JPH0763551A - 測距光学系 - Google Patents
測距光学系Info
- Publication number
- JPH0763551A JPH0763551A JP5235501A JP23550193A JPH0763551A JP H0763551 A JPH0763551 A JP H0763551A JP 5235501 A JP5235501 A JP 5235501A JP 23550193 A JP23550193 A JP 23550193A JP H0763551 A JPH0763551 A JP H0763551A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- lens
- distance
- receiving element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/10—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Lenses (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 遠距離から近距離に亘り被写***置に依存す
ることなく高精度な測距を行うことができるアクティブ
方式の測距光学系を提供することを目的とする。 【構成】 本発明の測距光学系は、発光光源Pより発し
た光束を投光レンズL1を介して被写体Hに照射するた
めの投光系Tと、前記被写体Hからの反射光束を受光レ
ンズL2を介して受光素子Q上に集光させるための受光
系Jとを備え、前記投光系Tの光軸と前記受光系Jの光
軸とは所定距離だけ間隔を隔てて位置決めされ、前記受
光素子Qの出力信号に基づいて所定位置と前記被写体H
との間の距離を測定するための測距光学系であって、前
記投光レンズL1の前記発光光源側の焦点位置F1は、
前記投光レンズL1の最も発光光源側の面と前記発光光
源Pとの間に位置することを特徴とする。
ることなく高精度な測距を行うことができるアクティブ
方式の測距光学系を提供することを目的とする。 【構成】 本発明の測距光学系は、発光光源Pより発し
た光束を投光レンズL1を介して被写体Hに照射するた
めの投光系Tと、前記被写体Hからの反射光束を受光レ
ンズL2を介して受光素子Q上に集光させるための受光
系Jとを備え、前記投光系Tの光軸と前記受光系Jの光
軸とは所定距離だけ間隔を隔てて位置決めされ、前記受
光素子Qの出力信号に基づいて所定位置と前記被写体H
との間の距離を測定するための測距光学系であって、前
記投光レンズL1の前記発光光源側の焦点位置F1は、
前記投光レンズL1の最も発光光源側の面と前記発光光
源Pとの間に位置することを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は写真用カメラ、シネカメ
ラ、ビデオカメラ等に利用される測距光学系に関する。
ラ、ビデオカメラ等に利用される測距光学系に関する。
【0002】
【従来の技術】アクティブ方式の測距光学系では、三角
測量の原理を用いている。すなわち、光軸が所定距離
(基線長)だけ間隔を隔てた投光系と受光系とを備え、
投光系により赤外光束を被写体に向かって照射し、被写
体から戻ってくる反射光束を受光系により受光する。こ
のとき、受光系の受光素子上に集光される反射光束の位
置と受光系の光軸との間の基線長方向のずれ量に基づい
て、所定位置と被写体との間の距離を測定(以下、「測
距」という)する方式を採用している。このアクティブ
方式は、被写体のコントラストに依存することなく測距
を行うことができるという点で優れている。
測量の原理を用いている。すなわち、光軸が所定距離
(基線長)だけ間隔を隔てた投光系と受光系とを備え、
投光系により赤外光束を被写体に向かって照射し、被写
体から戻ってくる反射光束を受光系により受光する。こ
のとき、受光系の受光素子上に集光される反射光束の位
置と受光系の光軸との間の基線長方向のずれ量に基づい
て、所定位置と被写体との間の距離を測定(以下、「測
距」という)する方式を採用している。このアクティブ
方式は、被写体のコントラストに依存することなく測距
を行うことができるという点で優れている。
【0003】しかしながら、従来のアクティブ方式の測
距光学系では、被写体が遠距離にある場合、受光レンズ
の被写体側の開口数が近距離に比べて小さくなる。した
がって、受光系で得られる光量が減少してしまい、誤測
距の原因となりやすかった。また、被写体が遠距離にあ
る場合、発光光源が被写体上に拡大されて照射される。
したがって、ぼけ量が大きくなり被写体よりも照射され
る像の大きさの方が大きくなってしまうため、照射光束
のうち一部の光束しか戻ってこなくなり誤測距の原因と
なりやすかった。
距光学系では、被写体が遠距離にある場合、受光レンズ
の被写体側の開口数が近距離に比べて小さくなる。した
がって、受光系で得られる光量が減少してしまい、誤測
距の原因となりやすかった。また、被写体が遠距離にあ
る場合、発光光源が被写体上に拡大されて照射される。
したがって、ぼけ量が大きくなり被写体よりも照射され
る像の大きさの方が大きくなってしまうため、照射光束
のうち一部の光束しか戻ってこなくなり誤測距の原因と
なりやすかった。
【0004】このように、従来のアクティブ方式の測距
光学系では被写体が遠距離にある場合の測距精度が低か
った。この課題をある程度解決し、測距精度を向上させ
るための投受光レンズの収差補正法が特開昭55−88
001号公報に開示されている。また、投光レンズおよ
び受光レンズをそれぞれ2枚のレンズで構成し、像面の
補正を行った測距光学系が、特開平1−158409号
公報に開示されている。
光学系では被写体が遠距離にある場合の測距精度が低か
った。この課題をある程度解決し、測距精度を向上させ
るための投受光レンズの収差補正法が特開昭55−88
001号公報に開示されている。また、投光レンズおよ
び受光レンズをそれぞれ2枚のレンズで構成し、像面の
補正を行った測距光学系が、特開平1−158409号
公報に開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開昭
55−88001号公報に開示の測距光学系では、投光
系において、発光光源は投光レンズの発光光源側焦点の
