JPH0786478B2 - Periodic flaw detector - Google Patents
Periodic flaw detectorInfo
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- JPH0786478B2 JPH0786478B2 JP29346687A JP29346687A JPH0786478B2 JP H0786478 B2 JPH0786478 B2 JP H0786478B2 JP 29346687 A JP29346687 A JP 29346687A JP 29346687 A JP29346687 A JP 29346687A JP H0786478 B2 JPH0786478 B2 JP H0786478B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、圧延ライン等において鋼板，アルミ板，銅板
等の帯状走行物に圧延ロールに存在するロール疵により
形成される周期的な表面疵を検出する周期疵検出装置に
関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial field of application) The present invention is formed by a roll flaw existing in a rolling roll on a strip-shaped running object such as a steel plate, an aluminum plate, and a copper plate in a rolling line. The present invention relates to a periodic flaw detection device that detects periodic surface flaws.
（従来の技術） 圧延ラインにおいては、ロールに存在するロール疵によ
って帯状走行物として被圧延材に周期的な表面疵が形成
されることがある。そして、径の異なる複数のロールを
使用する圧延ラインでは周期の異なる各表面疵が被圧延
材に形成される。そこで、このような各表面疵を検出す
るものとして例えば特願昭57−40506号に開示されてい
る技術がある。この技術は表面疵データの自己相関関数
を求めて各周期の表面疵を検出するもので、ここでこの
技術の原理について説明する。第３図（ａ）に示すよう
にロール１で圧延される帯状走行物（以下、ストリップ
と指称する）２は矢印の方向に走行し、その終端におい
て巻取られてコイル３となる。この過程においてロール
１に疵が存在する場合にはストリップ２の表面に表面疵
が形成されるが、その表面疵信号４｛同図（ｂ）｝は周
期性を有するものとなる。この表面疵の発生状態は第４
図に示す如くであり同図中Ａはストリップ２の全幅に亙
って形成された表面疵信号を示し、Ｂは前記幅の例えば
1/8幅の表面疵信号を示している。又、「↓」は検出対
象となる表面疵信号を示しており周期性を有しているこ
とが分かる。他の線はランダム疵による信号を示してい
る。なお、各「↓」の相互間の間隔τはロール１の周長
に等しい。(Prior Art) In a rolling line, periodic surface flaws may be formed on a material to be rolled as a strip-shaped traveling object due to roll flaws existing on a roll. Then, in a rolling line using a plurality of rolls having different diameters, surface flaws having different cycles are formed on the material to be rolled. Therefore, as a technique for detecting such surface flaws, there is, for example, the technique disclosed in Japanese Patent Application No. 57-40506. This technique detects the surface flaw of each cycle by obtaining the autocorrelation function of the surface flaw data, and the principle of this technique will be described here. As shown in FIG. 3 (a), a strip-shaped traveling product (hereinafter referred to as a strip) 2 rolled by a roll 1 travels in the direction of the arrow and is wound up at the end thereof to form a coil 3. In this process, when the roll 1 has a flaw, a surface flaw is formed on the surface of the strip 2, but the surface flaw signal 4 {FIG. (B)} has periodicity. The state of occurrence of this surface flaw is No. 4
As shown in the figure, A indicates a surface flaw signal formed over the entire width of the strip 2, and B indicates the above-mentioned width, for example.
1/8 width surface flaw signal is shown. Further, “↓” indicates the surface flaw signal to be detected, and it can be seen that it has periodicity. The other lines show signals due to random flaws. The interval τ between each “↓” is equal to the circumference of the roll 1.
このように表面疵信号の自己相関関数を求めた場合、第
５図に示すようにロール１の周長に対応する周期τで高
いピークが現われる。従って、このピークに着目するこ
とにより対象表面疵の周期性を正確に検出することがで
きる。When the autocorrelation function of the surface flaw signal is obtained in this way, a high peak appears at a period τ corresponding to the circumference of the roll 1, as shown in FIG. Therefore, by paying attention to this peak, the periodicity of the target surface flaw can be accurately detected.
第６図は表面疵信号を時間Δｔごとに求めてヒストグラ
ムで表わしたものである。ヒストグラムの包絡線を時間
ｔについての関数ｆ（ｔ）とした場合、自己相関関数φ
（τ）は、 表わされる。Ｔは自己関数を求める区間である。FIG. 6 is a histogram in which the surface flaw signal is obtained at each time Δt. When the envelope of the histogram is a function f (t) with respect to time t, the autocorrelation function φ
(Τ) is Represented. T is a section for obtaining the self-function.
