JPH0786478B2 - 周期疵検出装置 - Google Patents
周期疵検出装置Info
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- JPH0786478B2 JPH0786478B2 JP29346687A JP29346687A JPH0786478B2 JP H0786478 B2 JPH0786478 B2 JP H0786478B2 JP 29346687 A JP29346687 A JP 29346687A JP 29346687 A JP29346687 A JP 29346687A JP H0786478 B2 JPH0786478 B2 JP H0786478B2
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- roll
- strip
- level
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、圧延ライン等において鋼板，アルミ板，銅板
等の帯状走行物に圧延ロールに存在するロール疵により
形成される周期的な表面疵を検出する周期疵検出装置に
関する。
等の帯状走行物に圧延ロールに存在するロール疵により
形成される周期的な表面疵を検出する周期疵検出装置に
関する。
（従来の技術） 圧延ラインにおいては、ロールに存在するロール疵によ
って帯状走行物として被圧延材に周期的な表面疵が形成
されることがある。そして、径の異なる複数のロールを
使用する圧延ラインでは周期の異なる各表面疵が被圧延
材に形成される。そこで、このような各表面疵を検出す
るものとして例えば特願昭57−40506号に開示されてい
る技術がある。この技術は表面疵データの自己相関関数
を求めて各周期の表面疵を検出するもので、ここでこの
技術の原理について説明する。第３図（ａ）に示すよう
にロール１で圧延される帯状走行物（以下、ストリップ
と指称する）２は矢印の方向に走行し、その終端におい
て巻取られてコイル３となる。この過程においてロール
１に疵が存在する場合にはストリップ２の表面に表面疵
が形成されるが、その表面疵信号４｛同図（ｂ）｝は周
期性を有するものとなる。この表面疵の発生状態は第４
図に示す如くであり同図中Ａはストリップ２の全幅に亙
って形成された表面疵信号を示し、Ｂは前記幅の例えば
1/8幅の表面疵信号を示している。又、「↓」は検出対
象となる表面疵信号を示しており周期性を有しているこ
とが分かる。他の線はランダム疵による信号を示してい
る。なお、各「↓」の相互間の間隔τはロール１の周長
に等しい。
って帯状走行物として被圧延材に周期的な表面疵が形成
されることがある。そして、径の異なる複数のロールを
使用する圧延ラインでは周期の異なる各表面疵が被圧延
材に形成される。そこで、このような各表面疵を検出す
るものとして例えば特願昭57−40506号に開示されてい
る技術がある。この技術は表面疵データの自己相関関数
を求めて各周期の表面疵を検出するもので、ここでこの
技術の原理について説明する。第３図（ａ）に示すよう
にロール１で圧延される帯状走行物（以下、ストリップ
と指称する）２は矢印の方向に走行し、その終端におい
て巻取られてコイル３となる。この過程においてロール
１に疵が存在する場合にはストリップ２の表面に表面疵
が形成されるが、その表面疵信号４｛同図（ｂ）｝は周
期性を有するものとなる。この表面疵の発生状態は第４
図に示す如くであり同図中Ａはストリップ２の全幅に亙
って形成された表面疵信号を示し、Ｂは前記幅の例えば
1/8幅の表面疵信号を示している。又、「↓」は検出対
象となる表面疵信号を示しており周期性を有しているこ
とが分かる。他の線はランダム疵による信号を示してい
る。なお、各「↓」の相互間の間隔τはロール１の周長
に等しい。
このように表面疵信号の自己相関関数を求めた場合、第
５図に示すようにロール１の周長に対応する周期τで高
いピークが現われる。従って、このピークに着目するこ
とにより対象表面疵の周期性を正確に検出することがで
きる。
５図に示すようにロール１の周長に対応する周期τで高
いピークが現われる。従って、このピークに着目するこ
とにより対象表面疵の周期性を正確に検出することがで
きる。
第６図は表面疵信号を時間Δｔごとに求めてヒストグラ
ムで表わしたものである。ヒストグラムの包絡線を時間
ｔについての関数ｆ（ｔ）とした場合、自己相関関数φ
（τ）は、 表わされる。Ｔは自己関数を求める区間である。