位置に配置されているので、投光レンズによる発光光源
の像は無限遠の位置にある。このため、被写体が投光レ
ンズよりかなり離れた位置にある場合には投光像のぼけ
量を抑えることが可能であるが、被写体の位置が投光レ
ンズに近い場合には逆に投光像のぼけ量が大きくなり、
測距精度が不十分であるという不都合があった。
55−88001号公報に開示の測距光学系では、投光
系において、発光光源は投光レンズの発光光源側焦点の
位置に配置されているので、投光レンズによる発光光源
の像は無限遠の位置にある。このため、被写体が投光レ
ンズよりかなり離れた位置にある場合には投光像のぼけ
量を抑えることが可能であるが、被写体の位置が投光レ
ンズに近い場合には逆に投光像のぼけ量が大きくなり、
測距精度が不十分であるという不都合があった。
【0006】また、受光系においても、受光素子は受光
レンズの受光素子側焦点の位置に配置されている。した
がって、被写体の位置が近距離の場合、受光レンズによ
る被写体の像の位置が受光素子から大きくずれるため、
受光素子上ではぼけてしまい誤測距の原因となりやすい
という不都合があった。一方、特開平1−158409
号公報に開示の測距光学系では、投光レンズおよび受光
レンズがそれぞれ2枚のレンズで構成されているため、
コストの低減化を図ることが困難である。また、レンズ
面に反射防止コートを施さないと透過率が悪くなってし
まうという不都合があった。
レンズの受光素子側焦点の位置に配置されている。した
がって、被写体の位置が近距離の場合、受光レンズによ
る被写体の像の位置が受光素子から大きくずれるため、
受光素子上ではぼけてしまい誤測距の原因となりやすい
という不都合があった。一方、特開平1−158409
号公報に開示の測距光学系では、投光レンズおよび受光
レンズがそれぞれ2枚のレンズで構成されているため、
コストの低減化を図ることが困難である。また、レンズ
面に反射防止コートを施さないと透過率が悪くなってし
まうという不都合があった。
【0007】本発明は、前述の課題に鑑みてなされたも
のであり、遠距離から近距離に亘り被写***置に依存す
ることなく高精度な測距を行うことができるアクティブ
方式の測距光学系を提供することを目的とする。
のであり、遠距離から近距離に亘り被写***置に依存す
ることなく高精度な測距を行うことができるアクティブ
方式の測距光学系を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明においては、発光光源Pより発した光束を投
光レンズL1を介して被写体Hに照射するための投光系
Tと、前記被写体Hからの反射光束を受光レンズL2を
介して受光素子Q上に集光させるための受光系Jとを備
え、前記投光系Tの光軸と前記受光系Jの光軸とは所定
距離だけ間隔を隔てて位置決めされ、前記受光素子Qの
出力信号に基づいて所定位置と前記被写体Hとの間の距
離を測定するための測距光学系であって、前記投光レン
ズL1の前記発光光源側の焦点位置F1は、前記投光レ
ンズL1の最も発光光源側の面と前記発光光源Pとの間
に位置することを特徴とする測距光学系を提供する。
に、本発明においては、発光光源Pより発した光束を投
光レンズL1を介して被写体Hに照射するための投光系
Tと、前記被写体Hからの反射光束を受光レンズL2を
介して受光素子Q上に集光させるための受光系Jとを備
え、前記投光系Tの光軸と前記受光系Jの光軸とは所定
距離だけ間隔を隔てて位置決めされ、前記受光素子Qの
出力信号に基づいて所定位置と前記被写体Hとの間の距
離を測定するための測距光学系であって、前記投光レン
ズL1の前記発光光源側の焦点位置F1は、前記投光レ
ンズL1の最も発光光源側の面と前記発光光源Pとの間
に位置することを特徴とする測距光学系を提供する。
【0009】また、本発明の別の曲面によれば、発光光
源Pより発した光束を投光レンズL1を介して被写体H
に照射するための投光系Tと、前記被写体Hからの反射
光束を受光レンズL2を介して受光素子Q上に集光させ
るための受光系Jとを備え、前記投光系Tの光軸と前記
受光系Jの光軸とは所定距離だけ間隔を隔てて位置決め
され、前記受光素子Qの出力信号に基づいて所定位置と
前記被写体Hとの間の距離を測定するための測距光学系
であって、前記受光レンズL2の前記受光素子側の焦点
位置F2は、前記受光レンズL2の最も受光素子側の面
と前記受光素子Qとの間に位置することを特徴とする測
距光学系を提供する。
源Pより発した光束を投光レンズL1を介して被写体H
に照射するための投光系Tと、前記被写体Hからの反射
光束を受光レンズL2を介して受光素子Q上に集光させ
るための受光系Jとを備え、前記投光系Tの光軸と前記
受光系Jの光軸とは所定距離だけ間隔を隔てて位置決め
され、前記受光素子Qの出力信号に基づいて所定位置と
前記被写体Hとの間の距離を測定するための測距光学系
であって、前記受光レンズL2の前記受光素子側の焦点
位置F2は、前記受光レンズL2の最も受光素子側の面
と前記受光素子Qとの間に位置することを特徴とする測
距光学系を提供する。
【0010】
【作用】いわゆるアクティブ方式の測距光学系におい
て、遠距離から近距離に亘り被写体の位置に依存するこ
となく、高精度な測距を行うための要件は以下のとおり
である。まず、被写体Hが遠距離にある場合、受光系J
において受光レンズL2の被写体側の開口数が近距離に
比べて小さい。その結果、被写体Hに向かって投光系T
より照射される光束のうち被写体Hより反射して戻り受
光レンズL2に入射する光量が減少する。したがって、
被写体Hが遠距離に位置するときの測距精度(測距性
能)を向上させるには、投光系Tより被写体Hに向かっ
て照射される光量を多くすること、すなわち投光レンズ
L1を明るくするか、発光光量を増やすか、あるいは受
光レンズL2を明るくすることが要求される。
て、遠距離から近距離に亘り被写体の位置に依存するこ
となく、高精度な測距を行うための要件は以下のとおり
である。まず、被写体Hが遠距離にある場合、受光系J
において受光レンズL2の被写体側の開口数が近距離に
比べて小さい。その結果、被写体Hに向かって投光系T
より照射される光束のうち被写体Hより反射して戻り受
光レンズL2に入射する光量が減少する。したがって、
被写体Hが遠距離に位置するときの測距精度(測距性
能)を向上させるには、投光系Tより被写体Hに向かっ
