JPH0783817A

JPH0783817A - フロー式粒子画像解析方法およびフロー式粒子画像解析装置

Info

Publication number: JPH0783817A
Application number: JP5230672A
Authority: JP
Inventors: Hideyuki Horiuchi; 秀之堀内; Hidenori Asai; 英規浅井; Riyouhei Yabe; 良平矢辺
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1993-09-17
Filing date: 1993-09-17
Publication date: 1995-03-31
Anticipated expiration: 2013-11-18
Also published as: JP2826448B2

Abstract

(57)【要約】【目的】流れている液体中に懸濁した粒子の静止画像を
撮り、粒子を分析する粒子画像解析装置において、粒子
検出系で検出した一画像粒子数と静止画像中に存在する
粒子と対応付けすることにより解析精度を改善する。【構成】フローセル１００にサンプルを流し、レーザ光
束１０により粒子の通過を検出し、その検出に基づいて
パルスランプ１を発光させ、粒子の静止画像をＴＶカメ
ラ８で撮像し、画像処理を行う。粒子解析手段１０３の
分類結果集計部７０において、一画像中時間に粒子検出
手段１０２で検出した粒子検出数と、粒子解析手段１０
３での一画像処理中のパターン認識処理による粒子分類
された粒子画像と対応を取ることにより、サンプル中の
粒子分類、粒子計数を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、フロー式粒子画像解析
方法およびフロー式粒子画像解析装置に係り、流れてい
る液体中に懸濁した静止粒子画像を撮像し、粒子解析す
る粒子画像解析に関するものである。特に、血液または
尿中の細胞や粒子を解析するのに利用される。

【０００２】

【従来の技術】従来の粒子画像解析においては、血液中
の細胞や尿中の細胞や粒子を分類解析するには、スライ
ドガラス上に標本を作成し顕微鏡にて観察することで行
われてきた。尿の場合には、尿中の粒子濃度が薄いた
め、サンプルを予め遠心分離器で遠心濃縮してから観察
している。

【０００３】これらの観察、検査の作業を自動化する方
法または装置としては、血液などのサンプル試料をスラ
イドガラス上に塗沫したあと顕微鏡にセットし、顕微鏡
ステージを自動的に走査し、粒子の存在する位置で顕微
鏡ステージを止めて静止粒子画像を撮影し、画像処理技
術による特徴抽出およびパターン認識手法を用い、サン
プル試料中にある粒子の分類・解析等を行っている。

【０００４】しかし、上記手法では標本作成に時間がか
かること、さらに顕微鏡ステージを機械的に移動しなが
ら粒子を見つけ、粒子を適当な画像取り込み領域へ移動
させる作業が必要である。そのため、解析に時間を要し
たり、機械機構が複雑になるという欠点がある。

【０００５】上記のような塗沫標本を作成しない粒子画
像解析方法または粒子画像解析装置には、サンプル試料
を液体中に懸濁させた状態にてフローセル中を流し、光
学的に解析するフローサイトメータ法が知られている。
前記フローサイトメータによる方法は、サンプル中の各
粒子からの蛍光強度や散乱光強度を観測するもので、毎
秒数１０００個の処理能力を備えている。しかし、粒子
の形態学的特徴を反映する特徴量を観測することはむず
かしく、従来顕微鏡下で行われていた形態学的特徴で粒
子を分類することができない。

【０００６】連続的に流れているサンプル試料中の静止
粒子画像を撮像し、それぞれの静止粒子画像から粒子を
分類、解析する試みとしては、特表昭５７−５００９９
５号公報、特開昭６３−９４１５６号公報、特開平４−
７２５４４号公報等記載の技術が知られている。前記特
表昭５７−５００９９５号公報記載の技術では、サンプ
ル試料を特別な形状の流路に通して幅広の撮像領域中に
流し、フラッシュランプによる静止粒子画像を撮影し、
その画像を用い粒子解析する方法が示されている。

【０００７】前記方法は、顕微鏡を用いてサンプル粒子
の拡大画像をＣＣＤカメラ上に投影するとき、パルス光
源である前記フラッシュランプが前記ＣＣＤカメラの動
作に同期して周期的に発光する。前記パルス光源の発光
時間が短いので、粒子が連続的に流れていても静止画像
を得ることができ、しかも、前記ＣＣＤカメラは、毎秒
３０枚の静止画像を撮影することができる。

【０００８】前記特開昭６３−９４１５６号公報記載の
技術は、静止粒子画像撮像系とは別にサンプル流れ中の
粒子画像撮影領域より上流に粒子検出系を設けている。
予め粒子検出系で粒子通過を知り、その粒子が粒子画像
撮像領域に達したとき適当なタイミングによりパルス光
源であるフラッシュランプを点灯させる方法である。

【０００９】この方法においては、前記パルス光源の発
光を周期的に行わず、粒子の通過を検出してその時だけ
タイミングを合わせて静止粒子画像を撮像することがで
きるので、効率的に静止粒子画像が集められ、濃度の薄
いサンプル試料の場合でも粒子の存在しない無意味な画
像を撮像・処理することはない。

【００１０】なお、静止粒子画像を撮らない通常のフロ
ーサイトメータや粒子解析装置において、粒子検出系を
別に持っている例として、特開昭６０−２６０８３０号
公報、特開昭６３−２３１２４４号公報、特開平１−２
４５１３１号公報等記載の技術が知られている。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】上記従来の粒子画像解
析装置においては、一般的に、連続的に流れているサン
プル粒子の静止画像を解析して、サンプル中の複数種類
の粒子数や分類を効率よく行うためには、上述した公知
例で行われているように、静止粒子画像撮像領域または
その上流に通過粒子を検出する粒子検出系が必要であ
る。すなわち、サンプル粒子が通過したときだけパルス
光源を点灯させ前記サンプル粒子の静止画像を撮像する
ように構成する。

【００１２】上記方法は、粒子濃度の薄い測定サンプル
に対し非常に効率よく処理できるため、測定サンプル量
の増大、解析時間の短縮、解析精度の向上を計ることが
できる。しかし、上述したように連続して流れている粒
子についてそれぞれの粒子の静止画像を解析して、サン
プル中に含まれている複数種類の粒子の数を解析したり
分類するには、以下に述べるような問題点が存在する。

【００１３】〔１〕前記特開昭６３−９４１５６号公報
記載の技術では、フロー式粒子画像解析装置において
は、静止粒子画像撮像領域またはその上流に通過粒子を
検出する粒子検出系と、粒子が通過したときだけパルス
光源を点灯させ静止粒子画像を撮像する画像撮像系とを
有しているが、上記粒子検出系と前記画像撮像系とは一
般的にその測定原理が異なっている。

【００１４】前記粒子検出系として、通常フローセル中
を流れている測定サンプルにレーザ光束を集光して照射
し、前記レーザ光束をよぎった粒子からの光散乱光を検
出する方法が用いられている。前記光散乱光は、一般的
に粒子の実効散乱断面積に比例した強さの光信号を生じ
る。

【００１５】上記光信号は光検出器により電気信号に変
換される。前記光信号の大きさは、粒子の光学的な屈折
率、吸収、サイズ、粒子の内部状態、散乱光検出条件な
どにより影響を受け、必ずしも画像処理で用いられる粒
子の形態情報である粒子直径、周囲長、色彩情報、テク
スチャ情報とは完全に一致しない。

【００１６】また、前記粒子検出系を所定の粒子検出レ
ベル以上を粒子検出の条件とすると、実際の前記画像撮
像系による静止粒子画像には、サイズが小さく光散乱に
よる粒子検出レベルに達しない粒子が存在することは、
しばしば起こることである。これらの関係を図６を参照
して具体的に説明する。図６は、従来技術における粒子
検出および静止粒子画像取り込みの略示説明図である。
図６（１）は、粒子検出系の粒子通過による粒子検出信
号を示す線図であり、前記粒子検出の測定原理には、上
記の如くレーザ光による前記粒子からの光散乱信号を検
出するものとする。

【００１７】図６（１）の線図では、粒子ａと粒子ｄと
が所定の粒子検出レベルより大きく、まず粒子ａを粒子
検出系により検出したのち、一定時間経過後、画像撮像
系により静止粒子画像を撮像するためフラッシュランプ
が発光する。図６（３）には、撮像された静止粒子画像
を示されている。

【００１８】前記撮像画像の中には、全部で５個のａ、
ｂ、ｃ、ｄ、ｅ粒子が存在しているが、この撮像画像を
図６（１）の粒子検出信号と対応させると、そのうち、
粒子ａと粒子ｄとの二個が粒子検出レベルより大きいの
で、粒子検出系の信号として計数されるが残りのｃ、
ｄ、ｅ３個は粒子検出されない。前記検出されない粒子
は粒子解析する必要のない粒子である。粒子検出系によ
る粒子検出パルス信号は図６（２）に示されるものであ
る。

【００１９】上記粒子検出レベルを小さくする事によ
り、これら５個のａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ粒子を全て検出す
るようにすることは可能である。しかし、その場合には
粒子検出の頻度は大幅に増大し、かえって、解析対象粒
子検出率が減少する。さらに、画像取り込みによるデッ
トタイムのため粒子の数え落としが生じる原因にもな
る。その結果、粒子解析精度、再現性の低下を引き起す
ことになる。

【００２０】さらに、一般的に粒子検出系で検出した粒
子個数と、画像撮像系において処理される粒子個数が一
致しない。サンプルに含まれる粒子の種類が多く存在す
る場合には、粒子検出系で検出した粒子の存在比率と、
画像撮像系において処理した粒子の存在比率が一致しな
い原因になる。粒子検出系の検出レベル以下の粒子も画
像撮像系の処理対象の粒子として含まれる場合が多いか
らである。