ムで表わしたものである。ヒストグラムの包絡線を時間
ｔについての関数ｆ（ｔ）とした場合、自己相関関数φ
（τ）は、 表わされる。Ｔは自己関数を求める区間である。
具体的に自己関数を求める場合には次のような演算過程
をとる。
をとる。
この第（２）式に基づいて各瞬間時Δｔごとに順次演算
を繰返す。つまり、 この第（４）式において（４−０）〜（４−Ｎ）に示す
ようにストリップ２がΔｔ進行するごとにロール１に周
長Ｍ・Δｔ前の表面疵信号の積を求め、前の回の演算値
に加えていけば自己相関を求めることができる。そし
て、このようにして求められた自己相関値に対して一定
の疵判定レベルで比較して各周期の表面疵を検出しよう
とするものである。これによって、全ての周期の表面疵
が同時に検出される。
を繰返す。つまり、 この第（４）式において（４−０）〜（４−Ｎ）に示す
ようにストリップ２がΔｔ進行するごとにロール１に周
長Ｍ・Δｔ前の表面疵信号の積を求め、前の回の演算値
に加えていけば自己相関を求めることができる。そし
て、このようにして求められた自己相関値に対して一定
の疵判定レベルで比較して各周期の表面疵を検出しよう
とするものである。これによって、全ての周期の表面疵
が同時に検出される。
ところで、このような表面疵データから求められた自己
相関値はその背景パワーが第７図に示す如く自己相関値
を求める間隔長τが短いほど大きくなり、間隔長τが長
くなるに従って小さくなる。これに伴って表面疵5,6の
値も間隔長τが長くなるに従って小さな値を示すものと
なる。
相関値はその背景パワーが第７図に示す如く自己相関値
を求める間隔長τが短いほど大きくなり、間隔長τが長
くなるに従って小さくなる。これに伴って表面疵5,6の
値も間隔長τが長くなるに従って小さな値を示すものと
なる。
従って、この自己相関値と疵判定レベルＬとを比較して
表面疵5,6を検出しようとしても、疵判定レベルＬが一
定に設定されているために第８図に示すように表面疵５
しか検出できずに間隔長τの長いところに現われた表面
疵６は検出できなくなる。
表面疵5,6を検出しようとしても、疵判定レベルＬが一
定に設定されているために第８図に示すように表面疵５
しか検出できずに間隔長τの長いところに現われた表面
疵６は検出できなくなる。
（発明が解決しようとする問題点） 以上のように背景パワーの影響を受けて全ての表面疵を
検出できなかった。
検出できなかった。
そこで本発明は、背景パワーの影響を受けずに周期的に
現われる全ての表面疵を検出できる周期疵検出装置を提
供することを目的とする。
現われる全ての表面疵を検出できる周期疵検出装置を提
供することを目的とする。
［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 本発明は、ロールが圧接された状態で走行する帯状走行
物の幅方向に走査を行なう検出ヘッドで検出された表面
疵データを画像メモリに記憶し、この後帯状走行物の走
行方向における所定検出長内で得られた表面疵データの
自己相関値を求めて比較器で疵判定レベルにより少なく
とも２値化してロールに存在する疵等により帯状走行物
に形成される周期的な表面疵を検出する周期疵検出装置
において、所定検出長内で得られた自己相関値を平滑す
る平滑化回路と、この平滑化回路の平滑出力を所定倍し
て比較器に背景パワーレベルに応じた疵判定レベルとし
て送出する疵判定レベル作成回路とを備えて上記目的を
達成しようとする周期疵検出装置である。
物の幅方向に走査を行なう検出ヘッドで検出された表面
疵データを画像メモリに記憶し、この後帯状走行物の走
行方向における所定検出長内で得られた表面疵データの
自己相関値を求めて比較器で疵判定レベルにより少なく
とも２値化してロールに存在する疵等により帯状走行物
に形成される周期的な表面疵を検出する周期疵検出装置
において、所定検出長内で得られた自己相関値を平滑す
る平滑化回路と、この平滑化回路の平滑出力を所定倍し
て比較器に背景パワーレベルに応じた疵判定レベルとし
て送出する疵判定レベル作成回路とを備えて上記目的を
達成しようとする周期疵検出装置である。
（作用） このような手段を備えたことにより、所定検出長内で得
られた自己相関値が平滑化回路により平滑され、この平
滑出力が疵判定レベル作成回路により所定倍されて比較
器に背景パワーレベルに応じた疵判定レベルとして送出
される。
られた自己相関値が平滑化回路により平滑され、この平
滑出力が疵判定レベル作成回路により所定倍されて比較
器に背景パワーレベルに応じた疵判定レベルとして送出
される。