て照射される光量を多くすること、すなわち投光レンズ
L1を明るくするか、発光光量を増やすか、あるいは受
光レンズL2を明るくすることが要求される。
【0011】また、被写体が遠距離にある場合、投光ス
ポット(被写体H上に照射される発光光源Pの像)は大
きく拡大される。このため、投光系Tにより被写体Hに
照射される投光スポットの大きさを抑えるには、投光ス
ポットのぼけ量を抑える必要がある。特に、投光スポッ
トが大きく広がり被写体Hよりも大きくなってしまう場
合、投光した光の一部しか受光系Jに戻らない。このた
め、受光系Jの受光素子Qで観察される像の重心位置
が、投光した光の全部が受光系Jに戻るときの像の重心
位置からずれるので、誤測距の原因となってしまう。
ポット(被写体H上に照射される発光光源Pの像)は大
きく拡大される。このため、投光系Tにより被写体Hに
照射される投光スポットの大きさを抑えるには、投光ス
ポットのぼけ量を抑える必要がある。特に、投光スポッ
トが大きく広がり被写体Hよりも大きくなってしまう場
合、投光した光の一部しか受光系Jに戻らない。このた
め、受光系Jの受光素子Qで観察される像の重心位置
が、投光した光の全部が受光系Jに戻るときの像の重心
位置からずれるので、誤測距の原因となってしまう。
【0012】逆に、被写体Hが近距離にある場合、投光
系Tによる近軸像位置からのずれ量が大きくなるので、
被写体上に照射される投光スポットのぼけ量が大きくな
る。同様に、受光系Jにおいても、受光レンズL2によ
る被写体Hの近軸像位置が受光素子Qに対して大きくず
れるので、受光素子Q上では被写体Hから戻ってくる光
束がぼけた状態で観察される。したがって、被写体Hの
位置に依存することなく投光レンズL1および受光レン
ズL2がぼけ量の少ない状態で結像することが必要とさ
れ、特に被写***置が変化したときのぼけ量の変化をで
きるだけ小さくすることが重要である。
系Tによる近軸像位置からのずれ量が大きくなるので、
被写体上に照射される投光スポットのぼけ量が大きくな
る。同様に、受光系Jにおいても、受光レンズL2によ
る被写体Hの近軸像位置が受光素子Qに対して大きくず
れるので、受光素子Q上では被写体Hから戻ってくる光
束がぼけた状態で観察される。したがって、被写体Hの
位置に依存することなく投光レンズL1および受光レン
ズL2がぼけ量の少ない状態で結像することが必要とさ
れ、特に被写***置が変化したときのぼけ量の変化をで
きるだけ小さくすることが重要である。
【0013】以上の考察を整理すると、投光レンズL1
に関しては、投光レンズL1の明るさを明るくするこ
と、被写体H上に照射される投光スポットのぼけ量を
遠距離から近距離に亘りできるだけ抑えることが要求さ
れる。また、受光レンズL2に関しては、受光レンズ
L2の明るさを明るくすること、被写体Hの位置に依
存することなく被写体Hより戻る反射光束をぼけ量の少
ない状態で受光素子Q上に結像させることが要求され
る。
に関しては、投光レンズL1の明るさを明るくするこ
と、被写体H上に照射される投光スポットのぼけ量を
遠距離から近距離に亘りできるだけ抑えることが要求さ
れる。また、受光レンズL2に関しては、受光レンズ
L2の明るさを明るくすること、被写体Hの位置に依
存することなく被写体Hより戻る反射光束をぼけ量の少
ない状態で受光素子Q上に結像させることが要求され
る。
【0014】本発明においては、以上の要件を満たして
被写体Hの位置に依存することなく遠距離より近距離に
亘って高精度に測距を行うために、投光系Tにおいて発
光光源Pの投光レンズL1による像の位置が所定の有限
距離だけ投光レンズL1から間隔を隔てた位置R1とな
るように発光光源Pを位置決めし、受光系Jにおいて受
光素子Qの受光レンズL2による近軸像位置が受光レン
ズL2から所定の有限距離だけ間隔を隔てた位置R2と
なるように受光素子Qを位置決めする。こうして、無限
遠から近距離に亘り、被写体Hの位置に依存することな
く高精度な測距を行うことのできる測距光学系を実現す
ることができる。
被写体Hの位置に依存することなく遠距離より近距離に
亘って高精度に測距を行うために、投光系Tにおいて発
光光源Pの投光レンズL1による像の位置が所定の有限
距離だけ投光レンズL1から間隔を隔てた位置R1とな
るように発光光源Pを位置決めし、受光系Jにおいて受
光素子Qの受光レンズL2による近軸像位置が受光レン
ズL2から所定の有限距離だけ間隔を隔てた位置R2と
なるように受光素子Qを位置決めする。こうして、無限
遠から近距離に亘り、被写体Hの位置に依存することな
く高精度な測距を行うことのできる測距光学系を実現す
ることができる。
【0015】すなわち、本発明の測距光学系では、投光
系Tにおいて、投光レンズL1による発光光源Pの像位
置が所定の有限位置R1としている。このため、被写体
Hが近距離に位置するときの投光スポットのぼけ量を従
来の投光系Jにおける投光スポットのぼけ量に比べて小
さくすることができる。したがって、被写体Hが近距離
に位置するときの測距性能が向上する。同様に、受光系
Jにおいて、所定の有限位置R2に対する受光レンズL
2による像位置に受光素子Qが位置決めされている。こ
のため、被写体Hが近距離になるとき、受光レンズL2
による被写体の像位置の受光素子Qの位置に対するずれ
量を従来技術に比べて小さくすることができる。したが
って、被写体Hが近距離に位置するときの測距性能が向
上する。
系Tにおいて、投光レンズL1による発光光源Pの像位
置が所定の有限位置R1としている。このため、被写体
Hが近距離に位置するときの投光スポットのぼけ量を従
来の投光系Jにおける投光スポットのぼけ量に比べて小
さくすることができる。したがって、被写体Hが近距離
に位置するときの測距性能が向上する。同様に、受光系
Jにおいて、所定の有限位置R2に対する受光レンズL
2による像位置に受光素子Qが位置決めされている。こ
のため、被写体Hが近距離になるとき、受光レンズL2
による被写体の像位置の受光素子Qの位置に対するずれ
量を従来技術に比べて小さくすることができる。したが
って、被写体Hが近距離に位置するときの測距性能が向
上する。
【0016】本発明においては、より高精度な測距を行
うために、投光レンズL1による発光光源Pの像位置R
1と、受光レンズL2によって受光素子Q上に像のでき
る位置R2とを一致させることが望ましい。また、図2