具体的に自己関数を求める場合には次のような演算過程
をとる。To obtain a specific self-function, the following calculation process is performed.
この第（２）式に基づいて各瞬間時Δｔごとに順次演算
を繰返す。つまり、 この第（４）式において（４−０）〜（４−Ｎ）に示す
ようにストリップ２がΔｔ進行するごとにロール１に周
長Ｍ・Δｔ前の表面疵信号の積を求め、前の回の演算値
に加えていけば自己相関を求めることができる。そし
て、このようにして求められた自己相関値に対して一定
の疵判定レベルで比較して各周期の表面疵を検出しよう
とするものである。これによって、全ての周期の表面疵
が同時に検出される。 Based on the equation (2), the calculation is sequentially repeated at each instant Δt. That is, In the formula (4), as shown in (4-0) to (4-N), the product of the surface flaw signal before the circumferential length M · Δt is obtained for the roll 1 every time the strip 2 advances by Δt. The autocorrelation can be obtained by adding it to the calculated value of the times. Then, the surface correlation of each cycle is detected by comparing the autocorrelation value obtained in this way with a constant defect determination level. As a result, the surface flaws of all cycles are detected at the same time.
ところで、このような表面疵データから求められた自己
相関値はその背景パワーが第７図に示す如く自己相関値
を求める間隔長τが短いほど大きくなり、間隔長τが長
くなるに従って小さくなる。これに伴って表面疵5,6の
値も間隔長τが長くなるに従って小さな値を示すものと
なる。By the way, the autocorrelation value obtained from such surface flaw data becomes larger as the interval length τ for obtaining the autocorrelation value of the background power becomes shorter as shown in FIG. 7, and becomes smaller as the interval length τ becomes longer. Along with this, the surface defects 5 and 6 also show smaller values as the interval length τ becomes longer.
従って、この自己相関値と疵判定レベルＬとを比較して
表面疵5,6を検出しようとしても、疵判定レベルＬが一
定に設定されているために第８図に示すように表面疵５
しか検出できずに間隔長τの長いところに現われた表面
疵６は検出できなくなる。Therefore, even if an attempt is made to detect surface defects 5 and 6 by comparing the autocorrelation value with the defect determination level L, the defect determination level L is set to a constant value as shown in FIG.
However, the surface flaw 6 appearing at a long interval τ cannot be detected.
（発明が解決しようとする問題点） 以上のように背景パワーの影響を受けて全ての表面疵を
検出できなかった。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, all surface defects cannot be detected due to the influence of the background power.
そこで本発明は、背景パワーの影響を受けずに周期的に
現われる全ての表面疵を検出できる周期疵検出装置を提
供することを目的とする。Therefore, it is an object of the present invention to provide a periodic flaw detection device capable of detecting all surface flaws that appear periodically without being affected by the background power.
［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 本発明は、ロールが圧接された状態で走行する帯状走行
物の幅方向に走査を行なう検出ヘッドで検出された表面
疵データを画像メモリに記憶し、この後帯状走行物の走
行方向における所定検出長内で得られた表面疵データの
自己相関値を求めて比較器で疵判定レベルにより少なく
とも２値化してロールに存在する疵等により帯状走行物
に形成される周期的な表面疵を検出する周期疵検出装置
において、所定検出長内で得られた自己相関値を平滑す
る平滑化回路と、この平滑化回路の平滑出力を所定倍し
て比較器に背景パワーレベルに応じた疵判定レベルとし
て送出する疵判定レベル作成回路とを備えて上記目的を
達成しようとする周期疵検出装置である。[Structure of the Invention] (Means for Solving Problems) The present invention is directed to an image memory of surface flaw data detected by a detection head that scans in the width direction of a strip-shaped traveling object that travels in a state in which a roll is pressed. After that, the autocorrelation value of the surface flaw data obtained within the predetermined detection length in the traveling direction of the belt-shaped traveling object is obtained, and at least the binarization is performed by the comparator based on the flaw judgment level to determine whether the flaw exists on the roll. In a periodic flaw detection device that detects periodic surface flaws formed on a belt-shaped running object, a smoothing circuit that smoothes the autocorrelation value obtained within a predetermined detection length, and a smoothing output of this smoothing circuit is multiplied by a predetermined value. A defect detection level creating circuit for sending to the comparator as a defect determination level corresponding to the background power level is a periodic defect detection device for achieving the above object.