（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は周期疵検出装置の構成図である。ストリップ10
は矢印で示す方向に一定速度で移動しており、このスト
リップ10は径d1,d2とそれぞれ異なるロールR1、R2で圧
接されている。このストリップ10の上方には光学的な検
出ヘッド11が配置されている。この検出ヘッド11はスト
リップ10の進行方向と直角の方向すなわちストリップ10
の幅方向に光学的に走査して予め設定された単位長領域
の表面疵信号ｇを出力するものとなっている。なお、単
位長領域はストリップ10の信号方向の単位長Δτとスト
リップ10の幅方向長さ（Δω×ｍ）で定まる。ここで、
Δτ×Δωで１つの画素Sijが形成される。表面疵信号
ｇは２値化回路12を通して表面疵データとしてストアレ
ジスタ13に送られている。ところで、この２値化回路12
は雑音量計測回路14で計測された雑音レベルつまり各ロ
ールR1、R2の粗度の異なる雑音レベルに応じて２値化設
定レベルを可変する機能が設けられている。雑音量計測
回路14は具体的にストリップ10の所定領域における雑音
の平均ノイズレベルをストリップ10が単位長Δτ走行す
るために求めて２値化回路12に送出するものとなってい
る。これにより、雑音レベルが一定に押さえられるよう
になっている。又、ストリップ10には同期信号発生器15
が配置されており、この同期信号発生器15からストリッ
プ10の移動速度に同期した同期信号ckが出力されるよう
になっている。
は矢印で示す方向に一定速度で移動しており、このスト
リップ10は径d1,d2とそれぞれ異なるロールR1、R2で圧
接されている。このストリップ10の上方には光学的な検
出ヘッド11が配置されている。この検出ヘッド11はスト
リップ10の進行方向と直角の方向すなわちストリップ10
の幅方向に光学的に走査して予め設定された単位長領域
の表面疵信号ｇを出力するものとなっている。なお、単
位長領域はストリップ10の信号方向の単位長Δτとスト
リップ10の幅方向長さ（Δω×ｍ）で定まる。ここで、
Δτ×Δωで１つの画素Sijが形成される。表面疵信号
ｇは２値化回路12を通して表面疵データとしてストアレ
ジスタ13に送られている。ところで、この２値化回路12
は雑音量計測回路14で計測された雑音レベルつまり各ロ
ールR1、R2の粗度の異なる雑音レベルに応じて２値化設
定レベルを可変する機能が設けられている。雑音量計測
回路14は具体的にストリップ10の所定領域における雑音
の平均ノイズレベルをストリップ10が単位長Δτ走行す
るために求めて２値化回路12に送出するものとなってい
る。これにより、雑音レベルが一定に押さえられるよう
になっている。又、ストリップ10には同期信号発生器15
が配置されており、この同期信号発生器15からストリッ
プ10の移動速度に同期した同期信号ckが出力されるよう
になっている。
ストアレジスタ13は表面疵データを順次画素（Δτ×Δ
ω）ごとに同期信号発生器15からの同期信号ckに同期し
て格納するもので、この格納される表面疵データはスト
リップ10の幅方向１列分のデータ（S10〜Sm0,すなわち
Δω×ｍ画素分のデータ）である。この１列分データは
並列出力されて画像メモリ16に送られるようになってい
る。
ω）ごとに同期信号発生器15からの同期信号ckに同期し
て格納するもので、この格納される表面疵データはスト
リップ10の幅方向１列分のデータ（S10〜Sm0,すなわち
Δω×ｍ画素分のデータ）である。この１列分データは
並列出力されて画像メモリ16に送られるようになってい
る。
この画像メモリ16はストリップ10が単位長Δτ進ごとに
１列分データを並列入力で記憶するとともに既に記憶さ
れている１列分データを順次シフトして出力するものと
なっている。なお、記憶容量はｍ×ｎ画素分必要であ
り、ここに ｍ≧ストリップ10の幅／Δω ｎ＝最大ロール周長πd2/Δτ となっている。又、１列分データの記憶状態は、 但し、ｉ＝１〜m,j＝１〜ｎ で示され、Sijは１つの画素を表わす。なお、表面疵デ
ータはストリップ10の走行方向つまりS11,S12,S13…S1n
を行方向とし、ストリップ10の幅方向つまりS11,S21,S3
1…Sm1を列方向とする。
１列分データを並列入力で記憶するとともに既に記憶さ
れている１列分データを順次シフトして出力するものと
なっている。なお、記憶容量はｍ×ｎ画素分必要であ