【００２１】このような状態では、粒子検出系で検出し
た全粒子数情報と、画像撮像系にて処理した全粒子に対
する存在比率の情報とから、サンプル中の各種類の粒子
個数、粒子存在比率、粒子密度や濃度の情報を正しく知
ることは出来ない。また、画像処理した粒子の中には、
粒子検出系の粒子検出レベルより小さいが画像撮像系の
処理対象である粒子が存在したり、処理対象粒子ではな
いが重要な情報を提供する粒子が存在することがある。

【００２２】これらの粒子についても正しく粒子解析を
行い、サンプル中にどの程度存在するかを解析し、画像
撮像系の処理対象粒子として解析結果に反映させなけれ
ば、サンプル中の各種類の粒子個数、粒子存在比率、粒
子密度、濃度等の情報を正しく知ることは出来ない。

【００２３】また、上記特開平４−７２５４４号公報記
載の技術では、粒子検出系に通過全粒子を計数するカウ
ンタを使用している。この場合、前記粒子カウンタの値
と画像撮像系の画像処理した粒子数の存在比率から、サ
ンプル内の各々の種類の粒子数を知ることができるとし
ている。

【００２４】しかし、このためには、粒子検出系のカウ
ンタにより検出しようとする粒子の種類別分布と、画像
撮像系により画像処理される粒子の種類別分布とが一致
していことがその前提条件である。しかし、上述したよ
うに粒子検出系の測定と画像撮像系の画像処理による粒
子処理では、測定手法・原理が異なるため種類別分布が
一致しないことがたびたび発生する。

【００２５】本発明は、上記従来技術の問題点を解決す
るためになされたもので、粒子検出系と画像撮像系とを
それぞれ具備し、粒子検出系の原理と画像撮像系の粒子
画像識別の原理とが異なるフロー式粒子画像解析方法お
よびフロー式粒子画像解析装置において、検出粒子と静
止粒子画像中の粒子とを対応させ、粒子検出系の検出粒
子以外の粒子が画像撮像系の静止粒子画像中に存在して
も、サンプル中の各種類の粒子個数、粒子存在比率、粒
子密度、濃度情報を正しく知ることができ、解析精度の
良好なフロー式粒子画像解析方法およびフロー式粒子画
像解析装置を提供するものである。

【００２６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、フロー式粒子画像解析方法に係る本発明の構成は、
懸濁する液体サンプルをフローセル中に流し、粒子検出
系による前記サンプル中の粒子数を計数する検出段階
と、前記フローセル中の撮像領域を通過する粒子の静止
画像を粒子撮像系により撮像する段階と、画像解析手段
により前記画像中の粒子の形態学的分類を行う解析段階
とからなるフロー式粒子画像解析方法において、前記解
析段階は、前記粒子検出系による一画像粒子計数値と、
前記静止粒子画像中の各粒子とを粒子画像識別特徴量に
より対応させる抽出段階と、前記対応関係と前記検出段
階の粒子検出系による全粒子計数値とから前記液体サン
プル中の粒子分布または粒子分類のいずれかを粒子解析
段階とからなることを特徴とする。

【００２７】粒子解析段階は、同一の液体サンプルに対
し複数個の測定モードを有し、各測定モードについて解
析し、全測定モードの解析終了後、全データを総合する
ことを特徴とする。抽出段階は、粒子画像識別特徴量と
して、粒子のサイズ情報または色彩情報または光散乱情
報または蛍光強度情報のいずれかまたはこれらを複数個
組み合わせた情報を用いることを特徴とする。

【００２８】粒子解析段階は、画像処理した全画像につ
いてそれぞれサンプル体積当たりの粒子数または比率の
いずれかを計算し、次いで、前記粒子数または粒子比率
のいずれかを用い、全サンプル体積当たりの粒子数を求
め、前記粒子数に基ずくことを特徴とする。粒子解析段
階は、測定サンプルの粒子数、または測定サンプル中の
単位体積当たりの粒子濃度、または顕微鏡視野換算の粒
子数のいずれかを求め、これらに基づき解析することを
特徴とする。

【００２９】粒子解析段階は、粒子検出系の一画像粒子
計数値と対応できなかった静止粒子画像中の残り粒子に
ついて別枠として解析処理し、解析終了時に一画像粒子
計数値と対応する粒子の解析結果に前記別枠処理分を加
えることを特徴とする。粒子解析段階は、処理画像数が
少なく別枠処理を行うのに十分な処理対象体積がない場
合の処理を定めてあることを特徴とする。粒子解析段階
は、処理画像数が少なく別枠処理を行うのに十分な処理
対象体積がない場合、その評価手順を予め入力設定する
ことを特徴とする。

【００３０】粒子解析段階は、処理画像数が少なく別枠
処理を行うのに十分な処理対象体積がない場合、別枠処
理を行わないことを特徴とする。粒子解析段階は、処理
画像数が少なく別枠処理を行うのに十分な処理対象体積
が少ない場合、別枠処理を行ない、その処理に問題があ
ることを出力することを特徴とする。

【００３１】懸濁する液体サンプルをフローセル中に流
し、前記サンプル中の粒子を計数する粒子検出系と、前
記フローセル中の撮像領域を通過する粒子の静止画像を
撮像する粒子撮像系と、前記静止粒子画像の粒子の形態
学的分類を行う解析手段とからなるフロー式粒子画像解
析装置において、前記解析手段は、前記粒子検出系の一
画像粒子計数値と、前記静止粒子画像中の各粒子とを粒
子画像識別特徴量により対応させる抽出部と、前記対応
関係と前記粒子検出系により計数させた全粒子数とから
前記サンプル中の粒子分布または粒子分類のいずれかを
行う粒子解析部とから構成したことを特徴とするもので
ある。

【００３２】粒子解析部は、同一測定サンプルに対し複
数個の測定モードを有し、各測定モードについて解析
し、全測定モードの解析終了後、全データを総合するよ
うに構成したことを特徴とする。抽出部は、粒子画像識
別特徴量として、粒子のサイズ情報、または光散乱情
報、または色彩情報、または蛍光強度情報のいずれか、
またはこれらの複数個組み合わせた情報を用いて対応さ
せるように構成したことを特徴とする。

【００３３】抽出部は、一画像粒子計数値と粒子形態特
徴量の大小関係から一画像粒子計数値に相当する粒子だ
けを対応させるように構成したこと特徴とする。粒子解
析部は、画像処理した全画像に相当するサンプル体積当
たりの粒子数または粒子比率を計算し、さらに、全サン
プル体積当たりについての粒子数を求めるように構成し
たことを特徴とする。粒子解析部は、測定サンプルの粒
子数、または測定サンプル中の単位体積当たりの粒子濃
度、または顕微鏡視野換算の粒子数を計算するように構
成したことを特徴とする。

【００３４】粒子解析部は、粒子検出系の一画像粒子計
数値と対応できなかった静止粒子画像中の残り粒子につ
いて別枠として解析処理し、解析終了時に一画像粒子計
数値と対応する粒子の解析結果に前記別枠処理分を加え
るように構成したことを特徴とする。粒子解析部は、処
理画像数が少なく別枠処理をするのに十分な処理対象体
積がない場合、別枠処理をするように構成したことを特
徴とする。

【００３５】粒子解析部は、処理画像数が少なく別枠処
理をするのに十分な処理対象体積がない場合、その評価
手順を予め入力設定するように構成したことを特徴とす
る。粒子解析部は、処理画像数が少なく別枠処理をする
のに十分な処理対象体積がない場合、別枠処理をしない
ことを特徴とする。粒子解析部は、処理画像数が少なく
別枠処理をするのに十分な処理対象体積が少ない場合、
別枠処理に問題があることを表示または出力するように
構成したことを特徴とする。

【００３６】粒子検出系は、一画像粒子計数値および全
粒子数の計数値に対し静止画像撮像のためパルス光源発
光による誤計数を補正できるように構成したことを特徴
とする。解析対象が生物細胞であることを特徴とする。
解析対象が血液中に存在する血球成分であることを特徴
とする。解析対象が尿、特に尿中に存在する尿沈渣成分
であることを特徴とする。

【００３７】より具体的に説明する。前記フローセル中
の粒子検出領域を通過した粒子を検出し、一定時間後
に、前記検出粒子が静止画像撮像領域の所定の位置に到
着したとき、フラッシュランプを点灯させ、粒子の静止
画像を撮影する。このとき、この一枚の静止画像に撮像
されているサンプル流れの部分に存在する一定の検出信
号のレベル以上の粒子全個数を一画像粒子計数値とす
る。

【００３８】一般に、撮像された一枚の静止粒子画像中
には、上記粒子検出系の一画像粒子計数値より多い粒子
が存在する。粒子検出信号レベルを高くすればこの傾向
は大きくなる。ここで、粒子検出系の検出原理と同じか
または近い粒子識別特徴量を用いて、一枚の静止粒子画
像中に存在する全粒子を分類解析する。

【００３９】前記粒子画像識別特徴量として、測定粒子
の形態情報または色彩情報、または蛍光強度情報、また
はこれらの情報の複数個組み合わせた特徴量を使用する
ことが出来る。具体的には、粒子画像から、粒子の大き
さ、面積、直径、周囲長、射影像などの形態情報、粒子
濃度、色彩情報、粒子内構造、蛍光強度等の特徴量が用
いられる。生物細胞のように核、細胞質、細胞内顆粒な
どの存在などの情報を使うこともできる。