（作用） このような手段を備えたことにより、所定検出長内で得
られた自己相関値が平滑化回路により平滑され、この平
滑出力が疵判定レベル作成回路により所定倍されて比較
器に背景パワーレベルに応じた疵判定レベルとして送出
される。(Operation) By providing such means, the autocorrelation value obtained within the predetermined detection length is smoothed by the smoothing circuit, and this smoothed output is multiplied by the predetermined value by the flaw determination level creating circuit and the background value is output to the comparator. It is sent out as a defect determination level according to the power level.
（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。(Example) Hereinafter, one example of the present invention will be described with reference to the drawings.
第１図は周期疵検出装置の構成図である。ストリップ10
は矢印で示す方向に一定速度で移動しており、このスト
リップ10は径d1,d2とそれぞれ異なるロールR1、R2で圧
接されている。このストリップ10の上方には光学的な検
出ヘッド11が配置されている。この検出ヘッド11はスト
リップ10の進行方向と直角の方向すなわちストリップ10
の幅方向に光学的に走査して予め設定された単位長領域
の表面疵信号ｇを出力するものとなっている。なお、単
位長領域はストリップ10の信号方向の単位長Δτとスト
リップ10の幅方向長さ（Δω×ｍ）で定まる。ここで、
Δτ×Δωで１つの画素Sijが形成される。表面疵信号
ｇは２値化回路12を通して表面疵データとしてストアレ
ジスタ13に送られている。ところで、この２値化回路12
は雑音量計測回路14で計測された雑音レベルつまり各ロ
ールR1、R2の粗度の異なる雑音レベルに応じて２値化設
定レベルを可変する機能が設けられている。雑音量計測
回路14は具体的にストリップ10の所定領域における雑音
の平均ノイズレベルをストリップ10が単位長Δτ走行す
るために求めて２値化回路12に送出するものとなってい
る。これにより、雑音レベルが一定に押さえられるよう
になっている。又、ストリップ10には同期信号発生器15
が配置されており、この同期信号発生器15からストリッ
プ10の移動速度に同期した同期信号ckが出力されるよう
になっている。FIG. 1 is a block diagram of a periodic flaw detection device. Strip 10
Moves in a direction indicated by an arrow at a constant speed, and the strip 10 is pressed by rolls R1 and R2 having different diameters d1 and d2. An optical detection head 11 is arranged above the strip 10. This detection head 11 is arranged in a direction perpendicular to the traveling direction of the strip 10, that is, the strip 10
Is optically scanned in the width direction to output a surface flaw signal g of a preset unit length area. The unit length region is determined by the unit length Δτ of the strip 10 in the signal direction and the width direction length (Δω × m) of the strip 10. here,
One pixel Sij is formed by Δτ × Δω. The surface flaw signal g is sent to the store register 13 as surface flaw data through the binarization circuit 12. By the way, this binarization circuit 12
Is provided with a function of varying the binarization setting level in accordance with the noise level measured by the noise amount measuring circuit 14, that is, the noise level of each roll R1, R2 having different roughness. The noise amount measuring circuit 14 specifically determines the average noise level of noise in a predetermined area of the strip 10 for the strip 10 to travel a unit length Δτ and sends it to the binarizing circuit 12. As a result, the noise level is kept constant. Also, the strip 10 has a sync signal generator 15
Are arranged, and the synchronizing signal generator 15 outputs a synchronizing signal ck synchronized with the moving speed of the strip 10.
ストアレジスタ13は表面疵データを順次画素（Δτ×Δ
ω）ごとに同期信号発生器15からの同期信号ckに同期し
て格納するもので、この格納される表面疵データはスト
リップ10の幅方向１列分のデータ（S10〜Sm0,すなわち
Δω×ｍ画素分のデータ）である。この１列分データは
並列出力されて画像メモリ16に送られるようになってい
る。The store register 13 sequentially stores the surface flaw data in pixels (Δτ × Δ
ω) is stored in synchronism with the synchronization signal ck from the synchronization signal generator 15, and the stored surface flaw data is data for one column in the width direction of the strip 10 (S10 to Sm0, that is, Δω × m). Pixel data). The data for one column is output in parallel and sent to the image memory 16.