り、ここに ｍ≧ストリップ10の幅／Δω ｎ＝最大ロール周長πd2/Δτ となっている。又、１列分データの記憶状態は、 但し、ｉ＝１〜m,j＝１〜ｎ で示され、Sijは１つの画素を表わす。なお、表面疵デ
ータはストリップ10の走行方向つまりS11,S12,S13…S1n
を行方向とし、ストリップ10の幅方向つまりS11,S21,S3
1…Sm1を列方向とする。
従って、画像メモリ16には順次ストップ10の単位長Δτ
ごとの１列分データがロールの１周長分蓄積されること
になる。
ごとの１列分データがロールの１周長分蓄積されること
になる。
一方、ストアレジスタ13から出力される１列分データは
自己相関演算手段17に入力されるようになっている。こ
の自己相関演算手段17は前記第（４）式の演算を実行す
る機能を持ったもので、乗算器18,加算器19,演算値レジ
スタ20により構成されている。乗算器18と加算器19とで
第（５）式の演算を実行し、 その演算結果つまり自己相関値Cijを演算値レジスタ20
に蓄積し、その結果、演算値レジスタ20には第（４）式
の右辺、 の演算値が蓄積されるようになっている。なお、データ
バス21は第（５）式のおける右辺のCijを加算するため
にフィードバックするものである。そして、このように
して求められた自己相関値データは次の自己相関プロフ
ールメモリ22に送られるようになっている。
自己相関演算手段17に入力されるようになっている。こ
の自己相関演算手段17は前記第（４）式の演算を実行す
る機能を持ったもので、乗算器18,加算器19,演算値レジ
スタ20により構成されている。乗算器18と加算器19とで
第（５）式の演算を実行し、 その演算結果つまり自己相関値Cijを演算値レジスタ20
に蓄積し、その結果、演算値レジスタ20には第（４）式
の右辺、 の演算値が蓄積されるようになっている。なお、データ
バス21は第（５）式のおける右辺のCijを加算するため
にフィードバックするものである。そして、このように
して求められた自己相関値データは次の自己相関プロフ
ールメモリ22に送られるようになっている。
この自己相関プロフィールメモリ22は演算値レジスタ20
の同一の記憶領域を有するもので、演算値レジスタ20の
各演算結果C1l〜CmnがそれぞれQ1l〜Qmnに移されて記憶
するものとなっている。なお、各演算結果C1l〜Cmnを移
すタイミングはストリップ10が例えばロールR2の周長π
d2走行するだびに、又はストリップ10が1000m走行する
たびに設定されている。そして、このタイミング信号は
同期信号ckのカウント値に従っている。
の同一の記憶領域を有するもので、演算値レジスタ20の
各演算結果C1l〜CmnがそれぞれQ1l〜Qmnに移されて記憶
するものとなっている。なお、各演算結果C1l〜Cmnを移
すタイミングはストリップ10が例えばロールR2の周長π
d2走行するだびに、又はストリップ10が1000m走行する
たびに設定されている。そして、このタイミング信号は
同期信号ckのカウント値に従っている。
プロフィール平滑化回路23は自己相関プロフィールメモ
リ22の記憶されている各行ごとの自己相関値例えばQ1l,
Q1l+1〜Q1nやQ2l,Q2l+1〜Q2nをそれぞれ平滑する機能を
持ったもので、この平滑作用により表面疵を示すピーク
値が押さえられて背景パワーに応じた値が求められる。
この平滑出力は疵判定レベル作成回路24に送られるよう
になっており、この疵判定レベル作成回路24は各行ごと
の平滑出力を所定倍して背景パワーに応じた各行ごとの
疵判定レベルＨとして比較器25に与たえる機能を有する
ものである。
リ22の記憶されている各行ごとの自己相関値例えばQ1l,
Q1l+1〜Q1nやQ2l,Q2l+1〜Q2nをそれぞれ平滑する機能を
持ったもので、この平滑作用により表面疵を示すピーク
値が押さえられて背景パワーに応じた値が求められる。
この平滑出力は疵判定レベル作成回路24に送られるよう
になっており、この疵判定レベル作成回路24は各行ごと
の平滑出力を所定倍して背景パワーに応じた各行ごとの
疵判定レベルＨとして比較器25に与たえる機能を有する
ものである。
この比較器25は各１行分の自己相関値データ，例えばC
1l,C2l+1〜C1nに対して疵判定レベル作成回路24からの
各行ごとの疵判定レベルＨと順次比較し、各１行分の自
己相関値データ中の最大値を出力する機能をもったもの
である。この比較演算は１行分の各自己相関値データご
とに行なわれる。
1l,C2l+1〜C1nに対して疵判定レベル作成回路24からの
各行ごとの疵判定レベルＨと順次比較し、各１行分の自