【００４０】さらに、粒子検出系を粒子が通過する通過
時間も粒子の大きさに対するパラメータとして利用して
も差し支えない。すなわち、画像中に存在する粒子のど
れとどれが、粒子検出系で検出された検出粒子であるか
調べる。前記対応をとれる粒子数は一画像粒子計数値に
相当する。これを正規識別処理と名付ける。検出粒子と
画像中の粒子との対応をとることが出来なかった残りの
粒子は、対応のとれた粒子とは別の識別処理を行う。こ
の処理を別枠識別処理と名付ける。

【００４１】さらに、粒子検出による静止画像撮像と関
係なく、粒子検出系を通過し検出レベル以上の全粒子の
計数値を測定する。なお、この場合、フラッシュランプ
光による粒子検出信号の誤計数を防止することが必要で
ある。この防止のためには、フラッシュランプ光が粒子
検出器に到達しないようにするか、または電気的にフラ
ッシュランプ信号を計数しないようにする。また、フラ
ッシュランプ光も検出し、測定終了時にランプ発光回数
分差し引く方法により誤計数を防ぐようにしても差し支
えない。

【００４２】濃度の濃い粒子サンプルを処理する場合、
画像読みだしに伴うデットタイムのために粒子検出系に
おいて粒子の数え落としが生じるため、必ずしも一定測
定時間中の一画像粒子計数値の粒子数総和は、前記一定
測定時間中に粒子検出系を通過した検出レベル以上の全
粒子計数値を示さない。これにたいしては、一定測定時
間内におけるサンプル中の検出レベル以上の全粒子数、
全粒子検出計数値を計数する。

【００４３】また、別枠識別処理対象粒子は、粒子検出
系の検出レベル以下の粒子であるから前記全粒子検出計
数値には含まれていない。一画像粒子計数値と静止粒子
画像中の粒子との対応が付けられると、対応付けられた
粒子画像についてパターン認識識別処理を行い粒子の種
類を確定する。この作業が全画像に対し処理されること
により、サンプル中の各種類の粒子存在比率を確定す
る。

【００４４】前記粒子存在比率を決めるためには、粒子
検出系で検出された粒子、すなわち対応の取れた粒子に
対してのみ処理が実施される。撮像された静止粒子画像
中に存在する粒子検出レベル以下の粒子については、粒
子検出系の検出全粒子数には含まれていないため処理を
実施することができない。

【００４５】前記粒子存在比率が確定すると、粒子検出
全粒子数を粒子検出計数器により別に測定し、前記粒子
検出全粒子数に前記粒子存在比率を乗ずることにより、
サンプル中の種類ごとの粒子個数を計算する。各種類の
粒子個数より、単位体積当たりの粒子濃度を計算する。
また、粒子検出系に一次元イメージセンサを使用しても
差し支えない。

【００４６】つぎに、粒子検出系で検出した一画像粒子
数と静止粒子画像内に存在する粒子との対応の付け方を
説明する。粒子検出手段として、レーザ光束をサンプル
流れに照射し、サンプル内の粒子からの光散乱を検出す
る場合について説明する。

【００４７】粒子からの光散乱強度は、粒子の実効散乱
断面積に比例するから、おおよそ粒子の大きさに関する
情報をおもに含んでので、粒子検出信号と静止粒子画像
内に存在する粒子との対応は、例えば粒子面積または粒
子直径情報により行われる。粒子画像から上記特徴パラ
メータの抽出は、通常のパターン認識で行われている特
徴抽出方法を使うことで粒子面積、直径情報を容易に得
る。

【００４８】粒子検出信号の所定検出レベル以上を解析
対象とする場合には、一つの静止粒子画像中に存在する
粒子の粒子面積または直径値を画像解析から計算し、前
記計算値を大きいものから順に並べ替える。前記並べ替
えた値の大きいものから粒子検出系で検出した一画像粒
子計数分だけ取り出し、この取りだしたものを粒子検出
系で検出された粒子とし、正規識別処理対象として解析
を行い、残りの粒子に対しては、別枠識別処理が行われ
る。このようにして、粒子検出系の一画像粒子計数値と
撮像された静止粒子画像内に存在する粒子との対応付け
をする。

【００４９】次に、別枠識別処理について述べる。粒子
検出系の一画像粒子数と正規識別処理対象粒子の対応を
付けた後、撮像された静止粒子画像に残存している未処
理粒子について分類識別処理を実行する。これらの未処
理粒子は、粒子検出系で検出されていない粒子が、撮像
された静止粒子画像に存在する粒子である。しかし、こ
れらの未処理粒子の中には重要な粒子が含まれているこ
とがあり、その情報を捨ててしまうことはできない。

【００５０】前記未処理粒子のサンプル中での濃度、数
量を確定するには、単位体積当たりの個数、実際には、
全画像を処理した後の全画像に相当するサンプル体積当
たりの粒子数を計算し、さらに、全測定サンプル当たり
に換算し直すことで、サンプルに占める粒子数、粒子数
比率等が決められる。このように、画像処理したサンプ
ルに相当するサンプル体積を計算することがが必要であ
る。測定終了時に、正規識別処理と上記別枠処理との結
果を組み合わせて、最終結果とする。

【００５１】別枠識別結果の中には、本来正規識別結果
に含まれるべき粒子が存在し、正規識別結果に加える必
要がある。正規識別処理に入らないが例外的に重要な粒
子が含まれる場合にも、結果として報告する。粒子サイ
ズが小さくて粒子検出で検出するにはノイズ信号と同一
信号レベルであったり、粒子個数が非常に多く解析画像
が膨大になる場合には、粒子検出レベルを高くし、解析
する静止粒子画像数を減らす方式がよい。

【００５２】上述の一連の画像処理を測定サンプルにつ
いて行うことにより、サンプル中の各粒子種類ごとの存
在比率、粒子数を決定することができる。これらの値か
ら、測定サンプル中の単位体積当たりの粒子濃度、また
は顕微鏡視野換算の粒子数を知る。前記顕微鏡視野換算
の粒子数とは、適当な倍率の顕微鏡視野に存在する平均
粒子数で、予め顕微鏡視野に相当するサンプル体積を設
定することが必要である。

【００５３】粒子検出系の一画像粒子計数値と正規識別
処理対象粒子の対応を付けたのち、静止粒子画像に残っ
ている粒子について別枠識別処理を実行する場合、測定
精度を保持するのに必要な画像処理されるサンプル体積
が必要である。しかし、粒子検出系で検出された粒子数
が少ない場合には、十分な静止粒子画像数を確保するこ
とができず、結果として画像処理されるサンプルの体積
が十分取れないことがある。

【００５４】前記別枠識別処理は、撮像された静止粒子
画像にもとずいて解析処理を行うため、もとの正規識別
処理対象粒子がサンプル中に存在する割合が少ない場合
には、画像処理したサンプル体積をもとに別枠識別処理
の粒子濃度を算定することから、誤差が多くなる危険性
がある。このことは、サンプル中に粒子が余り存在しな
いためであり、解析精度に問題があるわけではない。

【００５５】このように画像処理されるサンプルの体積
が十分取れない場合に別枠識別を行うには、測定精度が
十分取れないがことから、別枠識別処理を中止するか、
または別枠識別処理を行っても測定精度が悪いこと、デ
ータが信頼できないことをオペレータに知らせることが
必要である。ただし、別枠識別処理される粒子の中で、
特に重要な粒子が存在する場合については測定精度に関
係なく報告しなければならない。

【００５６】別枠識別処理の測定精度として、別枠識別
処理される全粒子数Ｎを基準としてその再現性を検討し
てみる。この場合の再現性は、１／ＳＱＲＴ（Ｎ）であ
るから、再現性５％を基準にするとＮ＝４００、再現性
１０％を基準にするとＮ＝１００となる。しかし、別枠
識別処理の再現性を２０％以上に設定してもよければＮ
＝２５でも十分である。

【００５７】別枠識別処理した全粒子数を計数し、予め
設定した粒子数以上に達しておれば、別枠識別処理結果
を有効と判断する。その粒子数に達していなければ、無
効と判断するか、またはどの程度の測定精度かを表示す
ることにより測定結果の有効性を決定する。

【００５８】ここでは、別枠識別処理される全粒子数Ｎ
を基準とした再現性で判断する例を示したが、個々の種
類別の粒子数再現性を判断基準にしても良いし、単に処
理画像数を基準にとっても良いし、別枠識別処理のサン
プル体積を基準に考えても良い。これらの判断基準は、
予め測定する前に設定することが必要である。

【００５９】さらに、別枠識別処理における測定結果
が、上述した判断基準に満たない場合には、オペレータ
に知らせる手段が必要である。測定結果の後に、コメン
トを付けたり、記号を付けて表示するのが良い。また、
上述した別枠識別処理における危険性よりも、一個でも
特定粒子が存在により重要な情報をオペレータに提供す
る粒子に対しては、分類結果をそのまま出力する。この
ようにして、例外粒子に対して測定結果が得られないと
いう問題を生じさせない。

【００６０】また、上述した別枠識別処理で処理した粒
子の中に正規識別処理対象粒子が存在する場合、単位体
積当たりの粒子濃度に計算した後、正規識別処理粒子に
組み入れることにより、粒子の分類精度を改善する。こ
の場合にも、上述した別枠識別処理における測定精度の
危険性を考慮して正規識別結果に組み入れるため、組入
れによって測定精度の低下はない。