に示すように、投光レンズL1において、正の球面収差
が発生するように収差補正を行うのが好ましい。すなわ
ち、投光レンズL1の光軸AX1に近い中心領域を通過
する光束は所定距離R1の位置に結像し、投光レンズL
1の光軸AX1から離れた周辺領域を通過する光束は、
その通過点が光軸から離れるにつれて位置R1よりも投
光レンズL1から離れる位置に結像するように構成し
て、被写体Hが遠距離にある場合にもぼけ量を少なくす
ることによって測距をさらに高精度に行うことを可能に
している。
うために、投光レンズL1による発光光源Pの像位置R
1と、受光レンズL2によって受光素子Q上に像のでき
る位置R2とを一致させることが望ましい。また、図2
に示すように、投光レンズL1において、正の球面収差
が発生するように収差補正を行うのが好ましい。すなわ
ち、投光レンズL1の光軸AX1に近い中心領域を通過
する光束は所定距離R1の位置に結像し、投光レンズL
1の光軸AX1から離れた周辺領域を通過する光束は、
その通過点が光軸から離れるにつれて位置R1よりも投
光レンズL1から離れる位置に結像するように構成し
て、被写体Hが遠距離にある場合にもぼけ量を少なくす
ることによって測距をさらに高精度に行うことを可能に
している。
【0017】さらに、球面収差を正に補正することは、
測距範囲を広げるだけでなく、レンズの周辺での曲率半
径がより大きくなることを示しており、縁厚(レンズ周
辺部の厚さ)をより厚くすることができる。換言すれ
ば、レンズの中心厚を薄くすることが可能となる。この
結果、成形時間の短縮化が図れるため低コスト化の点で
有利であり、またレンズの焦点距離を大きくすることが
できるためぼけ量をさらに抑えることが可能となる。と
ころで、受光レンズL2と投光レンズL1とでは光線の
進行方向が逆であるが、被写体Hと発光光源Pとの間の
光学配置の関係は被写体Hと受光素子Qとの光学配置の
関係と等価であるとみなすことができる。このため、本
発明においては、受光レンズL2に関しても、投光レン
ズL1と同様の光学的要件を満足するように構成してい
る。
測距範囲を広げるだけでなく、レンズの周辺での曲率半
径がより大きくなることを示しており、縁厚(レンズ周
辺部の厚さ)をより厚くすることができる。換言すれ
ば、レンズの中心厚を薄くすることが可能となる。この
結果、成形時間の短縮化が図れるため低コスト化の点で
有利であり、またレンズの焦点距離を大きくすることが
できるためぼけ量をさらに抑えることが可能となる。と
ころで、受光レンズL2と投光レンズL1とでは光線の
進行方向が逆であるが、被写体Hと発光光源Pとの間の
光学配置の関係は被写体Hと受光素子Qとの光学配置の
関係と等価であるとみなすことができる。このため、本
発明においては、受光レンズL2に関しても、投光レン
ズL1と同様の光学的要件を満足するように構成してい
る。
【0018】本発明においては、より高い測距精度を確
保するために、以下の条件式(1)および(3)を満足
することが望ましい。 0.85<(f1−Bf1')/(f1−Bf1)<1.0 (1) 0.85<(f2−Bf2')/(f2−Bf2)<1.0 (3)
保するために、以下の条件式(1)および(3)を満足
することが望ましい。 0.85<(f1−Bf1')/(f1−Bf1)<1.0 (1) 0.85<(f2−Bf2')/(f2−Bf2)<1.0 (3)
【0019】ここで、 f1 : 投光レンズL1の発光光源側の焦点距離 f2 : 受光レンズL2の受光素子側の焦点距離 Bf1: 投光レンズL1の最も発光光源側の面と投光
レンズL1の発光光源側の焦点位置との間の軸上間隔 Bf2: 受光レンズL2の最も受光素子側の面と受光
レンズL2の受光素子側の焦点位置との間の軸上間隔 Bf1': 投光レンズL1の最も発光光源側の面と発光
光源Pとの間の軸上間隔 Bf2': 受光レンズL2の最も受光素子側の面と受光
素子Qとの間の軸上間隔
レンズL1の発光光源側の焦点位置との間の軸上間隔 Bf2: 受光レンズL2の最も受光素子側の面と受光
レンズL2の受光素子側の焦点位置との間の軸上間隔 Bf1': 投光レンズL1の最も発光光源側の面と発光
光源Pとの間の軸上間隔 Bf2': 受光レンズL2の最も受光素子側の面と受光
素子Qとの間の軸上間隔
【0020】条件式(1)は、投光系Tにおける投光レ
ンズL1と発光光源Pとの間の光学配置上の関係を規定
するものである。条件式(1)の上限値を上回ると、投
光レンズL1による発光光源Pの像位置が投光レンズL
1より離れすぎるので、被写体が近距離になると、投光
スポットのぼけ量が大きくなり誤測距の原因となってし
まう。逆に、条件式(1)の下限値を下回ると、投光レ
ンズL1による発光光源Pの像位置が投光レンズL1に
近づきすぎるので、被写体が離れて遠距離になると、投
光スポットのぼけ量が大きくなり誤測距の原因となって
しまう。
ンズL1と発光光源Pとの間の光学配置上の関係を規定
するものである。条件式(1)の上限値を上回ると、投
光レンズL1による発光光源Pの像位置が投光レンズL
1より離れすぎるので、被写体が近距離になると、投光
スポットのぼけ量が大きくなり誤測距の原因となってし
まう。逆に、条件式(1)の下限値を下回ると、投光レ
ンズL1による発光光源Pの像位置が投光レンズL1に
近づきすぎるので、被写体が離れて遠距離になると、投
光スポットのぼけ量が大きくなり誤測距の原因となって
しまう。
【0021】条件式(3)は、受光系Jにおける受光レ
ンズL2と受光素子Qとの間の光学配置上の関係を規定
するものである。条件式(3)の上限値を上回ると、受
光素子Q上に結像するための被写***置が受光レンズ2
より離れすぎるので、被写体が近距離になると、受光素
子Q上でのぼけ量が大きくなりすぎて誤測距の原因とな
ってしまうため好ましくない。逆に、条件式(3)の下
限値を下回ると、受光素子Q上に結像するための被写体
位置が受光レンズ2に近づきすぎるので、被写体が離れ
て遠距離になると、受光素子Q上でのぼけ量が大きくな
りすぎて誤測距の原因となってしまうため好ましくな
い。
ンズL2と受光素子Qとの間の光学配置上の関係を規定
するものである。条件式(3)の上限値を上回ると、受
光素子Q上に結像するための被写***置が受光レンズ2
より離れすぎるので、被写体が近距離になると、受光素
子Q上でのぼけ量が大きくなりすぎて誤測距の原因とな