この画像メモリ16はストリップ10が単位長Δτ進ごとに
１列分データを並列入力で記憶するとともに既に記憶さ
れている１列分データを順次シフトして出力するものと
なっている。なお、記憶容量はｍ×ｎ画素分必要であ
り、ここに ｍ≧ストリップ10の幅／Δω ｎ＝最大ロール周長πd2/Δτ となっている。又、１列分データの記憶状態は、 但し、ｉ＝１〜m,j＝１〜ｎ で示され、Sijは１つの画素を表わす。なお、表面疵デ
ータはストリップ10の走行方向つまりS11,S12,S13…S1n
を行方向とし、ストリップ10の幅方向つまりS11,S21,S3
1…Sm1を列方向とする。The image memory 16 is such that the strip 10 stores one column of data by parallel input for each unit length .DELTA..tau., And sequentially shifts and outputs the already stored one column of data. Note that the memory capacity is required for m × n pixels, where m ≧ width of strip 10 / Δω n = maximum roll circumference πd2 / Δτ. Also, the storage state of data for one column is However, i = 1 to m, j = 1 to n, and Sij represents one pixel. The surface flaw data is the traveling direction of the strip 10, that is, S11, S12, S13 ... S1n.
Is the row direction, and the width direction of the strip 10, that is, S11, S21, S3
1 ... Sm1 is in the column direction.
従って、画像メモリ16には順次ストップ10の単位長Δτ
ごとの１列分データがロールの１周長分蓄積されること
になる。Therefore, the unit length Δτ of the stops 10 is sequentially stored in the image memory 16.
One row of data for each roll is accumulated for one roll length.
一方、ストアレジスタ13から出力される１列分データは
自己相関演算手段17に入力されるようになっている。こ
の自己相関演算手段17は前記第（４）式の演算を実行す
る機能を持ったもので、乗算器18,加算器19,演算値レジ
スタ20により構成されている。乗算器18と加算器19とで
第（５）式の演算を実行し、 その演算結果つまり自己相関値Cijを演算値レジスタ20
に蓄積し、その結果、演算値レジスタ20には第（４）式
の右辺、 の演算値が蓄積されるようになっている。なお、データ
バス21は第（５）式のおける右辺のCijを加算するため
にフィードバックするものである。そして、このように
して求められた自己相関値データは次の自己相関プロフ
ールメモリ22に送られるようになっている。On the other hand, the data for one column output from the store register 13 is input to the autocorrelation calculating means 17. The autocorrelation calculation means 17 has a function of executing the calculation of the equation (4), and is composed of a multiplier 18, an adder 19, and a calculation value register 20. The operation of the equation (5) is executed by the multiplier 18 and the adder 19, The calculation result, that is, the autocorrelation value Cij is set to the calculation value register 20.
As a result, the calculated value register 20 stores in the right side of the equation (4), The calculated value of is accumulated. The data bus 21 is used for feedback in order to add Cij on the right side of the equation (5). Then, the autocorrelation value data thus obtained is sent to the next autocorrelation profile memory 22.
この自己相関プロフィールメモリ22は演算値レジスタ20
の同一の記憶領域を有するもので、演算値レジスタ20の
各演算結果C1l〜CmnがそれぞれQ1l〜Qmnに移されて記憶
するものとなっている。なお、各演算結果C1l〜Cmnを移
すタイミングはストリップ10が例えばロールR2の周長π
d2走行するだびに、又はストリップ10が1000m走行する
たびに設定されている。そして、このタイミング信号は
同期信号ckのカウント値に従っている。This autocorrelation profile memory 22 is a calculated value register 20.
Of the calculation value register 20, the calculation results C 1l to C mn are transferred to Q 1l to Q mn and stored therein. The timing at which each of the calculation results C 1l to C mn is transferred is such that the strip 10 has, for example, a circumference π
It is set every time d2 travels or each time the strip 10 travels 1000m. The timing signal follows the count value of the synchronization signal ck.
プロフィール平滑化回路23は自己相関プロフィールメモ
リ22の記憶されている各行ごとの自己相関値例えばQ1l,
Q1l+1〜Q1nやQ2l,Q2l+1〜Q2nをそれぞれ平滑する機能を
持ったもので、この平滑作用により表面疵を示すピーク
値が押さえられて背景パワーに応じた値が求められる。
この平滑出力は疵判定レベル作成回路24に送られるよう
になっており、この疵判定レベル作成回路24は各行ごと
の平滑出力を所定倍して背景パワーに応じた各行ごとの
疵判定レベルＨとして比較器25に与たえる機能を有する
ものである。The profile smoothing circuit 23 uses an autocorrelation value for each row stored in the autocorrelation profile memory 22, for example, Q 1l ,
It has a function to smooth Q 1l + 1 to Q 1n and Q 2l and Q 2l + 1 to Q 2n respectively, and this smoothing action suppresses the peak value indicating surface flaws, and the value corresponding to the background power is reduced. Desired.
