処理
システムにおいては、システムに障害が発生した場合、
障害情報の収集等の障害処理，システムの一部或いは全
体の初期設定，テストプログラムの実行によるシステム
のテストといった処理が自動的に行われ、発生した障害
が間欠障害であった場合にはそのまま継続してシステム
の運用ができるように構成されている。また、発生した
障害が固定障害であっても、システムの再構成等によっ
て機能を一部縮退した状態でシステムの運用が行えるよ
うに構成されている。In an information processing system where reliability, utilization rate, maintainability, etc. are strongly required, when a system failure occurs,
Failure processing such as collection of failure information, initialization of part or the whole system, and system testing by executing test programs are automatically performed. If the failure that occurred is an intermittent failure, continue as it is. The system is configured to operate. Further, even if the failure that has occurred is a fixed failure, the system can be operated with some functions degenerated due to system reconfiguration or the like.
このように情報処理システムで間欠障害や固定障害が
発生した場合、予めシステムに備えられた保全管理機能
が働いて障害の影響がシステム全体に波及するのを防止
しているが、これが達成される為にはその保全管理機能
が正常に動作しなければならないことは言うまでもな
い。このため、保全管理機能の開発時やそれを具備する
情報処理システムの出荷時などに、情報処理システムに
擬似的に障害を発生させ、保全管理機能が正しく動作す
るか否かを確認することが行われる。そして、従来、そ
のような擬似障害の発生は次の何れかの方式で行われて
いた。In this way, when an intermittent failure or a fixed failure occurs in the information processing system, the maintenance management function provided in advance in the system works to prevent the failure from affecting the entire system, but this is achieved. In order to do so, it goes without saying that the maintenance management function must operate normally. Therefore, when developing the maintenance management function or shipping an information processing system equipped with the maintenance management function, a pseudo failure may occur in the information processing system to confirm whether the maintenance management function operates properly. Done. Then, conventionally, such a pseudo fault has been generated by any of the following methods.
１）情報処理装置のバックパネルに設けられた所定の信
号ピンを人手でクランプすることにより、擬似障害を発
生させる。1) By manually clamping a predetermined signal pin provided on the back panel of the information processing device, a pseudo fault occurs.
２）擬似障害発生手段を有する処理装置を含む情報処理
システムでは、その擬似障害発生手段中の擬似障害設定
レジスタにプログラム命令によって擬似障害コードを設
定し、この設定した擬似障害コードに応じた擬似障害を
前記擬似障害発生手段によって発生させる。2) In an information processing system including a processing device having a pseudo fault generating means, a pseudo fault code is set in a pseudo fault setting register in the pseudo fault generating means by a program instruction, and the pseudo fault corresponding to the set pseudo fault code is set. Is generated by the pseudo fault generating means.
上述した従来の擬似障害発生方式のうち、１）の方式
では、人手が介在するので手間がかかり、また間違いが
生じ易い上、擬似障害の発生を自動化できないという欠
点がある。Among the above-mentioned conventional pseudo failure generation methods, the method 1) has the drawbacks that it requires time and labor because human intervention is involved, errors are likely to occur, and the pseudo failure cannot be automated.
これに対し、２）の方式はプログラム命令によって擬
似障害を発生できるので、その自動化が可能となる。し
かしながら、擬似障害設定レジスタに設定された擬似障
害コードは、それによって発生した擬似障害時における
保全管理処理の過程で処理装置が初期化されることによ
り、同時にクリアされ、もはや擬似障害は発生し得な
い。従って、その後テストプログラムを起動して動作試
験を行った際には異常は検出されず、その結果、常に間
欠障害と判定される。即ち、２）の方式は間欠擬似障害
の発生には有効であるが、固定擬似障害は発生し得ず、
固定障害にかかる保全管理機能の正常性を確認できない
という欠点がある。On the other hand, in the method of 2), since a pseudo fault can be generated by a program instruction, it can be automated. However, the pseudo-fault code set in the pseudo-fault setting register is cleared at the same time by initializing the processing device during the maintenance management process at the time of the pseudo-fault caused thereby, and the pseudo-fault may no longer occur. Absent. Therefore, when the test program is started after that and the operation test is performed, no abnormality is detected, and as a result, it is always determined as an intermittent failure. That is, the method of 2) is effective for the occurrence of the intermittent pseudo fault, but the fixed pseudo fault cannot occur.