ってしまうため好ましくない。逆に、条件式(3)の下
限値を下回ると、受光素子Q上に結像するための被写体
位置が受光レンズ2に近づきすぎるので、被写体が離れ
て遠距離になると、受光素子Q上でのぼけ量が大きくな
りすぎて誤測距の原因となってしまうため好ましくな
い。
【0022】本発明において、さらに高い測距精度を確
保するために、条件式(1)を満足した上でさらに次の
条件式(2)を満足することが望ましい。また、条件式
(3)を満足した上でさらに次の条件式(4)を満足す
ることが望ましい。 0.1<(R2T−R1T)/R1T<1.5 (2) 0.1<(R2J−R1J)/R1J<1.5 (4)
保するために、条件式(1)を満足した上でさらに次の
条件式(2)を満足することが望ましい。また、条件式
(3)を満足した上でさらに次の条件式(4)を満足す
ることが望ましい。 0.1<(R2T−R1T)/R1T<1.5 (2) 0.1<(R2J−R1J)/R1J<1.5 (4)
【0023】ここで、 R1T:投光レンズL1の近軸領域を介した発光光源Pの
像位置と投光レンズL1の最も被写体側の面との間の軸
上間隔 R2T:発光光源Pより発した光束のうち投光レンズL1
の最も被写体側の面において光軸からh1/2の高さを
通過する光束が結像する位置と投光レンズL1の最も被
写体側の面との間の軸上間隔 R1J:受光レンズL2の近軸領域を介した受光素子Qの
像位置と受光レンズL2の最も被写体側の面との間の軸
上間隔 R2J:受光素子Q上に結像する光束のうち受光レンズL
2の最も被写体側の面において光軸からh2/2の高さ
を通過する光束が発する位置と投光レンズL1の最も被
写体側の面との間の軸上間隔
像位置と投光レンズL1の最も被写体側の面との間の軸
上間隔 R2T:発光光源Pより発した光束のうち投光レンズL1
の最も被写体側の面において光軸からh1/2の高さを
通過する光束が結像する位置と投光レンズL1の最も被
写体側の面との間の軸上間隔 R1J:受光レンズL2の近軸領域を介した受光素子Qの
像位置と受光レンズL2の最も被写体側の面との間の軸
上間隔 R2J:受光素子Q上に結像する光束のうち受光レンズL
2の最も被写体側の面において光軸からh2/2の高さ
を通過する光束が発する位置と投光レンズL1の最も被
写体側の面との間の軸上間隔
【0024】条件式(2)は、近距離から遠距離に亘る
被写体Hの位置に対して、投光系Tにより被写体H上に
照射する投光スポットのぼけ量の変化量を小さくするた
めの条件である。条件式(2)の上限値を上回ると、被
写体Hが近距離にあるときの投光スポットのぼけ量が大
きくなりすぎるため、誤測距の原因となってしまう。逆
に、条件式(2)の下限値を下回ると、被写体Hが遠距
離にあるときの投光スポットのぼけ量が大きくなりすぎ
るため、誤測距の原因となってしまう。
被写体Hの位置に対して、投光系Tにより被写体H上に
照射する投光スポットのぼけ量の変化量を小さくするた
めの条件である。条件式(2)の上限値を上回ると、被
写体Hが近距離にあるときの投光スポットのぼけ量が大
きくなりすぎるため、誤測距の原因となってしまう。逆
に、条件式(2)の下限値を下回ると、被写体Hが遠距
離にあるときの投光スポットのぼけ量が大きくなりすぎ
るため、誤測距の原因となってしまう。
【0025】条件式(4)は、近距離より遠距離に亘る
被写体Hの位置に対して、受光系Jにおいて被写体Hよ
り戻ってくる反射光束の受光素子Q上のぼけ量の変化を
小さくするための条件である。条件式(4)の上限値を
上回ると、被写体Hが近距離にあるときに受光素子Q上
に戻ってくる光束が大きく広がって結像するので、誤測
距の原因となってしまうため好ましくない。逆に、条件
式(4)の下限値を下回ると、被写体Hが遠距離にある
ときに受光素子Q上に戻ってくる光束が大きく広がるの
で、誤測距の原因となってしまうため好ましくない。
被写体Hの位置に対して、受光系Jにおいて被写体Hよ
り戻ってくる反射光束の受光素子Q上のぼけ量の変化を
小さくするための条件である。条件式(4)の上限値を
上回ると、被写体Hが近距離にあるときに受光素子Q上
に戻ってくる光束が大きく広がって結像するので、誤測
距の原因となってしまうため好ましくない。逆に、条件
式(4)の下限値を下回ると、被写体Hが遠距離にある
ときに受光素子Q上に戻ってくる光束が大きく広がるの
で、誤測距の原因となってしまうため好ましくない。
【0026】
【実施例】本発明の実施例を、添付図面に基づいて説明
する。図1は、本発明の各実施例にかかる測距光学系の
概略的な構成を示す図である。図示の測距光学系は、光
軸AX1上に配置された発光光源Pと投光レンズL1と
からなる投光系Tを備えている。発光光源Pは、たとえ
ば赤外光束を射出するIRED(赤外線発光ダイオー
ド)からなる。投光レンズL1の発光光源P側の焦点位
置F1は、投光レンズL1の発光光源P側の面と発光光
源Pとの間に位置決めされている。
する。図1は、本発明の各実施例にかかる測距光学系の
概略的な構成を示す図である。図示の測距光学系は、光
軸AX1上に配置された発光光源Pと投光レンズL1と
からなる投光系Tを備えている。発光光源Pは、たとえ
ば赤外光束を射出するIRED(赤外線発光ダイオー
ド)からなる。投光レンズL1の発光光源P側の焦点位
置F1は、投光レンズL1の発光光源P側の面と発光光
源Pとの間に位置決めされている。
【0027】図示の測距光学系はまた、光軸AX1と平
行で且つ所定距離ΔZ(基線長)だけ間隔を隔てた光軸
AX2上に配置された受光素子Qと受光レンズL2とか
らなる受光系Jを備えている。受光系Jにおいても、受
光レンズL2の受光素子Q側の焦点位置F2は、受光レ
ンズL2の受光素子Q側の面と受光素子Qとの間に位置
決めされている。
行で且つ所定距離ΔZ(基線長)だけ間隔を隔てた光軸
AX2上に配置された受光素子Qと受光レンズL2とか
らなる受光系Jを備えている。受光系Jにおいても、受
光レンズL2の受光素子Q側の焦点位置F2は、受光レ
ンズL2の受光素子Q側の面と受光素子Qとの間に位置
決めされている。
【0028】以上のように構成された本実施例の測距光
学系は次のように動作する。発光光源Pを射出した赤外
光束は、投光レンズL1を介して集光され被写体Hに照
射される。被写体Hで反射された光束は、受光レンズ2