This smoothed output is sent to the flaw determination level creating circuit 24. The flaw determination level creating circuit 24 multiplies the smoothed output for each row by a predetermined value to obtain a flaw determination level H for each row according to the background power. It has a function given to the comparator 25.
この比較器25は各１行分の自己相関値データ，例えばC
1l,C2l+1〜C1nに対して疵判定レベル作成回路24からの
各行ごとの疵判定レベルＨと順次比較し、各１行分の自
己相関値データ中の最大値を出力する機能をもったもの
である。この比較演算は１行分の各自己相関値データご
とに行なわれる。This comparator 25 has one row of autocorrelation value data, for example, C
1l , C 2l + 1 to C 1n are sequentially compared with the defect determination level H for each row from the defect determination level creating circuit 24, and the maximum value in the autocorrelation value data for each line is output. It is something I had. This comparison operation is performed for each autocorrelation value data for one row.
この比較器25には各行ごとに接点26−1,26−２〜26−ｍ
を有するチャンネルセレクト26が接続され、このチャン
ネルセレクト26にCRTインタフェース27を介してCRT表示
装置28が接続されている。This comparator 25 has contacts 26-1, 26-2 to 26-m for each row.
Is connected to the channel select 26, and the CRT display device 28 is connected to the channel select 26 via the CRT interface 27.
なお、実際の圧延ラインにはロールとストリップ10との
すべり等に起因する周期の変動があるため、この変動分
を補償するために補償回路29が設けられている。この補
償回路29は予め経験的に求められた周期変動分±γ［m
m］に基づいて次の補償演算を実行する。Since the actual rolling line has a fluctuation in the cycle due to the slip between the roll and the strip 10, etc., a compensating circuit 29 is provided to compensate for this fluctuation. This compensating circuit 29 uses a period variation ± γ [m
The following compensation calculation is executed based on [m].
Sij＝（Si(j-p),Si(j-p+1)〜 Sij,Si(j+1)〜Si+p・最大値） …（６） 但し、ｐ＝γ／Δτで与えるれる。Sij = (S i (jp) , S i (j-p + 1) 〜 S ij , S i (j + 1) 〜 S i + p・ maximum value) (6) where p = γ / Δτ Be given.
次に上記の如く構成された装置の作用について説明す
る。ストリップ10が矢印の方向に走行すると、検出ヘッ
ド11はストリップ10の幅方向に光学的に走査して表面疵
信号ｇとして出力する。この表面疵信号ｇは２値化回路
12及び雑音量計測回路14に送られ、この雑音量計測回路
14で雑音レベルが求められて２値化回路12に送られる。
この２値化回路12は雑音レベルに応じて２値化設定レベ
ルを可変して表面疵信号ｇを２値化して表面疵データと
してストアレジスタ13に送出する。これにより、表面疵
データは同期信号ckに同期してストリップ10の幅方向１
列分S10〜Sm0つまり画素Δω×ｍの表面疵データとして
ストアレジスタ13に記憶される。そして、ストリップ10
が単位長Δτ走行するごとに同期信号ckによって次のス
トリップ10の幅方向１列分の表面疵データが順次ストア
レジスタ13に記憶されていく。このように幅方向１列分
の表面疵データが順次ストアレジスタ13に送られるごと
にストアレジスタ13に記憶されていた前回の表面疵デー
タは順次画像メモリ16に並列出力される。この画像メモ
リ16では１列分の表面疵データを受けるたびに既に記憶
されている各１列分の表面疵データを並列にシフトす
る。そこで、画像メモリ16は行方向の記憶容量がロール
周長πd2に相当しているので、ストリップ10がロール周
長πd2だけ走行する、つまり最大ロール周長πd2/Δτ
回だけシフトすると、各１列分の表面疵データは補償回
路29を通して自己相関演算手段17へ出力される。Next, the operation of the apparatus configured as described above will be described. When the strip 10 travels in the direction of the arrow, the detection head 11 optically scans in the width direction of the strip 10 and outputs it as a surface flaw signal g. This surface flaw signal g is a binarization circuit.
12 and the noise amount measuring circuit 14 are sent to this noise amount measuring circuit.
The noise level is obtained at 14 and sent to the binarization circuit 12.