己相関値データ中の最大値を出力する機能をもったもの
である。この比較演算は１行分の各自己相関値データご
とに行なわれる。
この比較器25には各行ごとに接点26−1,26−２〜26−ｍ
を有するチャンネルセレクト26が接続され、このチャン
ネルセレクト26にCRTインタフェース27を介してCRT表示
装置28が接続されている。
を有するチャンネルセレクト26が接続され、このチャン
ネルセレクト26にCRTインタフェース27を介してCRT表示
装置28が接続されている。
なお、実際の圧延ラインにはロールとストリップ10との
すべり等に起因する周期の変動があるため、この変動分
を補償するために補償回路29が設けられている。この補
償回路29は予め経験的に求められた周期変動分±γ［m
m］に基づいて次の補償演算を実行する。
すべり等に起因する周期の変動があるため、この変動分
を補償するために補償回路29が設けられている。この補
償回路29は予め経験的に求められた周期変動分±γ［m
m］に基づいて次の補償演算を実行する。
Sij＝（Si(j-p),Si(j-p+1)〜 Sij,Si(j+1)〜Si+p・最大値） …（６） 但し、ｐ＝γ／Δτで与えるれる。
次に上記の如く構成された装置の作用について説明す
る。ストリップ10が矢印の方向に走行すると、検出ヘッ
ド11はストリップ10の幅方向に光学的に走査して表面疵
信号ｇとして出力する。この表面疵信号ｇは２値化回路
12及び雑音量計測回路14に送られ、この雑音量計測回路
14で雑音レベルが求められて２値化回路12に送られる。
この２値化回路12は雑音レベルに応じて２値化設定レベ
ルを可変して表面疵信号ｇを２値化して表面疵データと
してストアレジスタ13に送出する。これにより、表面疵
データは同期信号ckに同期してストリップ10の幅方向１
列分S10〜Sm0つまり画素Δω×ｍの表面疵データとして
ストアレジスタ13に記憶される。そして、ストリップ10
が単位長Δτ走行するごとに同期信号ckによって次のス
トリップ10の幅方向１列分の表面疵データが順次ストア
レジスタ13に記憶されていく。このように幅方向１列分
の表面疵データが順次ストアレジスタ13に送られるごと
にストアレジスタ13に記憶されていた前回の表面疵デー
タは順次画像メモリ16に並列出力される。この画像メモ
リ16では１列分の表面疵データを受けるたびに既に記憶
されている各１列分の表面疵データを並列にシフトす
る。そこで、画像メモリ16は行方向の記憶容量がロール
周長πd2に相当しているので、ストリップ10がロール周
長πd2だけ走行する、つまり最大ロール周長πd2/Δτ
回だけシフトすると、各１列分の表面疵データは補償回
路29を通して自己相関演算手段17へ出力される。
る。ストリップ10が矢印の方向に走行すると、検出ヘッ
ド11はストリップ10の幅方向に光学的に走査して表面疵
信号ｇとして出力する。この表面疵信号ｇは２値化回路
12及び雑音量計測回路14に送られ、この雑音量計測回路
14で雑音レベルが求められて２値化回路12に送られる。
この２値化回路12は雑音レベルに応じて２値化設定レベ
ルを可変して表面疵信号ｇを２値化して表面疵データと
してストアレジスタ13に送出する。これにより、表面疵
データは同期信号ckに同期してストリップ10の幅方向１
列分S10〜Sm0つまり画素Δω×ｍの表面疵データとして
ストアレジスタ13に記憶される。そして、ストリップ10
が単位長Δτ走行するごとに同期信号ckによって次のス
トリップ10の幅方向１列分の表面疵データが順次ストア
レジスタ13に記憶されていく。このように幅方向１列分
の表面疵データが順次ストアレジスタ13に送られるごと
にストアレジスタ13に記憶されていた前回の表面疵デー
タは順次画像メモリ16に並列出力される。この画像メモ
リ16では１列分の表面疵データを受けるたびに既に記憶
されている各１列分の表面疵データを並列にシフトす
る。そこで、画像メモリ16は行方向の記憶容量がロール
周長πd2に相当しているので、ストリップ10がロール周
長πd2だけ走行する、つまり最大ロール周長πd2/Δτ
回だけシフトすると、各１列分の表面疵データは補償回
路29を通して自己相関演算手段17へ出力される。
この自己相関演算手段17における乗算器18は画像メモリ
16からの１列分の表面疵データ例えばS1n,S2n…Smnとス
トアレジスタ13からの１列分の表面疵データS10,S20…S
m0とをそれぞれ各画素ごとに乗算して次の加算器19に送
出する。この加算器19は演算値レジスタ20からの演算結