を介して集光され受光素子Q上において光軸AX2から
ずれて結像する。こうして、受光素子Q上における光軸
AX2の位置Oと結像スポットの重心位置Gとの間の距
離Δqに基づいて、所定位置と被写体Hとの間の距離を
測定する。
学系は次のように動作する。発光光源Pを射出した赤外
光束は、投光レンズL1を介して集光され被写体Hに照
射される。被写体Hで反射された光束は、受光レンズ2
を介して集光され受光素子Q上において光軸AX2から
ずれて結像する。こうして、受光素子Q上における光軸
AX2の位置Oと結像スポットの重心位置Gとの間の距
離Δqに基づいて、所定位置と被写体Hとの間の距離を
測定する。
【0029】〔実施例1〕本実施例において、発光光源
Pには発光波長が860nmのIREDを用い、受光素
子QにはPSD(ポジションセンシティブダイオード)
を用いている。また、基線長ΔZは、30mmとした。
次の表(1)に、本発明の実施例1の諸元の値を掲げ
る。表(1)において、左端の数字は物体側からの各レ
ンズ面の順序を、rは各レンズ面の曲率半径を、dは各
レンズ面間隔を、nは発光光源Pの発光波長に対する屈
折率を示している。なお、投光系Tおよび受光系Jにお
いて、それぞれ光束の進行方向に沿ったレンズデータを
示している。
Pには発光波長が860nmのIREDを用い、受光素
子QにはPSD(ポジションセンシティブダイオード)
を用いている。また、基線長ΔZは、30mmとした。
次の表(1)に、本発明の実施例1の諸元の値を掲げ
る。表(1)において、左端の数字は物体側からの各レ
ンズ面の順序を、rは各レンズ面の曲率半径を、dは各
レンズ面間隔を、nは発光光源Pの発光波長に対する屈
折率を示している。なお、投光系Tおよび受光系Jにお
いて、それぞれ光束の進行方向に沿ったレンズデータを
示している。
【0030】非球面は、光軸に垂直な方向の高さをy、
高さyにおける光軸方向の変位量をS(y)、基準の曲
率半径をR、円錐係数をk、n次の非球面係数をCn と
したとき、以下の数式(a)で表される。
高さyにおける光軸方向の変位量をS(y)、基準の曲
率半径をR、円錐係数をk、n次の非球面係数をCn と
したとき、以下の数式(a)で表される。
【数1】 S(y)=(y2 /R)/〔1+(1−k・y2 /R2 )1/2 〕 +C2 ・y2 +C4 ・y4 +C6 ・y6 +C8 ・y8 +C10・y10+・・・ (a) また、非球面の近軸曲率半径rは、次の数式(b)で定
義される。 r=1/(2・C2 +1/R) (b) 各実施例の諸元表中の非球面には、面番号の右に*印を
付している
義される。 r=1/(2・C2 +1/R) (b) 各実施例の諸元表中の非球面には、面番号の右に*印を
付している
【0031】
【表1】 (投光系) r d n 0 ∞ 2.17 1.54000 (IRED) 1 -1.3500 12.33 2 95.5380 4.50 1.48423 (投光レンズ) 3* -9.5991 13.80 (非球面データ) k C2 C4 3面 0.7664 0.0000 0.64823×10-6 C6 C8 C10 0.26688×10-8 0.36944×10-10 0.29195×10-12 (受光系) r d n 0 ∞ 13.80 1* 8.2925 4.50 1.48423 (受光レンズ) 2 -139.0400 0.00 (非球面データ) k C2 C4 1面 0.5612 0.0000 -0.43029×10-6 C6 C8 C10 -0.11284×10-8 -0.65264×10-10 0.72888×10-13 (条件対応値) f1 =18.2687 Bf1 =15.5592 Bf1'=15.4746 第2面の最大有効径 7.5mm f2 =16.3288 Bf2 =13.5000 Bf2'=13.4339 第1面の最大有効径 7.5mm (1)(f1−Bf1')/(f1−Bf1 )=0.970 (2)(R2T−R1T)/R1T =0.395 (3)(f2−Bf2')/(f2−Bf2 )=0.977 (4)(R2J−R1J)/R1J =0.285
【0032】〔実施例2〕本実施例において、発光光源
Pには発光波長が860nmのIREDを用い、受光素
子QにはPSD(ポジションセンシティブダイオード)
を用いている。また、基線長ΔZは、28mmとした。
このように、第2の実施例の測距光学系は第1の実施例
の測距光学系と同様の構成を有するが、基線長、レンズ
データ等が相違する。
Pには発光波長が860nmのIREDを用い、受光素
子QにはPSD(ポジションセンシティブダイオード)
を用いている。また、基線長ΔZは、28mmとした。
このように、第2の実施例の測距光学系は第1の実施例
の測距光学系と同様の構成を有するが、基線長、レンズ
データ等が相違する。
【0033】次の表(2)に、本発明の実施例2の諸元
の値を掲げる。表(2)において、左端の数字は物体側
からの各レンズ面の順序を、rは各レンズ面の曲率半径
を、dは各レンズ面間隔を、nは発光光源Pの発光波長
に対する屈折率を示している。なお、投光系Tおよび受
光系Jにおいて、それぞれ光束の進行方向に沿ったレン
ズデータを示している。
の値を掲げる。表(2)において、左端の数字は物体側
からの各レンズ面の順序を、rは各レンズ面の曲率半径
を、dは各レンズ面間隔を、nは発光光源Pの発光波長
に対する屈折率を示している。なお、投光系Tおよび受
光系Jにおいて、それぞれ光束の進行方向に沿ったレン
ズデータを示している。
【0034】
【表2】 (投光系) r d n 0 ∞ 12.90 (IRED) 1 559.9000 4.00 1.48423 (投光レンズ) 2* -7.5922 4000.00 (非球面データ) k C2 C4 2面 0.6662 0.0000 0.78781×10-6 C6 C8 C10 0.52652×10-8 0.13717×10-10 0.24369×10-11 (受光系) r d n 0 ∞ 4000.00 1* 7.5922 4.00 1.48423 (受光レンズ) 2 -559.9000 12.90 (非球面データ) k C2 C4 1面 0.6662 0.0000 -0.78781×10-6 C6 C8 C10 -0.52652×10-8 -0.13717×10-10 -0.24369×10-11 (条件対応値) f1 =15.5049 Bf1 =12.9000 Bf1'=12.8398 第2面の最大有効径 6.5mm f2 =15.5049 Bf2 =12.9000 Bf2'=12.8398 第1面の最大有効径 6.5mm (1)(f1−Bf1')/(f1−Bf1 )=0.977 (2)(R2T−R1T)/R1T =1.0 (3)(f2−Bf2')/(f2−Bf2 )=0.977 (4)(R2J−R1J)/R1J =1.0