The binarization circuit 12 varies the binarization setting level according to the noise level to binarize the surface flaw signal g and sends it to the store register 13 as surface flaw data. As a result, the surface flaw data is synchronized with the synchronization signal ck, and the width direction 1 of the strip 10 is synchronized.
It is stored in the store register 13 as the surface flaw data of the columns S10 to Sm0, that is, the pixels Δω × m. And strip 10
Every time the unit length Δτ travels, the surface flaw data for one row in the width direction of the next strip 10 is sequentially stored in the store register 13 by the synchronization signal ck. As described above, every time the surface flaw data for one column in the width direction is sequentially sent to the store register 13, the previous surface flaw data stored in the store register 13 is sequentially output in parallel to the image memory 16. In the image memory 16, each time one row of surface flaw data is received, the already stored one row of surface flaw data is shifted in parallel. Therefore, since the storage capacity in the row direction of the image memory 16 corresponds to the roll circumference πd2, the strip 10 travels by the roll circumference πd2, that is, the maximum roll circumference πd2 / Δτ.
After shifting only once, the surface flaw data for each column is output to the autocorrelation calculation means 17 through the compensation circuit 29.
この自己相関演算手段17における乗算器18は画像メモリ
16からの１列分の表面疵データ例えばS1n,S2n…Smnとス
トアレジスタ13からの１列分の表面疵データS10,S20…S
m0とをそれぞれ各画素ごとに乗算して次の加算器19に送
出する。この加算器19は演算値レジスタ20からの演算結
果例えばC1n,C2n…Cmnと乗算器18からの乗算結果とをそ
れぞれ各画素ごとに加算して演算値レジスタ20に送る。
かくして、この演算値レジスタ20には前記第（４）式の
右辺の演算値が蓄積される。The multiplier 18 in the autocorrelation calculation means 17 is an image memory.
One line of surface flaw data from 16 such as S1n, S2n ... Smn and one line of surface flaw data S10, S20 ... S from the store register 13.
Each pixel is multiplied by m0 and sent to the next adder 19. The adder 19 adds the calculation result from the calculation value register 20, for example C1n, C2n ... Cmn, and the multiplication result from the multiplier 18 for each pixel and sends it to the calculation value register 20.
Thus, the calculated value on the right side of the equation (4) is stored in the calculated value register 20.
ところで、同期信号発生器14から出力される同期信号ck
によってストリップ10から例えばロールR2のロール周長
πd2だけ走行したことが検出されると、演算値レジスタ
20に記憶されている各演算結果C1l〜Cmnがそれぞれ自己
相関プロフィールメモリ22に移される。このとき、例え
ば自己相関値C1l〜C1nは第２図に示すφa1であって、検
出長τが小さいときに大きい値を示し、この検出長τが
長くなるに従って漸減している。そして、ロールR1によ
る表面疵Z1及びロールR2により表面疵Z2が現われてい
る。続いて自己相関値が求められ、さらにストリップ10
がロール周長πd2だけ走行すると、再び各演算結果C1l
〜C1nが自己演算プロフィールメモリ22に移されて、先
の自己演算値φa1に加算される。なお、このときの例え
ば自己演算値C1l〜C1nは第２図に示すφa2となる。この
ようにして自己演算値φa1、φa2…が加算され、例えば
ストリップ10が1000m走行すると、プロフィール平滑化
回路23は各行ごとの演算結果の加算値Σφakに対して平
滑処理を行なって疵判定レベル作成回路24に送出する。
これにより、疵判定レベル作成回路24は各行ごとの平滑
出力をそれぞれ所定倍して比較器25に各行の疵判定レベ
ルとして与える。かくして比較器25は第２図に示す如く
各行ごとの自己相関値の加算値Σφakと各行ごとの疵判
定レベルＨとをそれぞれ比較する。ここで、チャンネル
セレクト26が26−１に接続されていれば、自己相関値の
加算値Σφakと疵判定レベルＨとの比較結果がCRTイン
タフェース27を通してCRT表示装置27に送られて表示さ
れる。なお、チャンネルセレクト26が26−２に接続され
ていれば、自己相関値の加算値Σφbkと疵判定レベルＨ
との比較結果がCRTインタフェース27を通してCRT表示装
置27に送られて表示される。By the way, the synchronization signal ck output from the synchronization signal generator 14
When it is detected by the strip 10 that the roll circumference of the roll R2 is πd2, for example, the calculated value register
The calculation results C 1l to C mn stored in 20 are transferred to the autocorrelation profile memory 22. At this time, for example, the autocorrelation values C 1l to C 1n are φa1 shown in FIG. 2 and show a large value when the detection length τ is small, and gradually decrease as the detection length τ becomes longer. Then, the surface flaw Z1 due to the roll R1 and the surface flaw Z2 due to the roll R2 appear. The autocorrelation value is then determined and strip 10
Runs for the roll circumference πd2, each calculation result C 1l
~ C 1n is transferred to the self-calculation profile memory 22 and added to the previous self-calculation value φa1. At this time, for example, the self-calculated values C 1l to C 1n are φa2 shown in FIG. In this way, the self-calculated values φa1, φa2 ... Are added and, for example, when the strip 10 runs for 1000 m, the profile smoothing circuit 23 performs smoothing processing on the added value Σφak of the calculation results for each row to create a flaw determination level. To the circuit 24.