There is a drawback that the normality of the maintenance management function related to fixed failures cannot be confirmed.
本発明はこのような事情に鑑みて為されたものであ
り、その目的は、間欠擬似障害を繰り返し発生する仕組
みを組み込んで見かけ上固定擬似障害が発生した如く見
せることにより、間欠擬似障害のみならず、固定擬似障
害をも自動的に発生し得る情報処理システムにおける擬
似障害発生方式を提供することにある。The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a mechanism for repeatedly generating an intermittent pseudo fault to make it appear as if a fixed pseudo fault has occurred, so that only an intermittent pseudo fault occurs. It is another object of the present invention to provide a pseudo fault generation method in an information processing system that can automatically generate a fixed pseudo fault.
本発明は上記の目的を達成するために、システム制御
装置とそれに接続された処理装置および主記憶装置から
構成されるシステムの障害発生時に、前記システム制御
装置および前記処理装置に接続された診断装置が、障害
情報を収集した後に前記システムの初期設定を行い、且
つ、その後テストプログラムを前記処理装置で実行させ
て前記システムのテストを行う情報処理システムにおけ
る擬似障害発生方式において、前記診断装置に、固定擬
似障害モードであるか或いは間欠擬似障害モードである
かを表示するモードフラグと、前記処理装置が有する擬
似障害発生手段に対し擬似障害コードを初期設定すると
共に、該初期設定した擬似障害コードによって前記擬似
障害発生手段で発生せしめられた擬似障害時における前
記システムの初期設定後の前記テストプログラムの実行
中に、前記モードフラグが固定擬似障害モードを表示し
ていることにより前記擬似障害発生手段に対し擬似障害
コードを再度設定する擬似障害設定手段とを備えてい
る。To achieve the above object, the present invention provides a diagnostic device connected to the system control device and the processing device when a failure occurs in a system including the system control device, the processing device and the main storage device connected to the system control device. However, after initializing the system after collecting the failure information, and then in the pseudo failure occurrence method in the information processing system in which a test program is executed by the processing device to test the system, the diagnostic device, A mode flag indicating whether it is the fixed pseudo fault mode or the intermittent pseudo fault mode, and a pseudo fault code is initialized to the pseudo fault generating means included in the processing device, and the pseudo fault code is initialized by the pseudo fault code. Initial setting of the system at the time of a pseudo fault generated by the pseudo fault generating means. During execution of the test program after the mode flag and a pseudo fault setting means for setting a pseudo fault code again to the pseudo failure means by displaying the fixed dummy failure mode.