果例えばC1n,C2n…Cmnと乗算器18からの乗算結果とをそ
れぞれ各画素ごとに加算して演算値レジスタ20に送る。
かくして、この演算値レジスタ20には前記第（４）式の
右辺の演算値が蓄積される。
16からの１列分の表面疵データ例えばS1n,S2n…Smnとス
トアレジスタ13からの１列分の表面疵データS10,S20…S
m0とをそれぞれ各画素ごとに乗算して次の加算器19に送
出する。この加算器19は演算値レジスタ20からの演算結
果例えばC1n,C2n…Cmnと乗算器18からの乗算結果とをそ
れぞれ各画素ごとに加算して演算値レジスタ20に送る。
かくして、この演算値レジスタ20には前記第（４）式の
右辺の演算値が蓄積される。
ところで、同期信号発生器14から出力される同期信号ck
によってストリップ10から例えばロールR2のロール周長
πd2だけ走行したことが検出されると、演算値レジスタ
20に記憶されている各演算結果C1l〜Cmnがそれぞれ自己
相関プロフィールメモリ22に移される。このとき、例え
ば自己相関値C1l〜C1nは第２図に示すφa1であって、検
出長τが小さいときに大きい値を示し、この検出長τが
長くなるに従って漸減している。そして、ロールR1によ
る表面疵Z1及びロールR2により表面疵Z2が現われてい
る。続いて自己相関値が求められ、さらにストリップ10
がロール周長πd2だけ走行すると、再び各演算結果C1l
〜C1nが自己演算プロフィールメモリ22に移されて、先
の自己演算値φa1に加算される。なお、このときの例え
ば自己演算値C1l〜C1nは第２図に示すφa2となる。この
ようにして自己演算値φa1、φa2…が加算され、例えば
ストリップ10が1000m走行すると、プロフィール平滑化
回路23は各行ごとの演算結果の加算値Σφakに対して平
滑処理を行なって疵判定レベル作成回路24に送出する。
これにより、疵判定レベル作成回路24は各行ごとの平滑
出力をそれぞれ所定倍して比較器25に各行の疵判定レベ
ルとして与える。かくして比較器25は第２図に示す如く
各行ごとの自己相関値の加算値Σφakと各行ごとの疵判
定レベルＨとをそれぞれ比較する。ここで、チャンネル
セレクト26が26−１に接続されていれば、自己相関値の
加算値Σφakと疵判定レベルＨとの比較結果がCRTイン
タフェース27を通してCRT表示装置27に送られて表示さ
れる。なお、チャンネルセレクト26が26−２に接続され
ていれば、自己相関値の加算値Σφbkと疵判定レベルＨ
との比較結果がCRTインタフェース27を通してCRT表示装
置27に送られて表示される。
によってストリップ10から例えばロールR2のロール周長
πd2だけ走行したことが検出されると、演算値レジスタ
20に記憶されている各演算結果C1l〜Cmnがそれぞれ自己
相関プロフィールメモリ22に移される。このとき、例え
ば自己相関値C1l〜C1nは第２図に示すφa1であって、検
出長τが小さいときに大きい値を示し、この検出長τが
長くなるに従って漸減している。そして、ロールR1によ
る表面疵Z1及びロールR2により表面疵Z2が現われてい
る。続いて自己相関値が求められ、さらにストリップ10
がロール周長πd2だけ走行すると、再び各演算結果C1l
〜C1nが自己演算プロフィールメモリ22に移されて、先
の自己演算値φa1に加算される。なお、このときの例え
ば自己演算値C1l〜C1nは第２図に示すφa2となる。この
ようにして自己演算値φa1、φa2…が加算され、例えば
ストリップ10が1000m走行すると、プロフィール平滑化
回路23は各行ごとの演算結果の加算値Σφakに対して平
滑処理を行なって疵判定レベル作成回路24に送出する。
これにより、疵判定レベル作成回路24は各行ごとの平滑
出力をそれぞれ所定倍して比較器25に各行の疵判定レベ
ルとして与える。かくして比較器25は第２図に示す如く
各行ごとの自己相関値の加算値Σφakと各行ごとの疵判
定レベルＨとをそれぞれ比較する。ここで、チャンネル
セレクト26が26−１に接続されていれば、自己相関値の
加算値Σφakと疵判定レベルＨとの比較結果がCRTイン
タフェース27を通してCRT表示装置27に送られて表示さ
れる。なお、チャンネルセレクト26が26−２に接続され
ていれば、自己相関値の加算値Σφbkと疵判定レベルＨ
との比較結果がCRTインタフェース27を通してCRT表示装
置27に送られて表示される。
このように上記一実施例においては、所定検出長内で得
られた自己相関値がプロフィール平滑化回路23により平
滑され、この平滑出力が疵判定レベル作成回路24により