As a result, the flaw determination level creating circuit 24 multiplies the smoothed output for each row by a predetermined value and gives it to the comparator 25 as the flaw determination level for each row. Thus, the comparator 25 compares the added value Σφak of the autocorrelation values for each row with the flaw determination level H for each row, as shown in FIG. Here, if the channel select 26 is connected to 26-1, the comparison result between the added value Σφak of the autocorrelation value and the defect determination level H is sent to the CRT display device 27 through the CRT interface 27 and displayed. If the channel select 26 is connected to 26-2, the added value Σφbk of the autocorrelation value and the flaw determination level H
The comparison result with is sent to the CRT display device 27 through the CRT interface 27 and displayed.
このように上記一実施例においては、所定検出長内で得
られた自己相関値がプロフィール平滑化回路23により平
滑され、この平滑出力が疵判定レベル作成回路24により
所定倍されて比較器25に背景レベルに応じた疵判定レベ
ルとして送出する構成としたので、背景パワーのレベル
の影響を受けずに検出長τの長さに係わり無く全ての表
面疵が確実に検出できる。さらに、雑音量計測回路14を
設けて２値化回路12の２値化設定レベルを可変するの
で、背景ノイズのレベルが低周波数で変動しても、この
変動を一定に押えることができてCRT表示装置28の表示
画面は一定のS/N比の画像とすることができる。従っ
て、両質の向上したCRT表示画面で表面疵を検出できて
表面疵の検出能力を十分発揮させることができる。As described above, in the above-described embodiment, the autocorrelation value obtained within the predetermined detection length is smoothed by the profile smoothing circuit 23, and the smoothed output is multiplied by a predetermined value by the flaw determination level creating circuit 24 to be supplied to the comparator 25. Since the flaw detection level is transmitted according to the background level, all surface flaws can be reliably detected regardless of the length of the detection length τ without being affected by the background power level. Further, since the noise amount measuring circuit 14 is provided to change the binarization setting level of the binarizing circuit 12, even if the background noise level fluctuates at a low frequency, this fluctuation can be held constant and the CRT can be suppressed. The display screen of the display device 28 can be an image with a constant S / N ratio. Therefore, the surface defect can be detected on the CRT display screen with improved quality, and the surface defect detection ability can be fully exerted.
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、比
較器25において疵判定レベルＨで２値化したが、この疵
判定レベルＨを複数段階設定して多値化する構成として
もよい。又、プロフィール平滑化回路23はストリップ10
がロール周長πd2だけ走行ごとの各演算結果C1l〜Cmnを
受けて平滑化を行い、これによりストリップ10がロール
周長πd2だけ走行ごとに自己相関値と疵判定レベルとの
比較を行なってCRT表示装置28で表示させてもよい。It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and may be modified without departing from the spirit of the invention. For example, although the defect determination level H is binarized in the comparator 25, the defect determination level H may be set in a plurality of stages to be multivalued. Also, the profile smoothing circuit 23 uses the strip 10
Performs smoothing by receiving each calculation result C 1l to C mn for each roll circumference πd2, whereby the strip 10 compares the autocorrelation value and the defect judgment level every run for the roll circumference πd2. It may be displayed on the CRT display device 28.
［発明の効果］ 以上詳記したように本発明によれば、背景パワーの影響
を受けずに周期的に現われる全ての表面疵を検出できる
周期疵検出装置を提供できる。[Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide a periodic flaw detection device capable of detecting all surface flaws that appear periodically without being affected by the background power.