本発明の情報処理システムにおける擬似障害発生方式
においては、診断装置に設けられたモードフラグが、固
定擬似障害モードであるか或いは間欠擬似障害モードで
あるかを表示し、同じく診断装置に設けられた擬似障害
発生手段が、処理装置の有する擬似障害発生手段に対し
擬似障害コードを初期設定する。擬似障害コードを設定
された擬似障害発生手段によって擬似障害が発生する
と、診断装置が、通常の障害発生時と同様に、障害情報
を収集した後にシステムの初期設定を行い、その後テス
トプログラムを処理装置で実行させてシステムのテスト
を行うが、このテストプログラムの実行中に、前記擬似
障害設定手段が、前記モードフラグの表示を判定し、そ
れが固定擬似障害モードであると前記擬似障害発生手段
に対し擬似障害コードを再度設定して擬似障害を再度発
生させ、間欠擬似障害モードであるとそのような擬似障
害コードの再設定は行わない。In the pseudo fault occurrence method in the information processing system of the present invention, the mode flag provided in the diagnostic device indicates whether it is the fixed pseudo fault mode or the intermittent pseudo fault mode, and is also provided in the diagnostic device. The pseudo fault generating means initializes a pseudo fault code in the pseudo fault generating means of the processing device. When a pseudo fault occurs by the pseudo fault generating means to which the pseudo fault code is set, the diagnostic device collects the fault information and initializes the system as in the case of the normal fault occurrence, and then executes the test program on the processing device. In order to test the system, the pseudo fault setting means determines the display of the mode flag during the execution of this test program, and if the pseudo fault setting mode is the fixed pseudo fault mode, On the other hand, the pseudo fault code is set again to generate the pseudo fault again, and in the intermittent pseudo fault mode, such pseudo fault code is not reset.
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に
説明する。Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第１図は本発明を適用した情報処理システムの一例を
示すブロック図である。この情報処理システムは、シス
テム制御装置１と、これに信号線100で接続された主記
憶装置２と、システム制御装置１に信号線101で接続さ
れた処理装置３と、システム制御装置１に信号線102で
接続されると共に処理装置３に信号線103で接続された
診断装置（診断プロセッサ）４と、診断装置４に信号線
104で接続された磁気ディスク装置５とを含んでいる。FIG. 1 is a block diagram showing an example of an information processing system to which the present invention is applied. This information processing system includes a system control device 1, a main storage device 2 connected to the system control device 1 via a signal line 100, a processing device 3 connected to the system control device 1 via a signal line 101, and a signal to the system control device 1. A diagnostic device (diagnostic processor) 4 connected to the processing device 3 by a signal line 103 and a signal line connected to the diagnostic device 4.
And a magnetic disk device 5 connected at 104.
システム制御装置１は、処理装置3,診断装置４からの
主記憶装置２に対するアクセスを制御する装置であり、
処理装置3,診断装置４はこのシステム制御装置１を介し
て主記憶装置２をアクセスできる。The system control device 1 is a device that controls access to the main storage device 2 from the processing device 3 and the diagnostic device 4,
The processor 3 and the diagnostic device 4 can access the main memory 2 via the system controller 1.
主記憶装置２には処理装置３が実行するプログラムお
よびデータが格納されており、処理装置３はこの主記憶
装置２に格納されたプログラムを実行する。また、処理
装置３には、擬似障害発生手段30がある。この擬似障害
発生手段30は、診断装置４から信号線103を介して擬似
障害コードを設定されると、この設定されたコードを解
読して所望の擬似障害を発生させる手段である。The main storage device 2 stores programs and data executed by the processing device 3, and the processing device 3 executes the programs stored in the main storage device 2. Further, the processing device 3 has a pseudo fault generating means 30. When a pseudo fault code is set from the diagnostic device 4 via the signal line 103, the pseudo fault generating means 30 is a means for decoding the set code to generate a desired pseudo fault.
診断装置４は、処理装置３など当該情報処理システム
の構成部分で障害が発生した場合、所定の障害処理を行
った後にシステムの初期設定を行い、その後テストプロ
グラムを起動させて動作試験を行うといった処理等を司
る装置であり、信号線104で接続された磁気ディスク装
置５を有する。この磁気ディスク装置５は、本情報処理
システムの動作試験を行う為のテストプログラムを格納
しており、このテストプログラムは、テストを実施する
際に後述するように診断装置４によって主記憶装置２に
ロードされる。When a failure occurs in a component of the information processing system such as the processing device 3, the diagnostic device 4 performs a predetermined failure process, initializes the system, and then activates a test program to perform an operation test. It is a device that manages processing and the like, and has a magnetic disk device 5 connected by a signal line 104. The magnetic disk device 5 stores a test program for performing an operation test of the information processing system, and the test program is stored in the main storage device 2 by the diagnostic device 4 as described later when the test is performed. Loaded.