所定倍されて比較器25に背景レベルに応じた疵判定レベ
ルとして送出する構成としたので、背景パワーのレベル
の影響を受けずに検出長τの長さに係わり無く全ての表
面疵が確実に検出できる。さらに、雑音量計測回路14を
設けて２値化回路12の２値化設定レベルを可変するの
で、背景ノイズのレベルが低周波数で変動しても、この
変動を一定に押えることができてCRT表示装置28の表示
画面は一定のS/N比の画像とすることができる。従っ
て、両質の向上したCRT表示画面で表面疵を検出できて
表面疵の検出能力を十分発揮させることができる。
られた自己相関値がプロフィール平滑化回路23により平
滑され、この平滑出力が疵判定レベル作成回路24により
所定倍されて比較器25に背景レベルに応じた疵判定レベ
ルとして送出する構成としたので、背景パワーのレベル
の影響を受けずに検出長τの長さに係わり無く全ての表
面疵が確実に検出できる。さらに、雑音量計測回路14を
設けて２値化回路12の２値化設定レベルを可変するの
で、背景ノイズのレベルが低周波数で変動しても、この
変動を一定に押えることができてCRT表示装置28の表示
画面は一定のS/N比の画像とすることができる。従っ
て、両質の向上したCRT表示画面で表面疵を検出できて
表面疵の検出能力を十分発揮させることができる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、比
較器25において疵判定レベルＨで２値化したが、この疵
判定レベルＨを複数段階設定して多値化する構成として
もよい。又、プロフィール平滑化回路23はストリップ10
がロール周長πd2だけ走行ごとの各演算結果C1l〜Cmnを
受けて平滑化を行い、これによりストリップ10がロール
周長πd2だけ走行ごとに自己相関値と疵判定レベルとの
比較を行なってCRT表示装置28で表示させてもよい。
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、比
較器25において疵判定レベルＨで２値化したが、この疵
判定レベルＨを複数段階設定して多値化する構成として
もよい。又、プロフィール平滑化回路23はストリップ10
がロール周長πd2だけ走行ごとの各演算結果C1l〜Cmnを
受けて平滑化を行い、これによりストリップ10がロール
周長πd2だけ走行ごとに自己相関値と疵判定レベルとの
比較を行なってCRT表示装置28で表示させてもよい。
［発明の効果］ 以上詳記したように本発明によれば、背景パワーの影響
を受けずに周期的に現われる全ての表面疵を検出できる
周期疵検出装置を提供できる。
を受けずに周期的に現われる全ての表面疵を検出できる
周期疵検出装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明に係わる周期疵検出装置の一実施例を示
す構成図、第２図は同装置における比較器での作用を説
明するための模式図、第３図乃至第８図は従来装置を説
明するための図である。 10……ストリップ、11……検出ヘッド、12……２値化回
路、13……ストアレジスタ、14……雑音量計測回路、15
……同期信号発生器、16……画像メモリ、17……自己相
関演算手段、18……乗算器、19……加算器、20……演算
値レジスタ、22……自己相関プロフィールメモリ、23…
…プロフィール平滑化回路、24……疵判定レベル作成回
路、25……比較器、26……チャンネルセレクト、27……
CRTインタフェース、28……CRT表示装置。
す構成図、第２図は同装置における比較器での作用を説
明するための模式図、第３図乃至第８図は従来装置を説
明するための図である。 10……ストリップ、11……検出ヘッド、12……２値化回
路、13……ストアレジスタ、14……雑音量計測回路、15
……同期信号発生器、16……画像メモリ、17……自己相
関演算手段、18……乗算器、19……加算器、20……演算
値レジスタ、22……自己相関プロフィールメモリ、23…
…プロフィール平滑化回路、24……疵判定レベル作成回
路、25……比較器、26……チャンネルセレクト、27……
CRTインタフェース、28……CRT表示装置。
Claims (1)
- 【請求項１】ロールが圧接された状態で走行する帯状走
行物の幅方向に走査を行なう検出ヘッドで検出された表
面疵データを画像メモリに記憶し、この後前記帯状走行
物の走行方向における所定検出長内で得られた前記表面
疵データの自己相関値を求めて比較器で疵判定レベルに
より少なくとも２値化して前記ロールに存在する疵等に