【００６１】全ての粒子検出により撮像された画像につ
いて、対応づけされた正規識別処理対象粒子を選別し、
別枠識別処理を実行することにより、粒子検出された全
粒子による分類個数、分類比率を知ることができる。

【００６２】しかし、正規識別処理された粒子の中に
は、本来処理対象外の粒子が存在することがある。この
ような正確な対応関係がとれない場合には、パターン認
識による粒子分類処理で、粒子検出系の検出された対象
外の正規分類識別処理粒子であるかどうかをチェック
し、別枠分類識別処理対象粒子として別枠分類対象粒子
に入れる方法、または処理を最後まで実行し、解析終了
時点で、単位体積当たりの粒子個数を算出して、粒子検
出対象粒子の結果から差し引くことにより対処する。

【００６３】これまでの説明では、同一解析サンプルに
対して解析条件は一定として考えてきたが、実際のサン
プル解析においては、解析モードを変えて実施すること
がある。このような解析モードが複数個の場合にも、そ
れぞれの解析モードについて上述した正規識別処理、別
枠識別処理を行わせる。

【００６４】例えば、ある種類の粒子について、第一の
解析モードでは別枠識別対象粒子を、第２の解析モード
では正規識別対象粒子にするように解析を行えば、解析
終了後、個々の解析モードの分類識別結果を総合して、
一解析サンプル全体の粒子解析結果として整理すること
により解析精度の改善をする。

【００６５】

【作用】上記各技術的手段の働きは次のとおりである。
本発明の構成によれば、液体中に懸濁する粒子サンプル
をフローセル中に流し、フローセル中の粒子検出領域を
通過する粒子を検出し、前記フローセル中の撮像領域を
通過した検出粒子の静止画像を撮像し、撮像した粒子画
像を画像解析することにより粒子の形態学的分類をおこ
ない、一画像粒子数計数値と静止粒子画像中に存在する
粒子とを対応させたので、前記画像中のどの粒子が検出
粒子であるかを確認することができる。そのため、静止
粒子画像中に粒子検出レベルより小さな粒子が同時に存
在しても、それらを検出粒子から除外し、全画像解析処
理した粒子数と一画像粒子数計数値とを一致させること
ができる。

【００６６】また、一般に、粒子検出系の粒子検出と静
止粒子画像を画像処理する原理とが異なる場合におい
て、画像処理の特徴量には、前記検出粒子からの光散乱
による粒子サイズ特徴量のように、粒子検出系の粒子検
出原理に近い画像処理の特徴量が存在するため、粒子検
出系の粒子検出と静止粒子画像中の粒子との対応を容易
に付けることができる。

【００６７】粒子検出信号の所定検出レベル以上を処理
対象とする場合には、一枚の静止粒子画像中に存在する
粒子の粒子面積または直径などの特徴数値を画像処理に
より計算し、これらの値の大きいものから順に並べ替え
ること、かつ、並べ替えた値の大きいものから粒子検出
系により検出した一定の信号レベル以上の画像粒子数
分、すなわち一画像計数値分だけ取り出すことにより、
粒子検出系で検出された検出粒子と前記静止粒子画像中
に存在する粒子とを対応させることができる。

【００６８】粒子検出系で検出された検出粒子と対応づ
けられた静止粒子画像中の粒子に対し、画像処理および
パターン認識処理により、個々の粒子を分類識別するこ
とができ、その結果、検出粒子のサンプル中に存在する
粒子種類別存在比率を知ることができる。

【００６９】さらに、粒子検出系には静止粒子画像とし
て撮像の有無に関係なく、サンプル中の一定検出信号レ
ベルより大きい全粒子を計数する手段が設けてあるた
め、画像取り込みにおいて生じるデットタイムによる粒
子画像処理における粒子の数え落としをなくすることが
できる。

【００７０】サンプル中の全粒子と、画像処理した結果
より知ることができる個々の粒子存在比率とから、サン
プル中の種類ごとの粒子個数、単位体積当たりの粒子濃
度、単位顕微鏡視野換算の粒子数を知ることが可能とな
る。静止粒子画像を撮影するためのフラッシュランプ光
による粒子検出信号の誤計数を防ぐ手段を有するため、
フラッシュランプ発光による影響を防ぐことができる。

【００７１】さらに、上述したように静止粒子画像中の
粒子検出系における一定検出レベルより小さい小粒子に
対して別枠識別処理を施すことが可能になり、画像中に
存在する粒子検出レベルより小さい粒子についても分類
解析することができる。これら小粒子の中には、正規識
別処理対象粒子であるもの、正規識別処理対象粒子では
ないがその粒子の存在が重要な情報を提供するもの等が
含まれており、前記別枠識別処理により、処理された粒
子の存在比率を計算したり、解析処理した全静止粒子画
像に相当するサンプル体積から、解析処理された粒子に
対する単位体積当たりの粒子濃度、顕微鏡視野換算の粒
子数を知ることができる。

【００７２】前記別枠識別処理は、この別枠識別粒子の
全処理粒子数をもとに測定精度を判断し、その旨を報告
するようになっているため、全処理粒子数値と予め設定
した数値とを比較して、測定精度が保証できなくなった
場合には、その旨を報告し、別枠識別処理による誤差を
少なくすることができる。また、前記別枠識別処理は、
分類結果をそのまま出力することができるため、一個で
も特定の粒子が存在することがより重要な情報がある場
合には、例外粒子に対しても解析結果が得られる。

【００７３】また、上述した別枠識別処理により処理さ
れた粒子の中に正規識別処理粒子が存在する場合、単位
体積当たりの粒子濃度に計算した後、正規識別処理結果
に組み入れるため、粒子の解析精度を改善することが出
来る。この場合にも、上記別枠識別処理における解析精
度の低下を判断して正規識別処理結果に組み入れるた
め、前記別枠識別処理の結果を組入れにることによる測
定精度の低下を防止することができる。

【００７４】なお、これらの判断基準は、予め粒子解析
する前に設定し、別枠識別処理における測定結果が上記
判断基準に満たない場合には、オペレータに知らせるこ
とができるため、解析結果を安心して判断する事が出来
る。上記静止粒子画像の中には、サンプル解析上重要な
粒子が含まれていることがあるため、その情報を捨てて
しまうことはできないが、上述した別枠識別処理を行う
ことで確実にこれら粒子を解析することができ、全体の
解析精度を悪化させることはない。

【００７５】また、前記正規識別処理、前記別枠識別処
理は、解析対象粒子の範囲の異なる解析モードが複数あ
る場合にも、それぞれの解析モードについて行わせるこ
とができる。例えば、ある種類の粒子について、第一の
解析モードでは別枠分類識別対象粒子を、第二の解析モ
ードでは正規識別処理をおこなえるように解析を行え
ば、解析終了後個々の解析モードの分類識別結果を総合
して、解析サンプル全体の粒子解析結果としてまとめて
解析精度の改善が計ることができる。

【００７６】

【実施例】以下、本発明の各実施例を図１、２、３、
４、５を参照しながら説明する。図１は、本発明の一実
施例に係るフロー式粒子画像解析方法に用いられるフロ
ー式粒子画像解析装置の構成を示す略示説明図、図２
は、図１の実施例における粒子数解析部の構成を示すブ
ロック図、図３は、図１の実施例における粒子検出位置
および静止粒子画像取り込み位置の関係を示す説明図、
図４は、図１の実施例における一画像粒子計数の信号タ
イミング関係を示す線図、図５は、図２の粒子数解析部
の処理内容を説明するフロチャート図である。

【００７７】図１において、１００はフローセル、１０
１は画像撮像手段、１０２は粒子検出手段、１０３は粒
子解析手段、１はフラッシュランプ、１ａはフラッシュ
ランプ駆動回路、２はフィールドレンズ、３は顕微鏡コ
ンデンサレンズ、５は顕微鏡対物レンズ、６は結像位
置、７は投影レンズ、８はＴＶカメラ、１１は視野絞
り、１２は開口絞り、１４は微小反射鏡、１５は半導体
レーザ、１７はコリメータレンズ、１８はシリンドリカ
ルレンズ、１９は反射鏡、２０はビームスプリッタ、２
１は絞り、２２は光検出回路、２３はフラッシュランプ
点灯制御回路、２４はＡＤ変換器、２５は画像メモリ、
２６は画像処理制御回路、２７は特徴抽出回路、２８は
識別回路、２９は中央制御部、４０は粒子数解析部、５
０は表示部である。

【００７８】図１において、本実施例に係るフロー式粒
子画像解析方法に用いられるフロー式粒子画像解析装置
は、粒子を懸濁させたサンプル液が供給されるフローセ
ル１００と、前記フローセル１００中のサンプル液を撮
像する画像撮像手段１０１と、撮像された画像から粒子
を検出する粒子検出手段１０２と、検出された粒子を分
析する粒子解析手段１０３とを備えている。

【００７９】前記フローセル１００は、サンプル液１１
０と共にシース液１１１が供給され、サンプル液１１０
がシース液１１１に包まれる流れを形成する。そしてサ
ンプル液流れ１１０は、画像撮像手段１０１（後述）の
顕微鏡光軸９（後述）に対して垂直方向に偏平な断面形
状を有する安定した定常流、いわゆるシースフローとな
り、前記フローセル１００の中心を紙面の上方から下方
へ向かって流下する。このサンプル液流れ１１０の流速
は、中央制御部２９（後述）により制御される。