また、本実施例の診断装置４は、第１図に図示するよ
うに、モードフラグ（Ａ）40（以下、単にモードフラグ
Ａと称す），モードフラグ（Ｂ）41（以下、単にモード
フラグＢと称す），障害処理手段42,初期設定手段43,テ
スト起動手段44および擬似障害設定手段45を内部機能と
して有している。As shown in FIG. 1, the diagnostic device 4 of this embodiment has a mode flag (A) 40 (hereinafter simply referred to as a mode flag A), a mode flag (B) 41 (hereinafter simply referred to as a mode flag B). (Referred to as), a fault processing means 42, an initial setting means 43, a test starting means 44, and a pseudo fault setting means 45 as internal functions.
モードフラグＡは、システムが擬似障害設定中か否か
を表示するフラグである。The mode flag A is a flag that indicates whether or not the system is in the pseudo failure setting.
モードフラグＢは、システムが固定擬似障害モードで
あるか或いは間欠擬似障害モードであるかを表示するフ
ラグである。The mode flag B is a flag indicating whether the system is in the fixed pseudo failure mode or the intermittent pseudo failure mode.
障害処理手段42は、処理装置３等で障害（擬似障害を
含む）が発生した場合に、障害情報を収集するといった
所定の障害処理を行う手段である。The failure processing means 42 is means for performing predetermined failure processing such as collecting failure information when a failure (including a pseudo failure) occurs in the processing device 3 or the like.
初期設定手段43は、障害処理手順42による障害処理後
に、システムの一部或いは全体の初期化を行う手段であ
る。この初期設定手段43が働くと、処理装置３中の擬似
障害発生手段30も初期化され、設定された擬似障害コー
ドがクリアされる。The initialization unit 43 is a unit that initializes a part or the whole of the system after the failure processing according to the failure processing procedure 42. When the initial setting means 43 operates, the pseudo fault generating means 30 in the processing device 3 is also initialized, and the set pseudo fault code is cleared.
テスト起動手段44は、初期設定手段43による初期設定
後に、磁気ディスク装置５からテストプログラムを読み
出してシステム制御装置１を介して主記憶装置２にロー
ドし、処理装置３に対しそのテストプログラムの実行を
指示する手段である。After the initial setting by the initial setting means 43, the test starting means 44 reads the test program from the magnetic disk device 5 and loads it into the main storage device 2 via the system control device 1, and executes the test program on the processing device 3. Is a means for instructing.
擬似障害設定手段45は、擬似障害の設定にかかる処理
を司る手段であり、処理装置３上で動作するプログラム
或いは第１図には図示しないコンソール等の擬似障害発
生要求元から擬似障害の発生モードへの移行が指示され
るとモードフラグＡを擬似障害発生モード中状態に設定
し、通常モードへの移行が指示されるとモードフラグＡ
を通常モード中状態に設定する。また、固定擬似障害モ
ードへの移行が指示されると、モードフラグＢを固定擬
似障害モード中状態に設定し、間欠擬似障害モードへの
移行が指示されると、モードフラグＢを間欠擬似障害モ
ード中状態に設定する。更に、発生すべき擬似障害の種
別にかかる指定が為されると、それに合致した擬似障害
コードを信号線103を介して擬似障害発生手段30に初期
設定すると共に、この初期設定した擬似障害コードによ
って擬似障害発生手段30で発生せしめられた擬似障害時
におけるテストプログラムの実行中に、モードフラグＡ
が擬似障害発生中状態を表示し且つモードフラグＢが固
定擬似障害中状態を表示している場合に限り、初期設定
した擬似障害コードを擬似障害発生手段30に再度設定す
る処理を行う。The pseudo-fault setting means 45 is a means for controlling the process related to the setting of the pseudo-fault, and a pseudo-fault occurrence mode from a program operating on the processing device 3 or a pseudo-fault occurrence request source such as a console not shown in FIG. When the transition to the normal mode is instructed, the mode flag A is set to the state in the pseudo failure occurrence mode, and when the transition to the normal mode is instructed, the mode flag A is set.