【0035】このように、第1の実施例では投光レンズ
から13.8cmの近距離にある被写体に対して、第2
の実施例では投光レンズから4000.0cmの遠距離
にある被写体に対して、上述の構成を有する測距光学系
により精度良く測距を行うことができることがわかっ
た。なお、上述の実施例では、投光レンズおよび受光レ
ンズをそれぞれ1枚のレンズで構成しているが、それぞ
れ複数のレンズで構成してもよいことは明らかである。
から13.8cmの近距離にある被写体に対して、第2
の実施例では投光レンズから4000.0cmの遠距離
にある被写体に対して、上述の構成を有する測距光学系
により精度良く測距を行うことができることがわかっ
た。なお、上述の実施例では、投光レンズおよび受光レ
ンズをそれぞれ1枚のレンズで構成しているが、それぞ
れ複数のレンズで構成してもよいことは明らかである。
【0036】
【効果】以上説明したように、本発明によれば、遠距離
から近距離に亘り被写***置に依存することなく高精度
な測距を行うことができるアクティブ方式の測距光学系
を実現することができる。
から近距離に亘り被写***置に依存することなく高精度
な測距を行うことができるアクティブ方式の測距光学系
を実現することができる。
【図1】本発明の測距光学系の構成を概略的に示す図で
ある。
ある。
【図2】図1の投光レンズの収差補正について説明する
図である。
図である。
P 発光光源 Q 受光素子 L1 投光レンズ L2 受光レンズ H 被写体 T 投光系 J 受光系
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年9月29日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0031
【補正方法】変更
【補正内容】
【0031】
【表1】 (条件対応値) f1 =18.2687 Bf1=15.5592 Bf1’=15.4746 第2面の最大有効径 7.5mm f2 =16.3288 Bf2=13.5000 Bf2’=13.4339 第1面の最大有効径 7.5mm (1)(f1−Bf1’)/(f1−Bf1)=0.970 (2)(R2T−R1T)/R1T =0.395 (3)(f2−Bf2’)/(f2−Bf2)=0.977 (4)(R2J−R1J)/R1J =0.285
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0035
【補正方法】変更
【補正内容】
【0035】このように、上述の構成を有する測距光学
系により精度良く測距を行うことができることがわかっ
た。なお、上述の実施例では、投光レンズおよび受光レ
ンズをそれぞれ1枚のレンズで構成しているが、それぞ
れ複数のレンズで構成してもよいことは明らかである。
系により精度良く測距を行うことができることがわかっ
た。なお、上述の実施例では、投光レンズおよび受光レ
ンズをそれぞれ1枚のレンズで構成しているが、それぞ
れ複数のレンズで構成してもよいことは明らかである。
Claims (12)
- 【請求項1】 発光光源より発した光束を投光レンズを
介して被写体に照射するための投光系と、前記被写体か
らの反射光束を受光レンズを介して受光素子上に集光さ
せるための受光系とを備え、前記投光系の光軸と前記受
光系の光軸とは所定距離だけ間隔を隔てて位置決めさ
れ、前記受光素子の出力信号に基づいて所定位置と前記
被写体との間の距離を測定するための測距光学系であっ
て、 前記投光レンズの前記発光光源側の焦点位置は、前記投
光レンズの最も発光光源側の面と前記発光光源との間に
位置することを特徴とする測距光学系。 - 【請求項2】 前記発光光源より発した光束は、前記投
光レンズを通過する点がその光軸から離れるにつれて、
前記投光レンズから離れた光軸上の位置に結像するよう
に構成されていることを特徴とする請求項1に記載の測
距光学系。 - 【請求項3】 前記投光レンズの最も発光光源側の面と
前記投光レンズの前記焦点位置との間の前記投光レンズ
の光軸に沿った間隔をBf1 とし、前記投光レンズの最
も発光光源側の面と前記発光光源との間の前記光軸に沿
った間隔をBf1'とし、前記投光レンズの前記発光光源
側の焦点距離をf1としたとき、 0.85<(f1−Bf1')/(f1−Bf1 )<1.
0 の条件を満足することを特徴とする請求項1または2に
記載の測距光学系。 - 【請求項4】 前記投光レンズの最も被写体側の面の最
大有効径をh1とし、前記投光レンズの近軸領域を介し
た前記発光光源の像の位置と前記投光レンズの最も被写
体側の面との間の前記投光レンズの光軸に沿った間隔を
R1Tとし、前記発光光源より発した光束のうち前記投光
レンズの最も被写体側の面において前記光軸からh1/
2の高さを通過する光束が結像する位置と前記投光レン
ズの最も被写体側の面との間の前記光軸に沿った間隔を
R2Tとしたとき、 0.1<(R2T−R1T)/R1T<1.5 の条件を満足することを特徴とする請求項3に記載の測
距光学系。 - 【請求項5】 前記受光レンズの前記受光素子側の焦点
位置は、前記受光レンズの最も受光素子側の面と前記受
光素子との間に位置することを特徴とする請求項1乃至
4のいずれか1項に記載の測距光学系。 - 【請求項6】 前記受光素子に結像する光束は、前記受
光レンズを通過する点がその光軸から離れるにつれて、
前記受光レンズから離れた光軸上の位置を発するように
構成されていることを特徴とする請求項5に記載の測距
光学系。 - 【請求項7】 前記受光レンズの最も受光素子側の面と
前記受光レンズの前記焦点位置との間の前記受光レンズ
の光軸に沿った間隔をBf2 とし、前記受光レンズの最
も受光素子側の面と前記受光素子との間の前記光軸に沿
った間隔をBf2'とし、前記受光レンズの前記受光素子
側の焦点距離をf2としたとき、 0.85<(f2−Bf2')/(f2−Bf2 )<1.