【００８０】前記画像撮像手段１０１は、顕微鏡として
の機能を有し、パルス光源であるフラッシュランプ１
と、フラッシュランプ１を発光させるフラッシュランプ
駆動回路１ａと、フラッシュランプ１からのパルス光束
を平行にするフィールドレンズ２と、フィールドレンズ
２からの平行なパルス光束１０をフローセル１００内の
サンプル液流れ１１０に集束させる顕微鏡コンデンサレ
ンズ３と、フローセル１００内のサンプル液流れ１１０
に照射されたパルス光束を集光し結像位置６に結像させ
る顕微鏡対物レンズ５と、投影レンズ７を介して投影し
た結像位置６の粒子像を、いわゆるインターレース方式
により取り込み電気信号である画像データ信号に変換す
るＴＶカメラ８と、パルス光束１０の幅を制限する視野
絞り１１および開口絞り１２とを具備している。上記Ｔ
Ｖカメラ８としては、残像の少ないＣＣＤカメラ等が一
般に用いられる。

【００８１】前記粒子検出手段１０２は、検出光として
のレーザ光を発する検出光源である半導体レーザ１５
と、半導体レーザ１５からのレーザ光を平行なレーザ光
束１４にするコリメータレンズ１６と、コリメータレン
ズ１６からのレーザ光束１４の一方向のみを集束させる
シリンドリカルレンズ１７と、シリンドリカルレンズ１
７からのレーザ光束１４を反射させる反射鏡１８と、顕
微鏡コンデンサレンズ３とフローセル１００との間に位
置し、前記反射鏡１８からのレーザ光束１４をサンプル
液流れ１１０上の画像取り込み領域の上流側近傍に導く
微小反射鏡１９とから構成されている。

【００８２】さらに、前記粒子による上記レーザ光束１
４の散乱光を集光する顕微鏡対物レンズ５（この顕微鏡
対物レンズ５は、画像撮像手段１０１の結像用の顕微鏡
対物レンズ５と共用される）と、前記顕微鏡対物レンズ
５で集光された散乱光を反射させるビームスプリッタ２
０と、前記ビームスプリッタ２０からの散乱光を絞り２
１を介して受光し、その強度に基づく電気信号を出力す
る光検出回路２２と、前記光検出回路２２からの電気信
号に基づいて前記フラッシュランプ駆動回路１ａを作動
させるフラッシュランプ発光制御回路２３とを具備して
いる。

【００８３】前記粒子解析手段１０３は、上記ＴＶカメ
ラ８から転送された画像データ信号をデジタル信号に変
換するＡＤ変換器２４と、前記ＡＤ変換器２４からの信
号に基づくデータを所定のアドレスに記憶する画像メモ
リ２５と、前記画像メモリにおけるデータの書き込みお
よび読み出しの制御を行う画像処理制御回路２６と、前
記画像メモリ２５からの信号に基づき画像処理を行い粒
子数や分類を行う特徴抽出回路２７と、識別回路２８
と、中央制御部２９と、サンプル液１１０中の粒子数を
決定する粒子数解析部４０と、上記の画像処理の結果で
ある粒子数や分類を表示する表示部５０とからなってい
る。

【００８４】前記中央制御部２９は、前記ＴＶカメラ８
の撮影条件や前記フローセル１００のサンプル液流れの
条件、前記画像処理制御回路２６の制御、前記識別回路
２８からの画像処理結果の記憶、前記粒子数解析部４０
とのデータの授受、前記表示部５０への表示等を行うよ
うに構成されている。

【００８５】次に、図２を参照して、前記粒子数解析部
４０の構成について説明する。図中、図１と同一符号
は、同等部分であるので、詳細な説明を省略する。図２
において、４１は全粒子計数回路、４２は１画像粒子計
数回路、４３は１画像粒子検出タイミング発生回路、５
０は表示部、６１は１画像対応特徴パラメータデータ
部、６２は粒子分類結果部、６３は全画像数計数部、６
４は解析条件設定部、６５はパラメータデータ大小並べ
替え部、６６は対応部、６７は粒子分類結果対応部、６
８は正規分類結果部、６９は別枠分類結果部、７０は分
類結果集計部である。

【００８６】図２において、前記粒子数解析部４０を構
成する全粒子計数回路４１は、光検出回路２２からの粒
子検出信号を入力し、全解析時間中の全検出粒子数を計
数するようになっている。また、１画像粒子計数回路４
２は、粒子検出後フラッシュランプ発光によって撮像さ
れた画像内に存在する粒子検出レベルより大きい粒子を
計数する。１画像粒子検出タイミング回路４３は、前記
粒子検出信号２２と前記画像処理制御回路２６からとの
制御信号により、１画像粒子検出の粒子計数の時間タイ
ミングを発生するようになっている。

【００８７】さらに、解析条件設定部６４にはサンプル
解析条件を、全画像計数部６３には全画像計数、すなわ
ち、１画像処理するごとに計数量が１増加させ、粒子分
類結果部６２には１画像処理した粒子画像の粒子分類結
果、１画像対応特徴パラメータデータ部６１には分類さ
れた各粒子の特徴量の中で検出粒子と対応づけるパラメ
ータのデータをそれぞれ中央制御部２９よりセットされ
るようになっている。

【００８８】さらに、パラメータデータ大小並べ替え部
６５においては、上記１画像対応特徴パラメータデータ
部６１にセットされた特徴パラメータを大きいデータ値
の順番にて整列させるようになっている。データ対応部
６６では、大きい順に並べられたパラメータデータのう
ち、大きい方から１画像粒子計数回路にセットされてい
る個数だけを検出粒子、残りを検出粒子以外のものと判
断するようになっている。

【００８９】このデータ対応部６６の結果を基にして、
粒子分類結果部６２にセットされている粒子分類結果
を、粒子分類結果対応部６７により正規識別処理の対象
粒子と別枠識別処理の対象粒子とに選別し、各々正規分
類結果部６８および別枠分類結果部６９にセットする。

【００９０】最後に、全粒子数を計数する全粒子回路４
１、全処理画像数を計数する全画像数計数部６３、解析
条件設定部６４、正規分類結果部６８および別枠分類結
果部６９の粒子識別処理結果を基にして、分類結果集計
部７０において最終処理結果がまとめられるようになっ
ている。その結果は、前記中央制御部２９に伝送され、
必要に応じて前記表示部５０に出力表示される。

【００９１】上記構成のフロー式粒子画像解析方法とそ
れに用いられるフロー式粒子画像解析装置の働きを説明
する。まず、画像撮像手段１０１と、粒子検出手段１０
２との動作を説明する。半導体レーザ１５は、常時連続
的に発振しており、つねにサンプル１１０中の粒子が検
出領域を通過するのを観測している。前記半導体レーザ
１５からのレーザ光束１４は、コリメータレンズ１６に
おいて平行なレーザ光束に変換され、シリンドリカルレ
ンズ１７において前記光束１４の１方向のみ集束され
る。

【００９２】前記レーザ光束１４は、反射鏡１８および
微小反射鏡１９で反射されフローセル１００内のサンプ
ル液流れ１１０上に照射される。この照射位置は、シリ
ンドリカルレンズ１７によってレーザ光束１４が集束す
る粒子検出位置であり、サンプル液流れ１１０上の画像
取り込み領域の上流側近傍の位置である。解析対象であ
る粒子が上記レーザ光束１４を横切ると、このレーザ光
束１４は散乱される。

【００９３】前記レーザ光束の散乱光は、ビームスプリ
ッタ２０で反射され、光検出回路２２において受光さ
れ、その強度に基づく電気信号に変換される。さらに、
前記光検出回路２２は、粒子検出の電気信号が所定の信
号レベル以上あるかどうかを判断する。前記検出電気信
号が所定の信号レベル以上あれば画像処理対象粒子が通
過したものとし、検出信号はフラッシュランプ発光制御
回路２３および粒子数解析部４０に伝送される。

【００９４】前記検出信号をうけた前記フラッシュラン
プ発光制御回路２３では、画像処理対象粒子が、前記Ｔ
Ｖカメラ８の画像取り込み領域の所定位置に達したとき
にフラッシュランプ１が発光し撮像が行われるように、
所定の遅延時間遅らせた粒子検出信号と、前記ＴＶカメ
ラ８のフィルド信号のタイミングに基づいて、フラッシ
ュランプ発光のタイミングを定め、フラッシュ発光信号
を発生させ、駆動回路１ａに送られる。

【００９５】前記所定の遅延時間は、粒子検出位置と画
像取り込み領域との距離およびサンプル液１１０の流速
等により決定される。この遅延時間は、粒子検出位置と
画像取り込み領域との距離がわずかであるために非常に
短い時間であり、粒子の検出や分析精度がサンプル液の
流速や粒子濃度の影響を受けることはない。

【００９６】前記フラッシュ発光信号が前記フラッシュ
ランプ駆動回路１ａに伝送されると、前記フラッシュラ
ンプ駆動回路１ａは前記フラッシュランプ１を発光させ
る。前記フラッシュランプ１より発せられたパルス光は
顕微鏡光軸９上を進み、フィールドレンズ２により平行
光となり、顕微鏡コンデンサレンズ３により集束されて
フローセル１００内のサンプル液流れ１１０上に照射さ
れる。なお、視野絞り１１および開口絞り１２によりパ
ルス光束１０の幅が制限される。

【００９７】前記フローセル１００内の前記サンプル液
流れ１１０に照射されたパルス光束は、前記顕微鏡対物
レンズ５で集光され、結像位置６に像を結像する。この
結像位置６の像は、投影レンズ７によりＴＶカメラ８の
撮像面上に投影され、インターレース方式により画像デ
ータ信号に変換される。このようにして、サンプル液１
１０内の粒子の静止粒子画像が撮像されたことになる。
上記ＴＶカメラ８における撮像条件は、中央制御部２９
に予め設定されており、この撮像条件によって前記ＴＶ
カメラ８の撮像動作が制御される。