To the normal mode. Further, when the transition to the fixed pseudo fault mode is instructed, the mode flag B is set to the state during the fixed pseudo fault mode, and when the transition to the intermittent pseudo fault mode is instructed, the mode flag B is set to the intermittent pseudo fault mode. Set to medium state. Further, when the designation of the type of pseudo fault to be generated is made, a pseudo fault code that matches it is initialized to the pseudo fault generating means 30 via the signal line 103, and the pseudo fault code set by this initialization is used. During execution of the test program at the time of the pseudo fault generated by the pseudo fault generating means 30, the mode flag A
Only when the pseudo failure occurrence state is displayed and the mode flag B displays the fixed pseudo failure occurrence state, the process of resetting the pseudo failure generation means 30 to the initialized pseudo failure code again is performed.
第２図は診断装置４の処理例を示す流れ図である。以
下各図を参照して、処理装置３上で動作するプログラム
が擬似障害設定元として動作し、診断装置４の制御下に
おいて処理装置３に固定擬似障害，間欠擬似障害を発生
させる手順およびそのときのシステムの動作について説
明する。FIG. 2 is a flow chart showing a processing example of the diagnostic device 4. With reference to the drawings below, a program that runs on the processing device 3 operates as a pseudo-fault setting source, and a procedure for causing the processing device 3 to generate a fixed pseudo fault or an intermittent pseudo fault under the control of the diagnostic device 4, and at that time The operation of this system will be described.
１）固定擬似障害の発生 固定擬似障害を発生させる場合、処理装置３上で動作
する擬似障害設定元のプログラムは、固定擬似障害を発
生させる旨，その障害の種別等を示す命令を発生する。
この命令はシステム制御装置１で検知されて診断装置４
に伝達され、診断装置４は擬似障害設定手段45を起動す
る。起動された擬似障害設定手段45は、モードフラグＡ
を擬似障害設定中にセットし（処理61）、モードフラグ
Ｂを固定擬似障害モードにセットし（処理62）、更に信
号線103を介して処理装置３中の擬似障害発生手段30に
擬似障害コードを設定する（処理63）。1) Occurrence of Fixed Pseudo-fault When a fixed pseudo-fault is generated, the program of the pseudo-fault setting source operating on the processing device 3 issues an instruction indicating that the fixed pseudo-fault is generated, the type of the fault, and the like.
This command is detected by the system control device 1 and the diagnostic device 4
The diagnostic device 4 activates the pseudo fault setting means 45. The activated pseudo-fault setting means 45 activates the mode flag A.
Is set during the pseudo fault setting (process 61), the mode flag B is set to the fixed pseudo fault mode (process 62), and the pseudo fault code is sent to the pseudo fault generating means 30 in the processor 3 via the signal line 103. Is set (process 63).
擬似障害コードを設定された擬似障害発生手段30は、
その設定された擬似障害コードに対応する擬似障害を発
生する。この障害は診断装置４で検知され、先ず障害処
理手段42が起動されて所定の障害処理が行われ（処理6
4）、その後に初期設定手段43が起動されて処理装置３
等の初期設定処理が行われる（処理65）。このとき擬似
障害発生手段30もリセットされる。そして、初期設定処
理が終了すると、テスト起動手段44が起動され、信号線
104を介して磁気ディスク装置５から読み出されたテス
トプログラムが信号線102,システム制御装置１および信
号線100を介して主記憶装置２にロードされ（処理6
6）、ロード完了後、信号線103を介して処理装置３に対
しテストプログラムの実行が指示される（処理67）。テ
ストプログラムの実行が指示されると、擬似障害設定手
段45では第２図の処理68〜処理70が実行される。今の場
合、モードフラグＡは擬似障害設定中にセットされ、モ
ードフラグＢは固定擬似障害モードにセットされている
ので、処理68から処理69を経て処理70へ進み、擬似障害
設定手段45は、処理63で設定した擬似障害コードを信号
線103を介して擬似障害発生手段30に再度設定する。こ
れにより、処理装置３の実行しているテストプログラム
は異常終了し、固定障害が発生したものと判断される。The pseudo fault generating means 30 to which the pseudo fault code is set is
A pseudo fault corresponding to the set pseudo fault code is generated. This failure is detected by the diagnostic device 4, and the failure processing means 42 is first activated to perform a predetermined failure processing (process 6).