より前記帯状走行物に形成される周期的な表面疵を検出
する周期疵検出装置において、前記所定検出長内で得ら
れた前記自己相関値を平滑する平滑化回路と、この平滑
化回路の平滑出力を所定倍して前記比較器に背景パワー
レベルに応じた疵判定レベルとして送出する疵判定レベ
ル作成回路とを具備したことを特徴とする周期疵検出装
置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29346687A JPH0786478B2 (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | 周期疵検出装置 |
| US07/273,029 US4958307A (en) | 1987-11-20 | 1988-11-18 | Roll mark inspection apparatus |
| DE3851609T DE3851609T2 (de) | 1987-11-20 | 1988-11-21 | Gerät zur Inspektion von Walzzeichen. |
| EP88119348A EP0316961B1 (en) | 1987-11-20 | 1988-11-21 | Roll mark inspection apparatus |
| DE3855913T DE3855913T2 (de) | 1987-11-20 | 1988-11-21 | Gerät zur inspektion von Walzzeichen |
| EP93119038A EP0594220B1 (en) | 1987-11-20 | 1988-11-21 | Roll mark inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29346687A JPH0786478B2 (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | 周期疵検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136054A JPH01136054A (ja) | 1989-05-29 |
| JPH0786478B2 true JPH0786478B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=17795113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29346687A Expired - Lifetime JPH0786478B2 (ja) | 1987-11-20 | 1987-11-20 | 周期疵検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0786478B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008139500A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-06-19 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像解析装置、故障診断装置、画像解析プログラム、及び故障診断プログラム |
| JP5176372B2 (ja) * | 2007-04-05 | 2013-04-03 | 新日鐵住金株式会社 | 疵検査方法、疵検査装置、及びコンピュータプログラム |
| AT511773A1 (de) * | 2011-07-15 | 2013-02-15 | Voestalpine Stahl Gmbh | Vorrichtung und verfahren zur detektion wenigstens eines periodisch auftretenden fehlers an einem gegenstand |
-
1987
- 1987-11-20 JP JP29346687A patent/JPH0786478B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01136054A (ja) | 1989-05-29 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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