【００９８】粒子解析手段１０３について説明する。上
記ＴＶカメラ８により撮像され、インターレース方式に
より変換される画像データ信号は、ＡＤ変換器２４でデ
ジタル信号に変換され、これに基づくデータが、画像処
理制御回路２６に制御され、画像メモリ２５の所定のア
ドレスに記憶される。

【００９９】前記画像メモリ２５に記憶されたデータ
は、画像処理制御回路２６の制御により読み出され、特
徴抽出回路２７および識別回路２８に入力されて画像処
理が行われ、中央制御部２９にその結果が記憶される。
前記中央制御部２９に記憶される内容は、粒子分類に用
いられた粒子識別特徴パラメータと粒子分類結果データ
とである。

【０１００】粒子の分類識別処理は、通常行われている
パターン認識処理により自動的に行われる。この画像処
理結果と測定条件および画像処理された画像数情報が、
前記中央制御部２９から粒子数解析部４０に送られる。
前記粒子数解析部４０においては、前記中央制御部２
９、上記光検出回路２２からの粒子検出信号および画像
処理制御回路２６からの制御信号をもとに、検出粒子と
粒子分類結果との対応関係を調べ、最終的な粒子画像の
分類識別結果のまとめが行われる。

【０１０１】次に、図２を参照して粒子数解析部４０を
説明する。全粒子計数回路４１は、光検出回路２２から
の粒子検出信号を全測定時間中に粒子検出系を通過した
一定の検出レベル以上の信号を計数し、測定終了時には
全検出粒子数が得られる。

【０１０２】一方、１画像粒子計数回路４２は、粒子検
出後フラッシュランプ１の発光によって撮像された１画
像内に存在する検出レベルより大きい粒子を計数する。
その時の一画像粒子検出の粒子計数の時間タイミング信
号は、画像処理制御回路２６からの制御信号を基づき一
画像粒子検出タイミング発生回路４３より発信される。

【０１０３】ここで、図３を参照して、一画像粒子計数
における粒子検出位置と静止粒子画像取り込み位置の関
係について説明する。図３に示す如く、Ｔｇは、粒子が
画像のＢ端からＡ端まで流れるに要する時間、Ｔｅは、
粒子が静止粒子画像取り込み視野のフラッシュランプ発
光位置ＰからＡ端まで流れるに要する時間、Ｔｏは、粒
子が画像のＢ端からフラッシュランプ発光位置Ｐまで流
れるに要する時間とすれば、Ｔｇ＝Ｔｅ＋Ｔｏ

【０１０４】測定サンプル中の粒子が粒子検出位置を通
過し、粒子検出信号が所定のレベル以上であれば粒子を
検出すれば、検出パルス信号を出力する。検出パルス信
号を出力後、粒子が静止粒子画像取り込み領域の所定の
位置まで達するまでのディレイ時間Ｔｄ経過後、フラッ
シュランプ１を発光させる。

【０１０５】フラッシュランプ１の発光条件は、次のと
おりである。一つ前の粒子検出による静止粒子画像取り
込みが終了し、すなわち、フラッシュランプ１発光後の
フラッシュランプ１発光の禁止状態にし、二つのフィル
ド読みだし信号により画像信号を一静止粒子画像転送さ
せたのち、再びフラッシュランプ１を発光可能状態にす
る。この状態にするのがランプ発光レデイ信号であり、
フラッシュランプ制御回路２３でつくられる。

【０１０６】ランプ発光レデイ信号の信号レベルが、”
ｏｎ”であれば、フラッシュランプ１は発光レデイ状
態、”ｏｆｆ”あれば発光禁止状態である。図３におい
ては、ｙ粒子が検出されたのち、Ｔｄ時間経過後、フラ
ッシュランプ１を発光させているが、ｙ粒子検出前に通
過した粒子が、流れの下流側に存在する可能性がある。

【０１０７】前記粒子として、ｙ粒子通過以前の時間間
隔Ｔｅの位置に存在するもので、例えば、ｘ粒子が相当
する。Ｐ点からＡ端までサンプル粒子が流れていく時間
Ｔｅの間において、ランプ発光レディ信号がまだ”ｏ
ｎ”状態になっていない場合があるためである。これ
は、サンプル中の粒子濃度が濃い場合に顕著に現われ
る。このような状態が発生する区間を図４のランプ発光
レディ信号の斜線区間で示した。

【０１０８】前記ランプ発光レディ信号が”ｏｎ”にな
ってからランプ発光までの時間がＴｅより大となると、
下流側の粒子、例えば、ｘ粒子が画像上から流れ去り、
この斜線の部分はなくなる。一画像粒子計数の時間間隔
は、粒子が静止粒子画像取り込み領域を通過する時間Ｔ
ｇの間である。

【０１０９】各信号のタイミングを図４を参照して示
す。粒子検出信号には、粒子ｘ，ｙ，ｚの３個から検出
信号が発生するとする。タイミングよくフラッシュラン
プ１を発光させるには、粒子が検出後、時間Ｔｄ遅らせ
た粒子検出ディレイＴｄ信号を発信させればよい。ここ
で、ランプ発光レディ信号が”ｏｎ”または”ｏｆｆ”
状態でランプ発光すべきかどうかが決まる。

【０１１０】図４において、一つ前のフレームで静止粒
子画像を取り込み中であったため、ランプ発光レディ信
号が始めから”ｏｎ”になっておらず、垂直同期信号に
よりランプ発光レディ信号がレディ”ｏｎ”になった。
このため、粒子ｘではフラッシュランプは発光せず、次
のｙ粒子で発光され、ランプ発光レディ信号は”ｏｆ
ｆ”になる。

【０１１１】以上のように、前記フラッシュランプ１の
発光が起こらなければ、一画像の粒子数の計数が始めら
れない。しかし、その時には、ｘ粒子は流れの下流に存
在し、かつ、粒子画像取り込み領域にある。一画像粒子
数を計数するためには、フラッシュランプ発光よりＴｅ
時間前から計数をスタートしていることが必要である。

【０１１２】そのためには、粒子検出ディレイＴｄ信号
をさらにＴｅ時間遅らせ、粒子検出ディレイＴｄ＋Ｔｅ
信号を出力する。一画像粒子カウンタは、フラッシュラ
ンプ発光から時間Ｔｇまでの間、Ｔｏ＋Ｔｅ信号間を計
数すれば良い。Ｔｇは粒子が画像の両端間を流れる時間
である。Ｔｇ時間経過後、一画像粒子カウントデータを
必要箇所に転送する。

【０１１３】再び、図３を参照して、さらに説明する。
Ｐ点でフラッシュランプが発光してから時間Ｔｏの時間
だけ通過した粒子を計数するのでは、ｘ粒子は計数され
ず、正しい一画像中に存在する粒子数を知ることができ
ない。一画像粒子計数はＴｇ時間実行されなければなら
ない。

【０１１４】しかし、粒子検出がなされフラッシュラン
プ１が発光してからでは、画像面のＡ端からフラッシュ
ランプ発光Ｐ点までの粒子は、粒子計数されず流れすぎ
たあとになる。そこで、粒子検出ディレイＴｄ信号より
さらにＴｅ時間遅らせた粒子検出ディレイＴｄ＋Ｔｅ信
号を作り、一画像粒子計数時間をＴｇ＝Ｔｅ＋Ｔｏにす
ることにより正しい一画像粒子計数動作が行われる。上
記は、タイミングの一例にすぎない。

【０１１５】再び、図２を参照してフロー式粒子画像解
析を説明する。解析条件設定部６４に設定されるサンプ
ル解析条件のデータは、分類結果集計部７０における処
理内容によって決められる。基本的には、解析サンプル
体積、解析時間、一静止粒子画像相当のサンプル体積、
顕微鏡一視野相当のサンプル体積、解析モード等のデー
タが必要であるが、分類処理内容によっては上述したデ
ータの中で省略してもよい事項もある。

【０１１６】全画像計数部６３では、一画像処理するご
とに計数量が一増加させ、解析終了時には解析時間内に
画像処理した全画像数が記憶されている。一画像分を画
像処理した静止粒子画像の粒子分類結果は、識別回路２
８および中央制御部２９をへて粒子分類結果部６２にセ
ットされる。同時に、その分類された各粒子の分類識別
に使用した特徴量の中で、粒子検出系の検出原理に一番
近い特徴量を一画像対応特徴パラメータデータ部６１に
セットする。これは、検出系による一画像粒子計数値と
撮像された静止粒子画像と対応づけるために必要であ
る。

【０１１７】次に、一画像対応特徴パラメータデータ部
６１にセットされた静止粒子画像中に存在する全粒子の
検出粒子と対応を取る特徴パラメータデータは、パラメ
ータデータ大小並べ替え部６５において大きい順番で整
列される。もちろん、粒子検出系の検出原理が粒子のサ
イズなど大小関係で対応できる場合には大小関係で並べ
替えを行われるが、別な原則により、並べ替える方法を
使用しても差し支えない。

【０１１８】対応部６６では、パラメータデータ大小並
べ替え部６５において大きい順に並べられたパラメータ
データのうち、大きい方から一画像粒子計数回路４２に
セットされている個数分だけを検出粒子と、検出粒子以
外の残りのものとに区分けする。

【０１１９】前記対応部６６の対応区分け結果を基にし
て、粒子分類結果部６２にセットされている粒子分類結
果を次の粒子分類結果対応部６７において、一定信号レ
ベル以上の正規識別処理対象粒子と、一定信号レベル以
下の別枠識別処理対象粒子とに選別し、各々の結果を正
規分類結果部６８および別枠分類結果部６９とにセット
する。