4) After that, the initial setting means 43 is activated and the processing device 3
Initial setting processing such as is performed (processing 65). At this time, the pseudo fault generating means 30 is also reset. When the initial setting process is completed, the test starting means 44 is started and the signal line
The test program read from the magnetic disk device 5 via 104 is loaded into the main storage device 2 via the signal line 102, the system controller 1 and the signal line 100 (process 6
6) After the loading is completed, the processor 3 is instructed to execute the test program through the signal line 103 (process 67). When the execution of the test program is instructed, the pseudo fault setting means 45 executes the processes 68 to 70 of FIG. In this case, since the mode flag A is set during the pseudo fault setting and the mode flag B is set to the fixed pseudo fault mode, the process proceeds from the process 68 to the process 70 to the process 70. The pseudo fault code set in the process 63 is set again in the pseudo fault generating means 30 via the signal line 103. As a result, the test program executed by the processing device 3 is abnormally terminated, and it is determined that a fixed failure has occurred.
１）間欠擬似障害の発生 間欠擬似障害を発生させる場合、処理装置３上で動作
する擬似障害設定元のプログラムは、間欠擬似障害を発
生させる旨，その障害の種別等を示す命令を発生する。
この命令はシステム制御装置１で検知されて診断装置４
に伝達され、診断装置４の擬似障害設定手段45が起動さ
れる。これに応答して擬似障害設定手段45は、モードフ
ラグＡを擬似障害設定中にセットし（処理61′）、モー
ドフラグＢを間欠擬似障害モードにセットし（処理6
2′）、更に信号線103を介して処理装置３中の擬似障害
発生手段30に擬似障害コードを設定する（処理63′）。1) Occurrence of Intermittent Pseudo-fault When an intermittent pseudo-fault is to be generated, the program of the pseudo-fault setting source operating on the processing device 3 issues an instruction indicating that the intermittent pseudo-fault is to occur and the type of the fault.
This command is detected by the system control device 1 and the diagnostic device 4
And the pseudo fault setting means 45 of the diagnostic device 4 is activated. In response to this, the pseudo fault setting means 45 sets the mode flag A during the pseudo fault setting (process 61 ') and sets the mode flag B in the intermittent pseudo fault mode (process 6).
2 '), and a pseudo fault code is set in the pseudo fault generating means 30 in the processing device 3 via the signal line 103 (process 63').
擬似障害コードを設定された擬似障害発生手段30は、
その設定された擬似障害コードに対応する擬似障害を発
生する。この障害は診断装置４で検知され、先ず障害処
理手段42が起動されて所定の障害処理が行われ（処理6
4）、その後に初期設定手段43が起動されて処理装置３
等の初期設定処理が行われる（処理65）。このときも擬
似障害発生手段30はリセットされる。そして、初期設定
処理が終了すると、テスト起動手段44が起動されてテス
トプログラムが主記憶装置２にロードされ（処理66）、
次いで処理装置３に対しテストプログラムの実行が指示
される（処理67）。同時に擬似障害設定手段45で第２図
の処理68〜処理70が実行される。今回の場合は、モード
フラグＡは擬似障害設定中にセットされているが、モー
ドフラグＢは間欠擬似障害モードにセットされているの
で、処理68から処理69を経て処理を終了することにな
る。即ち、処理70が実行されないので、擬似障害発生手
段30はリセットされたままとなる。これにより、処理装
置３の実行しているテストプログラムは正常終了し、間
欠障害が発生したものと判断される。The pseudo fault generating means 30 to which the pseudo fault code is set is
A pseudo fault corresponding to the set pseudo fault code is generated. This failure is detected by the diagnostic device 4, and the failure processing means 42 is first activated to perform a predetermined failure processing (process 6).