0 の条件を満足することを特徴とする請求項5または6に
記載の測距光学系。 - 【請求項8】 前記受光レンズの最も被写体側の面の最
大有効径をh2とし、前記受光レンズの近軸領域を介し
た前記受光素子の像の位置と前記受光レンズの最も被写
体側の面との間の前記受光レンズの光軸に沿った間隔を
R1Jとし、前記受光素子上に結像する光束のうち前記受
光レンズの最も被写体側の面において前記光軸からh2
/2の高さを通過する光束が発する位置と前記投光レン
ズの最も被写体側の面との間の前記光軸に沿った間隔を
R2Jとしたとき、 0.1<(R2J−R1J)/R1J<1.5 の条件を満足することを特徴とする請求項7に記載の測
距光学系。 - 【請求項9】 発光光源より発した光束を投光レンズを
介して被写体に照射するための投光系と、前記被写体か
らの反射光束を受光レンズを介して受光素子上に集光さ
せるための受光系とを備え、前記投光系の光軸と前記受
光系の光軸とは所定距離だけ間隔を隔てて位置決めさ
れ、前記受光素子の出力信号に基づいて所定位置と前記
被写体との間の距離を測定するための測距光学系であっ
て、 前記受光レンズの前記受光素子側の焦点位置は、前記受
光レンズの最も受光素子側の面と前記受光素子との間に
位置することを特徴とする測距光学系。 - 【請求項10】 前記受光素子に結像する光束は、前記
受光レンズを通過する点がその光軸から離れるにつれ
て、前記受光レンズから離れた光軸上の位置を発するよ
うに構成されていることを特徴とする請求項9に記載の
測距光学系。 - 【請求項11】 前記受光レンズの最も受光素子側の面
と前記受光レンズの前記焦点位置との間の前記受光レン
ズの光軸に沿った間隔をBf2 とし、前記受光レンズの
最も受光素子側の面と前記受光素子との間の前記光軸に
沿った間隔をBf2'とし、前記受光レンズの前記受光素
子側の焦点距離をf2としたとき、 0.85<(f2−Bf2')/(f2−Bf2 )<1.
0 の条件を満足することを特徴とする請求項9または10
に記載の測距光学系。 - 【請求項12】 前記受光レンズの最も被写体側の面の
最大有効径をh2とし、前記受光レンズの近軸領域を介
した前記受光素子の像の位置と前記受光レンズの最も被
写体側の面との間の前記受光レンズの光軸に沿った間隔
をR1Jとし、前記受光素子上に結像する光束のうち前記
受光レンズの最も被写体側の面において前記光軸からh
2/2の高さを通過する光束が発する位置と前記投光レ
ンズの最も被写体側の面との間の前記光軸に沿った間隔
をR2Jとしたとき、 0.1<(R2J−R1J)/R1J<1.5 の条件を満足することを特徴とする請求項11に記載の
測距光学系。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5235501A JPH0763551A (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 測距光学系 |
US08/296,888 US5496994A (en) | 1993-08-27 | 1994-08-29 | Range detection optical system with light emitter behind projection lens focal point and light receiver behind receiving lens focal point |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5235501A JPH0763551A (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 測距光学系 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0763551A true JPH0763551A (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=16986962
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5235501A Pending JPH0763551A (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 測距光学系 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5496994A (ja) |
JP (1) | JPH0763551A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3726269B2 (ja) * | 1996-03-21 | 2005-12-14 | 株式会社ニコン | カメラ |
US9864204B2 (en) * | 2015-02-20 | 2018-01-09 | Nikon Corporation | High order focus in laser radar tooling ball measurements |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1241639B (de) * | 1964-07-18 | 1967-06-01 | Impulsphysik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Sichtweite auf Landebahnen |
US3489495A (en) * | 1967-03-21 | 1970-01-13 | Singer General Precision | Range finding instruments |
JPS5588001A (en) * | 1978-12-11 | 1980-07-03 | Canon Inc | Distance measuring optical system |
JPS60128304A (ja) * | 1983-12-15 | 1985-07-09 | Nippon Tsushin Gijutsu Kk | 溶接機計測ヘツド |
US4876446A (en) * | 1987-02-06 | 1989-10-24 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Optical sensor with optical interconnection board |
JPH01158409A (ja) * | 1987-09-04 | 1989-06-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | 測距用光学系 |
DE69227414T2 (de) * | 1991-07-30 | 1999-05-20 | Canon K.K., Tokio/Tokyo | Entfernungsmessvorrichtung |
-
1993
- 1993-08-27 JP JP5235501A patent/JPH0763551A/ja active Pending
-
1994
- 1994-08-29 US US08/296,888 patent/US5496994A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5496994A (en) | 1996-03-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8384884B2 (en) | Range finder | |
WO2020094129A1 (zh) | 激光雷达***及激光雷达 | |
US11789233B2 (en) | Objective, use of an objective, measurement system comprising an objective and use of a bi-aspherical plastic lens in an objective | |
JP2017072466A (ja) | 光波距離測定装置 | |
KR20180019724A (ko) | 발광 장치 | |
CN113534313A (zh) | 光学装置及其棱镜模块 | |
JPS6120841B2 (ja) | ||
JPH0763551A (ja) | 測距光学系 | |
JPH07120253A (ja) | アクティブ方式のオートフォーカス装置 | |
JP3091243B2 (ja) | 多点測距装置 | |
JPH0361811A (ja) | 測距装置 | |
US5534687A (en) | Focus detecting optical system with an off-axis light source and light projecting lens | |
CN111856767B (zh) | 测距仪及其显示器镜组装置 | |
TW405027B (en) | The technique of lowering the noise/signal ratio in the distance-measuring instrument | |
JPH08234097A (ja) | 光学レンズ系 | |
JP2559601B2 (ja) | 大口径レンズ | |
JP7446432B2 (ja) | 光源装置 | |
JP2017009893A (ja) | 測光レンズ及びそれを有するファインダー光学系 | |
JP3337528B2 (ja) | 測距装置 | |
JPS6247613A (ja) | 測距装置の光学系 | |
JP2017116701A (ja) | 走査光学系及び走査レンズ | |
JP2706932B2 (ja) | カメラ用焦点検出装置 | |
JP2023161570A (ja) | 光装置 | |
CN113534312A (zh) | 光学装置及其棱镜模块 | |
CN118244458A (zh) | 红外准直镜头 |