【０１２０】正規分類結果部６８および別枠分類結果部
６９では、それまでに識別分類されている結果に加算す
る操作が行われる。加算する場合に、正規分類結果部６
８では複数種類の粒子を種類ごとに加算される。同じく
別枠分類結果部６９についても別枠分類粒子の複数種類
ごとに加算する。解析終了時には画像処理された全粒子
に関して種類ごとに累計が求められる。

【０１２１】一つのサンプルの解析が終了すると、解析
サンプルに関する粒子検出レベル以上の全粒子数が全粒
子計数回路４１、画像処理された全画像数が全画像数計
数部６３、正規識別処理対象粒子の分類累計数が正規分
類結果部６８に、さらに別枠識別処理対象粒子の分類累
計数が別枠分類結果部６９に格納されていることにな
る。

【０１２２】上述した各格納データは、このデータを基
にして、分類結果集計部７０にて最終結果として整理さ
れ、その結果は中央制御部２９に返され、必要に応じて
表示部５０に出力表示される。

【０１２３】図５に示したフローチャートにより粒子解
析の順序を説明する。ステップ１において、粒子サンプ
ルの解析が開始されると、始めに解析条件が解析条件設
定部６４にセットされる。セットされる解析条件は、正
規分類と別枠分類との区分、解析時間、解析量、分類種
類、解析モード等である。

【０１２４】ステップ２において、粒子検出・画像処理
の一連の処理がサンプル全体について終了しているか、
どうか判断され、終了していなければステップ３に進
む。ステップ３において、一静止粒子画像について粒子
検出、粒子画像撮像、粒子特徴抽出および粒子分類識別
を実行されステップ４に進む。

【０１２５】ステップ４において、一静止粒子画像につ
いて粒子分類結果および対応特徴パラメータデータが、
それぞれ粒子分類結果部６２および一画像対応特徴パラ
メータ部に格納され、ステップ５に進む。ステップ５に
おいて、対応特徴パラメータデータの大小並べ替えをパ
ラメータ大小並べ替え部６５で行われ、ステップ６に進
む。

【０１２６】ステップ６において、一画像粒子計数回路
４２に一画像粒子計数値をセットし、ステップ７に進
む。ステップ７において、前記セットされている一画像
粒子計数値をもとに、前記一画像粒子計数値と画像処理
対象粒子との対応関係を対応部６６で処理し、ステップ
８に進む。ステップ８において、正規識別処理対象粒子
の解析結果を粒子種類ごとに加算処理が正規分類結果部
６８にて行われ、ステップ９に進む。

【０１２７】ステップ９において、別枠識別処理対象粒
子の解析結果を粒子種類ごとに別枠分類結果部６９加算
処理が別枠分類結果部６９で実行されステップ２にもど
る。ステップ２においては、上記粒子検出・画像処理の
一連の処理が全て終了するまで繰り返される。サンプル
の解析が全て終了すると、ステップ１１に進む。

【０１２８】ステップ１１においては、分類結果集計部
７０においては、全粒子計数回路４１により解析サンプ
ルに関する粒子検出レベル以上の全粒子数、全画像数計
数部６３により画像処理された全画像数が設定され、ス
テップ１２に進む。ステップ１２においては、正規識別
処理対象粒子の分類累計数が正規分類結果部６８、別枠
識別処理対象粒子の分類累計数が別枠分類結果部６９に
それぞれ格納されているデータを読みだし、分類結果集
計部７０にて正規識別処理・別枠識別処理の集計処理を
行い、解析サンプル中の粒子数を決定し、ステップ１３
に進む。

【０１２９】ステップ１３においては、別枠識別処理を
した粒子数と画像処理したサンプル体積によって解析誤
差が大きくなること予想される場合があるので、別枠識
別処理結果のチェックを行い粒子数を決定し、ステップ
１４に進む。

【０１３０】ステップ１４においては、正規識別処理結
果および別枠識別処理結果の各粒子数から各粒子の存在
比率を計算する。次に、正規識別処理対象粒子に関して
は、全検出粒子数を前記存在比率に掛けることによりサ
ンプル中の検出粒子に関する存在個数を決定する。次
に、別枠識別処理結果については、まず全処理画像数と
一静止粒子画像相当サンプル体積より、画像処理したサ
ンプルの総体積を計算し、この中に各別枠識別処理対象
粒子の存在比率にもとずき、解析サンプルの全体積の粒
子数を決定する。

【０１３１】前記正規識別処理および別枠識別処理によ
るそれぞれの結果をもとに、両者に重複して存在する粒
子については一つの粒子種類に整理し、また解析対象外
粒子は捨てられる。これらの解析結果を基にして、サン
プル中の粒子濃度計算、視野換算粒子数計算を行われ、
ステップ１５に進む。ステップ１５においては、分析結
果を出力して終了する。

【０１３２】データの有効・無効の判断は別枠識別処理
した粒子数と画像処理したサンプル体積粒子数をもとに
決められる。これらの判断基準は、予め解析する前に設
定することが必要であるが、例えば解析開始時の解析条
件設定で実施しても差し支えない。複数の解析モード
で、サンプルを解析する場合には、各解析モードにおい
て操作を実行し、最終段階で各モードの解析データを総
合し最終結果とする。

【０１３３】静止粒子画像を撮影するためのフラッシュ
ランプ光による粒子検出信号の誤計数を防ぐ手段が必要
である。このためには、フラッシュランプ発光による影
響を取り除く手段がいる。方法としては、フラッシュラ
ンプ光が粒子検出器に到達しないように光学系を考える
か、電気的にフラッシュランプ信号を計数しないように
する。逆に、フラッシュランプ光も検出し、解析終了時
にランプ発光回数分差し引く方法で誤計数分を補正して
も差し支えない。これは、一画像粒子数および全粒子数
の計数結果に対して実施される。

【０１３４】本発明の一実施例に係るフロー式粒子画像
解析方法およびフロー式粒子画像解析装置は、液体中に
懸濁した生物サンプルや細胞、血液中の赤血球や白血球
などの血球成分、または尿中に存在する尿沈渣成分の分
類および分析に有効である。特に、尿中の尿沈渣成分の
粒子数の計数や粒子の分類においては、サンプルごとに
存在する粒子数は数桁以上違う場合が有るため、粒子検
出手段による検出した粒子に対し画像処理することは、
サンプル液中の粒子数情報を知る上で効果的である。

【０１３５】しかし、尿沈渣成分では粒子の種類と大き
さが非常にバラエティに富み、粒子検出系の検出粒子と
静止粒子画像中の粒子との対応を正確に取ることが出来
ないが、本実施例により、正確な粒子計数、粒子分類、
粒子濃度を解析できる。なお、上記実施例では、フロー
セル中を連続して流れているサンプル液に含まれている
粒子の静止画像を撮像し、その画像解析を行う場合につ
いて述べたが、顕微鏡下で連続して移動しているスライ
ド標本の粒子画像解析にも応用することが出来る。

【０１３６】また、粒子検出系の粒子検出として、半導
体レーザからのレーザ光束を検出光として用い、粒子で
散乱されたレーザ光束を利用する場合について述べた
が、これに限らず粒子からの蛍光や透過光を利用するこ
ともできるし、一次元イメージセンサにより粒子を検出
する方法や、粒子通過による電気抵抗変化により粒子を
検出する方法を利用することもできる。

【００１３７】さらに、粒子検出として、サンプル粒子
が粒子検出系を通過する時間、すなわち電気信号に変換
された検出パルス信号のパルス幅を用いる場合には、粒
子の流れ方向のサイズ情報を反映させることができる。
しかし、粒子検出系の粒子検出と撮像された静止粒子画
像とを対応させる場合は、粒子直径情報または射影情報
が適切である。また、粒子検出と静止粒子画像との対応
関係は、粒子検出の時間関係を記録し、静止粒子画像上
の位置関係と対応させると、粒子検出信号の一つ、一つ
が、正しく静止粒子画像上のどの粒子と対応するかを判
断し正確に行うことができる。

【０１３８】なお、これまでの説明では、検出粒子数と
一静止粒子画像の対応を画像ごとに実施する場合につい
て述べてきたが、一静止粒子画像ごとの粒子数対応に必
要なデータは取るが、対応関係を調べるのは、終了後に
整理しても差し支えない。なお、これまでは画像取り込
みにおいてＴＶカメラ撮像方式としてインターレース走
査について説明したが、ノンインターレース走査方式で
も発明の作用、効果は変わらない。

【０１３９】

【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、粒子検出系と画像撮像系とをそれぞれ具備し、粒子
検出系の原理と画像撮像系の粒子画像識別の原理とが異
なるフロー式粒子画像解析方法およびフロー式粒子画像
解析装置において、検出粒子と静止粒子画像中の粒子と
の対応をさせ、粒子検出系の検出粒子以外の粒子が画像
撮像系の静止粒子画像中に存在しても、サンプル中の各
種類の粒子個数、粒子存在比率、粒子密度、濃度の情報
を正しく知ることができ、解析精度の良好なフロー式粒
子画像解析方法およびフロー式粒子画像解析装置を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係るフロー式粒子画像解析
方法に用いられるフロー式粒子画像解析装置の構成を示
す略示説明図である。