4) After that, the initial setting means 43 is activated and the processing device 3
Initial setting processing such as is performed (processing 65). At this time also, the pseudo fault generating means 30 is reset. Then, when the initial setting process is completed, the test starting means 44 is started and the test program is loaded into the main storage device 2 (process 66).
Then, the processor 3 is instructed to execute the test program (process 67). At the same time, the pseudo fault setting means 45 executes the processes 68 to 70 shown in FIG. In this case, the mode flag A is set during the setting of the pseudo fault, but the mode flag B is set to the intermittent pseudo fault mode, and therefore, the process is completed from the process 68 to the process 69. That is, since the process 70 is not executed, the pseudo fault generating means 30 remains reset. As a result, the test program executed by the processing device 3 ends normally, and it is determined that an intermittent failure has occurred.
以上のように、本実施例では、モードフラグＡが擬似
障害設定中に設定され且つモードフラグＢが固定擬似障
害モードに設定されていると、処理装置３のテストプロ
グラム実行中に擬似障害設定手段45が擬似障害発生手段
30に擬似障害コードを再設定するので、見かけ上固定擬
似障害を発生することができ、モードフラグＡが擬似障
害設定中に設定され且つモードフラグＢが間欠擬似障害
モードに設定されている場合、処理装置３のテストプロ
グラム実行中には擬似障害は発生しないので、間欠擬似
障害を発生できる。なお、通常のシステム運用中にはモ
ードフラグＡを擬似障害設定中以外すなわち通常状態に
設定しておけば、擬似障害が発生することはない。As described above, in the present embodiment, when the mode flag A is set during the pseudo fault setting and the mode flag B is set in the fixed pseudo fault mode, the pseudo fault setting means is executed during the execution of the test program of the processing device 3. 45 is a pseudo failure occurrence means
Since the pseudo fault code is reset to 30, a fixed pseudo fault can be apparently generated, and when the mode flag A is set during the pseudo fault setting and the mode flag B is set to the intermittent pseudo fault mode, Since the pseudo fault does not occur during the execution of the test program of the processing device 3, the intermittent pseudo fault can occur. It should be noted that during normal system operation, if the mode flag A is set to a state other than during setting of the pseudo fault, that is, in the normal state, no pseudo fault will occur.
以上説明したように、本発明の情報処理システムにお
ける擬似障害発生方式においては、診断装置に設けられ
た擬似障害設定手段から処理装置の擬似障害発生手段に
対し擬似障害コードを設定して擬似障害を発生させるの
で、人手を介さずに自動的に擬似障害を発生できる効果
がある。As described above, in the pseudo fault occurrence method in the information processing system of the present invention, the pseudo fault setting means provided in the diagnostic device sets the pseudo fault code to the pseudo fault generating means of the processing device to detect the pseudo fault. Since it is generated, there is an effect that a pseudo fault can be automatically generated without human intervention.
また、一度発生された擬似障害を契機として実行され
る障害情報の収集，初期設定処理後のテストプログラム
の実行による動作試験実行中に、再度擬似障害を発生さ
せるか、或いはもはや擬似障害を発生させないかを、モ
ードフラグによって選択できるため、間欠擬似障害のみ
ならず固定擬似障害も自由に発生させることができる効
果もある。In addition, during the operation test execution by collecting the fault information and the test program after the initial setting process, which is executed upon the occurrence of the pseudo fault, the pseudo fault is generated again, or the pseudo fault is no longer generated. Since this can be selected by the mode flag, there is an effect that not only an intermittent pseudo fault but also a fixed pseudo fault can be freely generated.