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明に係わる周期疵検出装置の一実施例を示
す構成図、第２図は同装置における比較器での作用を説
明するための模式図、第３図乃至第８図は従来装置を説
明するための図である。 10……ストリップ、11……検出ヘッド、12……２値化回
路、13……ストアレジスタ、14……雑音量計測回路、15
……同期信号発生器、16……画像メモリ、17……自己相
関演算手段、18……乗算器、19……加算器、20……演算
値レジスタ、22……自己相関プロフィールメモリ、23…
…プロフィール平滑化回路、24……疵判定レベル作成回
路、25……比較器、26……チャンネルセレクト、27……
CRTインタフェース、28……CRT表示装置。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a periodic flaw detection device according to the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram for explaining the action of a comparator in the device, and FIG. FIG. 8 to FIG. 8 are views for explaining a conventional device. 10 …… Strip, 11 …… Detecting head, 12 …… Binarization circuit, 13 …… Store register, 14 …… Noise amount measuring circuit, 15
...... Synchronization signal generator, 16 …… Image memory, 17 …… Autocorrelation calculation means, 18 …… Multiplier, 19 …… Adder, 20 …… Computed value register, 22 …… Autocorrelation profile memory, 23 ・ ・ ・
… Profile smoothing circuit, 24 …… Defect judgment level creating circuit, 25 …… Comparator, 26 …… Channel select, 27 ……
CRT interface, 28 ... CRT display device.
Claims (1)
行物の幅方向に走査を行なう検出ヘッドで検出された表
面疵データを画像メモリに記憶し、この後前記帯状走行
物の走行方向における所定検出長内で得られた前記表面
疵データの自己相関値を求めて比較器で疵判定レベルに
より少なくとも２値化して前記ロールに存在する疵等に
より前記帯状走行物に形成される周期的な表面疵を検出
する周期疵検出装置において、前記所定検出長内で得ら
れた前記自己相関値を平滑する平滑化回路と、この平滑
化回路の平滑出力を所定倍して前記比較器に背景パワー
レベルに応じた疵判定レベルとして送出する疵判定レベ
ル作成回路とを具備したことを特徴とする周期疵検出装
置。1. A surface flaw data detected by a detection head that scans in the width direction of a belt-shaped traveling object traveling while a roll is pressed against the roll is stored in an image memory, and then in the traveling direction of the belt-shaped traveling object. The autocorrelation value of the surface flaw data obtained within a predetermined detection length is obtained and binarized at least by a flaw judgment level by a comparator to form a periodic pattern formed on the belt-like running object due to flaws present on the roll. In a periodic flaw detection device for detecting surface flaws, a smoothing circuit that smoothes the autocorrelation value obtained within the predetermined detection length, and a smoothing output of this smoothing circuit is multiplied by a predetermined value to give the background power to the comparator. A flaw detection level creating circuit for transmitting a flaw determination level corresponding to a level, the flaw detection level creating circuit.
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29346687A JPH0786478B2 (en) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | Periodic flaw detector |
| US07/273,029 US4958307A (en) | 1987-11-20 | 1988-11-18 | Roll mark inspection apparatus |
| DE3851609T DE3851609T2 (en) | 1987-11-20 | 1988-11-21 | Device for inspection of rolling marks. |
| DE3855913T DE3855913T2 (en) | 1987-11-20 | 1988-11-21 | Device for inspection of rolling marks |
| EP88119348A EP0316961B1 (en) | 1987-11-20 | 1988-11-21 | Roll mark inspection apparatus |
| EP93119038A EP0594220B1 (en) | 1987-11-20 | 1988-11-21 | Roll mark inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29346687A JPH0786478B2 (en) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | Periodic flaw detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136054A JPH01136054A (en) | 1989-05-29 |
| JPH0786478B2 true JPH0786478B2 (en) | 1995-09-20 |
Family
ID=17795113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29346687A Expired - Lifetime JPH0786478B2 (en) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | Periodic flaw detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0786478B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008139500A (en) * | 2006-11-30 | 2008-06-19 | Fuji Xerox Co Ltd | Image analyzing device, fault diagnosing device, image analyzing program, and fault diagnosing program |
| JP5176372B2 (en) * | 2007-04-05 | 2013-04-03 | 新日鐵住金株式会社 | Sputum Inspection Method, Sputum Inspection Apparatus, and Computer Program |
| AT511773A1 (en) * | 2011-07-15 | 2013-02-15 | Voestalpine Stahl Gmbh | DEVICE AND METHOD FOR DETECTING AT LEAST ONE PERIODIC ERROR ON A SUBJECT |
-
1987
- 1987-11-20 JP JP29346687A patent/JPH0786478B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01136054A (en) | 1989-05-29 |
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