【図２】図１の実施例における粒子数解析部の構成を示
すブロック図である。

【図３】図１の実施例における粒子検出位置および静止
粒子画像取り込み位置の関係を示す説明図である。

【図４】図１の実施例における一画像粒子計数の信号タ
イミング関係を示す線図である。

【図５】図２の粒子数解析部の処理内容を説明するフロ
チャート図である。

【図６】従来技術における粒子検出および静止粒子画像
取り込みの略示説明図である。

【符号の説明】

１フラッシュランプ１ａフラッシュランプ駆動回路２フィールドレンズ３顕微鏡コンデンサレンズ５顕微鏡対物レンズ６結像位置７投影レンズ８ＴＶカメラ１１視野絞り１２開口絞り１４微小反射鏡１５半導体レーザ１７コリメータレンズ１８シリンドリカルレンズ１９反射鏡２０ビームスプリッタ２１絞り２２光検出回路２３フラッシュランプ点灯制御回路２４ＡＤ変換器２５画像メモリ２６画像処理制御回路２７特徴抽出回路２８識別回路２９中央制御部４０粒子数解析部４１全粒子計数回路４２１画像粒子計数回路４３１画像粒子検出タイミング発生回路５０表示部６１１画像対応特徴パラメータデータ部６２粒子分類結果部６３全画像数計数部６４解析条件設定部６５パラメータデータ大小並べ替え部６６対応部６７粒子分類結果対応部６８正規分類結果部６９別枠分類結果部７０分類結果集計部１００フローセル１０１画像撮像手段１０２粒子解析手段１０３粒子検出手段１１０サンプル流れ１１１シース液Ｔｄ粒子検出ディレイ時間Ｔｅ粒子画像がフラッシュランプ発光位置ＰからＡ端
まで流れるのに要する時間Ｔｇ粒子画像が画像のＢ端からＡ端まで流れるのに要
する時間Ｔｏ粒子画像が画像のＢ端からフラッシュランプ発光
位置Ｐまで流れるのに要する時間

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】懸濁する液体サンプルをフローセル中に
流し、粒子検出系による前記サンプル中の粒子数を計数
する検出段階と、前記フローセル中の撮像領域を通過す
る粒子の静止画像を粒子撮像系により撮像する段階と、
画像解析手段により前記画像中の粒子の形態学的分類を
行う解析段階とからなるフロー式粒子画像解析方法にお
いて、前記解析段階は、前記粒子検出系による一画像粒子計数
値と、前記静止粒子画像中の各粒子とを粒子画像識別特
徴量により対応させる抽出段階と、前記対応関係と前記
検出段階の粒子検出系による全粒子計数値とから前記液
体サンプル中の粒子分布または粒子分類のいずれかを粒
子解析段階とからなることを特徴とするフロー式粒子画
像解析方法。
【請求項２】粒子解析段階は、同一の液体サンプルに
対し複数個の測定モードを有し、各測定モードについて
解析し、全測定モードの解析終了後、全データを総合す
ることを特徴とする請求項１記載のフロー式粒子画像解
析方法。
【請求項３】抽出段階は、粒子画像識別特徴量とし
て、粒子のサイズ情報、または色彩情報、または光散乱
情報、または蛍光強度情報のいずれか、またはこれらを
複数個組み合わせた情報を用いることを特徴とする請求
項１または２記載のいずれかのフロー式粒子画像解析方
法。
【請求項４】粒子解析段階は、画像処理した全画像に
ついてそれぞれサンプル体積当たりの粒子数または比率
のいずれかを計算し、次いで、前記粒子数または粒子比
率のいずれかを用い、全サンプル体積当たりの粒子数を
求め、前記粒子数に基ずくことを特徴とする請求項１な
いし３記載のいずれかのフロー式粒子画像解析方法。
【請求項５】粒子解析段階は、測定サンプルの粒子
数、または測定サンプル中の単位体積当たりの粒子濃
度、または顕微鏡視野換算の粒子数のいずれかを求め、
これらに基づき解析することを特徴とする請求項１ない
し４記載のいずれかのフロー式粒子画像解析方法。
【請求項６】粒子解析段階は、粒子検出系の一画像粒
子計数値と対応できなかった静止粒子画像中の残り粒子
について別枠として解析処理し、解析終了時に一画像粒
子計数値と対応する粒子の解析結果に前記別枠処理分を
加えることを特徴とする請求項１ないし５記載のいずれ
かのフロー式粒子画像解析方法。
【請求項７】粒子解析段階は、処理画像数が少なく別
枠処理を行うのに十分な処理対象体積がない場合の処理
を定めてあることを特徴とする請求項６記載のフロー式
粒子画像解析方法。
【請求項８】粒子解析段階は、処理画像数が少なく別
枠処理を行うのに十分な処理対象体積がない場合、その
評価手順を予め入力設定することを特徴とする請求項６
または７記載のいずかのフロー式粒子画像解析方法。
【請求項９】粒子解析段階は、処理画像数が少なく別
枠処理を行うのに十分な処理対象体積がない場合、別枠
処理を行わないことを特徴とする請求項６ないし８記載
のいずれかのフロー式粒子画像解析方法。
【請求項１０】粒子解析段階は、処理画像数が少なく
別枠処理を行うのに十分な処理対象体積が少ない場合、
別枠処理を行ない、その処理に問題があることを出力す
ることを特徴とする請求項６ないし８記載のフロー式粒
子画像解析方法。
【請求項１１】検出段階は、粒子検出系による一画像
粒子計数値および全粒子数の計数値に対し、静止粒子画
像撮像のためのパルス光源発光による誤計数を補正する
ことを特徴とする請求項１ないし１０記載のいずれかの
フロー式粒子画像解析方法。
【請求項１２】懸濁する液体サンプルをフローセル中
に流し、前記サンプル中の粒子を計数する粒子検出系
と、前記フローセル中の撮像領域を通過する粒子の静止
画像を撮像する粒子撮像系と、前記静止粒子画像の粒子
の形態学的分類を行う解析手段とからなるフロー式粒子
画像解析装置において、前記解析手段は、前記粒子検出系の一画像粒子計数値
と、前記静止粒子画像中の各粒子とを粒子画像識別特徴
量により対応させる抽出部と、前記対応関係と前記粒子
検出系により計数させた全粒子数とから前記サンプル中
の粒子分布または粒子分類のいずれかを行う粒子解析部
とから構成したことを特徴とするフロー式粒子画像解析
装置。
【請求項１３】粒子解析部は、同一測定サンプルに対
し複数個の測定モードを有し、各測定モードについて解
析し、全測定モードの解析終了後、全データを総合する
手段を備えたことを特徴とする請求項１２記載のフロー
式粒子画像解析方法。
【請求項１４】抽出部は、粒子画像識別特徴量とし
て、粒子のサイズ情報、または光散乱情報、または色彩
情報、または蛍光強度情報のいずれか、またはこれらの
複数個組み合わせた情報を用いて対応させるように構成
したことを特徴とする請求項１３または１４記載のいず
れかのフロー式粒子画像解析装置。
【請求項１５】粒子解析部は、画像処理した全画像に
相当するサンプル体積当たりの粒子数または粒子比率を
計算し、さらに、全サンプル体積当たりについての粒子
数を求めるように構成したことを特徴とする請求項１２
ないし１４記載のいずれかのフロー式粒子画像解析装
置。
【請求項１６】粒子解析部は、測定サンプルの粒子
数、または測定サンプル中の単位体積当たりの粒子濃
度、または顕微鏡視野換算の粒子数を計算するように構
成したことを特徴とする請求項１２ないし１５記載のい
ずれかのフロー式粒子画像解析装置。
【請求項１７】粒子解析部は、粒子検出系の一画像粒
子計数値と対応できなかった静止粒子画像中の残り粒子
について別枠として解析処理し、解析終了時に一画像粒
子計数値と対応する粒子の解析結果に前記別枠処理分を
加えるように構成したことを特徴とする請求項１２ない
し１６記載のいずれかのフロー式粒子画像解析装置。
【請求項１８】粒子解析部は、処理画像数が少なく別
枠処理をするのに十分な処理対象体積がない場合、別枠
処理をするように構成したことを特徴とする請求項１７
記載のフロー式粒子画像解析装置。
【請求項１９】粒子解析部は、処理画像数が少なく別
枠処理をするのに十分な処理対象体積がない場合、その
評価手順を予め入力設定するように構成したことを特徴
とする請求項１７または２８記載のいずれかのフロー式
粒子画像解析装置。
【請求項２０】粒子解析部は、処理画像数が少なく別
枠処理をするのに十分な処理対象体積がない場合、別枠
処理をしないことを特徴とする請求項１７ないし１９記
載のいずれかのフロー式粒子画像解析装置。
【請求項２１】粒子解析部は、処理画像数が少なく別
枠処理をするのに十分な処理対象体積が少ない場合、別
枠処理に問題があることを表示または出力するように構
成したことを特徴とする請求項１７ないし１９記載のい
ずれかのフロー式粒子画像解析装置。
【請求項２２】粒子検出系は、一画像粒子計数値およ
び全粒子数の計数値に対し静止画像撮像のためパルス光
源発光による誤計数を補正できるように構成したことを
特徴とする請求項１７ないし２１記載のいずれかのフロ
ー式粒子画像解析装置。
【請求項２３】解析対象が生物細胞であることを特徴
とする請求項１２ないし２２記載のいずれかのフロー式
粒子画像解析装置。
【請求項２４】解析対象が血液中に存在する血球成分
であることを特徴とする請求項２３記載のフロー式粒子
画像解析装置。
【請求項２５】解析対象が尿、特に尿中に存在する尿
沈渣成分であることを特徴とする請求項２３記載のフロ
ー式粒子画像解析装置。