第１図は本発明の一実施例のブロック図および、第２図
は診断装置の処理例の流れ図である。 図において、 １……システム制御装置 ２……主記憶装置 ３……処理装置 ４……診断装置 ５……磁気ディスク装置 30……擬似障害発生手段 40……モードフラグ（Ａ） 41……モードフラグ（Ｂ） 42……障害処理手段 43……初期設定手段 44……テスト起動手段 45……擬似障害設定手段FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flow chart of a processing example of a diagnostic device. In the figure, 1 ... System control device 2 ... Main storage device 3 ... Processing device 4 ... Diagnostic device 5 ... Magnetic disk device 30 ... Pseudo-fault occurrence means 40 ... Mode flag (A) 41 ... Mode Flag (B) 42 …… Fault processing means 43 …… Initial setting means 44 …… Test starting means 45 …… Pseudo fault setting means
Claims (1)
装置および主記憶装置から構成されるシステムの障害発
生時に、前記システム制御装置および前記処理装置に接
続された診断装置が、障害情報を収集した後に前記シス
テムの初期設定を行い、且つ、その後テストプログラム
を前記処理装置で実行させて前記システムのテストを行
う情報処理システムにおける擬似障害発生方式におい
て、 前記診断装置に、 固定擬似障害モードであるか或いは間欠擬似障害モード
であるかを表示するモードフラグと、 前記処理装置が有する擬似障害発生手段に対し擬似障害
コードを初期設定すると共に、該初期設定した擬似障害
コードによって前記擬似障害発生手段で発生せしめられ
た擬似障害時における前記システムの初期設定後の前記
テストプログラムの実行中に、前記モードフラグが固定
擬似障害モードを表示していることにより前記擬似障害
発生手段に対し擬似障害コードを再度設定する擬似障害
設定手段とを備えることを特徴とする情報処理システム
における擬似障害発生方式。1. When a failure occurs in a system composed of a system controller, a processor connected to the system controller, and a main memory, a diagnostic device connected to the system controller and the processor collects failure information. In a pseudo failure generation method in an information processing system, in which an initial setting of the system is performed later, and then a test program is executed by the processing device to test the system, whether the diagnostic device is in a fixed pseudo failure mode or not. Alternatively, a mode flag indicating whether the mode is the intermittent pseudo fault mode and a pseudo fault code for the pseudo fault generating means included in the processing unit are initialized, and the pseudo fault code is generated by the pseudo fault generating means by the initialized pseudo fault code. The test program after the initial setup of the system in case of a simulated fault And a pseudo fault setting means for resetting a pseudo fault code to the pseudo fault generating means by displaying the fixed pseudo fault mode during execution of the system. Pseudo failure generation method in.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1048224A JPH081607B2 (en) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | Pseudo-fault occurrence method in information processing system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1048224A JPH081607B2 (en) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | Pseudo-fault occurrence method in information processing system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02227742A JPH02227742A (en) | 1990-09-10 |
| JPH081607B2 true JPH081607B2 (en) | 1996-01-10 |
Family
ID=12797450
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1048224A Expired - Lifetime JPH081607B2 (en) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | Pseudo-fault occurrence method in information processing system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH081607B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6848340B2 (en) * | 2016-10-25 | 2021-03-24 | 株式会社リコー | Information processing system, update method, information processing device and program |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5621253A (en) * | 1979-07-28 | 1981-02-27 | Fujitsu Ltd | Virtual failure generating system |
| JPS6292042A (en) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Nec Corp | Memory device |
-
1989
- 1989-02-28 JP JP1048224A patent/JPH081607B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02227742A (en) | 1990-09-10 |
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